JP2003066870A - 電気光学パネル及びその検査方法並びに電子機器 - Google Patents

電気光学パネル及びその検査方法並びに電子機器

Info

Publication number
JP2003066870A
JP2003066870A JP2001254845A JP2001254845A JP2003066870A JP 2003066870 A JP2003066870 A JP 2003066870A JP 2001254845 A JP2001254845 A JP 2001254845A JP 2001254845 A JP2001254845 A JP 2001254845A JP 2003066870 A JP2003066870 A JP 2003066870A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wiring
terminals
wiring terminals
group
probe
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001254845A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4013503B2 (ja
Inventor
Shigekazu Tanaka
重和 田中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2001254845A priority Critical patent/JP4013503B2/ja
Publication of JP2003066870A publication Critical patent/JP2003066870A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4013503B2 publication Critical patent/JP4013503B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【課題】プローブ端子と配線端子との正確且つ容易な位
置合わせが可能で、安価に電気特性検査を行なうことが
できる電気光学パネル及びその検査方法並びに電子機器
の提供を目的としている。 【解決手段】本発明に係る電気光学パネルは、複数の走
査線312が形成された第1基板300と、第1基板3
00と一定の間隙を保って対向するとともに、走査線3
12と交差して画素を形成する複数のデータ線212が
形成された第2基板200と、第1基板300と第2基
板200との間隙に設けられた電気光学物質とを具備
し、データ線212および走査線312の配線端子24
0,250はそれぞれ群G1,G2,G3を成して、基
板200の一辺に一括して配列され、データ線212の
配線端子250の群G3と、走査線312の配線端子2
40の群G1,G2は、複数の配線端子を配列し得る距
離Sだけ、互いに離間して配置されていることを特徴と
する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示装置や有
機エレクトロルミネッセンス装置(以下、有機EL装置
という。)等を含む電気光学パネル及びその検査方法並
びに電子機器に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、携帯電話機、携帯型コンピュー
タ、ビデオカメラ等といった電子機器の表示部として、
液晶表示装置や有機EL装置等の電気光学パネルが広く
用いられている。
【0003】例えば、アクティブ・マトリクス方式の液
晶パネルには、マトリクス状に配列された画素電極の各
々にスイッチング素子が設けられ且つ各スイッチング素
子の一端に接続される複数のデータ線を有する素子基板
と、走査線やカラーフィルタなどが形成された対向基板
と、これら両基板の間に充填された液晶とを備えたもの
がある。
【0004】このような構成では、スイッチング素子と
して薄膜ダイオード(TFD:ThinFilm Diode)等の2
端子型非線形素子が用いられ、スイッチング素子の閾値
電圧を上回る電圧をデータ線と走査線との間に給電する
と、スイッチング素子がON状態となって液晶層に所定
の電荷が蓄積される。そして、電荷蓄積後、閾値電圧を
下回る電圧を印加してスイッチング素子をOFF状態と
しても、液晶層の抵抗が十分に高ければ、この液晶層に
おける電荷の蓄積が維持される。したがって、各スイッ
チング素子を駆動して、蓄積させる電荷の量を制御する
と、画素毎に液晶の配向状態が変化して、所定の情報を
表示することが可能となる。この際、各画素毎の液晶層
にON状態となる信号電圧を印加して電荷を蓄積させる
のは、一部の期間で良いため、各走査線を時分割に選択
することにより、走査線およびデータ線を複数の画素に
ついて共通化したマルチプレックス駆動が可能となって
いる。
【0005】なお、このような液晶パネルにおいては、
各走査線やデータ線に信号電圧を供給するために、複数
の配線が設けられる。これらの配線は各走査線あるいは
データ線毎に設けられる。また、一般に、データ線およ
び走査線の配線の端子は、基板の一辺に一括して配列さ
れる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところで、このような
液晶パネルは、組立後に、ショートおよび点灯の検査
(電気的特性検査)がなされる。この検査では、通常、
走査線およびデータ線の各配線の端子に、検査用の信号
を入力するプローブが接触される。この場合、走査線の
配線端子のそれぞれに、対応する走査線用のプローブ端
子を正確に位置合わせするとともに、データ線の配線端
子のそれぞれに、対応するデータ線用のプローブ端子を
正確に位置合わせしなければならない。
【0007】しかしながら、最近のように液晶パネルの
小型化および多機能化が進むと、小さな表示部に様々な
情報を表示させることが必要となるため、画素数が非常
に多くなるとともに、走査線やデータ線の本数も増加
し、基板の一辺に一括して配列されるデータ線および走
査線の配線端子のピッチも非常に小さくなってくる。そ
のため、走査線の配線端子とデータ線の配線端子とが近
接し、これらの線にそれぞれ対応するプローブ端子を正
確に位置合わせすることが困難になってくる。無論、こ
の場合、プローブ端子と配線端子との位置が1ピッチで
もずれれば、全回路の検査は不可能となる。
【0008】したがって、走査線およびデータ線の配線
端子とプローブ端子とを正確に位置合わせする場合、作
業者は、例えば、CCDカメラで画像を取り込んでモニ
タに映し、モニタを見ながら位置合わせ作業を行なわな
ければならない。このような位置合わせ作業は、大掛か
りで高価なアライメント装置を必要とし、また、位置合
わせに時間がかかるとともに、検査作業者に多大な負担
を課す。
【0009】本発明は、前記事情に着目してなされたも
のであり、その目的とするところは、プローブ端子と配
線端子との正確且つ容易な位置合わせが可能で、安価に
電気特性検査を行なうことができる電気光学パネル及び
