KR101449728B1 - 엘씨디 패널 테스트용 베이스 필름, 이를 포함하는 프로브 블록 및 프로브 유닛 - Google Patents

Abstract

본 발명은 전단부에 형성된 엘씨디 컨택단자모듈과, 상기 엘씨디 컨택단자모듈내 각 단자와 배선으로 연결되고 프로브 베이스의 입력단자와 전기적 접촉을 이루게 되는 프로브 베이스 컨택단자모듈이 적어도 1이상 형성된 엘씨디 테스트용 베이스 필름. 이를 포함하는 프로브블록, 및 프로브유닛을 제공한다.

Description

엘씨디 패널 테스트용 베이스 필름, 이를 포함하는 프로브 블록 및 프로브 유닛{BASE FILM FOR LCD PANEL TEST, PROBE BLOCK, PROBE UNIT COMPRISING THE SAME}

본 발명은 엘씨디(LCD) 테스트용 베이스 필름, 이를 포함하는 프로브 블록 및 프로브 유닛에 관한 것으로, 보다 상세하게는 기존의 필름부와 FPCB(Flexible printed circuit board)부를 연결하는 글래스(glass) 중계기판이 요구되지 않아 컨택 포인트를 획기적으로 줄이면서 고속의 신호전송이 가능하고, 미세전자기계시스템(MEMS)을 이용하여 미세피치의 구현이 가능할 뿐 아니라 제작이 용이하며, 필요에 따라 엘씨디 컨택필름만을 따로 분리하여 교체할 수 있도록 하여 수리가 간편한 효과를 제공하는 엘씨디 테스트용 베이스 필름, 이를 포함하는 프로브 블록, 및 프로브 유닛에 관한 것이다.

일반적으로, 액정 디스플레이를 제조하는 공정 중에는 액정 디스플레이 패널의 양품을 선별하는 검사 공정이 포함된다.

상기 검사 공정에서 양품으로 판정된 패널에는 구동 모듈이 부착된다. 상기 검사 공정은 상기 구동 모듈이 부착되는 부분에 전기적 신호를 전송하여 패널의 동작 상태를 모니터링 하는 공정이고, 이때, 패널과 전기적으로 접속되는 프로브 유닛이 설치된다.

도 1은 종래 상기 프로브 유닛을 구성하는 프로브 블록의 일예로써, 엘씨디 패널(1)의 출력단자(2)가 필름부(4)의 전단에 형성된 컨택단자(3)와 접촉되고, 상기 필름부(4)의 후단은 글래스 중계기판(5)의 입력단자와 접촉된다.

상기 글래스 중계기판(5)의 출력단자는 상기 입력단자 보다는 큰 피치를 갖고, 후단의 연성회로기판(FPCB)의 입력단자와 전기적 접촉을 이루게 된다.

이는 기존에는 필름부(4)와 FPCB부가 서로 접착될 수 없어 이들간 접착을 중계하기 위해 글래스 중계기판이 반드시 요구되어 왔지만, 부품간 컨택 포인트(contact point)가 많이 존재함에 따라 전기신호의 전송에 오류가 발생될 확률이 높아지고 엘씨디 패널(1)을 검사하는데 있어서 많은 검사오류가 발생되는 문제점이 있다.

더욱이 필름부(4)를 교체하기 위해서는 글래스 중계기판 및 연성회로기판 모두를 한꺼 번에 교체해야 하는 부담도 있어 비경제적이라는 지적도 있어왔다.

본 발명은 상기한 바와 같은 종래기술이 가지는 문제를 해결하기 위해 안출된 것으로, 그 목적은 기존의 필름부와 FPC부를 연결하는 글래스 중계기판이 요구되지 않아 컨택 포인트를 획기적으로 줄이면서 고속의 신호전송이 가능하고, 미세전자기계시스템을 이용하여 미세피치의 구현이 가능할 뿐 아니라 제작이 용이하며, 필요에 따라 엘씨디 컨택단자모듈만을 따로 분리하여 교체할 수 있도록 하여 수리가 간편한 효과를 제공하는 엘씨디 테스트용 베이스 필름, 이를 포함하는 프로브 블록, 및 프로브 유닛을 제공함에 있다.

