CN204964956U - 一种阵列基板及显示面板 - Google Patents

Abstract

一种阵列基板及显示面板，涉及半导体集成电路技术领域，阵列基板包括显示区和非显示区，至少一个短路棒组设置于所述非显示区，每个所述短路棒组包括多条短路棒，至少一个桥接衬垫设置于所述非显示区，所述桥接衬垫包括层叠设置的金属衬垫层、绝缘层和短路棒衬垫层，所述短路棒衬垫层包括多个相互独立的短路棒衬垫；所述短路棒衬垫和所述短路棒组的各短路棒一一对应设置并且电连接。显示面板，包括如上所述的一种阵列基板、与所述阵列基板相对设置的彩膜基板、以及位于所述阵列基板和所述彩膜基板间的液晶层。本实用新型的阵列基板可辅助现有的检测仪器快速检测出是否存在因多条测试导线未被激光切断而引起画面显示品质出现问题的情况。

Description

一种阵列基板及显示面板

技术领域

本实用新型实施例涉及显示技术领域，尤其涉及一种阵列基板及显示面板。

背景技术

现有技术的液晶显示面板大多使用非晶硅栅极驱动方式，由于非晶硅电子迁移率较低，当显示屏大于5寸，解析度大于FHD时(FullHighDefinition，全高清)，一般采用设置短路棒方式进行显示屏纯画面检测，在所述短路棒上输入测试信号并通过相应的元件传输到有效显示部分的扫描线及数据线上，进而检测有效显示部分所显示出来画面的品质。

例如，当像素单元为RGB排列时，短路棒一般包括R短路棒、G短路棒和B短路棒，RGB像素单元和短路棒之间设置有多条测试导线。多条数据线分别通过对应的测试导线连接到对应的短路棒，其中，连接至同一短路棒的数据线对应于显示同一颜色的像素单元。检测完成后，会用激光将RGB像素单元和短路棒之间的测试导线切断。但是如果有异物在玻璃上或者激光切割不完全时，则可能出现部分测试导线没有被切断的情况，那么在显示屏正常工作时就可能出现显示画面异常，降低显示品质。

实用新型内容

本实用新型提供一种阵列基板和显示面板，可辅助现有的检测仪器快速检测出是否存在因多条测试导线未被激光切断而引起画面显示品质出现问题的情况。

为实现上述目的，本实用新型提供的技术方案如下：

一种阵列基板包括显示区和非显示区；

至少一个短路棒组，设置于所述非显示区，每个所述短路棒组包括多条短路棒；

至少一个桥接衬垫，设置于所述非显示区，所述桥接衬垫包括层叠设置的金属衬垫层、绝缘层和短路棒衬垫层，所述短路棒衬垫层包括多个相互独立的短路棒衬垫；

所述短路棒衬垫和所述短路棒组的各短路棒一一对应设置并且电连接。

相应地，本实用新型还提供一种显示面板，包括如上所述的一种阵列基板；

与所述阵列基板相对设置的彩膜基板，

以及位于所述阵列基板和所述彩膜基板间的液晶层。

相较于现有技术，本实用新型提供的技术方案至少具体以下优点：

本实用新型的阵列基板和显示面板，可辅助现有的检测仪器快速检测出是否存在因多条测试导线未被激光切断而引起画面显示品质出现问题的情况。具体是：进行显示面板检测后，在使用激光将测试导线和桥接衬垫切断的过程中，由于有异物在玻璃上、激光切割不完全或者其他原因，出现部分测试导线没有被切断的情况。桥接衬垫受激光切割后，所述多个短路棒衬垫和所述金属衬垫层熔融相互电连接，所述多条短路棒通过所述桥接衬垫相互电连接，即多个相互独立的短路棒之间形成导电通路。当显示面板正常工作时，由于多条测试导线未被激光切断，高电平信号会从其中一条测试导线进入与其电连接的短路棒，接着进入与该短路棒连接的短路棒衬垫，接着由该短路棒衬垫进入其它的短路棒衬垫，接着进入与其它的短路棒衬垫电连接的短路棒，最后进入未被激光切断的的测试导线。这样由于未被激光切断的测试导线通有高电平信号，会出现信号相互干扰，最后导致显示的画面出现异常，通过本实用新型提供的一种阵列基板可辅助现有的检测仪器快速检测出是否存在因多条测试导线未被激光切断而引起画面显示品质出现问题的情况。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例中描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是实施例1的激光切割前阵列基板的俯视图。