その検査方法並びに電子機器を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明に係る電気光学パネルは、複数の走査線が形
成された第1基板と、前記第1基板と一定の間隙を保っ
て対向するとともに、前記走査線と交差して画素を形成
する複数のデータ線が形成された第2基板と、前記第1
基板と前記第2基板との間隙に設けられた電気光学物質
とを具備し、前記データ線および前記走査線の配線端子
はそれぞれ群を成して、前記基板の一辺に一括して配列
され、前記データ線の配線端子の群と、前記走査線の配
線端子の群は、複数の配線端子を配列し得る距離だけ、
互いに離間して配置されていることを特徴とする。この
発明によれば、プローブのプローブ端子を用いて電気光
学パネルの電気的特性検査を行なう場合、配線端子とプ
ローブ端子との位置ズレを配線端子群間の間隙によって
吸収できるため、電気光学パネルの小型化および多機能
化に伴って配線端子間のピッチが狭くなっても、大掛か
りなアライメント装置を用いることなく、簡単且つ正確
にプローブ端子と配線端子とを位置合わせすることがで
きる。
【0011】ここで、上記構成の電気光学パネルにおい
て、前記データ線の配線端子の群と前記走査線の配線端
子の群との間は、配線端子が無い領域として形成されて
いることが望ましい。配線端子群間の間隙に配線端子を
設けると、電気光学パネルの実質的な機能に寄与しない
これらの配線端子でショートが生じた際に、これを正規
のショートであると誤判定して、正確なショート検査が
損なわれる可能性がある。したがって、配線端子群間の
間隙に配線端子を設けないことは有益である。
【0012】また、上記構成の電気光学パネルにおいて
は、前記データ線の配線端子の群の両側にそれぞれ前記
走査線の配線端子の群が配置され、前記走査線の配線端
子の各群が、前記データ線の配線端子の群から同じ距離
だけ離間していることが望ましい。この場合には、プロ
ーブ端子の位置合わせを効率的に行なうことができるよ
うになる。
【0013】また、本発明は、光透過性および導光性を
有する基板上に、陽極と少なくとも1層の発光機能を有
する有機層と陰極とからなる有機エレクトロルミネッセ
ンス素子が形成された電気光学パネルにおいて、前記陽
極および前記陰極の配線端子はそれぞれ群を成して、前
記基板の一辺に一括して配列され、前記陽極の配線端子
の群と、前記陰極の配線端子の群は、複数の配線端子を
配列し得る距離だけ、互いに離間して配置されているこ
とを特徴とする。
【0014】この発明によれば、プローブのプローブ端
子を用いて電気光学パネルの電気的特性検査を行なう場
合、配線端子とプローブ端子との位置ズレを配線端子群
間の間隙によって吸収できるため、電気光学パネルの小
型化および多機能化に伴って配線端子間のピッチが狭く
なっても、大掛かりなアライメント装置を用いることな
く、簡単且つ正確にプローブ端子と配線端子とを位置合
わせすることができる。
【0015】ここで、上記構成の電気光学パネルにおい
て、前記陽極の配線端子の群と前記陰極の配線端子の群
との間は、配線端子が無い領域として形成されているこ
とが望ましい。配線端子群間の間隙に配線端子を設ける
と、電気光学パネルの実質的な機能に寄与しないこれら
の配線端子でショートが生じた際に、これを正規のショ
ートであると誤判定して、正確なショート検査が損なわ
れる可能性がある。したがって、配線端子群間の間隙に
配線端子を設けないことは有益である。
【0016】また、上記構成の電気光学パネルにおいて
は、前記陽極の配線端子の群の両側にそれぞれ前記陰極
の配線端子の群が配置され、前記陰極の配線端子の各群
が、前記陽極の配線端子の群から同じ距離だけ離間して
いることが望ましい。この場合には、プローブ端子の位
置合わせを効率的に行なうことができるようになる。
【0017】なお、上記各構成の電気光学パネルは、各
種電子機器の表示部として使用することができる。
【0018】また、本発明は、互いに交差して画素を形
成する第1および第2電極を有し且つ第1および第2電
極の配線端子がそれぞれ群を成して基板の一辺に一括し
て配列されて成る電気光学パネルの電気的検査を行なう
方法において、前記第1電極の配線端子の群と、前記第
2電極の配線端子の群とを、複数の配線端子を配列し得
るダミー領域の分だけ、互いに離間して前記基板上に配
置し、前記第1および第2電極の配線端子に対応する数
の検査用のプローブ端子を有するとともに、前記ダミー
領域を含む前記各配線端子群の両側に前記第1および第
2電極のそれぞれに対応して割り当てられる複数のダミ
ーのプローブ端子を有するプローブを設け、前記第1電
極の各配線端子のそれぞれに、対応する第1電極用の第
1プローブ端子を位置合わせするとともに、第2電極の
各配線端子のそれぞれに、対応する第2電極用の第2プ
ローブ端子を位置合わせして所定の電気的検査を行な
い、前記配線端子と対応する前記プローブ端子との位置
がずれている場合には、各配線端子群の一方側で前記第
1または第2電極に割り当てられるダミープローブ端子
の個数分の幅内で、前記配線端子と前記プローブ端子と
を相対的にずらすことにより、前記配線端子と対応する
前記プローブ端子とを位置合わせすることを特徴とす
る。
【0019】この発明によれば、プローブのプローブ端
子を用いて電気光学パネルの電気的特性検査を行なう場
合、配線端子とプローブ端子との位置ズレをダミー領域
によって吸収できるため、電気光学パネルの小型化およ
び多機能化に伴って配線端子間のピッチが狭くなって
も、大掛かりなアライメント装置を用いることなく、簡
単且つ正確にプローブ端子と配線端子とを位置合わせす
ることができる。
【0020】ここで、上記方法においては、前記第1電
極の配線端子群の両側に第1プローブ端子に対応する第
1ダミープローブ端子が割り当てられ、第2電極の配線
端子群の両側に第2プローブ端子に対応する第2ダミー
プローブ端子が割り当てられ、前記ダミー領域の中央で
第1ダミープローブ端子と第2ダミープローブ端子とに
分かれるように位置合わせできることが望ましい。ま
た、前記第1電極の配線端子の群の両側にそれぞれ前記
第2電極の配線端子の群が配置され、前記第2電極の配
線端子の各群が、前記ダミー領域によって、前記第1電
極の配線端子の群から同じ距離だけ離間していることが
望ましい。これらの場合、プローブ端子の位置合わせを
効率的に行なうことができるようになる。
【0021】また、上記方法において、前記ダミー領域
は、配線端子が無い領域として形成されていることが望
ましい。ダミー領域に配線端子を設けると、電気光学パ
ネルの実質的な機能に寄与しないこれらの配線端子でシ
ョートが生じた際に、これを正規のショートであると誤
判定して、正確なショート検査が損なわれる可能性があ
る。したがって、ダミー領域に配線端子を設けないこと
は有益である。
【0022】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら本発明
の実施形態について説明する。
【0023】図1は、本発明の一実施形態に係る電気光
学パネルとしての表示装置の電気的構成を示すブロック
図である。この図に示されるように、液晶パネル100
