KR100634826B1

KR100634826B1 - 액정표시장치의자동검사용패드

Info

Publication number: KR100634826B1
Application number: KR1019980048214A
Authority: KR
Inventors: 송인덕
Original assignee: 엘지.필립스 엘시디 주식회사
Priority date: 1998-11-11
Filing date: 1998-11-11
Publication date: 2006-12-19
Also published as: KR20000031946A

Abstract

본 발명은 액정패널을 박형화 하도록 구성된 액정표시장치의 자동검사용 패드에 관한 것이다.

본 발명에 따른 액정을 사이에 두고 대향하는 상/하부기판과, 상기 하부기판 상에 형성되는 신호라인을 구동하며 상기 상부기판과 약 0.3~0.4mm의 간격으로 이격된 구동집적회로를 가지는 액정표시장치의 자동 검사용 패드에 있어서, 액정표시장치의 자동검사용 패드는 구동 집적회로의 입력펌프와 구동 집적회로의 출력범프 사이에 소정의 길이를 갖도록 형성된다.

이에 따라, 본 발명에 따른 액정 표시장치의 검사장치용 패드는 액정패널의 사이즈를 박형화함과 아울러, 공정수율을 향상시킨다.

Description

액정표시장치의 자동검사용 패드{Pad for Auto-Probe of Liquid Crystal Display}

본 발명은 액정표시장치의 자동검사장치에 관한 것으로, 특히 액정패널을 박형화 하도록 구성된 액정표시장치의 자동검사용 패드에 관한 것이다.

통상적으로, 액정 표시장치(Liquid Crystal Display ; 이하 "LCD"라 한다)는 경량, 박형, 저소비 전력구동 등의 특징과 함께 그 응용범위가 점차 넓어지고 있는 추세이다. 또한, LCD에서는 인쇄회로기판(Printed Circuit Board; 이하 "PCB"라 한다)의 제어신호 및 영상신호를 구동집적회로(Driving-IC; 이하 "D-IC"라 한다)들로 전달하는 가요성 인쇄회로(Flexible Printed Circuit; 이하 "FPC"라 한다)가 하판유리에 부착되어 있다. 한편, LCD에서 D-IC들의 구동신호에 대응하여 액정의 배열구조를 변화시키는 스위치소자들(즉, TFT 매트릭스)이 반도체 공정에 의해 제조되어 진다. 이러한 TFT 매트릭스는 제조 후에 그 동작여부 및 상태를 체크하기 위해 TFT 매트릭스 테스트과정을 거치게 된다. 이하, 도 1 및 도 2를 결부하여 이에 대해서 설명하기로 한다.

도 1을 참조하면, 종래의 기술에 따른 액정패널의 가장자리 영역을 도시한 평면도가 도시되어 있다. 하판유리(2)의 가장자리 영역(Margin)에는 FPC패드(8) 및 액정패널 패드(Liquid Crystal Panel Pad;10)가 형성되어 있다. FPC패드(8)의 일측은 D-IC의 입력범프(6a)에 접속되어 있으며, FPC패드(8)의 타측은 제어신호 및 영상신호를 전송하기 위해 PCB(도시되지 않음)에 접속되어 있다. 또한, 액정패널 패드(10)의 일측은 D-IC의 출력범프(6b)에 접속되어 있으며, 액정패널 패드(10)의 타측은 액정패널의 게이트 라인 또는 소오스 라인에 접속되어 있다. 즉, D-IC(6)는 FPC패드(8)와 액정패널 패드(10) 사이에 배치되어 있다. 이때, D-IC(6)는 TFT매트릭스의 게이트 라인에 접속되어 게이트 라인을 구동할 경우 게이트 D-IC라 불리운다. 반면에, D-IC(6)가 TFT매트릭스의 소오스 라인에 접속되어 소오스 라인을 구동할 경우 소오스 D-IC라 불리운다. 또한, D-IC(6)의 일측 하부에는 FPC패드(8)를 경유하여 전송되는 제어신호 및 영상신호를 D-IC(6)에 입력하기 위한 D-IC 입력범프(Input Bump;6a)가 형성되어 있다. D-IC(6)의 타측 하부에는 D-IC(6)에서 처리된 영상신호를 TFT 매트릭스의 게이트 라인 또는 소오스 라인에 출력하기 위한 D-IC 출력범프(Output Bump;6b)가 형성되어 있다.

