KR20220106497A - 디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록 - Google Patents
디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20220106497A KR20220106497A KR1020210009478A KR20210009478A KR20220106497A KR 20220106497 A KR20220106497 A KR 20220106497A KR 1020210009478 A KR1020210009478 A KR 1020210009478A KR 20210009478 A KR20210009478 A KR 20210009478A KR 20220106497 A KR20220106497 A KR 20220106497A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- probe pin
- slot
- probe
- block
- display panel
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07364—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch
- G01R1/07378—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch using an intermediate adapter, e.g. space transformers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06705—Apparatus for holding or moving single probes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06716—Elastic
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07314—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
- G01R31/2825—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere in household appliances or professional audio/video equipment
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
- G01R31/2836—Fault-finding or characterising
- G01R31/2844—Fault-finding or characterising using test interfaces, e.g. adapters, test boxes, switches, PIN drivers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2886—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
- G01R31/2887—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks involving moving the probe head or the IC under test; docking stations
Abstract
본 발명은 디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록에 관한 것으로, 특히 프로브 핀을 블록 베이스에 슬라이딩 삽입 방식으로 조립 후 탈착 가능한 잠금키로 잠궈 고정하고, 잠금키 해제 후에는 프로브 핀을 개별적으로 교체할 수 있는 디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록에 관한 것이다.
Description
본 발명은 디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 프로브 핀을 블록 베이스에 슬라이딩 삽입 방식으로 조립 후 탈착 가능한 잠금키로 잠궈 고정하고, 잠금키 해제 후에는 프로브 핀을 개별적으로 교체할 수 있는 디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록에 관한 것이다.
일반적으로 LCD나 OLED와 같은 디스플레이 패널은 검사 프로브(test probe)를 데이터 라인이나 전원 라인의 전극(단자)에 접촉하여 테스트 신호를 인가함으로써 제품이 양호한지 혹은 불량한지에 대한 검사를 진행한다.
검사는 디스플레이 패널의 전극에 접촉되는 프로브 블록이 전단부에 장착된 프로브 유닛에 의해 진행되는데, 프로브 블록에는 전극 수에 대응하는 다수개의 프로브 핀이 구비되어 있어서 픽셀 양부 등의 검사를 진행할 수 있게 한다.
예컨대, 도 1과 같이 프로브 유닛(10)은 디스플레이 패널(20)에 인접하여 이상 유무를 검사한다. 이때, 프로브 유닛(10)은 테스트 신호를 전극에 인가하고, 그에 따른 출력 신호를 전달받아 검사 시스템으로 전달한다.
도 2는 프로브 유닛(10)의 사시도이다. 도시된 바와 같이 디스플레이 패널(20)을 검사하는 프로브 유닛(10)은 일반적으로 프로브 블록(12), PCB부(16), 및 헤드 블록(14)을 포함한다.
여기서, 프로브 블록(12)은 디스플레이 패널(20)의 전극에 탐침을 접촉시켜 테스트 신호를 인가하고 그에 따른 출력 신호를 검출하는 것으로, PCB부(16)에서 수신된 테스트 신호를 전달받는다.
헤드 블록(14)은 프로브 블록(12)의 탐침이 적당한 물리적 압력으로 디스플레이 패널(20)의 전극과 접촉하도록 프로브 블록(12)을 상하로 이동시키거나 일정 위치에 고정시킨다.
PCB부(16)는 디스플레이 패널(20)의 각 셀(cell)에 대한 검사를 위한 테스트 신호를 생성 혹은 전송하며, 일 예로 신호케이블에 해당하는 필름(18)을 매개로 프로브 블록(12)에 전달한다.
그런데, 디스플레이 패널에는 고밀도의 미세 전극이 다수개 구비되어 있기 때문에 이에 접촉하여 검사를 진행하기 위한 프로브 블록에도 다수의 프로브 핀이 고밀도로 배치된다.
따라서, 프로브 블록의 제작 과정에서 일부 프로브 핀에 불량이 발생한 경우나, 프로브 블록으로 검사를 반복 진행함에 따라 마모나 불량이 발생하여 교체가 필요한 경우 프로브 블록 전체를 교체해야 하는 문제가 있었다.
또한, 프로브 블록 전체를 교체하지 않고, 이상이 발생한 일부의 프로브 핀만을 교체할 수 있는 경우에도 프로브 핀을 교체하는 단계가 복잡하여 오랜 시간이 걸리거나 교체가 어렵다는 문제가 있었다.
