CN1731205B - 平面显示装置的测试线路 - Google Patents

Abstract

一种平面显示装置的测试线路，其包括一基板、多个像素结构、多条信号线路以及多组短路条。其中，基板具有至少一扫描信号侧、至少一数据信号侧与一像素区域。像素结构形成于像素区域中，且该多个像素结构中每一个具有n个子像素，其中n为正整数。信号线路形成于基板上，且对应连接到子像素。多组短路条中的每一组形成于该至少一扫描信号侧与该至少一数据信号侧二者其中之一，且电连接到信号线路。

Description

平面显示装置的测试线路

技术领域

本发明是有关于一种平面显示装置的测试线路，且特别是有关于一种可分组测试平面显示装置基板(substrate)上的信号线路(signal line)与像素(pixel)的测试线路。

背景技术

目前的平面显示装置(FPD)种类繁多，如液晶显示装置(LCD)、有机电致发光显示装置(OLED)以及等离子体显示装置(PDP)等。然而，不论是何种平面显示装置，在其显示面板制作时皆须对其信号线路(例如扫描线路(scan line)与数据线路(data line))与像素进行测试，以确定所制作出来的平面显示装置能正常运作。

显示面板上的信号线路与像素的测试方式有全接点(full contact)与短路条(shorting bar)两种。虽然全接点测试可以针对每一条信号线路与每一个像素进行测试，但是其需要的测试机台与探针(probe)花费很多。所以，一般测试方式采用短路条测试。

图1表示为美国专利第5,852,480号所公开的一种采用短路条测试方式的液晶显示装置的测试线路。请参照图1，扫描线路11a-11b以及数据线路12a-12b交叉形成于液晶显示装置的基板10上。每一个扫描线线路与数据线路交叉处即配置一像素结构(pixel structure)13。在图1中以单色液晶显示装置为例，因此每一个像素结构13包括一薄膜晶体管(thin-filmtransistor)TFT、一像素电极(pixel electrode)PE以及一存储电容Cst，其中薄膜晶体管TFT连接至扫描线路与数据线路。

短路条14连接至奇数条扫描线路11a的一端，短路条15连接至偶数条扫描线路11b的一端。当测试信号经由测试点G/O输入到短路条14时，可以在奇数条扫描线路11a的另一端接收测试结果，当测试信号经由测试点G/E输入到短路条15时，可以在偶数条扫描线路11b的另一端接收测试结果。同样地，短路条16与17分别连接至奇数条数据线路12a与偶数条数据线路12b，以提供奇数条与偶数条数据线路的测试。利用短路条14-17可以对信号线路11a-11b与12a-12b或像素13分组并进行测试。

在完成测试后，一般会利用激光将短路条14-17与基板10a上信号线路之间的电连接断开，甚至于可能需要将基板10a以外的部份切除而只剩下基板10a。不过，在如美国专利第6,100,949号所公开的发明中，在短路条与信号线路之间加上开关组件。开关组件在需要测试信号线路或像素时，使短路条到信号线路为导通，而在完成测试后，使短路条到信号线路为断开，因此过程不需要多出一道切除的步骤，而代价是可能增加液晶显示装置的大小。

图2表示为美国专利第6,392,719号所公开的另一种采用短路条测试方式的液晶显示装置的测试线路。请参照图2，在图2中以彩色液晶显示装置为例，因此每一个像素结构23譬如包括三个子像素，即红色、绿色与蓝色子像素，其中每一个子像素包括一薄膜晶体管TFT、一像素电极PE以及一存储电容Cst。

此外，液晶显示装置的基板20与图1的基板10极为类似，其不同点在于基板10将数据线路分成奇数与偶数两组测试(因此需要短路条16-17)，而基板20则将数据线路分成红色、绿色与蓝色三组测试(因此需要短路条26-28)。这样一来，可以在液晶显示面板上针对红色、绿色与蓝色子像素的显示特性进行测试。

