KR20160035668A - 소스 드라이브 집적회로 및 그를 포함한 표시장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명의 실시 예는 소스 드라이브 집적회로 및 그를 포함한 표시장치에 관한 것이다. 본 발명의 실시 예에 따른 소스 드라이브 집적회로는 소스 타이밍 제어신호와 디지털 비디오 데이터에 따라 데이터 전압들을 생성하는 소스 구동회로; 상기 소스 구동회로로부터의 상기 데이터 전압들을 출력 단자들로 출력하는 출력 버퍼들; 및 상기 출력 버퍼들 및 상기 출력 단자들 사이에 접속된 전압 보호회로들을 포함하고, 상기 전압 보호회로들 중 어느 하나에 공급되는 전압은 나머지 전압 보호회로들 각각에 공급되는 전압과 상이한 것을 특징으로 한다.

Description

소스 드라이브 집적회로 및 그를 포함한 표시장치{SOURCE DRIVE INTEGRATED CIRCUIT AND DISPLAY DEVICE INCLUDING THE SAME}
본 발명의 실시 예는 소스 드라이브 집적회로 및 그를 포함한 표시장치에 관한 것이다.
정보화 사회가 발전함에 따라 화상을 표시하기 위한 표시장치에 대한 요구가 다양한 형태로 증가하고 있다. 이에 따라, 최근에는 음극선관(Cathode Ray Tube)의 단점인 무게와 부피를 줄일 수 있는 각종 평판 표시장치들(Flat Panel Display, FPD)이 개발 및 시판되고 있다. 예를 들어, 액정표시장치(LCD: Liquid Crystal Display), 유기발광다이오드 표시장치(OLED: Organic Light Emitting Diode), 전기영동 표시장치(Electrophoretic display device)와 같은 여러 가지 평판 표시장치가 활용되고 있다.
표시장치는 데이터선들, 주사선들 및 데이터선들과 주사선들에 접속된 화소들이 형성된 표시패널과 표시패널을 구동하기 위한 표시패널 구동회로를 포함한다. 표시패널 구동회로는 주사선들에 접속되어 주사신호들을 공급하는 주사 구동회로 및 데이터선들에 접속되어 데이터 신호들을 공급하는 복수의 소스 드라이브 집적회로(integrated circuit, 이하 "IC"라 칭함)를 포함한다.
표시패널의 일측 단에는 다수의 신호들이 공급되는 신호 패드들과, 구동전압들이 공급되는 구동전압 패드들, 전원전압들이 공급되는 전원전압 패드들 등이 형성될 수 있다. 이때, 구동전압 패드들로부터의 구동전압들을 주사 구동회로로 공급하기 위한 구동전압 공급선들이 소스 드라이브 IC를 가로질러 형성될 수 있다. 이 경우, 구동전압 공급선들과 소스 드라이브 IC의 어느 한 패드에 접속된 선이 교차될 수 있으며, 이로 인해 구동전압 공급선들 중 어느 하나와 소스 드라이브 IC의 어느 한 패드에 접속된 선이 단락(short)되는 불량이 발생할 수 있다. 구동전압 공급선들 중 어느 하나와 소스 드라이브 IC의 어느 한 패드에 접속된 선이 단락(short)되는 경우, 상기 구동전압 공급선들 중 어느 하나에 공급되는 구동전압이 변동되는 문제가 발생할 수 있다.
본 발명의 실시 예는 구동전압들을 안정적으로 공급할 수 있는 소스 드라이브 집적회로 및 그를 포함한 표시장치를 제공한다.
본 발명의 실시 예에 따른 소스 드라이브 집적회로는 소스 타이밍 제어신호와 디지털 비디오 데이터에 따라 데이터 전압들을 생성하는 소스 구동회로; 상기 소스 구동회로로부터의 상기 데이터 전압들을 출력 단자들로 출력하는 출력 버퍼들; 및 상기 출력 버퍼들 및 상기 출력 단자들 사이에 접속된 전압 보호회로들을 포함하고, 상기 전압 보호회로들 중 어느 하나에 공급되는 전압은 나머지 전압 보호회로들 각각에 공급되는 전압과 상이한 것을 특징으로 한다.
상기 전압 보호회로들 각각은 제1 및 제2 다이오드들을 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 전압 보호회로들 중 어느 하나의 제1 다이오드에 공급되는 전압은 상기 나머지 전압 보호회로들 각각의 제1 다이오드에 공급되는 전압과 상이한 것을 특징으로 한다.
상기 전압 보호회로들 중 어느 하나의 제2 다이오드에 공급되는 전압은 상기 나머지 전압 보호회로들 각각의 제2 다이오드에 공급되는 전압과 상이한 것을 특징으로 한다.
상기 나머지 전압 보호회로들 각각은 제1 및 제2 다이오드들을 포함하고, 상기 전압 보호회로들 중 어느 하나는 상기 제1 다이오드를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 전압 보호회로들 중 어느 하나의 제1 다이오드에 공급되는 전압은 상기 나머지 전압 보호회로들 각각의 제1 다이오드에 공급되는 전압과 상이한 것을 특징으로 한다.
상기 나머지 전압 보호회로들 각각은 제1 및 제2 다이오드들을 포함하고, 상기 전압 보호회로들 중 어느 하나는 상기 제2 다이오드를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 전압 보호회로들 중 어느 하나의 제2 다이오드에 공급되는 전압은 상기 나머지 전압 보호회로들 각각의 제2 다이오드에 공급되는 전압과 상이한 것을 특징으로 한다.
본 발명의 실시 예에 따른 표시장치는 데이터선들, 주사선들 및 데이터선들과 주사선들의 교차영역에 형성되는 화소들이 형성되는 표시패널; 상기 데이터선들에 데이터전압들을 공급하는 적어도 하나의 소스 드라이브 IC; 및 상기 주사선들에 주사신호들을 공급하는 주사 구동회로를 포함하고, 상기 소스 드라이브 IC는, 소스 타이밍 제어신호와 디지털 비디오 데이터에 따라 데이터 전압들을 생성하는 소스 구동회로; 상기 소스 구동회로로부터의 상기 데이터 전압들을 출력 단자들로 출력하는 출력 버퍼들; 및 상기 출력 버퍼들 및 상기 출력 단자들 사이에 접속된 전압 보호회로들을 포함하고, 상기 전압 보호회로들 중 어느 하나에 공급되는 전압은 나머지 전압 보호회로들 각각에 공급되는 전압과 상이한 것을 특징으로 한다.
상기 전압 보호회로들 각각은 제1 및 제2 다이오드들을 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 전압 보호회로들 중 어느 하나의 제1 다이오드에 공급되는 전압은 상기 나머지 전압 보호회로들 각각의 제1 다이오드에 공급되는 전압과 상이한 것을 특징으로 한다.
상기 전압 보호회로들 중 어느 하나의 제2 다이오드에 공급되는 전압은 상기 나머지 전압 보호회로들 각각의 제2 다이오드에 공급되는 전압과 상이한 것을 특징으로 한다.
상기 나머지 전압 보호회로들 각각은 제1 및 제2 다이오드들을 포함하고, 상기 전압 보호회로들 중 어느 하나는 상기 제1 다이오드를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 전압 보호회로들 중 어느 하나의 제1 다이오드에 공급되는 전압은 상기 나머지 전압 보호회로들 각각의 제1 다이오드에 공급되는 전압과 상이한 것을 특징으로 한다.
상기 나머지 전압 보호회로들 각각은 제1 및 제2 다이오드들을 포함하고, 상기 전압 보호회로들 중 어느 하나는 상기 제2 다이오드를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 전압 보호회로들 중 어느 하나의 제2 다이오드에 공급되는 전압은 상기 나머지 전압 보호회로들 각각의 제2 다이오드에 공급되는 전압과 상이한 것을 특징으로 한다.
