JP2005201958A - 電気光学装置用基板、電気光学装置、検査装置、電子機器、検査方法及び電気光学装置の製造方法 - Google Patents
電気光学装置用基板、電気光学装置、検査装置、電子機器、検査方法及び電気光学装置の製造方法 Download PDFInfo
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Abstract
接続端子群と検査用端子群とを接続する配線の電気抵抗値が大きくなるのを抑え、配線を容易に形成することができる電気光学装置、その電気光学装置に用いられる電気光学装置用基板、その電気光学装置に用いられる検査装置、その電気光学装置が搭載された電子機器、その電気光学装置の検査方法及びその電気光学装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】
基板2上に設けられ少なくともXドライバIC13が実装された領域内では出力端子群7と接続される検査用端子16aと出力端子群7とは接続されない検査用端子16bとが規則的に配列された検査用端子群16とを具備するので、出力端子群7と検査用端子との間に形成される配線の長さを抑えることができる。これにより、出力端子群7と検査用端子群16とを接続する配線17の電気抵抗値が大きくなるのを抑え、配線17を容易に形成することができる。
【選択図】 図2
Description
Claims (15)
- 所定の間隔で配列されてなる第1の接続端子群と、
前記所定の間隔より狭い間隔で配列されてなる第2の接続端子群と、
前記第2の接続端子群の接続端子と同じ間隔で配列され、前記第1及び第2の接続端子群に接続されてなる検査用端子群と、を備え、
前記検査用端子群は、前記第1及び第2の接続端子群のいずれかに接続されてなる第1の検査用端子と、前記第1及び第2の接続端子群に接続されていない第2の検査用端子とを有することを特徴とする電気光学装置用基板。 - 前記検査用端子群は、
等間隔に配列され、夫々異なる電圧を印加される複数の検査部材端子を備えるグループが繰り返し配列されてなり、前記検査用端子群に接触させる検査部材端子群に対応して設けられ、
前記グループの検査部材端子の数をA、自然数をNとする時、
前記第2の検査用端子が、(A×N−1)本連続で配列されないことを特徴とする請求項1に記載の電気光学装置用基板。 - 所定の間隔で配列されてなる第1の接続端子群と、
前記所定の間隔より狭い間隔で配列されてなる第2の接続端子群と、
前記第1の接続端子群に接続され、等間隔で配列されてなる第1の検査用端子群と、
前記第2の接続端子群に接続され、等間隔で配列されてなる第2の検査用端子群と、を備え、
前記第1の検査用端子群は、前記第2の検査用端子群の検査用端子同士の間隔の整数倍の間隔で配列されてなることを特徴とする電気光学装置用基板。 - 電気光学材料を狭持する第1及び第2の基板と、
前記第1の基板上に設けられた第1及び第2の接続端子群と、
前記第1の基板上に実装され、前記第1及び第2の接続端子群に接続された第3の接続端子群を実装面に有する第1及び第2の電子部品と、
前記第1の基板上に設けられ、前記第1及び第2の電子部品のうち少なくとも一方が実装された領域内では第1又は第2の接続端子群と接続される第1の検査用端子と前記第1及び第2の接続端子群とは接続されない第2の検査用端子とが規則的に配列された検査用端子群と
を具備することを特徴とする電気光学装置。 - 前記第1の接続端子群は第1のピッチで配列され、前記第2の接続端子群は前記第1のピッチとは異なる第2のピッチで配列されていることを特徴とする請求項4に記載の電気光学装置。
- 前記検査用端子群は、各検査用端子が前記第1及び第2のピッチのうち小さい方と同一のピッチで配列されることを特徴とする請求項5に記載の電気光学装置。
- 前記検査用端子群は、各検査用端子が前記第1及び第2のピッチよりも小さい第3のピッチで配列されることを特徴とする請求項5に記載の電気光学装置。
- 前記検査用端子群は、各検査用端子が等ピッチで配列されていることを特徴とする請求項4乃至請求項7のうちいずれか一項に記載の電気光学装置。
- 前記検査用端子群は、
等間隔に配列され、夫々異なる電圧を印加される複数の検査部材端子を備えるグループが繰り返し配列されてなり、前記検査用端子群に接触させる検査部材端子群に対応して設けられ、
前記グループの検査部材端子の数をA、自然数をNとする時、
前記第2の検査用端子が、(A×N−1)本連続で配列されないことを特徴とする請求項4に記載の電気光学装置。 - 請求項1乃至請求項3のうちいずれか一項に記載の電気光学装置用基板を用いた電気光学装置又は請求項4乃至請求項9のうちいずれか一項に記載の電気光学装置を搭載したことを特徴とする電子機器。
- 請求項1若しくは請求項2に記載の電気光学装置用基板を用いた電気光学装置又は請求項4乃至請求項9のいずれか一項に記載の電気光学装置の検査用端子群のピッチと同一のピッチで配列された検査部材端子群を具備することを特徴とする検査装置。
- 一対の基板を備える電気光学装置の検査方法であって、
一方の前記基板は、所定の間隔で配列されてなる第1の接続端子群と、前記所定の間隔より狭い間隔で配列されてなる第2の接続端子群と、前記第2の接続端子群の接続端子と同じ間隔で配列され、前記第1及び第2の接続端子群のいずれかに接続されてなる第1の検査用端子と、前記第1及び第2の接続端子群に接続されていない第2の検査用端子とを有する検査用端子群と、を備え、
検査部材端子群を、前記検査用端子群に接触させる工程と、
前記検査部材端子群に所定の電圧を印加する工程と、
を備えることを特徴とする検査方法。 - 電気光学材料を狭持する第1及び第2の基板と、前記第1の基板上に設けられた第1及び第2の接続端子群と、前記第1の基板上に設けられ少なくとも第1及び第2の電子部品が実装される領域では前記第1又は第2の接続端子群と接続される第1の検査用端子と前記第1の基板上に設けられ前記第1及び第2の接続端子群とは接続されない第2の検査用端子とが規則的に配列された検査用端子群と、を有する電気光学パネルの前記検査用端子群と、前記検査用端子群のピッチと同一のピッチで配列された検査部材端子群との位置合わせをする工程と、
前記検査部材端子群を前記検査用端子群に接触させる工程と、
前記検査部材端子群に所定の電圧を印加することにより、電気的良否を検出する工程と
を具備することを特徴とする検査方法。 - 前記検査用端子群は前記検査部材端子群に接続される配線の数に依存して配列されることを特徴とする請求項13に記載の検査方法。
- 第1及び第2の基板間に電気光学材料を狭持する電気光学装置の製造方法であって、
前記第1の基板上に第1及び第2の接続端子群を形成する工程と、
前記第1及び第2の接続端子群に接続された第3の接続端子群を実装面に有する第1及び第2の電子部品のうち少なくとも一方が実装される領域内では第1又は第2の接続端子群と接続される第1の検査用端子と、前記第1及び第2の接続端子群とは接続されない第2の検査用端子とが規則的に配列された検査用端子群を前記第1の基板上に形成する工程と、
前記検査用端子群のピッチと同一のピッチで配列された検査部材端子群を前記検査用端子群に接触させて電気的検査を行う工程と、
前記第1及び第2の電子部品を前記第1の基板上に実装する工程と
を具備することを特徴とする電気光学装置の製造方法。
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