JPH05224228A - プロービング装置 - Google Patents

プロービング装置

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Publication number
JPH05224228A
JPH05224228A JP4029580A JP2958092A JPH05224228A JP H05224228 A JPH05224228 A JP H05224228A JP 4029580 A JP4029580 A JP 4029580A JP 2958092 A JP2958092 A JP 2958092A JP H05224228 A JPH05224228 A JP H05224228A
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JP
Japan
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probing
liquid crystal
circuit board
substrate
conductive particles
Prior art date
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Pending
Application number
JP4029580A
Other languages
English (en)
Inventor
Hideaki Otsuki
英明 大槻
Toshio Kato
敏夫 加藤
Fumio Matsukawa
文雄 松川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP4029580A priority Critical patent/JPH05224228A/ja
Publication of JPH05224228A publication Critical patent/JPH05224228A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/328Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by welding
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/36Assembling printed circuits with other printed circuits
    • H05K3/368Assembling printed circuits with other printed circuits parallel to each other

Abstract

(57)【要約】 【目的】 端子がファインピッチに形成されていろよう
な場合においても、コンタクトパッド間において電気的
に接続されるようなことなく、かつプロービング基板と
回路基板において接続不良によるプロービングミスを起
こすこともなく、回路基板の検査を容易に達成できるよ
うなプロービング装置を得る。 【構成】 回路基板の検査端子と相対応した配置で形成
されかつ導電粒子が配されたコンタクトパッドと上記回
路基板の検査回路との接続のための終端パッドとが引き
出し線で結線されたプロービング基板を備え、上記プロ
ービング基板を上記回路基板に上記コンタクトパッド上
の導電粒子を介して機械的かつ電気的に接続するように
構成したものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は回路基板上に形成され
た端子をプロ−ブし、回路基板の特性の検査を行なうプ
ロービング装置に関するものであって、例えば液晶表示
パネルに形成された接続端子に液晶駆動用ICの出力信
号を供給し、液晶表示パネルの画質を点灯検査するため
のプロービング装置に適用されるものである。
【0002】
【従来の技術】従来の液晶表示パネルに形成された接続
端子に、液晶駆動用ICの出力信号を供給するプロービ
ング装置として実開昭62−143986号公報に開示
されている図5に示すものがあった。図5は液晶表示パ
ネルの直線的な接続端子のプロービング装置を示すもの
で、1は液晶表示パネル、2は液晶表示パネル1上に形
成された接続端子、3はゴム系弾性体、4は可とう性回
路基板を構成する可とう性絶縁シ−ト、51,52,5
3は可とう性絶縁シ−ト4上に形成された導体パター
ン、6は押圧固定部材である。上記可とう性絶縁シ−ト
4の先端部には、導体パターンとして、液晶表示パネル
1の接続端子2と同一ピッチのコンタクトパッド列51
が形成され、引き出し線53の終端部には終端パッド5
2が形成されている。可とう性絶縁シ−ト4は押圧固定
部材6の下部においてコンタクトパッド列51が表面に
露出する形態でゴム系弾性体3に貼り合わされている。
【0003】検査にあたっては、液晶表示パネル1の接
続端子2上にコンタクトパッド列51を位置合わせした
後、押圧固定部材6の上面を加圧することにより、ゴム
系弾性体3のもつ弾性力で液晶表示パネル1の接続端子
2とコンタクトパッド列51を加圧接触させて電気的導
通を得、同時に終端パッド52からコネクタなどを介し
て液晶駆動回路(図示せず)の電気信号を入力すること
により、液晶表示パネル1を点灯し画質評価を行なって
いた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記のような従来のプ
ロービング装置では、図5に示すような液晶表示パネル
上の直線的に形成された接続端子に対しては有効な方法
であるものの、液晶駆動用ICを液晶表示パネルに直接
搭載する実装方式の場合などのように、接続端子が4辺
に配列されたような微細パターンに対しては可とう性回
路基板の寸法精度の制約によって、適用できないといっ
た問題点があった。
【0005】本発明は上記の問題点を解決するためにな
されたもので、液晶駆動用ICを搭載するような微細パ
ターンを有する液晶表示パネルの検査において、接続端
子パターンを傷つけることなく確実にプロービング可能
なプロービング装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】この発明に係るプロービ
ング装置は、回路基板の検査端子と相対応した配置で形
成されかつ導電粒子が配されたコンタクトパッドと上記
回路基板の検査回路との接続のための終端パッドとが引
き出し線で結線されたプロービング基板を備え、上記プ
ロービング基板を上記回路基板に上記コンタクトパッド
上の導電粒子を介して機械的かつ電気的に接続するよう
に構成したものである。
【0007】
【作用】この発明においては、液晶駆動用ICを接続す
る液晶表示パネルの接続端子が4辺に微細ピッチで形成
されていても、プロービング基板の導体パターンをファ
トリソグラフィ技術によって形成することによりプロー
ビングが可能であるばかりでなく、複数個の液晶駆動用
ICが搭載される大型・高精細な液晶表示パネルの検査
も、プロービング基板の導体パターンが高精度に形成で
きるため可能となる。
【0008】また、導電粒子をコンタクトパッドに選択
的に配置して電気的に接続するため、接続端子間で短絡
が生じることはなく、さらに、導電粒子がクッションと
なり液晶表示パネルの凹凸が吸収されるためプロービン
グミスが起こりにくい。
【0009】
【実施例】
実施例1.以下、この発明の一実施例を図1に基づいて
説明する。図1(a)はこの発明の一実施例によるプロ
ービング基板の平面図、(b)はプロービング基板のコ
ンタクトパッド部の断面図、(c)は液晶表示パネルに
プロービング基板をプロービングした状態を示す断面図
である。図において、7は例えばガラス基板からなるプ
ロービング基板であり、コンタクトパッド51,終端パ
ッド52,引き出し線53が形成されている。8は導電
粒子、9はプロービング基板7を液晶表示パネル1に押
し付ける加圧治具、10は多数の導電粒子8が混入され
たポジ型の感光性樹脂である。
【0010】図1(a)に示すように、プロービング基
板1に形成されたコンタクトパッド51に選択的に導電
粒子8、例えばミクロパ−ル(商品名、積水ファインケ
ミカル社製導電樹脂球)が配置される。そして図1
(c)に示されるように、液晶表示パネル1とプロービ
ング基板7を相対向させて位置合わせした後、加圧治具
9によってプロービング基板7を液晶表示パネル1に押
し付け、接続端子2とコンタクトパッド51を導電粒子
8を介して電気的に接続し、終端パッド52より電気信
号を供給し、液晶表示パネル1を点灯し表示特性などの
検査を行なう。
【0011】次に、プロービング基板7のコンタクトパ
ッド51に選択的に導電粒子8を搭載する方法について
図2(A)(B)(C)をもとに説明する。図2はプロ
ービング基板7のコンタクトパッド51部の断面であっ
て、コンタクトパッド51に導電粒子8を選択的に搭載
する方法を示す製造工程図である。図2において、11
は感光性樹脂10を露光する露光装置である。
【0012】まず、図2(a)に示されるように、ガラ
ス基板からなるプロービング基板7のコンタクトパッド
51部の表面に、導電粒子8を混入させたポジ型の感光
性樹脂10を転写印刷法などによって約数μmの膜圧に
塗布する。次に、このプロービング基板7を90℃程度
に加熱して、上記ポジ型の感光性樹脂10をプリベーク
する。次に図2(b)に示されるように、プロービング
基板7のコンタクトパッド51部の感光性樹脂10をプ
ロービング基板7の背面より露光装置11によって露光
する。このとき、プロービング基板のコンタクトパッド
51の導体パターンは配線抵抗を小さくするために金や
銅などの遮光効果を有する薄膜によって形成されている
ので、マスク機能を果たすこととなる。従って、露光後
現像を行なうことによって、図2(c)に示されるよう
に導電粒子8がコンタクトパッド51上に選択的に配さ
れることとなる。
【0013】実施例2.また、図3(A)(B)(C)
はプロービング基板がセラミック基板などの不透明な材
質からなる場合の導電粒子8の搭載方法であり、図にお
いて、12は液晶表示パネル1に形成された接続端子2
と同一形状のパターンが遮光材料にて形成されたマスク
である。
【0014】以下に、上記のような不透明な基板によっ
て形成されたプロービング基板7のコンタクトパッド5
1上に導電粒子8を選択的に配する場合について説明す
る。まず図3(a)に示されるように、上記実施例と同
様にプロービング基板7上に導電粒子8が混入されたポ
ジ型の感光性樹脂10を転写印刷法などによって、約数
μm塗布し、約90℃でプリベークを行なう。次に図3
(b)に示されるように、プロービング基板の上面とマ
スク12を位置合わせし、マスク12の上面より露光装
置11によって露光する。次に、現像を行なうことによ
って、図3(c)のようにプロービング基板7のコンタ
クトパッド51上に選択的に導電粒子8を残す。
【0015】以上のようなプロービング装置において
は、プロービング基板7におけるコンタクトパッド51
間の導電粒子8は除去されることとなるのでコンタクト
パッド51相互間で導通が生じることはなくプロービン
グ不良は発生しない。さらに、導電粒子8がクッション
材としての役割を果たすため、液晶表示パネル1の凹凸
を吸収するので接続端子2とコンタクトパッド51が接
触せずに、プロービングできない箇所はなくなる。さら
にフォトリソグラフィ技術を適用して、プロービング基
板7の導体パターンの形成、および導電粒子8の選択的
配置を行なうため、ファインピッチ,多端子化する傾向
にある液晶表示パネルの接続端子2に容易に対応できる
という効果を有する。
【0016】そのため、例えばプリント基板の導体パタ
ーンにめっきなどによって突起電極を形成し、これを液
晶表示パネル1に押し付けるプロービング方式では、プ
リント基板の導体ピッチは加工精度などの制約より、1
00μmピッチが限界であるのに対し、この発明のよう
に、ガラス基板に薄膜で導体パターンを形成する場合に
は10μmピッチ以下で導体パターンを形成することが
可能であり、高精細液晶表示パネル1にも適用できる。
【0017】また、Auなどの突起電極をプリント基板
にめっき法や蒸着法によって形成するには、長時間の製
造時間が必要となりコストパファ−マンスが悪かった。
これに対して、この発明においては、プロービング基板
のコンタクトパッド51に選択的に導電粒子8を配して
突起電極を形成するため、安価にかつ容易に突起電極を
形成することができ、さらに導電粒子8のサイズを選定
することによって、突起電極の高さを容易に制御でき
る。
【0018】さらにまた、プロービング基板7と液晶表
示パネル1の位置合わせ工程において、ガラス基板でプ
ロービング基板が構成されているため、プロービング基
板7をとおして液晶表示パネル1の接続端子2が見える
ので、プロービング基板のコンタクトパッド51と液晶
表示パネルの接続端子2の位置合わせが容易であり、生
産性が向上する。
【0019】また、プロービング基板の導体パターンが
高精度に形成できるため、複数個の液晶駆動用ICが搭
載されるような大型・高精細な液晶表示パネルの検査も
可能となる。
【0020】さらにまた、プロービング基板7をガラス
基板で構成することにより、プロービング基板のコンタ
クトパッド51の導体パターンをマスクとして用いて露
光することができるために、コンタクトパッド51以外
にある感光性樹脂11を除去するための別マスクを製作
する必要はなく、かつマスクの位置合わせ工程が省かれ
るので、生産性が向上し、コストも低減できる。
【0021】実施例3.図4はこの発明の他の実施例を
示す。図において、13は液晶駆動用ICである。プロ
ービング基板に液晶駆動用IC13を搭載し、ワイヤ−
ボンディングやフェ−スダウンボンディングによってコ
ンタクトパッド51からの引き出し線53に液晶駆動用
IC13の出力端子を接続することにより、終端パッド
52は液晶駆動用IC13の入力端子のみとなるため、
終端パッド52数が大幅に低減され、プロービング装置
を小型化することができる。
【0022】なお、上記各実施例においては、液晶表示
装置の検査の場合についてのみ説明したが、密着イメ−
ジセンサ、またはサ−マルヘッドなどのように半導体部
品を実装する装置の検査においても適用できることは言
うまでもない。
【0023】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、回路
基板の検査端子と相対応した配置で形成されかつ導電粒
子が配されたコンタクトパッドと上記回路基板の検査回
路との接続のための終端パッドとが引き出し線で結線さ
れたプロービング基板を備え、上記プロービング基板を
上記回路基板に上記コンタクトパッド上の導電粒子を介
して機械的かつ電気的に接続するように構成したので、
端子がファインピッチに形成されていろような場合にお
いても、コンタクトパッド間において電気的に接続され
るようなことなく、かつ導電粒子がクッション材の役割
を果たすため、プロービング基板と回路基板において接
続不良によるプロービングミスを起こすこともなく、回
路基板の検査を容易に達成できるなどの効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施例によるプロ−ビン装置を説
明する平面図および断面図である。
【図2】プロービング基板への導電粒子の配置方法を説
明する断面図である。
【図3】プロービング基板への導電粒子の配置方法を説
明する断面図である。
【図4】この発明の他の実施例によるプロービング装置
を説明する平面図である。
【図5】従来のプロービング装置を説明する斜視図であ
る。
【符号の説明】
1 液晶表示パネル 2 画素端子 51 コンタクトパッド 52 引き出し線 53 終端パッド 7 プロービング基板 8 導電粒子 9 加圧治具 10 感光性樹脂 11 露光装置 12 マスク 13 液晶駆動用IC
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 // H01R 43/02 B 7161−5E

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ファインピッチで多数の端子が形成され
    た回路基板の検査を行なうプロービング装置において、
    上記回路基板の検査端子と相対応した配置で形成されか
    つ導電粒子が配されたコンタクトパッドと上記回路基板
    の検査回路との接続のための終端パッドとが引き出し線
    で結線されたプロービング基板を備え、上記プロービン
    グ基板を上記回路基板に上記コンタクトパッド上の導電
    粒子を介して機械的かつ電気的に接続するように構成し
    たことを特徴とするプロービング装置。
JP4029580A 1992-02-17 1992-02-17 プロービング装置 Pending JPH05224228A (ja)

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JP4029580A JPH05224228A (ja) 1992-02-17 1992-02-17 プロービング装置

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JP4029580A JPH05224228A (ja) 1992-02-17 1992-02-17 プロービング装置

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JPH05224228A true JPH05224228A (ja) 1993-09-03

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ID=12280041

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JP4029580A Pending JPH05224228A (ja) 1992-02-17 1992-02-17 プロービング装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100480860B1 (ko) * 1997-03-28 2005-08-05 삼성전자주식회사 액정표시장치

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100480860B1 (ko) * 1997-03-28 2005-08-05 삼성전자주식회사 액정표시장치

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