WO2006073010A1

WO2006073010A1 - 表示装置、表示装置用基板、表示装置の製造方法、表示装置用基板の製造方法、検査信号入力装置用基板およびそれを備えた検査信号入力装置

Info

Publication number: WO2006073010A1
Application number: PCT/JP2005/014938
Authority: WO
Inventors: Akihiko Kojima
Original assignee: Sharp Kabushiki Kaisha
Priority date: 2005-01-07
Filing date: 2005-08-16
Publication date: 2006-07-13
Also published as: JP2008083072A

Abstract

　表示部を駆動する駆動信号を供給する複数の駆動信号供給線（３）、および、前記駆動信号を生成する駆動ＩＣと各駆動信号供給線（３）とを電気的に接続する接続部（５）が形成された基板（３０）を備えた表示装置であって、基板（３０）の接続部（５）には、駆動ＩＣと駆動供給信号線（３）とを電気的に接続させるためのＩＣ接続部位（１）と、そのＩＣ接続部位（１）から連続して設けられた検査用接続部位（２）とが設けられている。

Description

明細書

表示装置、表示装置用基板、表示装置の製造方法、表示装置用基板の製造方法、検査信号入力装置用基板およびそれを備えた検査信号入力装置技術分野

[0001] 本発明は、フラットパネルディスプレイに係り、表示装置を駆動するための半導体集積回路装置 (以下、駆動 ICと記載)が実装される表示装置に関し、たとえば、液晶表示装置において、駆動 ICを COG実装する液晶表示装置に適用するのに好適な技術に関するものである。また、本発明は、周辺端子部が形成された表示パネルに駆動 ICを接続する前段階において表示品位などを検査するための点灯検査に関し、表示装置の信号入力端子に検査信号を入力する検査用フレキシブル配線板および検査信号入力装置に適用するのに好適な技術に関するものである。

背景技術

[0002] 表示装置であるフラットパネルディスプレイ（以下 FPDと記載)を実現する技術には、いくつかあり、代表的なものに、液晶、 LED (発光ダイオード）、 EL (Electro Lum inescence)、 VFD (蛍光表示管）、 PDP (プラズマディスプレイパネル）などがある。これらの FPDは、 CRTに比べ、薄ぐ軽量であり、低消費電力などの利点を有しているため、現在の主流として用いられている。この現在の高い需要に応えるため、特に製造歩留りの向上、ひいては、表示品位検査の精度の向上が求められている。

[0003] また、現在の表示装置は、大画面化、高画質化、高精細化、薄型軽量化、低消費電力化、低コストィ匕が常に要求されている。たとえば、表示部の大画面化が進行する一方で、周辺回路の占める領域を更に縮小させるなどの表示装置の狭額ィ匕が進められている。

[0004] この狭額ィ匕のための一つの方法として、薄膜トランジスタ（以下、 TFTと記載)を使用したアクティブマトリクス方式の液晶表示装置において、行方向、列方向に複数本配置されたゲートライン'ソースラインの TFT駆動配線に信号を供給する駆動 ICをガラスなどの基板上に直接実装する COG方式が採用されている。この COG方式は、実装部が極めてコンパクトになる上に、実装コストを低く設けることができるため、多くの液晶表示装置に実用されている。

[0005] この駆動 ICを実装するための基板上に形成される周辺端子部としては、特許文献 1に所載のものが公知である。この周辺端子部では、たとえば、図 8〜図 11に示すように、ガラス基板 106上に形成されたソースラインまたはゲートラインを延設した配線 1 03上にリークやキズを防ぐために絶縁膜 104が積層され、その絶縁膜 104の一部位力 Sフォトリソグラフィで抜かれて、その部位上に透明電極などの導電膜が成膜されることでコンタクトホールを介して配線 103に接続され、駆動 ICを接続する IC接続部 101 が形成されている。この構成によって、絶縁膜 104上に形成された導電膜と絶縁膜 1 04とに生じる IC接続部 101の段差力駆動 IC実装時において、駆動 IC側の接続部のバンプ (突起）と合致し、これを熱圧着 (ボンディング)することで導電性粒子を介して駆動 ICからの信号が表示パネルに入力されている。

[0006] また、周辺端子部の構成は、たとえば、特許文献 2の所載に、上記構成を持つ各 I C接続部を、いわゆる千鳥配列させる構成が提案されている（図 8参照)。これにより、ボンディングエリアを確保しボンディングし易くすることができ、また、 IC接続部 101と同じ配線 103上において絶縁膜 104の一部位を抜き、その部位上に導電膜を成膜して検査用接続部 102を別途設けることより、駆動 ICをボンディングした ICの不良およびワイヤボンディングの接続状態の検査を可能としている。

[0007] さらに、たとえば、 TFTを用いたアクティブマトリクス方式の液晶表示装置の製造過程では、基板上に周辺端子部を形成後、駆動 ICを接続する前に、上記のような構成の周辺端子部に信号を入力し、表示パネルを点灯させることで動作状態を確認する点灯検査がある。この点灯検査では、表示パネルの色度 ·色むら'コントラストなどを視る検査が行われる。そして、この点灯検査は、たとえば、特許文献 3に所載のように、表示パネル検査装置に備えられた可撓性フィルムに形成された導体による接触子を、基板上に形成された偶数'奇数配線の接続部に所要の押圧力で接触させながら、各検査信号を入力させて表示パネルを点灯表示させることで行われる。なお、配線あるいは接続部を偶数奇数別に仕分けて形成し、検査を行うことにより、隣接画素や隣接配線間のリーク不良も検出可能となる。また、特許文献 4の所載では、 R (赤) Z G (緑) /B (青）の画素の色別に点灯させることを可能にした可撓性フィルムを有する表示パネル検査装置が提案されて、る。