には、複数のデータ線(セグメント電極)212が列
(Y)方向に延在して形成される一方、複数の走査線
(コモン電極)312が行(X)方向に延在して形成さ
れるとともに、データ線212と走査線312との各交
差に対応して画素116が形成されている。なお、以
下、走査線312について、各走査線を区別して説明す
る場合には、第何番目のものであるかを示す添字を付す
ることにする。例えば、走査線312-2は第2番目の
走査線を意味する。
【0024】また、各画素116は、液晶容量118
と、スイッチング素子の一例であるTFD(Thi n Film
Diode:薄膜ダイオード)220との直列接続からな
る。このうち、液晶容量118は、後述するように、対
向電極として機能する走査線312と画素電極との間
に、電気光学材料の一例たる液晶を挟持した構成となっ
ている。なお、本実施形態にあっては、説明の便宜上、
走査線312の総数を160本とし、データ線212の
総数を360本として、160行×360列のマトリク
ス型表示装置として説明するが、本発明をこれに限定す
る趣旨ではない。
【0025】また、本実施形態の液晶パネル100は半
透過型のパネルであり、外光の光量が大きいときには、
外光を用いた反射型パネルとして機能し、外光の光量が
小さい場合には透過型として機能するようになってい
る。図1に示すバックライトユニットBLは液晶パネル
100を透過型パネルとして用いる場合に光源として機
能するものである。
【0026】Yドライバ350は、一般には走査線駆動
回路と呼ばれており、走査信号Y1、Y2、…、Y20
0を、それぞれ対応する走査線312に供給するもので
ある。具体的には、本実施形態に係るYドライバ350
は、走査線312を1水平走査期間毎に1本ずつ順次選
択して選択電圧を印加し、非選択期間(保持期間)にお
いて非選択電圧(保持電圧)を印加する。
【0027】また、Xドライバ250は、一般には、デ
ータ線駆動回路と呼ばれており、Yドライバ350によ
り選択された走査線312に位置する画素116に対
し、データ信号X1、X2、…、X160を、表示内容
に応じてそれぞれ対応するデータ線212を介して供給
する。
【0028】一方、制御回路400は、Xドライバ25
0およびYドライバ350に対して、各種制御信号やク
ロック信号などを供給して、両者を制御するものであ
る。また、駆動電圧形成回路500は、データ信号と走
査信号のうちの非選択電圧とで兼用される電圧±VD/
2と、走査信号のうちの選択電圧として用いられる電圧
±VSとをそれぞれ生成するものである。ここで、本実
施形態では、データ信号と非選択電圧とを兼用する構成
とするが、これらの電圧を異ならせても良い。また、電
源回路600は、バックライトユニットBL、制御回路
400および駆動電圧形成回路500に電力を供給する
ものである。
【0029】なお、本実施形態において、走査線312
やデータ線212に印加される電圧の極性は、データ線
212に印加される電圧±VD/2の中間電圧を基準と
して高電位側を正極とし、低電位側を負極としている。
【0030】次に、本実施形態に係る表示装置のうち、
液晶パネル100の機械的な構成について説明する。
【0031】図2は、液晶パネル100の全体構成を示
す斜視図である。この図に示すように、液晶パネル10
0は、観察者側に素子基板200が配置され、その対向
側に対向基板300が配置されて構成されている。そし
て、素子基板200には、前述したXドライバ250お
よびYドライバ350がそれぞれCOG(Chip On Glas
s)技術により実装されている。特に、本実施形態で
は、Xドライバ250とYドライバ350とが1チップ
の集積回路Wとして構成されている。
【0032】また、集積回路Wが実装される領域の外側
近傍には、FPC(Flexible Printed Circuit)基板1
50が接合されており、これにより、制御回路400や
駆動電圧形成回路500(共に図1参照)による各種信
号や電圧信号を、Yドライバ350およびXドライバ2
50にそれぞれ供給できるようになっている。
【0033】なお、Xドライバ250およびYドライバ
350を、それぞれ素子基板200にCOG実装する替
わりに、例えば、TAB(Tape Automated Bonding)技
術を用いて、各ドライバが実装されたTCP(Tape Car
rier Package)を、基板の所定位置に設けられる異方性
導電膜により電気的および機械的に接続する構成として
も良い。
【0034】図3は、液晶パネル100およびバックラ
イトユニットBLをX方向に沿って破断した場合の構成
を示す部分断面図である。また、図4は、液晶パネル1
00の部分斜視図である。なお、図3および図4では、
素子基板300を上側にし、対向基板300を下側にし
て示してある。
【0035】これらの図に示されるように、液晶パネル
100は、素子基板200と対向基板300とが、スペ
ーサを兼ねる導電性粒子(導通材)114が混入された
シール材110によって一定の間隙を保って貼り合わせ
られるとともに、この間隙に例えばSTN(Super Twis
ted Nematic)型の液晶160が封入された構成となっ
ている。なお、シール材110は、図2に示されるよう
に、素子基板200の内周縁に沿っていずれか一方の基
板に枠状に形成されるが、液晶160を封入するため
に、その一部が開口している。このため、液晶の封入後
に、その開口部分が封止材112によって封止される。
【0036】図3および図4に示すように、対向基板3
00の対向面には、開口部302を有する反射板301
が形成されている。反射板301の材料としてはアルミ
ニウムの他、APC(Ag・Pt・Cu)等が用いられる。A
PCは、銀を98%重量比、残りを白金および銅で占め
る合金であり、アルミニウムよりも反射率が優れるとい
った特性を有する。この反射板301によって、素子基
板200外側(観測者側)から入射される外光が反射さ
れることになる。
【0037】また、反射板301の対向面側には、スト
ライプ状のカラーフィルタ303が形成されている。カ
ラーフィルタ303は、画素間の混色防止や遮光のた
め、ブラックマトリクス304によって仕切られてい
る。
【0038】また、カラーフィルタ304の対向面側に
はITO(Indium Tin Oxide)などの透明導電体からな
る走査線312が、行(X)方向に延在して形成されて
いる。走査線312の対向面側には配向膜(図示略)が
形成されて、ラビング処理が所定の方向に施されてい
る。一方、対向基板300の外側(バックライト側)に
は、位相差板305と偏光板306とが積層されてい
る。偏光板306の吸収軸は、配向膜へのラビング処理
の方向に対応して設定されている。また、位相差板30
5は色補正のために用いられる。
【0039】また、走査線312は、シール部110に
おいて、導電部材114によって配線240と導通が取
られるようになっており、この配線240を介して、外
部から走査信号が各走査線312に供給されるようにな
っている。また、配線240の材料としては、クロムや
ITOなどの導電部材を用いることができるが、抵抗値
