KR20150078559A - 표시장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명의 일 실시 예에 따른 표시장치는 복수의 화소들이 배치된 표시 패널, 상기 화소들에 데이터 전압들을 제공하는 데이터 구동부를 포함하고, 상기 데이터 구동부는, 스위칭 제어 신호에 응답하여 스위칭되는 복수의 스위치들, 상기 스위치들을 통해 상기 데이터 전압들 중 적어도 하나 이상의 데이터 전압을 수신하는 테스트 패드들을 포함한다.

Description

표시장치{DISPLAY DEVICE}
본 발명은 표시장치에 관한 것으로, 더 상세하게는 테스트 패드가 포함된 표시장치에 관한 것이다.
최근 액정 표시 장치(Liquid Crystal Display), 유기 발광 표시장치(Organic Light Emitting Display), 전기 습윤 표시 장치(Electro Wetting Display Device), 플라즈마 표시 장치(Plasma Display Panel: PDP) 및 전기 영동 표시장치(Electrophoretic Display Device) 등 다양한 표시장치가 개발되고 있다.
그 중에서도, 차세대 표시장치로서 각광받는 유기 발광 표시장치는 표시패널에 전원을 공급하는 백라이트가 필요없어, 전반적인 베젤(bazel) 부분이 작게 제작될 수 있다. 이러한 유기 발광 표시장치는, 일반적으로, 영상을 표시하는 복수의 화소들, 화소들에 주사 신호들을 순차적으로 공급하는 주사 구동부, 화소들에 데이터 전압들을 공급하는 데이터 구동부, 화소들에 발광 제어 신호들을 공급하는 발광 제어 구동부를 포함한다.
또한, 유기 발광 표시장치는 화소들에 제공되는 데이터 전압들의 상태를 측정하기 위한 테스트 패드를 포함한다. 테스트 패드를 통해 데이터 구동부로부터 출력되는 데이터 전압들에 대한 분석이 가능하다. 즉, 데이터 구동부로부터 출력되는 데이터 전압들의 상태가 정상 상태인지 불량 상태인지 분석될 수 있다. 그러나, 테스트 패드를 통해 화소들에 인가되는 데이터 전압들의 정상 상태가 분석됨에 따라, 외부로의 유출을 방지하는 기술이 요구된다.
본 발명의 목적은 각 화소에 제공되는 데이터 전압의 상태가, 테스트 패드를 통해 외부에서 분석되는 것을 방지하는 표시장치를 제공하는 데 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 실시 예에 따른 표시장치는 복수의 화소들이 배치된 표시 패널, 상기 화소들에 데이터 전압들을 제공하는 데이터 구동부를 포함하고, 상기 데이터 구동부는, 스위칭 제어 신호에 응답하여 스위칭되는 복수의 스위치들, 상기 스위치들을 통해 상기 데이터 전압들 중 적어도 하나 이상의 데이터 전압을 수신하는 테스트 패드들을 포함한다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 다른 실시 예에 따른 표시장치는 복수의 화소들이 배치된 표시 패널, 상기 화소들에 데이터 전압들을 제공하는 데이터 구동부를 포함하고, 상기 데이터 구동부는, 제1 스위칭 제어 신호에 응답하여 스위칭되는 복수의 스위치들, 제2 스위칭 제어 신호에 응답하여 스위칭되는 랜덤 스위치, 상기 스위치들을 통해 상기 데이터 전압들 중 적어도 하나 이상의 데이터 전압을 수신하는 테스트 패드들을 포함하고, 상기 테스트 패드들은 상기 랜덤 스위치를 통해 랜덤 데이터 전압을 수신한다.
본 발명의 실시 예에 따르면, 데이터 전압들이 테스트 패드를 통해 외부에서 분석되는 것을 방지하는 표시장치가 제공될 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 표시장치를 보여주는 블록도이다.
도 2는 도 1에 도시된 임의의 한 화소의 등가 회로도이다.
도 3은 도 1에 도시된 A 구간을 확대한 도면이다.
도 4는 도 3에 도시된 B 구간을 확대한 구간으로서, 본 발명의 일 실시 예에 따른 테스트 패드의 동작을 보여주는 회로도이다.
도 5는 도 3에 도시된 B 구간을 확대한 구간으로서, 본 발명의 다른 실시 예에 따른 테스트 패드의 동작을 보여주는 회로도이다.
본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 본문에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.
각 도면을 설명하면서 유사한 참조부호를 유사한 구성요소에 대해 사용하였다. 첨부된 도면에 있어서, 구조물들의 치수는 본 발명의 명확성을 위하여 실제보다 확대하여 도시한 것이다. 제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.
본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 표시장치를 보여주는 블록도이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 표시장치(600)는 표시 패널(100), 제1 타이밍 컨트롤러(210), 제2 타이밍 컨트롤러(220), 주사 구동부(300), 제1 데이터 구동부(410), 제2 데이터 구동부(420) 및 발광 제어 구동부(500)를 포함한다.
표시 패널(110)은 매트릭스 형태로 배열된 복수의 화소들(PX11~PXnm)을 포함한다. 이러한 복수의 화소들(PX11~PXnm)은 표시 패널(100)의 제1 표시 영역(DA1) 및 제2 표시 영역(DA2)에 배치될 수 있다. 화소들(PX11~PXnm)은 행 방향으로 연장된 복수의 주사 라인들(SL1~SLn) 및 주사라인들(SL1~SLn)과 교차하는 복수의 데이터 라인들(D1~Dm)에 연결된다. 또한, 화소들(PX11~PXnm)은 주사 라인들(SL1~SLn)과 평행하게 연장된 복수의 발광 제어라인들(E1~En)에 연결된다.
주사 라인들(SL1~SLn)은 주사 구동부(300)에 연결되어 주사 신호들을 수신한다. 데이터 라인들(DL1~DLm)은 제1 및 제2 데이터 구동부들(410, 420)에 연결되어 데이터 전압들을 수신한다. 발광 제어 라인들(E1~En)은 발광 제어 구동부(150)에 연결되어 발광 제어 신호들을 수신한다. n 및 m은 0보다 큰 정수이다.
제1 타이밍 컨트롤러(210)는 외부(예를 들어, 시스템 보드)로부터 제1 영상 신호들 및 제1 제어 신호를 수신한다. 예시적으로, 제1 제어 신호는 수평 동기 신호, 수직 동기 신호, 및 메인 클럭 신호 등을 포함할 수 있다.
자세하게, 제1 타이밍 컨트롤러(210)는 제1 데이터 구동부(410)와의 인터페이스 사양에 맞도록 제1 영상 신호들의 데이터 포맷을 변환한다. 제1 타이밍 컨트롤러(210)는 데이터 포맷이 변환된 제1 영상 신호들을 제1 데이터 구동부(410)로 제공한다.
또한, 제1 타이밍 컨트롤러(210)는 외부로부터 제공된 제1 제어 신호에 응답하여 주사 제어신호 및 제1 데이터 제어신호를 생성한다. 주사 제어신호는 주사 구동부(300)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 신호일 수 있다. 제1 데이터 제어신호는 제1 데이터 구동부(410)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 신호일 수 있다. 제1 타이밍 컨트롤러(210)는 주사 제어신호를 주사 구동부(300)로 제공하며, 제1 데이터 제어신호를 제1 데이터 구동부(410)로 제공한다.
또한, 실시 예에 있어서, 제1 타이밍 컨트롤러(210)는 제1 스위칭 제어 신호를 생성할 수 있다. 제1 스위칭 제어 신호는 각 화소(PXnm)에 제공되는 데이터 전압들을 테스트하기 위해, 제1 데이터 구동부(410)에 배치된 복수의 스위치들의 동작을 제어할 수 있다. 이에 대해서는, 도 3을 통해 자세히 설명된다.
제2 타이밍 컨트롤러(220)는 외부로부터 제2 영상 신호들 및 제2 제어 신호를 수신한다. 제1 제어 신호와 마찬가지로, 제2 제어 신호는 수평 동기 신호, 수직 동기 신호, 및 메인 클럭 신호 등을 포함할 수 있다.
자세하게, 제2 타이밍 컨트롤러(220)는 제2 데이터 구동부(420)와의 인터페이스 사양에 맞도록 제2 영상 신호들의 데이터 포맷을 변환한다. 제2 타이밍 컨트롤러(220)는 데이터 포맷이 변환된 제2 영상 신호들을 제2 데이터 구동부(420)로 제공한다.
또한, 제2 타이밍 컨트롤러(220)는 외부로부터 제공된 제2 제어 신호에 응답하여 발광 제어신호 및 제2 데이터 제어신호를 생성한다. 발광 제어신호는 발광 제어 구동부(500)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 제어신호이다. 제2 데이터 제어신호는 제2 데이터 구동부(420)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 신호일 수 있다. 제2 타이밍 컨트롤러(220)는 발광 제어신호를 발광 제어 구동부(500)로 제공하며, 제2 데이터 제어신호를 제2 데이터 구동부(420)로 제공한다.
또한, 실시 예에 있어서, 제2 타이밍 컨트롤러(220)는 제2 스위칭 제어 신호를 생성할 수 있다. 제2 스위칭 제어 신호는 각 화소(PXnm)에 제공되는 데이터 전압들을 테스트하기 위해, 제2 데이터 구동부(420)에 배치된 복수의 스위치들의 동작을 제어할 수 있다. 마찬가지로, 이에 대해서는, 도 3을 통해 자세히 설명된다.
또한, 도 1에 도시되진 않았지만, 제1 및 제2 타이밍 컨트롤러들(210, 220)는 인쇄회로기판 상에 각각 실장될 수 있다. 즉, 제1 및 제2 타이밍 컨트롤러들(210, 220)은 인쇄회로기판 상에 각가 실장되어, 제1 및 제2 영상 신호들 및 데이터 제어 신호들을 제1 및 제2 데이터 구동부들(410, 420)에 제공할 수 있다.
주사 구동부(300)는 주사 제어 신호에 응답하여 복수의 주사 신호들을 생성한다. 주사 신호들은 주사 라인들(SL1~SLn)을 통해 화소들(PX11~PXnm)에 행 단위로 그리고 순차적으로 인가된다. 그 결과 화소들(PX11~PXnm)은 행 단위로 그리고 순차적으로 선택될 수 있다.
제1 데이터 구동부(410)는 제1 데이터 제어신호에 응답하여 제1 영상 신호들에 대응되는 제1 데이터 전압들을 생성한다. 제1 데이터 전압들은 대응하는 데이터 라인들(DL1~DLm)을 통해 제1 표시 영역(DA1)에 배치된 화소들(PX11~PXnm)에 제공된다.
자세하게, 제1 데이터 구동부(410)는 복수의 제1 연성회로기판들(410_1~410_k) 및 복수의 제1 소스 구동칩들(411_1~411_k)을 포함한다. 여기서, k은 0보다 크고 m보다 작은 정수이다. 제1 소스 구동칩들(411_1~411_k) 각각은 대응하는 제1 연성회로기판들(410_1~410_k) 상에 실장될 수 있다. 제1 소스 구동칩들(411_1~411_k)은 제1 타이밍 컨트롤러(210)와 제1 표시영역(DA1)의 상부에 인접한 비표시 영역에 연결될 수 있다.
실시 예에 있어서, 제1 소스 구동칩들(411_1~411_k)은 제1 연성회로기판들(410_1~410_k) 상에 실장되는 테이프 캐리어 패키지(TCP: Tape Carrier Package) 방식을 예로 들었다. 그러나, 제1 소스 구동칩들(411_1~411_k)은 칩 온 글래스(COG: Chip on Glass) 방식으로 실장 될 수도 있다
제2 데이터 구동부(420)는 제2 데이터 제어신호에 응답하여 제2 영상 신호들에 대응되는 제2 데이터 전압들을 생성한다. 제2 데이터 전압들은 대응하는 데이터 라인들(DL1~DLm)을 통해 제2 표시 영역(DA2)에 배치된 화소들(PX11~PXnm)에 제공된다.
자세하게, 제2 데이터 구동부(420)는 복수의 제2 연성회로기판들(420_1~420_k) 및 복수의 제2 소스 구동칩들(421_1~421_k)을 포함한다. 여기서, k는 0보다 크고 m보다 작은 정수이다. 제2 소스 구동칩들(421_1~421_k) 각각은 대응하는 제2 연성회로기판들(420_1~420_k) 상에 실장될 수 있다. 제2 소스 구동칩들(421_1~421_k)은 제2 타이밍 컨트롤러(220)와 제2 표시영역(DA2)의 상부에 인접한 비표시 영역에 연결될 수 있다.
실시 예에 있어서, 제1 소스 구동칩들(411_1~411_k)과 마찬가지로, 제2 소스 구동칩들(421_1~421_k)은 제2 연성회로기판들(420_1~420_k) 상에 실장되는 테이프 캐리어 패키지(TCP: Tape Carrier Package) 방식을 예로 들었다. 그러나, 제2 소스 구동칩들(421_1~421_k)은 칩 온 글래스(COG: Chip on Glass) 방식으로 실장 될 수도 있다.
또한, 본 발명의 실시 예에 따른 제1 및 제2 데이터 구동부들(410, 420)은 화소들(PX11~PXnm)에 인가되는 제1 및 제2 데이터 전압들을 테스트하기 위한 테스트 패드를 각각 포함할 수 있다. 테스트 패드는 화소들(PX11~PXnm)에 제공되는 제1 및 제2 데이터 전압들 중 불량 데이터 전압이 포함된 데이터 전압이 존재하는지의 유무를 판단하는데 사용될 수 있다.
즉, 표시장치(600)의 공정 단계 및 공정 후에도, 제1 및 제2 데이터 구동부들(410, 420)로부터 제공되는 제1 및 제2 데이터 전압들에 불량 데이터 전압이 포함되었는지의 테스트가 필요하다. 본 발명에 따른 표시장치(600)는 테스트 패드를 통해 제1 및 제2 데이터 전압들의 성능을 분석할 수 있다.
발광 제어 구동부(500)에는 제1 전압(VGL) 및 제1 전압(VGL)보다 높은 레벨을 갖는 제2 전압(VGH)이 제공된다. 발광 제어 구동부(500)는 발광 제어 신호에 응답하여 서브 발광 제어 신호들을 생성한다. 구체적으로, 발광 제어 구동부(150)는 개시 신호(FLM), 제1 클럭 신호(미도시), 제2 클럭 신호(미도시), 제1 전압(VGL), 및 제2 전압(VGH)을 이용하여 서브 발광 제어 신호들을 생성한다. 이러한 동작은 이하 상세히 설명될 것이다. 서브 발광 제어 신호들은 발광 제어 라인들(E1~En)을 통해 화소들(PX11~PXnm)에 제공된다.
화소들(PX11~PXnm)은 제1 발광 전압(ELVDD) 및 제2 발광 전압(ELVSS)을 제공받는다. 화소들(PX11~PXnm)은 각각 대응하는 주사 라인들(SL1~SLn)을 통해 제공받은 주사 신호들에 응답하여 대응하는 데이터 라인들(D1~Dm)을 통해 데이터 전압들을 제공받는다. 화소들(PX11~PXnm)은 각각 대응하는 발광 제어 라인들(E1~En)을 통해 서브 발광 제어 신호들을 제공받는다. 각각의 화소(PX11~PXnm)는 제1 발광 전압(ELVDD) 및 제2 발광 전압(ELVSS)을 이용하여 제공받은 데이터 전압에 대응하는 휘도로 발광된다. 이러한 동작은 이하 상세히 설명될 것이다. 각각의 화소(PX11~PXnm)의 발광시간은 서브 발광 제어 신호들에 의해 제어될 수 있다.
도 2는 도 1에 도시된 임의의 한 화소의 등가 회로도이다.
도 1 에 도시된 화소들(PX11~PXnm)은 동일한 구성을 갖고 동일하게 동작되므로, 도 2에는 하나의 화소의 등가 회로도만 도시하였다. 따라서, 이하 하나의 화소의 동작에 대하여 설명한다.
도 2를 참조하면, 화소(Pij)는 유기 발광 다이오드(organic light emitting diode)(OLED), 구동 트랜지스터(T1), 커패시터(Cst), 스위칭 트랜지스터(T2) 및 발광 제어 트랜지스터(T3)를 포함한다. 구동 트랜지스터(T1)의 소스 단자는 제1 발광 전압(ELVDD)을 제공받고, 드레인 단자는 발광 제어 트랜지스터(T3)의 소스 단자에 연결된다. 구동 트랜지스터(T1)의 게이트 단자는 스위칭 트랜지스터(T2)의 드레인 단자에 연결된다. 스위칭 트랜지스터(T2)의 게이트 단자는 대응하는 주사 라인(Si)에 연결되고, 소스 단자는 대응하는 데이터 라인(Dj)에 연결된다.
스위칭 트랜지스터(T2)는 주사 라인(Si)을 통해 제공받은 주사 신호에 응답하여 턴 온된다. 턴 온된 스위칭 트랜지스터(T2)는 데이터 라인(Dj)을 통해 제공 받은 데이터 전압을 구동 트랜지스터(T1)의 게이트 단자에 제공한다.
커패시터(Cst)의 제1 전극은 구동 트랜지스터(T1)의 소스 단자에 연결되고, 제2 전극은 구동 트랜지스터(T1)의 게이트 단자에 연결된다. 커패시터(Cst)는 구동 트랜지스터(T1)의 게이트 단자에 인가되는 데이터 전압을 충전하고 스위칭 트랜지스터(T2)가 턴 오프된 뒤에도 이를 유지한다.
발광 제어 트랜지스터(T3)의 게이트 단자는 대응하는 발광 제어 라인(Ei)에 연결되고, 드레인 단자는 유기 발광 다이오드(OLED)의 애노드 전극에 연결된다. 발광 제어 트랜지스터(T3)는 발광 제어 라인(Ei)을 통해 제공된 발광 제어 신호에 응답하여 턴 온된다. 턴 온된 발광 제어 트랜지스터(T3)는 구동 트랜지스터(T1)에 흐르는 전류(IOLED)를 유기 발광 다이오드(OLED)에 제공하는 역할을 한다.
유기 발광 다이오드(OLED)는 캐소드 전극으로 제2 발광 전압(ELVSS)을 인가 받는다. 유기 발광 다이오드(OLED)는 발광제어 트랜지스터(T3)를 통해 구동 트랜지스터(T1)가 공급하는 전류(IOLED)량에 따라 세기를 달리하여 발광한다.
도 3은 도 1에 도시된 A 구간을 확대한 도면이다.
도 3을 참조하면, 본 발명의 실시 예에 있어서, 제1 데이터 구동부(410, 도1에 도시됨)의 제1 연성회로기판(410_1) 상에 복수의 테스트 패드들이 배치될 수 있다. 제1 연성회로기판(410_1) 상에 복수의 테스트 패드들이 배치되는 것으로 설명되나, 제1 데이터 구동부(410)의 연성회로기판들(410_2~420_n) 각각에도 테스트 패드들이 배치될 수 있다.
제1 연성회로기판(410_1)은 제1 타이밍 컨트롤러(210) 및 표시패널(100) 사이에 배치된다. 제1 연성회로기판(410_1) 상에는 제1 표시영역(DA1)의 화소들(PX11~PXnm)에 제공될 제1 데이터 전압들을 생성하는 제1 소스 구동칩(411_1)이 실장된다.
또한, 제1 연성회로기판(410_1) 상에는 제1 타이밍 컨트롤러(210) 및 제1 소스 구동칩(411_1)을 전기적으로 연결하는 복수의 제어 라인들이 배치될 수 있다. 복수의 제어 라인들의 일단은 제1 소스 구동칩(411_1)에 실장된 제어 패드들(F1~Fn)이 연결되고, 타단은 제1 타이밍 컨트롤러(210)에 연결된다. 제1 영상 신호들 및 제1 데이터 제어 신호는 제어 라인들을 통해, 제1 타이밍 컨트롤러(210)로부터 제1 소스 구동칩(411_1)에 제공될 수 있다.
또한, 제1 연성회로기판(410_1) 상에는 제1 소스 구동칩(411_1) 및 표시패널(100)을 전기적으로 연결하는 복수의 데이터 신호 라인들이 배치될 수 있다.
데이터 신호 라인들의 일단에는 제1 소스 구동칩(411_1) 상에 배치된 복수의 소스 패드들(I1~In)이 연결된다. 데이터 신호 라인들의 타단에는 표시패널(100) 상에 배치된 복수의 접속 패드들(P1~Pn)과 연결되기 위한 복수의 데이터 패드들(DP1~DPn)이 연결된다. 데이터 패드들(DP1~DPn)은 제1 연성회로기판(410_1)에 실장될 수 있다.
즉, 데이터 신호 라인들이 연결된 데이터 패드들(DP1~DPn)과 데이터 라인들이 연결된 접속 패드들이 서로 연결됨에 따라, 제1 소스 구동칩(411_1)으로부터 생성된 각 제1 데이터 전압이 각 화소(PXnm)에 제공될 수 있다.
일 예로, 제1 데이터 전압은 제1 소스 패드(I1)와 제1 데이터 패드(DP1)로 연결된 제1 데이터 신호 라인에 대응하는 접속 패드를 통해제1 화소(PX11, 도 1에 도시됨)에 제공될 수 있다. 여기서, 제1 데이터 전압은 제1 화소(PX11)에 대응하는 데이터 전압일 수 있다.
일 예로, 제1 데이터 전압은 제2 소스 패드(I2)와 제2 데이터 패드(DP2)로 연결된 제2 데이터 신호 라인에 대응하는 접속 패드를 통해 제2 화소(PX12)에 제공될 수 있다. 여기서, 제1 데이터 전압은 제2 화소(PX12)에 대응하는 데이터 전압일 수 있다.
일 예로, 제1 데이터 전압은 제3 소스 패드(I3)와 제3 데이터 패드(DP3)로 연결된 제3 데이터 신호 라인에 대응하는접속 패드를 제3 화소(PX13)에 제공될 수 있다. 여기서, 제1 데이터 전압은 제3 화소(PX13)에 대응하는 데이터 전압일 수 있다.
상술된 제1 내지 제3 화소들(PX11, PX12, PX13)은 레드(Red), 그린(Green), 블루(Blue)에 따른 영상 신호를 출력하는 화소일 수 있다.
또한, 본 발명의 실시 예에 있어서, 제1 연성회로기판(410_1) 상에는 각 화소에 제공되는 데이터 전압을 테스트하기 위한 제1 내지 제6 테스트 라인들이 배치될 수 있다. 예시적으로, 제1 내지 제3 테스트 라인들에는 제1 내지 제3 화소들(PX11, PX12, PX13)에 제공되는 제1 데이터 전압들이 동일하게 제공될 수 있다. 제4 내지 제6 테스트 라인들에는 제n-2 내지 제n 화소들(PX1m-2, PX1m-1, PX1m)제공되는 제2 데이터 전압들이 동일하게 제공될 수 있다.
상술된 바와 같이, 본 발명에 따른 제1 및 제2 데이터 구동부들(410, 420)에 포함된 각 연성회로기판에는 6개의 테스트 라인들이 각각 실장됨으로써, 화소들(PX11~PXnm)에 제공되는 데이터 전압들의 전반적인 상태가 분석될 수 있다.
자세하게, 제1 테스트 라인의 일단은 제1 소스 구동칩(411_1)에 실장된 제1 입력 테스트 패드(IP1)에 연결되고, 타단은 제1 연성회로기판(410_1)에 실장된 제1 테스트 패드(TP1a)에 연결된다. 여기서, 제1 입력 테스트 패드(IP1)를 통해 제공되는 제1 데이터 전압은 제1 소드 패드(I1)를 통해 제공되는 제1 데이터 전압과 동일할 수 있다. 즉, 제1 소스 구동칩(411_1)은 제1 소스 패드(I1)에 연결된 제1 데이터 신호 라인과, 제1 입력 테스트 패드(IP1)에 연결된 제1 테스트 라인에 동일한 데이터 전압을 제공한다.
제2 테스트 라인의 일단은 제1 소스 구동칩(411_1)에 실장된 제2 입력 테스트 패드(IP2)에 연결되고, 타단은 제1 연성회로기판(410_1)에 실장된 제2 테스트 패드(TP1b)에 연결된다. 여기서, 제2 입력 테스트 패드(IP2)를 통해 제공되는 제1 데이터 전압은 제2 소드 패드(I2)를 통해 제공되는 제1 데이터 전압과 동일할 수 있다. 즉, 제1 소스 구동칩(411_1)은 제2 소스 패드(I2)에 연결된 제2 데이터 신호 라인과, 제2 입력 테스트 패드(IP2)에 연결된 제2 테스트 라인에 동일한 데이터 전압을 제공한다.
제3 테스트 라인의 일단은 제1 소스 구동칩(411_1)에 실장된 제3 입력 테스트 패드(IP3)에 연결되고, 타단은 제1 연성회로기판(410_1)에 실장된 제3 테스트 패드(TP1c)에 연결된다. 여기서, 제3 입력 테스트 패드(IP3)를 통해 제공되는 제1 데이터 전압은 제3 소드 패드(I3)를 통해 제공되는 제1 데이터 전압과 동일할 수 있다. 즉, 제1 소스 구동칩(411_1)은 제3 소스 패드(I3)에 연결된 제3 데이터 신호 라인과, 제3 입력 테스트 패드(IP3)에 연결된 제3 테스트 라인에 동일한 데이터 전압을 제공한다.
실시 예에 있어서, 제1 내지 제3 테스트 패드들(TP1a, TP1b, TP1c)에 연결된 제1 내지 제3 테스트 라인들은, 제4 내지 제6 테스트 패드들(TP2a, TP2b, TP2c)에 연결된 제4 내지 제6 테스트 라인들과 대칭되게 배치될 수 있다. 즉, 제4 내지 제6 테스트 패드들(TP2a, TP2b, TP2c)은 제1 내지 제3 테스트 패드들(TP1a, TP1b, TP1c)과 마찬가지로 데이터 전압을 분석하기 위한 패드로서 제1 연성회로기판(410_1) 상에 배치될 수 있다.
그러나, 제1 내지 제3 테스트 패드들(TP1a, TP1b, TP1c)에 연결된 제1 내지 제3 테스트 라인들이, 제4 내지 제6 테스트 패드들(TP2a, TP2b, TP2c)에 연결된 제4 내지 제6 테스트 라인들과 대칭되게 배치되는 것으로 설명되었으나, 이는 이에 한정되지 않는다.
기존 표시 장치의 경우에는, 화소들에 제공되는 데이터 전압들을 테스트하기 위해, 화소에 제공될 데이터 전압을 제공하는 데이터 신호 라인들에 테스트 패드가 부착되었다. 이 경우, 테스트 패드를 통해 데이터 전압들의 정보가 외부로 유출될 수 있는 문제가 발생된다.
이를 위해, 본 발명에 따른 표시 장치는 별도의 테스트 라인들에 연결된 테스트 패드들을 통해 화소들에 인가되는 데이터 전압을 테스트할 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 표시 장치는 테스트 패드들에 제공되는 데이터 전압들이 외부로 제공되지 못하도록 제어할 수 있다.
도 4는 도 3에 도시된 B 구간을 확대한 구간으로서, 본 발명의 일 실시 예에 따른 테스트 패드의 동작을 보여주는 회로도이다.
도 3 및 도 4를 참조하면, 제1 소스 구동칩(411_1)은 제1 데이터 전압들(D1, D2, D3)을 생성한다. 먼저, 제1 소스 구동칩(411_1)은 제1 데이터 전압(D1)을 제1 소스 패드(I1)를 통해 제1 데이터 패드(DP1)로 제공한다. 제1 소스 구동칩(411_1)은 제2 데이터 전압(D2)을 제2 소스 패드(I2)를 통해 제2 데이터 패드(DP2)로 제공한다. 제1 소스 구동칩(411_1)은 제3 데이터 전압(D3)을 제3 소스 패드(I3)를 통해 제3 데이터 패드(DP3)로 제공한다.
또한, 실시 예에 있어서, 제1 소스 구동칩(411_1)에 제1 내지 제3 스위치들(S1, S2, S3)이 배치될 수 있다. 제1 내지 제3 스위치들(S1, S2, S3)은 제1 내지 제3 테스트 패드들(TP1a, TP1b, TP1c)에 제1 데이터 전압들을 제공 또는 차단할 수 있다.
자세하게, 제1 내지 제3 스위치들(S1, S2, S3)은 제1 스위칭 제어 신호에 응답하여, 제1 데이터 전압들이 제1 내지 제3 테스트 패드들(TP1a, TP1b, TP1c)에 제공되는 것을 제어할 수 있다. 여기서, 제1 스위칭 제어 신호는 제1 타이밍 컨트롤러(210)로부터 제공될 수 있다. 또한, 제1 스위칭 제어 신호에 응답하여, 제1 내지 제3 스위치들(S1, S2, S3)은 동시에 턴-온 및 턴-오프 될 수 있다.
일 예로, 제1 스위칭 제어 신호의 하이 레벨에 응답하여 제1 스위치(S1)가 턴-온 될 경우, 제1 데이터 전압(D1)은 제1 입력 테스트 패드(IP1)를 통해 제1 테스트 패드(TP1a)로 제공된다. 여기서, 제1 스위치(S1)는 제1 소스 구동칩(411_1) 상에 배치되며, 제1 데이터 신호 라인 및 제1 테스트 패드(TP1a) 사이에 연결된다.
일 예로, 제1 스위칭 제어 신호의 하이 레벨에 응답하여 제2 스위치(S2)가 턴-온 될 경우, 제2 데이터 전압(D2)은 제2 입력 테스트 패드(IP2)를 통해 제2 테스트 패드(TP1b)로 제공된다. 여기서, 제2 스위치(S2)는 제1 소스 구동칩(411_1) 상에 배치되며, 제2 데이터 신호 라인 및 제2 테스트 패드(TP1b) 사이에 연결된다.
일 예로, 제1 스위칭 제어 신호의 하이 레벨에 응답하여 제3 스위치(S3)가 턴-온 될 경우, 제3 데이터 전압(D3)은 제3 입력 테스트 패드(IP3)를 통해 제3 테스트 패드(TP1c)로 제공된다. 여기서, 제3 스위치(S3)는 제1 소스 구동칩(411_1) 상에 배치되며, 제3 데이터 신호 라인 및 제3 테스트 패드(TP1c) 사이에 연결된다.
상술된 바에 따라, 본 발명의 실시 예에 따른 제1 내지 제3 테스트 패드들(TP1a, TP1b, TP1c)은 제1 내지 제3 스위치들(S1, S2, S3)의 동작 결과에 응답하여, 제1 데이터 전압들을 제공받을 수 있다. 그러나, 앞서 설명한 바와 같이, 기존의 테스트 패드들은 입력 패드와 데이터 패드 사이의 한 구간에 연결됨에 따라, 외부에서 지속적으로 데이터 전압들이 분석될 수 있었다.
본 발명에 따른 표시 장치는 제1 내지 제3 스위치들(S1, S2, S3)의 동작에 기반하여, 화소들(PX11~PXnm, 도1에 도시됨)에 제공되는 데이터 전압들이 제1 내지 제3 테스트 패드들(TP1a, TP1b, TP1c)에 제공될 수 있다. 이와 반대로, 표시 장치는 화소들(PX11~PXnm, 도1에 도시됨)에 제공되는 데이터 전압들을 테스트하지 않을 경우, 제1 내지 제3 스위치들(S1, S2, S3)을 턴-오프시킨다. 그 결과, 제1 내지 제3 테스트 패드들(TP1a, TP1b, TP1c)을 통해 데이터 전압들이 분석되지 않을 수 있다.
상술된 바와 같이, 도 4를 통해서는, 제1 내지 제3 테스트 패드들(TP1a, TP1b, TP1c)에 데이터 전압이 제공되는 동작 및 구조가 설명되었다. 이와 마찬가지로, 제4 내지 제6 테스트 패드들(TP2a, TP2b, TP2c)에 데이터 전압이 제공되는 동작 및 구조 또한 제1 내지 제3 테스트 패드들(TP1a, TP1b, TP1c)과 동일할 수 있다.
도 5는 도 3에 도시된 B 구간을 확대한 구간으로서, 본 발명의 다른 실시 예에 따른 테스트 패드의 동작을 보여주는 회로도이다.
도 3 및 도 5를 참조하면, 도 5의 B 구간에 따른 제1 소스 구동칩(411_1)의 구조는 도 4의 B 구간에 따른 제1 소스 구동칩(411_1)의 구조와 비교하여, 제4 스위치(S4)가 추가될 뿐, 나머지 구조 및 동작은 서로 동일할 수 있다. 따라서, 도 5의 설명에서는, 제4 스위치(S4)에 대한 동작이 설명된다. 제4 스위치(S4)는 랜덤 스위치일 수 있다.
제4 스위치(S4)는 제1 소스 구동칩(411_1) 상에 배치되며, 제1 타이밍 컨트롤러(210)를 통해 제공되는 제2 스위칭 제어 신호에 따라 동작이 제어될 수 있다. 제2 스위칭 제어 신호는 제1 타이밍 컨트롤러(210, 도 1에 도시됨)부터 제공될 수 있다. 이러한, 제4 스위치(S4)의 동작 결과에 응답하여, 제1 내지 제3 입력 테스트 패드들(IP1, IP2, IP3)을 통해 제1 내지 제3 테스트 패드들(TP1a, TP1b, TP1c)에 랜덤 데이터 전압(RD)이 제공될 수 있다. 여기서, 랜덤 데이터 전압(RD)은 화소들(PX11~PXnnm)에 제공되는 데이터 전압들을 분석하지 못하게 하는 불량 정보가 포함된 데이터 전압일 수 있다.
자세하게, 제4 스위치(S4)는 제1 내지 제3 스위치들(S1, S2, S3)이 제1 스위칭 제어 신호의 로우 레벨에 응답하여 턴-오프 될 경우, 턴-온 될 수 있다. 이 경우, 제4 스위치(S4)는 제2 스위칭 제어 신호의 하이 레벨에 응답하여 턴-온된다. 제1 내지 제3 스위치들과 제4 스위치는 서로 상보적으로 동작될 수 있다.
즉, 제1 스위칭 제어 신호가 하이 레벨일 경우, 제2 스위칭 제어 신호는 로우 레벨이 될 수 있다. 반대로, 제1 스위칭 제어 신호가 로우 레벨일 경우, 제2 스위칭 제어 신호는 하이 레벨이 될 수 있다.
이와 반대로, 제4 스위치(S4)는 제1 내지 제3 스위치들(S1, S2, S3)이 제1 스위칭 제어 신호의 하이 레벨에 응답하여 턴-온 될 경우, 턴-오프 될 수 있다. 이 경우, 제4 스위치(S4)는 제2 스위칭 제어 신호의 로우 레벨에 응답하여 턴-오프 된다.
즉, 화소들(PX11~PXnm)에 제공되는 데이터 전압들이 테스트되는 경우, 제1 내지 제3 스위치들(S1, S2, S3)이 제1 스위칭 제어 신호의 하이 레벨에 응답하여 턴-온 된다. 그 결과, 제1 데이터 전압들이 제1 내지 제3 테스트 패드들(TP1a, TP1b, TP1c)을 통해 분석될 수 있다. 이 때, 제4 스위치(S4)는 제2 스위칭 제어 신호의 로우 레벨에 응답하여 턴-오프 된다.
이와 반대로, 화소들(PX11~PXnm)에 제공되는 데이터 전압들이 테스트되지 않는 경우, 제1 내지 제3 스위치들(S1, S2, S3)은 제1 스위칭 제어 신호의 로우 레벨에 응답하여 턴-오프 된다. 이 경우, 제2 스위칭 제어 신호의 로우 레벨에 응답하여 제4 스위치(S4)가 턴-온 되어, 랜덤 데이터 전압(RD)이 제1 내지 제3 테스트 패드들(TP1a, TP1b, TP1c)을 통해 제공될 수 있다.
상술된 바에 따르면, 도 4에 도시된 방식에서는, 외부에서 화소들(PX11~PXnm)에 제공되는 데이터 전압들이 분석되지 못하도록 하는 방식인데 반해, 도 5에 도시된 테스트 방식은 임의의 불량 데이터 전압들이 제1 내지 제3 테스트 패드들(TP1a, TP1b, TP1c)에 제공되도록 한다. 그 결과, 본 발명에 따른 데이터 전압들이 외부로 유출되지 않을 수 있으며, 외부에서는 잘못된 데이터 전압 정보를 분석할 수 있다.
이상에서와 같이 도면과 명세서에서 실시 예가 개시되었다. 여기서 특정한 용어들이 사용되었으나, 이는 단지 본 발명을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미 한정이나 특허 청구범위에 기재된 본 발명의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 그러므로 본 기술분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시 예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허 청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.
100: 표시패널
210: 제1 타이밍 컨트롤러
220: 제2 타이밍 컨트롤러
300: 주사 구동부
410: 제1 데이터 구동부
420: 제2 데이터 구동부
500: 발광 제어 구동부

Claims (15)

  1. 복수의 화소들이 배치된 표시 패널; 및
    상기 화소들에 데이터 전압들을 제공하는 데이터 구동부를 포함하고,
    상기 데이터 구동부는,
    스위칭 제어 신호에 응답하여 스위칭되는 복수의 스위치들; 및
    상기 스위치들을 통해 상기 데이터 전압들 중 적어도 하나 이상의 데이터 전압을 수신하는 테스트 패드들을 포함하는 표시장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 데이터 구동부는,
    상기 데이터 전압들을 생성하는 소스 구동칩; 및
    상기 소스 구동칩이 배치되는 연성회로기판을 포함하되,
    상기 연성회로기판 상에 상기 데이터 전압들 중 적어도 하나 이상의 데이터 전압들을 테스트하는 상기 테스트 패드들이 배치되는 표시장치.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 연성회로기판 상에는 상기 데이터 전압들을 상기 표시패널에 제공하기 위한 복수의 데이터 신호 라인들 및 복수의 데이터 패드들이 배치되되,
    상기 데이터 신호 라인들을 통해 상기 데이터 패드들에 상기 데이터 전압들이 제공되는 표시장치.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 스위치들의 일단은 상기 테스트 패드들에 연결되며, 타단은 상기 데이터 라인들에 연결되는 표시장치.
  5. 제 2 항에 있어서,
    상기 스위치들은 상기 소스 구동칩 상에 배치되며, 상기 스위칭 제어 신호에 응답하여 상기 데이터 전압들 중 하나 이상의 데이터 전압을 상기 테스트 패드들에 제공하는 표시장치.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 스위칭 제어 신호를 생성하는 타이밍 컨트롤러를 더 포함하되,
    상기 타이밍 컨트롤러는 영상 신호들 및 데이터 제어 신호를 상기 데이터 구동부에 제공하고, 상기 데이터 구동부는 상기 데이터 제어 신호에 응답하여 상기 영상 신호들을 상기 데이터 전압들로 변환하는 표시장치.
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 스위칭 제어 신호가 하이 레벨에 응답하여 턴-온 될 경우, 상기 스위치들은 상기 테스트 패드들에 상기 데이터 전압들 중 하나 이상의 데이터 전압이 제공되는 표시장치.
  8. 제 1 항에 있어서,
    상기 스위칭 제어 신호가 로우 레벨에 응답하여 턴-오프 될 경우, 상기 스위치들은 상기 테스트 패드들에 상기 데이터 전압들 중 하나 이상의 데이터 전압이 제공되지 못하도록 동작되는 표시장치.
  9. 복수의 화소들이 배치된 표시 패널; 및
    상기 화소들에 데이터 전압들을 제공하는 데이터 구동부를 포함하고,
    상기 데이터 구동부는,
    제1 스위칭 제어 신호에 응답하여 스위칭되는 복수의 스위치들;
    제2 스위칭 제어 신호에 응답하여 스위칭되는 랜덤 스위치; 및
    상기 스위치들을 통해 상기 데이터 전압들 중 적어도 하나 이상의 데이터 전압을 수신하는 테스트 패드들을 포함하고,
    상기 테스트 패드들은 상기 랜덤 스위치를 통해 랜덤 데이터 전압을 수신하는 표시장치.
  10. 제 9 항에 있어서,
    상기 제1 및 제2 스위칭 제어 신호들을 생성하는 타이밍 컨트롤러를 더 포함하되,
    상기 타이밍 컨트롤러는 영상 신호들 및 데이터 제어 신호를 상기 데이터 구동부에 제공하고, 상기 데이터 구동부는 상기 데이터 제어 신호에 응답하여 상기 영상 신호들을 상기 데이터 전압들로 변환하는 표시장치.
  11. 제 9 항에 있어서,
    상기 스위치들 및 상기 랜덤 스위치는 서로 상보적으로 동작하는 표시장치.
  12. 제 9 항에 있어서,
    상기 스위치들은 상기 제1 스위칭 제어 신호의 하이 레벨에 응답하여, 상기 데이터 전압들 중 하나 이상의 데이터 전압이 상기 테스트 패드들에 제공되도록 동작되는 표시장치.
  13. 제 9 항에 있어서,
    상기 랜덤 스위치는 상기 제2 스위칭 제어 신호의 하이 레벨에 응답하여, 상기 랜덤 데이터 전압이 상기 테스트 패드들에 제공되도록 동작되는 표시장치.
  14. 제 9 항에 있어서,
    상기 데이터 구동부는,
    상기 데이터 전압들을 생성하는 소스 구동칩; 및
    상기 소스 구동칩이 배치되는 연성회로기판을 포함하되,
    상기 연성회로기판 상에 상기 데이터 전압들 중 하나 이상의 데이터 전압들을 테스트하는 상기 테스트 패드들이 배치되는 표시장치.
  15. 제 14 항에 있어서,
    상기 랜덤 스위치는 상기 소스 구동칩에 배치되는 표시장치.
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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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US10580336B2 (en) 2016-07-14 2020-03-03 Samsung Electronics Co., Ltd. Display driver device
CN111261055A (zh) * 2020-01-21 2020-06-09 京东方科技集团股份有限公司 Oled显示屏及oled显示装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20170073172A (ko) * 2015-12-18 2017-06-28 삼성전자주식회사 반도체 장치의 테스트 보드 및 이를 포함하는 테스트 시스템
US10580336B2 (en) 2016-07-14 2020-03-03 Samsung Electronics Co., Ltd. Display driver device
CN111261055A (zh) * 2020-01-21 2020-06-09 京东方科技集团股份有限公司 Oled显示屏及oled显示装置
CN111261055B (zh) * 2020-01-21 2022-02-22 京东方科技集团股份有限公司 Oled显示屏及oled显示装置

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