KR102241720B1

KR102241720B1 - 표시패널 및 이를 포함하는 표시장치

Info

Publication number: KR102241720B1
Application number: KR1020150001394A
Authority: KR
Inventors: 오윤미; 김학수
Original assignee: 엘지디스플레이 주식회사
Priority date: 2015-01-06
Filing date: 2015-01-06
Publication date: 2021-04-16
Also published as: KR20160084746A

Abstract

동작검사를 위한 테스트패드가 형성되는 영역을 없애 베젤영역의 크기를 감소시켜 내로우베젤을 구현할 수 있는 표시패널이 제공된다. 표시패널은 표시영역의 적어도 일측에 구비된 게이트구동회로에 테스트신호를 전송하는 하나 이상의 테스트패드를 포함한다.

Description

표시패널 및 이를 포함하는 표시장치{Display panel and display device including the same}

본 발명은 표시장치의 표시패널에 관한 것으로, 특히 표시패널의 동작검사를 위해 추가적인 테스트패드를 구성하지 않아 내로우베젤(narrow bezel)을 구현할 수 있는 표시패널 및 이를 포함하는 표시장치에 관한 것이다.

액정표시장치(Liquid Crystal Display Device; LCD)는 다수의 액정셀들이 매트릭스 형태로 배열된 액정패널, 액정패널에 광을 공급하는 백라이트유닛 및 액정패널과 백라이트유닛을 구동하기 위한 구동회로를 포함하여 구성된다. 이러한, 액정표시장치는 액정셀 별로 화소전극과 공통전극 사이에 형성된 전압에 따라 액정의 배열 상태가 변화되고, 액정의 배열을 통해 백라이트 유닛으로부터 공급되는 광의 투과율을 조절함으로써 화상을 표시한다.

도 1은 종래의 액정표시장치를 나타내는 도면이고, 도 2는 도 1의 A영역을 확대하여 나타낸 도면이다.

도 1 및 도 2를 참조하면, 종래의 액정표시장치(1)는 액정패널(10), 게이트구동회로(20), 데이터구동회로(30) 및 연성인쇄회로기판(40)을 포함한다. 또, 도면에 도시되지는 않았으나, 액정패널(10)의 하부에는 액정패널(10)에 광을 제공하는 백라이트 유닛(미도시)이 배치된다. 이러한 종래의 액정표시장치(1)는 모바일(mobile)용 표시장치로, 액정패널(10) 상에 게이트구동회로(20) 및 데이터구동회로(30)가 배치된다.

게이트구동회로(20)는 게이트 인 패널(Gate In Panel; GIP) 방식으로 구성되어 액정패널(10)의 양측의 비표시영역(N/A)에 배치된다. 데이터구동회로(30)는 칩(chip) 형태로 구성되어 액정패널(10)의 하부의 비표시영역에 배치된다. 연성인쇄회로기판(40)은 외부회로(미도시)와 연결되어 게이트구동회로(20) 및 데이터구동회로(30)에 제어신호 등을 전송하며, 액정패널(10)의 하부의 비표시영역에 배치된다.

도 2에 도시된 바와 같이, 액정패널(10)의 하부 비표시영역(N/A)에는 구동회로영역(11) 및 회로기판영역(12)이 구비된다.

구동회로영역(11)에는 데이터구동회로(30)가 실장되기 위한 다수의 패드, 예컨대 다수의 입력패드(11a) 및 다수의 출력패드(11b)가 구성된다. 회로기판영역(12)에는 연성인쇄회로기판(40)이 실장되기 위한 다수의 패드, 예컨대 다수의 신호패드(12a)가 구성된다.

구동회로영역(11)의 다수의 입력패드(11a)는 전송라인(15d)을 통해 회로기판영역(12)의 다수의 신호패드(12a)와 연결된다. 다수의 입력패드(11a)는 연성인쇄회로기판(40)을 통해 제공되는 제어신호 및 영상데이터를 데이터구동회로(30)로 전달한다.

구동회로영역(11)의 다수의 출력패드(11b)는 게이트신호라인(15b)을 통해 게이트구동회로(20)와 연결되고, 데이터신호라인(15a)을 통해 액정패널(10)의 다수의 데이터라인(미도시)과 연결된다. 다수의 출력패드(11b)는 데이터구동회로(30)로부터 제공된 게이트제어신호를 게이트신호라인(15b)으로 출력하고, 데이터구동회로(30)에서 생성된 데이터전압을 데이터라인으로 출력한다.