본 발명은 전술한 바와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로, 프로브 핀을 블록 베이스에 슬라이딩 삽입 방식으로 조립 후 탈착 가능한 잠금키로 잠궈 고정하고, 잠금키 해제 후에는 프로브 핀을 개별적으로 교체할 수 있는 디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록을 제공하고자 한다.
이를 위해, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록은 전도성 재질로 이루어지며, 검사 대상에 접촉하는 탐침부와 적어도 한 개소 이상에 돌출된 걸림부를 구비한 프로브 핀과; 상기 프로브 핀이 슬라이딩 방식으로 삽입 조립되는 슬롯과 상기 걸림부가 노출되도록 잠금홈을 구비한 블록 베이스; 및 상기 잠금홈 내에 탈착 가능하게 조립되며, 일단이 상기 걸림부에 밀착되어 상기 프로브 핀을 고정시키는 잠금키;를 포함하여, 상기 잠금키를 탈착 후 상기 프로브 핀을 상기 블록 베이스로부터 인출할 수 있도록 구성된 것을 특징으로 한다.
이때, 상기 블록 베이스의 슬롯은 상기 프로브 핀이 인입되는 제1 슬롯; 및 상기 제1 슬롯에 인입된 프로브 핀을 상기 인입 방향으로부터 전환된 방향으로 이동시키는 제2 슬롯;을 포함하는 것이 바람직하다.
또한, 상기 제1 슬롯은 직선 방향으로 형성되고, 상기 제2 슬롯은 상기 제1 슬롯에 대해 직교하는 방향으로 형성되는 것이 바람직하다.
또한, 상기 블록 베이스의 잠금홈은 다수의 프로브 핀에 각각 구비되어 있는 걸림부가 모두 노출되도록 상기 블록 베이스의 길이 방향을 따라 연속하여 형성되어 있는 것이 바람직하다.
상기 블록 베이스의 잠금홈은 상기 걸림부의 옆에 상기 잠금키가 삽입되는 공간을 형성하여, 상기 잠금키의 일단은 상기 걸림부에 밀착되고 타단은 상기 잠금홈의 내측벽에 밀착되는 것이 바람직하다.
또한, 상기 잠금키는 상기 프로브 핀을 탄성 가압하도록 탄성체로 구성되는 것이 바람직하다.
이상과 같은 본 발명은 블록 베이스에 슬라이딩 삽입 방식으로 조립된 프로브 핀을 탈착 가능한 잠금키로 잠궈 고정한다. 따라서, 잠금키 해제 후에는 각각의 프로브 핀이 슬라이딩 인출이 가능한 상태가 되므로, 편리하면서도 빠르게 프로브 핀을 교체할 수 있게 한다.
도 1은 종래 기술에 따른 프로브 유닛을 나타낸 평면도이다.
도 2는 종래 기술에 따른 프로브 유닛을 나타낸 사시도이다.
도 3은 본 발명의 제1 실시예에 따른 검사용 프로브 핀 블록을 나타낸 사시도이다.
도 4는 본 발명의 제1 실시예에 따른 프로브 핀과 블록 베이스를 나타낸 정단면도이다.
도 5는 본 발명의 제1 실시예에 따른 검사용 프로브 핀 블록을 나타낸 조립 상태도이다.
도 6은 상기 도 5의 블록 베이스를 나타낸 사시도이다.
도 7은 본 발명의 제1 실시예에 따른 검사용 프로브 핀 블록의 분해 순서도이다.
도 8은 본 발명의 제2 실시예에 따른 검사용 프로브 핀 블록을 나타낸 사시도이다.
도 9는 본 발명의 제2 실시예에 따른 프로브 핀과 블록 베이스를 나타낸 정단면도이다.
도 10은 본 발명의 제2 실시예에 따른 검사용 프로브 핀 블록을 나타낸 조립 상태도이다.
도 11은 본 발명의 제2 실시예에 따른 검사용 프로브 핀 블록의 분해 순서도이다.
도 2는 종래 기술에 따른 프로브 유닛을 나타낸 사시도이다.
도 3은 본 발명의 제1 실시예에 따른 검사용 프로브 핀 블록을 나타낸 사시도이다.
