KR200458562Y1 - 필름 시트 형 프로브를 가진 액정 패널 테스트 프로브 장치 - Google Patents

필름 시트 형 프로브를 가진 액정 패널 테스트 프로브 장치 Download PDF

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Abstract

테스트 프로브 장치를 개시한다. 장치는 저면 선단에 경사면을 가진 프로브 블록과, 일단에 액정 패널의 신호단자들에 직접 접촉되는 복수의 프로브 단자들이 형성되고, 타단에 테스트 신호를 입력하기 위한 복수의 입력단자들을 구비하고, 복수의 프로브 단자들이 형성된 일단이 프로브 블록의 경사면 선단에 대응되게 설치되는 프로브 시트와, 프로브 블록의 경사면 선단부를 제외하고 나머지 저면과 측면을 덮는 커버를 가진다. 따라서 프로브 시트의 프로그 단자의 뾰족한 에지가 액정 패널의 신호 단자에 직접 접촉되므로 접촉 특성이 양호하여 테스트 신뢰성을 향상시킬 수 있다.

Description

필름 시트 형 프로브를 가진 액정 패널 테스트 프로브 장치 {LCD Pannel Test Probe apparatus having Film Sheet type - Probe}
본 고안은 테스트 프로브 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 LCD(액정표시장치)의 제조 과정에서 제조된 액정패널의 불량여부를 검사하기 위하여 필름 시트형 프로브를 가진 테스트 프로브 장치에 관한 것이다.
LCD는 패널 가장자리 부분에 전기적 신호(영상신호, 동기신호, 색상신호 등)가 인가되도록 하는 수 십 내지 수 백 개의 신호단자들이 고밀도로 배치되도록 하고 있다. 화면 해상도가 높아질 수록 이들 신호단자들의 패턴 사이즈 및 각 단자들 사이의 간격은 수백 마이크로미터에서 수십 마이크로미터로 더욱 더 미세해지고 있다.
LCD 패널의 생산단계에서 최종 모듈 작업 전에 패널이 정상적으로 제작되었는지를 검사하기 위해 점등 검사를 하게 된다. 이는 LCD 패널이 정상적으로 제작되었는지를 검사하는 공정으로 전기적인 신호를 LCD 패널의 신호단자에 인가하여 주는 탐침과 이를 지지하는 지지도구가 필요하게 되는 데 이 탐침 부위를 테스트 프로브 유니트라 한다. 테스트 프로브 유니트는 탐침 형상에 따라 크게 니들형과 필 름 시트형으로 구분된다.
종래의 니들형 테스트 프로브 유니트는 프로브 마운트에 고정되는 프로브 블록과 액정패널의 신호단자에 접촉되는 탐침부재와, 탐침부재와 전기적으로 접속되는 구동필름부재와, 플랙시블 접속부재를 포함한다. 따라서, 테스트 제어부에서 제공된 전기적 신호는 플랙시블 접속부재-구동필름부재-탐침부재를 통하여 액정패널의 신호단자에 인가된다.
탐침부재는 초기에는 수백 마이크로미터의 두께를 가진 수십 개의 금속 탐침들을 수십 내지 수백 마이크로 미터 간격으로 배열하는 구조로 형성되었다. 이와 같은 금속 탐침구조는 액정 화면의 해상도가 높아질수록 고정밀의 미세 가공이 요구되므로 가공비용이 상승되어 테스트 장비 값을 상승시키는 주요 원인 이었다.
등록특허 제586007호, 제720378호, 공개특허 제2006-89968호, 제2007-51246호 등에서는 고가의 금속 탐침을 없애고, 구동 필름 부재에 형성된 신호단자들을 직접 액정 패널의 신호단자들과 접촉시키는 프로브 탐침으로 사용하는 필름 시트형 테스트 프로브 장치를 개시한다.
이들 특허들은 테스트 제어부와 액정 패널의 신호단자 사이의 전송 라인이 짧아져 신호의 노이즈를 감소시켜 검사 오류를 방지할 수 있고, 테스트 프로브 장치의 구성부품을 감소시켜서 테스트 장비 값을 다운시킬 수 있는 장점이 있다.
그러나 종래의 필름형 탐침 방식들은 필름에 인쇄회로기판 방식으로 형성된 단자패턴들을 프로브 탐침으로 사용함에 있어서 프로브 블록의 저면 수평면에 필름을 접착시킨 구조를 사용하므로 단자들 간의 수직 오차나 먼지 등에 의한 단자면의 오염 등으로 여전히 접속상태가 불안정하여 라인 결함과 프로빙 누락 중 어느 것에 의한 불량인지의 판별이 불명확하여 검사의 신뢰성이 낮은 문제점이 지적되고 있다.
따라서 본 고안의 목적은 프로브 블록의 저면 선단을 경사면으로 형성함으로써 필름에 형성된 프로브 단자들의 에지가 액정 패널의 신호단자들에 접촉되게 하여 프로브 단자들의 수직 오차에 의한 접촉 불량이나 먼지 등의 오염원에 의한 접촉 불량 등을 줄일 수 있어서 보다 정확한 검사가 가능하므로 검사 신뢰성을 향상시킬 수 있는 테스트 프로브 장치를 제공하는 데 있다.
본 고안의 다른 목적은 프로브 단자들과 액정 패널 신호단자들 사이의 얼라인이 용이한 테스트 프로브 장치를 제공하는 데 있다.
본 고안의 또 다른 목적은 프로브 단자들의 먼지 등으로부터의 오염을 감소시킬 수 있는 테스트 프로브 장치를 제공하는 데 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 고안의 장치는 저면 선단에 경사면을 가진 프로브 블록과, 일단에 액정 패널의 신호단자들에 직접 접촉되는 복수의 프로브 단자들이 형성되고, 타단에 테스트 신호를 입력하기 위한 복수의 입력단자들을 구비하고, 복수의 프로브 단자들이 형성된 일단이 프로브 블록의 경사면 선단에 대응되게 설치되는 프로브 시트와, 프로브 블록의 경사면 선단부를 제외하고 나머지 저면과 측면을 덮는 커버를 가진 것을 특징으로 한다.
또한 테스트 프로브 장치는 프로브 시트와 프로브 블록의 경사면 사이에 완충 시트를 더 구비하고, 복수의 프로브 단자들이 형성된 접촉면에 먼지 오염을 방 지하기 위한 코팅층이 형성된 것이 바람직하다.
또한 테스트 프로브 장치는 프로브 시트 선단 양측에 얼라인 가이드 홈이 형성된 것이 바람직하다.