[0008] また、点灯検査時において、可撓性フィルム等に形成された接触子を IC接続部にコンタクトさせることも可能だが、駆動 ICが接続される IC接続部が接触子との接触によって傷付くおそれがあった。このため、基板上に形成される周辺端子部に、ドライバ接続部と同様の構成を持つ検査用接続部を IC接続部と同じ配線上に設け、その検查用接続部に接触子を接触させることが一般的になされている。

[0009] また、 IC接続部にコンタクトして検査信号を入力する可撓性フィルム等に形成された接触子には、ピンプローブおよびベタ電極が一般的に用いられる。

[0010] しかるに、接触子にピンプローブを用いる場合にあっては、絶縁膜上に導電膜が形成されてできる接続部の段差によって、そのピンプローブが検査用接続部上を滑ることなぐ確実にコンタクトできるという利点があるものの、ピンプローブは、それぞれのピンがそれぞれの検査用接続部に合致しなければならず、高いァライメント精度が要求される。また、微細なピンプローブを使用するため、ピンプローブが折れたり曲がつたりするなどの破損が生じやすぐメンテナンスに力かる費用が嵩み、ランニングコスト面でも不利が生じる。

[0011] また、接触子に平板状に形成された電極を用いる場合にあっては、ピンプローブを用いることで不利となる検査用接続部と接触子を接触させるァライメント精度の問題が解消され、且つ、ランニングコストの面でも利点を有するものの、従来の周辺端子部の構造が持つ絶縁膜上に形成された導電膜による段差によって、ベタ電極を押し付けた際に、電極の変形や破損などを引き起こしてしまうといった問題があった。特許文献 1：特開平 11― 237642号公報

特許文献 2 :特開 2000— 81635号公報

特許文献 3：特開平 02 - 78969号公報

特許文献 4：特開平 09— 133728号公報

発明の開示

発明が解決しょうとする課題

[0012] そこで、本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、本発明の課題とするところは、表示パネルに形成する駆動 ICとの接続部である周辺端子部の構成および点灯検査に用いるフレキシブル配線板の構成を見直すことで、従来の機能を有したまま、周辺端子部が占める面積を小さくすることで狭額ィ匕に貢献し、且つ、点灯検査時における検査信号入力をする接触子と表示パネルに形成された接続部との接触不良や接触による破損の解消および検査良品率の向上にある。

課題を解決するための手段

[0013] 本発明は、上記問題を解決すべくなされたものであり、具体的に本発明に係る表示装置は、表示部を駆動する駆動信号を供給する複数の駆動信号供給線、および、前記駆動信号を生成する駆動 ICと前記各駆動信号供給線とを電気的に接続する接続部が形成された基板を備えた表示装置であって、前記基板の接続部には、前記駆動 ICと前記各駆動供給信号線とを電気的に接続させるための IC接続部位と、該 I c接続部位カゝら連続して設けられた検査用接続部位とが設けられていることを特徴とする。

[0014] また、本発明に係る表示装置用基板は、表示部を駆動する駆動信号を供給する複数の駆動信号供給線、および、前記駆動信号を生成する駆動 ICと前記各駆動信号供給線とを電気的に接続する接続部が形成された表示装置用基板であって、前記基板の接続部には、前記駆動 ICと前記各駆動供給信号線とを電気的に接続させるための IC接続部位と、該 IC接続部位力連続して設けられた検査用接続部位とが設けられて、ることを特徴とする。

[0015] 上記構成からなる本発明にあっては、従来のように IC接続部と検査用接続部とを別々に設ける構造に比べ、接続部の構造の占有面積を小さくすることができるため、表示パネルの狭額ィ匕に貢献できる。

[0016] また、上記構成を採用することにより、接続部は IC接続部位と検査用接続部位とが一体であるため、従来のものと異なり、前記 IC接続部位と前記検査用接続部位間の電気的接続状態の断線などを防ぎ、点灯検査の精度を向上させることができる。

[0017] また、本発明に係る表示装置の製造方法は、表示部を駆動する駆動信号を供給する複数の駆動信号供給線、および、前記駆動信号を生成する駆動 ICと前記各駆動信号供給線とを電気的に接続する接続部が形成された基板を備えた表示装置の製造方法であって、前記駆動 ICおよび前記各駆動供給信号線を電気的に接続させるための IC接続部位と、該 IC接続部位力連続する検査用接続部位とを備えた接続部を基板に形成する接続部形成手順を有していることを特徴とする。

[0018] また、本発明に係る表示装置用基板の製造方法は、表示部を駆動する駆動信号を供給する複数の駆動信号供給線、および、前記駆動信号を生成する駆動 ICと前記各駆動信号供給線とを電気的に接続する接続部が形成された表示装置用基板を製造する方法であって、前記駆動 ICおよび前記各駆動供給信号線を電気的に接続させるための IC接続部位と、該 IC接続部位力連続する検査用接続部位とを備えた接続部を基板に形成する接続部形成手順を有していることを特徴とする。

