KR100600700B1 - 평판표시패널 검사용 프로브 장치 - Google Patents

Abstract

본 발명은 평판표시패널 검사용 프로브 장치에 관한 것으로, 본 발명의 평판표시패널 검사용 프로브 장치는 회로기판과 접촉하여 테스터의 전기적 신호를 평판표시패널에 전달해주는 복수의 니들과, 저면에 복수의 니들이 장착되는 니들 장착부를 갖는 프로브 블록을 포함하여 구성된다. 니들 장착부는 프로브 블록의 저면에 설치되어 복수의 니들이 일정한 간격으로 내열되도록 복수의 니들 일부분이 삽입되는 슬릿을 갖는 가이드 블록들과 복수의 니들이 가이드 블록들로부터 이탈되지 않도록 복수의 니들과 가이드 블록들 중 적어도 하나의 가이드 블록에 복수의 니들을 고정시키기 위한 고정부재를 포함할 수 있다.

프로브, 니들

Description

평판표시패널 검사용 프로브 장치{PROBE UNIT FOR TESTING PLAT DISPLAY PANEL}

도 1a는 본 발명에 따른 니들 어셈블리를 장착한 프로브 장치의 측면도;

도 1b는 본 발명에 따른 니들 어셈블리를 장착한 프로브 장치의 평면도;

도 2a는 본 발명에 따른 니들 어셈블리의 사시도;

도 2b는 본 발명에 따른 니들 어셈블리의 단면도;

도 3은 본 발명에 따른 니들 어셈블리에서 복수의 니들의 조립 과정을 설명하기 위한 분해 사시도;

도 4는 본 발명에 따른 니들 어셈블리에 장착되는 니들을 보여주는 정면도;

도 5는 도 4에 표시된 a 부분의 확대도이다.

* 도면의 주요 부분에 대한 부호 설명 *

110 : 니들 어셈블리

112 : 프로브 블록

114 : 니들 장착부

120 : 고정봉

130 : 구동집적회로 블록

140 : 니들

본 발명은 평판표시패널 검사 장치에 관한 것으로, 좀 더 구체적으로는 평판표시패널 검사용 프로브 장치에 관한 것이다.

일반적으로 액정표시장치(TFT-LCD)와 같은 평판표시패널은 양산기술 확보와 연구개발의 성과로 대형화와 고해상도화가 급속도로 진전되어 노트북 컴퓨터(computer)용 뿐만 아니라 대형 모니터(monitor) 응용 제품으로도 개발되어 기존의 CRT(cathode ray tube) 제품을 점진적으로 대체하고 있어 디스플레이 산업에서의 그 비중이 점차 증대되고 있다.

이와 같은 평판표시패널은 패널 가장자리 부근에 패널을 구동하기 위한 수많은 접속단자를 구비하고 있으며, 이들 접속단자를 통해 평판표시패널의 화소에 전기적 신호를 인가한다. 한편, 평판표시패널은 반도체 칩과 마찬가지로 제품에 장착하기 전에 패널에 전기적 신호를 인가하여 화소의 불량 유무를 검사하게 된다.

이를 위한 검사장비는 각종 측정기기들이 내장된 테스터와, 테스터와 평판표시패널을 전기적으로 연결시켜 주는 프로브 장치를 갖추고 있다. 특히, 프로브 장치는 평판표시패널의 접속단자와 직접 접촉하여 접속단자에 전기적 신호를 인가함과 동시에 출력을 검출하는 역할을 한다.

그러나 기존의 프로브 장치의 니들 어셈블리는 니들들을 프로브 블록에 장착하기 위한 조립 작업이 어렵고 힘든 단점이 있으며, 그로 인해 조립작업 시간이 지 연되고 생산성이 떨어지는 문제점까지 발생되고 있다. 특히, 각각의 니들들이 안정적으로 고정되는 못하여 검사 신뢰성이 저하되고, 니들의 접촉단과 패널의 접속단자와의 접촉 불량으로 인한 불안전한 신호 전달 등이 야기되는 문제점을 갖고 있다.

본 발명의 목적은 조립 과정이 단순한 새로운 형태의 평판표시패널 검사용 프로브 장치를 제공하는데 있다.

본 발명의 다른 목적은 패널의 접속단자와의 접촉성을 향상시킬 수 있는 평판표시패널 검사용 프로브 장치를 제공하는데 있다.

본 발명의 다른 목적은 니들의 안정적인 고정이 가능한 평판표시패널 검사용 프로브 장치를 제공하는데 있다.

