JP4608881B2

JP4608881B2 - 電気光学措置用基板、電気光学装置及び電子機器

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Publication number: JP4608881B2
Application number: JP2003419651A
Authority: JP
Inventors: 重和田中; 千砂子菅沼
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Current assignee: Seiko Epson Corp
Priority date: 2003-12-17
Filing date: 2003-12-17
Publication date: 2011-01-12
Anticipated expiration: 2023-12-17
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Description

本発明は、パーソナルコンピュータや携帯電話機等に用いられる電気光学装置用基板、電気光学装置、その電気光学装置の製造方法及びその電気光学装置を用いた電子機器に関する。

従来、パーソナルコンピュータや携帯電話機等といった電子機器の表示装置として液晶装置等の電気光学装置が広く用いられているが、その製造工程では高度な薄膜形成技術や微細な配線技術等が必要となり、それらの配線等において断線やショート等を完全になくすことが容易ではないとして、液晶を駆動させるドライバ等を実装する前に、それらの配線等の電気的検査を行っていた。

しかし、最近のように液晶装置の表示解像度の高精細化により配線や検査用端子等のピッチが小さくなってくると、正確なショート検査等の電気的検査が容易ではなくなってきており、そのような問題を改善する方策が提案されている。（例えば、特許文献１参照。）。
特開平１０−２５３９８０号公報（段落[００１４]から[００１９]、図１）

しかしながら、更に液晶装置の表示解像度の高精細化により配線や検査用端子等のピッチが小さくなってくると、検査用端子の配置やそこまでの配線の引き回し等がより困難となって大きな問題となってきた。

また、液晶装置の電気的検査の複雑化は勿論、プローブ端子も検査用端子等の高精細化に伴ってより高価となっており、その検査方法の容易化及びコストの低減が望まれている。

本発明は、上述の課題に鑑みてなされたもので、電気的検査をより容易にし、且つ、その検査に要するコストを低減する電気光学装置用基板、電気光学装置、その電気光学装置の製造方法及びその電気光学装置を用いた電子機器を提供することを目的とする。

上記目的を達成するために、本発明の主たる観点に係る電気光学装置用基板は、電子部品が実装される実装領域の第１の辺に沿って配列されてなる第１の接続用端子群と、前記実装領域の前記第１の辺に隣接して交差する第２の辺に沿って配列されてなる第２の接続端子群と、前記実装領域の、前記第１の接続端子群及び前記第２の接続端子群よりも内側において、前記第２の接続端子群の配列方向に沿って一列に配列されてなる検査用端子群と、前記検査用端子群と前記第１の接続端子群、前記検査用端子群と前記第２の接続端子群とを電気的に接続する配線と、を備えることを特徴とする。ここで、「電気光学装置用基板」とは、例えばＥＬ装置の基板や検査用端子群や電気的配線が配置されたガラス基板などをいう。

本発明では、検査用端子群に交差する方向に第１の接続用端子群を備えることとしたので、検査用端子群と第１の接続用端子群とを電気的に接続する配線の引き回しが効率的にでき、検査用端子群を例えば液晶駆動用ＩＣの実装領域内に容易に所定の方向で配列できる。更にプローブ端子の位置合わせなどが容易となり、電気的検査のコストの低減化などが図れる。

また、検査用端子群と電気的に接続する接続用端子群を例えば液晶駆動用ＩＣの実装領域内に効率的に配置でき、検査用端子群と接続用端子群とを電気的に接続する配線の引き回しが容易となる。

本発明の一の形態によれば、前記第１の接続用端子群と電気的に接続される検査用端子は、前記第２の接続用端子に電気的に接続される検査用端子よりも、前記第１の接続用端子側に配置されてなることを特徴とする。これにより、第１の接続用端子群と電気的に接続される検査用端子との距離が近くなり、検査用端子群と接続用端子群とを電気的に接続する配線の引き回しが容易となる。

また、検査用端子群も無理なく所定方向に配列できるので、プローブ端子の位置合わせなどが容易となり、電気的検査のコストの低減化などが図れる。更にプローブ端子の共用化も図れる。

本発明の他の観点に係る電気光学装置は、上述の電気光学装置用基板と、前記電気光学装置用基板上に配置された電気光学材料と、を備え、前記第１の接続用端子群及び第２の接続用端子群の少なくとも一方は、前記電気光学材料に電圧を印加する電極に電気的に接続されてなることを特徴とする。

本発明では、上述の電気光学装置用基板と、その電気光学装置用基板上に配置された電気光学材料とを備え、第１の接続用端子群及び第２の接続用端子群の少なくとも一方は、電気光学材料に電圧を印加する電極に電気的に接続することとしたので、例えば検査用端子群と第１の接続用端子群とを電気的に接続する配線の引き回しが効率的にでき、検査用端子群を例えば液晶駆動用ＩＣの実装領域内に容易に所定の方向で配列できる。また、プローブ端子の位置合わせなどが容易となり、電気的検査のコストの低減化などが図れる。

本発明の他の観点に係る電気光学装置は、電気光学材料を狭持する第１及び第２の基板と、前記電気光学材料に電圧を印加する第１及び第２の電極と、前記第１の基板上に設けられ、前記第１及び第２の電極と電気的に接続された接続用配線と、前記第１の基板上に実装され、前記接続用配線に電気的に接続された電子部品と、前記第１の基板上において、前記電子部品の実装領域の第１の辺に沿って配列されるとともに、前記接続用配線に電気的に接続された第１の接続用端子群と、前記第１の基板上において、前記実装領域の前記第１の辺に隣接して交差する第２の辺に沿って配列されるとともに、前記接続用配線に電気的に接続された第２の接続端子群と、前記第１の基板上において、前記実装領域内であって、前記第１の接続端子群及び前記第２の接続端子群よりも内側において、前記第２の接続端子群の配列方向に沿って一列に配列されてなる検査用端子群と、前記検査用端子群と前記第１の接続端子群、前記検査用端子群と前記第２の接続端子群とを電気的に接続する検査用配線と、を具備することを特徴とする。さらに、前記第１の接続用端子群に接続される前記検査用配線は、前記検査用端子群に対して前記第２の接続用端子群側である第１の領域と、前記検査用端子群に対して前記第２の接続用端子群とは反対側である第２の領域とに配置され、前記検査用端子は、前記第２の接続用端子群に電気的に接続された検査用端子が前記実装領域の内側に配置され、前記第２の領域に引き回された検査用配線により前記第１の接続用端子群に電気的に接続された検査用端子が、前記第１の領域に引き回された検査用配線により前記第１の接続用端子群に電気的に接続された検査用端子より、前記第２の接続用端子群に電気的に接続された検査用端子に近くなるように並設されていることを特徴とする。ここで、「第１の電極」とは、例えばセグメント電極等をいい、「第２の電極」とは、例えばコモン電極等をいう。また、「電子部品」とは、例えば液晶駆動用ＩＣ等をいう。

本発明では、第１の基板上の電子部品の実装面に対応する領域内に、少なくとも第１の接続用端子群に電気的に接続する検査用配線を引き回すための第１及び第２の領域を設け、その第１及び第２の領域の間に検査用端子を並設し、更にその第１及び第２の領域の少なくとも一方に引き回された検査用配線により、少なくとも第１の接続用端子群に電気的に接続することとしたので、検査端子の一方側だけではなく、検査用端子を挟む両側のスペースを有効に利用して例えば第１の接続用端子群と接続するための配線を容易に引き回すことが可能となる。