상술한 종래의 액정표시장치(1)는 데이터구동회로(30) 및 연성인쇄회로기판(40)이 액정패널(10)에 실장되기 전에, 액정패널(10)에 대한 동작검사를 수행한다. 이를 위하여, 액정패널(10)에는 구동회로영역(11)과 인접되어 테스트패드영역(13)이 형성되고, 테스트패드영역(13)에 외부의 검사장치, 예컨대 오토프로브(auto probe) 검사장치의 프로브 핀과 접촉되는 다수의 테스트패드(13a)가 구성된다. 다수의 테스트패드(13a)는 테스트신호라인(15c)을 통해 게이트신호라인(15b)과 연결된다.

다수의 테스트패드(13a)는 검사장치의 프로브 핀을 통해 테스트신호를 인가받고, 이를 테스트신호라인(15c)을 통해 게이트구동회로(20)로 전송한다. 게이트구동회로(20)는 테스트신호에 따라 액정패널(10)을 동작시켜 동작검사를 수행한다.

그러나, 종래의 액정표시장치(1)에서는 검사장치의 프로브 핀 크기에 의해 프로브 핀에 접촉되는 테스트패드(13a)의 크기, 즉 패드 피치(pitch)도 커져야 한다. 이로 인하여, 액정패널(10)에서는 테스트패드영역(13)의 면적 증가에 따라 액정패널(10)의 좌/우 비표시영역(N/A)의 폭(d1)이 증가되어 액정표시장치(1)의 내로우베젤을 구현하기 어렵다.

또한, 테스트패드(13a)는 액정패널(10) 상에서 노출되어 있기 때문에, 외부에서 전기적인 충격이 가해질 경우에 테스트패드(13a) 및 테스트신호라인(15c)을 통해 액정패널(10)의 박막트랜지스터(미도시) 등과 같은 소자가 손상된다.

이를 방지하기 위하여, 종래의 액정표시장치(1)에서는 액정패널(10)의 동작검사 후, 테스트패드(13a) 상에 절연막(미도시)을 형성하는 공정을 추가로 수행하고 있으며, 이러한 추가 공정에 의해 액정표시장치(1)의 제조비용이 상승된다.

본 발명은 동작검사를 위한 테스트패드가 형성되는 영역을 없애 베젤영역의 크기를 감소시켜 내로우베젤을 구현할 수 있는 표시패널 및 이를 포함하는 표시장치를 제공하고자 하는 데 있다.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 표시패널은, 표시영역의 적어도 일측에 구비된 게이트구동회로에 테스트신호를 제공하는 하나 이상의 제1테스트패드 및 제2테스트패드를 포함한다.

제1테스트패드는 표시영역 하부의 회로기판영역에 하나 이상 배치되어 외부로부터 테스트신호가 인가된다. 제2테스트패드는 표시영역 하부의 구동회로영역에 배치되어 제1테스트패드에 연결되며, 테스트신호를 게이트구동회로로 전송한다.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시패널은, 표시영역의 적어도 일측에 구비된 게이트구동회로에 테스트신호를 제공하는 하나 이상의 전송라인을 포함한다.

표시영역 하부의 회로기판영역 및 구동회로영역에는 다수의 패드가 구비되고, 하나 이상의 전송라인은 회로기판영역의 다수의 패드 중 일부에서 구동회로영역의 다수의 패드 중 일부를 통해 테스트신호를 게이트구동회로로 전송한다.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 표시장치는, 표시패널 및 외부로부터 제공된 테스트신호에 따라 표시패널을 구동하는 게이트구동회로를 포함한다.

본 발명에 따른 표시패널은 동작검사를 위해 구성된 테스트패드 대신 구동회로영역 및 회로기판영역에 구성된 기존 패드를 이용하여 테스트신호를 제공받아 표시패널의 동작검사를 수행함으로써, 표시패널의 비표시영역의 크기를 줄여 표시장치의 내로우베젤을 구현할 수 있다.

또한, 표시패널의 동작검사 후 기존 패드들이 데이터구동회로 및 연성인쇄회로기판에 의해 덮이므로, 외부에서 인가되는 전기적 충격에 의해 표시패널의 소자가 손상되는 것을 방지할 수 있으며, 패드들을 절연시키는 추가 공정이 생략되어 표시장치의 제조비용을 절감할 수 있다.