상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 평판표시패널 검사용 프로브 장치는 회로기판과 접촉하여 테스터의 전기적 신호를 평판표시패널에 전달해주는 복수의 니들; 저면에 상기 복수의 니들이 장착되는 니들 장착부를 갖는 프로브 블록을 포함하되; 상기 니들 장착부는 상기 프로브 블록의 저면에 설치되는 그리고 상기 복수의 니들이 일정한 간격으로 내열되도록 상기 복수의 니들 일부분이 삽입되는 슬릿을 갖는 가이드 블록들; 및 상기 복수의 니들이 상기 가이드 블록들로부터 이탈되지 않도록 상기 복수의 니들과 상기 가이드 블록들 중 적어도 하나의 가이드 블록에 상기 복수의 니들을 고정시키기 위한 고정부재를 포함할 수 있다.

본 발명의 실시예에 따르면, 상기 복수의 니들은 중앙부분과; 상기 중앙부분의 일측면으로부터 연장되어 형성되는 그리고 상기 회로기판의 패턴과 접촉되는 제1접촉부; 및 상기 중앙부분의 타측면으로부터 연장되어 형성되는 그리고 상기 평판표시패널의 패턴과 접촉되는 제2접촉부를 포함할 수 있다.

본 발명의 실시예에 따르면, 상기 가이드 블록들은 상기 프로브 블록의 저면 후단에 설치되는 그리고 상기 복수의 니들의 제1접촉부가 삽입되는 슬릿을 갖는 제1가이드 블록; 및 상기 프로브 블록의 저면 앞단에 설치되는 그리고 상기 복수의 니들의 제2접촉부가 삽입되는 슬릿을 갖는 제2가이드 블록을 포함할 수 있다.

본 발명의 실시예에 따르면, 상기 제1가이드 블록은 상기 복수의 니들과 마주하는 일면에 형성되는 제1끼움홈을 가지며, 상기 복수의 니들은 상기 제1끼움홈과 마주보는 일측면에 형성되는 제2끼움홈을 가지며, 상기 고정부재는 상기 제1끼움홈과 제2끼움홈에 끼워지는 고정봉으로 이루어질 수 있다.

본 발명의 실시예에 따르면, 상기 제2가이드 블록은 상기 복수의 니들과 마주하는 일면에 돌출부를 갖고; 상기 복수의 니들은 상기 제2가이드 블록의 돌출부가 끼워지는 제3끼움홈을 구비할 수 있다.

본 발명의 실시예에 따르면, 상기 제2접촉부는 상기 평판표시패널의 패턴과 접촉되는 톱니형태로 형성된 복수의 첨단을 포함할 수 있다.

본 발명의 실시예에 따르면, 상기 복수의 첨단은 서로 다른 길이를 갖되; 가장 안쪽에 있는 첨단부터 가장 바깥쪽에 있는 첨단으로 갈수록 순차적으로 길어지는 것이 바람직하다.

예컨대, 본 발명의 실시예는 여러 가지 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 아래에서 상술하는 실시예로 인해 한정되어 지는 것으로 해석되어져서는 안 된다. 본 실시예는 당업계에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 보다 완전하게 설명하기 위해서 제공되어지는 것이다. 따라서, 도면에서의 요소의 형상 등은 보다 명확한 설명을 강조하기 위해서 과장되어진 것이다.

본 발명의 실시예를 첨부된 도면 도 1 내지 도 5에 의거하여 상세히 설명한다. 또, 상기 도면들에서 동일한 기능을 수행하는 구성 요소에 대해서는 동일한 참조 번호를 병기한다.

본 발명의 기본적인 의도는 프로브 블록에 니들의 장착이 용이한 그리고 니들을 안정적으로 고정시키기 위한 것으로, 이를 달성하기 위하여 본 발명의 니들 어셈블리는 니들들의 간격을 일정하게 유지시키기 위한 가이드 블록에 니들을 고정시키기 위한 고정구조를 갖는데 그 특징이 있다.

일반적으로, 평판표시패널 검사를 위한 검사장치는 다수개의 프로브 장치들이 베이스 플레이트(미도시됨)상에 고정 배치되어 평판표시패널(이하 LCD 패널)을 검사하게 된다.

도 1a 및 도 1b는 본 발명에 따른 니들 어셈블리를 장착한 프로브 장치의 측면도와 평면도를 도시한 것이다.