また、電子部品の実装面に対応する領域内に検査用端子を並設したので、検査用端子を設けるスペースを特別に用意する必要もなくより小型化が図れると共に、電極と接続用端子とを電気的に接続する配線に直接、検査用のプローブ端子、例えばピンを当接することによりその配線を傷つけることも無い。

更にプローブ端子の位置合わせやプローブ端子の製造そのものも容易となり、検査の容易化及びコストの低減化が可能となる。

また、検査用端子と例えば第１の接続用端子群とを電気的に接続するための検査用配線の引き回しがより効率的にできることとなり、検査用端子を例えば横一直線上に並設することが容易となる。

例えば１チップドライバではセグメント電極に電気的に接続された接続用端子群は、ほぼ長辺側中央に配置され、その左右にコモン電極の接続用端子群の一部が配置されるような場合が多いが、この場合に第１の領域を液晶表示側に近い側に設けるとすると、第１の領域に引き回す配線はできるだけセグメント電極に接続される接続用端子群と検査用端子とを電気的に接続する配線から遠ざけることが好ましい。

一方、検査用端子に対し第１の領域の反対側に設けられた第２の領域に引き回す配線は、その位置関係からセグメント電極に電気的に接続される接続用端子群と検査用端子とを電気的に接続する配線と隣接することは無いので、その検査用端子がセグメント電極に電気的に接続される検査用端子に近く設けられていても、第１の領域のような問題は生じない。

そこで、第２の領域に引き回す配線により電気的に接続される検査用端子を、第１の領域に引き回す配線により電気的に接続される検査用端子より、セグメント電極に電気的に接続される接続用端子群に電気的に接続される検査用端子に近くなるように、並設したものである。

本発明の一の形態によれば、前記第１の接続用端子群に接続される前記検査用配線は、前記検査用端子群に対して前記第２の接続用端子群側である第１の領域と、前記検査用端子群に対して前記第２の接続用端子とは反対側である第２の領域とに配置され、前記検査用端子は、前記第２の接続用端子群に電気的に接続された検査用端子が前記実装領域の内側に配置され、前記第２の領域に引き回された検査用配線により前記第１の接続用端子群に電気的に接続された検査用端子と、前記第１の領域に引き回された検査用配線により前記第１の接続用端子群に電気的に接続された検査用端子とが交互に隣り合って並設されていることを特徴とする。これにより、検査用端子に電気的に接続される配線が交互に第１の領域と第２の領域に引き回されることとなるので、隣り合う検査用端子に電気的に接続された配線が同じ領域に引き回されることがなく、配線のスペースを容易に確保することができ、より精細な検査用端子とすることが可能となる。

本発明の一の形態によれば、前記検査用端子は、前記第２の接続用端子群に電気的に接続された検査用端子のピッチが、前記第１の接続用端子群に電気的に接続された検査用端子のピッチの整数倍であることを特徴とする。これにより、例えばコモン電極側の引き回し配線がセグメント電極側の引き回し配線より精細になっていても対応できる。また、検査用端子に当接させる検査用のプローブ端子のピッチを、第１の接続用端子群に電気的に接続された検査用端子のピッチに合わせて等ピッチにしておけば、第２の接続用端子群に電気的に接続された検査用端子にも確実にプローブ端子を当接させることができ、プローブ端子の製造がより容易となると共に共用化を図ることが可能となる。

本発明の一の形態によれば、前記第１の接続用端子群に電気的に接続された検査用端子のピッチの整数倍が、1倍であることを特徴とする。これにより、例えば検査用端子のピッチが全て同じになり、より検査用のプローブ端子の共用化を図ることができその製造コストを低減できる。また、プローブ端子の検査用端子への当接もその位置合わせ等がすべてのピッチが同じであるため極めて容易となる。

本発明の一の形態によれば、前記第１の接続用端子群に電気的に接続された検査用端子と、それに隣り合う前記第２の接続用端子群に電気的に接続された検査用端子との距離が、前記第１の接続用端子群に電気的に接続された検査用端子のピッチの整数倍であることを特徴とする。これにより、例えばセグメント電極に電気的に接続された検査用端子とコモン電極に電気的に接続された検査用端子とが離れて設けられている場合も、検査用のプローブ端子をコモン電極側の検査用端子のピッチに全て揃えることができ、その検査用のプローブ端子の製造が容易となると共に共用化をより図ることが可能となる。

本発明の他の観点に係る電子機器は、上述の電気光学装置を備えることを特徴とする。

本発明では、電気的検査をより容易にし、且つ、その検査に要するコストを低減する電気光学装置を備えるので、容易に電子機器の性能の信頼性を高めることができる。

本発明の他の観点に係る電気光学装置の製造方法は、第１及び第２の基板の間に電気光学材料を狭持する電気光学装置の製造方法において、前記第１及び第２の基板上に夫々第１及び第２の電極を設ける工程と、前記第１の基板上に、前記第２の電極と導通部材を介して電気的に接続される接続用配線を設ける工程と、前記第１の基板上に、前記接続用配線に電気的に接続された第１の接続用端子群を設ける工程と、前記第１の基板上に、前記第１の電極に電気的に接続された第２の接続用端子群を設ける工程と、前記第１及び第２の接続用端子群に電気的に接続する第３の接続用端子群を実装面に有する電子部品の前記実装面に対応する第１の基板上の領域内に、少なくとも前記第１の接続用端子群に電気的に接続する検査用配線を第１の領域及び第２の領域に形成する工程と、前記第１及び第２の領域に挟まれた領域に、前記第１の領域に引き回された検査用配線と第２の領域に引き回された検査用配線とに電気的に接続された検査用端子を並設する工程と、前記検査用端子に検査用のプローブ端子を当接して少なくとも前記第１及び第２の電極の電気的検査を行う工程と、前記実装面に対応する第１の基板上の領域に前記電子部品を実装する工程とを具備することを特徴とする。

本発明では、電子部品の実装面に対応する第１の基板上の領域内に、少なくとも第１の接続用端子群に電気的に接続する検査用配線を第１及び第２の領域に形成する工程と、その第１及び第２の領域の間に、第１の領域に引き回された検査用配線と第２の領域に引き回された検査用配線とに電気的に接続された検査用端子を並設する工程と、その検査用端子に検査用のプローブ端子を当接して少なくとも第１及び第２の電極の電気的検査を行う工程等とを具備したので、検査端子の一方側だけではなく、検査用端子を挟む両側のスペースを有効に利用して、例えば第１の接続用端子群と電気的に接続するための配線を容易に引き回すことが可能となり、より精細な検査用端子で電気的検査をすることができ、より品質を向上させた電気光学装置を製造することが可能となる。

以下、本発明の実施の形態を図面に基づき説明する。尚、実施形態を説明するにあたっては、電気光学装置の例として液晶装置、具体的には反射半透過型のパッシブマトリックス方式の液晶装置、またその液晶装置を用いた電子機器について説明するがこれに限られるものではない。また、以下の図面においては各構成をわかりやすくするために、実際の構造と各構造における縮尺や数等が異なっている。

（第１の実施形態）

図１は本発明の第１の実施形態に係る液晶装置の概略斜視図、図２は図１のＡ―Ａ線断面図（液晶駆動用ＩＣは、切断していない。）、図３は液晶駆動用ＩＣが実装される前の液晶装置の張り出し部分を中心に説明する平面図、図４は図３のＣ―Ｃ線断面図（検査用端子の断面図）及び図５は図３の検査用端子を中心に説明する部分拡大図である。

