KR100600701B1 - 평판표시패널 검사용 프로브 장치 - Google Patents

Abstract

본 발명은 평판표시패널 검사용 프로브 장치에 관한 것으로, 본 발명의 평판표시패널 검사용 프로브 장치는 프로브 블록과, 제1접촉부와 제2접촉부를 가지고 상기 프로브 블록의 일단에 장착되며, 상기 제1접촉부는 평판표시패널의 전극패드에 접촉하는 복수개의 니들과, 인터페이스 기판이 접촉되는 제1패드, 복수개의 니들의 제2접촉부가 접촉되는 제2패드를 갖는 구동집적회로 기판 그리고 프로브 블록에 설치되어 구동집적회로 기판의 제1패드와 인터페이스 기판이 접촉되도록 상기 구동집적회로 기판의 제1패드와 인터페이스 기판의 접촉 부위에 물리적인 힘을 가하는 가압부재를 포함할 수 있다.

프로브, 니들

Description

평판표시패널 검사용 프로브 장치{PROBE UNIT FOR TESTING PLAT DISPLAY PANEL}

도 1a는 본 발명에 따른 니들 어셈블리를 장착한 프로브 장치의 측면도;

도 1b는 본 발명에 따른 니들 어셈블리를 장착한 프로브 장치의 평면도;

도 2a는 본 발명에 따른 니들 어셈블리의 하부 사시도;

도 2b는 본 발명에 따른 니들 어셈블리의 단면도;

도 3은 본 발명에 따른 니들 어셈블리의 분해 사시도;

도 4는 도 3에 도시된 가압부재의 분해 사시도;

도 5는 집적회로 기판과 인터페이스 기판이 가압부재에 의해 눌려진 상태를 보여주는 니들 어셈블리의 요부 확대 단면도;

도 6은 가압부재의 변형예를 보여주는 사시도이다.

* 도면의 주요 부분에 대한 부호 설명 *

110 : 니들 어셈블리

112 : 프로브 블록

114 : 니들 장착부

120 : 고정봉

130 : 구동집적회로 블록

140 : 니들

170 : 가압부재

172 : 가압판

174 : 돌출부

본 발명은 평판표시패널 검사 장치에 관한 것으로, 좀 더 구체적으로는 평판표시패널 검사용 프로브 장치에 관한 것이다.

일반적으로 액정표시장치(TFT-LCD)와 같은 평판표시패널은 양산기술 확보와 연구개발의 성과로 대형화와 고해상도화가 급속도로 진전되어 노트북 컴퓨터(computer)용 뿐만 아니라 대형 모니터(monitor) 응용 제품으로도 개발되어 기존의 CRT(cathode ray tube) 제품을 점진적으로 대체하고 있어 디스플레이 산업에서의 그 비중이 점차 증대되고 있다.

이와 같은 평판표시패널은 패널 가장자리 부근에 패널을 구동하기 위한 수많은 접속단자를 구비하고 있으며, 이들 접속단자를 통해 평판표시패널의 화소에 전기적 신호를 인가한다. 한편, 평판표시패널은 반도체 칩과 마찬가지로 제품에 장착하기 전에 패널에 전기적 신호를 인가하여 화소의 불량 유무를 검사하게 된다.

이를 위한 검사장비는 각종 측정기기들이 내장된 테스터와, 테스터와 평판표시패널을 전기적으로 연결시켜 주는 프로브 장치를 갖추고 있다. 특히, 프로브 장 치는 평판표시패널의 접속단자와 직접 접촉하여 접속단자에 전기적 신호를 인가함과 동시에 출력을 검출하는 역할을 한다.

그러나, 기존의 프로브 장치의 니들 어셈블리는 구동집적회로(구동 IC)를 갖는 구동집적회로 기판과, LCD 패널을 테스트하기 위한 소정의 신호를 제공하는 신호발생부에 접속된 인터페이스 기판간의 접속 구조가 매우 취약하다는 구조적인 단점이 있다. 즉, 구동집적회로 기판과 인터페이스 기판은 접착제와 테이프 등을 이용하여 구동집적회로 기판과 인터페이스 기판을 연결하게 되는데, 접착제와 테이프의 접착력이 떨어지거나 외부 충격이 가해질 경우 이들의 접합력이 불량해져서 검사 신뢰성이 떨어지는 문제가 발생된다.

본 발명의 목적은 구동집적회로 기판과 인터페이스 기판의 접속 구조를 개선한 새로운 형태의 평판표시패널 검사용 프로브 장치를 제공하는데 있다.

상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 평판표시패널 검사용 프로브 장치는 프로브 블록과; 제1접촉부와 제2접촉부를 가지고 상기 프로브 블록의 일단에 장착되며, 상기 제1접촉부는 평판표시패널의 전극패드에 접촉하는 복수개의 니들; 상기 프로브 블록에 설치되는 그리고 평판표시패널을 테스트하기 위한 소정의 신호를 제공하는 신호발생부에 연결된 인터페이스 기판이 접촉되는 제1패드와, 상기 복수개의 니들의 제2접촉부가 접촉되는 제2패드를 갖는 구동집적회로 기판; 상기 프로브 블록에 설치되어 상기 구동집적회로 기판의 제1패드와 상기 인터페이스 기판이 접 촉되도록 상기 구동집적회로 기판의 제1패드와 상기 인터페이스 기판의 접촉 부위에 물리적인 힘을 가하는 가압부재를 포함할 수 있다.

본 발명의 실시예에 따르면, 상기 가압부재는 상기 구동집적회로 기판의 제1패드와 상기 인터페이스 기판이 접촉되는 부분이 위치되는 상기 프로브 블록의 일면에 체결되는 가압판; 및 상기 가압판의 일면으로부터 돌출되어 상기 구동집적회로 기판의 제1패드와 상기 인터페이스 기판의 접촉 부분을 누르는 돌출부를 포함할 수 있다.

본 발명의 실시예에 따르면, 상기 돌출부는 상기 구동집적회로 기판의 제1패드 및 상기 인터페이스 기판의 손상을 방지하기 위해 소프트한 소재로 이루어질 수 있다.

본 발명의 실시예에 따르면, 상기 돌출부는 소프트하고 탄력성이 있는 실리콘 또는 고무 소재의 봉 타입으로 이루어지며, 상기 가압판은 상기 돌출부의 일부가 삽입될 수 있는 홈을 포함할 수 있다.

예컨대, 본 발명의 실시예는 여러 가지 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 아래에서 상술하는 실시예로 인해 한정되어 지는 것으로 해석되어져서는 안 된다. 본 실시예는 당업계에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 보다 완전하게 설명하기 위해서 제공되어지는 것이다. 따라서, 도면에서의 요소의 형상 등은 보다 명확한 설명을 강조하기 위해서 과장되어진 것이다.

본 발명의 실시예를 첨부된 도면 도 1 내지 도 6에 의거하여 상세히 설명한다. 또, 상기 도면들에서 동일한 기능을 수행하는 구성 요소에 대해서는 동일한 참조 번호를 병기한다.

본 발명의 기본적인 의도는 프로브 블록에 설치된 구동집적회로 기판과 인터페이스 기판간의 접촉성을 향상시키기 위한 것으로, 이를 달성하기 위하여 본 발명의 니들 어셈블리는 구동집적회로 기판과 인터페이스 기판의 접촉부분에 물리적인 압박을 가하는 가압부재를 갖는데 그 특징이 있다.

일반적으로, 평판표시패널 검사를 위한 검사장치는 다수개의 프로브 장치들이 베이스 플레이트(미도시됨)상에 고정 배치되어 평판표시패널(이하 LCD 패널)을 검사하게 된다.

도 1a 및 도 1b는 본 발명에 따른 니들 어셈블리를 장착한 프로브 장치의 측면도와 평면도를 도시한 것이다.

도 1a 및 도 1b를 참조하면, 프로브장치(100)는 프로브 프레임(102)과, 이 프로브 프레임(102)의 선단에 고정볼트에 의해 서로 체결되는 프로브 헤드(104)를 포함하며, 이 프로브 헤드(104)는 패널 검사 과정에서 상하로 유동이 발생할 수 있도록 프로브 프레임(102)과 프로브 헤드(104) 사이에는 리니어 가이드(106)가 설치된다. 프로브 헤드(104)의 저면에는 니들 어셈블리(110)가 고정 수단(108)에 의해 착탈가능하게 고정 배치된다.

도 2a는 본 발명에 따른 니들 어셈블리의 사시도이고, 도 2b는 본 발명에 따른 니들 어셈블리의 측면도를 도시한 것이며, 도 3은 니들 어셈블리의 분해 사시도이다.

도 2a 내지 도 3을 참조하면, 본 발명에 따른 프로브 장치의 니들 어셈블리 (110)는 복수의 니들(140)과, 인터페이스 기판과 전기적으로 연결되어 복수개의 니들(140)에 구동신호를 전송하는 구동집적회로(구동 IC;134a)를 구비한 구동 집적회로 블록(130), 복수의 니들(140)이 장착되는 니들 장착부(114)를 갖는 프로브 블록(112) 그리고 구동집적회로 기판과 인터페이스 기판의 접촉을 위한 가압부재(170)를 포함하여 구성된다.

구동집적회로 블록(130)은 검사장치의 신호발생부(미도시됨)로부터 제공되는 테스트 신호를 복수의 니들(140)로 보내주기 위한 것으로, 이 구동집적회로 블록(130)은 프로브 블록(112)의 저면에 설치되는 기판 홀더(132)와, 이 기판 홀더(132)의 저면과 프로브 블록(112)의 상면에 걸쳐 설치되는 구동집적회로 기판(134)을 포함하여 구성된다. 구동집적회로 기판(134)은 LCD 패널(10)에 부착되는 구동 IC와 동일한 구동 IC(134a)를 갖으며, 프로브 블록(112)의 상면에 위치되는 일단에는 인터페이스 기판(180)과의 접촉을 위한 제1패드(135)가 구비되고, 타단에는 복수의 니들(140)의 제2접촉부(144)가 접촉되는 제2패드(136)를 구비한다. 참고로, 기판 홀더(132)는 저면에 구동 IC(134a)가 위치되는 홈(132a)이 형성되어 있다. 예컨대, 집적회로 기판(134)과 인터페이스 기판(180)은 플렉시블한 인쇄회로기판이 사용되는 것이 바람직하다.

도 4는 가압부재의 사시도이고, 도 5는 집적회로 기판과 인터페이스 기판이 가압부재에 의해 눌려진 상태를 보여주는 도면이다.

도 3 내지 도 5를 참조하면, 가압부재(170)는 구동집적회로 기판(134)과 인터페이스 기판(180)이 접촉하도록 포개진 부분에 물리적인 힘을 가하여 구동집적회 로 기판(134)과 인터페이스 기판(180)의 접촉성을 높이기 위한 것이다. 구체적으로 살펴보면, 가압부재(170)는 가압판(172)과 가압판(172)의 저면(173)으로부터 돌출되는 봉 타입의 돌출부(174)를 포함하여 구성한다. 가압판(172)은 프로브 블록(112)의 상면에 2개의 조절 나사(190)에 의해 결합되며, 돌출부(174)는 가압판(172)의 저면(173)에 형성된 홈(173a)에 일부가 끼워져 고정된다. 도 5에서와 같이, 돌출부(174)는 가압판(172)의 저면(173)으로부터 돌출되어 프로브 블록(112)의 상면에 포개져 있는 구동집적회로 기판(134)의 제1패드(135)와 인터페이스 기판(180)의 패드(182)를 누르게 되며, 조절 나사(190)를 조이거나 푸는 것에 따라 구동집적회로 기판(134)과 인터페이스 기판(180)으로 가해지는 돌출부(174)의 누르는 힘을 조절할 수 있다. 예컨대, 돌출부(174)는 구동집적회로 기판(134)과 인터페이스 기판(180)의 손상을 방지하기 위해 소프트한 재질(예를 들어 고무, 실리콘 등)로 이루어지는 것이 바람직하다.

본 발명에서 가압부재는 하나의 돌출부를 갖는 것으로 도시하고 설명하였으나, 이는 하나의 실시예에 불과하며 가압부재는 도 6에서와 같이 다수의 돌출부를 구비할 수 있다.

도 2a 내지 도 3을 참조하면, 니들 장착부(114)는 프로브 블록(112)의 저면에 형성된 니들 장착 공간(112a)에 복수의 니들(140)이 일정한 간격으로 장착되도록 복수의 니들(140)을 고정시키기 위한 것으로, 세라믹 재질로 이루어지는 제1,2가이드 블록(116,118)과 고정부재인 고정봉(120)를 포함한다.

제1가이드 블록(116)은 프로브 블록(112)의 저면에 형성된 니들 장착공간 (112a) 후단에 설치되며 복수의 니들(140)의 제2접촉부(144)가 삽입되는 슬릿(117)을 갖는다. 제2가이드 블록(118)은 상기 니들 장착공간(112a) 앞단에 설치되며 복수의 니들(140)의 제1접촉부(146)가 삽입되는 슬릿(119)을 갖는다. 복수의 니들(140)은 제1,2가이드 블록(116,118)의 슬릿(117,119)들에 의해 일정 간격으로 정렬된다. 특히, 제1,2가이드 블록(116,118)은 복수의 니들(140)과 결합을 위한 구조를 갖는다. 제1가이드 블록(116)은 니들 장착 공간(112a)을 향하는 일측면에 제1끼움홈(116a)을 갖으며, 복수의 니들(140)은 제1끼움홈(116a)과 대응되는 일측면에 제2끼움홈(148a)을 갖는다.

고정부재인 고정봉(120)은 제1끼움홈(116a)과 제2끼움홈(148a)에 의해 형성된 4각형의 공간으로 삽입되며, 이 고정봉(120)이 삽입됨으로써 복수의 니들(140)이 제1가이드 블록(116)에 고정되어, 복수의 니들(140)이 니들 장착공간(112a)으로부터 임의 분리되는 것을 방지할 수 있다. 한편, 제2가이드 블록(118)은 니들 장착 공간(112a)을 향하는 일측면에 돌출부(118a)를 갖으며, 복수의 니들(140)은 이 돌출부(118a)가 끼워지는 제3끼움홈(148b)을 갖는다.

복수의 니들(140)은 얇은 도전성 금속판으로 이루어지는 블레이드 타입으로, 2개의 관통공(142a)을 갖는 사각형 모양의 중앙 몸체(142)와, 이 중앙 몸체(142)의 양측면으로부터 연장되어 형성되는 제2접촉부(144)와 제1접촉부(146)를 포함한다. 제2접촉부(144)는 끝단에 상향 절곡되어 제1가이드 블록(116)의 슬릿(117)으로부터 노출되는 제1첨단(145)을 갖는다. 제1첨단(145)은 LCD 패널(10)의 접촉패드로 제공될 전기적 신호를 전달받기 위해 구동집적회로 블록(130)의 구동집적회로 기판 (134)의 제2패드(136)에 접촉된다.

다시 도 2a 내지 도 3을 참조하면, 제1접촉부(146)는 끝단에 하향 절곡되어 제2가이드 블록(118)의 슬릿(119)으로부터 노출되는 3개의 제2첨단(147)을 갖는다. 제2접촉부의 제2첨단(147)들은 LCD 패널(10)의 접촉패드에 접촉되는 부분으로, 톱니 형태로 이루어진다. 이처럼, 제1접촉부(146)는 LCD 패널(10)의 접촉패드와의 접촉면적이 3배로 증대됨으로써 접촉효율을 극대화시킬 수 있는 각별한 효과를 갖는다. 특히, 제1접촉부의 제2첨단(147)들은 가장 안쪽의 첨단으로부터 가장 바깥쪽에 있는 첨단으로 갈수록 길이가 순차적으로 길어지는 구조적인 특징을 갖고 있어, LCD 패널(10)의 접촉패드가 기울어져 있다 하더라도 접촉패드와의 접촉 불량이 발생될 가능성이 극히 적다.

한편, 본 발명은 상기의 구성으로 이루어진 프로브 장치에 있어 다양하게 변형될 수 있고 여러 가지 형태를 취할 수 있다. 하지만, 본 발명은 상기의 상세한 설명에서 언급되는 특별한 형태로 한정되는 것이 아닌 것으로 이해되어야 하며, 오히려 첨부된 청구범위에 의해 정의되는 본 발명의 정신과 범위 내에 있는 모든 변형물과 균등물 및 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.

상술한 바와 같이, 본 발명의 프로브 장치는 구동집적회로 기판과 인터페이스 기판이 압착 고정되므로 접촉성이 양호하여 검사의 신뢰성을 높일 수 있을 뿐만 아니라, 구동집적회로 기판과 인터페이스 기판의 분리 및 교체 작업이 용이한 이점이 있다.

Claims (4)

1. 삭제
2. 평판표시패널 검사용 프로브 장치에 있어서:

   프로브 블록과;

   제1접촉부와 제2접촉부를 가지고 상기 프로브 블록의 일단에 장착되며, 상기 제1접촉부는 평판표시패널의 전극패드에 접촉하는 복수개의 니들;

   상기 프로브 블록에 설치되는 그리고 평판표시패널을 테스트하기 위한 소정의 신호를 제공하는 신호발생부에 연결된 인터페이스 기판이 접촉되는 제1패드와, 상기 복수개의 니들의 제2접촉부가 접촉되는 제2패드를 갖는 구동집적회로 기판;

   상기 프로브 블록에 설치되어 상기 구동집적회로 기판의 제1패드와 상기 인터페이스 기판이 접촉되도록 상기 구동집적회로 기판의 제1패드와 상기 인터페이스 기판의 패드가 서로 접하는 부분으로 물리적인 힘을 가하는 가압부재를 포함하되;

   상기 가압부재는

   상기 구동집적회로 기판의 제1패드와 상기 인터페이스 기판이 접촉되는 부분이 위치되는 상기 프로브 블록의 일면에 체결되는 가압판; 및

   상기 가압판의 일면으로부터 돌출되어 상기 구동집적회로 기판의 제1패드와 상기 인터페이스 기판의 접촉 부분을 누르는 돌출부를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판표시패널 검사용 프로브 장치.
3. 제2항에 있어서,

   상기 돌출부는 상기 구동집적회로 기판의 제1패드 및 상기 인터페이스 기판의 손상을 방지하기 위해 소프트한 소재로 이루어지는 것을 특징으로 하는 평판표시패널 검사용 프로브 장치.
4. 제2항에 있어서,

   상기 돌출부는 실리콘 또는 고무 소재의 봉 타입으로 이루어지며,

   상기 가압판은 상기 돌출부의 일부가 삽입될 수 있는 홈을 갖는 것을 특징으로 하는 평판표시패널 검사용 프로브 장치.

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