상기 표시패널은, 구동전압 패드들, 테스트 패드 및 테스트 출력 패드; 상기 구동전압 패드들과 상기 주사 구동부를 연결하는 구동전압선들; 및 상기 테스트 패드와 상기 테스트 출력 패드를 연결하는 테스트 전압선을 포함하고, 상기 구동전압선들과 상기 테스트 전압선은 서로 교차하는 것을 특징으로 한다.
상기 소스 드라이브 IC는 상기 구동 전압선들 상에 위치하는 것을 특징으로 한다.
상기 소스 드라이브 IC는 칩 온 글라스 또는 칩 온 플라스틱 방식으로 상기 표시패널에 접착되는 것을 특징으로 한다.
상기 표시패널은, 신호 공급 패드들; 상기 소스 드라이브 IC의 입력 단자들에 접속되는 소스 입력 패드들; 상기 소스 입력 패드들과 상기 신호 공급 패드들을 접속하는 신호 입력 공급선들; 및 상기 소스 드라이브 IC의 출력 단자들에 접속되고, 상기 데이터선들에 접속된 소스 출력 패드들을 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 실시 예는 테스트 출력 패드에 접속된 출력 단자와 출력 버퍼 사이에 접속된 전압 보호회로에 소스 출력 패드에 접속된 출력 단자와 출력 버퍼 사이에 접속된 전압 보호회로와 상이한 전압들을 공급한다. 또는, 본 발명의 실시 예는 테스트 출력 패드에 접속된 출력 단자와 출력 버퍼 사이에 전압 보호회로를 접속하지 않는다. 또는, 본 발명의 실시 예는 테스트 출력 패드에 접속된 테스트 전압선을 단선한다. 그 결과, 본 발명의 실시 예는 제1 및 제2 구동전압선들 중 어느 하나가 테스트 전압선과 단락되더라도, 제1 및 제2 구동전압선들의 제1 및 제2 구동전압들은 변동되지 않으므로, 제1 및 제2 구동전압들을 안정적으로 공급할 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 표시장치를 개략적으로 보여주는 블록도.
도 2는 도 1의 소스 드라이브 IC를 상세히 보여주는 블록도.
도 3은 도 1의 표시패널 및 소스 드라이브 IC들을 상세히 보여주는 일 예시도면.
도 4는 도 3의 제1 소스 드라이브 IC의 어느 한 출력 단자와 소스 출력 패드의 접속을 상세히 보여주는 일 예시도면.
도 5는 도 3의 소스 출력 단자들과 출력 버퍼들 사이에 접속된 전압 보호회로들을 상세히 보여주는 일 예시도면.
도 6은 도 3의 소스 출력 단자들과 출력 버퍼들 사이에 접속된 전압 보호회로들을 상세히 보여주는 또 다른 예시도면.
도 7은 도 3의 소스 출력 단자들과 출력 버퍼들 사이에 접속된 전압 보호회로들을 상세히 보여주는 또 다른 예시도면.
도 8은 도 3의 소스 출력 단자들과 출력 버퍼들 사이에 접속된 전압 보호회로들을 상세히 보여주는 또 다른 예시도면.
도 9는 도 3의 소스 출력 단자들과 출력 버퍼들 사이에 접속된 전압 보호회로들을 상세히 보여주는 또 다른 예시도면.
도 10은 도 3의 소스 출력 단자들과 출력 버퍼들 사이에 접속된 전압 보호회로들을 상세히 보여주는 또 다른 예시도면.
도 11은 도 3의 소스 출력 단자들과 출력 버퍼들 사이에 접속된 전압 보호회로들을 상세히 보여주는 또 다른 예시도면.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 바람직한 실시예들을 상세히 설명한다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조번호들은 실질적으로 동일한 구성요소들을 의미한다. 이하의 설명에서, 본 발명과 관련된 공지 기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우, 그 상세한 설명을 생략한다. 또한, 이하의 설명에서 사용되는 구성요소 명칭은 명세서 작성의 용이함을 고려하여 선택된 것일 수 있는 것으로서, 실제 제품의 부품 명칭과는 상이할 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 표시장치를 개략적으로 보여주는 블록도이다. 도 1을 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 표시장치는 표시패널(10), 주사 구동부(20), 소스 드라이브 집적회로(integrated circuit, "IC"라 칭함)(30), 타이밍 제어부(40), 전원 공급원(50) 등을 구비한다.
표시패널(10)에는 데이터선들(D1~Dm, m은 2 이상의 양의 정수)과 주사선들(S1~Sn, n은 2 이상의 양의 정수)이 서로 교차되도록 형성된다. 표시패널(10)의 데이터선들(D1~Dm)과 주사선들(S1~Sn)의 교차 영역에는 화소(P)들이 형성된다. 화소(P)들은 매트릭스 형태로 배치될 수 있다. 화소(P)는 주사선과 데이터선에 접속되며, 주사선으로부터 주사신호가 공급될 때 데이터선으로부터 데이터전압을 공급받는다. 화소(P)는 데이터전압에 따라 소정의 밝기로 발광한다.
표시패널(10)은 화소(P)들이 형성되는 표시영역과 표시영역 이외의 비표시영역을 포함한다. 표시영역과 비표시영역에 대한 자세한 설명은 도 3을 결부하여 후술한다.
주사 구동부(20)는 타이밍 제어부(40)로부터 주사 타이밍 제어신호(SCS)를 입력받는다. 주사 구동부(20)는 주사 타이밍 제어신호(SCS)에 응답하여 주사선들(S1~Sn)에 주사신호들을 공급한다. 주사 구동부(20)는 주사선들(S1~Sn)에 주사신호들을 순차적으로 공급할 수 있다. 이때, 주사 구동부(20)는 ASG(amorphous silicon TFT gate driver) 방식 또는 GIP(gate driver in panel) 방식에 의해 표시패널(10)의 비표시영역에 형성될 수 있다.
소스 드라이브 IC(30)는 타이밍 제어부(40)로부터 디지털 비디오 데이터(DATA)와 데이터 타이밍 제어신호(DCS)를 입력받는다. 소스 드라이브 IC(30)는 데이터 타이밍 제어신호(DCS)에 따라 디지털 비디오 데이터(DATA)를 아날로그 데이터 전압들로 변환한다. 소스 드라이브 IC(30)는 주사신호들 각각에 동기화하여 데이터 전압들을 데이터선들(D1~Dm)에 공급한다. 이에 따라, 주사신호가 공급되는 화소(P)들에 데이터 전압들이 공급된다.
소스 드라이브 IC(30)는 칩 온 글래스(chip on glass) 공정 또는 칩 온 플라스틱(chip on plastic) 공정에 의해 표시패널(10)의 비표시영역에 접착될 수 있다. 한편, 도 1에서는 설명의 편의를 위해 하나의 소스 드라이브 IC(30)를 예시하였으나, 이에 한정되지 않음에 주의하여야 한다. 즉, 본 발명의 실시 예에 따른 표시장치는 복수의 소스 드라이브 IC들을 포함할 수 있다. 소스 드라이브 IC(30)에 대한 자세한 설명은 도 2를 결부하여 후술한다.
타이밍 제어부(40)는 호스트 시스템(미도시)으로부터 디지털 비디오 데이터(DATA)와 타이밍 신호들을 입력받는다. 타이밍 신호들은 수직 동기신호(vertical sync signal), 수평 동기신호(horizontal sync signal), 데이터 인에이블 신호(data enable signal), 도트 클럭(dot clock) 등을 포함할 수 있다.