도 1은 종래의 액정표시장치를 나타내는 도면이다.
도 2는 도 1의 A영역을 확대하여 나타낸 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 액정표시장치를 나타내는 도면이다.
도 4는 도 3의 B 부분을 확대하여 나타낸 도면이다.
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 액정표시장치의 액정패널의 일부분을 확대하여 나타낸 도면이다.
도 6은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 액정표시장치의 액정패널의 일부분을 확대하여 나타낸 도면이다.

본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명에 따른 표시패널 및 이를 포함하는 표시장치에 대해 상세히 설명한다. 설명의 편의를 위하여, 본 발명의 표시패널은 모바일용 액정표시장치의 표시패널인 것을 예로 설명하기로 한다. 그러나, 본 발명은 유기발광표시장치 등과 같은 다양한 평판표시장치에서도 적용될 수 있다.

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 액정표시장치를 나타내는 도면이고, 도 4는 도 3의 B영역을 확대하여 나타낸 도면이다.

도 3 및 도 4를 참조하면, 본 실시예의 액정표시장치(100)는 액정패널(110), 게이트구동회로(120), 데이터구동회로(200) 및 연성인쇄회로기판(Flexible Printed Circuit Board; FPCB, 250)을 포함할 수 있다.

액정패널(110)은 표시영역(A/A) 및 비표시영역(N/A)을 포함할 수 있다. 비표시영역(N/A)은 표시영역(A/A)을 둘러싸며 구성될 수 있다. 비표시영역(N/A) 중 하부, 즉 표시영역(A/A)의 하부에 구성된 비표시영역(N/A)에는 데이터구동회로(200)가 실장되는 구동회로영역(130) 및 연성인쇄회로기판(250)이 실장되는 회로기판영역(140)이 구성될 수 있다.

액정패널(110)의 표시영역(A/A)에는 다수의 게이트라인(미도시) 및 데이터라인(미도시)이 서로 교차되어 형성되고, 게이트라인과 데이터라인의 교차영역에 화소(미도시)가 형성되며, 각 화소에는 박막트랜지스터(미도시), 액정커패시터(미도시) 및 스토리지커패시터(미도시)가 형성될 수 있다.

액정패널(110)은 액정층(미도시)을 사이에 두고 서로 합착된 어레이기판(미도시) 및 컬러필터기판(미도시)을 포함할 수 있다. 그리고, 다수의 게이트라인, 다수의 데이터라인 및 화소는 액정패널(110)의 어레이기판 상에 형성될 수 있다. 여기서, 액정패널(110)의 컬러필터기판은 어레이기판보다 작은 크기로 형성되어 어레이기판과 합착될 수 있으며, 컬러필터기판에 의해 노출된 어레이기판의 일측에는 데이터구동회로(200) 및 연성인쇄회로기판(250)이 각각 실장되어 배치될 수 있다.

게이트구동회로(120)는 액정패널(110)의 양측 비표시영역(N/A)에 각각 배치될 수 있다. 게이트구동회로(120)는 액정패널(110)의 어레이기판 상에 게이트 인 패널(GIP) 방식으로 구성되며, 액정패널(110)의 다수의 게이트라인에 연결될 수 있다. 게이트구동회로(120)는 액정패널(110)의 비표시영역(N/A)에 형성된 신호라인, 예컨대 게이트신호라인(115b)을 통해 외부회로(미도시)로부터 전달된 게이트제어신호에 따라 게이트신호를 생성할 수 있다. 게이트신호는 액정패널(110)의 다수의 게이트라인에 순차적으로 출력될 수 있다.

데이터구동회로(200)는 칩(chip) 형태로 구성되어 액정패널(110)의 구동회로영역(130)에 실장될 수 있다. 데이터구동회로(200)는 연성인쇄회로기판(250)을 통해 제공된 데이터제어신호 및 영상데이터에 따라 데이터전압을 생성할 수 있다. 데이터전압은 액정패널(110)의 다수의 데이터라인에 출력될 수 있다.

연성인쇄회로기판(250)은 다수의 배선패턴(미도시)을 포함하며, 액정패널(110)의 회로기판영역(140)에 실장될 수 있다. 연성인쇄회로기판(250)은 외부회로에서 제공된 제어신호, 예컨대 게이트제어신호 및 데이터제어신호와 영상데이터를 데이터구동회로(200)에 전달할 수 있다.

액정패널(110)의 구동회로영역(130)에는 데이터구동회로(200)가 실장되는 다수의 패드, 예컨대 다수의 입력패드(131) 및 다수의 출력패드(135)가 구비될 수 있다. 또한, 액정패널(110)의 회로기판영역(140)에는 연성인쇄회로기판(250)이 실장되는 다수의 신호패드(141)가 구비될 수 있다.