（液晶装置の構成）

液晶装置１は、例えば図１に示すように液晶パネル２と、当該液晶パネル２に接続された回路基板３とを有する。ここで、液晶装置１には、回路基板３の他にも、バックライト等の照明装置やその他の付帯機構が必要に応じて付設される（図示しない。）。

液晶パネル２は、図１、図２及び図３に示すようにシール材４を介して貼り合わされた一対の基板である第１の基板５及び第２の基板６と、両基板の間隙に封入された電気光学材料例えばＳＴＮ（ＳｕｐｅｒＴｗｉｓｔｅｄＮｅｍａｔｉｃ）型の液晶７とを有する。

第１の基板５には、例えば図２に示すようにその液晶７側表面に、第１の電極である複数のセグメント電極８が所定のパターンで形成されている。

また、そのセグメント電極８の上にはオーバーコート層９が形成されており、更にその上に配向膜１０が形成されている。また、第１の基板５の外側（液晶７と反対側）には偏光板１１等が配置されている。

一方第２の基板６には、例えば図２に示すようにその液晶７側表面に第２の電極である複数のコモン電極１２が所定のパターンで形成されており、そのコモン電極１２の上にはオーバーコート層１３が形成され、更にその上に配向膜１４が形成されている。また、第２の基板６の外側（液晶７と反対側）には偏光板１５等が配置されている。

第１の基板５及び第２の基板６のいずれか一方の内側表面には図示しないが必要に応じて下地層、反射層、着色層及び光遮蔽層等を形成する。

ここで、第１の基板５及び第２の基板６は、図１、図２及び図３に示すように例えばガラスや合成樹脂といった光透過性材料から形成された板状部材であり、第１の基板５は他方の基板に対し外側へ突出した張り出し領域（以下「張り出し部」という。）１６を有している。

セグメント電極８は、例えばＩＴＯ（ＩｎｄｉｕｍＴｉｎＯｘｉｄｅ）の透明導電材料により形成されており、図１、図２及び図３に示すように一方向（図中のＹ軸方向）で平行になるようにストライプ形状で複数形成されている。

また、コモン電極１２はセグメント電極８と同様にＩＴＯ等の透明導電材料でストライプ状に複数形成されているが、図１、図２及び図３に示すようにセグメント電極８と交差するように図中のＸ軸方向に形成されている。これらのセグメント電極８及びコモン電極１２が交差する所が像を表示する画素となる。

尚、図１及び図３ではセグメント電極８及びコモン電極１２等を判り易くするために各電極等の間隔を実際より広く模式的に表しているが、実際は非常に狭い間隔で多数本形成されている。

また、オーバーコート層９，１３は例えば酸化ケイ素、酸化チタンまたはこれらの混合物により形成され、配向膜１０，１４は例えばポリイミド系樹脂により形成される。

次に、張り出し部１６は図１、図２及び図３に示すようにセグメント電極８及びコモン電極１２がシール材４で囲まれる領域（以下「液晶領域」という。）から当該張り出し部１６に延びている電極部分であるセグメント電極用配線１７及びコモン電極用配線１８、その各電極用配線に例えば液晶駆動用電流を供給する電子部品である液晶駆動用ＩＣ１９等を有する。

また、張り出し部１６は液晶駆動用ＩＣ１９の実装面に対応する第１の基板５上の実装領域Ｂ（図３中の点線で囲まれた領域）内に設けられた第１及び第２の接続用端子群として複数のコモン接続用端子２１（２１ａ、２１ｂ、２１ｃ）及びセグメント接続用端子２０と、そのコモン接続用端子２１及びセグメント接続用端子２０に電気的に接続された複数の検査用端子２２及びその検査用端子２２を平面的に挟む第１及び第２の領域２３，２４、更に回路基板３からの電流を液晶駆動用ＩＣ１９に入力する複数の入力接続用端子２５を有する。

更に張り出し部１６は、回路基板３からの電流を受け取る外部接続用端子２６、その外部からの電流を入力接続用端子２５に供給する入力用配線２７等を有する。

ここで、セグメント電極用配線１７は、例えば図３に示すようにセグメント電極８に張り出し部１６と液晶領域との境界付近で電気的に接続され液晶駆動用ＩＣに向けて延設されたものであり、図３中略中央部に配線されその端部でセグメント接続用端子２０に電気的に接続されている。

また、接続用配線としてのコモン電極用配線１８は、液晶領域で左右に分けて引き回された複数のコモン電極１２に、例えばシール材４中の導通部材（図示せず）を介して張り出し部１６と液晶領域との境界付近から電気的に接続され、液晶駆動用ＩＣに向けて延設されたものであり、図３中右側及び左側から引き回されその端部でコモン接続用端子２１に電気的に接続されている。

尚、セグメント電極用配線１７及びコモン電極用配線１８は例えばセグメント電極８及びコモン電極１２と同様ＩＴＯ等の透明導電材料で形成されている。

液晶駆動用ＩＣ１９は、例えば回路基板３及び入力用配線２７を介して表示画像等に関わる各種の信号を受信すると、この信号に応じた駆動信号を生成するものであり、その駆動信号はセグメント電極用配線１７及びコモン電極用配線１８に供給される。

また、液晶駆動用ＩＣ１９は、例えば図１に示すようにＸ軸方向に長辺が来るように略長方形の外形を有し、その張り出し部１６への実装面である裏面にはセグメント接続用端子２０及びコモン接続用端子２１と入力接続用端子２５とに電気的に接続するための第３の接続用端子群である複数のバンプ２８を有する。

更に実装領域Ｂ内には、例えば図３に示すように第１の基板５上に液晶領域側で当該実装領域Ｂの長辺の周縁中央付近に複数のセグメント接続用端子２０が、一定の間隔でＸ軸方向に並んで設けられている。また、例えばその複数のセグメント接続用端子２０を挟むように、当該実装領域Ｂの長辺の左右周縁付近と左右の短辺の周縁付近とに複数のコモン接続用端子２１（２１ａ、２１ｂ、２１ｃ）が、一定の間隔でＸ軸方向及びＹ軸方向に並んで設けられている。これにより、液晶駆動用ＩＣからの信号電流が各バンプ２８を介しセグメント接続用端子２０及びコモン接続用端子２１に出力され、セグメント電極８及びコモン電極１２に供給されることとなる。

なお、セグメント接続用端子２０及びコモン接続用端子２１は夫々セグメント電極用配線１７及びコモン電極用配線１８に電気的に接続されている。また、図３に示されたセグメント接続用端子２０、コモン接続用端子２１、セグメント電極用配線１７及びコモン電極用配線１８等はその一部を模式的に現したものであり、実際はもっと細かくかつ多数設けられている。

また、図３では省略しているが例えば図２に示すように各バンプ２８とセグメント接続用端子２０、コモン接続用端子２１及び入力接続用端子２５との間にはＡＣＦ（ＡｎｉｓｏｔｒｏｐｉｃＣｏｎｄｕｃｔｉｖｅＦｉｌｍ）２９を介在させ圧着させることにより電気的導通を図っている。

更に実装領域Ｂ内には、例えば図３に示すようにその略中央に複数の細い短冊状の検査用端子２２が図中Ｘ軸方向に一直線上に、後述する検査用のプローブ端子を当接させる部分が位置するように同一ピッチで複数並べられている。これにより、プローブ端子の数が例えば検査用端子２２の数分だけない場合でも、その一直線上にプローブ端子を平行移動させるだけで容易に全ての検査用端子２２を検査できることとなる。