[0019] 上記構成からなる製造方法を用いることにより、既述の利点を有する本願発明に係る表示装置および表示装置用基板を製造することができる。

[0020] また、本発明にあっては、複数の接続部が、一の方向に所定の隙間をもって順次形成されており、接続部の IC接続部位は、隣接する他の接続部の IC接続部位と、前記一の方向に対して直交する方向にぉ、て、ずれた位置に配置されて、ることが好ましい。

[0021] これにより、接続部同士の一の方向における距離を近接せしめることができ、表示装置の狭額ィ匕に寄与することができる。

[0022] また、上記構成を採用した場合にあっては、接続部の検査用接続部位が、該接続部の IC接続部位に対して、該接続部に隣接する接続部における IC接続部位に対する検査用接続部位の形成側と反対側に、配置されてヽることが好ま、。

[0023] すなわち、前記各接続部は、一の方向に沿って千鳥状に順次形成されており、前記各接続部の IC接続部位は、前記一の方向に沿って千鳥状に配置されて、ることが好ましぐさらには、前記一の方向に対して斜めに形成された各接続部では、前記検査用接続部位と前記 IC接続部位との位置関係が反対になって、ることが好ま、

[0024] また、前記複数の接続部は、一の方向に所定の隙間をもって千鳥状に順次形成されており、前記各接続部の IC接続部位は、前記一の方向に沿って重なるように配置されていることが好ましぐさらには、隣り合った前記各接続部では、前記検査用接続部位と前記 IC接続部位との位置関係が反対になって、ることが好ま、。 [0025] これにより、接続部同士の一の方向における距離を近接せしめても、隣接する接続部の検査用接続部位同士が接触することなぐ複数の接続部をコンパクトに配置させることがでさる。

[0026] また、本発明にあっては、前記複数の接続部は、前記一の方向に所定の隙間をもつて順次形成された複数の群に区分けされており、前記一の群の各接続部の検査用接続部位は、前記一の方向に沿った線上に配置されて、ることが好ま、。

[0027] これにより、点灯検査に際して、前記一の群の接続部の検査用接続部位が沿う線（たとえば直線）に合致した形状の検査信号入力用装置の電極を接触させることにより、該電極から一の群の接触部に対して検査信号を入力することができる。

[0028] また、本発明にあっては、前記複数の接続部は、前記一の方向に所定の隙間をもつて順次形成された複数の群に区分けされており、前記一の群の各接続部では、前記 IC接続部位に対する前記検査用接続部位の形成向きが同一向きとされていることが好ましい。

[0029] このように一の群の接続部の検査用接続部位は IC接続部位に対して同一の向きに形成されることにより、点灯検査に際して、前記一の群の接続部の検査用接続部位を容易に検査信号入力用装置の電極を接触させることができる。

[0030] なお、「一の群の接触部」とは、たとえば基板端面力も奇数番目（または偶数番目）の接触部としたり、赤色画素 (または緑色画素や青色画素）を制御するための接触部とすることができる。

[0031] また、本発明にあっては、前記基板の表面には絶縁膜が積層されており、前記検查用接続部位は、該絶縁膜の表面側に形成されて、ることが好ま、。

[0032] このように絶縁膜の表面側に検査用接続部位が位置することにより、この検査用接続部位と点灯検査装置とを容易に接触させることができ、点灯検査を簡便且つ確実に行うことができる。特に、この検査用接続部位の表面を平滑面として形成しておくことにより、従来の検査用接続部の構造で問題となる、プローブピンと接続部とのァライメント精度やプローブピンが接続部に与えるダメージを軽減することができ、また、平板上の電極を押圧する際に発生する電極の変形や破損などを防ぐことも可能である [0033] なお、前記 IC接続部位および検査用接続部位を別工程において形成することも可能ではあるが、前記 IC接続部位および検査用接続部位は、同一工程で基板に積層形成されて構成されてヽることが好ま、。

[0034] また、本発明に係る検査信号入力装置用基板は、表示部を駆動する駆動信号を供給する複数の駆動信号供給線、および、前記駆動信号を生成する駆動 ICと前記各駆動信号供給線とを電気的に接続する接続部が形成された表示装置用基板に対して、検査信号を入力するための検査信号入力装置用基板であって、複数の群に区分けされる前記接続部のうち、一の群に属する複数の接続部に同時に接触する検査信号入力用電極を備えていることを特徴とする。

[0035] 上記構成を採用することにより、既述のように一の群の接続部の検査用接続部位が特定の位置に配置された表示装置用基板の点灯検査に際して、前記検査信号入力用電極が前記一の群に属する複数の接続部の検査用接続部位に好適に接触し、円滑に点灯検査を実施することができる。

[0036] また、上記構成からなる検査信号入力装置用基板にあっては、複数の群に区分けされる接続部のうち、他の群に属する複数の接続部に同時に接触する検査信号入力用電極が、一の群に属する複数の接続部に同時に接触する検査信号入力用電極に略平行に設けられて、る構成を採用することが好ま、。