본 고안의 일 실시예에 따른 테스트 프로브 장치는 필름 시트에 형성된 프로브 단자들의 에지가 액정 패널의 신호 단자들에 직접 접촉되므로 프로빙 누락에 의한 오검사를 줄일 수 있어서 검사 신뢰성을 향상시킬 수 있다. 또한 프로브 단자들의 접촉부를 제외한 나머지 부분들은 코팅하여 먼지의 접촉을 차단할 수 있으므로 먼지 등의 오염으로 인한 검사 불량을 방지할 수 있다. 그리고 양 측에는 얼라인 가이드 홈이 형성되어 있으므로 얼라인을 용이하게 한다. 또한 완충시트가 장착되어 단자들 사이의 수직 오차로 인한 접촉 불량을 줄일 수 있다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 고안을 보다 상세하게 설명하고자 한다. 본 고안은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 본문에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 고안을 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 고안의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.
도 1은 본 고안에 의한 필름 시트형 프로브를 가진 테스트 프로브 장치의 바람직한 일 실시예의 사시도이고, 도 2는 도 1의 측면도이고, 도 3은 도 2의 A 부분 의 확대도이고, 도 4는 도 1의 정면도이고, 도 5는 도 1의 저면도이다.
도면을 참조하면 본 고안에 따른 프로브 장치(100)는 프로브 블록(110), 프로브 시트(120), 커버(130), 접촉시트(140)를 포함한다.
프로브 블록(110)은 상부 블록(112)과 하부 블록(114)을 포함한다. 상부 블록(112)은 상면에 고정나사 구멍(112a)과 가이드 홈(112b)이 형성되어 프로브 마운트에 고정나사로 고정된다. 하부 블록(114)은 상부 블록에 결합되고 저면(114a)과 정면(114b)은 경사면을 이룬다. 저면(114a)과 정면(114b)은 서로 만나는 모서리에서 예각을 이룬다. 즉 정면(114b)은 가상 수직선을 기준으로 마이너스 방향(시계방향)으로 소정 각도 예컨대 2~15°정도 기울어진 경사면을 이루고 저면(114a)은 가상 수평선을 기준으로 플러스 방향(반시계방향)으로 소정 각도 예컨대 5~20° 정도 기울어진 경사면을 이룬다.
하부 블록(114)의 저면(114a) 선단부 경사면에는 프로브 시트(120)가 접합된다. 또한 하부 블록(114)의 저면과 양 측면은 커버(130)에 의해 감싸여진다. 커버(130)는 양측판이 체결나사(132)에 의해 하부 블록(114)의 양측면에 체결된다.
프로브 시트(120)는 통상의 프로브 유니트의 구동 집적회로(미도시)가 실장되는 플렉시블 회로기판으로 구동 집적회로를 중심으로 일측에는 구동 집적회로의 출력단자들과 연결되는 복수의 프로브 단자 배선들이 일정 간격으로 형성되고 타측에는 구동 집적회로의 입력단자들과 연결되는 복수의 입력 단자 배선들이 일정 간격으로 형성된다.
접촉 시트(140)는 플렉시블 인쇄회로기판(FPC) 필름 시트로 형성되고 검사 장치의 제어부와 프로브 시트(120) 사이에 테스트 신호를 연결한다.
커버(130)는 프로브 블록(110) 저면에서 프로브 시트(120)과 접촉시트(140)의 연결부를 보호하기 위한 것이다.
프로브 시트(120)는 완충 시트(122), 절연시트(124), 코팅층(126)을 포함한다. 절연시트(124)에는 프로브 단자들로 제공되는 도전 전극층(124a)이 일정 간격으로 복수개 배열된다.
완충 시트(122)는 프로브 단자(124a) 접촉시에 접촉 압력의 일부를 흡수하고 접촉 압력에 제거되면 원래의 두께로 복원되는 탄성 특성을 가진다. 따라서 접촉부의 각 단자들이 서로 다른 수직 오차를 가지더라도 완충 시트(122)에 의해 이들 오차를 흡수하여 접촉불량을 완화시킨다. 완층 시트(122)는 절연시트(124)의 사이즈 보다 크게 제작되어 절연시트 에지로부터 일정 간격의 얼라인 공간을 형성한다. 따라서 절연시트(124)의 좌우 양측에서는 얼라인 가이드 홈(128)을 형성하게 된다. (검토요망)
절연시트(124)는 폴리 아미드와 같은 통상적인 FPC의 베이스로 형성되고 그 위에 통상의 인쇄회로패턴 형성기술로 복수의 프로브 단자들이 형성된다.
완층시트(122)의 선단은 경사면(114a)의 선단에 얼라인되게 저면에 접착되고 완충시트(122)에 얼라인 간격을 두고 절연시트(124)가 접착된다.
절연시트(124)의 선단부의 접촉부 간격(d)을 제외하고 나머지 배선영역들은 코팅층(126)으로 코팅된다. 코팅층(126)은 완충시트(122)와 달리 딱딱한 재질로 구성되어 먼지 등으로 오염되는 것을 방지할 뿐만 아니라 접촉부가 접촉시 일률적으 로 동일 수평면을 이루면서 접촉되게 한다.
절연시트(124)의 프로브 단자들의 수는 액정 표시 장치의 TAB IC 블록에 해당하는 패드 수와 동일하다. 즉, SXGA(1280x1024의 해상도)의 경우에는 3840개의 패드가 형성되어 있고, TAB IC는 10개가 부착되므로, TAB IC 블록에 해당하는 패드 수는 384개가 된다. 따라서, 384개의 프로브로 단자들을 가진다.
이와 같이 구성된 본 고안의 프로브 장치는 프로브 블록(110)의 저면이 경사면을 이루고 이 경사면에 필름 시트 형 프로브 단자들이 접착된 구조를 가지므로 프로브 단자의 선단 에지가 액정패널의 신호단자의 접촉면에 접촉된다. 따라서 접촉이 정확하고 완벽하게 이루어지므로 접촉불량에 의한 검사 오류를 방지할 수 있다.
상술한 바와 같이 본 고안은 액정 패널의 생산라인에서 패널의 제조불량 검사시에 프로빙 불량을 현저하게 줄일 수 있으므로 검사 신뢰성을 향상시키고 검사 장비의 제작비용을 절감시킬 수 있어서 액정 패널의 생산원가를 다운시킬 수 있다. 또한 프로브 시트만 교체하면 다양한 제품군에 대한 검사가 가능하므로 검사 장비의 호환성을 향상시킨다.
도 1은 본 고안에 의한 필름 시트형 프로브를 가진 테스트 프로브 장치의 바람직한 일 실시예의 사시도.
도 2는 도 1의 측면도.
도 3은 도 2의 A 부분의 확대도.
도 4는 도 1의 정면도.
도 5는 도 1의 저면도.