도 4는 본 발명의 제1 실시예에 따른 프로브 핀과 블록 베이스를 나타낸 정단면도이다.
도 5는 본 발명의 제1 실시예에 따른 검사용 프로브 핀 블록을 나타낸 조립 상태도이다.
도 6은 상기 도 5의 블록 베이스를 나타낸 사시도이다.
도 7은 본 발명의 제1 실시예에 따른 검사용 프로브 핀 블록의 분해 순서도이다.
도 8은 본 발명의 제2 실시예에 따른 검사용 프로브 핀 블록을 나타낸 사시도이다.
도 9는 본 발명의 제2 실시예에 따른 프로브 핀과 블록 베이스를 나타낸 정단면도이다.
도 10은 본 발명의 제2 실시예에 따른 검사용 프로브 핀 블록을 나타낸 조립 상태도이다.
도 11은 본 발명의 제2 실시예에 따른 검사용 프로브 핀 블록의 분해 순서도이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록에 대해 상세히 설명한다.
본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록(100)은 LCD나 OLED와 같은 디스플레이 패널에 구비되어 있는 데이터나 전원 라인 등의 전극(혹은 단자)에 접촉되어 테스트 신호를 인가하고 시험을 진행한다.
이를 위해, 디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록(100)은 프로브 핀(110)과, 블록 베이스(120) 및 잠금키(130)를 포함하며, TCP 회로기판이나 입출력 터미널과 같은 필수 구성들을 더 포함할 수 있다.
이러한 구성에서 본 발명은 고밀도의 디스플레이 패널 전극에 대응하여 적어도 하나 이상, 바람직하게는 다수개의 프로브 핀(110)을 블록 베이스(120)에 조립 후, 잠금키(130)를 이용하여 프로브 핀(110)들을 고정시킨다.
특히, 프로브 핀(110)은 블록 베이스(120)에 형성된 슬롯(121)들에 각각 슬라이딩 방식으로 삽입 조립된 후 슬라이딩 이동을 제한하는 위치에 잠금키(130)를 끼워 고정하며, 교체시에는 잠금키(130)를 해제한 후 필요한 프로브 핀(110)만을 밀어 탈착시킬 수 있게 한다.
<실시예 1>
도 3과 같이, 본 발명의 디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록(100)은 실시예로서 일측에 조립된 커버(CV)에 의해 보호되며, 회로기판을 구비하며 신호케이블(DL)을 통해 테스트 신호를 입력받는다. 또한 검사를 위해 프로브 핀(110)과, 블록 베이스(120) 및 잠금키(130)를 포함한다.
여기서, 프로브 핀(110)은 디스플레이 패널의 전극(혹은 단자)에 접촉하여 테스트 신호를 인가할 수 있도록 전도성 재질로 이루어지며, 검사 대상에 접촉하는 탐침부(111)와 적어도 한 개소 이상에 돌출된 걸림부(112)를 구비한다.
도 4와 같이, 탐침부(111)는 전극에 접촉하는 것으로 전방부에서 하측으로 연장되며, 보통은 단부가 뾰족함 탐침 형상을 갖는다.
걸림부(112)는 상기 잠금키(130)에 의해 걸림 작용이 이루어지는 부분으로 프로브 핀(110)의 상부에 돌출되며, 일 예로 프로브 핀(110)의 길이 방향을 따라 2개가 이격 형성된다.
이러한 걸림부(112)는 잠금키(130)에 의해 걸림 작용이 일어날 수 있으면 다양한 형상으로 이루어질 수 있으며, 도 5와 같이 'ㄱ'자 형상으로 이루어진 걸림부(112)는 그 후방측 수직면과 블록 베이스(120)의 잠금홈(122) 내측벽 사이에 잠금키(130)가 끼워진다.
이러한 프로브 핀(110)의 후방부에는 기판 접촉부(113)가 구비될 수 있다. 기판 접촉부(113)는 프로브 핀(110)의 후방측 단부에서 상측으로 연장됨에 따라 회로기판의 패드 등에 접촉되어 테스트 신호 등을 입력받는다.
블록 베이스(120)는 핀 블록의 몸체를 구성하는 것으로 절연성 재질로 이루어지며, 상술한 프로브 핀(110)이 슬라이딩 방식으로 삽입 조립되는 슬롯(slot, 121)과 상기 걸림부(112)가 노출되는 잠금홈(122)을 구비한다.