[0037] これにより、一の群の複数の接続部の検査用接続部位の配列と、他の群の複数の接続部の検査用接続部位の配列とが平行である表示装置用基板の点灯検査に際して、複数の検査信号入力用電極がそれぞれ各群に属する複数の接続部の検査用接続部位に好適に接触し、円滑に点灯検査を実施することができる。

[0038] また、本発明に係る検査信号入力装置用基板にあっては、前記検査信号入力用電極は、前記接続部との接触面が略平滑面に形成されていることが好ましい。

[0039] これにより、接触部の表面に略平滑面の部位が設けられている表示装置用基板の点灯検査に際して、確実に検査信号入力用電極と前記接触部とを接触して、的確な点灯検査を行うことができる。

発明の効果

[0040] 本発明によれば、 IC接続のための占有面積を少なくすることができるので、表示パネルの狭額化に貢献でき、し力も、従来の端子構造である IC接続部と検査用接続部との間に発生した断線などを防ぎ、点灯検査の精度を向上させることができる。図面の簡単な説明

[0041] [図 1]図 1は、本発明の実施形態 1の表示装置の周辺端子部の概略的平面図である [図 2]図 2は、図 1中の II II線の概略的断面図である。

[図 3]図 3は、本発明のその他の実施形態の表示装置の周辺端子部の概略的平面図である。

[図 4]図 4は、図 3中の IV— IV線の概略的断面図である。

[図 5]図 5は、本発明の実施形態 1の点灯検査用 FPCの概略的平面図である。

[図 6]図 6は、本発明の実施形態 1の点灯検査用 FPCに形成された接触子と本発明の検査用接続部とが接触して、る概略的平面図である。

[図 7]図 7は、本発明の実施形態 1の点灯検査用 FPCに形成された接触子と従来の検査用接続部とが接触して、る概略的平面図である。

[図 8]図 8は、 TFT基板上に形成される従来の二段千鳥配置に構成された周辺端子部の概略的平面図である。

[図 9]図 9は、 TFT基板上に形成される従来のドライバ接続部を直線状に配置された周辺端子部の概略的平面図である。

[図 10]図 10は、図 8中の X— IX線の概略的断面図である。

[図 11]図 11は、図 9中の XI— XI線の概略的断面図である。

符号の説明

[0042] 1 IC接続部位

2 検査用接続部位

3 配線 (駆動信号供給線）

4 絶縁膜

5 接続部

6 基板

17 フレキシブル配線板 (検査信号入力装置用基板、検査信号入力装置） 18 検査信号入力用電極

19 Com端子部

30 表示装置用基板 (表示装置）

発明を実施するための最良の形態

[0043] 以下、本発明の実施形態について図面を参酌しつつ説明する。本発明の各実施形態の表示装置にあっては、行方向、列方向に複数本配置されたゲートライン'ソースライン (以下、単に「ライン」、うことがある）の TFT駆動配線に信号を供給する駆動 ICを、ガラスなどの基板上に直接実装する COG方式が採用された液晶表示装置を例示している。なお、本発明は、以下の実施形態に限定されるものではない。

[0044] 《発明の実施形態 1》

図 1は、本発明の実施形態 1の表示装置の周辺端子部の概略的平面図であり、図 2は、図 1中の II— II線の概略的断面図である。なお、図 1において、ハッチングされた矩形状の領域は、下層配線とのコンタクト部を示し、ノ、ツチングされていない矩形状の領域は、検査用の平坦部を示している。

[0045] 本実施形態の表示装置は、表示部を駆動する駆動信号を供給する複数の駆動信号供給線 3 (以下、単に「配線」ということがある）と、駆動信号を生成する駆動 ICおよび各駆動信号供給線 3を電気的に接続する接続部 5とが形成された表示装置用基板 30を備えている。

[0046] 接続部 5は、駆動 ICが実装される IC接続部位 1と、検査の際に用いられる検査用接続部位 2とを有しており、各ラインの形成方向に直交する方向に所定の隙間をもつて順次形成されている。すなわち、各接続部 5は、一の方向（ラインの形成方向に直交する方向）に沿って千鳥状に順次形成されている。

[0047] また、各接続部 5における IC接続部位 1は、上記一の方向に沿って千鳥状に配置されている。具体的に、各接続部 5の IC接続部位 1は、上記一の方向に対して斜めに隣接する接続部 5の接続部位 1に対して、駆動信号供給線 3の形成方向（ライン形成方向に）に直交する方向（以下、「直交方向」ということがある）において、ずれた位置に形成されている。さらに、各接続部 5の IC接続部位 1は、上記一の方向に隣接する接続部 5の接続部位 1と、すなわち、一つの接続部 5の両側に位置する接続部 5 の接続部位 1, 1は、直交方向において同一位置に形成されている。つまり、一つの実装部に含まれる複数の接続部 5のうち、基板端面から奇数本目の配線 (以下、「奇数ライン」ヽぅことがある）に形成された接続部 5 (以下、「奇数ライン接続部」と!ヽうことがある）同士が直交方向にぉヽて同一位置で、基板端面から偶数本目の配線 (以下、「偶数ライン」ということがある）に形成された接続部 5 (以下、「偶数ライン接続部」ということがある）同士が直交方向において同一位置で、奇数ライン接続部と偶数ライン接続部とが直交方向において位置ずれして（千鳥状に)配置されている。なお、たとえば図 1において、上記奇数ラインは、図中上側までし力延びていない配線 3であり、上記偶数ラインは、図中中央まで延びている配線 3である。