한편, 도 2에 도시된 바와같이 하판유리(2)의 일측 상부에는 액정층(12)이 형성되어 있으며, 액정층(12)과 대향되는 하판유리(2)의 타측 상부에는 가장자리 영역이 형성되어 있다. 이들 가장자리 영역에는 액정패널을 구동하기 위한 D-IC들이 실장된다. 또한, 액정층(12)의 하부에는 액정패널의 게이트 라인 또는 소오스 라인이 형성되어 D-IC(6)에서 출력되는 구동신호를 스위치소자들(TFT어래이)에 전송하게 된다. 또한, 보호막(14)은 도전층(16)의 상부에 부착되어 있다. 또한, 하판유리(2)와 상판유리(4) 사이에는 액정층(12)이 배향되어 구동신호에 대응하는 화상을 표시하게 된다. 또한, 가장자리 영역에는 소정의 길이(예를 들면, 1.7㎜)를 갖는 FPC패드(8)가 형성되어 있다. FPC패드(8)의 일측에는 소정의 폭(예를 들면, 1.1 - 1.5㎜)을 갖는 D-IC(6)가 접속된다. 이때, FPC패드(8)와 D-IC의 입력범프(6a)는 도전층(16)에 의해 전기적으로 접속되어 있으며 소정간격(예를 들면, 0.4㎜)의 유격을 가지게 된다. 또한, 상판유리(4)와 D-IC출력범프(6b) 사이에는 자동검사장치를 사용할 수 있도록 최소 필요공간을 확보하기 위한 소정의 간격(예를 들면, 1㎜)이 요구된다.

한편, 액정 표시장치의 구동여부 및 상태를 체크하기 위한 검사과정은 D-IC(6)를 하판유리(2) 상에 장착하기 전에 수행되어진다. 이에 대하여 상세히 설명하기로 한다. 액정패널의 게이트 라인은 액정패널 패드(10)에 접속되어 있으므로 액정 표시장치를 테스트하기 위해 액정패널 패드(10)에 자동검사장치를 접촉하여 액정패널의 동작여부 및 상태를 검사하게 된다. 그러나, 이 과정에서 도 1에 도시된 바와 같이 자동검사 장치를 사용하기 위한 최소 필요공간(a)을 확보하기 위해 D-IC(6)와 상판유리(4) 사이에는 실제로 1.0㎜ 이상을 요구하게 된다. 이에 따라, 자동검사를 수행하기 위한 최소 필요공간의 확보는 결과적으로 액정패널의 사이즈를 증가시키게 되어 액정패널의 전체모듈 사이즈를 박형화 하기 어려운 문제점이 도출되고 있다.

따라서, 본 발명의 목적은 액정패널의 사이즈를 박형화 하도록 구성된 액정표시장치의 자동검사용 패드를 제공하는데 있다.

상기 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 따른 액정을 사이에 두고 대향하는 상/하부기판과, 상기 하부기판 상에 형성되는 신호라인을 구동하며 상기 상부기판과 약 0.3~0.4mm의 간격으로 이격된 구동집적회로를 가지는 액정표시장치의 자동 검사용 패드에 있어서, 액정표시장치의 자동검사용 패드는 구동 집적회로의 입력범프와 구동 집적회로의 출력범프 사이에 소정의 길이를 갖도록 형성된다.

상기 목적 외에 본 발명의 다른 목적 및 특징들은 첨부도면을 참조한 실시예에 대한 설명을 통하여 명백하게 드러나게 될 것이다.

도 3 내지 도 5를 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예에 대하여 설명하기로 한다.

도 3을 참조하면, 본 발명에 따른 액정표시장치의 자동검사용 패드(36)는 D-IC 입력범프(26a)와 D-IC출력범프(26b) 사이에 소정의 길이를 갖도록 형성된다. FPC패드(28), D-IC 입력 및 출력범프(26a,26b), 액정패널 패드(30) 및 액정층(32)의 동작 및 기능에 대해서는 도 1에서 충분히 기술하였으므로 상세한 설명은 생략하기로 한다. 한편, 본 발명에 따른 자동 검사용 패드(36)는 액정패널 패드(30)에 전기적으로 접속되어 있으며, D-IC(26)의 하부에 대향하는 하판유리(22) 상에 형성되어 있다. 도 4를 결부하여 이에 대하여 상세히 설명하기로 한다. 도 4에 도시된 바와 같이 자동검사용 패드(36)는 도전층(40)에 의해 액정패널패드(30)에 전기적으로 접속되어진다. 이에 따라, 본 발명에 따른 자동검사용 패드(36)는 종래의 액정패널패드(30)와 전기적으로 접속되도록 D-IC의 하부에 대향되는 하판유리(22)상에 소정의 길이를 갖도록 형성되어진다.