이때, 잠금홈(122)은 슬롯(121)의 일측(삽입 방향 단부)에 연결되거나 슬롯(121)의 일부분에 잠금홈(122)을 형성한다. 따라서, 슬롯(121)을 통해 삽입 조립된 프로브 핀(110)은 그 걸림부(112)가 잠금홈(122) 내에 위치하게 된다.
도 6과 같이, 블록 베이스(120)에 형성된 슬롯(121)은 프로브 핀(110)이 인입되는 제1 슬롯(121-S1) 및 상기 제1 슬롯(121-S1)에 인입된 프로브 핀(110)을 인입 방향으로부터 전환된 방향으로 이동시키는 제2 슬롯(121-S2)을 포함한다.
바람직하게 제1 슬롯(121-S1)은 직선 방향으로 형성되고, 제2 슬롯(121-S2)은 제1 슬롯(121-S1)에 대해 직교하는 방향으로 형성되는데, 예컨대 제1 슬롯(121-S1)은 하단에서 직상부로 형성되고, 제2 슬롯(121-S2)은 제1 슬롯(121-S1)의 상단에서 전방측으로 형성된다.
따라서, 프로브 핀(110)은 블록 베이스(120)의 하단에서 제1 슬롯(121-S1)을 통해 인입되고, 제1 슬롯(121-S1)의 단부까지 이동 후에는 제2 슬롯(121-S2)을 따라 전방측으로 방향을 전환하여 조립이 이루어지게 된다.
조립 후에는 잠금키(130)에 의해 이동이 제한되도록 고정되는데, 조립 상태에서 프로브 핀(110)의 걸림부(112)가 노출되는 잠금홈(122)은 제2 슬롯(121-S2)의 일측에 연결 혹은 일체로 형성되므로, 프로브 핀(110)은 제2 슬롯(121-S2)에서의 이동이 제한된다.
다만, 블록 베이스(120)의 잠금홈(122)은 다수의 프로브 핀(110)에 각각 구비되어 있는 걸림부(112)가 모두 노출되도록 블록 베이스(120)의 폭 방향을 따라 연속하여 일체로 형성되어 있는 것이 바람직하다.
이를 통해 하나의 잠금홈(122) 내에 고밀도의 패턴으로 배치된 다수개의 프로브 핀(110)들이 동시에 노출되고, 여기에 하나 또는 다수의 잠금키(130)를 선택적으로 끼워넣어 모든 프로브 핀(110)들을 고정시킬 수 있게 한다.
한편, 잠금키(130)는 블록 베이스(120)의 잠금홈(122) 내에 탈착 가능하게 조립되는 것으로, 그 일단(예: 전방측)이 걸림부(112)에 밀착되어 프로브 핀(110)을 고정시킨다.
다시 말해, 프로브 핀(110)을 블록 베이스(120)의 제1 슬롯(121-S1) 및 제2 슬롯(121-S2)을 따라 슬라이딩 방식으로 끝까지 밀어 넣어 조립 후에는 절연성의 잠금키(130)를 끼워넣어 고정(검사 상태)이 이루어지게 한다.
반면, 도 7과 같이 교체시에는 잠금키(130)를 들어올려 뺀 후 선택된 프로브 핀(110)을 조립시와 반대 경로를 따라 이동시켜 탈착한다. 따라서, 마모나 파손 등이 일어난 프로브 핀(110)을 쉽게 교체할 수 있도록 한다.
위와 같이 잠금키(130)는 슬라이딩 조립된 프로브 핀(110)이 움직이지 못하도록 고정하는 역할을 하는 것이므로, 이를 가능하게 할 수 있다면 다양한 타입의 잠금키(130)가 적용될 수 있다.
그러나, 잠금키(130)를 억지끼움 방식으로 삽입할 수 있으면 프로브 핀(110)을 견고히 고정하면서도 탈부착이 용이하게 된다다. 이에, 잠금키(130)는 삽입홈 내에서 다수의 프로브 핀(110)에 걸리는 길이 부재가 적용될 수 있다.
길이 부재인 잠금키(130)는 일 예로 도시한 바와 같이 단면이 원형인 일체(하나)의 끼움 로드(rod)가 적용될 수 있다. 물론, 본 발명은 이에 한정되는 것은 아니며, 그 외 단면이 다각형인 것이나 길이 방향을 따라 절단된 다수의 잠금키(130)들을 하나의 잠금홈(122)에 끼울 수도 있다.