타이밍 제어부(40)는 타이밍 신호들에 기초하여 주사 구동부(20)와 소스 드라이브 IC(30)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 타이밍 제어신호들을 발생한다. 타이밍 제어신호들은 주사 구동부(20)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 주사 타이밍 제어신호(SCS), 소스 드라이브 IC(30)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 데이터 타이밍 제어신호(DCS)를 포함한다. 타이밍 제어부(40)는 주사 타이밍 제어신호(SCS)를 주사 구동부(30)로 출력하고, 데이터 타이밍 제어신호(DCS)와 디지털 비디오 데이터(DATA)를 소스 드라이브 IC(30)로 출력한다.
전원 공급원(50)은 구동전압들(DV)을 주사 구동부(20)에 공급한다. 구동전압들(DV)은 주사 구동부의 트랜지스터들을 턴-온시키기 위한 게이트 온 전압과 턴-오프시키기 위한 게이트 오프 전압을 포함할 수 있다. 또한, 전원 공급원(50)은 표시패널(10)의 구동에 필요한 전원전압들(PV)을 표시패널(10)에 공급할 수 있다. 또한, 전원 공급원(50)은 감마전압들(미도시)을 소스 드라이브 IC(30)에 공급할 수 있다.
도 2는 도 1의 소스 드라이브 IC를 상세히 보여주는 블록도이다. 도 2를 참조하면, 소스 드라이브 IC(30)는 입력 단자들(31), 소스 구동회로(32), 출력 버퍼부(33), 보호 회로부(34) 및 출력 단자들(35)를 포함한다. 입력 단자들(31)은 제1 내지 제j 입력 단자들(IT1~ITj, j는 2≤j≤m을 만족하는 양의 정수)을 포함하고, 출력 단자들(35)은 제1 내지 제k 입력 단자들(OT1~OTk, k는 2≤k≤n을 만족하는 양의 정수)을 포함할 수 있다.
소스 구동회로(32)는 입력 단자들(31)을 통해 데이터 타이밍 제어신호(DCS)와 디지털 비디오 데이터(DATA)를 입력받는다. 소스 구동회로(32)는 데이터 타이밍 제어신호(DCS)에 따라 디지털 비디오 데이터(DATA)를 아날로그 데이터 전압들로 변환한다. 이를 위해, 소스 구동회로(32)는 쉬프트 레지스터, 래치, 디지털 아날로그 변환회로 등을 포함할 수 있다. 소스 구동회로(32)는 아날로그 데이터 전압들(DV)을 출력 버퍼부(33)로 출력한다.
출력 버퍼부(33)는 출력 단자들(35)을 통해 아날로그 데이터 전압들(DV)을 출력한다. 출력 단자들(35)은 출력 패드들을 통해 데이터선들에 접속된다. 또한, 정전기 등으로 인한 출력 버퍼부(33)의 파손을 방지하기 위해, 출력 버퍼부(33)와 출력 단자들(35) 사이에는 도 2와 같이 전압 보호 회로부(34)가 형성될 수 있다.
도 3은 도 1의 표시패널 및 소스 드라이브 IC들을 상세히 보여주는 일 예시도면이다. 도 3을 참조하면, 표시패널(10)은 화소들이 형성되어 화상을 표시하는 표시영역(DA)과 표시영역(DA) 이외의 비표시영역(NDA)을 포함한다.
표시영역(DA)에는 데이터선들(D1~Dm)과 주사선들(S1~Sn)이 서로 교차되도록 형성되며, 데이터선들(D1~Dm)과 주사선들(S1~Sn)의 교차 영역에는 화소(P)들이 형성된다. 도 3에서는 설명의 편의를 위해 주사선들(S1~Sn) 및 화소(P)들을 생략하였음에 주의하여야 한다.
비표시영역(NDA)에는 주사 구동부들(20A, 20B), 소스 드라이브 IC들(30A, 30B), 및 다수의 패드들이 형성된다. 도 3에서는 표시장치가 2 개의 주사 구동부들(20A, 20B)과 2 개의 소스 드라이브 IC(30A, 30B)를 포함하는 것을 예시하였으나, 이에 한정되지 않음에 주의하여야 한다.
주사 구동부들(20A, 20B)은 표시영역(DA)의 좌우 측면들에 형성될 수 있다. 도 3에서는 주사 구동부들(20A, 20B)이 표시영역(DA)의 좌우 양 측면들에 형성되는 것을 예시하였으나, 이에 한정되지 않음에 주의하여야 한다. 주사 구동부들(20A, 20B)은 구동전압 공급선들(DVL1, DVL2)로부터 구동전압들을 공급받는다. 주사 구동부들(20A, 20B)은 주사선들(S1~Sn)에 접속되며, 주사선들(S1~Sn)에 주사신호들을 출력한다.
소스 드라이브 IC들(30A, 30B)은 표시영역(DA)의 상하 측면들 중 한 측면에 형성될 수 있다. 도 3에서는 소스 드라이브 IC들(30A, 30B)이 표시영역(DA)의 상측면에 형성되는 것을 예시하였으나, 이에 한정되지 않음에 주의하여야 한다. 소스 드라이브 IC들(30A, 30B) 각각은 소스 출력 패드들(SOP)에 접속되며, 소스 출력 패드들(SOP)을 통해 데이터선들(D1~Dm)에 데이터 전압들을 출력한다.
표시패널(10)에는 소스 입력 패드들(SIP), 소스 출력 패드들(SOP), 신호 공급 패드들(SSP), 구동전압 패드들(DVP1, DVP2), 테스트 패드(TP)들, 테스트 출력 패드(TOP)들 등이 형성된다.
소스 입력 패드들(SIP)은 소스 드라이브 IC들(30A, 30B)의 입력 단자들에 접속된다. 소스 입력 패드들(SIP)은 소스 입력 공급선(SIL)들을 통해 신호 공급 패드들(SSP)에 접속된다. 이 경우, 소스 입력 패드들(SIP) 각각은 소스 입력 공급선(SIL)들 각각과 일대일로 접속될 수 있으며, 신호 공급 패드들(SSP) 각각은 신호 입력 공급선(SIL)들 각각과 일대일로 접속될 수 있다.
소스 출력 패드들(SOP)은 소스 드라이브 IC들(30A, 30B)의 출력 단자들에 접속된다. 소스 출력 패드들(SOP) 각각은 소스 드라이브 IC들(30A, 30B)의 출력 단자들 각각에 일대일로 접속될 수 있다. 또한, 소스 출력 패드들(SOP)은 데이터선들(D1~Dm)에 접속된다. 이 경우, 소스 출력 패드들(SOP) 각각은 데이터선들(D1~Dm)에 일대일로 접속될 수 있다.
구동전압 패드들(DVP1, DVP2)은 구동전압 공급선들(DVL1, DVL2)에 접속된다. 구체적으로, 제1 구동전압 패드(DVP1)는 제1 구동전압 공급선(DVL1)에 접속되며, 제1 구동전압 공급선(DVL1)은 주사 구동부들(20A, 20B)에 접속된다. 이로 인해, 제1 구동전압 패드(DVP1)로 공급되는 제1 구동전압은 주사 구동부들(20A, 20B)에 공급된다. 또한, 제2 구동전압 패드(DVP2)는 제2 구동전압 공급선(DVL2)에 접속되며, 제2 구동전압 공급선(DVL2)은 주사 구동부들(20A, 20B)에 접속된다. 이로 인해, 제2 구동전압 패드(DVP2)로 공급되는 제2 구동전압은 주사 구동부들(20A, 20B)에 공급된다.
신호 공급 패드들(SSP) 및 구동전압 패드들(DVP1, DVP2)에는 연성 필름(flexible film)이 부착될 수 있다.