また、プローブ端子の位置合わせやプローブ端子の製造そのものが容易となる。勿論、全ての検査用端子のピッチを同一にしなければならないわけではなく、セグメント電極８とコモン電極１２とに接続された検査用端子２２で夫々異なるピッチで形成してもよい。

更に検査用端子２２は、例えば図４に示すように第１の基板５の上に下地層としてタンタルによるＴａ層３０を形成し、その上に検査用端子の本体としてクロムによるＣｒ層３１を積層し、更にその上をインジウムスズ酸化物によるＩＴＯ層３２で被覆する構造となっている。Ｔａ層３０を形成することによりＣｒ層３１をより安定して形成できると共に、ＩＴＯ層３２で覆うことにより検査用のプローブ端子の接触が良好となり、Ｃｒ層３１に傷がつくことを防ぐことができる。勿論検査用端子２２はこの構成に限られるものではない。

また、複数並設された検査用端子２２は、中央部分にセグメント接続用端子２０に引き回し配線により電気的に接続された検査用端子２２が配置され、その両外側（左右）にコモン接続用端子２１に引き回し配線により電気的に接続された検査用端子２２が配置されている。

ここで、上述の引き回し配線について検査用端子の右側の一部をより詳細に説明する。勿論、検査用端子の左側も同様に構成されている。

まず図５に示すように検査用端子２２の上方右側の点線領域を第１の領域２３とし、その検査用端子２２の反対側の点線領域を第２の領域２４とする。この第１の領域２３はコモン接続用端子のうち実装領域Ｂの短辺側周縁で、その短辺の中央より上方（図５のＹ軸方向の）に設けられたコモン接続用端子２１ａと検査用端子２２とを電気的に接続する検査用配線としての引き回し配線が主に引き回される領域である。また、第２の領域２４はコモン接続用端子のうち実装領域Ｂの短辺側周縁で、その短辺の中央より下方（図５のＹ軸方向の逆）に設けられたコモン接続用端子２１ｂと検査用端子２２とを電気的に接続する検査用配線としての引き回し配線が主に引き回される領域である。

引き回し配線はセグメント接続用端子２０と検査用端子２２とを電気的に接続する引き回し配線３３ａと、コモン接続用端子２１のうち長辺側周縁に設けられたコモン接続用端子２１ｃと検査用端子２２とを接続する引き回し配線３３ｂと、コモン接続用端子２１のうち短辺側周縁に設けられたコモン接続用端子２１ａ及び２１ｂを検査用端子２２に夫々電気的に接続する引き回し配線３３ｃ及び３３ｄを有する。

これにより、図５に模式的に示す検査用端子２２は図中一番左側（検査用端子２２全体では中央寄り）から４個目までが、セグメント接続用端子２０に引き回し配線３３ａにより電気的に接続されているが、一般には近い距離で直線的に接続されている。

これに対し、例えば図５に示すように左から５番目及び６番目の検査用端子２２は元々図中右端のほうから長辺側のコモン接続用端子２１ｃを介して検査用端子２２に電気的に接続されるため図５に示すように、その６番目の検査用端子２２の右隣の７番目及び８番目の検査用端子２２の配線を引き回す領域、例えば第１の領域２３が非常に狭くなってしまう。

このため、少しでも引き回しが容易になるように、第１の領域２３を通る引き回し配線３３ｃは、できるだけ引き回し配線３３ｂから離れていることが望ましい。

そこで、セグメント接続用端子２０と接続される検査用端子２２に遠くなるように例えば図５では、右側から１番目及び２番目の検査用端子２２に電気的に接続された引き回し配線３３ｃが第１の領域２３に引き回され、短辺側のコモン接続用端子２１ａに一定のカーブを描いて電気的に接続されている。尚、この場合の引き回し配線の接続は、一番短辺側に近い検査用端子２２とコモン接続用端子２１ａのうち一番真ん中よりのものと電気的に接続する。そして、２番目の検査用端子２２はその一つ上にあるコモン接続用端子２１ａに引き回し配線により電気的に接続させる。これにより、引き回し配線が検査用端子ごとで交差することがなく最も効率的に配線できる。

一方、それよりセグメント接続用端子２０と電気的に接続される検査用端子２２に近い図５中の右から３番及び４番目の検査用端子２２に電気的に接続された引き回し配線３３ｄは、第２の領域２４に一定のカーブを描いて引き回されることによって、第１の領域に引き回す配線数を減らし、より精細な引き回しを可能としている。尚、この場合の引き回し配線の接続は、短辺側に近い３番目の検査用端子２２とコモン接続用端子２１ｂのうち一番真ん中よりのものと電気的に接続する。そして、４番目の検査用端子２２はその一つ下にあるコモン接続用端子２１ｂに引き回し配線により電気的に接続させる。これにより、引き回し配線が検査用端子ごとで交差することがなく最も効率的に配線できる。

また、第２の領域２４に引き回される引き回し配線３３ｄに電気的に接続される複数の検査用端子２２は全て、第１の領域２３に引き回される引き回し配線３３ｃに電気的に接続される検査用端子２２より、セグメント接続用端子２０に電気的に接続された検査用端子２２に近くなるように配置されていることとなる。

これにより、狭い領域でもより余裕を持って引き回し配線を引き回すことができる。すなわち、図５に示すように第１の領域に引き回すと、引き回し配線３３ｂに近い引き回し配線となるものは第２の領域に引き回すこととできるので、より広い領域での引き回しが可能となり全体で精細な複数の検査用端子２２とすることも可能である。

また、実装領域Ｂ内には、例えば図３に示すようにその回路基板３側の長辺周縁に回路基板３からの信号を液晶駆動用ＩＣ１９に入力する入力接続用端子２５が、複数図中Ｘ軸方向に略一直線上に、並べられている。

尚、上述の説明では模式的に説明するために引き回し配線３３ａ、３３ｂ、３３ｃ、３３ｄや検査用端子２２の夫々の個数が極めて少なく記載し説明したが、勿論実際はもっと数が多い。

次に、回路基板３には図２に示すようにベース基材３４の上に配線パターン３５等が形成、実装されている。

ここで、ベース基材３４は可撓性を有するフィルム状の部材であり、配線パターン３５は例えば銅等から形成されていて、張り出し部１６側の端に接続用端子（図示しない）

が形成されている。その接続用端子は外部接続用端子２６に外部接続用ＡＣＦ３６を介して電気的に接続されている。

（液晶装置の製造方法及び検査方法）

次に、液晶装置１の製造方法及び検査方法を張り出し部１６を中心に簡単に説明する。

図６は液晶装置の製造方法のフローチャート図、図７はプローブ端子を検査用端子に当接した状態の説明図及び図８は他の検査用のプローブ端子の説明図である。

まず、図６に示すように第１の基板５の上に（液晶側）セグメント電極８の材料であるＩＴＯ等をスパッタリング法により被着し、フォトリソグラフィ法によってパターニングして図１、図２及び図３のようにＹ軸方向でストライプ状に、セグメント電極８を形成する。また、その上にオーバーコート層９を形成し、更にその上に配向膜１０を形成し、ラビング処理を施して第１の基板側を形成する（ＳＴ１０１）。尚、このセグメント電極８を形成する際に張り出し部１６のセグメント電極用配線１７、コモン電極用配線１８、セグメント接続用端子２０、コモン接続用端子２１、検査用端子２２、入力接続用端子２５、外部接続用端子２６及び入力用配線２７等を同様にスパッタリング法により生膜し、フォトリソグラフィ法等により形成してもよい。また、検査用端子２２は図４のように張り出し部１６の上にまず下地層としてタンタルによるＴａ層３０を形成し、その上に検査用端子の本体としてクロムによるＣｒ層３１を積層し、更にその上をインジウムスズ酸化物によるＩＴＯ層３２で被覆して形成する。