다만, 잠금키(130)로서 길이 부재를 이용하는 경우, 블록 베이스(120)의 잠금홈(122)은 프로브 핀(110)의 걸림부(112) 옆에 잠금키(130)가 삽입되는 공간을 형성한 것이 사용될 수 있다.
따라서, 삽입 공간에 길이 부재인 잠금키(130)를 억지끼움 방식으로 장착하면 잠금키(130)의 일단은 걸림부(112)에 밀착되고 타단은 잠금홈(122)의 내측벽에 밀착되면서, 잠금키(130)로 프로브 핀(110)의 이동을 제한(제2 슬롯에서 이탈 방지)하여 잠금 상태가 된다.
또한, 위와 같은 잠금키(130)는 실리콘과 같은 탄성체로 구성되는 것이 바람직한데, 잠금키(130)를 탄성체로 구성하면 잠금홈(122)에 삽입시 프로브 핀(110)의 손상을 방지하면서도 프로브 핀(110)을 탄성 가압하여 고정되게 한다.
<실시예 2>
도 8과 같이, 본 발명의 디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록(100)은 다른 실시예로서 디스플레이 패널의 검사를 위해 프로브 핀(110)과, 블록 베이스(120) 및 잠금키(130)를 포함하며, 이점은 위에서 설명한 바와 같다.
그러나, 이하에서 설명하는 다른 실시예는 본 발명의 디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록(100)가 다양한 구조의 프로브 핀(110) 및 블록 베이스(120)에 대해 적용됨은 물론, 조립(해제) 방향도 변형될 수 있음을 보여준다.
이에, 상기한 프로브 핀(110)은 디스플레이 패널의 전극(혹은 단자)에 접촉하여 테스트 신호를 인가할 수 있도록 전도성 재질로 이루어지며, 검사 대상에 접촉하는 탐침부(111)와 적어도 한 개소 이상에 돌출된 걸림부(112)를 구비한다.
도 9와 같이, 탐침부(111)는 디스플레이 패널의 전극에 접촉하는 것으로 전방부에서 하측으로 연장되며, 프로브 핀(110)의 상단부에는 회로기판의 패드 등에 접촉되는 기판 접촉부(113)가 구비된다.
이때, 걸림부(112)는 상기 잠금키(130)에 의해 걸림 작용이 이루어지는 부분으로 하측의 탐침부(111)와 상측의 기판 접촉부(113) 사이에 구비되며, 걸림부(112)의 전면부에 잠금키(130)가 끼워져 지지된다.
이러한 걸림부(112)는 잠금키(130)에 의해 걸림 작용이 일어날 수 있으면 다양한 형상으로 이루어질 수 있으며, 도 10과 같이 사각판 형상으로 이루어진 걸림부(112)는 그 전방측 수직면과 블록 베이스(120)의 잠금홈(122) 내측벽 사이에 잠금키(130)가 끼워진다.
블록 베이스(120)는 핀 블록의 몸체를 구성하는 것으로 절연성 재질로 이루어지며, 상술한 프로브 핀(110)이 슬라이딩 방식으로 삽입 조립되는 슬롯(121)과 걸림부(112)가 노출되는 잠금홈(122)을 구비한다.
이때, 잠금홈(122)은 슬롯(121)의 일측(삽입 방향 단부)에 연결되거나 슬롯(121)의 일부분에 잠금홈(122)을 형성한다. 따라서, 슬롯(121)을 통해 삽입 조립된 프로브 핀(110)은 그 걸림부(112)가 잠금홈(122) 내에 위치하게 된다.
블록 베이스(120)에 형성된 슬롯(121)은 프로브 핀(110)이 인입되는 제1 슬롯(121-S1) 및 상기 제1 슬롯(121-S1)에 인입된 프로브 핀(110)을 인입 방향으로부터 전환된 방향으로 이동시키는 제2 슬롯(121-S2)을 포함한다.
바람직하게 제1 슬롯(121-S1)은 직선 방향으로 형성되고, 제2 슬롯(121-S2)은 제1 슬롯(121-S1)에 대해 직교하는 방향으로 형성되는데, 예컨대 제1 슬롯(121-S1)은 하단에서 직상부로 형성되고, 제2 슬롯(121-S2)은 제1 슬롯(121-S1)의 상단에서 후방측으로 형성된다.
