KR20060075173A - 액정 표시 장치의 테스트 장치 및 그 테스트 방법 - Google Patents

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양경호
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Abstract

액정 표시 장치의 테스트 장치 및 그 테스트 방법이 제공된다. 액정 표시 장치의 테스트 장치는, 액정 패널 상에 형성된 저항 테스트용 구동 IC 입력 패드 및 저항 테스트용 FPC 패드와 각각 접촉하도록 제공되는 니들 핀을 구비하는 패드 접촉부와, 저항 테스트용 구동 IC 입력 패드 및 저항 테스트용 FPC 패드와 패드 접촉부를 통해 연결되어 적어도 하나의 테스트 루프를 형성하는 테스트 기판을 포함한다.
액정 표시 장치, 구동 IC 입력 패드, FPC 패드, 니들 핀

Description

액정 표시 장치의 테스트 장치 및 그 테스트 방법{Test apparatus and test method for liquid crystal display device}
도 1은 구동 IC 및 FPC가 실장된 액정 표시 장치를 나타낸 사시도이다.
도 2는 구동 IC 및 FPC가 실장되기 이전의 액정 표시 장치를 나타낸 사시도이다.
도 3은 본 발명의 제1 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 장치를 설명하기 위한 개념도이다.
도 4는 본 발명의 제1 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 방법을 나타낸 순서도이다.
도 5는 본 발명의 제2 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 장치를 설명하기 위한 개념도이다.
(도면의 주요부분에 대한 부호의 설명)
11, 12, 13, 14: 니들 핀 21, 22: 테스트 기판
30: 액정 패널 31: 박막 트랜지스터 기판
32: 컬러 필터 기판 33: 얼라인키
41, 42, 43, 44: 외부 단자 70: 구동 IC
71: 구동 IC 입력 패드 80: FPC
81: FPC 패드
본 발명은 액정 표시 장치의 테스트 장치 및 그 테스트 방법에 관하 것으로, 더욱 상세하게는 구동 IC 와 FPC를 실장하여 액정 모듈을 완성하기 전의 액정 패널상에 형성된 패드부의 콘택 저항을 측정하여 액정 패널의 양호/불량을 판단하기 위한 액정 표시 장치의 테스트 장치 및 그 테스트 방법에 관한 것이다.
액정 표시 장치는 일반적으로 공통 전극과 컬러 필터(Color filter) 등이 형성되어 있는 컬러 필터 기판과 박막 트랜지스터와 화소 전극 등이 형성되어 있는 박막 트랜지스터 기판 사이에 액정 물질을 주입해 놓고 화소 전극과 공통 전극에 서로 다른 전위를 인가함으로써 전계를 형성하여 액정 분자들의 배열을 변경시키고, 이를 통해 빛의 투과율을 조절함으로써 화상을 표현하는 장치이다.
한편, 액정 표시 장치의 픽셀 콘택 저항은 액정 표시 장치의 동작에 있어 매우 중요한 요소 중 하나이다. 콘택 저항이 높을 경우 액정 패널이 제대로 동작하지 않아 불량품을 야기하므로, 액정 표시 장치의 콘택 저항을 모니터링 할 필요가 있다.
상기 픽셀 콘택 저항에는, 게이트 배선과 화소 전극간의 콘택 저항과 데이터 배선과 화소 전극간의 콘택 저항을 들 수 있다.
예를 들어, 상기 게이트 배선과 화소 전극간의 콘택 저항이 높은 경우는 게 이트 구동 IC의 콘택 저항을 증가시켜 게이트 전압 레벨을 드랍(drop) 시키는 원인을 제공한다.
이와 같이, 게이트 전압 레벨이 떨어지면, 화소가 정상적으로 충전되지 않아 실제 블랙(black)을 구현해도 그레이(gray)로 화면에 표시되는 디스플레이 불량을 야기하는 문제점이 있다.
종래에는, 이와 같이 콘택 저항 불량을 검출하기 위한 테스트 방법으로, 모기판 상의 테스트 엘리먼트 그룹(Test Element Group; TEG)을 이용하여 콘택 저항을 측정하는 테스트 방법과, 액정 모듈 완성 후 FPC(Flexible Circuit Board)내에 형성된 테스트 포인트(Test Point)를 이용하여 콘택 저항을 측정하는 테스트 방법이 있다.
그러나, 상기 모기판 상태에서의 콘택 저항 측정은, 모기판 상에 함께 배치되어 있는 다수의 액정 패널을 일일이 체크할 수 없이 단순 관리로만 운영되고 있으며, 구동 IC 와 FPC를 실장하여 액정 모듈을 완성한 후 테스트 할 경우는, 액정 패널의 불량 발생시 상당량의 수율상 손실이 발생하는 문제점이 있다.
이에 따라, 액정 모듈 완성 전에 개별적으로 액정 패널을 테스트하여 불량 발생시 손실되는 비용을 최소화할 수 있는 방안이 필요한 실정이다.
본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 구동 IC와 FPC를 실장하여 액정 모듈을 완성하기 전의 액정 패널 상에서 패드부 콘택 저항을 측정하여 액정 패널의 양호/불량을 판단하고, 이에 따라 수율상 손실을 최소화하는 액정 표시 장치의 테 스트 장치 및 그 테스트 방법을 제공하는데 있다.
본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제들은 이상에서 언급한 기술적 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 액정 표시 장치의 테스트 장치는, 액정 패널 상에 형성된 저항 테스트용 구동 IC 입력 패드 및 저항 테스트용 FPC 패드와 각각 접촉하도록 제공되는 니들 핀을 구비하는 패드 접촉부와, 상기 저항 테스트용 구동 IC 입력 패드 및 저항 테스트용 FPC 패드와 상기 패드 접촉부를 통해 연결되어 적어도 하나의 테스트 루프를 형성하는 테스트 기판을 포함한다.
여기서, 상기 패드 접촉부는, 일단이 두 개의 상기 구동 IC 입력 패드에 각각 접촉하도록 제공된 제1 및 제2 니들 핀과, 일단이 두 개의 상기 FPC 패드에 각각 접촉하도록 제공된 제3 및 제4 니들 핀을 포함하고, 상기 테스트 기판은, 상기 제1 및 제2 니들 핀의 타단들을 전기적으로 쇼팅시키고, 상기 제3 및 제4 니들 핀의 타단들을 전기적으로 오픈시키도록 상기 패드 접촉부와 연결될 수 있다.
이때, 상기 테스트 기판은, 전기적으로 오픈된 상기 제3 및 제4 니들 핀의 타단을 외부의 테스트 기기에 연결하도록 두 개의 외부 단자가 형성될 수 있다.
또한, 상기 패드 접촉부는, 일단이 두 개의 상기 구동 IC 입력 패드에 각각 접촉하도록 제공된 제1 및 제2 니들 핀과, 일단이 두 개의 상기 FPC 패드에 각각 접촉하도록 제공된 제3 및 제4 니들 핀을 포함하고, 상기 테스트 기판은, 상기 제1 및 제2 니들 핀의 타단들을 전기적으로 오픈시키고, 상기 제3 및 제4 니들 핀의 타단들을 전기적으로 쇼팅시키도록 상기 패드 접촉부와 연결될 수 있다.
이때, 상기 테스트 기판은, 전기적으로 오픈된 상기 제1 및 제2 니들 핀의 타단을 외부의 테스트 기기에 연결하도록 두 개의 외부 단자가 형성될 수 있다.
한편, 상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 액정 표시 장치의 테스트 방법은, 먼저, 액정 패널 상에 형성된 저항 테스트용 구동 IC 입력 패드 및 저항 테스트용 FPC 패드에 각각 접촉하도록 제공되는 니들 핀을 구비하는 패드 접촉부와, 상기 저항 테스트용 구동 IC 입력 패드 및 저항 테스트용 FPC 패드와 상기 패드 접촉부를 통해 연결되어 적어도 하나의 테스트 루프를 형성하도록 구성된 테스트 기판을 포함하는 액정 표시 장치의 테스트 장치를 마련한다.
다음, 상기 테스트 기판에 연결된 상기 패드 접촉부의 니들 핀이 상기 구동 IC 입력 패드 및 FPC 패드에 접촉되도록 상기 테스트 기판을 액정 패널 상에 형성된 얼라인키를 이용하여 배치한다.
이어, 상기 테스트 기판 배치에 따라, 상기 구동 IC 입력 패드와 상기 FPC 패드를 거쳐 상기 테스트 루프를 형성하며, 상기 테스트 루프의 입출력단으로부터 콘택 저항을 측정한다.
다음, 상기 콘택 저항 측정 결과에 따라 액정 패널의 양호/불량을 판정한다.
기타 실시예들의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.
본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.
먼저, 도 1을 참고하여 구동 IC 및 FPC(Flexible Circuit Board)가 실장되어 액정 모듈이 완성된 상태의 액정 표시 장치의 구조에 대해서 설명한다.
도 1은 구동 IC 및 FPC가 실장된 액정 표시 장치를 나타낸 사시도이다.
일반적으로, 액정 표시 장치는 하나의 모기판 상에 다수개 형성된 액정 패널들을 커팅휠(Cutting wheel)로 스크라이브(Scribe) 한뒤 개별적으로 분리하는 과정을 거치고, 분리된 액정 패널 상에 구동 IC 및 FPC 등을 실장하여 액정 모듈을 완성한다.
상기 액정 모듈은 액정 패널(30)과 상기 액정 패널(30)을 구동하기 위한 구동 신호를 제공하는 구동 IC(70) 및 FPC(80)를 포함한다.
상기 액정 패널(30)은 박막 트랜지스터 기판(31)과 컬러 필터 기판(32) 및 이들 사이에 개재된 액정(도시되지 않음)을 포함한다. 또한, 상기 액정 패널(30) 상에는 액정 패널 제조시에 사용되는 얼라인키(33)가 형성되어 있다. 상기 얼라인키(33)는 예컨데, 상기 구동 IC(70) 및 FPC(80)등을 실장하기 위한 얼라인에 이용될 수 있으며, 이외에도 여러 단계의 공정 과정 중에 상기 얼라인키(33)가 다양하 게 이용되어질 수 있다.
한편, 상기 액정 패널(30)의 상기 박막 트랜지스터 기판(31) 상에는 다수의 구동 IC 입력 패드(도 2의 71 참고)들과 다수의 FPC 패드(도 2의 81 참고)들이 형성되어 있는데, 이에 대해서 도 2를 참조하여 설명한다.
도 2는 구동 IC 및 FPC가 실장되기 이전의 액정 표시 장치를 나타낸 사시도이다.
도 2에 도시된 바와 같이, 상기 액정 패널(30)의 상기 박막 트랜지스터 기판(31) 상에는 상기 구동 IC(70)가 실장되는 위치에 대응하여, 다수의 구동 IC 입력 패드(71)가 형성되어 있다. 또한, 상기 박막 트랜지스터 기판(31) 상에는 상기 FPC(80)가 실장되는 위치에 대응하여, 다수의 FPC 패드(81)가 형성되어 있다.
이때, 상기 다수의 구동 IC 입력 패드(71)들은 상기 다수의 FPC 패드(81)들에 각각 전기적으로 연결되며, 이러한 전기적인 연결을 제공하는 배선 패턴(도시되지 않음)들이 상기 박막 트랜지스터 기판(31) 상에 형성되어 있다.
한편, 본 발명의 실시예들에 따른 액정 표시 장치의 테스트 장치는 상기 구동 IC(70) 및 FPC(80)가 실장되어 액정 모듈이 완성되기 이전의 상기 액정 패널 상태에서의 패드부 콘택 저항을 측정할 수 있도록 제공된다.
이하, 도 3을 참조하여, 본 발명의 제1 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 장치에 대하여 구체적으로 설명한다.
도 3은 본 발명의 제1 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 장치를 설명하기 위한 개념도이다.
도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제1 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 장치는, 제1 내지 제4 니들 핀(needle pin)(11, 12, 13, 14)을 포함하는 패드 접촉부와, 상기 패드 접촉부에 연결되는 테스트 기판(21)을 포함한다.
상기 제1 및 제2 니들 핀(11, 12)은 액정 패널(30) 상에 형성된 다수의 구동 IC 입력 패드(71) 중 소정 위치에 형성된 두 개의 상기 구동 IC 입력 패드(71)에 각각 접촉될 수 있도록 상기 테스트 기판(21) 상에 심어져 형성되어 있다.
또한, 상기 제3 및 제4 니들 핀(13, 14)은 액정 패널(30) 상에 형성된 다수의 FPC 패드(81) 중 소정 위치에 형성된 두 개의 상기 FPC 패드(81)에 각각 접촉될 수 있도록 상기 테스트 기판(21) 상에 심어져 형성되어 있다.
상기 제1 내지 제4 니들 핀(11, 12, 13, 14)은 일반적인 프로브 핀(Probe Pin)과 같은 형상 및 같은 도전 물질로 형성될 수 있다.
상기 테스트 기판(21)은, 일단이 상기 구동 IC 입력 패드(71)들에 접촉하는 상기 제1 및 제2 니들 핀(11, 12)의 타단들을 전기적으로 쇼팅시키고, 일단이 상기 FPC 패드(81)들에 접촉하는 상기 제3 및 제4 니들 핀(13, 14)의 타단들을 전기적으로 오픈시키도록 구성되어 있다.
또한, 상기 테스트 기판(21)은, 전기적으로 오픈된 상기 제3 및 제4 니들 핀(13, 14)의 타단을 외부의 테스트 기기(미도시)를 연결할 수 있도록 두 개의 외부 단자(43, 44)가 형성되어 있다.
한편, 상기 구동 IC 입력 패드(71)들은 상기 FPC 패드(81)들에 각각 전기적으로 연결되어 있으며, 상기 제1 내지 제4 니들 핀(11, 12, 13, 14)의 접촉에 의해 적어도 하나의 테스트 루프를 형성한다.
이때, 상기 테스트 루프는 상기 제3 및 제4 니들 핀(13, 14)의 타단에 연결된 상기 외부 단자(43, 44)를 입출력으로 하며, 상기 외부의 테스트 기기는 상기 테스트 루프의 입출력을 통하여 콘택 저항을 측정할 수 있다.
다음은, 앞서의 도 3 및 도 4를 참조하여 상술한 본 발명의 제1 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 장치를 이용하여 액정 패널의 패드부 콘택 저항을 측정하는 액정 표시 장치의 테스트 방법에 대하여 설명한다.
도 4는 본 발명의 제1 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 방법을 나타낸 순서도이다.
도 4에 도시된 바와 같이, 먼저, 액정 패널(30) 상에 형성된 다수의 구동 IC 입력 패드(71) 및 다수의 FPC 패드(81) 중 소정 위치에 형성된 두 개의 상기 구동 IC 입력 패드(71) 및 두 개의 FPC 패드(81)에 각각 접촉하도록 제공된 제1 내지 제4 니들 핀(11, 12, 13, 14)을 포함하는 패드 접촉부와, 일단이 상기 구동 IC 입력 패드(71)들에 접촉하는 상기 제1 및 제2 니들 핀(11, 12)의 타단들을 전기적으로 쇼팅시키고 일단이 상기 FPC 패드(81)들에 접촉하는 상기 제3 및 제4 니들 핀(13, 14)의 타단들을 전기적으로 오픈시키도록 상기 패드 접촉부와 연결되는 테스트 기판(21)을 포함하는 액정 표시 장치의 테스트 장치를 마련한다(S100).
다음, 상기 테스트 기판(21)에 연결된 패드 접촉부의 상기 제1 내지 제4 니들 핀(11, 12, 13, 14)이 상기 구동 IC 입력 패드(71) 및 FPC 패드(81)에 접촉되도록 상기 테스트 기판(21)을 액정 패널(30) 상에 형성된 얼라인키(33)를 이용하여 배치한다(S200).
이어, 상기 테스트 기판(21) 배치에 따라, 상기 구동 IC 입력 패드(71)와 상기 FPC 패드(81)를 거쳐 상기 제3 및 제4 니들 핀(13, 14)의 타단을 입출력으로 하는 하나의 테스트 루프가 형성되며, 상기 제3 및 제4 니들 핀(13, 14)의 타단을 통하여 콘택 저항을 측정한다(S300).
이때, 상기 콘택 저항은 상기 상기 제3 및 제4 니들 핀(13, 14)의 타단에 연결된 외부 단자(43, 44)를 외부 테스트 기기에 연결하여 측정할 수 있다.
다음, 상기 콘택 저항 측정 결과에 따라 액정 패널(30)의 양호/불량을 판정한다.
다음은, 도 5를 참조하여, 본 발명의 제2 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 장치에 대하여 구체적으로 설명한다.
도 5는 본 발명의 제2 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 장치를 설명하기 위한 개념도이다.
도 5에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제2 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 장치는, 제1 내지 제4 니들 핀(needle pin)(11, 12, 13, 14)을 포함하는 패드 접촉부와, 상기 패드 접촉부에 연결되는 테스트 기판(22)을 포함한다.
상기 제1 및 제2 니들 핀(11, 12)은 액정 패널(30) 상에 형성된 다수의 구동 IC 입력 패드(71) 중 소정 위치에 형성된 두 개의 상기 구동 IC 입력 패드(71)에 각각 접촉될 수 있도록 상기 테스트 기판(21) 상에 심어져 형성되어 있다.
또한, 상기 제3 및 제4 니들 핀(13, 14)은 액정 패널(30) 상에 형성된 다수 의 FPC 패드(81) 중 소정 위치에 형성된 두 개의 상기 FPC 패드(81)에 각각 접촉될 수 있도록 상기 테스트 기판(21) 상에 심어져 형성되어 있다.
상기 제1 내지 제4 니들 핀(11, 12, 13, 14)은 일반적인 프로브 핀(Probe Pin)과 같은 형상 및 같은 도전 물질로 형성될 수 있다.
상기 테스트 기판(22)은, 일단이 상기 구동 IC 입력 패드(71)들에 접촉하는 상기 제1 및 제2 니들 핀(11, 12)의 타단들을 전기적으로 오픈시키고, 일단이 상기 FPC 패드(81)들에 접촉하는 상기 제3 및 제4 니들 핀(13, 14)의 타단들을 전기적으로 쇼팅시키도록 구성되어 있다.
또한, 상기 테스트 기판(22)은, 전기적으로 오픈된 상기 제1 및 제2 니들 핀(11, 12)의 타단을 외부의 테스트 기기를 연결할 수 있도록 두 개의 외부 단자(41, 42)가 형성되어 있다.
한편, 상기 구동 IC 입력 패드(71)들은 상기 FPC 패드(81)들에 각각 전기적으로 연결되어 있으며, 상기 제1 내지 제4 니들 핀(11, 12, 13, 14)의 접촉에 의해 적어도 하나의 테스트 루프를 형성한다.
이때, 상기 테스트 루프는 상기 제1 및 제2 니들 핀(11, 12)의 타단에 연결된 상기 외부 단자(41, 42)를 입출력으로 하며, 상기 외부의 테스트 기기는 상기 테스트 루프의 입출력을 통하여 콘택 저항을 측정할 수 있다.
한편, 본 발명의 제2 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 장치를 통한 액정 패널의 테스트 방법은, 상술한 본 발명의 제1 실시예와 실질적으로 동일하므로, 이에 대한 설명을 생략하였다.
그러므로, 본 발명의 실시예들에 따르면, 구동 IC와 FPC를 실장하여 액정 모듈을 완성하기 전의 액정 패널 상에서 패드부 콘택 저항을 측정하여 액정 패널의 양호/불량을 판단할 수 있다.
이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 설명하였지만, 본 발명은 상기 실시예들에 한정되지 않고 본 발명의 기술적 요지를 벗어나지 않는 범위 내에서 당업자에 의해 다양하게 변형 실시될 수 있다.
상술한 바와 같이 본 발명에 따르면, 구동 IC와 FPC를 실장하여 액정 모듈을 완성하기 전의 액정 패널 상에서 패드부 콘택 저항을 측정하여 액정 패널의 양호/불량을 판단할 수 있으며, 이에 따라 수율상 손실을 최소화할 수 있다.

Claims (6)

  1. 액정 패널 상에 형성된 저항 테스트용 구동 IC 입력 패드 및 저항 테스트용 FPC 패드와 각각 접촉하도록 제공되는 니들 핀을 구비하는 패드 접촉부; 및
    상기 저항 테스트용 구동 IC 입력 패드 및 저항 테스트용 FPC 패드와 상기 패드 접촉부를 통해 연결되어 적어도 하나의 테스트 루프를 형성하는 테스트 기판을 포함하는 액정 표시 장치의 테스트 장치.
  2. 제1항에서,
    상기 패드 접촉부는, 일단이 두 개의 상기 구동 IC 입력 패드에 각각 접촉하도록 제공된 제1 및 제2 니들 핀과, 일단이 두 개의 상기 FPC 패드에 각각 접촉하도록 제공된 제3 및 제4 니들 핀을 포함하고,
    상기 테스트 기판은, 상기 제1 및 제2 니들 핀의 타단들을 전기적으로 쇼팅시키고, 상기 제3 및 제4 니들 핀의 타단들을 전기적으로 오픈시키도록 상기 패드 접촉부와 연결되는 액정 표시 장치의 테스트 장치.
  3. 제2항에서,
    상기 테스트 기판은,
    전기적으로 오픈된 상기 제3 및 제4 니들 핀의 타단을 외부의 테스트 기기에 연결하도록 두 개의 외부 단자가 형성된 액정 표시 장치의 테스트 장치.
  4. 제1항에서,
    상기 패드 접촉부는, 일단이 두 개의 상기 구동 IC 입력 패드에 각각 접촉하도록 제공된 제1 및 제2 니들 핀과, 일단이 두 개의 상기 FPC 패드에 각각 접촉하도록 제공된 제3 및 제4 니들 핀을 포함하고,
    상기 테스트 기판은, 상기 제1 및 제2 니들 핀의 타단들을 전기적으로 오픈시키고, 상기 제3 및 제4 니들 핀의 타단들을 전기적으로 쇼팅시키도록 상기 패드 접촉부와 연결되는 액정 표시 장치의 테스트 장치.
  5. 제4항에서,
    상기 테스트 기판은,
    전기적으로 오픈된 상기 제1 및 제2 니들 핀의 타단을 외부의 테스트 기기에 연결하도록 두 개의 외부 단자가 형성된 액정 표시 장치의 테스트 장치.
  6. 액정 패널 상에 형성된 저항 테스트용 구동 IC 입력 패드 및 저항 테스트용 FPC 패드에 각각 접촉하도록 제공되는 니들 핀을 구비하는 패드 접촉부와, 상기 저항 테스트용 구동 IC 입력 패드 및 저항 테스트용 FPC 패드와 상기 패드 접촉부를 통해 연결되어 적어도 하나의 테스트 루프를 형성하도록 구성된 테스트 기판을 포함하는 액정 표시 장치의 테스트 장치를 마련하는 단계;
    상기 테스트 기판에 연결된 상기 패드 접촉부의 니들 핀이 상기 구동 IC 입 력 패드 및 FPC 패드에 접촉되도록 상기 테스트 기판을 액정 패널 상에 형성된 얼라인키를 이용하여 배치하는 단계;
    상기 테스트 기판 배치에 따라, 상기 구동 IC 입력 패드와 상기 FPC 패드를 거쳐 상기 테스트 루프를 형성하며, 상기 테스트 루프의 입출력단으로부터 콘택 저항을 측정하는 단계; 및
    상기 콘택 저항 측정 결과에 따라 액정 패널의 양호/불량을 판정하는 단계를 포함하는 액정 표시 장치의 테스트 방법.
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