상기한 바와 같은 본 발명의 기술적 과제는 다음과 같은 수단에 의해 달성되어진다.

(1) 전단부에 형성된 엘씨디 컨택단자모듈과, 상기 엘씨디 컨택단자모듈내 각 단자와 배선으로 연결되고 프로브 베이스의 입력단자와 전기적 접촉을 이루게 되는 프로브 베이스 컨택단자모듈이 적어도 1이상 형성된 엘씨디 테스트용 베이스 필름.

(2) 제 1항에 있어서,

상기 엘씨디 컨택단자모듈은 분리가능하도록 전단부에 부착되어진 것을 특징으로 하는 엘씨디 테스트용 베이스 필름.

(3) 제 1항에 있어서,

상기 프로브 베이스 컨택모듈은 상기 엘씨디 컨택단자모듈의 후단에 적어도 2이상 일정간격으로 배치되며, 각 프로브 베이스 컨택단자모듈마다 일정간격으로 형성된 컨택단자간 피치가 상이한 것을 특징으로 하는 엘씨디 테스트용 베이스 필름.

(4) 제 1항에 있어서,

상기 엘씨디 컨택단자모듈은 필름 상부에 형성된 상부패드, 상기 필름 하부에 형성된 하부패드를 포함하고, 상기 상부패드와 하부패드는 필름에 형성된 비아홀을 통해 전기적 접촉을 이루는 컨택필름인 것을 특징으로 하는 엘씨디 테스트용 베이스 필름.

(5) 제 4항에 있어서,

상기 상부패드는 적어도 2이상의 하부패드와 비아홀을 통해 전기적으로 매칭되어지는 것을 특징으로 하는 엘씨디 테스트용 베이스 필름.

(6) 제 4항에 있어서,

상기 상부패드는 적어도 2이상이 하나의 하부패드와 비아홀을 통해 전기적으로 매칭되어지는 것을 특징으로 하는 엘씨디 테스트용 베이스 필름.

(7) 제 1항 내지 제 6항 중 선택된 어느 한 항의 엘씨디 테스트용 베이스 필름이 장착된 프로브 블록.

(8) 제 7항의 프로브 블록이 머뉴플레이터에 부착되고, 상기 프로브 블록을 구성하는 엘씨디 테스트용 베이스 필름이 프로브 베이스와 전기적 접촉을 이루도록 결합된 것을 특징으로 하는 엘씨디 테스트용 프로브 유닛.

상기와 같이 본 발명에 의하면, 기존의 필름부와 FPCB를 연결하는 글라스 중계기판이 요구되지 않아 컨택포인트를 획기적으로 줄이면서 고속의 신호전송이 가능하고, 미세전자기계시스템을 이용하여 미세피치의 구현이 가능할 뿐 아니라 제작이 용이하며, 필요에 따라 엘씨디 컨택단자모듈만을 따로 분리하여 교체할 수 있도록 하여 수리가 간편한 효과를 제공한다.

도 1은 종래기술에 따른 엘씨디 패널 테스트용 프로브 블록의 구성도이다.
도 2는 본 발명에 따른 엘씨디 패널 테스트용 프로브 블록의 구성도이다.
도 3 및 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 베이스 필름의 구현예이다.
도 5는 본 발명에 따른 엘씨디 패널 테스트용 프로브 블록을 포함하는 프로브유닛의 개략적인 구성도이다.
도 6은 본 발명에 따른 컨택필름의 다양한 구현예이다.

본 발명은 전단부에 형성된 엘씨디 컨택단자모듈과, 상기 엘씨디 컨택단자모듈내 각 단자와 배선으로 연결되고 프로브 베이스의 입력단자와 전기적 접촉을 이루게 되는 프로브 베이스 컨택단자모듈이 적어도 1이상 형성된 엘씨디 테스트용 베이스 필름, 프로브 블록 및 프로브유닛을 제공한다.