여기서, 다수의 신호패드(141)는 다수의 전송라인(143)을 통해 다수의 입력패드(131)와 연결될 수 있다. 다수의 신호패드(141)는 연성인쇄회로기판(250)을 통해 인가되는 각종 신호들을 전송라인(143) 및 다수의 입력패드(131)를 통해 데이터구동회로(200)로 전달할 수 있다.

또한, 다수의 출력패드(135)는 게이트신호라인(115b) 및 데이터신호라인(115a)을 통해 게이트구동회로(120) 및 액정패널(110)의 다수의 데이터라인과 연결될 수 있다. 다수의 출력패드(135)는 데이터구동회로(200)에서 출력되는 게이트제어신호를 게이트신호라인(115b)을 통해 게이트구동회로(120)로 전달하고, 데이터구동회로(200)에서 생성된 데이터전압을 데이터신호라인(115a)을 통해 데이터라인으로 출력할 수 있다.

상술한 본 발명의 액정표시장치(100)는 액정패널(110)에 데이터구동회로(200) 및 연성인쇄회로기판(250)이 실장되기 전에 액정패널(110)의 동작검사를 실시할 수 있다. 액정패널(110)의 동작검사는 검사장치(미도시)로부터 액정패널(110)의 게이트구동회로(120)에 테스트신호를 인가하여 액정패널(110)을 동작시킴으로써 수행될 수 있다. 여기서, 테스트신호는 게이트제어신호 및 소정 계조레벨의 데이터전압일 수 있다.

상술한 액정패널(110)의 동작검사를 위하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 액정패널(110)에는 테스트신호가 인가되는 테스트패드(132, 136, 142)가 구성될 수 있다. 테스트패드(132, 136, 142)는 액정패널(110)의 구동회로영역(130) 및 회로기판영역(140) 각각에 소정 개수, 예컨대 테스트신호의 수만큼 구성될 수 있다.

다시 말해, 액정패널(110)의 구동회로영역(130)에는 다수의 입력패드(131)와 인접되어 하나 이상의 테스트입력패드(132)가 구성될 수 있다. 하나 이상의 테스트입력패드(132)는 다수의 입력패드(131) 중 최외곽에 배치된 입력패드(131)와 인접되어 입력패드(131)와 동일한 패드 피치를 갖도록 구성될 수 있다.

또한, 구동회로영역(130)에는 다수의 출력패드(135)와 인접되어 하나 이상의 테스트출력패드(136)가 구성될 수 있다. 하나 이상의 테스트출력패드(136)는 다수의 출력패드(135) 중 최외곽에 배치된 출력패드(135)와 인접되어 출력패드(135)와 동일한 패드 피치를 갖도록 구성될 수 있다.

또한, 액정패널(110)의 회로기판영역(140)에는 다수의 신호패드(141)와 인접되어 하나 이상의 테스트신호패드(142)가 구성될 수 있다. 하나 이상의 테스트신호패드(142)는 다수의 신호패드(141) 중 최외곽에 배치된 신호패드(141)와 인접되어 신호패드(141)와 동일한 패드 피치를 갖도록 구성될 수 있다.

한편, 도 4에서는 하나의 예로 테스트입력패드(132), 테스트출력패드(136) 및 테스트신호패드(142)가 각각 2개씩 구성되는 것을 도시하였으나, 이에 제한되지는 않는다.

상술한 테스트패드들, 즉 테스트입력패드(132), 테스트출력패드(136) 및 테스트신호패드(142)는 테스트라인에 의해 게이트구동회로(120)와 연결될 수 있다. 다시 말해, 테스트신호패드(142)와 테스트입력패드(132)는 제1테스트라인(116a)을 통해 연결되고, 테스트입력패드(132)와 테스트출력패드(136)는 제2테스트라인(116b)을 통해 연결되며, 테스트출력패드(136)와 게이트구동회로(120)는 제3테스트라인(116c)을 통해 연결될 수 있다. 여기서, 제3테스트라인(116c)은 게이트신호라인(115b)과 나란하게 형성될 수 있다.

이와 같이, 테스트라인에 의해 테스트패드들이 게이트구동회로(120)와 연결됨으로써, 검사장치에서 테스트신호패드(142)로 인가되는 테스트신호는 테스트신호패드(142), 제1테스트라인(116a), 테스트입력패드(132), 제2테스트라인(116b), 테스트출력패드(136) 및 제3테스트라인(116c)을 통해 게이트구동회로(120)로 전송될 수 있다. 그리고, 게이트구동회로(120)는 전송된 테스트신호에 따라 액정패널(110)을 동작시켜 동작검사를 수행할 수 있다.