[0048] また、上記奇数ラインに形成された奇数ライン接続部は、検査用接続部位 2よりも I C接続部 1が配線形成方向の一方側（たとえば基板の外周側）に位置し、また、上記偶数ラインに形成された偶数ライン接続部は、検査用接続部位 2より IC接続部 1が配線形成方向の他方側（たとえば基板の内側）に位置するように設けられている。すなわち、上記一の方向に対して斜めに形成された各接続部 3では、検査用接続部位 2 と IC接続部位 1との位置関係が反対になっている。

[0049] このように IC接続部位 1と検査用接続部 2とが配置されることにより、複数の奇数ライン接続部は、上記直交方向に沿った直線上に配置され、複数の偶数ライン接続部は、上記直交方向に沿つた直線上に配置されて、る。

[0050] なお、複数の接続部 5は、偶数ライン接続部と奇数ライン接続部とが上記のような配列をなすものに限られず、点灯検査の際、色別に点灯することが可能となる R (赤) Z G (緑) /B (青）の配線ごとに IC接続部位 1の位置および検査用接続部位 2の位置を配置することも可能である。つまり、複数の接続部を Rライン接続部と Gライン接続部と Bライン接続部とに区別し、複数の Rライン接続部を直交方向一列で且つ Gライン接続部と Bライン接続部と直交方向位置ずれして形成し、複数の Gライン接続部を直交方向一列で且つ Rライン接続部と Bライン接続部と直交方向位置ずれして形成し、複数の Bライン接続部を直交方向一列で且つ Rライン接続部と Gライン接続部と直交方向位置ずれして形成することも可能である。

[0051] 次に、図 5〜図 7を用いて、本実施形態の表示装置を点灯検査する方法について説明する。

[0052] 図 5は、本実施形態の点灯検査用 FPCの概略的平面図であり、図 6は、本実施形態の点灯検査用 FPCに形成された接触子と本発明の検査用接続部位とが接触している概略的平面図であり、図 7は、本発明の実施形態 3の点灯検査用 FPCに形成された接触子と従来の検査用接続部とが接触している概略的平面図である。

[0053] 点灯検査は、基板上に既述のような接続部が形成された後、表示パネルに駆動 IC を実装する前に、表示パネルを点灯させ、表示パネルの色度，色むら'コントラストなどの動作状態を確認する作業であり、検査信号入力用装置を用いて行われるものである。

[0054] 検査信号入力装置は、接触子として、直線状に検査信号入力用電極 18 (以下、単に「電極」と!ヽぅことがある）が形成されたフレキシブル配線板 (FPC) 17 (検査信号入力装置用基板)を備えている。

[0055] また、点灯検査の対象である表示装置用基板 30には、図 5に示すように、その周囲に、駆動 ICを実装する実装部 7が設けられており、この実装部 7には、駆動 ICを各ラインに電気的接続するための接続部（ドライバ接続)が配置されている。さらに、表示装置用基板 30には、 Com入力端子部 8および Cs入力端子部 9が設けられている。

[0056] そして、点灯検査の際には、上記電極 18を上記検査用接続部位 2に接触させて通電させる。ここで、上記電極 18は、各実装部 7に対して一対形成されており、この一対の電極 18は略平行に形成されている。また、この FPC17には、 Com入力端子部 8および Cs入力端子部 9にそれぞれ接続される Com端子部 19および Cs端子部 20 が設けられている。力かる構成力もなる検査信号入力用装置の FPC17を表示装置用基板 30に接続して、検査信号を入力することによって、点灯検査が行われることになる。

[0057] なお、上記構成からなる検査信号入力装置は、たとえば従来例として示した図 8または図 9のような表示装置用基板においても好適に用いられる。

[0058] また、検査信号入力装置は、上記構成に限定されるものではなぐ表示装置の基板の端子部が、色別の RZG/Bの配線ごとに接続を区分けされている場合には、 FP Cの電極を三段に配置する構成を採用することが可能である。 [0059] なお、点灯検査に際して上記構成の検査用 FPCの電極を検査用接続部ではなぐ IC接続部に接触させる方法を採用することができるが、接続部位の破損を防止するために検査用接続部に接続させることが好ましい。

[0060] 次に、接続部 5の形成方法 (表示装置の製造方法）について、図 1および図 2を用いて詳述する。

[0061] まず、 TFTのラインを延設して形成された配線 3上に絶縁膜 4を積層する（絶縁膜積層手順)。続いて、配線 3上の絶縁膜 4の一部位をフォトリソグラフィによって除去してホール部を形成する。さらに、このホール部を覆うように導電膜を成膜した後、フォトリソグラフィによってパターン形成することによって接続部 5を形成する（接続部形成手順)。ここで、このホール部に成膜された導電膜は、駆動 ICのバンプが接触する IC 接続部位 1として機能することになる。

[0062] また、上記導電膜が成膜される際には、上記ホール部 (IC接続部位 1)のみならず、上記配線 3の形成方向に沿った絶縁膜 4上にも上記導電膜を成膜しており、この絶縁膜 4の表面に成膜された導電膜から、検査用接続部位 2が構成されている。