따라서, 프로브 핀(110)은 블록 베이스(120)의 하단에서 제1 슬롯(121-S1)을 통해 인입되고, 제1 슬롯(121-S1)의 단부까지 이동 후에는 제2 슬롯(121-S2)을 따라 방향을 전환하여 조립이 이루어지게 된다.
조립 후에는 잠금키(130)에 의해 이동이 제한되도록 고정되는데, 조립 상태에서 프로브 핀(110)의 걸림부(112)가 노출되는 잠금홈(122)은 제2 슬롯(121-S2)의 일측에 연결 혹은 일체로 형성되므로, 프로브 핀(110)은 제2 슬롯(121-S2)에서의 이동이 제한된다.
본 발명의 다른 실시예에서도 블록 베이스(120)의 잠금홈(122)은 다수의 프로브 핀(110)에 각각 구비되어 있는 걸림부(112)가 모두 노출되도록 블록 베이스(120)의 폭 방향을 따라 연속하여 일체로 형성되어 있는 것이 바람직하다.
이를 통해 하나의 잠금홈(122) 내에 고밀도의 패턴으로 배치된 다수개의 프로브 핀(110)들이 동시에 노출되고, 여기에 하나 또는 다수의 잠금키(130)를 선택적으로 끼워넣어 모든 프로브 핀(110)들을 고정시킬 수 있게 한다.
한편, 잠금키(130)는 블록 베이스(120)의 잠금홈(122) 내에 탈착 가능하게 조립되는 것으로, 그 일단(예: 후방측)이 걸림부(112)에 밀착되어 프로브 핀(110)을 고정시킨다.
다시 말해, 프로브 핀(110)을 블록 베이스(120)의 제1 슬롯(121-S1) 및 제2 슬롯(121-S2)을 따라 슬라이딩 방식으로 끝까지 밀어 넣어 조립 후에는 절연성의 잠금키(130)를 끼워넣어 고정(검사 상태)이 이루어지게 한다.
반면, 도 11과 같이 교체시에는 잠금키(130)를 들어올려 뺀 후 선택된 프로브 핀(110)을 조립시와 반대 경로를 따라 이동시켜 탈착한다. 따라서, 마모나 파손 등이 일어난 프로브 핀(110)을 쉽게 교체할 수 있도록 한다.
위와 같이 잠금키(130)는 슬라이딩 조립된 프로브 핀(110)이 움직이지 못하도록 고정하는 것으로, 삽입홈 내에서 다수의 프로브 핀(110)에 걸리는 길이 부재가 적용될 수 있다.
길이 부재인 잠금키(130)는 단면이 원형인 일체(하나)의 끼움 로드(rod)가 적용될 수 있다. 물론, 그 외 단면이 다각형인 것이나 길이 방향을 따라 절단된 다수의 잠금키(130)들을 하나의 잠금홈(122)에 끼울 수도 있다.
따라서, 삽입 공간에 길이 부재인 잠금키(130)를 억지끼움 방식으로 장착하면 잠금키(130)의 일단은 걸림부(112)에 밀착되고 타단은 잠금홈(122)의 내측벽에 밀착되면서, 잠금키(130)로 프로브 핀(110)의 이동을 제한(제2 슬롯에서 이탈 방지)하여 잠금 상태가 된다.
또한, 위와 같은 잠금키(130)는 실리콘과 같은 탄성체로 구성되는 것이 바람직한데, 잠금키(130)를 탄성체로 구성하면 잠금홈(122)에 삽입시 프로브 핀(110)의 손상을 방지하면서도 프로브 핀(110)을 탄성 가압하여 고정되게 한다.
이상, 본 발명의 특정 실시예에 대하여 상술하였다. 그러나, 본 발명의 사상 및 범위는 이러한 특정 실시예에 한정되는 것이 아니라, 본 발명의 요지를 변경하지 않는 범위 내에서 다양하게 수정 및 변형 가능하다는 것을 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이해할 것이다.
따라서, 이상에서 기술한 실시예들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이므로, 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 하며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.
