CN105158609B - 点灯模块检测装置、检测点灯模块及显示面板的方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 36
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 23
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 57
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 34
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 27
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 41
- 230000001141 propulsive effect Effects 0.000 claims description 38
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 claims description 20
- 230000011664 signaling Effects 0.000 claims description 14
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 12
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims description 3
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 abstract description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 3
- 238000001259 photo etching Methods 0.000 description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 2
- 238000004445 quantitative analysis Methods 0.000 description 2
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000881 Cu alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004411 aluminium Substances 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 230000005489 elastic deformation Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 1
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 230000000451 tissue damage Effects 0.000 description 1
- 231100000827 tissue damage Toxicity 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
- G01R31/2808—Holding, conveying or contacting devices, e.g. test adapters, edge connectors, extender boards
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
- G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
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- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
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Abstract
一种点灯模块检测装置、检测点灯模块及显示面板的方法。该点灯模块检测装置包括:底座;设置在底座上的支架单元,其上设置臂部,该臂部配置来固定待检测点灯模块;设置在底座上的检测台,其上设置检测器,该检测器具有信号输出端。该点灯模块检测装置提供一种独立的点灯模块检测装置,可快速、准确地定位异常探针的位置,提高检测效率。
Description
技术领域
本发明的实施例涉及一种点灯模块检测装置、检测点灯模块及显示面板的方法。
背景技术
点灯机(Probe Unit)是用于在液晶显示器(LCD)、等离子显示面板(PDP)、有机发光二极管显示器(OLED)等显示器/显示面板领域,给显示面板加载信号,从而检测出显示面板上缺陷的装置。如图1所示,印制电路板1(PCB)生成控制信号通过柔性电路板2(FPC)传送给点灯模块3(Probe Block)并通过探针(Pin)4加载给显示面板5。通过观察显示面板5的状态从而检测出显示面板5上缺陷的位置。控制信号包括开始(Start)信号、时钟脉冲(CP)信号、数据(Data)信号、输出允许(Output Enable,OE)信号等。探针4与显示面板(Panel)Pad区(接线区、接头区或走线区)上的电极/接头/走线6一一对应。点灯模块的探针结构与显示面板接线区的电极/接头/走线结构61相对应。