次に第２の基板６の上に（液晶側）同様にしてコモン電極１２を図１、図２及び図３のようにＸ軸方向にストライプ状に形成し、更にオーバーコート層１３及び配向膜１４を形成し第２の基板側を形成する（ＳＴ１０２）。

また、第２の基板６上にギャップ材３７をドライ散布等により散布し、シール材４を介して第１の基板側と第２の基板側とを貼り合わせる。このとき、例えばシール材４中の導通部材（図示せず）を介してコモン電極１２とコモン電極用配線１８とが電気的に接続されることとなる。その後、スクライブ&ブレーク工程を経て分割された第１の基板５及び第２の基板６のシール材４の開口部から液晶７を注入し、シール材４の開口部を紫外線硬化性樹脂等の封止材によって封止する（ＳＴ１０３）。更に、偏光板１１，１５等を第１の基板５及び第２の基板６の各外面（液晶側と反対側）に貼着等の方法により取り付ける。

ここまでの工程により、セグメント電極８及びコモン電極１２、セグメント電極用配線１７、コモン電極用配線１８、セグメント接続用端子２０、コモン接続用端子２１、検査用端子２２等が形成されているので、例えばセグメント電極８及びコモン電極１２等の点灯試験や断線及びショート検査等の電気的検査をすることができることとなる。以下の工程は実質上検査方法の工程となる。

まず、検査装置３８の検査用のプローブ端子例えば検査用ピン３９を張り出し部１６上に制御部４０の制御下、移動装置（図示しない）により移動させ、更に複数の検査用端子２２に当接できるように検査用ピン３９をアライメントマーク等を利用して正確に検査用端子２２に位置合わせする（ＳＴ１０４）。

また、検査用ピン３９が各検査用端子２２に位置合わせできたら、例えば制御部４０は検査用ピン３９を検査用端子２２に移動装置により降下させ図７に示すように当接させる（ＳＴ１０５）。

更に制御部４０は、電圧印加部４１により所定の電圧を検査用ピン３９に印加する（ＳＴ１０６）。この際、例えば図７に示すように各検査用端子２２に当接する検査用ピン３９は、図中左端のＥ１の検査用ピン３９とそれから３本の検査用ピン３９を飛ばしてＥ５の検査用ピン３９、同様にＥ９の検査用ピン３９等が一つに纏められている。同様に左から２番目のＥ２の検査用ピン３９は、Ｅ６等の検査用ピン３９と一つに纏められており、３番目のＥ３の検査用ピン３９は、Ｅ７等の検査用ピン３９と一つに纏められている。同じように４番目のＥ４の検査用ピン３９は、３本の検査用ピン３９を飛ばしてＥ８の検査用ピン３９等と一つに纏められている。

これにより、例えば少なくとも連続して隣り合う４つの検査用端子２２同士のショート検査は可能であると共に通常はそれで十分であり、全検査用端子２２を独立して検査する検査装置に比べ低コストに検査可能となる。勿論、４本ずつ纏めない全検査用端子２２を独立して検査する検査装置としてもよいし、４本ではなく２本或は３本ずつ等纏めてもよい。

夫々一つに纏められた配線は図７に示すようにＦ１からＦ４として電圧印加部４１に電気的に接続されている。ここで、Ｆ１とＦ２の間に所定の電圧が印加されるので、例えば検査用ピン３９のＥ１とＥ２とに当接している検査用端子２２間でセグメント電極８等がショートしていると、電流が流れ電圧印加部４１はその情報を制御部４０に伝える。制御部４０はその情報等により電気的良否（この場合は、ショートの有無）を判定し（ＳＴ１０７）例えばランプ等（図示せず）に表示する。

以上で実質的に電気光学装置の電気的検査（検査方法の説明）は終了し、検査の結果正常な第１の基板及び第２の基板５，６に対し以下の工程により液晶装置１を完成させる。

具体的には、まずＡＣＦ２９を例えば図２に示すように張り出し部１６のセグメント接続用端子２０、コモン接続用端子２１、入力接続用端子２５等を覆うように配置し、その上にセグメント接続用端子２０等に液晶駆動用ＩＣ１９のバンプ２８が対応するように液晶駆動用ＩＣ１９を配置し、押圧して加熱する。これにより、バンプ２８とセグメント接続用端子２０等との間で単一方向の導電性を持たせ電気的に接続することができる。

更に、回路基板３に必要な電子部品を実装し、回路基板３の配線パターン３５の一端に形成された接続用端子（図示せず）を例えば図２に示すように外部接続用ＡＣＦ３６を介して外部接続用端子２６に電気的に接続させ、液晶パネル２に回路基板３を接続させる（ＳＴ１０８）。

最後に、その他の照明装置やケース体等を取り付けて電気光学装置である液晶装置１が完成する（ＳＴ１０９）。

尚、検査用のプローブ端子としては上述の検査用ピン３９に限られるものではなく、例えば図８に示すようにフレキシブル基板等のフィルム４２上に検査用端子２２のピッチと同一のピッチに配線４３を形成し、その上にプローブ端子であるプローブ端子バンプ４４が形成されている。また、その一つの配線４３及びプローブ端子バンプ４４とその隣の配線４３及びプローブ端子バンプ４４との間には絶縁層４５が形成された構造となっている。これを検査用端子２２の上に図８に示すようにプローブ端子バンプ４４を当接することによっても、電気的検査は可能である。特に、精細な検査用端子２２の場合はフィルム４２上にプローブ端子バンプ４４を形成するほうが容易に低コストで製造できる。

このように本実施形態によれば、電子部品である液晶駆動用ＩＣ１９の実装面に対応する第１の基板５上の領域内に、少なくともコモン接続用端子２１に電気的に接続する配線を引き回すための第１及び第２の領域２３，２４を設け、その第１及び第２の領域の間に検査用端子２２を並設し、更にその第１及び第２の領域２３，２４の少なくとも一方に引き回された配線により、少なくともコモン接続用端子２１に電気的に接続することとしたので、検査用端子２２の一方側だけではなく、検査用端子２２を挟む両側のスペースを有効に利用して例えばコモン接続用端子２１と電気的に接続するための配線を容易に引き回すことが可能となる。

具体的には、第２の領域２４に引き回された配線３３ｄによりコモン接続用端子２１ｂに電気的に接続された検査用端子２２が、第１の領域２３に引き回された配線３３ｃによりコモン接続用端子２１ａに電気的に接続された検査用端子２２より、セグメント接続用端子２０に電気的に接続された検査用端子２２に近くなるように並設されているので、検査用端子２２と例えばコモン接続用端子２１とを電気的に接続するための配線の引き回しがより効率的にできることとなり、より精細な複数の検査用端子２２を例えば横一直線上に並設することが容易となる。これによって、液晶装置１の電気的検査が低コストで容易にできるようになる。

また、液晶駆動用ＩＣ１９の実装面に対応する領域内に検査用端子２２を並設したので、検査用端子２２を設けるスペースを特別に用意する必要もなくより小型化が図れると共に、電極に接続された配線に直接、検査用のプローブ端子、例えば検査用ピン３９を当接することにより配線を傷つけることも無い。