110: 프로브 핀
111: 탐침부
112: 걸림부
113: 기판 접촉부
120: 블록 베이스
121: 슬롯
121-S1: 제1 슬롯
121-S2: 제2 슬롯
122: 잠금홈
130: 잠금키
111: 탐침부
112: 걸림부
113: 기판 접촉부
120: 블록 베이스
121: 슬롯
121-S1: 제1 슬롯
121-S2: 제2 슬롯
122: 잠금홈
130: 잠금키
Claims (6)
- 전도성 재질로 이루어지며, 검사 대상에 접촉하는 탐침부(111)와 적어도 한 개소 이상에 돌출된 걸림부(112)를 구비한 프로브 핀(110)과;
상기 프로브 핀(110)이 슬라이딩 방식으로 삽입 조립되는 슬롯(121)과 상기 걸림부(112)가 노출되도록 잠금홈(122)을 구비한 블록 베이스(120); 및
상기 잠금홈(122) 내에 탈착 가능하게 조립되며, 일단이 상기 걸림부(112)에 밀착되어 상기 프로브 핀(110)을 고정시키는 잠금키(130);를 포함하여,
상기 잠금키(130)를 탈착 후 상기 프로브 핀(110)을 상기 블록 베이스(120)로부터 인출할 수 있도록 구성된 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록. - 제1항에 있어서,
상기 블록 베이스(120)의 슬롯(121)은,
상기 프로브 핀(110)이 인입되는 제1 슬롯(121-S1); 및
상기 제1 슬롯(121-S1)에 인입된 프로브 핀(110)을 상기 인입 방향으로부터 전환된 방향으로 이동시키는 제2 슬롯(121-S2);을 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록. - 제2항에 있어서,
상기 제1 슬롯(121-S1)은 직선 방향으로 형성되고,
상기 제2 슬롯(121-S2)은 상기 제1 슬롯(121-S1)에 대해 직교하는 방향으로 형성되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록. - 제1항에 있어서,
상기 블록 베이스(120)의 잠금홈(122)은,
다수의 프로브 핀(110)에 각각 구비되어 있는 걸림부(112)가 모두 노출되도록 상기 블록 베이스(120)의 길이 방향을 따라 연속하여 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록. - 제1항에 있어서,
상기 블록 베이스(120)의 잠금홈(122)은,
상기 걸림부(112)의 옆에 상기 잠금키(130)가 삽입되는 공간을 형성하여, 상기 잠금키(130)의 일단은 상기 걸림부(112)에 밀착되고 타단은 상기 잠금홈(122)의 내측벽에 밀착되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록. - 제1항에 있어서,
상기 잠금키(130)는,
상기 프로브 핀(110)을 탄성 가압하도록 탄성체로 구성되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020210009478A KR102477553B1 (ko) | 2021-01-22 | 2021-01-22 | 디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020210009478A KR102477553B1 (ko) | 2021-01-22 | 2021-01-22 | 디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20220106497A true KR20220106497A (ko) | 2022-07-29 |
| KR102477553B1 KR102477553B1 (ko) | 2022-12-15 |
Family
ID=82606604
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020210009478A KR102477553B1 (ko) | 2021-01-22 | 2021-01-22 | 디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR102477553B1 (ko) |
Citations (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100472285B1 (ko) * | 2002-05-25 | 2005-03-08 | (주)티에스이 | 소켓 |
| KR100525154B1 (ko) * | 2004-09-06 | 2005-11-02 | (주)유비프리시젼 | 포고핀 및 포고핀이 장착되는 프로브 |
| KR100600700B1 (ko) * | 2005-07-29 | 2006-07-19 | 프롬써어티 주식회사 | 평판표시패널 검사용 프로브 장치 |
| KR20070017858A (ko) * | 2005-08-08 | 2007-02-13 | 주식회사 프로텍 | 액정디스플레이 검사기용 프로브 조립체 |
| KR20070108824A (ko) * | 2006-05-08 | 2007-11-13 | 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 | 프로브 조립체 |
| KR20070109205A (ko) * | 2006-05-10 | 2007-11-15 | 주식회사 파이컴 | 프로브 유닛 및 이를 포함하는 프로브 장치 |
| KR100854757B1 (ko) | 2007-01-25 | 2008-08-27 | 주식회사 나노픽셀 | 프로브 및 이를 이용한 디스플레이 패널 검사용 프로브블록 |
| JP2008286601A (ja) * | 2007-05-16 | 2008-11-27 | Micronics Japan Co Ltd | プローブ組立体及び検査装置 |
| KR20090067030A (ko) * | 2007-12-20 | 2009-06-24 | 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 | 프로브 유닛 및 검사장치 |