を下げる観点から、この例では金属が用いられている。
【0040】また、素子基板200の対向面には、Y
(列)方向に延在して形成されるデータ線212に隣接
して、矩形状の画素電極234が形成される他、それら
の上側には配向膜(図示略)が形成されて、ラビング処
理が所定の方向に施されている。この画素電極234に
は、ITOなどの透明導電体が用いられる。
【0041】一方、素子基板200の外側(観察側)に
は、位相差板205と偏光板206とが積層されてい
る。偏光板206の吸収軸は、配向膜へのラビング処理
の方向に対応して設定されている。この他に、対向基板
300の外側には、均一に光を照射するバックライトユ
ニットBLが設けられている。
【0042】図5は、走査線をYドライバ350に接続
するための配線構造を示す概念図である。なお、この図
は、図2に示す液晶パネル100において素子基板20
0の左辺を中心軸として右辺を上側に持ち上げて180
度回転させたものに対応している。
【0043】この図に示すように、各走査線312は櫛
歯状に引き回され、各走査線312のうち奇数番目のも
のは右側から、偶数番目のものは左側から各々引き回さ
れるようになっている。
【0044】具体的には、奇数番目の走査線312-1、
312-3、…312-159は、シール部110の右辺(第
1導通部)において第1配線群G1と接続される。第1
配線群G1は素子基板200の右辺近傍を通り、集積回
路Wの右側のYドライバ350に接続されている。一
方、偶数番目の走査線312-2、312-4、…312-1
60は、シール部110の左辺(第2導通部)において第
2配線群G2と接続される。第2配線群G2は素子基板
の左辺近傍を通り、集積回路Wの左側のYドライバ35
0に接続されている。なお、集積回路Wの左右のYドラ
イバ350,350間にはXドライバ250があり、こ
のXドライバ250には、図2に示されるように、デー
タ線212の端部250(以下、データ線212の配線
250という。)が接続している。
【0045】つまり、このように配列されたデータ線2
12および走査線312の各配線240,250の端子
は、図2に示されるように、基板の一辺に一括して平行
に配列されるようになる。
【0046】データ線212および走査線312の各配
線240,250の端子の配列状態が図6に拡大して示
されている。図示のように、素子基板200の一辺に
は、奇数番目の80本の走査線312の配線240から
成る第1の配線群G1の各端子Com1と、偶数番目の8
0本の走査線312の配線240から成る第2の配線群
G2の各端子Com2との間に、360本のデータ線21
2の配線250からなる第3の配線群G3の各端子Seg
が平行に配列されている。この場合、各端子Com1(Com
2)同士は、互いに例えば42μmのピッチ間隔で連続
的に配列されている。また、各端子Seg同士も、互いに
例えば42μmのピッチ間隔で連続的に配列されてい
る。
【0047】また、第1の配線群G1の端子Com1と第
3の配線群G3の端子Segとの間、具体的には、第1の
配線群G1を形成する走査線312の図中最も右側の端
子Com1と、第3の配線群G3を形成するデータ線21
2の図中最も左側の端子Segとの間には、例えば42μ
mピッチの端子14個分に相当する間隔が開けられてい
る。この間隔は、端子が存在しない空白領域(以下、ダ
ミー領域という)Sによって形成されており、後述する
電気的特性検査におけるプローブ端子と配線端子Com1,C
om2,Segとの位置合わせを容易にする。
【0048】同様に、第2の配線群G2の端子Com2と
第3の配線群G3の端子Segとの間、具体的には、第2
の配線群G2を形成する走査線312の図中最も左側の
端子Com2と、第3の配線群G3を形成するデータ線2
12の図中最も右側の端子Segとの間にも、例えば42
μmピッチの端子14個分に相当するダミー領域Sが形
成されている。すなわち、本実施形態において、左右の
ダミー領域Sの長さは互いに等しく設定されている。な
お、左右のダミー領域Sの長さは、互いに等しく設定さ
れていることが望ましいが、等しく設定されていなくて
も構わない。
【0049】次に、このように配線端子Com1,Com2,Seg
が配列されて組立てられた液晶パネル100のショート
および点灯の検査(電気的特性検査)について、図7、
図8および図9のフローチャートを参照しながら説明す
る。
【0050】この電気的特性検査では、走査線312お
よびデータ線212の各配線240,250の端子Com
1,Com2,Segに、検査用の信号を入力するプローブPが接
触される。具体的には、図8に示されるように、走査線
312の配線端子Com1,Com2のそれぞれに、対応する走
査線用のプローブ端子P1を正確に位置合わせするとと
もに、データ線212の配線端子Segのそれぞれに、対
応するデータ線用のプローブ端子P2を正確に位置合わ
せする。
【0051】図8に示されるように、プローブPは、ダ
ミー領域Sに位置合わせされるべき部位にも、他の部位
と全く同様のプローブ端子(ダミープローブ)P1,P
2を有している。具体的には、プローブPは、図8に示
されるような理想的な状態で位置合わせされた際に、ダ
ミー領域Sの中央でプローブ端子P1とプローブ端子P
2とに分かれるように形成されている。すなわち、図8
の理想的な位置合わせ状態においては、ダミー領域S内
で、2種のプローブ端子P1,P2がそれぞれ左右に7
個ずつ配置されるようになっている。本実施形態では、
端子14個分に相当する間隔をもってダミー領域Sが形
成されているため、ダミー領域Sの中央でプローブ端子
P1とプローブ端子P2とに分けると、ダミー領域S内
でプローブ端子P1,P2がそれぞれ左右に7個ずつ配
置されるが、これらの個数は、これに限定されるもので
はなく、状況に応じて任意に設定できることは言うまで
もない。また、プローブ端子P1とプローブ端子P2と
がダミー領域Sの中央で分かれていることが望ましい
が、中央で分かれている必要はない。なお、プローブP
は、第1および第2の配線群G1,G2の端子Com1,Com
2の外側(第1の配線群G1の図中左側および第2の配
線群G2の図中右側)にも、例えば7個ずつプローブ端
子(ダミープローブ)P1を有している。
【0052】電気的特性検査の手順が図9のフローチャ
ートに示されている。図示のように、電気的特性検査を
行なう場合には、まず、図示しない案内板上に液晶パネ
ル100を大まかに位置合わせして載せる(ステップS
1)。この場合、外形基準で例えば±0.2mmのズレ
が生じる。
【0053】このように案内板上に液晶パネル100を
載せると、プローブPの各プローブ端子P1,P2が、
液晶パネル100の走査線312およびデータ線212
の各配線端子Com1,Com2,Segに略対応して位置される。
この時、各プローブ端子P1,P2と、これらに対応す
る各配線端子Com1,Com2,Segとが正確に位置合わせされ
ているか否かを確認する(ステップS2)。このような
確認は、液晶パネルの表示を見るだけで容易に行なうこ
とができる。すなわち、図8に示されるように、プロー
ブ端子P1,P2が正確に対応する配線端子Com1,Com2,