한편, 테스트입력패드(132), 테스트출력패드(136) 및 테스트신호패드(142)는 액정패널(110)의 동작검사 후 데이터구동회로(200) 및 연성인쇄회로기판(250)이 실장되면, 플로팅(floating) 상태로 되거나 또는 연성인쇄회로기판(250)의 접지라인과 연결될 수 있다.

상술한 바와 같이, 본 실시예의 액정패널(110)은 구동회로영역(130) 및 회로기판영역(140)에 테스트패드, 즉 테스트입력패드(132), 테스트출력패드(136) 및 테스트신호패드(142)를 각각 구성하고, 이들을 테스트라인을 통해 게이트구동회로(120)와 연결시킴으로써, 검사장치로부터 제공되는 테스트신호를 게이트구동회로(120)로 전송할 수 있다.

이에 따라, 본 발명의 액정표시장치(100)는 종래의 액정패널 동작검사를 위한 테스트패드의 구성이 필요치 않게 되며, 이로 인해 액정패널(110)의 비표시영역(N/A)의 크기를 줄여 내로우베젤(narrow bezel)을 구현할 수 있다.

다시 말해, 본 발명의 액정표시장치(100)는 도 1에 도시된 종래의 액정표시장치(1)에서 테스트패드가 구성되는 테스트패드영역(13)이 생략되므로, 액정패널(110)의 표시영역(A/A) 좌/우의 비표시영역(N/A)의 폭(d2)이 종래의 액정패널(10)의 비표시영역(N/A) 폭(d1)보다 감소(d1>d2)될 수 있다. 이에 따라, 본 발명의 액정표시장치(100)는 종래의 액정표시장치(1)와 대비하여 내로우베젤을 구현할 수 있다.

또한, 구동회로영역(130) 및 회로기판영역(140)에 형성된 테스트패드들은 액정패널(110)의 동작검사 후 데이터구동회로(200) 및 연성인쇄회로기판(250)에 의해 덮이게 된다. 이에 따라, 외부로부터 전기적 충격이 테스트패드들에 인가되지 않아 소자의 소상을 방지할 수 있으며, 테스트패드들을 절연시키는 추가적인 공정이 필요치 않게 되어 제조비용을 절감할 수 있다.

또한, 검사장치로부터 테스트신호가 인가되는 테스트신호패드(142)를 신호패드(141)와 동일한 패드 피치로 형성함으로써, 종래의 프로브 핀 접촉방식이 아닌 COF(Chip On Film)를 이용한 접촉방식 또는 FPCB(Flexible Printed Circuit Board)를 이용한 접촉방식을 통해 검사장치와 접속되어 액정패널(110)의 동작검사를 수행할 수 있다. 여기서, 테스트신호패드(142)는 최소 50um의 패드 피치로 형성될 수 있다.

도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 액정표시장치의 액정패널의 일부분을 확대하여 나타낸 도면이다.

도 5에 도시된 액정패널(111)은 앞서 도 4를 참조하여 설명한 액정패널(110)에 비하여 구동회로영역(130) 및 회로기판영역(140)에 테스트패드가 구성되지 않은 것을 제외하고, 나머지 구성요소들이 동일하다. 이에 따라 동일부재에 대해서는 동일부호로 나타내고 그에 따른 상세한 설명은 생략한다.

도 2 및 도 5를 참조하면, 본 실시예의 액정패널(111)은 표시영역(A/A)의 하부에 구성된 비표시영역(N/A)에 구동회로영역(130) 및 회로기판영역(140)이 구성될 수 있다.

액정패널(111)의 구동회로영역(130)에는 데이터구동회로(200)가 실장되는 다수의 입력패드(131) 및 다수의 출력패드(135)가 구비될 수 있다. 또한, 액정패널(111)의 회로기판영역(140)에는 연성인쇄회로기판(250)이 실장되는 다수의 신호패드(141)가 구비될 수 있다.

다수의 신호패드(141)는 다수의 전송라인(143)을 통해 다수의 입력패드(131)와 연결될 수 있다. 다수의 신호패드(141)는 연성인쇄회로기판(250)을 통해 인가되는 각종 신호들을 전송라인(143) 및 다수의 입력패드(131)를 통해 데이터구동회로(200)로 전달할 수 있다.