为了方便说明，一般称图1的短路条设计方式为2G2D，而称图2的短路条设计方式为2G3D。尚有其它的短路条设计，例如美国专利第6,246,074号或第6,801,265号等，多以2G2D或2G3D为基础进行改良。由于对平面显示装置的显示品质要求越来越高，公知的短路条设计方式无法提供譬如窗口(window)或彩条(color-bar)等更多的测试型样(test pattern)，以进行诸如串扰(crosstalk)等判定且同时又能兼顾闪烁(flicker)判定，徒增不良品出厂的风险。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的就是在提供一种平面显示装置的测试线路，提供更多样的画面测试型样，以进行诸如串扰等判定，同时又能兼顾闪烁判定，减少不良品出厂的风险。

基于上述及其它目的，本发明提出一种平面显示装置的测试线路，其包括基板、多个像素结构、多条信号线路以及多组短路条。在测试线路中，基板具有至少一扫描信号侧、至少一数据信号侧与像素区域。像素结构形成于像素区域中，且每一个像素结构具有n个子像素，其中n为正整数。信号线路形成于基板上，且对应连接于该多个子像素。多组短路条形成于该至少一扫描信号侧与该至少一数据信号侧二者其中之一，且电连接到信号线路。在一实施例中，信号线路包括数据线路或扫描线路。另外，每组短路条具有p个短路条，且每组短路条电连接到p×m条数据线路，而p＝k×n，其中m为正整数且k为1或2。

在一实施例中，测试线路还包括偶数条汇流数据短路条与多个测试点，其形成于该至少一数据信号侧中，且测试点对应连接于该多个偶数条汇流数据短路条以及分别与该多个短路条电连接。此外，成组短路条中的该多个p个短路条分别电连接到该多个偶数条汇流数据短路条。

在一实施例中，测试线路还包括奇数条汇流数据短路条与多个测试点，其形成于该至少一数据信号侧中，且测试点对应连接于该多个奇数条汇流数据短路条以及分别与该多个短路条电连接。此外，成组短路条中的该多个p个短路条分别电连接到该多个奇数条汇流数据短路条。

从另一观点来看，本发明提出另一种平面显示装置的测试线路，其包括基板、多个像素结构、多条数据线路、多条扫描线路以及多组短路条。在测试线路中，基板具有至少一扫描信号侧与像素区域。像素结构形成于像素区域中，且每一个像素结构具有n个子像素，其中n为正整数。数据线路形成于基板上且对应连接于该多个子像素，而扫描线路形成于基板上且交错于数据线路。扫描成组短路条形成于该至少一扫描信号侧中，且分别电连接到该多个扫描线路。在一实施例中，每一组扫描短路条具有p’个短路条，且每一组扫描短路条电连接到p’×m’条扫描线路，其中p’大于或等于2，且m为正整数。另外，测试线路可以还包括至少一数据信号侧，其形成于基板上，且该至少一数据信号侧具有多组数据短路条，并电连接到该多个数据线路。在一实施例中，每一组数据短路条具有p个短路条，且每一组数据短路条电连接到p×m条数据线路，而p＝k×n，其中m为正整数，且k为1或2。

综上所述，本发明因采用分组且断开的短路条，因此可针对每组短路条(即每组短路条)输入测试信号，以提供更多样的画面测试型样以进行诸如串扰等判定，同时又能兼顾闪烁判定，减少不良品出厂的风险。