Segに位置合わせされていれば、液晶画面が鮮明に点灯
表示する。また、図7に示されるように、プローブ端子
P1,P2と対応する配線端子Com1,Com2,Segとがズレ
ていれば、液晶画面は点灯表示しない(部分的に接触し
ている場合には、鮮明に点灯表示しない)。
【0054】図7に示されるように、プローブ端子P
1,P2と対応する配線端子Com1,Com2,Segとがズレて
いることが点灯状態で確認できたら、プローブ端子P
1,P2と配線端子Com1,Com2,Segとを左側もしくは右
側に相対的にずらして、微調整する(ステップ3)。こ
の時、ダミー領域Sが液晶パネル100側に設けられ且
つダミー領域Sに対応して位置される複数のプローブ端
子(ダミープローブ)P1,P2がプローブP側に設け
られているため、プローブ端子P1,P2と配線端子Co
m1,Com2,Segとを左右どちらにずらしても、あるいは、
そのずらし量がある程度過度であっても、ダミー領域S
と第1および第2の配線群G1,G2の左右端とに割り
当てられたダミープローブの個数の範囲内(ダミープロ
ーブの個数分の幅内)のずらし量であれば、プローブ端
子P1,P2と配線端子Com1,Com2,Segとを正確且つ容
易に位置合わせすることができる。この場合も、位置合
わせができたか否かは、液晶画面の点灯状態を見るだけ
で確認できる。無論、この場合、図8に示されるように
ダミー領域Sの中央でプローブ端子P1とプローブ端子
P2とが等しく分かれる理想的な位置合わせ状態でなく
ても、ダミープローブの個数分のズレ量であれば、正確
な位置合わせを達成できる。また、プローブ側には、シ
ョート(電気的な短絡)を検知する図示しない検知手段
が設けられており、ショートが検知されると、例えば、
異常を知らせるブザーが鳴るようになっている。
【0055】以上説明したように、本実施形態の液晶パ
ネル100では、走査線312の端子Com1,Com2群とデ
ータ線212の端子Seg群との間に、配線端子Com1,Com
2,Segとプローブ端子P1,P2との位置ズレを吸収で
きるダミー領域Sが形成されているため、液晶パネルの
小型化および多機能化に伴って配線端子間のピッチが狭
くなっても、大掛かりなアライメント装置を用いること
なく、液晶の表示画面の点灯表示を見るだけで、つま
り、目視だけで、正確にプローブ端子P1,P2と配線
端子Com1,Com2,Segとを位置合わせすることができる。
【0056】なお、本実施形態では、ダミー領域Sに配
線端子が設けられていないが、これは、ダミー領域Sに
ダミーの配線端子を設けると、表示機能に寄与しないこ
れらの配線端子でショートが生じた際に、これを正規の
ショートであると誤判定して、正確なショート検査が損
なわれる可能性があるためである。無論、このような可
能性を排除する手段を設ける場合には、ダミー領域Sに
配線端子が配列されていても構わない。
【0057】また、本実施形態においては、ダミー領域
Sを大きく確保して、ダミー領域Sに対応するプローブ
端子(ダミープローブ)P1,P2の数を多くすれば、
それだけ、端子同士の位置合わせが容易になるが、あま
り過度にダミー領域Sを確保すると、チップの長さが長
くなり、実用性に欠ける結果となる場合がある。したが
って、理想的には、ダミー領域Sの長さ(X方向の長さ
…領域幅)は、端子同士の位置合わせをある程度のズレ
幅をもって容易に行なえ且つチップ長さを実用外まで大
きくしない範囲、例えば、外形公差が±0.2mmであ
る場合には、最小で0.4mm(0.2×2)、最大で
1mm程度にすることが望ましい。
【0058】また、前述した配線端子の配列形態は、図
10および図11に示される有機EL装置(素子)にも
適用できる。
【0059】有機EL素子は、少なくとも1層の発光性
有機層が陰極と陽極に挟まれている構造を特徴とする自
発発光性素子であり、3V程度の直流電圧で駆動させる
ことができ、また、多彩な発光色の素子が作成可能であ
る。さらに、液晶表示素子と比べ応答速度が速く視野角
が広いなど、表示素子としての利点を多く持ち合わせて
いる。したがって、表示装置の画素としての利用や光源
としての利用など、多種多様な実用化用途が検討されて
いる。
【0060】図10および図11に示される有機EL装
置では、腕時計用のカバーガラスを透明基板101とし
て用いている。透明基板1101の第1の面1102上
に陽極1104を形成し、次いで、電極取り出し端子部
1105を除いた領域全体に黄色に発光する有機層11
06Yを形成し、最後に陰極1107を形成し、また、
透明基板1101の第2の面1103上にも陽極110
4を形成し、次いで、電極取り出し端子部1105を除
いた領域全体に青色に発光する有機層1106Bを形成
し、最後に陰極1107を形成したものである。
【0061】この構成において、陽極1104の配線端
子および陰極1107の配線端子の配列形態は、前述し
たデータ線212の配線端子Segおよび走査線312の
配線端子Com1,Com2の配列形態と同じようになってい
る。この場合、電極取り出し端子部1105が前述した
配線240に相当し、陽極1104の配線端子がデータ
線212の配線端子Segに相当し、陰極1107の配線
端子が走査線312の配線端子Com1,Com2に相当してお
り、また、陽極1104および陰極1107は、前述し
た走査線312およびデータ線212と同様、マトリク
ス構造を成している。
【0062】また、この構成において、透明基板110
1としては、腕時計用のカバーガラスに用いられるサフ
ァイアガラスを用いるが、これに限定されるものではな
い。また、陽極1104は、透明電極として一般的に用
いられるITO(錫ドープ酸化インジウム)をスパッタ
リング法により形成するが、他にもIZO(亜鉛ドープ
酸化インジウム)、Pt、Ir、NiもしくはPd等を
用いることができ、例えば75nm以下の膜厚で形成す
ることができる。また、膜形成方法もスパッタリング法
に限らずエッチング法等を用いることもできる。陽極1
104の厚さは、一般的に50〜500nmであるが、
この例のように透明を有する素子に用いる場合、薄い方
が望ましい。また、陰極1107は、透明性を有する導
電性物質であれば良く、本例では、仕事関数が低い材
料、例えばAl、Ag,Cu,Au等が用いられる。陰
極1107の膜厚は、透明性が確保できる膜厚であれば
特に限定されるものではない。また、前述の通り、透明
性を有する材料として、Pt、Ir、NiもしくはPd
等を用いることができ、例えば75nm以下の膜厚で形
成することができる。
【0063】本例の有機EL装置を腕時計のカバーガラ
スとして設置した場合、第1の面102に形成されてい
る素子のみを駆動した場合は、黄色の発光が生じ、腕時
計の文字盤108を前面から黄色に照射する前置式の照
明装置として動作する。また、第2の面103に形成さ
れている素子のみを駆動した場合は、青色の発光が生
じ、腕時計の文字盤を前面から青色に照射する前置式の
照明装置として動作する。更に、第1の面102に形成
されている素子と第2の面103に形成されている素子
とを同時に駆動した場合は、黄色の発光と青色の発光と