다수의 출력패드(135)는 게이트신호라인(115b) 및 데이터신호라인(115a)을 통해 게이트구동회로(120) 및 액정패널(111)의 다수의 데이터라인과 연결될 수 있다. 다수의 출력패드(135)는 데이터구동회로(200)에서 출력되는 게이트제어신호를 게이트신호라인(115b)을 통해 게이트구동회로(120)로 전달하고, 데이터구동회로(200)에서 생성된 데이터전압을 데이터신호라인(115a)을 통해 데이터라인으로 출력할 수 있다.

한편, 구동회로영역(130)에 형성된 다수의 입력패드(131) 중 적어도 일부, 예컨대 최외곽의 3개의 입력패드(131)는 외부전송라인(117)을 통해 게이트신호라인(115b)과 연결될 수 있다. 여기서, 외부전송라인(117)을 통해 게이트신호라인(115b)과 연결되는 다수의 입력패드(131) 중 일부는 3개로 한정되지 않으며, 3개 이상 또는 이하가 될 수 있다.

그리고, 검사장치(미도시)에서 다수의 신호패드(141)로 테스트신호가 인가되면, 테스트신호는 전송라인(143), 3개의 입력패드(131), 외부전송라인(117) 및 게이트신호라인(115b)을 통해 게이트구동회로(120)로 전송될 수 있다. 게이트구동회로(120)는 전송된 테스트신호에 따라 액정패널(111)을 동작시켜 동작검사를 수행할 수 있다.

여기서, 외부전송라인(117)은 액정패널(111)의 동작검사 후 레이저(laser) 등에 의해 절단되어 오픈(open)될 수 있다. 이에 따라, 액정패널(111)의 동작검사 후 외부로부터 전기적 충격이 외부전송라인(117)에 인가되더라도 그 충격이 다수의 패드, 즉 입력패드(131)에 전달되지 않게 된다. 따라서, 액정패널(111)에 형성된 소자의 손상을 방지할 수 있다. 이러한 외부전송라인(117)은 액정패널(111)의 어레이기판 상에서 게이트신호라인(115b)과 서로 다른 층에 형성될 수 있다.

상술한 바와 같이, 본 실시예의 액정패널(111)은 구동회로영역(130)의 다수의 입력패드(131) 중 일부를 외부전송라인(117)을 통해 게이트신호라인(115b)과 연결되도록 구성함으로써, 검사장치로부터 제공되는 테스트신호를 게이트구동회로(120)로 전송할 수 있다.

이에 따라, 본 발명의 액정표시장치(100)는 종래의 액정패널 동작검사를 위한 테스트패드의 구성이 필요치 않게 되며, 이로 인해 비표시영역(N/A)의 크기를 줄여 내로우베젤(narrow bezel)을 구현할 수 있다.

또한, 구동회로영역(130) 및 회로기판영역(140)에 형성된 패드들은 액정패널(110)의 동작검사 후 데이터구동회로(200) 및 연성인쇄회로기판(250)에 의해 덮이게 된다. 이에 따라, 외부로부터 전기적 충격이 패드들에 인가되지 않아 소자의 손상을 방지할 수 있다.

도 6은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 액정표시장치의 액정패널의 일부분을 확대하여 나타낸 도면이다.

도 6에 도시된 액정패널(112)은 앞서 도 4 및 도 5를 참조하여 설명한 액정패널(110, 111)에 비하여 테스트패드 및 외부연결배선이 구성되지 않은 것을 제외하고, 나머지 구성요소들은 동일하다. 이에 따라 동일부재에 대해서는 동일부호로 나타내고 그에 따른 상세한 설명은 생략한다.

도 2 및 도 6을 참조하면, 본 실시예의 액정패널(112)은 표시영역(A/A)의 하부에 구성된 비표시영역(N/A)에 구동회로영역(130) 및 회로기판영역(140)이 구성될 수 있다.

액정패널(112)의 구동회로영역(130)에는 데이터구동회로(200)가 실장되는 다수의 입력패드(131) 및 다수의 출력패드(135)가 구비될 수 있다. 또한, 액정패널(112)의 회로기판영역(140)에는 연성인쇄회로기판(250)이 실장되는 다수의 신호패드(141)가 구비될 수 있다.

다수의 출력패드(135)는 게이트신호라인(115b) 및 데이터신호라인(115a)을 통해 게이트구동회로(120) 및 액정패널(112)의 다수의 데이터라인과 연결될 수 있다. 다수의 출력패드(135)는 데이터구동회로(200)에서 출력되는 게이트제어신호를 게이트신호라인(115b)을 통해 게이트구동회로(120)로 전달하고, 데이터구동회로(200)에서 생성된 데이터전압을 데이터신호라인(115a)을 통해 데이터라인으로 출력할 수 있다.