为让本发明的上述和其它目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。

附图说明

图1表示为一种公知的液晶显示装置的测试线路，其采用一种短路条测试方式(2G2D)。

图2表示为一种公知的液晶显示装置的测试线路，其采用另一种短路条测试方式(2G3D)。

图3为依照本发明一较佳实施例所表示的液晶显示装置的测试线路。

图4表示为图3的数据信号侧的另一实施例。

图5A-图5D为图3的数据信号侧的其它实施例。

主要组件符号说明

10、10a、20、20a、300、300a：基板

11a、11b、311-315：扫描线路

12a、12b、22a、22b、22c、321-328：数据线路

13、23：像素结构

14-17、26-28、351-355、551-556、751-753、851-854：短路条

331-332、391-393、491-492、591-592、691-693、791-792、891-892：汇流短路条

340-349、540、740、840：成组短路条

361、362：扫描信号侧

371、372、471：数据信号侧

380：像素区域

G/O、G/E、D/O、D/E、D/R、D/G、D/B：测试点

TFT：薄膜晶体管

PE：像素电极

Cst：存储电容

具体实施方式

为使本发明的实施说明更加清楚，以下平面显示装置以液晶显示装置为例。图3为依照本发明一较佳实施例所表示的液晶显示装置的测试线路。请参照图3，液晶显示装置的基板300具有扫描信号侧361-362、数据信号侧371-372以及像素区域380。此测试线路包括基板300、信号线路311-315与321-327、像素结构(图中未表示)以及成组短路条340-349。

其中，信号线路包括扫描线路311-315与数据线路321-327，其交叉形成于基板300上。每一个扫描线路与数据线路交叉处即配置一子像素，而每一个子像素包括一薄膜晶体管、一像素电极以及一存储电容。像素结构形成于像素区域380中，且每一个像素结构具有n个子像素，其中n为正整数。例如，像素结构可以设计成如图1一般的像素结构13，即n＝1，这种像素结构一般适用于单色的液晶显示装置。另外，像素结构可以设计成如图2一般的像素结构23，即n＝3，这种像素结构一般适用于譬如以红色、绿色与蓝色为彩色空间的液晶显示装置。

成组短路条340-342形成于数据信号侧371，成组短路条343-345形成于数据信号侧372，成组短路条346-347形成于扫描信号侧361，而成组短路条348-349形成于扫描信号侧362。其中，成组短路条340-349若不通过汇流短路条则彼此是断开而不相连接的，例如成组短路条340与341若不通过汇流短路条391、392或393则两者是断开的，同样地，成组短路条346与347若不通过汇流短路条331或332则两者是断开的。

对于数据信号侧而言，以数据信号侧371中的成组短路条340-342为例，每组短路条具有p个短路条，且每组短路条电连接到p×m条数据线路，而p＝k×n，其中m为正整数且k为1或2。例如，在本实施例中，因n＝3，k＝1，m＝1，故p＝3，p×m＝3。亦即，譬如成组短路条340具有3条短路条351-353，且成组短路条340电连接到3条数据线路321-323(短路条351连接数据线路321，短路条352连接数据线路322，而短路条353连接数据线路323)。当然地，为了通过短路条351-353输入测试信号以测试数据线路321-323或与其连接的子像素，短路条351-353分别连接到测试点D/R、D/G与D/B。

再者，在数据信号侧中除配置有成组短路条之外，还可配置汇流数据短路条。例如，在数据信号侧371中，除配置有成组短路条340-342之外，还配置有奇数条汇流数据短路条391-393于基板300a外面，本实施例以3条汇流数据短路条为例。而且，譬如成组短路条340中的短路条351-353依序分别电连接到汇流数据短路条391-393。当然这些短路条都连接有测试点D/R、D/G或D/B以接收测试信号。

类似地，对于扫描信号侧而言，以扫描信号侧361中的成组短路条346-347为例，每组短路条具有p’个短路条，且每组短路条电连接到p’×m’条扫描线路，其中p’大于或等于2，且m’为正整数。例如，在本实施例中，因p’＝2，m’＝2，故p’×m’＝4。亦即，譬如成组短路条346具有2条短路条354-355，且成组短路条346电连接到4条扫描线路311-314(短路条354连接扫描线路311与313，而短路条355连接扫描线路312与314)。在这里，扫描线路311-314依奇偶方式连接到短路条354-355，但是扫描线路311-314亦可以依分组、顺序或其它连接方式连接到短路条354-355。