[0063] ここで、上記 IC接続部位 1と検査用接続部 2とは、同一の手順で同一素材により形成され、一つの接続部 5を構成している。また、上記絶縁膜 4上に形成される検査用接触部位 2は、表面が平坦な形状に形成されている。

[0064] 以上説明したように、本実施形態の表示装置および表示装置用基板によれば、 IC 接続部位 1と検査用接続部位 2とが連続して設けられた設けられているので、従来のように IC接続部 101と検査用接続部 102とを別々に設ける構造に比べ、接続部 5の構造の占有面積を小さくすることができ、表示パネルの狭額ィ匕に貢献できる。

[0065] また、上記構成を採用することにより、接続部 5は IC接続部位 1と検査用接続部位 2 とが一体であるため、従来のものと異なり、 IC接続部位 1と検査用接続部位 2との間の電気的接続状態の断線などを防ぎ、点灯検査の精度を向上させることができる。

[0066] さらに、各接続部 5は、上記一の方向に沿って千鳥状に順次形成されているので、接続部 5同士の一の方向における距離を近接せしめることができ、表示装置の狭額化に寄与することができる。

[0067] また、各接続部 5の IC接続部位 1は、上記一の方向に沿って千鳥状に配置されているので、接続部 5同士の一の方向における距離を近接せしめても、隣接する接続部 5の検査用接続部位 2同士が接触することなぐ複数の接続部 5をコンパクトに配置させることがでさる。

[0068] さらに、複数の接続部 5は、上記一の方向に所定の隙間をもって順次形成された複数の群に区分けされており、その一の群における各接続部では、 IC接続部位 1に対する検査用接続部位 2の形成向きが同一向きとされているので、点灯検査に際して、上記一の群の接続部 5の検査用接続部位 2を容易に検査信号入力用装置 (FPC17 )の電極 18を接触させることができる。

[0069] また、絶縁膜の表面側に検査用接続部位 2が位置することにより、この検査用接続部位 2と検査信号入力装置用基板 (FPC17)とを容易に接触させることができ、点灯検査を簡便且つ確実に行うことができる。特に、この検査用接続部位の表面を平滑面として形成しておくことにより、従来の検査用接続部 102の構造で問題となる、プローブピンと接続部とのァライメント精度やプローブピンが接続部に与えるダメージを軽減することができ、平板上の電極を押圧する際に発生する電極の変形や破損などを防ぐこともできる。

[0070] さらに、本実施形態の検査信号入力装置用基板 (FPC17)によれば、上記一の群の複数の接続部 5の検査用接続部位 2の配列と、他の群の複数の接続部 4の検査用接続部位 2の配列とが平行である表示装置用基板の点灯検査に際して、複数の検查信号入力用電極がそれぞれ各群に属する複数の接続部の検査用接続部位に好適に接触し、円滑に点灯検査を実施することができる。

[0071] なお、本実施形態では、 IC接続部位 1は絶縁膜 4に形成されたホール部を介して配線 3に直接接続されるものについて説明したが、 IC接続部位 1とゲートラインまたはソースラインとの電気的接続方法はこれに限定されるものではない。

[0072] 《その他の実施形態》

上記実施形態 1では、各 IC接続部位 1が直交方向に千鳥状に配置された表示装置および表示装置用基板について説明した力本発明は、図 3および図 4に示すように、各接続部 5の IC接続部位 1を直交方向に一直線状に (重なるように）配置する構成にも適用することができる。ここで、図 3は、本発明のその他の実施形態の表示装置の周辺端子部の概略的平面図であり、図 4は、図 3中の IV— IV線の概略的断面図である。

[0073] このように、本発明の接続部の具体的構成は、図 3に示すように、各接続部の IC接続部位 1を直交方向に一直線状に (重なるように）配置する構成を採用することも可能である。しかるに、上記実施形態（図 1)に示すように、複数の IC接続部位 1の直交方向の位置をずらして配置することによって、接続部が占める面積を少なくすることが可能となる。

[0074] なお、本発明は上記実施形態である液晶表示パネルに限定されるものではなぐその他のフラットパネルディスプレイであっても採用することが可能である。

産業上の利用可能性

[0075] 以上説明したように、本発明は、表示パネルが狭額化されるので、狭額化が要求されるフラットパネルディスプレイについて有用である。

Claims

請求の範囲

[1] 表示部を駆動する駆動信号を供給する複数の駆動信号供給線、および、前記駆動信号を生成する駆動 ICと前記各駆動信号供給線とを電気的に接続する接続部が形成された基板を備えた表示装置であって、

前記基板の接続部には、前記駆動 ICと前記各駆動供給信号線とを電気的に接続させるための IC接続部位と、該 IC接続部位力連続して設けられた検査用接続部位とが設けられてヽることを特徴とする表示装置。

[2] 請求項 1に記載の表示装置において、

前記各接続部は、一の方向に沿って千鳥状に順次形成されており、前記各接続部の IC接続部位は、前記一の方向に沿って千鳥状に配置されていることを特徴とする表示装置。

[3] 請求項 2に記載の表示装置において、

前記一の方向に対して斜めに形成された各接続部では、前記検査用接続部位と前記 IC接続部位との位置関係が反対になっていることを特徴とする表示装置。

[4] 請求項 1に記載の表示装置において、

前記複数の接続部は、一の方向に所定の隙間をもって千鳥状に順次形成されており、前記各接続部の IC接続部位は、前記一の方向に沿って重なるように配置されて!、ることを特徴とする表示装置。