（第２の実施形態）

次に、本発明に係る液晶装置の第２の実施形態について説明する。本実施形態においては、第１の実施形態が第１の領域に引き回された配線に電気的に接続された検査用端子と第２の領域に引き回された配線に電気的に接続された検査用端子とを夫々一つのグループとしてその配置する位置を定めたのに対し、検査用端子の一つ一つで夫々交互に配置する点が異なるので、その点を中心に説明する。尚、第１の実施形態の構成要素と共通する構成要素については、第１の実施形態の構成要素と同一の符号を付しその説明を省略する。

図９は本発明の第２の実施形態に係る液晶装置の液晶駆動用ＩＣが実装される前の張り出し部の部分拡大図である。

（液晶装置の構成）

図９に示すように検査用端子２２は、電気的に接続される引き回し配線が第１の領域２３に引き回される引き回し配線３３ｃに電気的に接続される検査用端子２２と、第２の領域２４に引き回される引き回し配線３３ｄに電気的に接続される検査用端子２２とが夫々一つずつ交互に並設されている。

具体的には、まず短辺側の図中上方に設けられたコモン接続用端子２１ａのうちで一番下側のコモン接続用端子２１ａから引き回された引き回し配線３３ｃに電気的に接続された検査用端子２２が図中で一番右端に配置され、次の検査用端子２２はコモン接続用端子２１ｂのうちで一番上側のコモン接続用端子２１ｂから引き回された引き回し配線３３ｄに電気的に接続された検査用端子２２が配置されている。３番目の検査用端子２２は、コモン接続用端子２１ａのうちで２番目に下側のコモン接続用端子２１ａから引き回された引き回し配線３３ｃに電気的に接続された検査用端子２２が配置され、４番目の検査用端子２２は、コモン接続用端子２１ｂのうちで２番目に上側のコモン接続用端子２１ｂから引き回された引き回し配線３３ｄに電気的に接続された検査用端子２２が配置されている。以下同様に短辺側に設けられたコモン接続用端子２１ａ、２１ｂに電気的に接続する引き回し配線がすべて終了するまで繰り返されることとなる。その次の検査用端子２２は、第１の実施形態と同様に引き回し配線３３ｂに電気的に接続された検査用端子２２、セグメント接続用端子２０に電気的に接続された検査用端子２２と順に並設されている。

（液晶装置の製造方法及び検査方法）

本実施形態に係る液晶装置の製造方法及び検査方法は、略第１の実施形態と同様であるので、説明を省略する。

このように本実施形態によれば、検査用端子２２は、第２の領域２４に引き回された配線によりコモン接続用端子２１ｂに電気的に接続された検査用端子２２と、第１の領域２３に引き回された配線によりコモン接続用端子２１ａに電気的に接続された検査用端子２２とが交互に隣り合って並設されているので、検査用端子２２に電気的に接続される配線が交互に第１の領域２３と第２の領域２４に引き回され、隣り合う検査用端子２２に接続された配線が同じ領域に引き回されることがなく、配線のスペースを容易に確保することができ、より精細な検査用端子とすることが可能となる。また、引き回しの自由度が大きくなり例えば液晶駆動用ＩＣ１９の実装領域内の短辺側にもコモン接続用端子２１を設ける場合に、検査用端子２２をその領域内に一直線上に並設することが可能となり、より容易に電気的検査ができると共に低コストで検査が可能となる。

（第３の実施形態）

次に、本発明に係る液晶装置の第３の実施形態について説明する。本実施形態においては、第１の実施形態の検査用端子が全て等ピッチで並設されているのに対し、コモン電極に接続された検査用端子とセグメント電極に接続された検査用端子とでピッチが異なるので、その点を中心に説明する。尚、第１の実施形態の構成要素と共通する構成要素については、第１の実施形態の構成要素と同一の符号を付しその説明を省略する。

図１０は本発明の第３の実施形態に係る液晶装置の液晶駆動用ＩＣが実装される前の張り出し部の部分拡大図である。

（液晶装置の構成）

図１０に示すように検査用端子２２は、セグメント接続用端子２０に引き回し配線３３ａで電気的に接続された検査用端子２２のピッチＰ２が、コモン接続用端子２１ａ，２１ｂ，２１ｃに引き回し配線３３ｂ，３３ｃ，３３ｄで電気的に接続された検査用端子２２のピッチＰ１の整数倍となるように並設されている。

具体的には、図１０ではセグメント接続用端子２０に引き回し配線３３ａで電気的に接続された検査用端子２２の図１０中で左端から２番目の検査用端子２２のピッチＰ２が、コモン接続用端子２１ｃに引き回し配線３３ｂにより電気的に接続された検査用端子２２で、図中で左端の検査用端子から５番目の検査用端子２２のピッチＰ１の２倍となっていている。勿論、２倍に限られるわけではなく３倍でも４倍でも、コモン接続用端子２１ａ，２１ｂ，２１ｃに引き回し配線３３ｂ，３３ｃ，３３ｄで電気的に接続された検査用端子２２のピッチＰ１の整数倍であればよい。

（液晶装置の製造方法及び検査方法）

本実施形態に係る液晶装置の製造方法及び検査方法は、略第１の実施形態と同様であるが検査用端子のピッチがセグメント接続用端子２０に引き回し配線により電気的に接続されている検査用端子のピッチとコモン接続用端子２１に引き回し配線により電気的に接続されている検査用端子のピッチとが異なるので、検査用ピン３９が検査用端子２２に当接されるところを中心に説明する。

図１１は第３の実施形態に係るプローブ端子を検査用端子に当接した状態の説明図である。

まず、検査装置３８の検査用のプローブ端子例えば検査用ピン３９を張り出し部１６上に制御部４０の制御下、移動装置（図示しない）により移動させ、更に検査用端子２２に当接できるように検査用ピン３９をアライメントマーク等を利用して正確に検査用端子２２に位置合わせする（ＳＴ１０４）。例えばコモン接続用端子２１に引き回し配線により電気的に接続されている検査用端子と位置合わせする。

また、検査用ピン３９が各検査用端子２２に位置合わせできたら、例えば制御部４０は検査用ピン３９を検査用端子２２に移動装置により降下させ図１１に示すように当接させる（ＳＴ１０５）。この際、図１１に示すように検査用ピン３９の等ピッチが、コモン接続用端子２１に引き回し配線により電気的に接続されている検査用端子のピッチＰ１に合わせてあるので、全ての検査用端子２２にいずれかの検査用ピン３９が当接されることとなる。

このように本実施形態によれば、検査用端子２２は、セグメント接続用端子２０に引き回し配線により電気的に接続された検査用端子２２のピッチＰ２が、コモン接続用端子２１（２１ａ，２１ｂ，２１ｃ）に電気的に接続された検査用端子２２のピッチＰ１の整数倍となるように並設されているので、例えば検査用端子２２に当接させる検査用のプローブ端子のピッチを、コモン接続用端子２１ａに電気的に接続された検査用端子２２のピッチＰ１に合わせ等ピッチとしておけば、セグメント接続用端子２０に引き回し配線により電気的に接続された検査用端子２２にも確実にプローブ端子を当接させることができ、プローブ端子の製造がより容易となると共に共用化を図ることが可能となる。

（第４の実施形態）

次に、本発明に係る液晶装置の第４の実施形態について説明する。本実施形態においては、第１の実施形態の検査用端子が全て等ピッチで並設されているのに対し、コモン電極に電気的に接続された検査用端子とその隣のセグメント電極に電気的に接続された検査用端子との間にスペースがある点で異なるので、その点を中心に説明する。尚、第１の実施形態の構成要素と共通する構成要素については、第１の実施形態の構成要素と同一の符号を付しその説明を省略する。

