KR101201591B1 - 소켓 및 커넥터 - Google Patents

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겐지 오쿠라
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파나소닉 주식회사
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Abstract

소형화를 도모하면서도 소켓 콘택트의 평탄도를 높은 정밀도로 검사 가능한 소켓을 제공한다. 헤더 본체(11), 및 헤더 본체(11)에 유지되는 복수의 헤더 콘택트(12)로 이루어지는 헤더(1)와, 일면에 헤더(1)가 삽입되는 접속 오목부(21a)가 천공되는 소켓 본체(21), 및 접속 오목부(21a)에 소켓 본체(21)의 긴쪽 방향을 따라 병설되고, 일단측이 소켓 본체(21)에 형성되는 안내 홈(21e)을 거쳐서 소켓 본체(21)의 짧은쪽 방향에서 대향하는 각 측벽의 외측면으로부터 돌출되고, 접속 오목부(21a)에 삽입되어 있는 헤더(1)의 헤더 콘택트(12)에 각각 접촉 도통하는 복수의 소켓 콘택트(22)로 이루어지는 소켓(2)을 구비하고, 소켓 본체(21)는 소켓 콘택트(22)가 돌출된 측벽에 있어서, 적어도 소켓 콘택트(22)의 둘레부에 오목부(21f)가 형성된다.

Description

소켓 및 커넥터{SOCKET AND CONNECTOR}
본 발명은 서로 결합해서 전기적으로 접속되는 소켓과 헤더를 구비하는 커넥터의 소켓에 관한 것이다.
종래부터, 도 9에 도시하는 바와 같이, 소켓(81)과 헤더(82)로 구성되고, 각각이 실장되는 도시하지 않은 프린트 배선판(예를 들면, FPC(flexable printed circuit) 기판이나 리지드(rigid) 기판) 사이를 전기적으로 접속하는 커넥터가 제공되고 있다(예를 들면, 특허문헌 1 참조). 이하, 도 9에 있어서의 상하 좌우를 기준으로 하고, 상하 좌우 방향과 직교하는 방향을 전후 방향으로 한다.
소켓(81)은 절연재료로 이루어지는 대략 직방체형상의 소켓 본체(811)와, 띠판 형상(strip shape)의 금속판이 절곡되어 소켓 본체(811)에 유지되는 소켓 콘택트(812)로 구성된다.
소켓 본체(811)는 그 상면에 접속 오목부(811a)가 형성되고, 소켓 본체(811)의 길이 방향(전후 방향)을 따라 접속 오목부(811a)내에 복수의 소켓 콘택트(812)가 병설되어 있다. 그리고, 케이스 본체(811)에는 접속 오목부(811a)와 좌우 각 측벽을 각각 접속하는 도출 경로(811b)가 형성되고, 소켓 콘택트(812)의 일단이, 도출 경로(811b)를 거쳐서 케이스 본체(811)에 있어서의 좌우 각 측벽의 외측면으로부터 돌출된다.
헤더(82)는 절연재료로 이루어지는 헤더 본체(821)와, 띠판형상의 금속판이 절곡되어 헤더 본체(821)에 유지되는 헤더 콘택트(822)로 구성된다.
그리고, 헤더(82)를 접속 오목부(811a)에 삽입함으로써, 헤더 콘택트(822)가 소켓 콘택트(812)에 접촉 도통하고, 소켓(81)과 헤더(82)가 전기적으로 접속된다.
그리고, 소켓 본체(811)의 측벽의 외측면으로부터 돌출된 각 소켓 콘택트(812)는 그 선단부가 전후 방향을 따라 병설되고, 해당 선단부가 프린트 배선판의 배선 패턴에 각각 땜납 접속된다. 여기서, 각 소켓 콘택트(812)에 있어서의 상기 선단부의 위치가 서로 상하 방향에서 크게 불균일하면, 소켓(81)과 프린트 배선판의 접속 상태가 불안정하게 될 우려가 있었다.
그 때문에, 소켓(81)과 프린트 배선판을 땜납 접속하기 전에, 복수의 소켓 콘택트(812)에 있어서의 각 선단부의 평탄도를 측정하고, 해당 각 선단부의 편차가 소정의 범위내에 있는지를 검사할 필요가 있다. 여기서, 상기 검사는 도 10, 도 11에 도시하는 바와 같이, 소켓(81)이 탑재되는 레일(91)과, 해당 레일(91)의 일면에 소정의 간격을 두고 대향해서 마련되는 한 쌍의 검사지그(92)를 이용한 게이지 검사를 실행한다. 여기서, 소켓(81)은 에어가 분사되는 것에 의해서 레일(91)을 따라 반송된다.
한 쌍의 검사지그(92)는 소켓(81)이 반송되는 방향(도 10의 (b)에 있어서의 화살표의 방향)에 대해 수직인 방향에서 서로 대향하여 마련되고, 반송되어 온 소켓(81)이 한 쌍의 검사지그(92) 사이를 통과한다. 그 때, 소켓 콘택트(812)의 선단부가 레일(91)과 검사지그(92)의 간극 G를 통과해서 검사지그(92)에 접촉하지 않으면 양품(선단부의 편차가 작음)으로 판단한다. 한편, 소켓 콘택트(812)가 검사지그(92)에 접촉한 경우에는 불량품(선단부의 편차가 큼)으로 판단한다.
여기서, 소켓(81)의 도 11에 있어서의 좌우 방향의 치수를 폭 치수 L로 하고, 소켓 본체(811)로부터 돌출된 소켓 콘택트(812)의 돌출 길이를 P, 소켓 콘택트(812)와 검사지그(92)의 결합마진(engaging margin)을 Q로 한다.
(특허문헌 1) 일본 특허 공개 공보 제 2007-165195 호
상기 종래예에 있어서의 커넥터는 소형화가 요망되어 있기 때문에 폭 치수 L을 작게 할 필요가 있고, 해당 폭 치수 L을 작게 하기 위해서는 소켓 콘택트(812)의 돌출 길이 P를 짧게 할 필요가 있었다.
그러나, 도 12에 도시하는 바와 같이, 돌출 길이 P를 짧게 하면, 폭 치수 L을 짧게 할 수 있지만, 결합마진 Q를 충분히 확보할 수 없게 된다(도 12에서는 결합마진 Q는 0으로 되어 있다). 즉, 상기 검사를 정확하게 실행할 수 없게 되어 버리는 바와 같은 문제가 있었다. 또한, 검사 방법으로서 화상 검사를 이용한 경우에는 상기 게이지 검사에 비해 정밀도가 나빠져 버린다.
본 발명은 상기 사유를 감안해서 이루어진 것으로서, 그 목적은 소형화를 도모하면서도 소켓 콘택트의 평탄도를 정밀도 좋게 검사 가능한 소켓을 제공하는 것에 있다.
상기 과제를 해결하기 위해 제 1 발명은 절연재료로 대략 직방체형상으로 형성되어 일면에 접속 오목부가 천공(drilling)되는 소켓 본체와, 상기 접속 오목부에 상기 소켓 본체의 길이 방향을 따라 병설되고, 일단측이 상기 소켓 본체에 형성되는 도출 경로를 거쳐서 상기 소켓 본체의 짧은 쪽 방향에서 대향하는 양 측벽 중의 적어도 한쪽의 측벽의 외측면으로부터 돌출되는 복수의 소켓 콘택트로 구성되고, 상기 소켓 본체는 상기 소켓 콘택트가 돌출된 측벽에 있어서, 적어도 상기 소켓 콘택트의 둘레부에 오목부가 형성되는 것을 특징으로 한다.
제 2 발명은 제 1 발명에 있어서, 상기 오목부는 상기 소켓 콘택트가 돌출된 소켓 본체의 측벽에 있어서, 긴쪽 방향 일단에서 타단에 걸쳐 연속해서 형성되고, 상기 소켓 콘택트가 상기 오목부로부터 돌출되는 것을 특징으로 한다.
제 3 발명은 제 1 발명에 있어서, 상기 오목부는 상기 소켓 콘택트가 돌출된 소켓 본체의 측벽에 있어서, 상기 각 소켓 콘택트마다 그 둘레부에 형성되는 것을 특징으로 한다.
제 4 발명은 제 1 발명에 있어서, 상기 오목부는 그 내벽이 상기 오목부의 저면과 둔각을 이루어 경사지는 것을 특징으로 한다.
제 5 발명은 제 1 내지 제 4 중의 어느 하나에 기재된 소켓과, 절연재료로 이루어지는 헤더 본체 및 이 헤더 본체에 유지되는 복수의 헤더 콘택트로 이루어지는 헤더를 구비하고, 상기 접속 오목부에 헤더가 삽입되어 이 헤더의 헤더 콘택트와 소켓 콘택트가 각각 접촉 도통하는 것을 특징으로 한다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명은 소켓의 소형화를 도모하면서 소켓 콘택트의 평탄도를 정밀하게 검사 가능하게 할 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시형태 1에 있어서의 커넥터의 단면도를 나타내는 도면이다.
도 2는 본 발명의 실시형태 1의 헤더의 사시도를 나타내는 도면이다.
도 3은 본 발명의 실시형태 1에 있어서의 소켓의 사시도를 나타내는 도면이다.
도 4는 본 발명의 실시형태 1에 있어서의 소켓 콘택트의 사시도를 나타내는 도면이다.
도 5는 본 발명의 실시형태 1에 있어서의 소켓의 검사시의 단면도를 나타내는 도면이다.
도 6은 본 발명의 실시형태 1에 있어서의 소켓의 검사시의 단면도를 나타내는 도면이다.
도 7은 본 발명의 실시형태 2에 있어서의 소켓의 사시도를 나타내는 도면이다.
도 8은 본 발명의 실시형태 2에 있어서의 소켓의 검사시의 사시도를 나타내는 도면이다.
도 9는 종래 예에 있어서의 커넥터의 단면도를 나타내는 도면이다.
도 10은 본 발명의 실시형태 2에 있어서의 소켓의 검사시의 사시도를 나타내는 도면이다.
도 11은 본 발명의 실시형태 2에 있어서의 소켓의 검사시의 단면도를 나타내는 도면이다.
도 12는 소켓 콘택트를 짧게 한 경우의 검사시의 단면도를 나타내는 도면이다.
이하, 본 발명의 실시형태를 도면에 의거하여 설명한다.
(실시형태 1)
본 실시형태에 있어서의 커넥터에 대해, 도 1～6을 이용해서 설명을 한다.
본 실시형태의 소켓을 구비하는 커넥터는, 도 1에 도시하는 바와 같이, 제 1 프린트 배선판(도시하지 않음)에 실장되는 헤더(1)와, 제 2 프린트 배선판(도시하지 않음)에 실장되는 소켓(2)으로 이루어진다. 소켓(2)은 헤더(1)가 삽입 이탈되는 접속 오목부(21a)를 갖고, 제 1 프린트 배선판과 제 2 프린트 배선판을 서로 대향시키는 형태로 헤더(1)를 접속 오목부(21a)에 삽입하면, 헤더(1)와 소켓(2)을 거쳐서 제 1 프린트 배선판과 제 2 프린트 배선판이 서로 전기적으로 접속되는 것이다.
이하, 상하 좌우는 도 1을 기준으로 해서 설명한다. 즉, 접속 오목부(21a)에의 헤더(1)의 삽입 방향을 하방향으로 하고, 접속 오목부(21a)로부터 헤더(1)를 빼는 방향을 상방향으로 한다. 즉, 이하의 설명에 있어서의 상하 방향이 청구항에 있어서의 삽입 이탈 방향이다. 또한, 도 1의 지면에 직교하는 방향, 즉, 도2의 전후 방향을 길이 방향으로 하고, 도 1의 좌우 방향을 폭 방향으로 한다.
헤더(1)는 도 1, 2에 도시하는 바와 같이, 헤더 본체(11)와, 헤더 본체(11)의 좌우 양단부에 각각 복수개씩 전후에 배열해서 유지된 헤더 콘택트(12)와, 제 1 배선판의 그라운드 패턴에 전기적으로 접속되는 그라운드 콘택트(13)를 구비한다.
헤더 본체(11)는, 예를 들면, 합성수지와 같은 절연재료로 대략 직방체형상으로 형성되고, 그 하면에 전후 방향으로 긴 내(內)오목부(11a)가 형성되어 있다.
각 헤더 콘택트(12)는 각각, 헤더 본체(11)의 좌우의 외측면에 노출된 제 1 접촉부(121)와, 제 1 접촉부(121)와 함께 내오목부(11a)의 좌우의 가장자리를 사이에 두는 U자형상을 이루고 내오목부(11a)의 내측에 노출된 제 2 접촉부(122)와, 제 2 접촉부(122)의 상단으로부터 좌우 방향 중, 바깥쪽을 향해 연장되어 내오목부(11a)의 저면을 관통하고 헤더 본체(11)의 상단면을 따라 좌우로 돌출해서 실장에 이용되는 단자부(123)를 갖는다. 각 헤더 콘택트(12)는 각각, 예를 들면, 인서트 성형에 의해서 헤더 본체(11)에 유지되어 있다. 각 헤더 콘택트(12)는 각각 제 1 프린트 배선판에 마련된 도전 패턴에 대해 단자부(123)가 납땜되는 것에 의해, 제 1 프린트 배선판에 전기적으로 접속된다.
그라운드 콘택트(13)는 헤더 본체(11)내에 유지되는 대략 U자형상의 피유지부(131)와, 피유지부(131)의 상단으로부터 헤더 본체(11)의 상단면을 따라 좌우로 돌출해서 그라운드 패턴에 납땜되는 단자부(132)를 갖는다.
소켓(2)은 도 1, 3에 도시하는 바와 같이, 상면에 접속 오목부(21a)가 마련된 소켓 본체(21)와, 접속 오목부(21a)의 내에 유지되는 소켓 콘택트(22)로 구성된다.
소켓 본체(21)는, 예를 들면, 합성수지와 같은 절연재료로 대략 직방체형상으로 형성되고, 상면에 단면 대략 직사각형형상의 접속 오목부(21a)가 마련되고, 접속 오목부(21a)의 저면 대략 중앙으로부터는 전후 방향으로 긴 내볼록부(21c)가 돌출설치되어 있다. 그리고, 접속 오목부(21a)의 좌우 내벽에는 각 소켓 콘택트(22)의 일부를 수납하는 제 1 콘택트 수납 홈(21b)이 전후 방향으로 각각 병설되어 있다. 또한, 내볼록부(21c)의 좌우 양 측면에는 각 소켓 콘택트(22)의 일부를 수납하는 제 2 콘택트 수납 홈(21d)이 전후 방향에 각각 병설되어 있다.
또한, 소켓 본체(21)의 접속 오목부(21a)의 저면에 있어서, 각 소켓 콘택트(22)에 대응하는 위치에는 각각, 제 1 콘택트 수납 홈(21b)과 제 2 콘택트 수납 홈(21d)에 연통하는 안내 홈(21e)이 형성된다. 안내 홈(21e)은 소켓 본체(21)에 있어서의 저면의 좌우 양단으로부터 좌우 방향을 따라 각각 중앙을 향해 형성되어 있다.
또한, 소켓 본체(21)에 있어서의 좌우 양 측벽은 그 하단부가 전후 방향을 따라 연속적으로 잘라내어지고, 상단측에 비해 내측으로 오목한 단면 대략 직사각형형상의 오목부(21f)가 형성되어 있다.
소켓 콘택트(22)는 접속 오목부(21a)에 헤더(1)가 삽입했을 때, 접속 오목부(21a)의 내측에 있어서, 헤더 콘택트(12)에 1대1로 접촉하면서 도통하도록 소켓 본체(21)에 유지된다.
본 실시형태에서는 헤더 콘택트(12)와 소켓 콘택트(22)는 각각, 탄성과 도전성을 갖는 가늘고 긴 금속판에 구부림가공이 실시되고, 폭 방향을 전후 방향을 향해 좌우 2열로 전후로 배열해서 복수조 마련되어 있다.
그리고, 소켓 콘택트(22)는, 도 4에 도시하는 바와 같이, 두께 방향을 상하 방향을 향해 소켓 본체(21)보다도 좌우 방향의 외측으로 돌출해서 실장에 이용되는 단자부(221)와, 단자부(221)의 좌우 중, 내측으로 되는 한쪽의 끝으로부터 상방향으로 연장되고 소켓 본체(21)에 유지되는 피유지부(222)와, 피유지부(222)의 상단으로부터 좌우방향 중 단자부(221)로부터 멀어지는 방향으로 연장된 제 1 연결부(223)와, 제 1 연결부(223)의 선단으로부터 아래쪽으로 연장되어 헤더 콘택트(12)의 제 1 접촉부(121)에 접촉하는 제 1 접촉부(224)와, 제 1 접촉부(224)의 하단으로부터 좌우방향 중 피유지부(222)로부터 멀어지는 방향으로 연장된 제 2 연결부(225)와, 제 2 연결부(225)의 선단으로부터 상방향으로 연장되어 제 1 접촉부(224)와의 사이에 헤더 콘택트(12)를 두는 형태로 헤더 콘택트(12)의 제 2 접촉부(122)에 탄성 접촉하는 제 2 접촉부(226)를 갖는다. 즉, 좌우 방향이 청구항에 있어서의 단자 방향이다.
또한, 제 1 접촉부(224)의 상단부에는 제 1 접촉부(224)의 다른 부위보다도 좌우 방향 중 피유지부(222)로부터 멀어지는 방향으로 돌출된 곡면형상의 피계합 볼록부(224a)가 마련되어 있다. 헤더(1)가 소켓(2)에 완전히 접속된 상태에서는 제 1 접촉부(224)는 피계합 볼록부(224a)에 있어서만 헤더 콘택트(12)에 접촉한다.
또한, 제 2 연결부(225)는 제 1 접촉부(224)로부터 멀어짐에 따라 위쪽으로 경사시키고 있고, 이에 따라 제 2 연결부(225)는 제 2 접촉부(226)측의 단부를 제 1 접촉부(224)측의 단부에 대해 아래쪽으로 변위시키도록 탄성 변형 가능하게 되어 있다.
또한, 제 2 접촉부(226)는 선단을 제 2 연결부(225)를 향하도록 구부려진 J자형상으로 되어 있고, 이 구부림에 의해서 형성된 볼록곡면(226a)에 있어서 헤더 콘택트(12)에 탄성 접촉한다. 그리고, 소켓 콘택트(22)는 소켓 본체(21)의 아래쪽으로부터, 피유지부(222)에서 제 2 접촉부(226)까지를 안내 홈(21e)에 통과시켜 소켓 본체(21)에 부착된다. 그 때, 소켓 콘택트(22)의 단자부(221)가 안내 홈(21e)내에 수납되고, 단자부(221)의 선단이 안내 홈(21e)을 거쳐서 소켓 본체(21)에 있어서의 좌우 방향의 측벽 하단으로부터 돌출된다. 즉, 소켓 콘택트(22)는 오목부(21f) 하단으로부터 돌출된다.
또한, 소켓 콘택트(22)의 피유지부(222)와 제 1 연결부(223)는 제 1 콘택트 수납 홈(21b)에 수납되고, 피계합 볼록부(224a)는 제 1 콘택트 수납 홈(21b)으로부터 탄성적으로 돌출된다. 또한, 제 2 접촉부(226)는 제 2 콘택트 수납 홈(21d)에 수납되고, 제 2 접촉부(226)의 상단부가 제 2 콘택트 수납 홈(21d)으로부터 탄성적으로 돌출된다.
여기서, 소켓 콘택트(22)의 피유지부(222)와 제 1 접촉부(224)에는 각각 상하 방향의 중앙부에 있어서 폭 방향인 전후 방향의 양측에, 압입 볼록부(222a, 224b)가 돌출설치되어 있다. 그리고, 각 소켓 콘택트(22)는 각각, 각 압입 볼록부(222a, 224b)가 각각 제 1 콘택트 수납 홈(21b)의 전후에 대향하는 내면에 압입되는 것에 의해서 소켓 본체(21)에 유지된다. 여기서, 각 압입 볼록부(222a, 224b)의 상하 양 단부의 각각 전후 양면은 각각 상하 방향의 끝을 향해 돌출치수를 작게 하도록 경사져 있고, 이 경사면이 제 1 콘택트 수납 홈(21b)의 내면에 의해서 가이드되는 것에 의해, 소켓 콘택트(22)의 소정 위치로의 도입이 용이하게 되어 있다.
또한, 헤더 콘택트(12)의 제 1 접촉부(121)에는 헤더(1)를 접속 오목부(21a)에 삽입했을 때, 소켓 콘택트(22)의 피계합 볼록부(224a)를 타고 넘는 계합 볼록부(121a)가 좌우 방향 중 바깥쪽을 향해 돌출설치되어 있다. 이 구성에 의해, 계합 볼록부(121a)가 피계합 볼록부(224a)를 타고 넘을 때에 작업자에게 클릭감을 줄 수 있다. 또한, 헤더(1)와 소켓(2)이 접속된 상태에서는 피계합 볼록부(224a)가 계합 볼록부(121a)의 상측에 위치하는 것에 의해 헤더(1)와 소켓(2) 사이에 유지력이 발생하고 있다. 또한, 계합 볼록부(121a)의 하단부에는 위쪽을 향해 돌출치수를 크게 하는 경사면이 마련되어 있고, 헤더(1)를 접속 오목부(21a)에 삽입할 때에는 이 경사면 상을 피계합 볼록부(224a)가 슬라이딩하는 것에 의해, 헤더(1)의 삽입에 필요한 힘이 저감된다. 이에 따라, 헤더(1)와 소켓(2)의 접속이 용이하게 되어 있다.
또한, 헤더 콘택트(12)의 제 2 접촉부(122)에는 헤더 본체(11)의 내오목부(11a)의 내벽과 대향하는 면에, 상하로 긴 단면 대략 V자형상의 퇴피 오목부(122a)가 형성되어 있다. 여기서, 소켓 콘택트(22)의 제 2 접촉부(226)의 외면은 폭 방향(전후 방향)의 중앙부가 양 단부보다도 외측으로 돌출된 곡면형상으로 되어 있다. 이에 따라, 헤더(1)와 소켓(2)이 접속된 상태에서는 소켓 콘택트(22)의 제 2 접촉부(226)가 퇴피 오목부(122a)의 개구 가장자리에 탄성 접촉한다. 그 때문에, 헤더 콘택트(12)나 소켓 콘택트(22)의 제 2 접촉부(122, 226)에 이물이 부착되어 있었다고 해도, 이 이물은 헤더(1)를 접속 오목부(21a)에 삽입했을 때에 제 2 접촉부(226)에 밀려 퇴피 오목부(122a)에 빠진다. 따라서, 이물이, 헤더 콘택트(12)와 소켓 콘택트(22) 사이에 끼이는 일이 없고, 퇴피 오목부(122a)에 의해서 접속 신뢰성이 향상하고 있다.
여기서, 소켓 콘택트(22)에 대한 평탄도 검사의 방법은 종래 예와 마찬가지로, 도10 내지 도 12에 도시하는 바와 같이, 소켓(2)은 에어가 내뿜어짐으로써 레일(91)상을 해당 레일(91)을 따라 반송된다. 그리고, 소켓(2)이, 한 쌍의 검사지그(93) 사이를 통과해서 레일(91)과 검사지그(93)의 간극 G에 소켓 콘택트(22)를 통과시키는 것에 의해 실행한다. 또, 도 5에 도시하는 바와 같이, 한 쌍의 검사지그(93)의 서로 대향하는 면의 하단측에는 삽입 돌기부(931)가 각각 형성되어 있다. 또한, 삽입 돌기부(931)의 상단에는 아래쪽에서 위쪽을 향함에 따라 외측 방향으로 경사지는 경사면(931a)이 형성되어 있다.
상기 구성으로 이루어지는 본 실시형태의 커넥터는 소켓 본체(21)에 있어서의 좌우 각 측벽의 하단부에 오목부(21f)가 형성되고, 해당 오목부(21f)의 하단부로부터 소켓 콘택트(22)의 단자부(221)가 돌출되어 있다. 그 때문에, 도 5에 도시하는 바와 같이, 평탄도 검사시, 한 쌍의 검사지그(93) 사이에 소켓(2)이 반송되면, 소켓 본체(21)의 오목부(21f)에 검사지그(93)의 삽입 돌기부(931)가 삽입된 상태로 되고, 해당 삽입 돌기부(931)와 단자부(221)가 오목부(21f)내에서도 대향한다. 즉, 오목부(21f)의 저면으로부터 소켓 콘택트(22)의 선단까지의 사이에 삽입 돌기부(931)와의 결합마진 Q를 확보할 수 있다. 따라서, 소켓 콘택트(22)의 소켓 본체(21)로부터의 돌출 길이 P를 짧게 했다고 해도, 소켓 콘택트(22)의 단자부(221)와 검사지그(93)의 결합마진 Q를 충분히 확보할 수 있어, 소켓(2)의 폭 치수 L을 짧게 할 수 있다. 즉, 본 실시형태의 소켓은 소형화를 도모하면서도 소켓 콘택트(22)의 평탄도를 높은 정밀도로 검사 가능하게 되어 있다.
또한, 오목부(21f)가 소켓 콘택트(22)의 병설 방향(전후 방향)을 따라 연속적으로 형성되어 있기 때문에, 검사지그(93)의 삽입 돌기부(931)가 오목부(21f)내를 전후 방향으로 통과 가능하게 되어 있다. 즉, 검사지그(93)의 삽입 돌기부(931)를 오목부(21f)에 삽입해서 소켓(2)을 전후 방향으로 이동시키는 것만으로 용이하게 검사를 실행할 수 있고, 검사 시간을 단축할 수 있어 검사 공정수를 저감할 수 있다.
또한, 도 6에 도시하는 바와 같이, 오목부(21f)의 상단부를, 삽입 돌기부(931)의 경사면(931a)을 따라 아래쪽에서 위쪽을 향함에 따라 외측 방향으로 경사지는 경사면으로 해도 좋다. 즉, 오목부(21f)의 저면은 해당 오목부(21f)에 있어서의 상측의 내벽과 둔각을 이루고 있다. 상기의 경우, 오목부(21f)를 형성할 때에 소켓 본체(21)로부터 잘라내어지는 양을 도 5의 소켓 본체(21)에 비해 억제할 수 있고, 소켓 본체(21)의 강도를 유지할 수 있다.
(실시형태 2)
본 실시형태의 소켓에 대해 도 7을 이용하여 설명을 한다. 또, 이하, 도 7에 있어서의 상하 좌우 방향을 기준으로 하고, 상하 좌우 방향과 직교하는 방향을 전후 방향으로 해서 설명을 한다.
본 실시형태의 커넥터에서는 소켓 본체(21)에 형성되는 오목부(21g)가 소켓 본체(21)의 좌우 각 측벽에 있어서, 소켓 콘택트(22)마다 개별적으로 형성되어 있는 점이 실시형태 1과 다르다. 또, 그 밖의 구성에 대해서는 실시형태 1과 공통이기 때문에, 공통의 부호를 붙이고 설명을 생략한다.
본 실시형태에서는, 도 7에 도시하는 바와 같이, 소켓 본체(21)의 좌우 각 측벽의 하단측에 전후 방향을 따라 등간격으로 오목부(21g)가 형성되어, 오목부(21g)의 전후 양단에는 해당 오목부(21g)를 간막이하는 격벽(21h)이 남겨진다. 여기서, 오목부(21g)는 그 하단이 안내 홈(21e)에 연통되어 있다. 즉, 각 오목부(21g)의 하단으로부터는 소켓 콘택트(22)가 각각 돌출된다.
상기 구성으로 이루어지는 소켓(2)에 대한 소켓 콘택트(22)의 평탄도 검사를 실행할 때에는, 도 8에 도시하는 바와 같이, 레일(91)상에 탑재된 소켓(2)을 에어에 의해서 레일(91)을 따라 반송하고, 해당 소켓(2)이 한 쌍의 검사지그(94) 사이에 오면 반송을 일단 정지한다. 여기서, 한 쌍의 검사지그(94)는 해당 한 쌍의 검사지그(94) 사이에 소켓(2)이 반송되어 올 때까지는 레일(91)의 반송 방향과 수직인 방향에 있어서 레일(91)로부터 떨어진 위치에 있다. 그리고, 도 8(a)에 도시하는 바와 같이, 한 쌍의 검사지그(94) 사이에 소켓(2)이 반송되어 오면, 한 쌍의 검사지그(94)는 소켓(2)측으로 이동한다.
한 쌍의 검사지그(94)는 서로 대향하는 면의 하단에 레일(91)의 반송 방향을 따라 삽입 돌기부(932)가 병설되어 있고, 해당 각 삽입 돌기부(932)의 간격은 각 소켓 콘택트(22)의 간격과 동일한 것으로 되어 있다. 그 때문에, 한 쌍의 검사지그(94)가 소켓(2)측으로 이동하면, 도 8(b)에 도시하는 바와 같이, 각 삽입 돌기부(932)가 각 오목부(21g)에 각각 삽입된다. 그리고, 검사지그(94)가 소켓 콘택트(22)에 접촉하지 않으면 양품으로 판단하고, 접촉한 경우에는 불량품으로 판단한다. 계속해서, 검사가 끝나면, 도 8(c)에 도시하는 바와 같이, 한 쌍의 검사지그(94)는 소켓(2)으로부터 멀어지고, 해당 소켓(2)은 재차 레일(91)을 따라 반송된다.
상기 구성으로 이루어지는 본 실시형태의 소켓은 소켓 본체(21)에 대해, 소켓 콘택트(22)의 평탄도 검사를 실행하기 위해 최저한 필요한 부분에만 오목부(21g)가 형성되어 있다. 따라서, 본 실시형태의 커넥터는 평탄도를 높은 정밀도로 검사할 수 있는 동시에, 격벽(21h)이 남겨진 분만큼, 소켓 본체(21)로부터의 잘라내어지는 양을 억제할 수 있고, 해당 소켓 본체(21)의 강도를 유지할 수 있다.
(부호의 설명)
1 : 헤더
2 : 소켓
11 : 헤더 본체
12 : 헤더 콘택트
21 : 소켓 본체
22 : 소켓 콘택트
21a : 접속 오목부
21f : 오목부

Claims (5)

  1. 절연재료로 직방체형상으로 형성되고 일면에 접속 오목부가 천공되는 소켓 본체와,
    상기 접속 오목부에 상기 소켓 본체의 길이 방향을 따라 병설되고, 일단측이 상기 소켓 본체에 형성되는 도출 경로를 거쳐서 상기 소켓 본체의 폭 방향으로 대향하는 양 측벽 중의 적어도 한쪽 측벽의 외측면으로부터 돌출되는 복수의 소켓 콘택트로 구성되고,
    상기 소켓 본체에는 상기 소켓 콘택트가 돌출된 측벽에 있어서, 적어도 상기 소켓 콘택트의 둘레부에 오목부가 형성되고,
    상기 오목부는, 상기 소켓 콘택트가 돌출된 소켓 본체의 측벽의 외측면에 있어서, 길이 방향 일단에서 타단의 전범위에 걸쳐 연속해서 형성되고, 상기 소켓 콘택트가 상기 오목부로부터 돌출되는 것을 특징으로 하는 소켓.
  2. 삭제
  3. 삭제
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 오목부의 상단부는 아래쪽에서 위쪽을 향함에 따라 외측 방향으로 경사지는 것을 특징으로 하는 소켓.
  5. 청구항 1 또는 4에 기재된 소켓과, 절연재료로 이루어지는 헤더 본체 및 이 헤더 본체에 유지되는 복수의 헤더 콘택트로 이루어지는 헤더를 구비하고, 상기 접속 오목부에 헤더가 삽입되어 이 헤더의 헤더 콘택트와 소켓 콘택트가 각각 접촉 도통하는 것을 특징으로 하는 커넥터.
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