Claims (4)

  1. 프로브 마운트에 결합되는 상부블록(112) 및 정면(114b)은 상기 상부블록(112)의 저면 선단으로부터 하방으로 갈수록 전방으로 돌출되는 경사면을 이루고 저면(114a)은 수평면에서 전방으로 갈수록 하방으로 돌출되는 경사면을 이루어 서로 만나는 모서리가 예각을 형성하는 하부블록(114)을 포함하는 프로브 블록(110);
    상기 하부블록(114)의 저면에 에지가 얼라인되게 접착된 완충시트(122)와, 상기 완충시트(122)의 저면 선단 및 좌우측 에지에서 얼라인 가이드 홈(128) 간격을 두고 접착되고, 구동 집적회로를 중심으로 일측에는 구동 집적회로의 출력단자들과 연결되는 복수의 프로브 단자 배선들이 일정 간격으로 형성되고 타측에는 구동 집적회로의 입력단자들과 연결되는 복수의 입력 단자 배선들이 일정 간격으로 형성되고, 상기 복수의 프로브 단자 배선들이 일정 간격으로 형성된 일측단이 상기 하부블록(114)의 저면 선단에 대응하도록 접착된 절연시트(124)와, 상기 절연시트(124)의 선단부의 접촉부 간격(d)을 제외하고 나머지 배선영역들을 덮는 코팅층(126)을 구비한 프로브 시트(120); 및
    상기 하부블록(114) 저면 경사면 선단부를 제외하고 나머지 저면과 측면을 덮도록 상기 하부블록(114)에 고정된 커버(130)를 가진 것을 특징으로 하는 필름 시트형 테스트 프로브 장치.
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