[5] 請求項 4に記載の表示装置において、

隣り合った前記各接続部では、前記検査用接続部位と前記 IC接続部位との位置関係が反対になって！/ヽることを特徴とする表示装置。

[6] 請求項 1に記載の表示装置において、

前記複数の接続部は、前記一の方向に所定の隙間をもって順次形成された複数の群に区分けされており、

前記一の群の各接続部の検査用接続部位は、前記一の方向に沿った線上に配置されてヽることを特徴とする表示装置。

[7] 請求項 1に記載の表示装置において、

前記一の群の各接続部では、前記 IC接続部位に対する前記検査用接続部位の形成向きが同一向きとされていることを特徴とする表示装置。

[8] 請求項 1に記載の表示装置において、

前記基板の表面には絶縁膜が積層されており、前記検査用接続部位は、該絶縁膜の表面側に形成されていることを特徴とする表示装置。

[9] 請求項 1に記載の表示装置において、

前記 IC接続部位および検査用接続部位は、同一工程で基板に積層形成されて構成されて！/ゝることを特徴とする表示装置。

[10] 表示部を駆動する駆動信号を供給する複数の駆動信号供給線、および、前記駆動信号を生成する駆動 ICと前記各駆動信号供給線とを電気的に接続する接続部が形成された表示装置用基板であって、

前記基板の接続部には、前記駆動 ICと前記各駆動供給信号線とを電気的に接続させるための IC接続部位と、該 IC接続部位力連続して設けられた検査用接続部位とが設けられていることを特徴とする表示装置用基板。

[11] 請求項 10に記載の表示装置用基板において、

前記各接続部は、一の方向に沿って千鳥状に順次形成されており、前記各接続部の IC接続部位は、前記一の方向に沿って千鳥状に配置されていることを特徴とする表示装置用基板。

[12] 請求項 11に記載の表示装置用基板にぉ、て、

前記一の方向に対して斜めに形成された各接続部では、前記検査用接続部位と前記 IC接続部位との位置関係が反対になっていることを特徴とする表示装置用基板

[13] 請求項 10に記載の表示装置用基板において、

前記複数の接続部は、一の方向に所定の隙間をもって千鳥状に順次形成されており、前記各接続部の IC接続部位は、前記一の方向に沿って重なるように配置されていることを特徴とする表示装置用基板。

[14] 請求項 13に記載の表示装置用基板において、隣り合った前記各接続部では、前記検査用接続部位と前記 IC接続部位との位置関係が反対になっていることを特徴とする表示装置用基板。

[15] 請求項 10に記載の表示装置用基板において、

前記一の群の各接続部の検査用接続部位は、前記一の方向に沿った線上に配置されていることを特徴とする表示装置用基板。

[16] 請求項 10に記載の表示装置用基板において、

前記一の群の各接続部では、前記 IC接続部位に対する前記検査用接続部位の形成向きが同一向きとされていることを特徴とする表示装置用基板。

[17] 請求項 10に記載の表示装置用基板において、

前記基板の表面には絶縁膜が積層されており、前記検査用接続部位は、該絶縁膜の表面側に形成されていることを特徴とする表示装置用基板。

[18] 請求項 10に記載の表示装置用基板において、

前記 IC接続部位および検査用接続部位は、同一工程で基板に積層形成されて構成されていることを特徴とする表示装置用基板。

[19] 表示部を駆動する駆動信号を供給する複数の駆動信号供給線、および、前記駆動信号を生成する駆動 ICと前記各駆動信号供給線とを電気的に接続する接続部が形成された基板を備えた表示装置の製造方法であって、

前記駆動 ICおよび前記各駆動供給信号線を電気的に接続させるための IC接続部位と、該 IC接続部位カゝら連続する検査用接続部位とを備えた接続部を基板に形成する接続部形成手順を有していることを特徴とする表示装置の製造方法。

[20] 請求項 19に記載の表示装置の製造方法において、

前記接続部形成手順にぉ、て、前記各接続部が一の方向に沿って千鳥状に配置されるとともに、前記各接続部の IC接続部位が、前記一の方向に沿って千鳥状に配置されるように、前記接続部を形成することを特徴とする表示装置の製造方法。

[21] 請求項 20に記載の表示装置の製造方法において、

前記接続部形成手順にぉヽて、前記一の方向に対して斜めに形成された各接続部では、前記検査用接続部位と前記 IC接続部位との位置関係が反対になるように、前記接続部を形成することを特徴とする表示装置の製造方法。

[22] 請求項 19に記載の表示装置の製造方法において、

前記接続部形成手順において、前記複数の接続部が、一の方向に所定の隙間をもって千鳥状に順次形成されており、前記各接続部の IC接続部位は、前記一の方向に沿って重なるように、前記接続部を形成することを特徴とする表示装置の製造方法。

[23] 請求項 22に記載の表示装置の製造方法において、

前記接続部形成手順において、隣り合った前記各接続部では、前記検査用接続部位と前記 IC接続部位との位置関係が反対になるように、前記接続部を形成することを特徴とする表示装置の製造方法。