再者，在扫描信号侧中除配置有成组短路条之外，还可配置汇流扫描短路条。例如，在扫描信号侧361中，除配置有成组短路条346-347之外，还配置有至少二条汇流扫描短路条331-332于基板300a外面，本实施例以2条汇流扫描短路条为例。而且，譬如成组短路条346中的短路条354-355依奇偶方式连接到汇流扫描短路条331-332，但是亦可以采用分组、顺序或其它的连接方式。当然这些短路条都连接有测试点G/O或G/E以接收测试信号。

在此实施例中，虽然在像素区域380左右两旁同时配置扫描信号侧361-362，并在其上下两旁同时配置数据信号侧371-372，但是扫描信号侧或数据信号侧的配置方式并不只限于此。可视需要设计扫描信号侧及数据信号侧，例如只在像素区域380左边配置扫描信号侧361及在其下方配置数据信号侧372，或是只在像素区域380右边配置扫描信号侧362及在其上下方同时配置数据信号侧371-372，本领域技术人员可知道适当的设计方式，在此不一一列举。

在薄膜晶体管液晶显示装置(TFT-LCD)制造过程中，大致可区分为阵列电路过程(TFT array proces s)、液晶单元过程(cell process)以及模块组装过程(assembly process)。其中，阵列电路过程用以在玻璃基板上形成薄膜晶体管阵列电路、数据与扫描线路、短路条以及开关组件等，液晶单元过程用以贴合基板、配向膜与彩色滤光片等，并注入液晶分子材料再封合，以及模块组装过程用以集成驱动芯片、控制芯片与背光源等模块。

当阵列电路过程完成后，必须进行阵列电路测试(array test)。此时由于汇流短路条(例如汇流数据短路条391-393及汇流扫描短路条331-332)与信号线路电连接，故能利用汇流短路条对TFT-LCD的信号线路或像素测试。在阵列电路测试完成后，则利用激光将基板300上的汇流短路条与基板300a上信号线路之间的电连接断开，甚至于可能需要将基板300a以外的部份切除而只剩下基板300a。

而当液晶单元过程完成后，必须进行液晶单元测试(cell test)，此时利用成组短路条340-349中的短路条对TFT-LCD的像素分组并进行测试。在液晶单元测试完成后，亦必须将基板300a上的成组短路条340-349与信号线路之间的电连接断开，再进行模块组装过程。

图4表示为图3的数据信号侧的另一实施例，在此以图3的数据信号侧371为例，且为简化图式而省略测试点的符号。请参照图4，数据信号侧471与图3的数据信号侧371类似，其差异点在于数据信号侧371配置奇数条汇流数据短路条391-393(图3中以3条为例)，而数据信号侧471配置偶数条汇流数据短路条491-492(本实施例中以2条为例)。

因此，在阵列电路测试时，数据信号侧371利用汇流短路条391-393将数据线路分成三组进行测试。如果成组短路条340-342适当连接于数据线路，则可利用汇流短路条391-393分别针对红色、绿色与蓝色子像素进行测试。而数据信号侧471利用汇流短路条491与492将数据线路分成二组进行测试。如果成组短路条340-342适当连接于数据线路，则可利用汇流短路条491与492分别针对奇数条与偶数条数据信号所连接到的该多个子像素进行测试。承上所述，可以知道汇流短路条的数目不一定依据像素结构有多少子像素而决定，其可视需要来决定。

图5A-图5D为图3的成组短路条数据信号侧的其它实施例。在图3的数据信号侧中，每组短路条具有p个短路条，且每组短路条电连接到p×m条数据线路，而p＝k×n，其中m为正整数且k为1或2。而且，由于数据信号侧中所配置的不同奇偶数的汇流短路条，其具有不一样的电连接该多个短路条的方式，可以提供更多样设计。