図１２は本発明の第４の実施形態に係る液晶装置の液晶駆動用ＩＣが実装される前の張り出し部の部分拡大図である。

（液晶装置の構成）

図１２に示すように検査用端子２２は、セグメント接続用端子２０に引き回し配線３３ａで電気的に接続された検査用端子２２と、その隣の検査用端子でコモン接続用端子２１ｃに引き回し配線３３ｂで電気的に接続された検査用端子２２との距離がコモン接続用端子２１ｃに引き回し配線３３ｂで電気的に接続された検査用端子２２のピッチＰ１の整数倍となるように並設されている。

具体的には、図１２ではセグメント接続用端子２０に引き回し配線３３ａで電気的に接続された検査用端子２２の図１０中で左端から４番目の検査用端子２２と、コモン接続用端子２１ｃに引き回し配線３３ｂにより電気的に接続された検査用端子２２で図中の左端の検査用端子から５番目の検査用端子２２との距離Ｐ３が、コモン接続用端子２１ｃに引き回し配線３３ｂにより電気的に接続された検査用端子２２のピッチＰ１の３倍となるように並設されている。勿論、３倍に限られるわけではなく２倍でも４倍でも、コモン接続用端子２１ａ，２１ｂ，２１ｃに引き回し配線３３ｂ，３３ｃ，３３ｄで電気的に接続された検査用端子２２のピッチＰ１の整数倍であればよい。

（液晶装置の製造方法及び検査方法）

本実施形態に係る液晶装置の製造方法及び検査方法は、略第１の実施形態と同様であるがコモン電極に電気的に接続された検査用端子とその隣のセグメント電極に電気的に接続された検査用端子との間にスペースがある点で異なるので、検査用ピン３９が検査用端子２２に当接されるところを中心に説明する。

図１３は第４の実施形態に係るプローブ端子を検査用端子に当接した状態の説明図である。

また、検査用ピン３９が各検査用端子２２に位置合わせできたら、例えば制御部４０は検査用ピン３９を検査用端子２２に移動装置により降下させ図１３に示すように当接させる（ＳＴ１０５）。この際、図１３に示すように距離Ｐ３がピッチＰ１の整数倍とされており検査用ピン３９の等ピッチが、コモン接続用端子２１に引き回し配線により電気的に接続されている検査用端子のピッチＰ１に合わせてあるので、全ての検査用端子２２にいずれかの検査用ピン３９が当接されることとなる。

このように本実施形態によれば、コモン接続用端子２１に引き回し配線により電気的に接続された検査用端子２２と、それに隣り合うセグメント接続用端子２０に引き回し配線により電気的に接続された検査用端子２２との距離Ｐ３が、例えばコモン接続用端子２１ｃに引き回し配線により電気的に接続された検査用端子２２のピッチＰ１の整数倍であるので、例えばセグメント接続用端子２０に引き回し配線により電気的に接続された検査用端子２２とコモン接続用端子２１ｃに引き回し配線により電気的に接続された検査用端子２２とが離れて設けられている場合も、検査用のプローブ端子を全ての検査用端子２２に当接することができると共に、その検査用のプローブ端子の製造が容易となる。また、プローブ端子の共用化をより図ることが可能となる。

（第５の実施形態）

（電子機器）

次に、上述した液晶装置１を備えた本発明の第５の実施形態に係る電子機器について説明する。尚、第１の実施形態の構成要素と共通する構成要素については、第１の実施形態の構成要素と同一の符号を付しその説明を省略する。

図１４は本発明の第５の実施形態に係る電子機器の表示制御系の全体構成を示す概略構成図である。

電子機器３００は、表示制御系として例えば図１４に示すように液晶パネル２及び表示制御回路３９０などを備え、その表示制御回路３９０は表示情報出力源３９１、表示情報処理回路３９２、電源回路３９３及びタイミングジェネレータ３９４などを有する。

また、液晶パネル２には表示領域Ｇを駆動する駆動回路３６１を有する。

表示情報出力源３９１は、ＲＯＭ（ＲｅａｄＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）やＲＡＭ（ＲａｎｄｏｍＡｃｃｅｓｓＭｅｍｏｒｙ）などからなるメモリと、磁気記録ディスクや光記録ディスクなどからなるストレージユニットと、デジタル画像信号を同調出力する同調回路とを備えている。更に表示情報出力源３９１は、タイミングジェネレータ３９４によって生成された各種のクロック信号に基づいて、所定フォーマットの画像信号などの形で表示情報を表示情報処理回路３９２に供給するように構成されている。

また、表示情報処理回路３９２はシリアル−パラレル変換回路、増幅・反転回路、ローテーション回路、ガンマ補正回路、クランプ回路などの周知の各種回路を備え、入力した表示情報の処理を実行して、その画像情報をクロック信号ＣＬＫと共に駆動回路３６１へ供給する。駆動回路３６１は、走査線駆動回路、データ線駆動回路及び検査回路を含む。また、電源回路３９３は、上述した各構成要素に夫々所定の電圧を供給する。

このように本実施形態によれば、電子機器３００に用いられている液晶装置１は、第２の領域２４に引き回された配線３３ｄによりコモン接続用端子２１ｂに電気的に接続された検査用端子２２が、第１の領域２３に引き回された配線３３ｃによりコモン接続用端子２１ａに電気的に接続された検査用端子２２より、セグメント接続用端子２０に引き回し配線により電気的に接続された検査用端子２２に近くなるように並設されているので、検査用端子２２と例えばコモン接続用端子２１（２１ａ，２１ｂ，２１ｃ）とを電気的に接続するための配線の引き回しがより効率的にできることとなり、より精細な複数の検査用端子２２を例えば横一直線上に並設することが容易となる。これによって、液晶装置１の電気的検査が低コストで容易にできるようになる。

特に携帯可能な電子機器にあっては、小型で且つ正確な機能を発揮できることが求められており、電極配線等の電気的検査を容易にかつ、低コストでできる本発明の意義は大きいといえる。

具体的な電子機器としては、携帯電話機やパーソナルコンピュータなどの他に液晶装置が搭載されたタッチパネル、プロジェクタ、液晶テレビやビューファインダ型、モニタ直視型のビデオテープレコーダ、カーナビゲーション、ページャ、電子手帳、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、ＰＯＳ端末等が挙げられる。そして、これらの各種電子機器の表示部として、上述した例えば液晶装置１が適用可能なのは言うまでもない。

なお、本発明の電気光学装置及び電子機器は、上述した例に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々変更を加え得ることは勿論である。

例えば、上述した電気光学装置はいずれも液晶パネルを有する液晶装置であるが、無機或は有機エレクトロルミネッセンス装置、プラズマディスプレイ装置、電気泳動ディスプレイ装置、電子放出素子を用いた装置（ＦｉｅｌｄＥｍｉｓｓｉｏｎＤｉｓｐｌａｙ及びＳｕｒｆａｃｅ‐ＣｏｎｄｕｃｔｉｏｎＥｌｅｃｔｒｏｎ‐ＥｍｉｔｔｅｒＤｉｓｐｌａｙ等）などの各種電気光学装置であってもよい。