[24] 請求項 19に記載の表示装置の製造方法において、

前記接続部形成手順において、前記複数の接続部が、前記一の方向に所定の隙間をもって順次形成された複数の群に区分けされ、且つ、前記一の群の各接続部の検査用接続部位が、前記一の方向に沿った線上に配置されるように、前記接続部を形成することを特徴とする表示装置の製造方法。

[25] 請求項 19に記載の表示装置の製造方法において、

前記接続部形成手順において、前記複数の接続部が、前記一の方向に所定の隙間をもって順次形成された複数の群に区分けされ、且つ、前記一の群の各接続部では、前記 IC接続部位に対する前記検査用接続部位の形成向きが同一向きとなるように、前記接続部を形成することを特徴とする表示装置の製造方法。

[26] 請求項 19に記載の表示装置の製造方法において、

前記接続部形成手順の前工程にぉ、て、基板の表面に絶縁膜を積層する絶縁膜積層手順を有し、

前記接続部形成手順において、前記検査用接続部は、前記絶縁膜の表面側に形成されることを特徴とする表示装置の製造方法。

[27] 表示部を駆動する駆動信号を供給する複数の駆動信号供給線、および、前記駆動信号を生成する駆動 ICと前記各駆動信号供給線とを電気的に接続する接続部が形成された表示装置用基板を製造する方法であって、

前記駆動 ICおよび前記各駆動供給信号線を電気的に接続させるための IC接続部位と、該 IC接続部位カゝら連続する検査用接続部位とを備えた接続部を基板に形成する接続部形成手順を有していることを特徴とする表示装置用基板の製造方法。

[28] 請求項 27に記載の表示装置用基板の製造方法において、

前記接続部形成手順にぉ、て、前記各接続部が一の方向に沿って千鳥状に配置されるとともに、前記各接続部の IC接続部位が、前記一の方向に沿って千鳥状に配置されるように、前記接続部を形成することを特徴とする表示装置用基板の製造方法

[29] 請求項 28に記載の表示装置用基板の製造方法において、

前記接続部形成手順にぉヽて、前記一の方向に対して斜めに形成された各接続部では、前記検査用接続部位と前記 IC接続部位との位置関係が反対になるように、前記接続部を形成することを特徴とする表示装置用基板の製造方法。

[30] 請求項 27に記載の表示装置用基板の製造方法において、

前記接続部形成手順において、前記複数の接続部が、一の方向に所定の隙間をもって千鳥状に順次形成されており、前記各接続部の IC接続部位は、前記一の方向に沿って重なるように、前記接続部を形成することを特徴とする表示装置用基板の製造方法。

[31] 請求項 30に記載の表示装置用基板の製造方法において、

前記接続部形成手順において、隣り合った前記各接続部では、前記検査用接続部位と前記 IC接続部位との位置関係が反対になるように、前記接続部を形成することを特徴とする表示装置用基板の製造方法。

[32] 請求項 27に記載の表示装置用基板の製造方法であって、

前記接続部形成手順において、前記複数の接続部が、前記一の方向に所定の隙間をもって順次形成された複数の群に区分けされ、且つ、前記一の群の各接続部の検査用接続部位が、前記一の方向に沿った線上に配置されるように、前記接続部を形成することを特徴とする表示装置用基板の製造方法。

[33] 請求項 27に記載の表示装置用基板の製造方法において、

前記接続部形成手順において、前記複数の接続部が、前記一の方向に所定の隙間をもって順次形成された複数の群に区分けされ、且つ、前記一の群の各接続部では、前記 IC接続部位に対する前記検査用接続部位の形成向きが同一向きとなるように、前記接続部を形成することを特徴とする表示装置用基板の製造方法。

[34] 請求項 27に記載の表示装置用基板の製造方法において、

前記接続部形成手順において、前記検査用接続部は、前記絶縁膜の表面側に形成されることを特徴とする表示装置用基板の製造方法。

[35] 表示部を駆動する駆動信号を供給する複数の駆動信号供給線、および、前記駆動信号を生成する駆動 ICと前記各駆動信号供給線とを電気的に接続する接続部が形成された表示装置用基板に対して、検査信号を入力するための検査信号入力装置用基板であって、

複数の群に区分けされる前記接続部のうち、一の群に属する複数の接続部に同時に接触する検査信号入力用電極を備えていることを特徴とする検査信号入力装置用基板。

[36] 請求項 35に記載の検査信号入力装置用基板において、

複数の群に区分けされる前記接続部のうち、他の群に属する複数の接続部に同時に接触する検査信号入力用電極が、前記一の群に属する複数の接続部に同時に接触する検査信号入力用電極に略平行に設けられていることを特徴とする検査信号入力装置用基板。

[37] 請求項 35に記載の検査信号入力装置用基板において、

前記検査信号入力用電極は、前記接続部との接触面が略平滑面に形成されていることを特徴とする検査信号入力装置用基板。

[38] 請求項 35に記載の検査信号入力装置用基板において、

基板本体がフレキシブル配線板カゝら構成されていることを特徴とする検査信号入力装置用基板。

請求項 35に記載の検査信号入力用基板を備えたことを特徴とする検査信号入力装置。