| KR100951717B1 (ko) * | 2009-06-25 | 2010-04-07 | 주식회사 한택 | 프로브 블럭 |
| JP2011112491A (ja) * | 2009-11-26 | 2011-06-09 | Micronics Japan Co Ltd | プローブ装置 |
| KR101152181B1 (ko) | 2010-05-06 | 2012-06-15 | 주식회사디아이 | 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록 및 프로브 유닛 |
-
2021
- 2021-01-22 KR KR1020210009478A patent/KR102477553B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100472285B1 (ko) * | 2002-05-25 | 2005-03-08 | (주)티에스이 | 소켓 |
| KR100525154B1 (ko) * | 2004-09-06 | 2005-11-02 | (주)유비프리시젼 | 포고핀 및 포고핀이 장착되는 프로브 |
| KR100600700B1 (ko) * | 2005-07-29 | 2006-07-19 | 프롬써어티 주식회사 | 평판표시패널 검사용 프로브 장치 |
| KR20070017858A (ko) * | 2005-08-08 | 2007-02-13 | 주식회사 프로텍 | 액정디스플레이 검사기용 프로브 조립체 |
| KR20070108824A (ko) * | 2006-05-08 | 2007-11-13 | 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 | 프로브 조립체 |
| KR20070109205A (ko) * | 2006-05-10 | 2007-11-15 | 주식회사 파이컴 | 프로브 유닛 및 이를 포함하는 프로브 장치 |
| KR100854757B1 (ko) | 2007-01-25 | 2008-08-27 | 주식회사 나노픽셀 | 프로브 및 이를 이용한 디스플레이 패널 검사용 프로브블록 |
| JP2008286601A (ja) * | 2007-05-16 | 2008-11-27 | Micronics Japan Co Ltd | プローブ組立体及び検査装置 |
| KR20090067030A (ko) * | 2007-12-20 | 2009-06-24 | 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 | 프로브 유닛 및 검사장치 |
| KR100951717B1 (ko) * | 2009-06-25 | 2010-04-07 | 주식회사 한택 | 프로브 블럭 |
| JP2011112491A (ja) * | 2009-11-26 | 2011-06-09 | Micronics Japan Co Ltd | プローブ装置 |
| KR101152181B1 (ko) | 2010-05-06 | 2012-06-15 | 주식회사디아이 | 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록 및 프로브 유닛 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR102477553B1 (ko) | 2022-12-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN108401443B (zh) | 插座 | |
| JP4571517B2 (ja) | プローブ組立体 | |
| US20100015860A1 (en) | Strip connectors for measurement devices | |
| KR101201591B1 (ko) | 소켓 및 커넥터 | |
| CN109638499B (zh) | 电连接装置 | |
| KR102042923B1 (ko) | 비젼 정렬을 위한 디스플레이 모듈 검사용 프로브 블록 | |
| KR100928228B1 (ko) | 반도체 칩 테스트용 검사 소켓 | |
| JP2008140770A (ja) | 中継コネクター | |
| KR100252566B1 (ko) | 프로브조립체및프로브 | |
| KR100963566B1 (ko) | 프로브 조립체 및 검사장치 | |
| TWI387755B (zh) | Probe assembly | |
| KR20220106497A (ko) | 디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록 | |
| JPH0982853A (ja) | Ｉｃソケット | |
| KR20180107891A (ko) | 클립 스프링 핀 및 이를 포함하는 테스트 소켓 | |
| KR20140112658A (ko) | 반도체 디바이스 테스트 장치 | |
| US9780472B2 (en) | Electric connector | |
| JP2008123796A (ja) | 中継コネクター | |
| JP2010160083A (ja) | プローブ組立体 | |
| KR101511175B1 (ko) | 위치조절이 가능한 핀 블록 | |
| KR200249789Y1 (ko) | 액정표시장치 검사용 핀프루브조립체 | |
| KR102174269B1 (ko) | 칩 부품 검사용 프로브 조립체 | |
| KR102188173B1 (ko) | 디스플레이 패널 검사용 소켓장치의 프로브핀 고정구조 | |
| JP4262713B2 (ja) | 検査装置 | |
| KR200422611Y1 (ko) | 집적회로모듈용 테스트소켓 | |
| KR20080100601A (ko) | 반도체 소자 테스트용 프로브 카드 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| E701 | Decision to grant or registration of patent right |