한편, 구동회로영역(130)에 형성된 다수의 입력패드(131) 중 적어도 일부, 예컨대 최외곽의 3개의 입력패드(131)는 내부전송라인(118)을 통해 다수의 출력패드(135) 중 3개의 출력패드(135)와 연결될 수 있다. 여기서, 3개의 입력패드(131)는 연성인쇄회로기판(250)으로부터 신호패드(141) 및 전송라인(143)을 통해 게이트제어신호가 전달되는 패드일 수 있다. 여기서, 내부전송라인(118)과 연결되는 다수의 입력패드(131) 및 다수의 출력패드(135)의 개수는 제한되지 않으며, 3개 이상 또는 이하가 될 수 있다.

다시 말해, 데이터구동회로(200)는 연성인쇄회로기판(250)을 통해 제공되는 신호들 중에서 게이트제어신호는 처리하지 않고, 구동회로영역(130)의 출력패드(135)를 통해 게이트신호라인(115b)에 그대로 출력한다. 이에 따라, 본 실시예의 액정패널(112)에서는 구동회로영역(130)의 다수의 패드 중에서 게이트제어신호가 인가되는 입력패드(131) 및 출력패드(135)를 내부전송라인(118)을 통해 서로 연결시킬 수 있다.

그리고, 검사장치(미도시)에서 다수의 신호패드(141)로 테스트신호가 인가되면, 테스트신호는 전송라인(143), 3개의 입력패드(131), 내부전송라인(118), 3개의 출력패드(135) 및 게이트신호라인(115b)을 통해 게이트구동회로(120)로 전송될 수 있다. 게이트구동회로(120)는 전송된 테스트신호에 따라 액정패널(111)을 동작시켜 동작검사를 수행할 수 있다.

여기서, 내부전송라인(118)은 앞서 도 5에 도시된 외부전송라인(117)과는 달리, 액정패널(112)의 동작검사가 종료된 후 절단되지 않아도 된다. 이는 앞서 설명한 바와 같이, 데이터구동회로(200)에서는 외부에서 제공되는 게이트제어신호를 처리하지 않고 그대로 게이트구동회로(120)로 출력하기 때문이다.

상술한 바와 같이, 본 실시예의 액정패널(112)은 구동회로영역(130)의 다수의 입력패드(131) 중 일부를 내부전송라인(118) 및 출력패드(135)를 통해 게이트신호라인(115b)과 연결되도록 구성함으로써, 검사장치에서 제공되는 테스트신호를 게이트구동회로(120)로 전송할 수 있다.

이에 따라, 본 발명의 액정표시장치(100)는 종래의 액정패널 동작검사를 위한 테스트패드의 구성이 필요치 않게 되어 이로 인해 비표시영역(N/A)의 크기를 줄여 내로우베젤(narrow bezel)을 구현할 수 있다. 또한, 도 5의 액정패널(111)과는 다르게 구동회로영역(130) 내부에서 전송라인, 즉 내부전송라인(118)이 구성됨으로써, 액정패널(112)의 비표시영역(N/A)의 크기를 더욱 감소시킬 수 있다.

또한, 본 발명의 액정표시장치(100)는 검사장치와 다수의 신호패드(141)가 종래의 프로브 핀 접촉방식이 아닌 COF(Chip On Film)를 이용한 접촉방식 또는 FPCB(Flexible Printed Circuit Board)를 이용한 접촉방식으로 검사장치와 접속되어 액정패널(112)의 동작검사를 수행할 수 있어 다양한 방식으로 액정패널(112)에 대한 동작검사를 수행할 수 있다.

전술한 설명에 많은 사항이 구체적으로 기재되어 있으나 이것은 발명의 범위를 한정하는 것이라기보다 바람직한 실시예의 예시로서 해석되어야 한다. 따라서 발명은 설명된 실시예에 의하여 정할 것이 아니고 특허청구범위와 특허청구범위에 균등한 것에 의하여 정하여져야 한다.