图2是实施例1的激光切割后阵列基板的俯视图。

图3是图1的M——M`处的截面示意图。

图4是图1的N——N`处的截面示意图。

图5是实施例2的激光切割前阵列基板的俯视图。

图6是实施例3的激光切割后阵列基板的俯视图。

图7是实施例4的桥接衬垫的结构示意图。

图8是实施例1的显示面板的结构示意图。

图中包括有：

A——第一短路棒组、A1——R短路棒、A2——G短路棒、A3——B短路棒；

B——第二短路棒组、B1——R短路棒、B2——G短路棒、B3——B短路棒；

C——第一桥接衬垫、C1——金属衬垫层、C2——绝缘层、C31——R短路棒衬垫、C32——G短路棒衬垫、C33——B短路棒衬垫；

D——第二桥接衬垫、D1——金属衬垫层、D2——绝缘层、D31——R短路棒衬垫、D32——G短路棒衬垫、D33——B短路棒衬垫；

5——测试导线；

61——R像素、62——G像素、63——B像素；

7——未被激光切断的测试导线；

8——衬底；

9——显示区；

10——非显示区；

H——激光的切割路径；

100——阵列基板；

200——液晶层；

300——彩膜基板。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

实施例1

本实施例所提供的一种阵列基板，如图1至图4所示，其包括：

显示区9和非显示区10。所述显示区9包括多条扫描线和多条数据线(图中未标示)，所述多条扫描线和多条数据线绝缘相交形成多个呈行阵列排列的像素单元61、62、63，所述多个像素单元分61、62、63为显示不同的颜色的像素单元(61代表R像素，62代表G像素和63代表B像素)。

两个短路棒组，分别是第一短路棒组A和第二短路棒组B，设置于所述非显示区10。第一短路棒组A包括三条短路棒，分别是R短路棒A1、G短路棒A2和B短路棒A3，第二短路棒组B包括三条短路棒，分别是R短路棒B1、G短路棒B2和B短路棒B3。所述像素单元61、62、63和所述第一短路棒组A、第二短路棒组B之间分别设置有多条测试导线5，所述多条数据线(未示出)分别通过对应的测试导线5连接到对应的短路棒，其中，连接至同一短路棒的数据线(未示出)对应于显示同一颜色的像素单元。

两个桥接衬垫，分别是第一桥接衬垫C和第二桥接衬垫D，设置于所述非显示区10。如图4所示，所述第一桥接衬垫C设置于阵列基板的衬底8上，包括层叠设置的金属衬垫层C1、绝缘层C2和短路棒衬垫层C3，所述短路棒衬垫层C3包括三个相互独立的短路棒衬垫，分别是R短路棒衬垫C31、G短路棒衬垫C32和B短路棒衬垫C33。如图3所示，所述第二桥接衬垫D设置于阵列基板的衬底8上，包括层叠设置的金属衬垫层D1、绝缘层D2和短路棒衬垫层D3，所述短路棒衬垫层D3包括三个相互独立的短路棒衬垫，分别是R短路棒衬垫D31、G短路棒衬垫D32和B短路棒衬垫D33。本实施例显示面板的像素采用传统的RGB排列，因此短路棒衬垫为RGB排列；但短路棒衬垫并不局限于本实施例的RGB排列，当显示面板的像素采用RGBW排列时，短路棒衬垫可以是RGBW排列；当显示面板的像素采用其他排列时，短路棒衬垫还可以为其他排列，在此不作限制。

所述第一桥接衬垫C与第一短路棒组A对应电连接，具体地，所述R短路棒衬垫C31与R短路棒A1电连接，所述G短路棒衬垫C32与G短路棒A2电连接，所述B短路棒衬垫C33与B短路棒A3电连接，所述R短路棒衬垫C31、G短路棒衬垫C32和B短路棒衬垫C33均设于激光切割路径上，受激光切割后，所述R短路棒衬垫C31和所述金属衬垫层C1熔融相互电连接，所述G短路棒衬垫C32和所述金属衬垫层C1熔融电连接，所述B短路棒衬垫C33和所述金属衬垫层C1电连接。