테스트 출력 패드(TOP)들은 소스 드라이브 IC들(30A, 30B)의 테스트 전압 출력 단자들에 접속된다. 테스트 출력 패드(TOP)들은 테스트 전압선(TL)들에 접속되며, 테스트 전압선(TL)들은 테스트 패드(TP)들에 접속된다. 이로 인해, 테스트 출력 패드(TOP)들로 공급되는 테스트 전압들은 테스트 패드(TP)들에 공급된다. 그 결과, 본 발명의 실시 예는 테스트 공정에서 테스트 지그들을 테스트 패드(TP)들에 접속함으로써, 테스트 전압들을 측정할 수 있다.
또한, 소스 드라이브 IC들(30A, 30B)은 구동전압 공급선들(DVL1, DVL2)상에 접착될 수 있다. 이로 인해, 구동전압 공급선들(DVL1, DVL2)은 소스 드라이브 IC들(30A, 30B)을 가로질러 주사 구동부(20A)에 접속될 수 있다. 그 결과, 구동전압 공급선들(DVL1, DVL2)은 테스트 전압선(TL)들과만 교차되므로, 구동전압 공급선들(DVL1, DVL2)과 테스트 전압선(TL)들 간의 단락(short) 발생 가능성이 존재한다. 이로 인해, 본 발명의 실시 예는 도 5 내지 도 11과 같이 보호회로들을 형성함으로써, 구동전압 공급선들(DVL1, DVL2)이 테스트 전압선(TL)들과 단락되더라도, 구동전압 공급선들(DVL1, DVL2)에 공급되는 구동전압들의 전압 레벨들이 변동되지 않도록 한다. 이에 대한 자세한 설명은 도 5 내지 도 11을 결부하여 후술한다.
도 4는 도 2의 제1 소스 드라이브 IC의 어느 한 출력 단자와 소스 출력 패드의 접속을 상세히 보여주는 일 예시도면이다.
도 4를 참조하면, 표시패널(10)의 하부기판(SUB)상에 데이터선(DL)들과 소스 출력 패드(SOP)들이 동일한 금속으로 형성될 수 있다.
제1 소스 드라이브 IC(30A)의 출력 단자(OT)는 제1 소스 드라이브 IC(30A)의 끝단에서 제1 소스 드라이브 IC(30A)로부터 돌출되도록 형성될 수 있다. 제1 소스 드라이브 IC(30A)의 출력 단자(OT)의 크기는 도 4와 같이 소스 출력 패드(SOP)의 크기보다 작을 수 있다.
또한, 제1 소스 드라이브 IC(30A)의 출력 단자(OT)와 소스 출력 패드(SOP)의 접속력을 높이기 위해 제1 소스 드라이브 IC(30A)의 출력 단자(OT)와 소스 출력 패드(SOP) 사이에는 이방성 도전 필름(anisotropic conductive film, ACF)이 부착될 수 있다. 이방성 도전 필름(ACF)은 생략될 수 있다.
한편, 제1 소스 드라이브 IC의 출력 단자와 테스트 출력 패드(TOP)의 접속은 도 4에 도시된 제1 소스 드라이브 IC(30A)의 출력 단자(OT)와 소스 출력 패드(SOP)의 접속과 실질적으로 동일할 수 있다. 따라서, 제1 소스 드라이브 IC의 출력 단자와 테스트 출력 패드(TOP)의 접속에 대한 자세한 설명은 생략하기로 한다.
도 5는 도 3의 소스 출력 단자들과 출력 버퍼들 사이에 접속된 전압 보호회로들을 상세히 보여주는 일 예시도면이다.
도 5를 참조하면, 소스 출력 단자(SOT)들과 출력 버퍼(OB)들 사이에는 전압 보호회로(VPC)들이 접속된다. 소스 출력 단자들 중 어느 하나는 테스트 출력 패드(TOP)에 접속되고, 나머지들은 소스 출력 패드(SOP)들에 접속된다. 테스트 출력 패드(TOP)는 테스트 전압선(TL)을 통해 테스트 패드(TP)에 접속된다. 소스 출력 패드(SOP)들은 데이터선(DL)들에 접속된다.
제1 구동전압 패드(DVP1)에 접속된 제1 구동전압선(DVL1)과 제2 구동전압 패드(DVP2)에 접속된 제2 구동전압선(DVL2)이 제1 및 제2 소스 드라이브 IC(30A, 30B)를 가로지르도록 형성되기 때문에, 제1 및 제2 구동전압선들(DVL1, DVL2)은 테스트 전압선(TL)과 교차된다. 이로 인해, 제1 및 제2 구동전압선들(DVL1, DVL2) 중 어느 하나가 테스트 전압선(TL)과 단락(short)되는 불량이 발생할 수 있다. 이 경우, 제1 및 제2 구동전압선들(DVL1, DVL2)을 통해 주사 구동부들(20A, 20B)에 공급되는 제1 및 제2 구동전압들이 전압 보호회로(VPC)에 공급되는 전원전압들에 의해 변동되는 문제가 발생할 수 있다.
상기와 같은 문제점이 발생하는 것을 방지하기 위해, 소스 출력 패드(SOP)들에 접속된 출력 단자(OT)들과 출력 버퍼(OB)들 사이에 접속된 전압 보호회로(VPC)에는 제1 및 제2 전원전압들을 공급하는 반면에, 테스트 출력 패드(TOP)에 접속된 출력 단자(OT)와 출력 버퍼(OB) 사이에 접속된 전압 보호회로(VPC)에는 제1 및 제2 구동전압들을 공급한다. 제1 및 제2 구동전압들은 제1 및 제2 구동전압선들(DVL1, DVL2)을 통해 공급되는 전압들로, 제1 및 제2 전원전압들과 상이한 전압들임에 주의하여야 한다. 이 경우, 제1 및 제2 구동전압선들(DVL1, DVL2) 중 어느 하나가 테스트 전압선(TL)과 단락되더라도, 테스트 출력 패드(TOP)에 접속된 출력 단자(OT)와 출력 버퍼(OB) 사이에 접속된 전압 보호회로(VPC)에는 제1 및 제2 구동전압들이 공급되므로, 제1 및 제2 구동전압선들(DVL1, DVL2)의 제1 및 제2 구동전압들은 변동되지 않는다.
구체적으로, 전압 보호회로(VPC)들 각각은 제1 및 제2 다이오드들(D1, D2)를 포함한다. 소스 출력 패드(SOP)들에 접속된 출력 단자(OT)들과 출력 버퍼(OB)들 사이에 접속된 전압 보호회로(VPC)의 제1 다이오드(D1)는 제1 전원전압원(AVCC)과 출력 단자(OT) 사이에 접속되고 제2 다이오드(D2)는 제2 전원전압원(GND)과 출력 단자(OT) 사이에 접속된다. 즉, 소스 출력 패드(SOP)들에 접속된 출력 단자(OT)들과 출력 버퍼(OB)들 사이에 접속된 전압 보호회로(VPC)의 제1 다이오드(D1)의 애노드 전극은 제1 전원전압원(AVCC)에 접속되고 캐소드 전극은 출력 단자(OT)에 접속되며, 제2 다이오드(D2)의 애노드 전극은 출력 단자(OT)에 접속되고, 캐소드 전극은 제2 전원전압원(GND)에 접속될 수 있다. 제1 전원전압원(AVCC)으로부터 공급되는 제1 전원전압은 제2 전원전압원(GND)으로부터 공급되는 제2 전원전압보다 높은 레벨의 전압이다.
