KR101345921B1 - 패널 검사장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 패널 검사장치에 관한 것이며, 본 발명의 패널 검사장치는 배선이 형성된 패널을 검사하기 위한 장치에 있어서, 평판 형태의 베이스; 상기 베이스로부터 이격되며, 패널과 접촉하는 접촉부; 상기 베이스와 상기 접촉부를 상호 연결하며, 상기 접촉부를 탄성지지하는 탄성부재; 상기 접촉부와 전기적으로 연결되어 상기 패널을 검사하는 검사부;를 포함하며, 상기 접촉부는 상기 탄성부재와 결합하는 제1가이드; 상기 제1가이드와 이격되게 결합하되, 관통구가 형성되는 제2가이드; 일단은 상기 관통구를 통과하여 상기 제2가이드의 하방으로 돌출되되, 타단은 상기 제1가이드와 접촉하는 접속부재;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
따라서, 본 발명에 의하면, 장비의 파손 또는 손상없이 배선이 형성된 패널의 정상동작 여부에 대한 신뢰도 높은 검사를 수행할 수 있는 패널 검사장치가 제공된다.

Description

패널 검사장치{APPARATUS FOR INSPECTING PANEL}
본 발명은 패널 검사장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 배선이 형성되는 패널의 검사를 수행할 수 있는 패널 검사장치에 관한 것이다.
티에프티(TFT:Thin Film Transistor) 엘시디 패널 상에 형성되는 배선의 최종 불량여부를 판정하기 위한 검사장비가 널리 이용되고 있다. 즉, 이러한 검사장비는 티에프티 엘시디 패널의 패드와 물리적인 접촉을 통하여 전기적인 작동여부를 검사하게 된다.
도 1은 종래의 패널 검사장치의 일례를 개략적으로 도시한 것이다.
도 1에 도시된 바와 같이, 종래의 일반적인 패널 검사장치(10)의 경우에는 연성회로기판(FPC)으로 구성되는 테스트판을 패드(P)에 직접적으로 면접촉시키고 테스트판을 통해 패널에 전기신호를 인가하여 패널의 정상 동작여부를 검사함으로써, 패널의 불량여부를 검사하고 있다.
다만, 이러한 종래의 검사장치(10)를 이용하는 경우에는 테스트판을 티에프티 엘시디 패널(S)의 패드(P)에 접촉시키는데 비교적 큰 힘이 소모되고, 테스트판과 티에프티 엘시디 패널이 평행하지 않는 경우에는 부분적인 접촉불량이 발생하여 불량 검사의 신뢰도가 저하되는 문제가 있다.
도 2는 종래의 패널 검사장치의 다른예를 개략적으로 도시한 것이다.
면접촉시 발생하는 문제를 해결하기 위한 방법으로서, 도 2에 도시된 바와 같은 접촉핀을 이용하는 티에프티 엘시디 패널 검사장비(20)가 개발되었으나, 여기서 이용되는 접촉핀은 단가가 높고, 내구성이 약해 파손이 쉽게 발생하는 문제가 있었다.
따라서, 본 발명의 목적은 이와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 장비의 파손 또는 손상없이 패널에 대한 신뢰도 높은 검사를 수행할 수 있는 패널 검사장치를 제공함에 있다.
상기 목적은, 본 발명에 따라, 배선이 형성된 패널을 검사하기 위한 장치에 있어서, 평판 형태의 베이스; 상기 베이스로부터 이격되며, 패널과 접촉하는 접촉부; 상기 베이스와 상기 접촉부를 상호 연결하며, 상기 접촉부를 탄성지지하는 탄성부재; 상기 접촉부와 전기적으로 연결되어 상기 패널을 검사하는 검사부;를 포함하며, 상기 접촉부는 상기 탄성부재와 결합하는 제1가이드; 상기 제1가이드와 이격되게 결합하되, 관통구가 형성되는 제2가이드; 일단은 상기 관통구를 통과하여 상기 제2가이드의 하방으로 돌출되되, 타단은 상기 제1가이드와 접촉하는 접속부재;를 포함하는 것을 특징으로 하는 패널 검사장치에 의해 달성된다.
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또한, 상기 접속부재는 단면 형상이 원형인 구 형태로 마련될 수 있다.
또한, 상기 관통구는 상기 제2가이드의 길이방향을 따라 복수개가 상호 이격되게 형성될 수 있다.
또한, 상기 복수개의 관통구는 상기 제2가이드의 길이방향을 따라 복렬로 형성될 수 있다.
또한, 상기 제2가이드의 길이방향을 따라서 어느 하나의 열에 배치되는 복수개의 관통구는 이웃하는 열에 배치되는 복수개의 관통구와 엇갈리게 교차로 배치될 수 있다.
또한, 상기 접촉부를 상기 베이스로부터 멀어지는 방향으로 탄성 지지하도록 상기 탄성부재는 압축스프링일 수 있다.
본 발명에 따르면, 접촉 불량 없이 패널의 전면을 동시에 검사함으로써, 향상된 신뢰성으로 패널의 정상동작여부를 검사를 할 수 있는 패널 검사장치가 제공된다.
또한, 패널과 직접적으로 접촉하는 접속부재를 복렬로 배치함으로써, 접촉 신뢰도를 더욱 향상시킬 수 있다.
또한, 복렬 상의 접속부재를 교차 배치함으로써 접속부재의 집적도를 향상시키고, 패널과의 접촉성이 더욱 우수해질 수 있다.
또한, 접속부재를 구 형태로 마련하여 패널과 점접촉하도록 함으로써, 반복 검사시 접촉되는 위치의 재현성이 유지될 수 있다.
도 1은 종래의 패널 검사장치의 일례를 개략적으로 도시한 것이고,
도 2는 종래의 패널 검사장치의 다른예를 개략적으로 도시한 것이고,
도 3은 본 발명의 제1실시예에 따른 패널 검사장치의 개략적인 사시도이고,
도 4는 도 3의 패널 검사장치의 IV - IV' 선을 따라 절단한 단면을 도시한 것이고,
도 5는 도 3의 패널 검사장치의 개략적인 분해 사시도이고,
도 6은 도 3의 패널 검사장치의 동작을 개략적으로 도시한 것이고,
도 7은 본 발명의 제2실시예에 따른 패널 검사장치의 개략적인 분해 사시도이고,
도 8은 본 발명의 제2실시예에 따른 패널 검사장치 변형례의 개략적인 분해사시도이다.
설명에 앞서, 여러 실시예에 있어서, 동일한 구성을 가지는 구성요소에 대해서는 동일한 부호를 사용하여 대표적으로 제1실시예에서 설명하고, 그 외의 실시예에서는 제1실시예와 다른 구성에 대해서 설명하기로 한다.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 제1실시예에 따른 패널 검사장치(100)에 대하여 상세하게 설명한다.
도 3은 본 발명의 제1실시예에 따른 패널 검사장치의 개략적인 사시도이고, 도 4는 도 3의 패널 검사장치의 IV - IV' 선을 따라 절단한 단면을 도시한 것이고, 도 5는 도 3의 패널 검사장치의 개략적인 분해 사시도이다.
도 3 내지 도 5를 참조하면, 본 발명의 제1실시예에 따른 패널 검사장치(100)는 향상된 검사 신뢰성으로 패널(S)을 검사하기 위한 장치로서, 베이스(110)와 접촉부(120)와 탄성부재(130)와 검사부(140)를 포함한다.
후술하는 본 실시예의 구성 및 작동원리에서는 검사 대상이 되는 패널(S)은 티에프티 엘시디 패널인 것으로 하여 설명하나, 본 발명의 적용대상이 이에 제한되지 않고, 도선이 배선되는 형태의 어떠한 패널이라도 본 발명에 의하여 오동작 여부가 검사될 수 있다.
상기 베이스(110)는 후술하는 접촉부(120)를 지지하기 위한 부재로서, 평판형으로 마련된다.
상기 접촉부(120)는 티에프티 엘시디 패널(S)과 직접적으로 접촉하며, 전기적인 검사를 수행하기 위한 것으로서, 제1가이드(121)와 제2가이드(122)와 접속부재(124)를 포함한다.
상기 제1가이드(121)는 후술하는 탄성부재(130)와 연결된 상태에서 접촉부(120)로부터 이격되며, 후술하는 접속부재(124)의 단부와 접촉하여 접속부재(124)를 지지하는 부재이다.
본 실시예에서 제1가이드(121)는 연성회로기판의 형태로 마련되어 상판(121a)은 전기적 절연체로 마련되고 접속부재(124)와 직접적으로 접촉하는 하판(121b)은 전기적 전도성이 우수한 금속소재로 마련된다.
한편, 제1가이드(121)는 평판형으로서 검사 대상이 되는 패널(S)의 길이 및 폭에 대응되는 규격으로 형성되는 것이 바람직하다.
상기 제2가이드(122)는 제1가이드(121)와 대향되되, 제1가이드(121)로부터 소정간격 이격된 상태에서 고정되어, 접속부재(124)를 지지하기 위한 절연성 부재이다. 제2가이드(122)는 제1가이드(121)에 대응되는 폭과 길이의 평판형으로 구성된다.
한편, 제2가이드(122)에는 복수개의 관통구(123)가 형성되며, 관통구(123)의 내부에는 접속부재(124)가 수용되어 제2가이드(122)의 하측으로 접속부재(124)가 하단이 돌출, 노출된다. 따라서, 관통구(123)의 직경은 접속부재(124)가 하단으로 이탈하지 않도록 접속부재(124)의 직경보다 작은 직경의 원형으로 형성되는 것이 바람직하다.
또한, 관통구(123)는 제2가이드(122)의 길이방향을 따라서 복수개가 소정 간격 이격되어 일렬로 형성되며, 관통구(123)의 개수 및 이격간격은 내부에 수용되는 접속부재(124)의 크기, 검사 대상이 되는 패널(S)의 패드(P)의 크기 등을 종합적으로 고려하여 결정하는 것이 바람직하다.
한편, 제1가이드(121)와 제2가이드(122)가 사이에 이격공간을 형성하며 견고하게 결합될 수 있도록 제1가이드(121)와 제2가이드(122)의 테두리 사이에는 연결부(125)가 구비된다.
상기 접속부재(124)는 전기적 전도성이 우수한 소재로 마련되어, 티에프티 엘시디 패널(S)상의 패드(P)와 직접적으로 접촉하여 후술하는 검사부(140)로부터 전기적인 신호를 제공받음으로써 티에프티 엘시디 패널(S)의 불량여부를 검사하는 부재이다.
접속부재(124)는 제1가이드(121)와 제2가이드(122)의 사이 공간에 구비되는 원형의 단면을 가지는 소정 직경의 구 형태의 부재로서, 접속부재(124)의 상단은 제1가이드(121)의 하판(121b)에 접촉하고 접속부재(124)의 하단은 제2가이드(122)로부터 이탈되지 않는 상태에서 관통구(123)를 통과하여 하단으로 돌출된다.
따라서, 접속부재(124)는 제1가이드(121)와 제2가이드(122)간의 결합구조에 의하여 지지되는 동시에, 일부는 제2가이드(122)의 하단으로 노출된다.
한편, 상술한 구조의 접촉부(120)는 검사 대상이 되는 티에프티 엘시디 패널(S)의 패드(P)의 개수와 대응되는 개수로 마련되며, 복수개의 접촉부(120) 들은 검사하고자 하는 패드(P)의 위치와 대응되는 위치에 각각 설치된다.
상기 탄성부재(130)는 압축 스프링의 형태로 마련되어, 접촉부(120), 즉, 제1가이드(121)의 상판(121a)과 베이스(110)를 상호 연결하는 것으로서, 접촉부(120)가 베이스(110)로부터 탄성지지되도록 한다.
또한, 탄성부재(130)는 복수개가 제1가이드(121)에 길이방향을 따라 설치되는 것으로서, 복수개의 탄성부재(130)와 연결되어 베이스(110)로부터 지지되는 접촉부(120)의 양단부는 가해지는 압축력에 따라서 대응되는 베이스(110)의 양단부와 서로 다른 간격으로 이격될 수 있다. 즉, 복수개의 탄성부재(130)에 의하여 연결되는 접촉부(120)는 베이스(110)로부터 탄성지지된 상태에서 소정 각도로 기울어질 수 있는 것이다.
상기 검사부(140)는 제1가이드(121)의 하판(121b)과 전기적으로 연결되며, 접속부재(124)에 전기적인 신호를 인가함으로써 티에프티 패널(S)의 불량여부를 검사하기 위한 것이다.
지금부터는 상술한 패널 검사장치(100)의 제1실시예의 작동에 대하여 설명한다.
도 6은 도 3의 패널 검사장치의 동작을 개략적으로 도시한 것이다.
먼저, 본 실시예의 패널 검사장치(100)를 검사 대상이 되는 티에프티 엘시디 패널(S)의 상측에 배치한다. 다음으로, 각 접촉부(120)가 티에프티 엘시디 패널(S)의 패드(P)에 대응되도록 위치시킨다.
패드(P) 상에 위치한 상태에서 하중을 인가하여 베이스(110)를 평행하게 하방으로 이동시키면서 제2가이드(122)로부터 하방으로 돌출되는 접속부재(124)가 티에프티 엘시디 패널(S)의 패드(P)에 접촉되도록 한다.
접속부재(124)와 패드(P)와의 접촉이 완료되면 제1가이드(121)의 하판(121b)과 전기적으로 연결되는 검사부(140)를 작동시켜 접속부재(124)에 전기적 신호를 인가함으로써 티에프티 엘시디 패널(S)의 불량여부를 검사한다.
한편, 도 6에 도시된 바와 같이, 베이스(110)가 티에프티 엘시디 패널(S)로부터 기울어져 경사를 형성한 상태에서 하중이 인가되어 접촉부(120)가 티에프티 엘시디 패널(S) 측으로 가압되는 경우에는, 가압력에 의하여 탄성부재(130)가 위치에 따라 서로 다른 정도로 압축되고, 탄성부재(130)의 압축차이에 따라 접촉부(120)는 베이스(110)로부터 경사를 형성하여 티에프티 엘시디 패널(S)의 상면이 평행하게 된다.
즉, 티에프티 엘시디 패널(S)가 기울어짐에 따라, 베이스(110)와 티에프티 엘시디 패널(S)는 평행을 이루지 못하게 된다. 이에 따라, 베이스(110)로부터 소정간격 이격된 상태에서 접촉부(120)는 일단부가 먼저 기울어진 상태의 티에프티 엘시디 패널(S)과 접촉한다.
접촉부(120)의 타단부가 티에프티 엘시디 패널(S)과 접촉할때까지 베이스(110)가 지속적으로 가압되면, 티에프티 엘시디 패널(S)에 선행하여 접촉된 영역의 탄성부재(130)는 상대적으로 많은 양이 압축되고 후행하여 접촉되는 영역의 탄성부재(130)는 상대적으로 적은 양이 압축되어, 접촉부(120)는 베이스로부터(110) 기울어진 상태에서 모든 접속부재(124)가 티에프티 엘시디 패널(S)과 긴밀하게 접촉될 수 있다.
이를 다시 설명하면, 최종적으로 베이스(110)와 티에프티 엘시디 패널(S)의 사이에 형성되는 각도에 따라 복수개의 탄성부재(130)는 서로 다른 정도로 압축되된다. 이러한 탄성부재(130)의 압축정도에 따라 접촉부(120)는 베이스(110)로부터 기울어진 상태에서 검사 대상이 되는 티에프티 엘시디 패널(S)는 접속부재(124)와 접촉하고 접촉부(120)와는 평행을 유지하게 됨으로써 검사 신뢰성이 향상된다.
따라서, 본 실시예에 의하면, 검사대상이 되는 티에프티 엘시디 패널(S)의 경사각도에 관계없이 패드(P)와 접촉부(120)가 전체적으로 접촉불량 없이 긴밀하게 접촉되며 검사의 신뢰도가 향상될 수 있다.
다음으로 본 발명의 제2실시예에 따른 패널 검사장치에 대하여 설명한다.
도 7은 본 발명의 제2실시예에 따른 패널 검사장치의 개략적인 분해 사시도이다.
도 7을 참조하면, 본 발명의 제2실시예에 따른 패널 검사장치(200)는 향상된 검사 신뢰성으로 패널(S)을 검사하기 위한 장치로서, 베이스(110)와 접촉부(220)와 탄성부재(130)와 검사부(140)를 포함한다.
상기 베이스(110)와 상기 탄성부재(130)와 상기 검사부(140)는 제1실시예에서 설명한 구성과 동일한 것이므로 중복설명은 생략한다.
상기 접촉부(220)는 티에프티 엘시디 패널(S)과 직접적으로 접촉하여 검사를 수행하기 위한 것으로서, 제1가이드(121)와 제2가이드(222)와 접속부재(124)를 포함하며, 상기 제1가이드(121) 및 상기 접속부재(124)는 제1실시예에서 설명한 구성과 동일한 것이므로 중복설명은 생략한다.
본 실시예에서 상기 제2가이드(222)는 제1실시예의 구성과 마찬가지로 티에프티 엘시디 패널(S)의 패드(P)를 따라 길게 형성된다. 다만, 본 실시예에서의 제2가이드(222)에 형성되는 관통구(223)는 폭방향으로 복수개가 마련되는 것으로서, 즉, 제2가이드(222)의 길이방향을 따라서 복렬구조로 형성된다.
따라서, 본 실시예에서 제2가이드(222) 상에 복렬형태로 형성되는 관통구(223)에 의하여 접속부재(124)가 수용된 상태에서 티에프티 엘시디 패널(S)의 불량여부를 검사함으로써 검사 신뢰도를 더욱 향상시킬 수 있다.
도 8은 본 발명의 제2실시예에 따른 패널 검사장치 변형례의 개략적인 분해사시도이다.
도 8에 도시된 바와 같이, 본 실시예의 관통구 복렬구조의 변형례에서는 어느 하나의 열을 따라 배치되는 관통구(223')는 이웃하는 열을 따라 배치되는 관통구(223')와 엇갈리게 교차 배치할 수 있다. 따라서, 복렬 교차 구조에 의하면, 상대적으로 좁은 면적의 제2가이드(222') 내에 다수개의 접속부재(124)를 수용할 수 있으므로, 전체적으로 접속부재(124)의 밀집도를 높일 수 있으며, 접촉부(220')의 폭을 최소화하여 전체적으로 컴팩트하게 구성할 수 있다.
한편, 상술한 바에 의하면, 본 발명의 패널 검사장치가 티에프티 엘시디 패널을 검사하는 장치로 설명되었으나, 용도가 이에 제한되는 것은 아니고, 전기도선이 배선된 다양한 형태의 패널 또는 기판을 검사하는데 이용될 수 있다.
또한, 본 발명의 제1실시예 및 제2실시예에서는 소정 직경의 구 형상의 접속부재(124)를 이용하여 검사대상이 되는 패널에 점접촉되도록 하였으나, 패널과 접촉되는 접속부재(124)의 형상 및 접촉형태가 이에 제한되는 것은 아니고 면접촉 또는 선접촉이 가능한 다양한 형상으로 구성될 수 있다.
본 발명의 권리범위는 상술한 실시예에 한정되는 것이 아니라 첨부된 특허청구범위 내에서 다양한 형태의 실시예로 구현될 수 있다. 특허청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 변형 가능한 다양한 범위까지 본 발명의 청구범위 기재의 범위 내에 있는 것으로 본다.
100 : 본 발명의 제1실시예에 따른 패널 검사장치
110 : 베이스 120 : 접촉부
130 : 탄성부재 140 : 검사부

Claims (7)

  1. 배선이 형성된 패널을 검사하기 위한 장치에 있어서,
    평판 형태의 베이스;
    상기 베이스로부터 이격되며, 패널과 접촉하는 접촉부;
    상기 베이스와 상기 접촉부를 상호 연결하며, 상기 접촉부를 탄성지지하는 탄성부재;
    상기 접촉부와 전기적으로 연결되어 상기 패널을 검사하는 검사부;를 포함하며,
    상기 접촉부는 상기 탄성부재와 결합하는 제1가이드; 상기 제1가이드와 이격되게 결합하되, 관통구가 형성되는 제2가이드; 일단은 상기 관통구를 통과하여 상기 제2가이드의 하방으로 돌출되되, 타단은 상기 제1가이드와 접촉하는 접속부재;를 포함하는 것을 특징으로 하는 패널 검사장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 접속부재는 단면 형상이 원형인 구 형태로 마련되는 것을 특징으로 하는 패널 검사장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 관통구는 상기 제2가이드의 길이방향을 따라 복수개가 상호 이격되게 형성되는 것을 특징으로 하는 패널 검사장치.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 복수개의 관통구는 상기 제2가이드의 길이방향을 따라 복렬로 형성되는 것을 특징으로 하는 패널 검사장치.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 제2가이드의 길이방향을 따라서 어느 하나의 열에 배치되는 복수개의 관통구는 이웃하는 열에 배치되는 복수개의 관통구와 엇갈리게 교차로 배치되는 것을 특징으로 하는 패널 검사장치.
  6. 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 접촉부를 상기 베이스로부터 멀어지는 방향으로 탄성 지지하도록 상기 탄성부재는 압축스프링인 것을 특징으로 하는 패널 검사장치.
  7. 삭제
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