所述第二桥接衬垫D与第二短路棒组B对应电连接，具体地，所述R短路棒衬垫D31与R短路棒B1电连接，所述G短路棒衬垫D32与G短路棒B2电连接，所述B短路棒衬垫D33与B短路棒B3电连接，所述R短路棒衬垫D31、G短路棒衬垫D32和B短路棒衬垫D33均设于激光切割路径上，受激光切割后，所述R短路棒衬垫D31和所述金属衬垫层D1熔融相互电连接，所述G短路棒衬垫D32和所述金属衬垫层D1熔融电连接，所述B短路棒衬垫D33和所述金属衬垫层D1电连接。

本实施例中，以第二桥接衬垫D为例，所述短路棒衬垫D31、D32、D33在所述金属衬垫层D1上的正投影均落在所述金属衬垫层D1上，并且每个所述短路棒衬垫在激光切割方向上的长度大于64微米。此时，所述桥接衬垫的导通阻抗为百欧级别，阻抗较小，可满足R短路棒D31、G短路棒D32和B短路棒33的导通要求。第一桥接衬垫C的结构与第二桥接衬垫D相类似，在此不再赘述。

本实施例阵列基板，可辅助现有的检测仪器快速检测出是否存在因多条测试导线未被激光切断而引起画面显示品质出现问题的情况。具体是：进行显示面板检测后，在使用激光将测试导线切断的过程中，因为所述第一桥接衬垫C和所述第二桥接衬垫D受激光切割后，所述第一桥接衬垫C的三个短路棒衬垫C31、C32、C33和所述金属衬垫层C1熔融相互电连接，所述第一短路棒组A的三条短路棒A1、A2、A3通过所述第一桥接衬垫C相互电连接，即三个相互独立的短路棒之间形成导电通路。当有多条测试导线未被激光切断时，将被检测出来。如图2所示，在显示面板完成VT测试后沿H路径将测试导线切断，但存在未被激光切断的测试导线7(三条分别连接R像素61、G像素62及B像素63的测试导线)，当显示纯色画面红色时，IC输出高电平信号至R像素61，而G像素62和B像素63为低电平信号，高电平信号会从与R像素61连接的测试导线进入与其电连接的R短路棒A1，接着进入与R短路棒A1连接的R短路棒衬垫C31，接着由R短路棒衬垫C31进入G短路棒衬垫C32和B短路棒衬垫C33，接着进入与G短路棒衬垫C32和B短路棒衬垫C33分别电连接的G短路棒A2和B短路棒A3，最后进入G像素62连接的测试导线和B像素63连接的测试导线，这样由于三条测试导线均通有高电平信号，相互之间会出现信号相互干扰，最后导致显示的画面出现异常。通过本实施例提供的一种阵列基板就可辅助现有的检测仪器快速检测出是否存在因多条测试导线未被激光切断而引起画面显示品质出现问题的情况，这样，多条测试导线没有被切断的阵列基板就可于电测纯色画面得到有效拦截(即从R、G、B画面垂直线是否有缺陷可看出)，检测信号无需通过外部再输入，检验画面也无需新增，因此，可节省制程成本和检测成本。

本实施例中设置了两个短路棒组，可使得每根短路棒降低负载，在其他实施例中也可以设置一个或者多个短路棒组。

本实施例中，所述第一桥接衬垫C位于所述多条测试导线的左侧,所述第二桥接衬垫D位于所述多条测试导线的右侧，并且所述第一桥接衬垫C和所述第二桥接衬垫D也位于所述像素单元和所述短路棒组之间。

本实施例中，所述两个短路棒组在所述非显示区从靠近所述显示区到远离所述显示区的方向依次排列。

相应地，如图8所示，本实施例还提供一种显示面板，包括如上所述的一种阵列基板100；

与所述阵列基板相对设置的彩膜基板200，

以及位于所述阵列基板100和所述彩膜基板200间的液晶层300。

实施例2

本实施例的其他结构与实施例1相同，不同之处在于：如图5所示，只包括一个第一短路棒组A和一个第一桥接衬垫C。当阵列基板的空间不足以放置很多的短路棒组和桥接衬垫时，只放置一个短路棒组和一个桥接衬垫也可以实现辅助现有的检测仪器快速检测出是否存在多条测试导线未被激光切断而引起画面显示品质出现问题的情况。