이하 본 발명의 내용을 도면을 참조하여 보다 상세하게 설명하면 다음과 같다.

도 2는 본 발명의 실시예에 따른 베이스 필름(40)이 장착된 프로브 블록(50)을 보여주며, 엘씨디 테스트용 베이스필름(40)은 상기 프로브 블록(50)의 하부에 부착되어진다.

본 발명에서 상기 엘씨디 테스트용 베이스 필름(40)은 엘씨디 컨택단자모듈(30)이 전단에 형성되어 있어 테스트 과정에서 엘씨디 패널(10)의 출력패드(20)와 전기적인 접촉을 이루도록 되어 있다.

도 3은 본 발명의 실시예에 따른 엘씨디 테스트용 베이스 필름(40)의 구성도로써, 전단부에 엘씨디 컨택단자모듈(30)이 형성되고, 그 하부에는 적어도 1개 이상의 베이스 컨택단자모듈(42)이 일정간격을 두고 배치되어 있다.

상기 엘씨디 컨택단자모듈(30) 및 베이스 컨택단자모듈(42)은 여러 개의 컨택단자가 일정한 피치를 갖도록 배치되며, 엘씨디 컨택단자모듈(30)의 단자간 피치 보다 베이스 컨택단자모듈(42)의 단자간 피치가 크게 형성된다.

상기 엘씨디 컨택단자모듈(30)은 테스트 대상인 엘씨디 패널(10)의 출력패드(20)와 전기적으로 접촉되는 부위이고, 베이스 컨택단자모듈(42)은 프로브 베이스(70)의 입력단자와 전기적으로 접촉을 이루게 되는 부위이다.

상기 엘씨디 컨택단자모듈(30)과 베이스 컨택단자모듈(42)은 메인배선(40a)과 상기 메인배선(40a)으로부터 빠져나오는 서브배선(미도시)을 통해 전기적으로 도통되어진다.

상기 베이스 컨택단자모듈(42)은 베이스 필름(40) 상에 적어도 1개 이상 형성되며, 각 베이스 컨택단자모듈(42)의 피치는 동일하거나 상이할 수 있다.

상기 본 발명에 따른 베이스 필름(40) 및 그 위에 형성된 각 컨택단자모듈 및 배선은 미세전자기계시스템(MEMS)을 이용하여 구현되어질 수 있다.

도 4에 도시한 바와 같이, 엘씨디 컨택단자모듈(30)은 필름형태(이하, 「엘씨디 컨택필름」이라 하고 부호 31을 부여한다)로 별도로 제작되어 베이스필름(40b) 상에서 분리가능하게 구현되는 것이 바람직하다.

따라서, 이와 같은 구성에 의하면 기존에 사용 중인 엘씨디 컨택필름(31)이 오작동 내지 고장으로 인해 교체가 필요한 경우 이를 떼어내고, 그 자리에 새로운 엘씨디 컨택필름(31)을 교체 장착하는 것이 가능해진다.

이때 엘씨디 컨택필름(31)과 베이스 필름(40)간 전기적 결합은 도 6에 도시한 바와 같이 다양한 형태로 구현될 수 있다.

즉, 컨택필름(31)상에 상부패드(31a)를 형성하고, 컨택필름(31)의 하부에 하부패드(31b)를 형성하며, 상부패드(31a)와 하부패드(31b)간 연결을 위해 컨택필름(31)에 비아홀(31c)을 형성한다.

이때, 하나의 상부패드(31a)가 하나의 하부패드(31b)에 전기적으로 매칭되거나, 이와는 달리 필요에 따라 적어도 두 개 이상의 상부패드(31a)가 하부패드(31b) 하나에 매칭되어지거나, 반대로 하나의 상부패드(31a)가 적어도 2개 이상의 하부패드(31b)에 매칭되어질 수도 있다.

상부패드(31a)는 베이스 필름(40)의 전단부에 형성된 범프와 접촉되고, 하부패드(31b)는 엘씨디 패널(10)의 출력패드(20)에 접촉되어짐으로써, 엘씨디 패널(10)의 출력신호가 컨택필름(31)을 매개하여 베이스 필름(40)으로 전송되어질 수 있다.