도 1a 및 도 1b를 참조하면, 프로브장치(100)는 프로브 프레임(102)과, 이 프로브 프레임(102)의 선단에 고정볼트에 의해 서로 체결되는 프로브 헤드(104)를 포함하며, 이 프로브 헤드(104)는 패널 검사 과정에서 상하로 유동이 발생할 수 있 도록 프로브 프레임(102)과 프로브 헤드(104) 사이에는 리니어 가이드(106)가 설치된다. 프로브 헤드(104)의 저면에는 니들 어셈블리(110)가 고정 수단(108)에 의해 착탈가능하게 고정 배치된다.

도 2a는 본 발명에 따른 니들 어셈블리의 사시도이고, 도 2b는 본 발명에 따른 니들 어셈블리의 단면도를 도시한 것이다.

도 2a, 도 2b 그리고 도 3을 참조하면, 본 발명에 따른 프로브 장치의 니들 어셈블리(110)는 복수의 니들(140)과, 인쇄회로기판(미도시됨)에 전기적으로 연결되어 복수개의 니들(140)에 구동신호를 전송하는 구동집적회로(구동 IC;134a)를 구비한 구동 집적회로 블록(130), 복수의 니들(140)이 장착되는 니들 장착부(114)는 갖는 프로브 블록(112)을 포함하여 구성된다.

니들 장착부(114)는 프로브 블록(112)의 저면에 형성된 니들 장착 공간(112a)에 복수의 니들(140)이 일정한 간격으로 장착되도록 복수의 니들(140)을 고정시키기 위한 것으로, 세라믹 재질로 이루어지는 제1,2가이드 블록(116,118)과 고정부재인 고정봉(120)를 포함한다.

제1가이드 블록(116)은 프로브 블록(112)의 저면에 형성된 니들 장착공간(112a) 후단에 설치되며 복수의 니들(140)의 제1접촉부(144)가 삽입되는 슬릿(117)을 갖는다. 제2가이드 블록(118)은 상기 니들 장착공간(112a) 앞단에 설치되며 복수의 니들(140)의 제2접촉부(146)가 삽입되는 슬릿(119)을 갖는다. 복수의 니들(140)은 제1,2가이드 블록(116,118)의 슬릿(117,119)들에 의해 일정 간격으로 정렬된다. 특히, 제1,2가이드 블록(116,118)은 복수의 니들(140)과 결합을 위한 구조 를 갖는다. 제1가이드 블록(116)은 니들 장착 공간(112a)을 향하는 일측면에 제1끼움홈(116a)을 갖으며, 복수의 니들(140)은 제1끼움홈(116a)과 대응되는 일측면에 제2끼움홈(148a)을 갖는다.

고정부재인 고정봉(120)은 제1끼움홈(116a)과 제2끼움홈(148a)에 의해 형성된 4각형의 공간으로 삽입되며, 이 고정봉(120)이 삽입됨으로써 복수의 니들(140)이 제1가이드 블록(116)에 고정되어, 복수의 니들(140)이 니들 장착공간(112a)으로부터 임의 분리되는 것을 방지할 수 있다. 한편, 제2가이드 블록(118)은 니들 장착 공간(112a)을 향하는 일측면에 돌출부(118a)를 갖으며, 복수의 니들(140)은 이 돌출부(118a)가 끼워지는 제3끼움홈(148b)을 갖는다. 한편, 프로브 블록의 측면에는 덮개판이 프로브블록 측면에 형성된 나사홀(160;도 3에 도시됨)들에 나사 결합된다.

도 4 및 도 5를 참조하면, 복수의 니들(140)은 얇은 도전성 금속판으로 이루어지는 블레이드 타입으로, 2개의 관통공(142a)을 갖는 사각형 모양의 중앙 몸체(142)와, 이 중앙 몸체(142)의 양측면으로부터 연장되어 형성되는 제1접촉부(144)와 제2접촉부(146)를 포함한다. 제1접촉부(144)는 끝단에 상향 절곡되어 제1가이드 블록(116)의 슬릿(117)으로부터 노출되는 제1첨단(145)을 갖는다. 제1첨단(145)은 LCD 패널(10)의 접촉패드로 제공될 전기적 신호를 전달받기 위해 구동집적회로 블록(130)의 가이드 필름(134)의 연결패드(134b)에 접촉된다.