が混色されて白色の発光となり、腕時計の文字盤を前面
から白色に照射する前置式の照明装置として動作する。
【0064】次に、前述した実施形態に係る表示装置を
電子機器に用いた例について説明する。
【0065】まず、前述した表示装置を、モバイル型の
パーソナルコンピュータの表示部に適用した例について
説明する。図12は、このパーソナルコンピュータの構
成を示す斜視図である。図において、コンピュータ21
00は、キーボード2102を備えた本体部2104
と、表示部として用いられる液晶パネル100とを備え
ている。なお、この液晶パネル100の背面には、視認
性を高めるためにバックライトユニットBLが設けられ
るが、外観には表れないので、図示を省略している。続
いて、前述した表示装置を、携帯電話の表示部に適用し
た例について説明する。図13は、この携帯電話の構成
を示す斜視図である。図において、携帯電話2200
は、複数の操作ボタン2202の他、受話口2204、
送話口2206とともに、前述した液晶パネル100を
備えるものである。なお、この液晶パネル100の背面
にも、視認性を高めるためのバックライトユニットBL
が設けられるが、外観には現れないので、図示を省略し
ている。
【0066】次に、前述した表示装置をファインダに用
いたディジタルスチルカメラについて説明する。図14
は、このディジタルスチルカメラの構成を示す斜視図で
あるが、外部機器との接続についても簡易的に示すもの
である。
【0067】通常の銀塩カメラは、被写体の光像によっ
てフィルムを感光するのに対し、ディジタルスチルカメ
ラ2300は、被写体の光像をCCD(Charge Coupled
Device)などの撮像素子により光電変換して撮像信号を
生成するものである。ここで、ディジタルスチルカメラ
2300におけるケース2302の背面には、前述した
液晶パネル100が設けられ、CCDによる撮像信号に
基づいて、表示を行う構成となっている。このため、液
晶パネル100は、被写体を表示するファインダとして
機能する。また、ケース2302の前面側(図14にお
いては裏面側)には、光学レンズやCCDなどを含んだ
受光ユニット2304が設けられている。
【0068】ここで、撮影者が液晶パネル100に表示
された被写体像を確認して、シャッタボタン2306を
押下すると、その時点におけるCCDの撮像信号が、回
路基板2308のメモリに転送・格納される。また、こ
のディジタルスチルカメラ2300にあっては、ケース
2302の側面に、ビデオ信号出力端子2312と、デ
ータ通信用の入出力端子2314とが設けられている。
そして、図に示されるように、前者のビデオ信号出力端
子2312にはテレビモニタ2320が、また、後者の
データ通信用の入出力端子2314にはパーソナルコン
ピュータ2330が、それぞれ必要に応じて接続され
る。さらに、所定の操作によって、回路基板2308の
メモリに格納された撮像信号が、テレビモニタ2320
や、パーソナルコンピュータ2330に出力される構成
となっている。
【0069】なお、電子機器としては、図12のパーソ
ナルコンピュータや、図13の携帯電話、図14のディ
ジタルスチルカメラの他にも、液晶テレビや、ビューフ
ァインダ型、モニタ直視型のビデオテープレコーダ、カ
ーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、電卓、ワ
ードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、P
OS端末、タッチパネルを備えた機器等などが挙げられ
る。そして、これらの各種電子機器の表示部として、前
述した表示装置が適用可能なのは言うまでもない。
【0070】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、プ
ローブのプローブ端子を用いて電気光学パネルの電気的
特性検査を行なう場合、配線端子とプローブ端子との位
置ズレを配線端子群間の間隙によって吸収できるため、
電気光学パネルの小型化および多機能化に伴って配線端
子間のピッチが狭くなっても、大掛かりなアライメント
装置を用いることなく、簡単且つ正確にプローブ端子と
配線端子とを位置合わせすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】発明の一実施形態に係る電気光学パネルの電気
的な構成を示すブロック図である。
【図2】図1の電気光学パネルの構成を示す斜視図であ
る。
【図3】液晶パネルおよびバックライトユニットをX方
向に沿って破断した場合の構成を示す部分断面図であ
る。
【図4】液晶パネルの要部構成を示す部分破断斜視図で
ある。
【図5】液晶パネルにおける走査線をYドライバに接続
するための配線構造を示す概念図である。
【図6】データ線および走査線の各配線の端子の配列状
態を示す拡大図である。
【図7】各配線端子とプローブ端子とが位置ズレを起こ
した状態を示す拡大図である。
【図8】各配線端子にプローブ端子を正確に位置決めし
た状態を示す拡大図である。
【図9】電気検査の手順を示すフローチャートである。
【図10】本発明が適用される有機EL装置の概略構成
断面図である。
【図11】(a)は図1のA方向矢視図、(b)は図1
のB方向矢視図である。
【図12】実施形態に係る電気光学パネルを適用した電
子機器の一例たるパーソナルコンピュータの構成を示す
斜視図である。
【図13】実施形態に係る電気光学パネルを適用した電
子機器の一例たる携帯電話の構成を示す斜視図である。
【図14】実施形態に係る電気光学パネルを適用した電
子機器の一例たるディジタルスチルカメラの構成を示す
斜視図である。
【符号の説明】
100……液晶パネル 200……素子基板(第2基板) 212……データ線 240,250……配線端子 300……対向基板(第1基板) 312……走査線 G1……第1配線群 G2……第2配線群 G3……第3配線群 W……集積回路 S……ダミー領域 2100……パーソナルコンピュータ 2200……携帯電話 2300……ディジタルスチルカメラ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G02F 1/1345 G02F 1/1345 5C094 G09F 9/00 352 G09F 9/00 352 5G435 9/35 9/35 H05B 33/06 H05B 33/06 33/14 33/14 A Fターム(参考) 2G011 AA01 AA12 AC14 AE01 AF05 AF06 AF07 2G036 AA19 AA25 AA27 AA28 BA32 BA33 BB12 CA02 2H088 FA13 HA02 HA06 MA20 2H092 GA33 GA41 GA44 GA50 GA54 JA05 JB23 JB32 MA56 NA30 PA06 3K007 AB18 CC05 DB03 GA00 5C094 AA15 AA43 AA48 BA27 BA43 CA19 EA03 EA07 HA08 5G435 AA17 AA18 AA19 BB05 BB12 CC09 KK03 KK05 KK09 KK10 LL07