또한, 테스트 출력 패드(TOP)에 접속된 출력 단자(OT)와 출력 버퍼(OB) 사이에 접속된 전압 보호회로(VPC)의 제1 다이오드(D1)는 제1 구동전압선(DVL1)과 출력 단자(OT) 사이에 접속되고 제2 다이오드(D2)는 제2 구동전압선(DVL2)과 출력 단자(OT) 사이에 접속된다. 즉, 테스트 출력 패드(TOP)에 접속된 출력 단자(OT)들과 출력 버퍼(OB)들 사이에 접속된 전압 보호회로(VPC)의 제1 다이오드(D1)의 애노드 전극은 제1 구동전압선(DVL1)에 접속되고 캐소드 전극은 출력 단자(OT)에 접속되며, 제2 다이오드(D2)의 애노드 전극은 출력 단자(OT)에 접속되고, 캐소드 전극은 제2 구동전압선(DVL2)에 접속될 수 있다. 제1 구동전압선(DVL1)으로부터 공급되는 제1 구동전압은 제2 구동전압선(DVL2)으로부터 공급되는 제2 구동전압보다 높은 레벨의 전압이다.
예를 들어, 제1 구동전압선(DVL1)과 테스트 전압선(TL)이 단락되더라도, 전압 보호회로(VPC)의 제1 다이오드(D1)는 제1 구동전압선(DVL1)에 접속되므로, 제1 구동전압선(DVL1)의 제1 구동전압은 변동되지 않는다. 또한, 제2 구동전압선(DVL2)과 테스트 전압선(TL)이 단락되더라도, 전압 보호회로(VPC)의 제2 다이오드(D2)는 제2 구동전압선(DVL2)에 접속되므로, 제2 구동전압선(DVL2)의 제2 구동전압은 변동되지 않는다. 결국, 제1 및 제2 구동전압선들(DVL1, DVL2) 중 어느 하나가 테스트 전압선(TL)과 단락되더라도, 테스트 출력 패드(TOP)에 접속된 출력 단자(OT)와 출력 버퍼(OB) 사이에 접속된 전압 보호회로(VPC)에는 제1 및 제2 구동전압들이 공급되므로, 제1 및 제2 구동전압선들(DVL1, DVL2)의 제1 및 제2 구동전압들은 변동되지 않는다. 그 결과, 본 발명의 실시 예는 제1 및 제2 구동전압들을 안정적으로 공급할 수 있다.
도 6은 도 3의 소스 출력 단자들과 출력 버퍼들 사이에 접속된 전압 보호회로들을 상세히 보여주는 또 다른 예시도면이다.
도 6에 도시된 소스 출력 단자(SOT)들, 출력 버퍼(OB)들, 테스트 출력 패드(TOP), 소스 출력 패드(SOP)들, 테스트 전압선(TL), 데이터선(DL)들, 제1 및 제2 구동전압선들(DVL1, DVL2), 제1 및 제2 구동전압 패드들(DVP1, DVP2)은 도 5를 결부하여 설명한 바와 실질적으로 동일하므로, 이들에 대한 자세한 설명은 생략한다.
도 6을 참조하면, 전압 보호회로(VPC)들 각각은 제1 및 제2 다이오드들(D1, D2)을 포함한다. 소스 출력 패드(SOP)들에 접속된 출력 단자(OT)들과 출력 버퍼(OB)들 사이에 접속된 전압 보호회로(VPC)의 제1 다이오드(D1)는 제1 전원전압원(AVCC)과 출력 단자(OT) 사이에 접속되고 제2 다이오드(D2)는 제2 전원전압원(GND)과 출력 단자(OT) 사이에 접속된다. 즉, 소스 출력 패드(SOP)들에 접속된 출력 단자(OT)들과 출력 버퍼(OB)들 사이에 접속된 전압 보호회로(VPC)의 제1 다이오드(D1)의 애노드 전극은 제1 전원전압원(AVCC)에 접속되고 캐소드 전극은 출력 단자(OT)에 접속되며, 제2 다이오드(D2)의 애노드 전극은 출력 단자(OT)에 접속되고, 캐소드 전극은 제2 전원전압원(GND)에 접속될 수 있다. 제1 전원전압원(AVCC)으로부터 공급되는 제1 전원전압은 제2 전원전압원(GND)으로부터 공급되는 제2 전원전압보다 높은 레벨의 전압이다.
또한, 테스트 출력 패드(TOP)에 접속된 출력 단자(OT)와 출력 버퍼(OB) 사이에 접속된 전압 보호회로(VPC)의 제1 다이오드(D1)는 제1 전원전압원(AVCC)과 출력 단자(OT) 사이에 접속되고 제2 다이오드(D2)는 제2 구동전압선(DVL2)과 출력 단자(OT) 사이에 접속된다. 즉, 테스트 출력 패드(TOP)에 접속된 출력 단자(OT)들과 출력 버퍼(OB)들 사이에 접속된 전압 보호회로(VPC)의 제1 다이오드(D1)의 애노드 전극은 제1 전원전압원(AVCC)에 접속되고 캐소드 전극은 출력 단자(OT)에 접속되며, 제2 다이오드(D2)의 애노드 전극은 출력 단자(OT)에 접속되고, 캐소드 전극은 제2 구동전압선(DVL2)에 접속될 수 있다. 제1 구동전압선(DVL1)으로부터 공급되는 제1 구동전압은 제2 구동전압선(DVL2)으로부터 공급되는 제2 구동전압보다 높은 레벨의 전압이다.
이 경우, 제2 구동전압선(DVL2)과 테스트 전압선(TL)이 단락되더라도, 전압 보호회로(VPC)의 제2 다이오드(D2)는 제2 구동전압선(DVL2)에 접속되므로, 제2 구동전압선(DVL2)의 제2 구동전압은 변동되지 않는다. 결국, 제2 구동전압선(DVL2)이 테스트 전압선(TL)과 단락되더라도, 테스트 출력 패드(TOP)에 접속된 출력 단자(OT)와 출력 버퍼(OB) 사이에 접속된 전압 보호회로(VPC)에는 제2 구동전압이 공급되므로, 제2 구동전압선(DVL2)의 제2 구동전압은 변동되지 않는다. 그 결과, 본 발명의 실시 예는 제2 구동전압을 안정적으로 공급할 수 있다.
도 7은 도 3의 소스 출력 단자들과 출력 버퍼들 사이에 접속된 전압 보호회로들을 상세히 보여주는 또 다른 예시도면이다.
도 7에 도시된 소스 출력 단자(SOT)들, 출력 버퍼(OB)들, 테스트 출력 패드(TOP), 소스 출력 패드(SOP)들, 테스트 전압선(TL), 데이터선(DL)들, 제1 및 제2 구동전압선들(DVL1, DVL2), 제1 및 제2 구동전압 패드들(DVP1, DVP2)은 도 5를 결부하여 설명한 바와 실질적으로 동일하므로, 이들에 대한 자세한 설명은 생략한다.
도 7을 참조하면, 전압 보호회로(VPC)들 각각은 제1 및 제2 다이오드들(D1, D2)을 포함한다. 소스 출력 패드(SOP)들에 접속된 출력 단자(OT)들과 출력 버퍼(OB)들 사이에 접속된 전압 보호회로(VPC)의 제1 다이오드(D1)는 제1 전원전압원(AVCC)과 출력 단자(OT) 사이에 접속되고 제2 다이오드(D2)는 제2 전원전압원(GND)과 출력 단자(OT) 사이에 접속된다. 즉, 소스 출력 패드(SOP)들에 접속된 출력 단자(OT)들과 출력 버퍼(OB)들 사이에 접속된 전압 보호회로(VPC)의 제1 다이오드(D1)의 애노드 전극은 제1 전원전압원(AVCC)에 접속되고 캐소드 전극은 출력 단자(OT)에 접속되며, 제2 다이오드(D2)의 애노드 전극은 출력 단자(OT)에 접속되고, 캐소드 전극은 제2 전원전압원(GND)에 접속될 수 있다. 제1 전원전압원(AVCC)으로부터 공급되는 제1 전원전압은 제2 전원전압원(GND)으로부터 공급되는 제2 전원전압보다 높은 레벨의 전압이다.