100: 액정표시장치 110, 111, 112: 액정패널
120: 게이트구동회로 130: 구동회로영역
131: 입력패드 132: 테스트입력패드
135: 출력패드 136: 테스트출력패드
140: 회로기판영역 141: 신호패드
142: 테스트신호패드 117: 외부전송라인
118: 내부전송라인

Claims

표시영역의 적어도 일측에 구비된 게이트구동회로;
상기 표시영역 하부의 회로기판영역에 배치되어 외부로부터 테스트신호가 인가되는 하나 이상의 제1테스트패드; 및
상기 표시영역 하부의 구동회로영역에 배치되어 상기 제1테스트패드와 연결되며, 상기 테스트신호를 상기 게이트구동회로로 전송하는 하나 이상의 제2테스트패드를 포함하는 표시패널.
제1항에 있어서,
상기 회로기판영역에는 다수의 신호패드가 배치되고,
상기 하나 이상의 제1테스트패드는 상기 다수의 신호패드 중 최외곽 신호패드와 인접되어 배치된 표시패널.
제2항에 있어서,
상기 제1테스트패드는 상기 다수의 신호패드와 동일한 패드 피치를 갖는 표시패널.
제1항에 있어서,
상기 구동회로영역에는 다수의 입/출력패드가 각각 배치되고,
상기 하나 이상의 제2테스트패드는 상기 다수의 입/출력패드 중 최외곽 입/출력패드와 인접되어 배치된 표시패널.
제4항에 있어서,
상기 제2테스트패드는 상기 다수의 입/출력패드와 동일한 패드 피치를 갖는 표시패널.
제1항에 있어서,
상기 제1테스트패드로부터 상기 제2테스트패드를 거쳐 상기 게이트구동회로로 연결되는 테스트라인을 더 포함하는 표시패널.
표시영역의 적어도 일측에 구비된 게이트구동회로;
상기 표시영역 하부의 회로기판영역 및 구동회로영역에 각각 구비된 다수의 패드; 및
상기 회로기판영역의 다수의 패드 중 적어도 하나로부터 상기 구동회로영역의 다수의 패드 중 적어도 하나를 통해 상기 게이트구동회로로 연장되어 외부로부터 제공된 테스트신호를 상기 게이트구동회로로 전송하는 하나 이상의 전송라인을 포함하는 표시패널.
제7항에 있어서,
상기 구동회로영역의 다수의 패드는 다수의 입력패드 및 다수의 출력패드를 포함하고,
상기 전송라인은 상기 회로기판영역의 다수의 패드 중 적어도 하나로부터 상기 다수의 입력패드 중 적어도 하나를 통해 상기 게이트구동회로까지 연장된 표시패널.
제7항에 있어서,
상기 구동회로영역의 다수의 패드는 다수의 입력패드 및 다수의 출력패드를 포함하고,
상기 전송라인은 상기 회로기판영역의 다수의 패드 중 적어도 하나로부터 상기 다수의 입력패드 중 적어도 하나 및 상기 다수의 출력패드 중 적어도 하나를 통해 상기 게이트구동회로까지 연장된 표시패널.
표시영역 하부의 회로기판영역에 배치되어 외부로부터 테스트신호가 인가되는 하나 이상의 제1테스트패드 및 상기 표시영역 하부의 구동회로영역에 배치되어 상기 제1테스트패드와 연결되며, 상기 테스트신호를 전송하는 하나 이상의 제2테스트패드를 포함하는 표시패널; 및
상기 표시패널의 적어도 일측에 구비되며, 상기 제1테스트패드 및 상기 제2테스트패드를 통해 상기 테스트신호를 제공받아 상기 표시패널을 구동하는 게이트구동회로를 포함하는 표시장치.
제10항에 있어서,
상기 제1테스트패드는 프로브 핀 접촉방식, COF 접촉방식 및 FPC 접촉방식 중 하나에 의해 검사장치와 접속되어 상기 테스트신호를 인가받는 표시장치.
표시영역 하부의 회로기판영역 및 구동회로영역에 각각 구비된 다수의 패드 및 상기 회로기판영역의 다수의 패드 중 적어도 하나로부터 상기 구동회로영역의 다수의 패드 중 적어도 하나를 통해 외부로부터 제공된 테스트신호를 전송하는 하나 이상의 전송라인을 포함하는 표시패널; 및
상기 표시패널의 적어도 일측에 구비되며, 상기 전송라인을 통해 제공된 테스트신호에 따라 상기 표시패널을 구동하는 게이트구동회로를 포함하는 표시장치.
제12항에 있어서,
상기 회로기판영역의 다수의 패드 중 적어도 하나는 프로브 핀 접촉방식, COF 접촉방식 및 FPC 접촉방식 중 하나에 의해 검사장치와 접속되어 상기 테스트신호를 제공받는 표시장치.