请参照图5A，在此实施例中，因n＝3，k＝2，m＝1，故p＝6，p×m＝6。亦即，譬如成组短路条540具有6条短路条551-556，且短路条551-556分别连接于6条数据线路321-326。其中，短路条与数据线路的连接方式为短路条551-556分别依奇偶方式连接到汇流短路条591-592，例如奇数条短路条551、553与555连接到汇流短路条591，而偶数条短路条552、554与556连接到汇流短路条592。当然，除了本实施例的连接方式外，其它连接方式亦可适用的。

请参照图5B，其与图5A相似，主要不同点在于图5A为偶数条(例如2条)汇流短路条，而图5B为奇数条(例如3条)汇流短路条。因此，在图5B中，短路条与数据线路的连接方式为短路条551-556分别连接到汇流短路条691-693，例如短路条551与554连接到汇流短路条691，短路条552与555连接到汇流短路条692，而短路条553与556连接到汇流短路条693。当然，除了本实施例的连接方式外，其它连接方式亦可适用的。

请参照图5C，在此实施例中，因n＝3，k＝1，m＝2，故p＝3，p×m＝6。亦即，譬如成组短路条740具有3条短路条751-753，且短路条751-753分别连接到6条数据线路321-326。另外，短路条751-753可以依奇偶、分组、顺序或其它连接方式连接到汇流短路条，在此以短路条751-753依奇偶方式连接到汇流短路条791-792。如此，可在阵列电路测试采用奇偶分组进行测试，然后在液晶单元测试采用红色、绿色与蓝色子像素分组进行测试。

请参照图5D，在此实施例中，因n＝4，k＝1，m＝2，故p＝4，p×m＝8。亦即，譬如成组短路条840具有4条短路条851-854，且短路条851-854分别连接到8条数据线路321-328。另外，短路条851-854可以依奇偶、分组、顺序或其它连接方式连接到汇流短路条，在此以短路条851-854依奇偶方式连接到汇流短路条891-892。承上所述，可以在数据信号侧设计出各种不同的成组短路条，加上在扫描信号侧的成组短路条亦可设计成不同于数据信号侧的成组短路条，因此提供比先前技术更多样的画面测试型样。

虽然，上述的实施例着重在描述数据信号侧中的短路条(其包括汇流数据短路条以及成组短路条中的短路条)的配置，但是其观念亦适用于扫描信号侧中的短路条(其包括汇流扫描短路条以及成组短路条中的短路条)配置。

综上所述，本发明的短路条设计方式因采用分组且断开的短路条，故可分组提供测试信号予测试数据线路或扫描线路，因此提供更多样的画面测试型样，以进行诸如串扰等判定，同时又能兼顾闪烁判定，减少不良品出厂的风险。

本发明虽以优选实施例公开如上，然其并非用以限定本发明，任何本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围的情况下，可进行更动与修改，因此本发明的保护范围以所提出的权利要求所限定的范围为准。

Claims (16)

1.一种平面显示装置的测试线路，包括：

一基板，其具有至少一扫描信号侧、至少一数据信号侧与一像素区域；

多个像素结构，其形成于该像素区域中，且该多个像素结构中每一个具有n个子像素，其中n为正整数；

多条信号线路，其形成于该基板上，且该多个信号线路对应连接到该多个子像素；以及

多组短路条，多组短路条中的每一组形成于该至少一扫描信号侧与该至少一数据信号侧二者其中之一，且多组短路条中的每一组电连接到该多个信号线路；

其中，该多个信号线路包括数据线路或扫描线路；和

当该多个信号线路是数据线路时，其中多组短路条中的每一组具有p个短路条，且多组短路条中的每一组电连接到p×m条数据线路，而p＝k×n，其中m为正整数，且k为1或2；和

当该多个信号线路是扫描线路时，其中多组短路条中的每一组具有p’个短路条，且多组短路条中的每一组电连接到p’×m’条扫描线路，其中p’为大于或等于2，且m’为正整数。