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の走査線が形成された第1基板と、 前記第1基板と一定の間隙を保って対向するとともに、
    前記走査線と交差して画素を形成する複数のデータ線が
    形成された第2基板と、 前記第1基板と前記第2基板との間隙に設けられた電気
    光学物質と、 を具備し、 前記データ線および前記走査線の配線端子はそれぞれ群
    を成して、前記基板の一辺に一括して配列され、 前記データ線の配線端子の群と、前記走査線の配線端子
    の群は、複数の配線端子を配列し得る距離だけ、互いに
    離間して配置されていることを特徴とする電気光学パネ
    ル。
  2. 【請求項2】 前記データ線の配線端子の群と前記走査
    線の配線端子の群との間は、配線端子が無い領域として
    形成されていることを特徴とする請求項1に記載の電気
    光学パネル。
  3. 【請求項3】 前記データ線の配線端子の群の両側にそ
    れぞれ前記走査線の配線端子の群が配置され、 前記走査線の配線端子の各群は、前記データ線の配線端
    子の群から同じ距離だけ離間していることを特徴とする
    請求項1または請求項2に記載の電気光学パネル。
  4. 【請求項4】 光透過性および導光性を有する基板上
    に、陽極と少なくとも1層の発光機能を有する有機層と
    陰極とからなる有機エレクトロルミネッセンス素子が形
    成された電気光学パネルにおいて、 前記陽極および前記陰極の配線端子はそれぞれ群を成し
    て、前記基板の一辺に一括して配列され、 前記陽極の配線端子の群と、前記陰極の配線端子の群
    は、複数の配線端子を配列し得る距離だけ、互いに離間
    して配置されていることを特徴とする電気光学パネル。
  5. 【請求項5】 前記陽極の配線端子の群と前記陰極の配
    線端子の群との間は、配線端子が無い領域として形成さ
    れていることを特徴とする請求項4に記載の電気光学パ
    ネル。
  6. 【請求項6】 前記陽極の配線端子の群の両側にそれぞ
    れ前記陰極の配線端子の群が配置され、 前記陰極の配線端子の各群は、前記陽極の配線端子の群
    から同じ距離だけ離間していることを特徴とする請求項
    4または請求項5に記載の電気光学パネル。
  7. 【請求項7】 請求項1ないし請求項6のいずれか1項
    に記載された電気光学パネルを表示部として備えている
    ことを特徴とする電子機器。
  8. 【請求項8】 互いに交差して画素を形成する第1およ
    び第2電極を有し且つ第1および第2電極の配線端子が
    それぞれ群を成して基板の一辺に一括して配列されて成
    る電気光学パネルの電気的検査を行なう方法において、 前記第1電極の配線端子の群と、前記第2電極の配線端
    子の群とを、複数の配線端子を配列し得るダミー領域の
    分だけ、互いに離間して前記基板上に配置し、 前記第1および第2電極の配線端子に対応する数の検査
    用のプローブ端子を有するとともに、前記ダミー領域を
    含む前記各配線端子群の両側に前記第1および第2電極
    のそれぞれに対応して割り当てられる複数のダミーのプ
    ローブ端子を有するプローブを設け、 前記第1電極の各配線端子のそれぞれに、対応する第1
    電極用の第1プローブ端子を位置合わせするとともに、
    第2電極の各配線端子のそれぞれに、対応する第2電極
    用の第2プローブ端子を位置合わせして所定の電気的検
    査を行ない、 前記配線端子と対応する前記プローブ端子との位置がず
    れている場合には、各配線端子群の一方側で前記第1ま
    たは第2電極に割り当てられるダミープローブ端子の個
    数分の幅内で、前記配線端子と前記プローブ端子とを相
    対的にずらすことにより、前記配線端子と対応する前記
    プローブ端子とを位置合わせすることを特徴とする方
    法。
  9. 【請求項9】 前記第1電極の配線端子群の両側に第1
    プローブ端子に対応する第1ダミープローブ端子が割り
    当てられ、第2電極の配線端子群の両側に第2プローブ
    端子に対応する第2ダミープローブ端子が割り当てら
    れ、前記ダミー領域の中央で第1ダミープローブ端子と
    第2ダミープローブ端子とに分かれるように位置合わせ
    できることを特徴とする請求項8に記載の方法。
  10. 【請求項10】 前記ダミー領域は、配線端子が無い領
    域として形成されていることを特徴とする請求項8また
    は請求項9に記載の方法。
  11. 【請求項11】 前記第1電極の配線端子の群の両側に
    それぞれ前記第2電極の配線端子の群が配置され、 前記第2電極の配線端子の各群は、前記ダミー領域によ
    って、前記第1電極の配線端子の群から同じ距離だけ離
    間していることを特徴とする請求項8ないし請求項10
    のいずれか1項に記載の方法。
JP2001254845A 2001-08-24 2001-08-24 電気光学パネルの検査方法 Expired - Fee Related JP4013503B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001254845A JP4013503B2 (ja) 2001-08-24 2001-08-24 電気光学パネルの検査方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001254845A JP4013503B2 (ja) 2001-08-24 2001-08-24 電気光学パネルの検査方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003066870A true JP2003066870A (ja) 2003-03-05
JP4013503B2 JP4013503B2 (ja) 2007-11-28