도 2a 및 도 2b에 도시된 바와 같이, 구동집적회로 블록은 검사장치의 테스트 신호를 받아서 LCD 패널(10)로 보내주기 위한 것으로, 이 구동집적회로 블록 (130)은 프로브 블록(112)의 저면에 설치되는 필름 홀더(132)와, 이 필름 홀더(132)의 저면에 설치되고, LCD 패널(10)에 부착되는 구동 IC와 동일한 구동 IC(134a)를 갖는 가이드 필름(134)을 포함하여 구성되며, 필름 홀더(132)에는 구동 IC(134a)가 위치되는 홈(132a)이 형성되어 있다. 예컨대, 가이드 필름(134)으로는 플렉시블한 인쇄회로기판이 사용될 수 있다.

다시 도 4 및 도 5를 참조하면, 제2접촉부(146)는 끝단에 하향 절곡되어 제2가이드 블록(118)의 슬릿(119)으로부터 노출되는 3개의 제2첨단(147)을 갖는다. 제2접촉부의 제2첨단(147)들은 LCD 패널(10)의 접촉패드에 접촉되는 부분으로, 톱니 형태로 이루어진다. 이처럼, 제2접촉부(146)는 LCD 패널(10)의 접촉패드와의 접촉면적이 3배로 증대됨으로써 접촉효율을 극대화시킬 수 있는 각별한 효과를 갖는다. 도 5에 도시된 바와 같이, 제2접촉부의 제2첨단(147)들은 가장 안쪽의 첨단으로부터 가장 바깥쪽에 있는 첨단으로 갈수록 길이가 순차적으로 길어지는 구조적인 특징을 갖고 있어, LCD 패널(10)의 접촉패드가 기울어져 있다 하더라도 접촉패드와의 접촉 불량이 발생될 가능성이 극히 적다.

도 3은 본 발명에 따른 프로브 장치의 니들 어셈블리에서 복수의 니들의 조립 과정을 설명하기 위한 니들 어셈블리의 분해 사시도이다.

도 3에 도시된 바와 같이, 복수의 니들(140)은 프로브 블록(112)의 니들 장착 공간(112a) 전후에 설치된 제1,2가이드 블록(116,118)의 슬릿(117,119)에 일정한 간격으로 장착된다. 즉, 복수의 니들(140)은 프로브 블록(112)과 접촉되지 않도록 이격된 상태로 제1가이드 블록(116)과 제2가이드 블록(118)에 의해 지지된다. 복수의 니들(140)의 장착은, 제1접촉부(144)가 제1가이드 블록(116)의 슬롯(117)에 삽입되고 제2접촉부(146)가 제2가이드 블록(118)의 슬롯(119)에 삽입되며 제2가이드 블록(118)의 돌출부(118a)가 중앙 몸체(142)의 일측면에 형성된 제3끼움홈(148b)에 끼워짐으로써 이루어진다.

복수의 니들(140)의 장착이 완료되면, 제1가이드 블록(116)의 제1끼움홈(116a)과 복수의 니들의 제2끼움홈(148a)에 의해 형성된 공간으로 고정봉(120)을 밀어 넣어, 복수의 니들(140)의 중앙 몸체 일단이 제1가이드 블록(116)에 고정되면서 복수의 니들(140)이 제1,2가이드 블록(116,118)으로부터 빠지지 않도록 잡아주게 된다.

한편, 본 발명은 상기의 구성으로 이루어진 프로브 장치에 있어 다양하게 변형될 수 있고 여러 가지 형태를 취할 수 있다. 하지만, 본 발명은 상기의 상세한 설명에서 언급되는 특별한 형태로 한정되는 것이 아닌 것으로 이해되어야 하며, 오히려 첨부된 청구범위에 의해 정의되는 본 발명의 정신과 범위 내에 있는 모든 변형물과 균등물 및 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.

상술한 바와 같이, 본 발명의 프로브 장치는 복수의 니들을 장착하는 조립성이 뛰어나 생산성이 향상되는 각별한 효과를 갖는다.

본 발명의 프로브 장치는 복수의 니들이 장착부에 안정적으로 고정되어 항상 정확한 간격으로 배열됨으로써 검사 신뢰성이 뛰어난 이점이 있다.

본 발명의 프로브 장치는 LCD 패널의 접촉패드와의 접촉면적 증가로 접촉효 율을 극대화시킬 수 있어 복수의 니들을 통한 신호 전달성이 뛰어난 각별한 효과를 갖는다.

