KR102430772B1 - 필름 소자와 그 테스트 방법 및 필름 소자를 포함한 표시장치 - Google Patents

Abstract

본 발명은 필름 소자와 그 테스트 방법 및 필름 소자를 포함한 표시장치에 관한 것으로, 이 필름 소자는 드라이브 IC 칩의 채널 구동부들에 연결된 다수의 채널 배선들; 일부 채널 배선들에 공통으로 연결된 공통 패드; 상기 일부 채널 배선들을 제외한 다른 채널 배선들에 독립적으로 연결된 개별 패드들; 및 테스트 모드에 따라 상기 채널 배선들과 상기 채널 구동부 사이의 전류 패스를 변경하는 스위치 회로를 포함한다.

Description

필름 소자와 그 테스트 방법 및 필름 소자를 포함한 표시장치{FILM DEVICE AND TEST METHOD OF THE FILM METHOD AND DISPLAY DEVICE INCLUDING THE FILM DEVICE}

본 발명은 필름 소자와 그 테스트 방법 및 필름 소자를 포함한 표시장치에 관한 것이다.

평판 표시장치는 액정 표시장치(Liquid Crystal Display : LCD), 전계 발광 표시장치(Electroluminescence Display), 전계 방출 표시장치(Field Emission Display : FED), 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel : PDP) 등이 있다. 전계 발광 표시장치는 발광층의 재료에 따라 무기 발광 표시장치와 유기 발광 표시장치로 대별된다. 액티브 매트릭스 타입(active matrix type)의 유기 발광 표시장치는 스스로 발광하는 유기 발광 다이오드(Organic Light Emitting Diode: 이하, "OLED"라 함)를 포함하며, 응답속도가 빠르고 발광효율, 휘도 및 시야각이 큰 장점이 있다.

이러한 표시장치는 데이터 라인들과 게이트 라인들이 교차하고, 픽셀들이 매트릭스 형태로 배치된 표시패널의 화면 상에 영상을 표시한다. 평판 표시장치의 구동 회로는 IC(integrated circuit) 칩(chip)으로 구현될 수 있다. IC 칩이 실장된 필름 소자가 ACF(Anisotropic Conductive Film)로 표시패널에 접착될 수 있다. IC 칩이 실장된 필름 소자는 COF(Chip on film) 또는 TCP(Tape Carrier Package) 등이 있다.

표시패널의 기판에 형성된 패드들에 필름 소자의 패드들이 접착될 수 있다. 표시패널에서 좁은 피치(pitch)의 패드들(Pad)은 링크(link) 배선들을 통해 데이터 라인들에 연결된다.

표시장치의 고해상도로 인하여 표시패널의 데이터 라인 개수가 증가하고 있다. 이러한 표시패널에 연결되는 필름 소자의 채널 수도 증가되어 하나의 필름 소자 내에 배치되는 패드 수가 증가한다. 그런데 필름 소자의 크기로 인하여 하나의 필름 소자에 배치 가능한 패드 수에 제한이 있다. 필름 소자의 패드는 필름 소자에 실장된 IC를 테스트하기 위한 테스트 패드들이 포함된다. 표시장치의 해상도 증가로 인하여, 하나의 필름 소자에 필요한 테스트 패드들이 많이 필요하게 된다.

본 발명은 구동 회로의 각종 테스트를 실행할 수 있고 테스트 패드 개수를 줄일 수 있는 필름 소자와 그 테스트 방법 및 필름 소자를 포함한 표시장치를 제공한다.

본 발명의 필름 소자는 다수의 채널 구동부들이 내장된 드라이브 IC 칩이 실장된 필름 소자에 있어서, 상기 드라이브 IC 칩의 채널 구동부들에 연결된 다수의 채널 배선들; 일부 채널 배선들에 공통으로 연결된 공통 패드; 상기 일부 채널 배선들을 제외한 다른 채널 배선들에 독립적으로 연결된 개별 패드들; 및 테스트 모드에 따라 상기 채널 배선들과 상기 채널 구동부 사이의 전류 패스를 변경하는 스위치 회로를 포함한다.

상기 필름 소자의 테스트 방법은 상기 공통 패드, 상기 패널 패드들, 및 상기 스위치 회로를 이용하여 상기 채널 배선들과 상기 채널 구동부들을 검사하는 단계를 포함한다

본 발명의 표시장치는 상기 필름 소자를 구비한다.

본 발명의 표시장치 구동용 필름 소자는 일부 채널들 예를 들면, 기수 번째 채널들의 배선들을 하나의 공통 패드에 연결하고 테스트 모드에 따라 전류 패스를 변경하는 스위치 소자들을 추가함으로써 테스트 패드들의 개수를 줄인다. 그 결과, 본 발명은 필름 소자(COF)의 크기를 정의하는 스프로킷 홀(sprocket hole)의 개수를 감소시켜 필름 소자(COF)의 비용을 낮추고, 프로브 카드(Probe card)의 니들(needle) 개수가 감소되기 때문에 프로프 카드의 비용을 낮출 수 있다. 나아가, 본 발명은 고해상도 표시장치에 대응하여 드라이브 IC 칩의 채널 수가 증가하더라도 테스트 패드 개수 증가가 없기 때문에 테스트 패드 구성의 제약 사항을 해소할 수 있다.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 필름 소자와 표시패널의 배선들을 보여 주는 도면이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 필름 소자의 단면 구조를 보여 주는 단면도이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 필름 소자에서 드라이브 IC 칩의 채널들과 테스트 패드들의 연결 관계를 상세히 보여 주는 회로도이다.
도 4a 내지 도 4c는 필름 소자의 오픈 테스트(open test) 방법을 보여 주는 도면들이다.
도 5는 필름 소자의 쇼트 테스트(short test) 방법을 보여 주는 도면들이다.
도 6a 및 도 6b는 필름 소자의 펑션/옵셋 테스트(function/offset test) 방법을 보여 주는 도면들이다.
도 7은 본 발명의 실시예에 따른 표시장치를 보여 주는 블록도이다.
도 8은 픽셀 회로의 일 예를 보여 주는 회로도이다.
도 9는 표시패널 구동회로가 필름 소자 상에 실장되는 IC 칩으로 구현된 예를 보여 주는 도면이다.

본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.

본 발명의 실시예를 설명하기 위한 도면에 개시된 형상, 크기, 비율, 각도, 개수 등은 예시적인 것이므로 본 발명은 도면에 도시된 사항에 한정되는 것은 아니다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 실질적으로 동일 구성 요소를 지칭한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다.

본 명세서 상에서 언급된 “구비한다”, “포함한다”, “갖는다”, “이루어진다” 등이 사용되는 경우 ' ~ 만'이 사용되지 않는 이상 다른 부분이 추가될 수 있다. 구성 요소를 단수로 표현한 경우에 특별히 명시적인 기재 사항이 없는 한 복수로 해석될 수 있다.

구성 요소를 해석함에 있어서, 별도의 명시적 기재가 없더라도 오차 범위를 포함하는 것으로 해석한다.

위치 관계에 대한 설명일 경우, 예를 들어, ' ~ 상에', ' ~ 상부에', ' ~ 하부에', ' ~ 옆에' 등으로 두 구성요소들 간에 위치 관계가 설명되는 경우, '바로' 또는 '직접'이 사용되지 않는 그 구성요소들 사이에 하나 이상의 다른 구성 요소가 개재될 수 있다.

구성 요소들을 구분하기 위하여 제1, 제2 등이 사용될 수 있으나, 이 구성 요소들은 구성 요소 앞에 붙은 서수나 구성 요소 명칭으로 그 기능이나 구조가 제한되지 않는다.

이하의 실시예들은 부분적으로 또는 전체적으로 서로 결합 또는 조합 가능하며, 기술적으로 다양한 연동 및 구동이 가능하다. 각 실시예들이 서로에 대하여 독립적으로 실시 가능할 수도 있고 연관 관계로 함께 실시 가능할 수도 있다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 다양한 실시예들을 상세히 설명한다. 이하의 실시예들에서, 전계 발광 표시장치는 유기 발광 물질을 포함한 유기발광 표시장치를 중심으로 설명한다. 본 발명의 기술적 사상은 유기발광 표시장치에 국한되지 않고, 무기발광 물질을 포함한 무기발광 표시장치에 적용될 수 있다.

도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 필름 소자(COF)는 가요성 필름(Flexible film) 기판(200) 상에 실장된 드라이브 IC 칩(210), 및 입력 배선군(201), 출력 배선군(202)을 포함한다. 입력 및 출력 배선군(201, 202) 각각은 다수의 배선들을 포함한다. 입력 배선군(201)의 신호 배선들은 드라이브 IC 칩(210)의 입력 단자들을 도면에서 생략된 PCB(Printed Circuit Board)의 출력 패드들에 연결된다. 출력 배선군(202)의 신호 배선 끝단에는 금속면이 노출된 신호 패드들이 형성된다. 신호 패드들은 접착 영역(DA)에서 표시패널(PNL)의 패드들(이하, “패널 패드”라 함, 101)에 접착된다.

표시패널(PNL)의 배선들 각각은 표시패널(PNL)의 픽셀 어레이(Pixel array, AA)에 연결된 패널 배선들(103), 표시패널(PNL)의 패드 영역(PA) 영역 상에 형성된 패널 패드들(101), 표시패널(PNL)의 링크 영역(LA) 상에 형성되어 패널 배선들(103)과 패널 패드들(101)을 1:1로 연결하는 링크 배선들(102)을 포함한다. 패드 영역(PA)과 링크 영역(LA)은 표시패널(PNL)의 베젤 내에 있다.

필름 소자(COF)에서 신호 배선들(202)에 연결된 신호 패드들이 표시패널(PNL)의 접착 영역(DA) 내의 패널 패드들(101) 상에 ACF로 접착된다. 필름 소자의 본딩(Bonding) 공정은 접착 영역(DA) 상에 ACF를 정렬하고, ACF 상에 필름 소자(COF)를 가압함과 동시에 열을 가하여 필름 소자(COF)를 접착 영역(DA)에 접착한다.

패널 배선들(103)은 데이터 신호가 공급되는 데이터 라인, 게이트 신호가 공급되는 게이트 라인, 픽셀 구동 전압이 공급되는 전원 배선 중 하나 이상을 포함할 수 있다. 이하에서 패널 배선들(103)을 데이터 라인들을 중심으로 설명하지만 이에 한정되지 않는다.

필름 소자(COF)는 도 2에 도시된 테스트 패드들(203, 204, 205)을 포함한다. 테스트 패드들(203, 204, 205)은 입력 테스트 패드들(203)과, 출력 테스트 패드들(204, 205)을 포함한다.

2 메탈(metal) COF 구조에서, 필름 소자(COF)는 가요성 필름 기판(23)의 양면에 형성된 제1 배선층(22) 및 제2 배선층(24). 제1 배선층(22)을 덮는 제1 솔더 레지스터(solder resist, 21), 제2 배선층(24)을 덮는 제2 솔더 레지스터(25)를 포함한다. 가요성 필름 기판(23)은 polyimide(PI)　일 수 있다. 제1 배선층(22)에 형성된 배선들의 일부는 가요성 필름 기판(23)을 관통하는 비아홀(via hole)을 통해 출력 테스트 패드들(204, 205)에 연결된다. 제2 배선층(24)의 일부 배선들은 입력 테스트 패드들(203)에 연결된다.

드라이브 IC 칩(210)의 검사를 실시하는 테스트 공정에서 프로브 카드(Probe card)의 니들(needle)이 테스트 패드들(203, 204, 205)에 접촉된다. 프로브 카드는 테스트 신호를 신호 인가용 니들을 통해 입력 테스트 패드들(203)에 인가하고, 측정용 니들을 통해 출력 테스트 패드들(204, 205) 상에서 전기 신호를 측정한다. 도 2에서, 도면 부호 “26”은 PCB의 출력 패드이고, “27”은 표시패널(PNL)의 신호 패드이다. 드라이브 IC 칩(210)의 각종 테스트를 실시한 후, 커트 라인(점선)을 따라 필름 소자(COF)에서 불필요한 부분이 커팅(cutting)되어 제거된다.

본 발명은 테스트 패드를 줄이기 위하여 도 3에 도시된 바와 같이 하나의 테스트 패드에 다수의 채널들을 연결함으로써 테스트 패드의 개수를 줄인다. 본 발명은 필름 소자에서 테스트 패드들의 개수를 줄이면서 도 4a 내지 도 6b에 도시된 바와 같이 드라이브 IC 칩(210)에서 각 종 테스트를 수행할 수 있다. 테스트 패드의 개수가 감소되면 필름 소자(COF)에서 테스트 패드들(203~205)이 점유 공간이 감소되기 때문에 필름 소자(COF)의 크기가 감소될 수 있다. 필름 소자(COF)의 크기는 필름 소자 양측의 스프로킷 홀(sprocket hole)의 개수로 정의될 수 있다.

본 발명은 테스트 패드들 중 일부를 공통 패드에 연결하여 그룹화함으로써 필름 소자(COF)의 크기를 정의하는 스프로킷 홀 개수를 감소시켜 필름 소자(COF)의 비용을 낮추고, 프로브 카드의 니들(needle) 개수가 감소되기 때문에 프로프 카드의 비용을 낮출 수 있다. 나아가, 본 발명은 고해상도 표시장치에 대응하여 드라이브 IC 칩의 채널 수가 증가하더라도 테스트 패드 개수 증가가 없기 때문에 테스트 패드 구성의 제약 사항을 해소할 수 있다.

도 3은 본 발명의 실시예에 따른 필름 소자(COF)에서 드라이브 IC 칩의 채널들과 테스트 패드들의 연결 관계를 상세히 보여 주는 회로도이다.

도 3을 참조하면, 필름 소자(COF)는 드라이브 IC 칩(210)의 채널 구동부 (321~324)를 통해 신호를 출력하는 다수의 채널들(OUT1~OUT4)을 포함한다.

채널들(OUT1~OUT4) 각각은 채널 배선들(41~44)을 구동하기 위한 채널 구동부(321~324)와, 채널 배선들(41~44) 각각에 연결된 다이오드들(D1~D8)을 포함한다.

필름 소자(COF)는 채널 배선들(41~44)과 채널 구동부(321~324) 사이에 배치된 스위치 회로(34)를 포함한다. 스위치 회로(34)는 테스트 모드에 따라 채널 배선들(41~44)과 채널 구동부들(321~324) 사이의 전류 패스를 절환(switching)한다.

스위치 회로(34)는 일부 채널 배선들에 연결된 제1 스위치 회로(341), 일부 채널 배선들을 제외한 다른 채널 배선들에 연결된 제3 스위치 회로(343), 및 제1 스위치 회로(341)와 제2 스위치 회로(342) 사이에 연결된 제2 스위치 소자 회로(342)를 포함한다. 여기서, 일부 채널 배선들은 기수 번째 채널 배선들(41, 43)일 수 있으나 이에 한정되지 않는다. 일부 채널 배선들을 제외한 다른 채널 배선들은 우수 번째 채널 배선들(42, 44)일 수 있으나 이에 한정되지 않는다. 이하에서, 일부 채널 배선들을 기수 번째 채널 배선들(41, 43)로 설명하고, 일부 채널 배선들을 제외한 다른 채널 배선들을 우수 번째 채널 배선들(42, 44)로 설명하기로 한다.

제1 스위치 회로(341)는 기수 번째 채널 배선(41, 43)에 연결된 제1-1 스위치 소자(SW1B, SW3B)와, 기수 번째 채널 구동부(321, 323)의 출력 단자에 연결된 제1-2 스위치 소자(SW1A, SW3A)를 포함한다. 제2 스위치 회로(342)는 이웃한 기수 번째 채널(OUT1, OUT3)과 우수 번째 채널(OUT2, OUT4) 사이에 연결되는 제12 스위치 소자(SW12, SW34)를 포함한다. 이 스위치 소자(SW12, SW34)는 제1-1 스위치 소자(SW1B, SW3B)와 제1-2 스위치 소자(SW1A, SW3A) 사이의 노드와 우수 번째 채널 배선(42, 44) 사이에 연결되어 일부 테스트 모드에서 이 노드들을 연결한다. 제3 스위치 회로(343)는 우수 번째 채널 배선들(42, 44)에 연결된 제2 스위치 소자(SW2, SW4)를 포함한다.

채널 구동부(321~324)는 입력 신호에 따라 표시패널을 구동하기 위한 출력 신호를 출력하여 해당 채널을 구동한다. 도 3에서, 채널 구동부(321~324)가 인버터 회로로 간단히 예시하였으나 이에 한정되지 않는다. 예를 들어, 채널 구동부(321~324)는 데이터 구동부의 경우에 시프트 레지스터(shift register), 래치(latch), DAC(Digital to Analog Converter), 출력 버퍼(buffer) 등을 포함할 수 있다.

필름 소자(COF)는 다수의 채널들(OUT1, OUT3)에 연결된 공통 패드(Podd), 채널들(OUT2, OUT4)에 독립적으로 연결된 개별 패드들(P2, P4)을 포함한다. 공통 패드(Podd)는 기수 번째 채널 배선들(41, 43)에 연결된다. 개별 패드들(P2, P4)은 우수 번째 채널 배선들(42, 44)에 1:1로 연결된다. 제2 개별 패드(P2)는 제2 채널 배선(42)에 연결된다. 제4 개별 패드(P4)는 제4 채널 배선(44)에 연결된다. 기수 번째 채널들(OUT1, OUT3)이 하나의 패드(Podd)에 연결되기 때문에 필름 소자(COF)에서 테스트 패드들(30)의 개수가 종래 기술에 비하여 1/2 수준으로 감소된다. 따라서, 도 2에서 필름 소자(COF)의 일측 가장자리에 배치되는 테스트 패드들(205)로 충분하기 때문에 타측 가장자리의 테스트 패드들(204)이 필요 없다. 그 결과, 필름 소자(COF)의 크기가 감소된다.

채널들(OUT1~OUT4) 각각은 다이오드들(D1, D2)과 스위치 소자들(SW1A~SW4)이 연결된다. 채널 배선들(41~44) 각각에는 두 개의 다이오드들이 연결된다. 다이오드들(D1~D4)은 과전류로부터 채널 구동부들(321~324)을 보호한다. 스위치 소자들(SW1A~SW4)은 프로브 카드로부터 발생되는 제어 신호에 응답하여 턴-온(turn-on)된다.

제1 채널(OUT1)은 제1 채널 배선(41)에 연결된 스위치 소자(SW1B)와, 제1 채널 구동부(321)의 출력 단자에 연결된 스위치 소자(SW1A)를 포함한다. 제2 채널(OUT2)은 제2 채널 배선(42)에 연결된 스위치 소자(SW2)를 포함한다. 제1 및 제2 채널 배선들(41, 42) 사이의 채널간 배선(412)이 연결된다. 채널간 배선(412)에는 채널간 배선(412)의 양단을 선택적으로 연결하는 채널간 스위치 소자(SW12)가 연결된다. 스위치 소자(SW12)는 제1 채널(OUT1)의 스위치 소자들(SW1A, SW1B) 사이의 제1 채널 배선 노드와, 제2 채널 배선(42) 사이에 연결된다. 스위치 소자(SW12)가 턴-온될 때 이웃한 제1 및 제2 채널 배선들(41, 42)이 채널간 배선(412)을 통해 연결된다.

제3 채널(OUT3)은 제3 채널 배선(43)에 연결된 스위치 소자(SW3B)와, 제3 채널 구동부(323)에 연결된 스위치 소자(SW3A)를 포함한다. 제4 채널(OUT4)은 제4 채널 배선(44)의 출력 단자에 연결된 스위치 소자(SW4)를 포함한다. 제3 및 제4 채널 배선들(43, 44) 사이의 채널간 배선(434)이 연결된다. 채널간 배선(434)에는 채널간 배선(434)의 양단을 선택적으로 연결하는 채널간 스위치 소자(SW34)가 연결된다. 스위치 소자(SW34)는 제3 채널(OUT3)의 스위치 소자들(SW3A, SW3B) 사이의 제3 채널 배선 노드와, 제4 채널 배선(44) 사이에 연결된다. 스위치 소자(SW34)가 턴-온될 때 이웃한 제3 및 제4 채널 배선들(43, 44)이 채널간 배선(434)을 통해 연결된다.

본 발명은 필름 소자의 채널들 중 일부 예를 들어, 기수 번째 채널들(OUT1, OUT3)을 그룹핑(grouping)하여 하나의 테스트 패드(Podd)에 연결하고 스위치 소자들을 이용하여 미리 설정된 각종 테스트 모드에 따라 전류 패스를 변경함으로써 오픈 테스트(open test), 쇼트 테스트(short test), 및 펑션/옵셋 테스트(function/offset test) 등 필름 소자에 요구되는 각종 테스트를 실시할 수 있다.

오픈 테스트 모드는 스위치 소자들(SW1B, SW3B)만 턴-온된 상태에서 개별 패드들(P2, P4)을 통해 전류를 인가하고, 이 개별 패드들(P2, P4) 상에서 전압을 측정하여 얻어진 측정치를 바탕으로 우수 번째 채널들(OUT2, OUT4)의 오픈 여부를 판정한다. 오픈 테스트 모드는 공통 패드(Podd)에 전류를 인가하고 채널간 스위치 소자(SW12)를 턴-온시켜 제1 및 제2 채널 배선들이 채널간 배선(412)을 통해 연결된 상태에서 개별 패드(P2) 상에서 전압을 측정하여 제1 채널(OUT1)의 오픈 여부를 판정한다. 이어서, 오픈 테스트 모드는 채널간 스위치 소자(SW34)를 턴-온시켜 제3 및 제4 채널 배선들(43, 44)이 채널간 배선(434)을 통해 연결된 상태에서 개별 패드(P4) 상에서 전압을 측정하여 개별 패드들(P2, P4)로부터 순차적으로 얻어진 측정치를 바탕으로 제3 채널(OUT3)의 오픈 여부를 판정한다.

도 4a 내지 도 4c는 필름 소자의 오픈 테스트(open test) 방법을 보여 주는 도면들이다. 도 4a는 우수 번째 채널들(OUT2, OUT4)의 오픈 테스트 방법을 보여 주는 회로도이다. 도 4b 및 도 4c는 기수 번째 채널들(OUT1, OUT3)의 오픈 테스트 방법을 보여 주는 회로도이다.

오픈 테스트 방법은 채널들(OUT1~OUT4) 각각에 연결된 프로텍션 다이오드(Protection diode, D1~D8) 특성을 이용하여 이 다이오드들(D1~D8)의 턴-온(turn-on) 전류를 해당 채널에 인가하여 다이오드(D1~D8)의 턴-온 전압을 측정한다. 오픈 테스트를 실시할 때, 채널 배선들(41~44)에 연결된 스위치 소자들(SW1B, SW3B)는 온 상태를 유지한다.

도 4a를 참조하면, 우수 번째 채널들(OUT2, OUT4)의 오픈 테스트 방법은 채널 배선들(41~44)에 연결된 스위치 소자들(SW1B, SW3B)은 턴-온되고, 이 이외의 다른 스위치 소자들(SW1A, SW12, SW2, SW3A, SW34, SW4)은 턴-오프된다. 프로브 카드는 니들을 통해 우수 번째 채널들(OUT2, OUT4)의 개별 패드들(P2, P4)에 전류 100μA를 인가한다. 이 때, 채널 배선이 오픈되지 않은 채널의 경우, 전류 100μA에 의해 상승되는 애노드 전압에 따라 다이오드들(D3, D7)이 턴-온된다. 프로브 카드는 니들을 통해 개별 패드들(P2, P4) 상에서 다이오드들(D3, D7)의 턴-온 전압을 측정한다. 측정치가 미리 설정된 다이오드(D3, D7)의 턴-온 전압 0.7V 일 때 오픈 테스트에서 양품으로 판정된다.

도 4b 및 도 4c를 참조하면, 프로브 카드는 기수 번째 채널들(OUT1, OUT3)의 오픈 테스트에서 스위치 소자들(SW12, SW34)를 순차적으로 턴-온시켜 이웃한 채널들 사이에서 채널간 배선(412, 434)을 연결한다. 프로브 카드는 기수 번째 채널들(OUT1, OUT3)의 오픈 테스트 시에 공통 패드(Podd)에 전류를 인가한다.

제1 및 제2 채널 배선들(41, 42)이 채널간 배선(412)을 통해 연결된 상태에서, 공통 패드(Podd)에 전류 100μA 가 인가되고 제2 개별 패드(P2)에서 전압이 측정된다. 이 때, 도 4b에 도시된 바와 같이 다이오드(D3)가 턴-온되어 제2 개별 패드(P2)에서 다이오드(D3)의 턴-온 전압이 측정될 때 양품으로 판정된다.

이어서, 제3 및 제4 채널 배선들(43, 44)이 채널간 배선(434)을 통해 연결된 상태에서, 공통 패드(Podd)에 전류 100μA 가 인가되고 제4 채널의 개별 패드(P4)에서 전압이 측정된다. 이 때, 도 4c에 도시된 바와 같이 다이오드(D7)가 턴-온되어 제4 채널의 개별 패드(P4)에서 다이오드(D7)의 턴-온 전압이 측정될 때 양품으로 판정된다.

도 5는 필름 소자의 쇼트 테스트(short test) 방법을 보여 주는 도면들이다.

쇼트 테스트 방법은 공통 패드(Podd)를 통해 기수 번째 채널들(OUT1, OUT3)에 0V(GND)를 인가하고, 우수 번째 채널들(OUT2, OUT4)에 연결된 다이오드들(D3, D7)의 턴-온 전압을 측정한다.

도 5를 참조하면, 프로브 카드는 쇼트 테스트에서 채널 배선들(41~44)에 연결된 스위치 소자들(SW1B, SW3B)을 턴-온시키고, 다른 스위치 소자들(SW1A, SW12, SW2, SW3A, SW34, SW4)을 턴-오프시킨다. 프로브 카드는 쇼트 테스트에서 공통 패드(Podd)를 통해 기수 번째 채널들(OUT1, OUT3)에 0V(GND)를 인가하고, 개별 패드(P2, P4) 상에서 전압을 측정한다. 이 때, 개별 패드(P2, P4) 상에서 측정된 전압의 측정치가 다이오드(D3, D7)의 턴-온 전압을 포함한 양품 기준 영역 예를 들면, 0.4V~1.0V 이내이면 쇼트가 없는 양품으로 판정된다. 반면에, 측정치가 양품 기준 영역 보다 낮거나 높은 전압은 측정 대상 채널 배선이나 다이오드가 다른 채널의 배선에 연결된 결과이기 때문에 쇼트 불량으로 판정된다.

도 6a 및 도 6b는 필름 소자의 펑션/옵셋 테스트(function/offset test) 방법을 보여 주는 도면들이다. 도 6a는 우수 번째 채널들(OUT2, OUT4)에 대한 펑션/옵셋 테스트 방법을 보여 주는 회로도이다. 도 6b는 기수 번째 채널들(OUT1, OUT3)에 대한 펑션/옵셋 테스트 방법을 보여 주는 회로도이다.

도 6a를 참조하면, 프로브 카드는 우수 번째 채널 배선들(42, 44)에 연결된 스위치 소자들(SW2, SW4)만 턴-온시킨다. 펑션/옵셋 테스트에서 채널 구동부(321~324)에 소정의 VDD(0V~3V)가 인가된다. 프로브 카드는 입력 테스트 패드들을 통해 채널들(OUT1~OUT4) 각각에 입력 신호를 인가하여, 개별 패드들(P2, P4) 상에서 우수 번째 채널 구동부들(322, 324)의 출력 전압을 측정한다. 프로브 카드는 출력치와 기대치를 비교하여 출력치가 기대치를 만족할 때 양품으로 판정한다. 기대치는 입력 신호의 전압에 따라 결정된다. 예를 들어, 입력 신호의 데이터 값이 크면 기대치가 높아지는 반면, 입력 신호의 데이터 값이 작으면 기대치가 낮아진다.

도 6b를 참조하면, 프로브 카드는 채널 간 배선들(412, 434)을 연결하기 위한 스위치 소자들(SW12, SW34)과 기수 번째 채널(OUT1, OUT3)의 채널 구동부(321, 323)에 연결된 스위치 소자들(SW1A, SW3A)을 턴-온시키고, 다른 스위치 소자들(SW1B, SW2, SW3B, SW4)을 턴-오프시킨다. 펑션/옵셋 테스트에서 채널 구동부(321~324)에 소정의 VDD(0V~3V)가 인가된다. 프로브 카드는 입력 테스트 패드들을 통해 채널들(OUT1~OUT4) 각각에 입력 신호를 인가하여, 개별 패드들(P2, P4) 상에서 기수 번째 채널 구동부들(321, 323)의 출력 전압을 측정한다. 프로브 카드는 출력치와 기대치를 비교하여 출력치가 기대치를 만족할 때 양품으로 판정한다.

본 발명은 필름 소자가 적용될 수 있는 어떠한 표시장치에도 적용 가능하다. 본 발명의 표시장치는 액정 표시장치(Liquid Crystal Display : LCD), 전계 발광 표시장치(Electroluminescence Display), 전계 방출 표시장치(Field Emission Display : FED), 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel : PDP) 등으로 구현될 수 있다. 전계 발광 표시장치는 발광층의 재료에 따라 무기 발광 표시장치와 유기 발광 표시장치로 대별된다. 액티브 매트릭스 타입(active matrix type)의 유기 발광 표시장치는 스스로 발광하는 유기 발광 다이오드(Organic Light Emitting Diode: 이하, "OLED"라 함)를 포함한다. 이하에서, 본 발명의 표시장치에 대하여 유기 발광 표시장치를 중심으로 설명하지만 이에 한정되지 않는다.

도 7은 본 발명의 실시예에 따른 표시장치를 보여 주는 블록도이다. 도 8은 픽셀 회로의 일 예를 보여 주는 회로도이다.

도 7 및 도 8을 참조하면, 본 발명의 표시장치는 표시패널(350)과, 표시패널 구동회로를 포함한다.

표시패널(350)의 화면은 입력 영상을 표시하는 픽셀 어레이(AA)을 포함한다. 픽셀 어레이(AA)는 다수의 데이터 라인들(302), 데이터 라인들(302)과 교차되는 다수의 게이트 라인들(303), 및 매트릭스 형태로 배치되는 픽셀들을 포함한다. 픽셀 어레이(AA)는 VDD 라인, Vref/Vini 라인, VSS 라인 등 도시하지 않은 전원 라인들을 더 포함할 수 있다.

픽셀들 각각은 컬러 구현을 위하여 적색 서브 픽셀, 녹색 서브 픽셀, 청색 서브 픽셀로 나뉘어질 수 있다. 픽셀들 각각은 백색 서브 픽셀을 더 포함할 수 있다. 서브 픽셀들(301) 각각은 픽셀 회로를 포함한다. 픽셀 회로는 내부 보상 회로를 포함할 수 있다. 일 예로, 픽셀 회로는 도 8의 예와 같은 회로로 구현될 수 있으나 이에 한정되지 않는다.

표시패널(350) 상에 도시하지 않은 터치 센서들이 배치될 수 있다. 터치 입력은 별도의 터치 센서들을 이용하여 센싱되거나 픽셀들을 통해 센싱될 수 있다. 터치 센서들은 온-셀(On-cell type) 또는 애드 온 타입(Add on type)으로 표시패널의 화면 상에 배치되거나 픽셀 어레이에 내장되는 인-셀(In-cell type) 터치 센서들로 구현될 수 있다.

표시패널 구동회로는 데이터 구동부(310)와 게이트 구동부(320)를 구비한다. 데이터 구동부(310)와 게이트 구동부(320) 중 하나 이상이 도 9에 도시된 바와 같이 필름 소자(COF)에 실장되는 IC 칩(210G, 210S)으로 구현될 수 있다.

표시패널 구동회로는 타이밍 콘트롤러(Timing controller, TCON)(330)의 제어 하에 표시패널(350)의 픽셀들에 입력 영상의 데이터를 기입한다. 표시패널 구동회로는 터치 센서들을 구동하기 위한 터치 센서 구동부를 더 구비할 수 있다. 터치 센서 구동부는 도 14에서 생략되어 있다. 모바일 기기에서 표시패널 구동회로, 타이밍 콘트롤러(330) 그리고 전원 회로는 하나의 집적 회로에 집적될 수 있다.

데이터 구동부(310)는 매 프레임 기간마다 타이밍 콘트롤러(330)로부터 수신되는 입력 영상의 디지털 데이터를 감마 보상 전압으로 변환하여 데이터 신호를 발생한다. 게이트 구동부(320)는 픽셀 어레이(AA)의 TFT 어레이와 함께 표시패널(350)의 기판 상에 직접 형성되는 GIP(Gate in panel) 회로로 구현되거나 도 9에 도시된 바와 같이 필름 소자(COF) 상에 실장되는 IC 칩(210G)으로 구현될 수 있다. 게이트 구동부(320)는 타이밍 콘트롤러(330)의 제어 하에 게이트 신호(GATE)를 게이트 라인들(303)로 출력한다. 게이트 구동부(320)는 시프트 레지스터(Shift register)를 이용하여 게이트 신호(GATE)를 시프트시킴으로써 그 신호들을 게이트 라인들(303)에 순차적으로 공급할 수 있다. 게이트 신호(GATE)는 데이터가 기입될 라인의 픽셀들을 선택하기 위한 스캔 신호와, 데이터 전압이 충전된 픽셀들의 발광 시간을 정의하는 발광 신호(또는 EM 신호)를 포함할 수 있으나 이에 한정되지 않는다.

타이밍 콘트롤러(330)는 도시하지 않은 호스트 시스템으로부터 입력 영상의 디지털 비디오 데이터(DATA)와, 그와 동기되는 타이밍 신호를 수신한다. 타이밍 신호는 수직 동기신호(Vsync), 수평 동기신호(Hsync), 클럭 신호(DCLK) 및 데이터 인에이블신호(DE) 등을 포함한다. 호스트 시스템은 TV(Television) 시스템, 셋톱박스, 네비게이션 시스템, 개인용 컴퓨터(PC), 홈 시어터 시스템, 모바일 기기의 시스템 중 어느 하나일 수 있다.

타이밍 콘트롤러(330)는 입력 프레임 주파수를 i(i는 0 보다 큰 양의 정수) 배 체배하여 입력 프레임 주파수×i Hz의 프레임 주파수로 표시패널 구동회로의 동작 타이밍을 제어할 수 있다. 입력 프레임 주파수는 NTSC(National Television Standards Committee) 방식에서 60Hz이며, PAL(Phase-Alternating Line) 방식에서 50Hz이다.

타이밍 콘트롤러(330)는 호스트 시스템으로부터 수신된 타이밍 신호(Vsync, Hsync, DE)를 바탕으로서 데이터 구동부(310)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 데이터 타이밍 제어신호, 디멀티플렉서(312)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 스위치 제어신호, 게이트 구동부(320)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 게이트 타이밍 제어신호를 발생한다. 타이밍 콘트롤러(330)로부터 출력된 게이트 타이밍 제어신호의 전압 레벨은 도시하지 않은 레벨 시프터(Level shifter)를 통해 게이트 온 전압과 게이트 오프 전압으로 변환되어 게이트 구동부(320)에 공급될 수 있다. 레벨 시프터는 게이트 타이밍 제어신호의 로우 레벨 전압(low level voltage)을 게이트 로우 전압(VGL)으로 변환하고, 게이트 타이밍 제어신호의 하이 레벨 전압(high level voltage)을 게이트 하이 전압(VGH)으로 변환한다.

서브 픽셀들 각각은 도 8과 같은 픽셀 회로를 포함할 수 있다. 픽셀 회로는 스위치 TFT(Thin Film Transistor, ST), 스위치 회로(301a), 구동 TFT(DT), 및 유기 발광 다이오드(Organic Light Emitting Diode, OLED) 등을 포함할 수 있다.

스위치 TFT(ST)는 게이트 라인(303)으로부터의 게이트 신호(GATE)에 응답하여 데이터 라인(302)과 스위치 회로(301a) 사이의 전류패스를 도통하여 데이터 신호를 보상 회로(301a)에 공급한다. 스위치 회로(301a)는 하나 이상의 스위치 TFT들과 하나 이상의 커패시터를 포함하여 구동 TFT(DT)의 게이트를 초기화한 후에 구동 TFT(DT)의 문턱 전압을 센싱하고 데이터 신호 전압에 문턱 전압을 가산하여 데이터 신호를 보상하는 내부 보상 회로를 포함할 수 있다. 이러한 스위치 회로(301a)는 공지된 내부 보상회로 적용 가능하다. 구동 TFT(DT)는 픽셀 구동 전압(VDD)이 공급되는 VDD 라인과, 유기 발광 다이오드(OLED) 사이에 접속되어 자신의 게이트에 인가되는 데이터 신호의 전압에 따라 유기 발광 다이오드(OLED)에 흐르는 전류를 조절한다. 픽셀 구동 전압(VDD)은 서브 픽셀들에 공통으로 공급된다.

유기 발광 다이오드(OLED)는 정공주입층(Hole Injection layer, HIL), 정공수송층(Hole transport layer, HTL), 발광층(Emission layer, EML), 전자수송층(Electron transport layer, ETL) 및 전자주입층(Electron Injection layer, EIL) 등이 적층된 유기 화합물을 포함한다.

도 9는 표시패널 구동회로가 필름 소자 상에 실장되는 IC 칩으로 구현된 예를 보여 주는 도면이다.

도 9를 참조하면, 표시패널(350)의 기판(10) 상에 소스 필름 소자(200S)와, 게이트 필름 소자(200G)가 접착될 수 있다. 소스 필름 소자(200S)는 데이터 구동부(310)를 포함한 IC 칩(210S)이 실장된다. 소스 필름 소자(200S)의 입력 패드들은 PCB(360)에 연결된다. 게이트 필름 소자(200G)는 게이트 구동부(320)를 포함한 IC 칩(210G)이 실장된다.

이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.

22, 24, 201, 202 : 필름 소자의 배선 30, 204 : 출력 테스트 패드
41~44 : 채널 배선 34, 341~343 : 스위치 회로
321~324 : 채널 구동부 101 : 표시패널의 신호 패드
102 : 링크 배선 103, 302, 303 : 패널 배선
203 : 입력 테스트 패드 210 : 드라이브 IC 칩
PNL, 350 : 표시패널 COF, 200 : 필름 소자;
OUT1~OUT4 : 필름 소자의 채널 SW1A~SW4 : 스위치 소자

Claims (14)

1. 다수의 채널 구동부들이 내장된 드라이브 IC 칩이 실장된 필름 소자에 있어서,
   상기 드라이브 IC 칩의 채널 구동부들에 연결된 다수의 채널 배선들;
   일부 채널 배선들에 공통으로 연결된 공통 패드;
   상기 일부 채널 배선들을 제외한 다른 채널 배선들에 독립적으로 연결된 개별 패드들; 및
   테스트 모드에 따라 상기 채널 배선들과 상기 채널 구동부 사이의 전류 패스를 변경하는 스위치 회로를 포함하는 필름 소자.
2. 제 1 항에 있어서,
   상기 스위치 회로는,
   상기 일부 채널 배선들과 상기 공통 패드에 공통으로 연결된 제1 스위치 회로;
   상기 일부 채널 배선들을 제외한 다른 채널 배선들과 대응하는 개별 패드에 연결된 제3 스위치 회로;
   상기 제1 스위치 회로와 상기 제3 스위치 회로 사이에 연결된 제2 스위치 회로를 구비하는 필름 소자.
3. 제 2 항에 있어서,
   상기 일부 채널 배선들이 기수 번째 채널 배선들인 필름 소자.
4. 제 1 항에 있어서,
   상기 드라이브 IC 칩은,
   상기 채널 배선들에 연결된 다이오드들을 포함하는 필름 소자.
5. 제 4 항에 있어서,
   상기 스위치 회로는,
   제1 채널 배선에 연결된 제1-1 스위치 소자;
   제1 채널 구동부에 연결된 제1-2 스위치 소자;
   제2 채널 배선에 연결된 제2 스위치 소자;
   상기 제1 채널 배선과 제2 채널 배선 사이의 채널간 배선에 연결된 제12 스위치 소자;
   제3 채널 배선에 연결된 제3-1 스위치 소자;
   제3 채널 구동부에 연결된 제3-2 스위치 소자;
   제4 채널 배선에 연결된 제4 스위치 소자; 및
   상기 제3 채널 배선과 제4 채널 배선 사이의 채널간 배선에 연결된 제34 스위치 소자를 포함하고,
   상기 제12 스위치 소자는 상기 제1-1 스위치 소자와 상기 제1-2 스위치 소자 사이의 제1 채널 배선과, 상기 제2 채널 배선 사이에 연결되고,
   상기 제34 스위치 소자가 상기 제3-1 스위치 소자와 상기 제3-2 스위치 소자 사이의 제3 채널 배선과, 상기 제4 채널 배선 사이에 연결되는 필름 소자.
6. 채널 배선들을 구동하기 위한 다수의 채널 구동부가 내장된 드라이브 IC 칩이 실장되고, 상기 채널 구동부들에 연결된 다수의 채널 배선들이 배치된 필름 소자의 테스트 방법에 있어서,
   상기 드라이브 IC 칩 내에 배치된 스위치 회로들을 이용하여 테스트 모드에 따라 일부 채널 배선들에 공통으로 연결된 공통 패드, 상기 일부 채널 배선들을 제외한 다른 채널 배선들 각각에 독립적으로 연결된 다수의 개별 패드들, 및 상기 채널 구동부들 사이의 전류 패스를 변경하는 단계를 포함하는 필름 소자의 테스트 방법.
7. 제 6 항에 있어서,
   상기 스위치 회로는,
   제1 채널 배선에 연결된 제1-1 스위치 소자;
   제1 채널 구동부에 연결된 제1-2 스위치 소자;
   제2 채널 배선에 연결된 제2 스위치 소자;
   상기 제1 채널 배선과 제2 채널 배선 사이의 채널간 배선에 연결된 제12 스위치 소자;
   제3 채널 배선에 연결된 제3-1 스위치 소자;
   제3 채널 구동부에 연결된 제3-2 스위치 소자;
   제4 채널 배선에 연결된 제4 스위치 소자; 및
   상기 제3 채널 배선과 제4 채널 배선 사이의 채널간 배선에 연결된 제34 스위치 소자를 포함하는 필름 소자의 테스트 방법.
8. 제 7 항에 있어서,
   상기 제1-1 및 제3-1 스위치 소자가 턴-온되고 다른 스위치들이 턴-오프된 상태에서 제2 및 제4 채널 배선에 각각 연결된 개별 패드들을 통해 전류를 인가하고, 상기 제2 및 제4 채널 배선에 각각 연결된 개별 패드들 상에서 전압을 측정하여 얻어진 측정치를 바탕으로 상기 제2 및 제4 채널 배선들의 오픈 여부를 판정하는 단계;
   상기 제1-1 스위치 소자, 상기 제3-1 스위치 소자 및 상기 제12 스위치 소자가 턴-온되고 나머지 스위치 소자들이 턴-오프된 상태에서 상기 공통 패드에 전류를 인가하고 상기 제2 채널 배선에 연결된 개별 패드 상에서 전압을 측정하여 상기 제1 채널 배선의 오픈 여부를 판정하는 단계; 및
   상기 제1-1 스위치 소자, 상기 제3-1 스위치 소자 및 상기 제34 스위치 소자가 턴-온되고 나머지 스위치 소자들이 턴-오프된 상태에서 상기 제4 채널 배선에 연결된 개별 패드 상에서 전압을 측정하여 상기 개별 패드들로부터 순차적으로 얻어진 측정치를 바탕으로 상기 제3 채널 배선의 오픈 여부를 판정하는 단계를 더 포함하는 필름 소자의 테스트 방법.
9. 제 7 항에 있어서,
   상기 제1-1 및 제3-1 스위치 소자가 턴-온되고 다른 스위치들이 턴-오프된 상태에서 상기 공통 패드에 그라운드 전압을 인가한 상태에서 상기 개별 패드들에 전류를 인가하고 상기 개별 패드들 상에서 전압을 측정하여 얻어진 측정치를 바탕으로 상기 채널 배선들의 쇼트 불량을 판정하는 단계를 포함하는 더 필름 소자의 테스트 방법.
10. 제 7 항에 있어서,
    상기 채널 구동부에 각각 연결된 개별 입력 테스트 패드들을 통해 입력 신호를 인가하는 단계;
    상기 제2 및 제4 스위치 소자만 턴-온된 상태에서 상기 개별 패드들 상에서 전압을 측정하여 얻어진 출력치를 상기 입력 신호에 의해 결정되는 기대치와 비교하여 그 비교 결과에 따라 상기 제2 및 제4 채널 배선들을 검사하는 단계; 및
    상기 제1-1, 제12, 제31 및 제34 스위치 소자만 턴-온된 상태에서 상기 개별 패드들 상에서 전압을 측정하여 얻어진 출력치를 상기 입력 신호에 의해 결정되는 기대치와 비교하여 그 비교 결과에 따라 상기 제1 및 제3 채널 배선들을 검사하는 단계를 더 포함하는 필름 소자의 테스트 방법.
11. 표시패널; 및
    상기 표시패널을 구동하기 위한 드라이브 IC 칩이 실장된 필름 소자를 구비하고,
    상기 드라이브 IC 칩은,
    상기 필름 소자의 채널 배선들 각각에 연결된 채널 구동부를 포함하고,
    상기 필름 소자는,
    상기 드라이브 IC 칩의 채널 구동부들에 연결된 다수의 채널 배선들;
    일부 채널 배선들에 공통으로 연결된 공통 패드;
    상기 일부 채널들을 제외한 다른 채널 배선들에 독립적으로 연결된 개별 패드들; 및
    테스트 모드에 따라 상기 채널 배선들과 상기 채널 구동부들 간의 전류 패스를 변경하는 스위치 회로를 포함하는 표시장치.
12. 제 11 항에 있어서,
    상기 채널 배선들에 연결된 다이오드들을 더 포함하고,
    상기 스위치 회로는,
    제1 채널 배선에 연결된 제1-1 스위치 소자;
    제1 채널 구동부에 연결된 제1-2 스위치 소자;
    제2 채널 배선에 연결된 제2 스위치 소자;
    상기 제1 채널 배선과 제2 채널 배선 사이의 채널간 배선에 연결된 제12 스위치 소자;
    제3 채널 배선에 연결된 제3-1 스위치 소자;
    제3 채널 구동부에 연결된 제3-2 스위치 소자;
    제4 채널 배선에 연결된 제4 스위치 소자; 및
    상기 제3 채널 배선과 제4 채널 배선 사이의 채널간 배선에 연결된 제34 스위치 소자를 포함하고,
    상기 제12 스위치 소자는 상기 제1-1 스위치 소자와 상기 제1-2 스위치 소자 사이의 제1 채널 배선과, 상기 제2 채널 배선 사이에 연결되고,
    상기 제34 스위치 소자가 상기 제3-1 스위치 소자와 상기 제3-2 스위치 소자 사이의 제3 채널 배선과, 상기 제4 채널 배선 사이에 연결되는 표시장치.
13. 다수의 채널 구동부들이 내장된 드라이브 IC 칩이 실장된 필름 소자에 있어서,
    상기 드라이브 IC 칩의 채널 구동부들에 연결된 다수의 채널 배선들;
    일부 채널 배선들에 공통으로 연결된 공통 패드;
    상기 일부 채널 배선들을 제외한 다른 채널 배선들에 독립적으로 연결된 개별 패드들; 및
    테스트 모드에 따라 상기 채널 배선들과 상기 채널 구동부 사이의 전류 패스를 변경하는 스위치 회로를 포함하고,
    상기 스위치 회로는,
    제1 채널 배선에 연결된 제1-1 스위치 소자;
    제1 채널 구동부에 연결된 제1-2 스위치 소자;
    제2 채널 배선에 연결된 제2 스위치 소자; 및
    상기 제1 채널 배선과 제2 채널 배선 사이의 채널간 배선에 연결된 제12 스위치 소자를 포함하는 필름 소자.
14. 표시패널; 및
    상기 표시패널을 구동하기 위한 드라이브 IC 칩이 실장된 필름 소자를 구비하고,
    상기 드라이브 IC 칩은,
    상기 필름 소자의 채널 배선들 각각에 연결된 채널 구동부를 포함하고,
    상기 필름 소자는,
    상기 드라이브 IC 칩의 채널 구동부들에 연결된 다수의 채널 배선들;
    일부 채널 배선들에 공통으로 연결된 공통 패드;
    상기 일부 채널들을 제외한 다른 채널 배선들에 독립적으로 연결된 개별 패드들; 및
    테스트 모드에 따라 상기 채널 배선들과 상기 채널 구동부들 간의 전류 패스를 변경하는 스위치 회로를 포함하고,
    상기 스위치 회로는,
    제1 채널 배선에 연결된 제1-1 스위치 소자;
    제1 채널 구동부에 연결된 제1-2 스위치 소자;
    제2 채널 배선에 연결된 제2 스위치 소자; 및
    상기 제1 채널 배선과 제2 채널 배선 사이의 채널간 배선에 연결된 제12 스위치 소자를 포함하는 표시장치.

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