또한, 테스트 출력 패드(TOP)에 접속된 출력 단자(OT)와 출력 버퍼(OB) 사이에 접속된 전압 보호회로(VPC)의 제1 다이오드(D1)는 제1 구동전압선(DVL1)과 출력 단자(OT) 사이에 접속되고 제2 다이오드(D2)는 제2 전원전압원(GND)과 출력 단자(OT) 사이에 접속된다. 즉, 테스트 출력 패드(TOP)에 접속된 출력 단자(OT)들과 출력 버퍼(OB)들 사이에 접속된 전압 보호회로(VPC)의 제1 다이오드(D1)의 애노드 전극은 제1 구동전압선(DVL1)에 접속되고 캐소드 전극은 출력 단자(OT)에 접속되며, 제2 다이오드(D2)의 애노드 전극은 출력 단자(OT)에 접속되고, 캐소드 전극은 제2 전원전압원(GND)에 접속될 수 있다. 제1 구동전압선(DVL1)으로부터 공급되는 제1 구동전압은 제2 구동전압선(DVL2)으로부터 공급되는 제2 구동전압보다 높은 레벨의 전압이다.
이 경우, 제1 구동전압선(DVL1)과 테스트 전압선(TL)이 단락되더라도, 전압 보호회로(VPC)의 제1 다이오드(D1)는 제1 구동전압선(DVL1)에 접속되므로, 제1 구동전압선(DVL1)의 제1 구동전압은 변동되지 않는다. 결국, 제1 구동전압선(DVL1)이 테스트 전압선(TL)과 단락되더라도, 테스트 출력 패드(TOP)에 접속된 출력 단자(OT)와 출력 버퍼(OB) 사이에 접속된 전압 보호회로(VPC)에는 제1 구동전압이 공급되므로, 제1 구동전압선(DVL1)의 제1 구동전압은 변동되지 않는다. 그 결과, 본 발명의 실시 예는 제1 구동전압을 안정적으로 공급할 수 있다.
도 8은 도 3의 소스 출력 단자들과 출력 버퍼들 사이에 접속된 전압 보호회로들을 상세히 보여주는 또 다른 예시도면이다.
도 8에 도시된 소스 출력 단자(SOT)들, 출력 버퍼(OB)들, 테스트 출력 패드(TOP), 소스 출력 패드(SOP)들, 테스트 전압선(TL), 데이터선(DL)들, 제1 및 제2 구동전압선들(DVL1, DVL2), 제1 및 제2 구동전압 패드들(DVP1, DVP2)은 도 5를 결부하여 설명한 바와 실질적으로 동일하므로, 이들에 대한 자세한 설명은 생략한다.
도 8을 참조하면, 소스 출력 패드(SOP)들에 접속된 출력 단자(OT)들과 출력 버퍼(OB)들 사이에 접속된 전압 보호회로(VPC)들 각각은 제1 및 제2 다이오드들(D1, D2)을 포함한다. 소스 출력 패드(SOP)들에 접속된 출력 단자(OT)들과 출력 버퍼(OB)들 사이에 접속된 전압 보호회로(VPC)의 제1 다이오드(D1)는 제1 전원전압원(AVCC)과 출력 단자(OT) 사이에 접속되고 제2 다이오드(D2)는 제2 전원전압원(GND)과 출력 단자(OT) 사이에 접속된다. 즉, 소스 출력 패드(SOP)들에 접속된 출력 단자(OT)들과 출력 버퍼(OB)들 사이에 접속된 전압 보호회로(VPC)의 제1 다이오드(D1)의 애노드 전극은 제1 전원전압원(AVCC)에 접속되고 캐소드 전극은 출력 단자(OT)에 접속되며, 제2 다이오드(D2)의 애노드 전극은 출력 단자(OT)에 접속되고, 캐소드 전극은 제2 전원전압원(GND)에 접속될 수 있다. 제1 전원전압원(AVCC)으로부터 공급되는 제1 전원전압은 제2 전원전압원(GND)으로부터 공급되는 제2 전원전압보다 높은 레벨의 전압이다.
또한, 테스트 출력 패드(TOP)에 접속된 출력 단자(OT)와 출력 버퍼(OB) 사이에 접속된 전압 보호회로(VPC)는 제1 다이오드(D1)만을 포함한다. 테스트 출력 패드(TOP)에 접속된 출력 단자(OT)와 출력 버퍼(OB) 사이에 접속된 전압 보호회로(VPC)의 제1 다이오드(D1)는 제1 구동전압선(DVL1)과 출력 단자(OT) 사이에 접속된다. 즉, 테스트 출력 패드(TOP)에 접속된 출력 단자(OT)들과 출력 버퍼(OB)들 사이에 접속된 전압 보호회로(VPC)의 제1 다이오드(D1)의 애노드 전극은 제1 구동전압선(DVL1)에 접속되고 캐소드 전극은 출력 단자(OT)에 접속될 수 있다. 제1 구동전압선(DVL1)으로부터 공급되는 제1 구동전압은 제2 구동전압선(DVL2)으로부터 공급되는 제2 구동전압보다 높은 레벨의 전압이다.
이 경우, 제1 구동전압선(DVL1)과 테스트 전압선(TL)이 단락되더라도, 전압 보호회로(VPC)의 제1 다이오드(D1)는 제1 구동전압선(DVL1)에 접속되므로, 제1 구동전압선(DVL1)의 제1 구동전압은 변동되지 않는다. 결국, 제1 구동전압선(DVL1)이 테스트 전압선(TL)과 단락되더라도, 테스트 출력 패드(TOP)에 접속된 출력 단자(OT)와 출력 버퍼(OB) 사이에 접속된 전압 보호회로(VPC)에는 제1 구동전압이 공급되므로, 제1 구동전압선(DVL1)의 제1 구동전압은 변동되지 않는다. 그 결과, 본 발명의 실시 예는 제1 구동전압을 안정적으로 공급할 수 있다.
도 9는 도 3의 소스 출력 단자들과 출력 버퍼들 사이에 접속된 전압 보호회로들을 상세히 보여주는 또 다른 예시도면이다.
도 9에 도시된 소스 출력 단자(SOT)들, 출력 버퍼(OB)들, 테스트 출력 패드(TOP), 소스 출력 패드(SOP)들, 테스트 전압선(TL), 데이터선(DL)들, 제1 및 제2 구동전압선들(DVL1, DVL2), 제1 및 제2 구동전압 패드들(DVP1, DVP2)은 도 5를 결부하여 설명한 바와 실질적으로 동일하므로, 이들에 대한 자세한 설명은 생략한다.
도 9를 참조하면, 소스 출력 패드(SOP)들에 접속된 출력 단자(OT)들과 출력 버퍼(OB)들 사이에 접속된 전압 보호회로(VPC)들 각각은 제1 및 제2 다이오드들(D1, D2)을 포함한다. 소스 출력 패드(SOP)들에 접속된 출력 단자(OT)들과 출력 버퍼(OB)들 사이에 접속된 전압 보호회로(VPC)의 제1 다이오드(D1)는 제1 전원전압원(AVCC)과 출력 단자(OT) 사이에 접속되고 제2 다이오드(D2)는 제2 전원전압원(GND)과 출력 단자(OT) 사이에 접속된다. 즉, 소스 출력 패드(SOP)들에 접속된 출력 단자(OT)들과 출력 버퍼(OB)들 사이에 접속된 전압 보호회로(VPC)의 제1 다이오드(D1)의 애노드 전극은 제1 전원전압원(AVCC)에 접속되고 캐소드 전극은 출력 단자(OT)에 접속되며, 제2 다이오드(D2)의 애노드 전극은 출력 단자(OT)에 접속되고, 캐소드 전극은 제2 전원전압원(GND)에 접속될 수 있다. 제1 전원전압원(AVCC)으로부터 공급되는 제1 전원전압은 제2 전원전압원(GND)으로부터 공급되는 제2 전원전압보다 높은 레벨의 전압이다.