以上、好ましい実施形態を上げて本発明を説明したが、本発明は上述したいずれの実施形態にも限定されず、本発明の技術思想の範囲内で適宜変更して実施できる。

例えば、上述の実施形態ではパッシブマトリクス型の液晶装置について説明したがこれに限られるものではなく、例えば薄膜トランジスタ素子アクティブマトリクス型、薄膜ダイオード素子アクティブマトリクス型の液晶装置であってもよい。更には、半透過型に限らず反射型、透過型であってもよい。これにより、多種多様な液晶装置についても、電極配線等の電気的検査をより低コストでしかも容易に実施できる。

また、上述の実施形態では例えばとして張り出し部１６に実装される液晶駆動用ＩＣ１９の実装領域に設けられた検査用端子で説明したが、これに限られるものではなく例えば回路基板３に電子部品を実装するときについても同様に適用できる。更には電気光学装置に限らず半導体装置等にも適用可能である。これにより、より多様な電気光学装置や半導体装置等の電気的検査をより低コストでしかも容易に実施できることとなる。

第１の実施形態に係る液晶装置の概略斜視図である。図１のＡ―Ａ線断面図（液晶駆動用ＩＣは、切断していない。）である。液晶駆動用ＩＣが実装される前の張り出し部の平面図である。図３のＣ―Ｃ線断面図（検査用端子の断面図）である。図３の検査用端子を中心に説明する部分拡大図である。第１の実施形態に係る液晶装置の製造方法のフローチャート図である。第１の実施形態に係るプローブ端子を検査用端子に当接した説明図である。他の検査用のプローブ端子の説明図である。第２の実施形態に係る液晶駆動用ＩＣが実装される前の部分拡大図である。第３の実施形態に係る液晶駆動用ＩＣが実装される前の部分拡大図である。第３の実施形態に係るプローブ端子を検査用端子に当接した説明図である。第４の実施形態に係る液晶駆動用ＩＣが実装される前の部分拡大図である。第４の実施形態に係るプローブ端子を検査用端子に当接した説明図である。第５の実施形態に係る電子機器の表示制御系の概略構成図である。

符号の説明

１液晶装置、２液晶パネル、３回路基板、４シール材、５第１の基板、６第２の基板、７液晶、８セグメント電極、９，１３オーバーコート層、１０，１４配向膜、１１，１５偏光板、１２コモン電極、１６張り出し部、１７セグメント電極用配線、１８コモン電極用配線、１９液晶駆動用ＩＣ、２０セグメント接続用端子、２１コモン接続用端子、２２検査用端子、２３第１の領域、２４第２の領域、２５入力接続用端子、２６外部接続用端子、２７入力用配線、２８バンプ、２９ＡＣＦ、３０Ｔａ層、３１Ｃｒ層、３２ＩＴＯ層、３３（３３ａ，３３ｂ，３３ｃ，３３ｄ）引き回し配線、３４ベース基材、３５配線パターン、３６外部接続用ＡＣＦ、３７ギャップ材、３８検査装置、３９検査用ピン、４０制御部、４１電圧印加部、４２フィルム、４３配線、４４プローブ端子バンプ、４５絶縁層、３００電子機器、３６１駆動回路、３９０表示制御回路

Claims

電子部品が実装される実装領域の第１の辺に沿って配列されてなる第１の接続用端子群と、
前記実装領域の前記第１の辺に隣接して交差する第２の辺に沿って配列されてなる第２の接続端子群と、
前記実装領域の、前記第１の接続端子群及び前記第２の接続端子群よりも内側において、前記第２の接続端子群の配列方向に沿って一列に配列されてなる検査用端子群と、
前記検査用端子群と前記第１の接続端子群、前記検査用端子群と前記第２の接続端子群とを電気的に接続する配線と、
を備えることを特徴とする電気光学装置用基板。
前記第１の接続用端子群と電気的に接続される検査用端子は、前記第２の接続用端子に電気的に接続される検査用端子よりも、前記第１の接続用端子側に配置されてなることを特徴とする請求項１に記載の電気光学装置用基板。
請求項１または２に記載の電気光学装置用基板と、
前記電気光学装置用基板上に配置された電気光学材料と、
を備え、
前記第１の接続用端子群及び第２の接続用端子群の少なくとも一方は、前記電気光学材料に電圧を印加する電極に電気的に接続されてなることを特徴とする電気光学装置。
電気光学材料を狭持する第１及び第２の基板と、
前記電気光学材料に電圧を印加する第１及び第２の電極と、
前記第１の基板上に設けられ、前記第１及び第２の電極と電気的に接続された接続用配線と、
前記第１の基板上に実装され、前記接続用配線に電気的に接続された電子部品と、
前記第１の基板上において、前記電子部品の実装領域の第１の辺に沿って配列されるとともに、前記接続用配線に電気的に接続された第１の接続用端子群と、
前記第１の基板上において、前記実装領域の前記第１の辺に隣接して交差する第２の辺に沿って配列されるとともに、前記接続用配線に電気的に接続された第２の接続端子群と、
前記第１の基板上において、前記実装領域内であって、前記第１の接続端子群及び前記第２の接続端子群よりも内側において、前記第２の接続端子群の配列方向に沿って一列に配列されてなる検査用端子群と、
前記検査用端子群と前記第１の接続端子群、前記検査用端子群と前記第２の接続端子群とを電気的に接続する検査用配線と、
を具備することを特徴とする電気光学装置。
前記第１の接続用端子群に接続される前記検査用配線は、前記検査用端子群に対して前記第２の接続用端子群側である第１の領域と、前記検査用端子群に対して前記第２の接続用端子群とは反対側である第２の領域とに配置され、
前記検査用端子は、前記第２の接続用端子群に電気的に接続された検査用端子が前記実装領域の内側に配置され、前記第２の領域に引き回された検査用配線により前記第１の接続用端子群に電気的に接続された検査用端子が、前記第１の領域に引き回された検査用配線により前記第１の接続用端子群に電気的に接続された検査用端子より、前記第２の接続用端子群に電気的に接続された検査用端子に近くなるように並設されていることを特徴とする請求項４に記載の電気光学装置。
前記第１の接続用端子群に接続される前記検査用配線は、前記検査用端子群に対して前記第２の接続用端子群側である第１の領域と、前記検査用端子群に対して前記第２の接続用端子とは反対側である第２の領域とに配置され、
前記検査用端子は、前記第２の接続用端子群に電気的に接続された検査用端子が前記実装領域の内側に配置され、前記第２の領域に引き回された検査用配線により前記第１の接続用端子群に電気的に接続された検査用端子と、前記第１の領域に引き回された検査用配線により前記第１の接続用端子群に電気的に接続された検査用端子とが交互に隣り合って並設されていることを特徴とする請求項４に記載の電気光学装置。
前記検査用端子は、前記第２の接続用端子群に電気的に接続された検査用端子のピッチが、前記第１の接続用端子群に電気的に接続された検査用端子のピッチの整数倍であることを特徴とする請求項４乃至６のいずれか一項に記載の電気光学装置。
前記第１の接続用端子群に電気的に接続された検査用端子のピッチの整数倍が、１倍であることを特徴とする請求項７に記載の電気光学装置。
前記第１の接続用端子群に電気的に接続された検査用端子と、それに隣り合う前記第２の接続用端子群に電気的に接続された検査用端子との距離が、前記第１の接続用端子群に電気的に接続された検査用端子のピッチの整数倍であることを特徴とする請求項４乃至８のいずれか一項に記載の電気光学装置。
請求項４乃至９のうちいずれか一項に記載の電気光学装置を備えることを特徴とする電子機器。