Family

ID=19082941

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001254845A Expired - Fee Related JP4013503B2 (ja) 2001-08-24 2001-08-24 電気光学パネルの検査方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4013503B2 (ja)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004097435A1 (ja) * 2003-04-25 2004-11-11 Nhk Spring Co., Ltd. 液晶パネル用検査装置
JP2005181705A (ja) * 2003-12-19 2005-07-07 Seiko Epson Corp 電気光学装置用基板、電気光学装置、検査装置、電子機器、検査方法及び電気光学装置の製造方法
JP2005189275A (ja) * 2003-12-24 2005-07-14 Seiko Epson Corp 電気光学装置用基板、電気光学装置、電気光学装置の製造方法、検査方法及び電子機器
JP2005201958A (ja) * 2004-01-13 2005-07-28 Seiko Epson Corp 電気光学装置用基板、電気光学装置、検査装置、電子機器、検査方法及び電気光学装置の製造方法
JP2006047851A (ja) * 2004-08-06 2006-02-16 Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd 表示装置、表示装置の検査方法、及び、表示装置の検査装置
JP2011075554A (ja) * 2009-10-01 2011-04-14 Kodi-S Co Ltd フィルムタイプのプローブユニットとその製造方法及び被検査体の検査方法
JP2012527715A (ja) * 2009-06-05 2012-11-08 北京維信諾科技有限公司 有機elおよびそのテスト方法
US9412951B2 (en) 2009-11-13 2016-08-09 Beijing Visionox Technology Co., Ltd. Organic materials and organic electroluminescent apparatuses using the same
JP2020144130A (ja) * 2019-03-08 2020-09-10 致茂電子股▲分▼有限公司Chroma Ate Inc. 電気部品試験方法及び試験プローブ

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100434925C (zh) * 2003-04-25 2008-11-19 日本发条株式会社 液晶面板用检查装置
WO2004097435A1 (ja) * 2003-04-25 2004-11-11 Nhk Spring Co., Ltd. 液晶パネル用検査装置
KR100774016B1 (ko) * 2003-04-25 2007-11-08 니혼 하츠쵸 가부시키가이샤 액정패널용 검사장치
JP2005181705A (ja) * 2003-12-19 2005-07-07 Seiko Epson Corp 電気光学装置用基板、電気光学装置、検査装置、電子機器、検査方法及び電気光学装置の製造方法
JP2005189275A (ja) * 2003-12-24 2005-07-14 Seiko Epson Corp 電気光学装置用基板、電気光学装置、電気光学装置の製造方法、検査方法及び電子機器
JP4506169B2 (ja) * 2003-12-24 2010-07-21 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置用基板、電気光学装置用基板の検査方法、電気光学装置、電気光学装置の検査方法及び電子機器
JP2005201958A (ja) * 2004-01-13 2005-07-28 Seiko Epson Corp 電気光学装置用基板、電気光学装置、検査装置、電子機器、検査方法及び電気光学装置の製造方法
JP4682516B2 (ja) * 2004-01-13 2011-05-11 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置用基板、電気光学装置及び電子機器
JP2006047851A (ja) * 2004-08-06 2006-02-16 Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd 表示装置、表示装置の検査方法、及び、表示装置の検査装置
JP2012527715A (ja) * 2009-06-05 2012-11-08 北京維信諾科技有限公司 有機elおよびそのテスト方法
US8836337B2 (en) 2009-06-05 2014-09-16 Beijing Visionox Technology Co., Ltd. Organic electroluminescence device and testing method thereof
JP2011075554A (ja) * 2009-10-01 2011-04-14 Kodi-S Co Ltd フィルムタイプのプローブユニットとその製造方法及び被検査体の検査方法
CN102103151A (zh) * 2009-10-01 2011-06-22 寇地斯股份有限公司 薄膜型探针单元及其制造方法和使用其测试对象的方法
US9412951B2 (en) 2009-11-13 2016-08-09 Beijing Visionox Technology Co., Ltd. Organic materials and organic electroluminescent apparatuses using the same
JP2020144130A (ja) * 2019-03-08 2020-09-10 致茂電子股▲分▼有限公司Chroma Ate Inc. 電気部品試験方法及び試験プローブ

Also Published As

Publication number Publication date
JP4013503B2 (ja) 2007-11-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3744450B2 (ja) 電気光学装置、駆動用ic及び電子機器
US8068077B2 (en) Contact structure of conductive films and thin film transistor array panel including the same
KR100486007B1 (ko) 액정 장치, 액정 장치의 제조 방법 및 전자기기
JP3744511B2 (ja) 電気光学装置、電子機器、及び電気光学装置の製造方法
KR100457605B1 (ko) 전기 광학 패널, 그 구동 방법 및 전자기기
JP2004341213A (ja) 電気光学装置、電子機器、及び電気光学装置の製造方法
JP2007334224A (ja) 液晶表示装置
JP3896933B2 (ja) 電気光学装置および電子機器
JP2014106428A (ja) 表示装置及び電子機器
CN100414420C (zh) 电光装置及其检查方法以及电子设备
JP2003066870A (ja) 電気光学パネル及びその検査方法並びに電子機器
JP2000267077A (ja) 液晶表示装置および電子機器
CN109709730B (zh) 一种液晶显示面板及液晶显示装置
JP4701904B2 (ja) 電気光学装置及び電子機器
JP2002040458A (ja) 液晶装置および電子機器
JP2004258365A (ja) 電気光学装置、およびそれを用いた電子機器
JP4042725B2 (ja) 電気光学装置用基板、電気光学装置及び電子機器
JP2002040467A (ja) 液晶装置および電子機器
JP2009031618A (ja) 液晶装置及び電子機器
JP4305051B2 (ja) 電気光学装置、電子機器、及び電気光学装置の製造方法
JP2000221534A (ja) 電気光学装置及びそれを用いた電子機器
JP2004341214A (ja) 電気光学装置、電子機器、及び電気光学装置の製造方法
JP4356403B2 (ja) 電気光学装置、およびそれを備えた電子機器
JP2004177713A (ja) 表示装置および電子機器
JP2008180929A (ja) 液晶表示装置及び液晶表示装置の駆動方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040322

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20050713

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050726

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050915

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20070402

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070821

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070903

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100921

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100921

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110921

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120921

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130921

Year of fee payment: 6

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees