JP2011053614A

JP2011053614A - マザー基板および表示装置

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Publication number: JP2011053614A
Application number: JP2009204870A
Authority: JP
Inventors: Akira Tomita; 暁富田; Katsuhiko Inada; 克彦稲田; Masakatsu Kitani; 正克木谷
Original assignee: Toshiba Mobile Display Co Ltd
Current assignee: Japan Display Central Inc
Priority date: 2009-09-04
Filing date: 2009-09-04
Publication date: 2011-03-17

Abstract

【課題】低コストで信頼性の高い表示装置およびそのマザー基板を提供する。
【解決手段】マトリクス状に配置された複数の表示画素ＰＸからなる表示部ＤＹＰと、表示部ＤＹＰの一部となるアレイ表示部１０Ｄと、アレイ表示部１０Ｄを囲む周辺部とを備えたアレイ基板１０と、を備え、周辺部は、表示部ＤＹＰを駆動する駆動手段ＧＤ，ＳＤと、駆動手段ＧＤ、ＳＤに信号を供給する外部信号源が接続される接続部３０と、複数のスイッチング素子４２を備えたスイッチング回路４０と、検査用パッド群ＣＮＴと、を備え、接続部３０は、少なくとも複数の表示画素ＰＸの列数に対応する複数の接続端子ＴＡを備え、スイッチング回路４２は、複数の接続端子ＴＡと同数のスイッチング素子４２を備え、検査用パッド群ＣＮＴは、複数の接続端子ＴＡ数よりも少ない複数の検査用パッドＴＢを備えている表示装置ＰＮＬ。
【選択図】図１

Description

本発明は、表示装置および表示装置のマザー基板に関し、特に、アクティブマトリクス型の表示装置およびそのマザー基板に関する。

表示装置を製造する場合、大型基板上に複数の基板の回路や表示素子を形成して、大型基板から複数の表示装置の基板を形成することがある。

例えば、表示装置として例えば液晶表示装置の製造工程は、１枚のマザー基板上に画素電極や内蔵回路等を形成して、複数のアレイ基板を製作するアレイ工程、複数のアレイ基板となるマザー基板と複数の対向基板となるマザー基板とを貼り合せ、２枚のマザー基板間の領域に液晶材料を充填し、液晶表示装置を切り出すセル工程、および、液晶表示装置に外部回路やバックライトなどの部品を取り付けて液晶表示モジュールを製作するモジュール工程に大別される。

上記各工程において種々の検査が実施され、アレイ工程により複数のアレイ基板が形成された後のアレイ検査では、各アレイ基板に電気信号（検査信号）を印加して動作させることにより、表示不良の有無が検査される。

このようなアレイ検査では、各アレイ基板上の外部回路接続用端子に、検査装置のプローブを接触させて、検査対象であるアレイ基板と、検査装置とを電気的に接続して、検査信号を印加している。

例えば、特許文献１には、ガラス基板の表面に複数のＬＣＤモジュールを形成し、ＬＣＤモジュールの各々の検査時に使用される端子をガラス基板の一辺に対向して配置し、１回のプロービングで複数のＬＣＤモジュールを検査する技術が開示されている。

しかし、近年、表示装置は高精細化(多画素化)が進み、それに応じて、外部回路接続用端子の端子数も増加している。外部回路接続用端子数が増加すると、検査装置のプローブ本数も増加し、プローブを用意するためのコストが増加することがあった。

また、外部回路接続用端子数が増えると、検査装置のプローブ本数だけでなく、検査装置の測定回路のチャンネル数も増加させる必要が生じ、検査装置のコストを増加させる原因となることがあった。

さらに、外部回路接続用端子数が増えると、外部回路接続用端子間のピッチも小さくなるため、プローブを所定の端子に接触させることが困難になり、プローブのコンタクトエラーが発生する確率が高くなった。その結果、正確なアレイ検査が実施できず、表示装置としての信頼性を確保することが困難であった。

特開２００７−２３３３９１号公報

本発明は、上記事情に鑑みて成されたものであって、低コストで信頼性の高い表示装置およびそのマザー基板を提供することを目的とする。

本発明の第１態様による表示装置は、マトリクス状に配置された複数の表示画素からなる表示部を有する表示装置であって、前記表示部の一部となるアレイ表示部と、前記アレイ表示部を囲む周辺部とを備えたアレイ基板と、を備え、前記周辺部は、前記表示部を駆動する駆動手段と、前記駆動手段に信号を供給する外部信号源が接続される接続部と、複数のスイッチング素子を備えたスイッチング回路と、検査用パッド群と、を備え、前記接続部は、少なくとも前記複数の表示画素の列数に対応する複数の接続端子を備え、前記スイッチング回路は、前記複数の端子と同数のスイッチング素子を備え、前記検査用パッド群は、前記複数の接続端子数よりも少ない複数の検査用パッドを備えている表示装置である。

本発明の第２態様によるマザー基板は、アレイ表示部と、前記アレイ表示部を囲む周辺部と、を含み、割断によりアレイ基板となるアレイ領域を複数備えるマザー基板であって、前記マザー基板は、前記周辺部に配置され外部信号源が接続される接続部と、前記アレイ表示部に検査信号を供給するための検査用パッド群と、複数のスイッチング素子を備えたスイッチング回路と、を備え、前記接続部は複数の接続端子を備え、前記検査用パッド群は複数の検査用パッドを備え、前記複数のスイッチング素子は、２以上の接続端子と１つの前記検査用パッドとの接続を切り替えるように配置されているマザー基板である。

本発明によれば、低コストで信頼性の高いマザー基板および表示装置およびそのマザー基板を提供することができる。

本発明の一実施形態に係る表示装置の一構成例を概略的に示す図である。本発明の第１実施形態に係る表示装置のアレイ基板を形成するマザー基板の一構成例を概略的に示す図である。本発明の第１実施形態に係る表示装置のアレイ基板の検査工程の一例について説明するための図である。本発明の第２実施形態に係る表示装置の一構成例を概略的に示す図である。本発明の第２実施形態に係る表示装置のアレイ基板を形成するマザー基板の一構成例を概略的に示す図である。本発明の第３実施形態に係る表示装置の一構成例を概略的に示す図である。本発明の第３実施形態に係る表示装置のアレイ基板を形成するマザー基板の一構成例を概略的に示す図である。本発明の他の実施形態に係る表示装置について、スイッチング回路と検査用パッドの位置の組合せを説明するための図である。

以下、本発明の第１実施形態に係るマザー基板および表示装置について図面を参照して説明する。図１に示すように、本実施形態に係る表示装置は、アレイ基板１０と、アレイ基板１０に対向して配置された対向基板２０と、アレイ基板１０と対向基板２０との間に挟持された液晶層ＬＱと、マトリクス状に配置された表示画素ＰＸからなる表示部ＤＹＰと、を備えた液晶表示装置ＰＮＬである。

アレイ基板１０は、表示部ＤＹＰにおいて、各表示画素ＰＸに配置された画素電極ＰＥと、画素電極ＰＥが配列する行に沿って配置された走査線ＧＬと、画素電極ＰＥが配列する列に沿って配置された信号線ＳＬと、走査線ＧＬと信号線ＳＬとが交差する位置近傍に配置された画素スイッチＳＷと、を備えている。

アレイ基板１０は、その表示部ＤＹＰの周囲の領域（周辺部）に配置された、複数の走査線ＧＬを順次駆動する走査線駆動回路ＧＤと、複数の信号線ＳＬに映像信号を供給する信号線駆動回路ＳＤと、回路基板（図示せず）が接続される接続部３０と、を備えている。接続部３０には、例えば、回路基板としてのフレキシブル基板の一端が電気的に接続される。フレキシブル基板の他端は例えばタイミングコントローラ（図示せず）と電気的に接続される。

対向基板２０は、複数の画素電極ＰＥに対向した対向電極ＣＥを備えている。画素電極ＰＥと対向電極ＣＥとは、液晶層ＬＱに含まれる液晶分子（図示せず）の配向状態を規制する、一対の配向膜によって覆われている。対向電極ＣＥには、図示しない対向電極駆動回路により対向電圧が印加される。

タイミングコントローラは、フレキシブル基板を介して、外部信号源（図示せず）から入力される同期信号に基づいて発生される制御信号を走査線駆動回路ＧＤおよび信号線駆動回路ＳＤに出力するとともに、外部信号源から入力される映像信号を信号線駆動回路ＳＤに出力する。さらに、タイミングコントローラは、対向電極ＣＥに印加される対向電圧を対向基板２０の対向電極ＣＥに対して出力する。

走査線駆動回路ＧＤは、供給された制御信号に基づいて、複数の走査線ＧＬを順次駆動する。信号線駆動回路ＳＤは、供給された制御信号に基づいて、供給された映像信号を複数の信号線ＳＬに対して並列的に供給する。信号線ＳＬに供給された映像信号は、駆動された走査線ＧＬによりゲート−ドレイン間が導通した画素スイッチＳＷを介して、画素電極ＰＥに供給される。

液晶層ＬＱに含まれる液晶分子は、映像信号が供給された画素電極ＰＥの画素電位と、対向電極ＣＥに印加された対向電圧との電位差により、その配向状態を制御される。

次に、上記液晶表示装置ＰＮＬの製造工程における、検査工程について説明する。上記液晶表示装置ＰＮＬを製造する際には、まず、複数のアレイ基板１０となるマザー基板１０Ｍを用意する。マザー基板１０Ｍは、透光性の絶縁基板であって、例えばガラス基板である。

マザー基板１０Ｍ上には、所定の形状にパターンニングされた複数の導電層および絶縁層が積層される。図２に示すように、マザー基板１０Ｍのアレイ基板１０となる各領域（アレイ領域）には、接続部３０と、表示部ＤＹＰに対応し走査線ＧＬや信号線ＳＬ等の各種配線、これら配線の交差部に設けられたスイッチング素子ＳＷ、このスイッチング素子ＳＷに接続されている画素電極ＰＥが、それぞれ設けられているアレイ表示部１０Ｄがある。アレイ基板１０となる領域を囲む外部領域１０Ｅには、接続部３０と並んで配置されたスイッチング回路４０と、検査用パッド群ＣＮＴが設けられている。

図３に示すように、接続部３０は、複数の接続端子（外部回路接続用端子）ＴＡ（ＴＡ１乃至ＴＡｎ）を備えている。接続端子ＴＡの数は、表示画素ＰＸ数が多いほど多くなる。すなわち表示装置の高精細化に伴って多くの接続端子ＴＡが必要となる。

検査用パッド群ＣＮＴは、複数の検査用パッドＴＢ（ＴＢ１乃至ＴＢｎ／３）を備えている。各検査用パッドＴＢはスイッチング回路４０を介して３つの接続端子ＴＡに接続されている。例えば、検査用パッドＴＢ１は、スイッチング回路４０を介して、接続端子ＴＡ１、ＴＡ２、ＴＡ３と接続可能となるように構成されている。検査用パッドＴＢｋ（ｋは１以上の整数）は、接続端子ＴＡ３ｋ−２、ＴＡ３ｋ−１、ＴＡ３ｋと接続可能となるように構成されている。

スイッチング回路４０は、接続端子ＴＡと検査用パッドＴＢとの間の接続を切り替えるスイッチング素子４２を備えている。一端が接続端子ＴＡ３ｋ−２、ＴＡ３ｋ−１、ＴＡ３ｋと接続された３つのスイッチング素子４２は、その他端が、検査用パッドＴＢｋに接続されている。

したがって、検査用パッドＴＢの数は、接続端子ＴＡの３分の１となる。このことにより、検査用パッドＴＢ間のピッチＬＢを接続端子ＴＡ間のピッチＬＡよりも大きくすることができる。

この検査用パッドＴＢを用いて検査を行なう場合、検査用パッドＴＢに検査装置５０のプローブを接触させて検査信号を供給する。したがって、検査装置５０の測定回路５２の数も検査用パッドＴＢと同数でよく、接続端子ＴＡの数の３分の１とすることができる。

その結果、高精細化により接続端子ＴＡの数が多くなった場合であっても、検査用パッドＴＢ間のピッチＬＢを十分に大きくすることができるため、検査の際に検査用パッドＴＢにプローブを接触させることが容易になり、プローブと検査用パッドＴＢとの接触不良によるエラーの発生率を低減させることができる。すなわち、液晶表示装置ＰＮＬの不良を発見する信頼性を向上させることができる。

さらに、検査に用いるプローブの数や測定回路５２の数を接続端子ＴＡの３分の１とすることができるため、検査のための費用を削減することができる。

検査を行なう際には、例えば検査装置５０から供給する制御信号によりスイッチング素子４２を制御することにより、検査装置５０のプローブを検査用パッドＴＢに接触させたままの状態で、検査信号を供給する接続端子ＴＡを切り替える。

例えばカラー表示タイプの液晶表示装置ＰＮＬの場合、複数の表示画素ＰＸは、赤色を表示する赤色表示画素、緑色を表示する緑色表示画素、および青色を表示する青色表示画素を備えている。

赤色表示画素、緑色表示画素、および青色表示画素は、各色の表示画素が信号線ＳＬの延びる方向と略平行なストライプ状となるように周期的に並んでいる。したがって、各信号線ＳＬは、赤色表示画素、緑色表示画素、および青色表示画素のいずれか１種類の表示画素に映像信号を供給することになる。

例えば接続端子ＴＡ１は、赤色表示画素に映像信号を供給する信号線ＳＬに電気的に接続され、接続端子ＴＡ２は、緑色表示画素に映像信号を供給する信号線ＳＬに電気的に接続され、接続端子ＴＡ３は、青色表示画素に映像信号を供給する信号線ＳＬに電気的に接続されている。

したがって、スイッチング素子４２を切り替えて、接続端子ＴＡ３ｋ−２に接続されたスイッチング素子４２のみを導通させることにより、赤色表示画素に映像信号を供給する配線の検査を行うことができる。同様に、接続端子ＴＡ３ｋ−１に接続されたスイッチング素子４２のみを導通させることにより、緑色表示画素に映像信号を供給する配線の検査を行なうことができる。接続端子ＴＡ３ｋに接続されたスイッチング素子４２のみを導通させることにより、青色表示画素に映像信号を供給する配線の検査を行なうことができる。

上記のように、映像信号等を供給する配線の検査を行った結果、不良が見つかった場合には不良部分が修復される。不良の修復の後、マザー基板１０Ｍと、複数の対向基板２０となるマザー基板（図示せず）とを対向させてシール部材により貼り合せ、シール部材によって囲まれたマザー基板１０Ｍと複数の対向基板２０となるマザー基板との間の間隙に液晶材料を注入する。液晶材料の注入が終了した後に、マザー基板１０Ｍおよび対向基板２０となるマザー基板を割断し、液晶材料を注入するための注入口を封止する。

注入口を封止した後、信号線駆動回路ＳＤやフレキシブル基板等を実装して、液晶表示装置ＰＮＬを形成する。

すなわち、本実施形態に係る液晶表示装置ＰＮＬおよびそのマザー基板１０Ｍによれば、低コストで信頼性の高い表示装置およびマザー基板を提供することができる。

次に、本発明の第２実施形態に係る表示装置およびそのマザー基板について、図面を参照して説明する。なお、以下の説明において、上述の第１実施形態に係る表示装置およびそのマザー基板と同様の構成については、同一の符号を付して説明を省略する。

図４に示すように、本実施形態に係る表示装置は、上述の第１実施形態に係る液晶表示装置ＰＮＬと同様に、アレイ基板１０と、アレイ基板１０と対向するように配置された対向基板２０と、アレイ基板１０と対向基板２０との間に挟持された液晶層ＬＱと、走査線ＧＬや信号線ＳＬ等の各種配線、および、スイッチング素子等が設けられ、マトリクス状に配置された表示画素ＰＸからなる表示部ＤＹＰと、を備えた液晶表示装置ＰＮＬである。

本実施形態では、アレイ基板１０は、スイッチング回路４０と、検査用パッド群ＣＮＴとを備えている。スイッチング回路４０と、検査用パッド群ＣＮＴとは、表示部ＤＹＰの周囲を囲むアレイ基板１０の領域（周辺部）に配置されている。スイッチング回路４０および検査用パッド群ＣＮＴが配置された位置と、接続部３０が配置された位置とは、信号線ＳＬが延びる方向における、表示部ＤＹＰの両脇に位置している。本実施形態に係る液晶表示装置ＰＮＬは、上記アレイ基板１０の構成以外は上述の第１実施形態に係る液晶表示装置ＰＮＬと同様である。

次に、本実施形態に係る液晶表示装置ＰＮＬの製造工程における、検査工程について説明する。上記液晶表示装置ＰＮＬを製造する際には、まず、複数のアレイ基板１０となるマザー基板１０Ｍを用意する。マザー基板１０Ｍは、透光性の絶縁基板であって、例えばガラス基板である。

マザー基板１０Ｍ上には、所定の形状にパターンニングされた複数の導電層および絶縁層が積層される。図５に示すように、マザー基板１０Ｍのアレイ基板１０となる各領域（アレイ領域）には、表示部ＤＹＰに対応し走査線ＧＬや信号線ＳＬ等の各種配線、これら配線の交差部に設けられたスイッチング素子ＳＷ、このスイッチング素子ＳＷに接続された画素電極ＰＥを備えたアレイ表示部１０Ｄと、接続部３０が配置されている。

本実施形態では、アレイ基板１０となる領域間の隙間がなく、アレイ基板１０となる領域（アレイ領域）は互いに隣接してマトリクス状に配置されている。したがって、接続部３０と並んで配置されたスイッチング回路４０と、検査用パッド群ＣＮＴとは、隣接したアレイ基板１０の領域内のアレイ表示部１０Ｄの周囲の領域（周辺部）に配置されている。

すなわち、マザー基板１０Ｍは、第１アレイ領域とこの第１アレイ領域に配置された走査線と平行に配置されている第２アレイ領域において、第１アレイ領域には、第１アレイ領域を検査するための接続部３０が配置されている。また、第２アレイ領域の周辺部には、第１アレイ領域を検査するためのスイッチング回路４０および、スイッチング回路４０を介して接続部３０に接続された検査用パッド群ＣＮＴが配置されている。

このようにスイッチング回路４０および検査用パッド群ＣＮＴを配置すると、切り出された後の液晶表示装置ＰＮＬは、図４に示すように、隣接したアレイ基板１０の検査に用いられたスイッチング回路４０および検査用パッド群ＣＮＴを含むものとなる。

上記のようにスイッチング回路４０および検査用パッド群ＣＮＴを配置した場合であっても、上述の第１実施形態に係る液晶表示装置およびマザー基板と同様の効果を得ることができる。

さらに、１枚のマザー基板１０Ｍから多くのアレイ基板１０を形成するために、アレイ基板１０となる領域を隙間なく並べた場合であっても、スイッチング回路４０および検査用パッド群ＣＮＴを配置することが可能となり、より製造コストを削減することができる。また、信頼性を担保した液晶表示装置ＰＮＬおよびマザー基板を提供することが可能となる。すなわち、本実施形態に係る液晶表示装置ＰＮＬおよびそのマザー基板１０Ｍによれば、低コストで信頼性の高い表示装置およびマザー基板を提供することができる。

次に、本発明の第３実施形態に係る表示装置およびマザー基板について図面を参照して説明する。図６に示すように、本実施形態に係る表示装置は、上述の第１実施形態に係る液晶表示装置ＰＮＬと同様に、アレイ基板１０と、アレイ基板１０と対向するように配置された対向基板２０と、アレイ基板１０と対向基板２０との間に挟持された液晶層ＬＱと、マトリクス状に配置された表示画素ＰＸからなる表示部ＤＹＰと、を備えた液晶表示装置ＰＮＬである。

本実施形態では、アレイ基板１０は、スイッチング回路４０と、検査用パッド群ＣＮＴとを備えている。スイッチング回路４０と、検査用パッド群ＣＮＴとは、表示部ＤＹＰの周囲を囲むアレイ基板１０の領域に配置されている。

検査用パッド群ＣＮＴは、走査線ＹＬが延びる方向において、接続部３０を挟むように配置された、第１パッド群ＣＮＴＬと、第２パッド群ＣＮＴＲとを備えている。スイッチング回路４０が配置された位置と、接続部３０が配置された位置とは、信号線ＳＬが延びる方向において、表示部ＤＹＰの両脇に位置している。

本実施形態に係る液晶表示装置ＰＮＬは、上記アレイ基板１０の構成以外は上述の第１実施形態に係る液晶表示装置ＰＮＬと同様である。

マザー基板１０Ｍ上には、所定の形状にパターンニングされた複数の導電層および絶縁層が積層される。図７に示すように、マザー基板１０Ｍのアレイ基板１０となる各領域（アレイ領域）には、表示部ＤＹＰに対応するアレイ表示部１０Ｄ、接続部３０、走査線ＧＬや信号線ＳＬ等の各種配線、および、スイッチング素子等が設けられている。

本実施形態では、アレイ基板１０となる領域間の隙間がなく、アレイ基板１０となる領域は互いに隣接してマトリクス状に配置されている。したがって、接続部３０と並んで配置されたスイッチング回路４０は、信号線ＳＬが延びる方向において隣接したアレイ基板１０の領域内のアレイ表示部１０Ｄの周囲の領域に配置されている。

検査用パッド群ＣＮＴの第１パッド群ＣＮＴＬと第２パッド群ＣＮＴＲとは、走査線ＧＬが延びる方向において、接続部３０を挟むように配置されている。したがって、接続部３０、第１パッド群ＣＮＴＬ、および、第２パッド群ＣＮＴＲとは、アレイ基板１０となる領域の、走査線ＧＬが延びる方向と略平行に延びた端縁に沿って配置されている。

すなわち、マザー基板１０Ｍは、並んで配置された第１アレイ領域と第２アレイ領域において、第１アレイ領域を検査するための検査用パッド群ＣＮＴは、第１アレイ領域の周辺部に配置されているとともに、１以上の検査用パッドＴＢを含む第１パッド群ＣＮＴＬおよび第２パッド群ＣＮＴＲを備えている。第１アレイ領域に配置された接続部３０に接続された、スイッチング回路４０は第２アレイ領域の周辺部に配置され、接続部３０の複数の接続端子ＴＡが並ぶ方向において、接続部３０は、第１パッド群ＣＮＴＬと第２パッド群ＣＮＴＲとの間に配置されている。

スイッチング回路４０と第１パッド群ＣＮＴＬとは、第１パッド群ＣＮＴＬの各パッドとスイッチング回路４０のスイッチング素子４２とを接続する複数の接続配線により接続されている。同様にスイッチング回路４０と第２パッド群ＣＮＴＲとは、第２パッド群ＣＮＴＲの各パッドとスイッチング回路４０のスイッチング素子４２とを接続する複数の接続配線により接続されている。

これらの接続配線は、隣接したアレイ基板１０の領域内において、スイッチング回路４０と第１パッド群ＣＮＴＬおよび第２パッド群ＣＮＴＲとの間に延びている。

このようにスイッチング回路４０および検査用パッド群ＣＮＴを配置すると、切り出された後の液晶表示装置ＰＮＬは、図６に示すように、接続部３０と並んで配置された第１パッド群ＣＮＴＬおよび第２パッド群ＣＮＴＲを含むとともに、隣接したアレイ基板１０の検査に用いられたスイッチング回路４０を含むものとなる。

さらに、１枚のマザー基板１０Ｍから多くのアレイ基板１０を形成するために、アレイ基板１０となる領域を隙間なく並べた場合であっても、スイッチング回路４０および検査用パッド群ＣＮＴを配置することが可能となり、より製造コストを削減することができる。また、信頼性を担保した液晶表示装置ＰＮＬおよびマザー基板を提供することが可能となる。

また、第１パッド群ＣＮＴＬおよび第２パッド群ＣＮＴＲは対向基板２０と対向した領域の周囲に配置されるため、プローブが検査用パッドＴＢおよびその近傍に接触することによりアレイ基板１０の表面が変形した場合であっても、アレイ基板１０と対向基板２０との貼り合わせの信頼性が低下することがない。また、プローブによりアレイ基板１０の表面が削られた場合であっても、液晶層ＬＱ内に異物が混入することが無くなる。

なお、上記第１乃至第３実施形態に係る表示装置およびマザー基板における、スイッチング回路４０と検査用パッド群ＣＮＴとの配置位置は一例であって、図８に示すように、スイッチング回路４０と検査用パッド群ＣＮＴとの配置位置について種々の組み合わせが考えられる。

図８に示すアレイ基板外の領域とは、アレイ基板１０となる領域（アレイ領域）の外の領域、すなわち外部領域１０Ｅである。また、自身のアレイ基板とは、スイッチング回路４０を介して検査用パッド群ＣＮＴが電気的に接続されるアレイ基板１０となる領域であって、隣接アレイ基板とは、自身のアレイ基板と並んで配置されたアレイ基板１０となる領域である。

例えば、スイッチング回路４０をアレイ基板外の領域に配置するとともに、検査用パッド群ＣＮＴを自身のアレイ基板１０となる領域に配置してもよい。スイッチング回路４０をアレイ基板外の領域に配置するとともに、検査用パッド群ＣＮＴを隣接アレイ領域の周辺部に配置してもよい。スイッチング回路４０を自身のアレイ基板１０となる領域内に配置するとともに、検査用パッド群ＣＮＴを隣接したアレイ基板１０となる領域あるいは、アレイ基板外の領域に配置してもよい。

図８に示すいずれの組み合わせについても、上述の第１乃至第３実施形態に係る表示装置およびマザー基板と同様の効果を得ることができる。

以上説明した通り、接続部３０の接続端子ＴＡとは別に検査用パッドＴＢを設け、接続端子ＴＡのなかの複数の端子と、検査用パッドＴＢのうちの１つのパッドとの接続を切り替えるように構成されたスイッチング回路４０を設ける。

このようにスイッチング回路４０と検査用パッド群ＣＮＴとを設けると、マザー基板１０Ｍのアレイ検査において、プローブの本数や検査装置の測定回路５２の数を削減し、検査に必要なコストを低減することができる。

さらに、検査用パッドＴＢ間の距離は、接続端子ＴＡ間の距離よりも長くすることができるため、プローブを所定の検査用パッドＴＢに接触させることが容易になり、プローブのコンタクトエラーの発生確率を下げることができる。以上によって、低コストで信頼性の高い表示装置を提供することができる。

なお、この発明は、上記実施形態そのものに限定されるものではなく、その実施の段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。

また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合せにより種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。更に、異なる実施形態に亘る構成要素を適宜組み合せてもよい。

ＬＱ…液晶層、ＰＸ…表示画素、ＤＹＰ…表示部、ＰＮＬ…表示装置（液晶表示装置）、ＰＥ…画素電極、ＧＬ…走査線、ＳＬ…信号線、ＳＷ…画素スイッチ、ＧＤ…走査線駆動回路、ＳＤ…信号線駆動回路、ＣＥ…対向電極、ＴＡ…接続端子、ＣＮＴ、ＣＮＴＬ、ＣＮＴＲ…検査用パッド群、ＴＢ…検査用パッド、ＴＡ…接続端子、１０…アレイ基板、１０Ｍ…マザー基板、１０Ｄ…アレイ表示部、１０Ｅ…外部領域、２０…対向基板、３０…接続部、４０…スイッチング回路、４２…スイッチング素子。

Claims

マトリクス状に配置された複数の表示画素からなる表示部を有する表示装置であって、
前記表示部の一部となるアレイ表示部と、前記アレイ表示部を囲む周辺部とを備えたアレイ基板と、を備え、
前記周辺部は、前記表示部を駆動する駆動手段と、前記駆動手段に信号を供給する外部信号源が接続される接続部と、複数のスイッチング素子を備えたスイッチング回路と、検査用パッド群と、を備え、
前記接続部は、少なくとも前記複数の表示画素の列数に対応する複数の接続端子を備え、
前記スイッチング回路は、前記複数の接続端子と同数のスイッチング素子を備え、
前記検査用パッド群は、前記複数の接続端子数よりも少ない複数の検査用パッドを備えている表示装置。
アレイ表示部と、前記アレイ表示部を囲む周辺部と、を含み、割断によりアレイ基板となるアレイ領域を複数備えるマザー基板であって、
前記マザー基板は、前記周辺部に配置され外部信号源が接続される接続部と、前記アレイ表示部に検査信号を供給するための検査用パッド群と、複数のスイッチング素子を備えたスイッチング回路と、を備え、
前記接続部は複数の接続端子を備え、
前記検査用パッド群は複数の検査用パッドを備え、
前記複数のスイッチング素子は、２以上の接続端子と１つの前記検査用パッドとの接続を切り替えるように配置されているマザー基板。
複数の前記アレイ領域は、互いに間隔を置いて配置され、
前記検査用パッド群および前記スイッチング回路は前記アレイ領域の外に配置されている請求項２記載のマザー基板。
複数の前記アレイ領域は、並んで配置された第１アレイ領域と第２アレイ領域とを備え、
前記第１アレイ領域に配置された前記接続部に接続された、前記スイッチング回路および、前記スイッチング回路を介して前記接続部に接続された前記検査用パッド群は、前記第２アレイ領域の周辺部に配置されている請求項２記載のマザー基板。
複数の前記アレイ領域は、並んで配置された第１アレイ領域と第２アレイ領域とを備え、
前記検査用パッド群は、前記第１アレイ領域の周辺部に配置されているとともに、１以上の前記検査用パッドを含む第１パッド群および第２パッド群を備え、
前記第１アレイ領域に配置された前記接続部に接続された、前記スイッチング回路は、前記第２アレイ領域の周辺部に配置され、
前記接続部の複数の接続端子が並ぶ方向において、前記接続部は、前記第１パッド群と前記第２パッド群との間に配置されている請求項２記載のマザー基板。