Claims (8)

1. 평판표시패널 검사용 프로브 장치에 있어서:

   회로기판과 접촉하여 테스터의 전기적 신호를 평판표시패널에 전달해주는 복수의 니들;

   저면에 상기 복수의 니들이 장착되는 니들 장착부를 갖는 프로브 블록을 포함하고;

   상기 니들 장착부는

   상기 프로브 블록의 저면에 설치되는 그리고 상기 복수의 니들이 일정한 간격으로 배열되도록 상기 복수의 니들 일부분이 삽입되는 슬릿을 갖는 가이드 블록들; 및 상기 복수의 니들이 상기 가이드 블록들로부터 이탈되지 않도록 상기 가이드 블록들 중 적어도 하나의 가이드 블록에 상기 복수의 니들을 고정시키기 위한 고정부재를 포함하되;

   상기 가이드 블록들 중 적어도 하나의 가이드 블록은 상기 복수의 니들과 마주하는 일면에 형성되는 제1끼움홈을 가지며, 상기 복수의 니들은 상기 제1끼움홈과 마주보는 일측면에 형성되는 제2끼움홈을 가지며,상기 고정부재는 상기 제1끼움홈과 상기 제2끼움홈에 끼워지는 것을 특징으로 하는 평판표시패널 검사용 프로브 장치.
2. 평판표시패널 검사용 프로브 장치에 있어서:

   회로기판과 접촉하여 테스터의 전기적 신호를 평판표시패널에 전달해주는 복수의 니들; 및 저면에 상기 복수의 니들이 장착되는 니들 장착부를 갖는 프로브 블록을 포함하되;

   상기 니들 장착부는

   상기 프로브 블록의 저면에 설치되는 그리고 상기 복수의 니들이 일정한 간격으로 배열되도록 상기 복수의 니들 일부분이 삽입되는 슬릿을 갖는 가이드 블록들; 및

   상기 복수의 니들이 상기 가이드 블록들로부터 이탈되지 않도록 상기 가이드 블록들 중 적어도 하나의 가이드 블록에 상기 복수의 니들을 고정시키기 위한 고정부재를 포함하고;

   상기 복수의 니들은 중앙부분; 상기 중앙부분의 일측면으로부터 연장되어 형성되는 그리고 상기 회로기판의 패턴과 접촉되는 제1접촉부; 및 상기 중앙부분의 타측면으로부터 연장되어 형성되는 그리고 상기 평판표시패널의 패턴과 접촉되는 제2접촉부를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판표시패널 검사용 프로브 장치.
3. 제2항에 있어서,

   상기 가이드 블록들은

   상기 프로브 블록의 저면 후단에 설치되는 그리고 상기 복수의 니들의 제1접촉부가 삽입되는 슬릿을 갖는 제1가이드 블록; 및

   상기 프로브 블록의 저면 앞단에 설치되는 그리고 상기 복수의 니들의 제2접촉부가 삽입되는 슬릿을 갖는 제2가이드 블록을 포함하는 것을 특징으로 하는 평판표시패널 검사용 프로브 장치.
4. 제3항에 있어서,

   상기 제1가이드 블록은 상기 복수의 니들과 마주하는 일면에 형성되는 제1끼움홈을 가지며,

   상기 복수의 니들은 상기 제1끼움홈과 마주보는 일측면에 형성되는 제2끼움홈을 가지며,

   상기 고정부재는 상기 제1끼움홈과 제2끼움홈에 끼워지는 고정봉으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 평판표시패널 검사용 프로브 장치.
5. 제3항에 있어서,

   상기 제2가이드 블록은 상기 복수의 니들과 마주하는 일면에 돌출부를 갖고;

   상기 복수의 니들은 상기 제2가이드 블록의 돌출부가 끼워지는 제3끼움홈을 갖는 것을 특징으로 하는 평판표시패널 검사용 프로브 장치.
6. 제2항에 있어서,

   상기 제2접촉부는

   상기 평판표시패널의 패턴과 접촉되는 톱니형태로 형성된 복수의 첨단을 포함하는 것을 특징으로 하는 평판표시패널 검사용 프로브 장치.
7. 제6항에 있어서,

   상기 복수의 첨단은 서로 다른 길이를 갖는 것을 특징으로 하는 평판표시패널 검사용 프로브 장치.
8. 제6항에 있어서,

   상기 복수의 첨단은 가장 안쪽에 있는 첨단부터 가장 바깥쪽에 있는 첨단으로 갈수록 순차적으로 길어지는 것을 특징으로 하는 평판표시패널 검사용 프로브 장치.

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