2.如权利要求1所述的测试线路，其中该基板包括玻璃基板或可挠性基板。

3.如权利要求1所述的测试线路，还包括：

多个测试点，其形成于该至少一扫描信号侧与该至少一数据信号侧二者其中之一，且该多个测试点对应连接于多组短路条中的每一组。

4.如权利要求1所述的测试线路，还包括：

偶数条汇流数据短路条，其形成于该至少一数据信号侧中；以及

多个测试点，其形成于该至少一数据信号侧中，且该多个测试点对应连接于该多个偶数条汇流数据短路条；

其中，该多个偶数条汇流数据短路条为至少二条汇流数据短路条。

5.如权利要求4所述的测试线路，其中该多个p个短路条分别电连接到该多个偶数条汇流数据短路条。

6.如权利要求1所述的测试线路，还包括：

奇数条汇流数据短路条，其形成于该至少一数据信号侧中；以及

多个测试点，其形成于该至少一数据信号侧中，且该多个测试点对应连接于该多个奇数条汇流数据短路条；

其中，该多个奇数条汇流数据短路条至少三条汇流数据短路条。

7.如权利要求6所述的测试线路，其中该多个p个短路条分别电连接到该多个奇数条汇流数据短路条。

8.如权利要求6所述的测试线路，还包括：

至少二条汇流扫描短路条，其形成于该至少一扫描信号侧中，且分别与该多个短路条电连接；

多个测试点，其形成于该至少一扫描信号侧中，且该多个测试点对应连接到该至少二条汇流扫描短路条。

9.一种平面显示装置的测试线路，包括：

一基板，其具有至少一扫描信号侧与一像素区域；

多个像素结构，其形成于该像素区域中，且每一像素结构具有n个子像素，其中n为正整数；

多条数据线路，其形成于该基板上，且该多个数据线路对应连接于该多个子像素；

多条扫描线路，其形成于该基板上，且该多个扫描线路交错于该多个数据线路；以及

多个扫描成组短路条，多组短路条中的每一组形成于该至少一扫描信号侧中，且该多个扫描成组短路条电连接到该多个扫描线路；

其中，每一该多个扫描成组短路条具有p’个短路条，且多组短路条中的每一组电连接到p’×m’条扫描线路，其中p’为大于或等于2，且m’为正整数。

10.如权利要求9所述的测试线路，还包括：

至少二条汇流扫描短路条，其形成于该至少一扫描信号侧中，且分别与该多个短路条电连接；以及

多个测试点，其形成于该至少一扫描信号侧中，且该多个测试点对应连接于该至少二条汇流扫描短路条。

11.如权利要求9所述的测试线路，还包括：

至少一数据信号侧，其形成于该基板上，且该至少一数据信号侧具有多组数据短路条，多组短路条中的每一组分别电连接到该多个数据线路。

12.如权利要求11所述的测试线路，其中该多组数据短路条中的每一组具有p个短路条，且该多组数据短路条中的每一组电连接到p×m条数据线路，而p＝k×n，其中m为正整数且k为1或2。

13.如权利要求12所述的测试线路，还包括：

偶数条汇流数据短路条，其形成于该至少一数据信号侧中；

多个测试点，其形成于该至少一数据信号侧中，且该多个测试点对应连接于该多个偶数条汇流数据短路条；

其中，该多个偶数条汇流数据短路条为至少二条汇流数据短路条。

14.如权利要求13所述的测试线路，其中该多个p个短路条分别电连接到该多个偶数条汇流数据短路条。

15.如权利要求12所述的测试线路，还包括：

奇数条汇流数据短路条，其形成于该至少一数据信号侧中；

多个测试点，其形成于该至少一数据信号侧中，且该多个测试点对应连接于该多个奇数条汇流数据短路条；

其中，该多个奇数条汇流数据短路条为至少三条汇流数据短路条。

16.如权利要求15所述的测试线路，其中该多个p个短路条分别电连接到该多个奇数条汇流数据短路条。

Images