한편, 액정표시장치의 동작여부 및 상태를 체크하기 위한 테스트과정은 도 5에 도시된 바와 같이 D-IC(26)를 하판유리(22) 상에 장착하기 전에 수행하게 된다. 이 경우, 자동검사용 탐침(38)을 자동검사용 패드(36)에 접촉함에 의해 액정패널의 동작여부 및 상태를 정확하게 검사하게 된다. 이때, 자동검사용 패드(36)가 형성된 영역(즉, D-IC가 장착될 영역)에는 D-IC가 실장되어 있지 않으므로 자동검사를 수행하기 위한 최소 필요공간을 충분히 확보할 수 있게된다. 이어서, 자동검사 결과 액정패널이 정상으로 판단되면 자동검사 장치를 제거한 후, D-IC(16)를 장착하게 된다. 이에 따라, D-IC(26)와 상판유리(24) 사이에는 소정의 간격(b; 예를 들면 0.3 - 0.4㎜)을 갖는 유격만을 필요로 하게 된다. 이는 D-IC(6)와 FPC패드(28) 사이의 유격과 유사함을 알 수 있다. 즉, 본 발명에 따른 액정 표시장치의 자동검사용 패드는 D-IC(26)가 실장될 영역에 자동검사용 패드(36)를 소정의 길이로 형성하여 자동검사를 수행함으로써, D-IC(26)와 상판유리(24) 사이의 간격을 줄일수 있게된다. 이에 따라, 본 발명에 따른 액정 표시장치의 검사장치용 패드는 종래기술에 따른 최소 필요공간(즉,a)에 비해 적어도 0.6 - 0.7 ㎜이상의 사이즈가 감소됨을 알수 있다. 또한, 본 발명에 따른 액정표시장치의 자동검사용 패드는 액정패널의 게이트 라인 및 소오스라인의 검사에도 동일하게 적용될 수 있을 것이다. 이에 따라, 액정패널의 가로 및 세로방향으로 0.6 - 0.7㎜ 이상을 축소하여 액정패널의 전체 모듈 사이즈를 박형화할 수 있게된다.

한편, 액정표시장치를 제조하는 과정에서 하나의 글래스(Glass)에서 동시에 여러 장(예를 들면, 4장)의 액정패널을 제작하게 된다. 이때, 본 발명에 따른 액정 표시장치용 검사패드를 적용할 경우 액정패널의 사이즈를 박형화할 수 있게된다. 이에 따라, 한정된 글래스 내에 배치할 수 있는 액정패널의 공간을 더욱 많이 확보할 수 있게되므로 액정패널의 공정 수율을 향상시키게 된다.

상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 액정 표시장치용 자동검사 장치는 액정패널의 사이즈를 박형화함과 아울러, 공정수율을 향상시킬 수 있는 장점이 있다.

이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여 져야만 할 것이다.

도 1은 종래기술에 따른 액정패널의 가장자리 영역을 도시한 평면도.

도 2는 도 1의 A-A'선을 따라 절단하여 도시한 단면도.

도 3은 본 발명에 따른 자동검사용 패드를 도시한 평면도.

도 4는 도 3의 B-B'선을 따라 절단하여 도시한 단면도.

도 5는 본 발명에 따른 자동검사의 예를 설명하기 위해 도시한 도면.

＜ 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 ＞

2,22 : 하판유리 4,24 : 상판유리

6,26 : 구동 집적회로 8,28 : FPC패드

10,30 : 액정패널 패드 12,32 : 액정층

14,34 : 보호막 16,40 : 도전층

36 : 자동검사용 패드 38 : 자동검사용 탐침

Claims

액정을 사이에 두고 대향하는 상/하부기판과, 상기 하부기판 상에 형성되는 신호라인을 구동하며 상기 상부기판과 약 0.3~0.4mm의 간격으로 이격된 구동집적회로를 가지는 액정표시장치의 자동 검사용 패드에 있어서,

상기 구동집적회로의 입력범프와 상기 구동집적회로의 출력범프 사이에 소정의 길이를 갖도록 형성되고 상기 신호라인과 접속된 신호패드에 전기적으로 접속되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 자동 검사용 패드.
제 1 항에 있어서,

상기 자동검사용 패드는 상기 신호패드에서 소정의 길이로 신장된 형태를 갖는 것을 특징으로 하는 액정 표시장치의 자동 검사용 패드.