도 5는 본 발명에 따른 베이스 필름(40)이 장착된 프로브 블록(50)을 포함하는 프로브 유닛의 개략적인 구성도이다.

상기 베이스 필름(40)은 머뉴플레이터(M/P)(60) 하단에 장착된 프로브 블록(50)의 하부에 부착되어 전단의 엘씨디 컨택단자모듈(30)은 엘씨디 패널(10)의 출력패드(20)와 접촉을 이루게 되고, 베이스 필름(40)의 베이스 컨택단자모듈(42)은 프로브 베이스(70)의 입력단자에 전기적으로 접촉을 이루게 되어 엘씨디 패널(10)의 테스트가 수행되어진다.

상기 본 발명의 구성 중 프로브 베이스, 머뉴플레이터(M/P)는 종래 일반적인 장치 구성에 해당하는 것으로, 여기서는 이에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.

상기한 바와 같이 본 발명에 따른 베이스 필름(40)은 기존의 필름부와 FPC부를 연결하는 글래스(glass) 중계기판이 요구되지 않아 컨택포인트를 획기적으로 줄이면서 잡음간섭을 받지 않아 고속의 신호전송이 가능하고, 미세전자기계시스템을 이용하여 미세피치의 구현이 가능할 뿐 아니라 제작이 용이하며, 필요에 따라 엘씨디 컨택단자모듈만을 따로 분리하여 교체할 수 있도록 하여 수리가 간편한 효과를 제공한다.

상기와 같이, 본 발명의 바람직한 실시 예를 참조하여 설명하였지만 해당 기술 분야의 숙련된 당업자라면 하기의 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.

10: 엘씨디 패널
20: 출력패드
30: 엘씨디 컨택단자모듈
40: 베이스 필름
40a: 메인배선
42: 베이스 컨택단자모듈
50: 프로브블록
60: 머뉴플레이터(M/P)
70: 프로브 베이스

Claims (8)

1. 전단부에 형성된 엘씨디 컨택단자모듈과, 상기 엘씨디 컨택단자모듈내 각 단자와 배선으로 연결되고 프로브 베이스의 입력단자와 전기적 접촉을 이루게 되는 프로브 베이스 컨택단자모듈이 적어도 1이상 형성되되,
   상기 엘씨디 컨택단자모듈은 분리가능하도록 전단부에 부착되어진 것으로, 필름 상부에 형성된 상부패드, 상기 필름 하부에 형성된 하부패드를 포함하고, 상기 상부패드와 하부패드는 필름에 형성된 비아홀을 통해 전기적 접촉을 이루는 컨택필름인 것을 특징으로 하는 엘씨디 테스트용 베이스 필름.
2. 삭제
3. 제 1항에 있어서,
   상기 프로브 베이스 컨택모듈은 상기 엘씨디 컨택단자모듈의 후단에 적어도 2이상 일정간격으로 배치되며, 각 프로브 베이스 컨택단자모듈마다 일정간격으로 형성된 컨택단자간 피치가 상이한 것을 특징으로 하는 엘씨디 테스트용 베이스필름.
   
4. 삭제
5. 제 1항에 있어서,
   상기 상부패드는 적어도 2이상의 하부패드와 비아홀을 통해 전기적으로 매칭되어지는 것을 특징으로 하는 엘씨디 테스트용 베이스 필름.
   
6. 제 1항에 있어서,
   상기 상부패드는 적어도 2이상이 하나의 하부패드와 비아홀을 통해 전기적으로 매칭되어지는 것을 특징으로 하는 엘씨디 테스트용 베이스 필름.
   
7. 제 1항의 엘씨디 테스트용 베이스 필름이 장착된 프로브 블록.
   
8. 제 7항의 프로브 블록이 머뉴플레이터에 부착되고, 상기 프로브 블록을 구성하는 엘씨디 테스트용 베이스 필름이 프로브 베이스와 전기적 접촉을 이루도록 결합된 것을 특징으로 하는 엘씨디 테스트용 프로브 유닛.
   
   

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