实施例3

本实施例的其他结构与实施例1相同，不同之处在于：如图6所示，包括一个第一短路棒组A和两个桥接衬垫，分别是第一桥接衬垫C和第二桥接衬垫D。

一个短路棒组可节省占用空间。两个桥接衬垫可提高激光切割的有效性，当第一桥接衬垫C被激光切割后金属衬垫层C1和短路棒衬垫层不能实现电连接时，依靠另一个第二桥接衬垫D被激光切割后金属衬垫层D1和短路棒衬垫层可以实现电连接就可达到测试的目的。当然，桥接衬垫的个数也可以为两个以上，本实用新型对此不作限制。

实施例4

本实施例的其他结构与实施例1相同，不同之处在于：如图7所示，所述第二桥接衬垫D包括位于所述衬底8上的短路棒衬垫层D3、位于所述短路棒衬垫层D3上的绝缘层D2、位于所述绝缘层D2上的金属衬垫层D1，桥接衬垫的哪一层位于衬底8是根据实际情况设置，以能够减少桥接为准。

以上对本实用新型实施例所提供的一种阵列基板和使用该阵列基板的显示面板进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本实用新型的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本实用新型的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本实用新型的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本实用新型的限制。

Claims (10)

1.一种阵列基板，其特征在于，包括显示区和非显示区；

至少一个短路棒组，设置于所述非显示区，每个所述短路棒组包括多条短路棒；

至少一个桥接衬垫，设置于所述非显示区，所述桥接衬垫包括层叠设置的金属衬垫层、绝缘层和短路棒衬垫层，所述短路棒衬垫层包括多个相互独立的短路棒衬垫；

所述短路棒衬垫和所述短路棒组的各短路棒一一对应设置并且电连接。

2.如权利要求1所述的一种阵列基板，其特征在于：所述桥接衬垫受激光切割后，所述多个短路棒衬垫和所述金属衬垫层熔融相互电连接，所述多条短路棒通过所述桥接衬垫相互电连接。

3.如权利要求1所述的一种阵列基板，其特征在于：所述显示区包括多条扫描线和多条数据线，所述多条扫描线和多条数据线绝缘相交形成多个呈行阵列排列的像素单元，所述多个像素单元分为显示不同的颜色的像素单元；

所述像素单元和所述短路棒组之间设置有多条测试导线；

所述多条数据线分别通过对应的测试导线连接到对应的短路棒，其中，连接至同一短路棒的数据线对应于显示同一颜色的像素单元。

4.如权利要求3所述的一种阵列基板，其特征在于：所述桥接衬垫位于所述多条测试导线的左侧或者右侧，并且所述桥接衬垫也位于所述像素单元和所述短路棒组之间。

5.如权利要求1所述的一种阵列基板，其特征在于：包括多个桥接衬垫，所述各桥接衬垫的短接路衬垫和所述短路棒组的各短路棒一一对应设置并且电连接。

6.如权利要求1所述的一种阵列基板，其特征在于：包括多个短路棒组，所述多个短路棒组在所述非显示区从靠近所述显示区到远离所述显示区的方向依次排列。

7.如权利要求6所述的一种阵列基板，其特征在于：对应每个所述短路棒组，至少设置有一个所述桥接衬垫。

8.如权利要求1所述的一种阵列基板，其特征在于：所述阵列基板包括衬底，所述桥接衬垫包括位于所述衬底上的金属衬垫层、位于所述金属衬垫层上的绝缘层、位于所述绝缘层上的短路棒衬垫层；或者，所述桥接衬垫包括位于所述衬底上的短路棒衬垫层、位于所述金属衬垫层上的绝缘层、位于所述绝缘层上的金属衬垫层。

9.如权利要求1所述的一种阵列基板，其特征在于：所述短路棒衬垫在所述金属衬垫层上的正投影均落在所述金属衬垫层上，并且每个所述短路棒衬垫在激光切割方向上的长度大于64微米。

10.一种显示面板，其特征在于，包括：权利要求1至9任一项所述的一种阵列基板；

与所述阵列基板相对设置的彩膜基板，

以及位于所述阵列基板和所述彩膜基板间的液晶层。