또한, 테스트 출력 패드(TOP)에 접속된 출력 단자(OT)와 출력 버퍼(OB) 사이에 접속된 전압 보호회로(VPC)는 제2 다이오드(D2)만을 포함한다. 테스트 출력 패드(TOP)에 접속된 출력 단자(OT)와 출력 버퍼(OB) 사이에 접속된 전압 보호회로(VPC)의 제2 다이오드(D2)는 제2 구동전압선(DVL2)과 출력 단자(OT) 사이에 접속된다. 즉, 테스트 출력 패드(TOP)에 접속된 출력 단자(OT)들과 출력 버퍼(OB)들 사이에 접속된 전압 보호회로(VPC)의 제2 다이오드(D2)의 애노드 전극은 출력 단자(OT)에 접속되고 캐소드 전극은 제2 구동전압선(DVL2)에 접속될 수 있다. 제1 구동전압선(DVL1)으로부터 공급되는 제1 구동전압은 제2 구동전압선(DVL2)으로부터 공급되는 제2 구동전압보다 높은 레벨의 전압이다.
이 경우, 제2 구동전압선(DVL2)과 테스트 전압선(TL)이 단락되더라도, 전압 보호회로(VPC)의 제2 다이오드(D2)는 제2 구동전압선(DVL2)에 접속되므로, 제2 구동전압선(DVL2)의 제2 구동전압은 변동되지 않는다. 결국, 제2 구동전압선(DVL2)이 테스트 전압선(TL)과 단락되더라도, 테스트 출력 패드(TOP)에 접속된 출력 단자(OT)와 출력 버퍼(OB) 사이에 접속된 전압 보호회로(VPC)에는 제2 구동전압이 공급되므로, 제2 구동전압선(DVL1)의 제2 구동전압은 변동되지 않는다. 그 결과, 본 발명의 실시 예는 제2 구동전압을 안정적으로 공급할 수 있다.
도 10은 도 3의 소스 출력 단자들과 출력 버퍼들 사이에 접속된 전압 보호회로들을 상세히 보여주는 또 다른 예시도면이다.
도 10에 도시된 소스 출력 단자(SOT)들, 출력 버퍼(OB)들, 테스트 출력 패드(TOP), 소스 출력 패드(SOP)들, 테스트 전압선(TL), 데이터선(DL)들, 제1 및 제2 구동전압선들(DVL1, DVL2), 제1 및 제2 구동전압 패드들(DVP1, DVP2)은 도 5를 결부하여 설명한 바와 실질적으로 동일하므로, 이들에 대한 자세한 설명은 생략한다.
도 10을 참조하면, 전압 보호회로(VPC)들은 소스 출력 패드(SOP)들에 접속된 출력 단자(OT)들과 출력 버퍼(OB)들 사이에 접속된다. 전압 보호회로(VPC)는 테스트 출력 패드(TOP)에 접속된 출력 단자(OT)와 출력 버퍼(OB) 사이에는 접속되지 않는다. 전압 보호회로(VPC)들은 제1 및 제2 다이오드들(D1, D2)을 포함한다. 소스 출력 패드(SOP)들에 접속된 출력 단자(OT)들과 출력 버퍼(OB)들 사이에 접속된 전압 보호회로(VPC)의 제1 다이오드(D1)는 제1 전원전압원(AVCC)과 출력 단자(OT) 사이에 접속되고 제2 다이오드(D2)는 제2 전원전압원(GND)과 출력 단자(OT) 사이에 접속된다. 즉, 소스 출력 패드(SOP)들에 접속된 출력 단자(OT)들과 출력 버퍼(OB)들 사이에 접속된 전압 보호회로(VPC)의 제1 다이오드(D1)의 애노드 전극은 제1 전원전압원(AVCC)에 접속되고 캐소드 전극은 출력 단자(OT)에 접속되며, 제2 다이오드(D2)의 애노드 전극은 출력 단자(OT)에 접속되고, 캐소드 전극은 제2 전원전압원(GND)에 접속될 수 있다. 제1 전원전압원(AVCC)으로부터 공급되는 제1 전원전압은 제2 전원전압원(GND)으로부터 공급되는 제2 전원전압보다 높은 레벨의 전압이다.
전압 보호회로(VPC)는 테스트 출력 패드(TOP)에 접속된 출력 단자(OT)와 출력 버퍼(OB) 사이에 접속되지 않기 때문에, 제1 및 제2 구동전압선들(DVL1, DVL2) 중 어느 하나가 테스트 전압선(TL)과 단락되더라도, 테스트 출력 패드(TOP)에 접속된 출력 단자(OT)와 출력 버퍼(OB) 사이에 접속된 전압 보호회로(VPC)에는 제1 및 제2 구동전압들이 공급되므로, 제1 및 제2 구동전압선들(DVL1, DVL2)의 제1 및 제2 구동전압들은 변동되지 않는다. 그 결과, 본 발명의 실시 예는 제1 및 제2 구동전압들을 안정적으로 공급할 수 있다.
도 11은 도 3의 소스 출력 단자들과 출력 버퍼들 사이에 접속된 전압 보호회로들을 상세히 보여주는 또 다른 예시도면이다.
도 11에 도시된 소스 출력 단자(SOT)들, 출력 버퍼(OB)들, 테스트 출력 패드(TOP), 소스 출력 패드(SOP)들, 테스트 전압선(TL), 데이터선(DL)들, 제1 및 제2 구동전압선들(DVL1, DVL2), 제1 및 제2 구동전압 패드들(DVP1, DVP2)은 도 5를 결부하여 설명한 바와 실질적으로 동일하므로, 이들에 대한 자세한 설명은 생략한다.
도 11을 참조하면, 전압 보호회로(VPC)들은 제1 및 제2 다이오드들(D1, D2)을 포함한다. 전압 보호회로(VPC)들 각각의 제1 다이오드(D1)는 제1 전원전압원(AVCC)과 출력 단자(OT) 사이에 접속되고 제2 다이오드(D2)는 제2 전원전압원(GND)과 출력 단자(OT) 사이에 접속된다. 즉, 전압 보호회로(VPC)들 각각의 제1 다이오드(D1)의 애노드 전극은 제1 전원전압원(AVCC)에 접속되고 캐소드 전극은 출력 단자(OT)에 접속되며, 제2 다이오드(D2)의 애노드 전극은 출력 단자(OT)에 접속되고, 캐소드 전극은 제2 전원전압원(GND)에 접속될 수 있다. 제1 전원전압원(AVCC)으로부터 공급되는 제1 전원전압은 제2 전원전압원(GND)으로부터 공급되는 제2 전원전압보다 높은 레벨의 전압이다.
또한, 본 발명의 실시 예는 테스터 전압선(TL)은 테스트 출력 패드(SOP)와 제1 및 제2 구동전압선(DVL1, DVL2)들과 교차되는 지점 사이에서 단선된다. 이로 인해, 제1 및 제2 구동전압선들(DVL1, DVL2) 중 어느 하나가 테스트 전압선(TL)과 단락되더라도, 제1 및 제2 구동전압선들(DVL1, DVL2)의 제1 및 제2 구동전압들은 변동되지 않는다. 그 결과, 본 발명의 실시 예는 제1 및 제2 구동전압들을 안정적으로 공급할 수 있다.
한편, 본 발명의 실시 예는 테스트 공정에서 테스트 전압들을 측정하기 위해 테스트 지그들을 테스트 패드(TP)들에 접속한다. 이 경우, 본 발명의 실시 예는 테스트 전압선(TL)의 단선된 부분을 레이저 공정을 통해 접속시킨다. 그 결과, 본 발명의 실시 예는 테스트 공정에서 테스트 출력 패드(SOP)로부터 출력되는 테스트 전압을 테스트 전압선(TL)을 통해 테스트 패드(TP)에 접속된 테스트 지그에 공급할 수 있다.
이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.
10: 표시패널 20, 20A, 20B: 주사 구동부
30, 30A, 30B: 소스 드라이브 IC 40: 타이밍 제어부
50: 전원 공급원 SIP: 소스 입력 패드
SOP: 소스 출력 패드 SSP: 신호 공급 패드
TOP: 테스트 출력 패드 TP: 테스트 패드
DVP1: 제1 구동전압 패드 DVP2: 제2 구동전압 패드
DVL1: 제 구동전압선 DVL2: 제2 구동전압선
VPC: 전압 보호회로 OB: 출력 버퍼
OT: 출력 단자

Claims (20)

  1. 소스 타이밍 제어신호와 디지털 비디오 데이터에 따라 데이터 전압들을 생성하는 소스 구동회로;
    상기 소스 구동회로로부터의 상기 데이터 전압들을 출력 단자들로 출력하는 출력 버퍼들; 및
    상기 출력 버퍼들 및 상기 출력 단자들 사이에 접속된 전압 보호회로들을 포함하고,
    상기 전압 보호회로들 중 어느 하나에 공급되는 전압은 나머지 전압 보호회로들 각각에 공급되는 전압과 상이한 것을 특징으로 하는 소스 드라이브 집적회로.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 전압 보호회로들 각각은 제1 및 제2 다이오드들을 포함하는 것을 특징으로 하는 소스 드라이브 집적회로.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 전압 보호회로들 중 어느 하나의 제1 다이오드에 공급되는 전압은 상기 나머지 전압 보호회로들 각각의 제1 다이오드에 공급되는 전압과 상이한 것을 특징으로 하는 소스 드라이브 집적회로.
  4. 제 2 항에 있어서,
    상기 전압 보호회로들 중 어느 하나의 제2 다이오드에 공급되는 전압은 상기 나머지 전압 보호회로들 각각의 제2 다이오드에 공급되는 전압과 상이한 것을 특징으로 하는 소스 드라이브 집적회로.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 나머지 전압 보호회로들 각각은 제1 및 제2 다이오드들을 포함하고,
    상기 전압 보호회로들 중 어느 하나는 상기 제1 다이오드를 포함하는 것을 특징으로 하는 소스 드라이브 집적회로.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 전압 보호회로들 중 어느 하나의 제1 다이오드에 공급되는 전압은 상기 나머지 전압 보호회로들 각각의 제1 다이오드에 공급되는 전압과 상이한 것을 특징으로 하는 소스 드라이브 집적회로.
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 나머지 전압 보호회로들 각각은 제1 및 제2 다이오드들을 포함하고,
    상기 전압 보호회로들 중 어느 하나는 상기 제2 다이오드를 포함하는 것을 특징으로 하는 소스 드라이브 집적회로.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 전압 보호회로들 중 어느 하나의 제2 다이오드에 공급되는 전압은 상기 나머지 전압 보호회로들 각각의 제2 다이오드에 공급되는 전압과 상이한 것을 특징으로 하는 소스 드라이브 집적회로.
  9. 데이터선들, 주사선들 및 데이터선들과 주사선들의 교차영역에 형성되는 화소들이 형성되는 표시패널;
    상기 데이터선들에 데이터전압들을 공급하는 적어도 하나의 소스 드라이브 IC; 및
    상기 주사선들에 주사신호들을 공급하는 주사 구동회로를 포함하고,
    상기 소스 드라이브 IC는,
    소스 타이밍 제어신호와 디지털 비디오 데이터에 따라 데이터 전압들을 생성하는 소스 구동회로;
    상기 소스 구동회로로부터의 상기 데이터 전압들을 출력 단자들로 출력하는 출력 버퍼들; 및
    상기 출력 버퍼들 및 상기 출력 단자들 사이에 접속된 전압 보호회로들을 포함하고,
    상기 전압 보호회로들 중 어느 하나에 공급되는 전압은 나머지 전압 보호회로들 각각에 공급되는 전압과 상이한 것을 특징으로 하는 표시장치.
  10. 제 9 항에 있어서,
    상기 전압 보호회로들 각각은 제1 및 제2 다이오드들을 포함하는 것을 특징으로 하는 표시장치.
  11. 제 10 항에 있어서,
    상기 전압 보호회로들 중 어느 하나의 제1 다이오드에 공급되는 전압은 상기 나머지 전압 보호회로들 각각의 제1 다이오드에 공급되는 전압과 상이한 것을 특징으로 하는 표시장치.
  12. 제 10 항에 있어서,
    상기 전압 보호회로들 중 어느 하나의 제2 다이오드에 공급되는 전압은 상기 나머지 전압 보호회로들 각각의 제2 다이오드에 공급되는 전압과 상이한 것을 특징으로 하는 표시장치.
  13. 제 9 항에 있어서,
    상기 나머지 전압 보호회로들 각각은 제1 및 제2 다이오드들을 포함하고,
    상기 전압 보호회로들 중 어느 하나는 상기 제1 다이오드를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시장치.
  14. 제 13 항에 있어서,
    상기 전압 보호회로들 중 어느 하나의 제1 다이오드에 공급되는 전압은 상기 나머지 전압 보호회로들 각각의 제1 다이오드에 공급되는 전압과 상이한 것을 특징으로 하는 표시장치.
  15. 제 9 항에 있어서,
    상기 나머지 전압 보호회로들 각각은 제1 및 제2 다이오드들을 포함하고,
    상기 전압 보호회로들 중 어느 하나는 상기 제2 다이오드를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시장치.
  16. 제 15 항에 있어서,
    상기 전압 보호회로들 중 어느 하나의 제2 다이오드에 공급되는 전압은 상기 나머지 전압 보호회로들 각각의 제2 다이오드에 공급되는 전압과 상이한 것을 특징으로 하는 표시장치.
  17. 제 9 항에 있어서,
    상기 표시패널은,
    구동전압 패드들, 테스트 패드 및 테스트 출력 패드;
    상기 구동전압 패드들과 상기 주사 구동부를 연결하는 구동전압선들; 및
    상기 테스트 패드와 상기 테스트 출력 패드를 연결하는 테스트 전압선을 포함하고,
    상기 구동전압선들과 상기 테스트 전압선은 서로 교차하는 것을 특징으로 하는 표시장치.
  18. 제 17 항에 있어서,
    상기 소스 드라이브 IC는 상기 구동 전압선들 상에 위치하는 것을 특징으로 하는 표시장치.
  19. 제 18 항에 있어서,
    상기 소스 드라이브 IC는 칩 온 글라스 또는 칩 온 플라스틱 방식으로 상기 표시패널에 접착되는 것을 특징으로 하는 표시장치.
  20. 제 17 항에 있어서,
    상기 표시패널은,
    신호 공급 패드들;
    상기 소스 드라이브 IC의 입력 단자들에 접속되는 소스 입력 패드들;
    상기 소스 입력 패드들과 상기 신호 공급 패드들을 접속하는 신호 입력 공급선들; 및
    상기 소스 드라이브 IC의 출력 단자들에 접속되고, 상기 데이터선들에 접속된 소스 출력 패드들을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시장치.
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