由于探针尺寸、间距极小(几十微米),数量多,极易损坏,容易发生包括探针的弯曲变形、断裂以及不同探针接触导致的短路等不良。当探针损坏时,会导致点灯画面异常、检测错误的发生。但仅凭肉眼观察(直接观察或显微镜)无法快速,准确的找到损坏探针的位置。另外,对于维修后的点灯模块,没有专门的装置对其进行检测以保证维修品的品质。通常,点灯模块需在生产设备上进行检测,只能根据点灯现象推断点灯模块异常的原因,不能准确找出异常探针的位置,并且占用产线设备,降低了检测效率和设备嫁动。并且当没有对应尺寸生产或者产量要求大,无法申请额外的维护时间(E-Time)时,会造成测试困难。
发明内容
本发明至少一个实施例提供一种点灯模块检测装置、使用该点灯模块检测装置检测点灯模块的方法以及显示面板的检测方法。该点灯模块检测装置可提供一种独立的点灯模块检测装置,可快速、准确地定位异常探针的位置,提高检测效率。
本发明至少一个实施例提供一种点灯模块检测装置,包括:
底座;
支架单元,设置在所述底座上,其上设置臂部,所述臂部配置来固定待检测点灯模块;以及
检测台,设置在所述底座上,其上设置检测器,所述检测器具有信号输出端。
例如,在本发明一实施例提供的点灯模块检测装置中,所述检测器包括至少一个检测电极,所述待检测点灯模块包括至少一个探针,所述检测器的至少一个检测电极与所述待检测点灯模块的至少一个探针相对应,所述至少一个检测电极连接至所述信号输出端。
例如,在本发明一实施例提供的点灯模块检测装置中,所述检测器具有与所述待检测点灯模块对应的显示面板的接线区相同的电极结构。
例如,在本发明一实施例提供的点灯模块检测装置中,所述检测台包括检测台上部和检测台下部,所述检测台下部设置在所述底座上,所述检测台上部位于所述检测台下部之上,所述检测台上部可拆卸,所述检测器设置在所述检测台上部上。
例如,在本发明一实施例提供的点灯模块检测装置中,所述检测台设置有第一推进机构,所述第一推进机构被配置为使所述检测台上部沿着第一方向相对于所述检测台下部运动。
例如,在本发明一实施例提供的点灯模块检测装置中,所述第一推进机构包括X轴旋杆、设置在所述X轴旋杆上的螺纹、以及设置在所述检测台上部的螺纹孔,所述X轴旋杆安装在所述检测台下部的侧板上,所述X轴旋杆上设置的螺纹与所述检测台上部设置的螺纹孔相啮合,通过旋转所述X轴旋杆使所述检测台上部沿X轴方向移动,所述X轴方向为所述第一方向。
例如,在本发明一实施例提供的点灯模块检测装置中,所述检测台上部和所述检测台下部分别设置有相互配合的第一凹槽和第一凸台,所述第一凹槽和所述第一凸台沿所述第一方向设置。
例如,在本发明一实施例提供的点灯模块检测装置中,所述检测台设置有第二推进机构,所述第二推进机构被配置为使所述检测台沿着第二方向相对于所述底座运动,所述第二方向垂直于所述第一方向。
例如,在本发明一实施例提供的点灯模块检测装置中,所述第二推进机构包括Y轴旋转杆、设置在所述Y轴旋转杆上的齿轮、以及设置在所述底座上的齿条,所述Y轴旋转杆安装在所述检测台的下部,所述Y轴旋杆上设置的齿轮与所述底座上设置的齿条相啮合,通过旋转所述Y轴旋杆使所述检测台沿Y轴方向移动,所述Y轴方向为所述第二方向。
例如,在本发明一实施例提供的点灯模块检测装置中,所述底座与所述检测台的下部分别设置有相互配合的第二凹槽和第二凸台,所述第二凹槽和所述第二凸台沿所述第二方向设置。
例如,在本发明一实施例提供的点灯模块检测装置中,所述检测台的下部设置有容纳槽,所述检测台Y轴旋杆置于所述容纳槽内。
例如,在本发明一实施例提供的点灯模块检测装置中,所述支架单元包括固定支架、活动支架和第三推进机构,所述臂部设置在所述活动支架上,所述第三推进机构被配置为使所述活动支架沿着第三方向相对于所述固定支架运动,所述第三方向垂直于所述第一方向和所述第二方向。
例如,在本发明一实施例提供的点灯模块检测装置中,所述第三推进机构包括Z轴旋杆、设置在所述Z轴旋杆上的齿轮、以及设置在所述活动支架上的齿条,所述Z轴旋杆设置在所述固定支架上,所述Z轴旋杆上设置的齿轮与所述活动支架上设置的齿条相啮合,通过旋转所述Z轴旋杆,使所述活动支架沿Z轴方向移动,进而带动所述待检测点灯模块沿Z轴方向移动,所述Z轴方向为所述第三方向。
例如,在本发明一实施例提供的点灯模块检测装置中,所述固定支架和所述活动支架上分别设置有相互配合的第三凹槽和第三凸台,所述第三凹槽和所述第三凸台沿所述第三方向设置。
例如,在本发明一实施例提供的点灯模块检测装置中,所述臂部与所述活动支架枢转连接。
例如,在本发明一实施例提供的点灯模块检测装置中,所述臂部与所述活动支架之间设置有弹簧。
例如,在本发明一实施例提供的点灯模块检测装置中,所述臂部上设置通孔,所述待检测点灯模块上设置有连接孔,在所述臂部上的通孔内设置螺钉以固定所述待检测点灯模块。
例如,在本发明一实施例提供的点灯模块检测装置中,在所述臂部上设置贯穿所述臂部的信号接口,所述信号接口的一端连接与所述待检测点灯模块相连的柔性电路板,所述信号接口的另一端为用于输入信号的信号输入端。
例如,在本发明一实施例提供的点灯模块检测装置中,还包括与所述信号输出端相连的转换电路以及与所述转换电路相连的计算机。
本发明至少一实施例还提供一种使用点灯模块检测装置检测点灯模块的方法,所述点灯模块检测装置包括:底座;支架单元,设置在所述底座上,其上设置臂部,所述臂部配置来固定待检测点灯模块;以及检测台,设置在所述底座上,其上设置检测器,所述检测器具有信号输出端,所述方法包括以下步骤:
将所述待检测点灯模块与所述检测器接触;
向所述待检测点灯模块输入电信号,由所述检测器的信号输出端输出信号;以及
对所述输出信号进行分析。
例如,在本发明一实施例提供的一种使用点灯模块检测装置检测点灯模块的方法中,所述待检测点灯模块包括至少一个探针,所述检测器的至少一个检测电极与所述待检测点灯模块的至少一个探针相对应,其中将所述待检测点灯模块与所述检测器接触包括:对应地将所述待检测点灯模块的至少一个探针与所述检测器的至少一个检测电极接触。
例如,在本发明一实施例提供的一种使用点灯模块检测装置检测点灯模块的方法中,所述检测器具有与所述待检测点灯模块对应的显示面板的接线区相同的电极结构,所述显示面板的接线区包括至少一个电极。
例如,在本发明一实施例提供的一种使用点灯模块检测装置检测点灯模块的方法中,所述至少一个检测电极连接至所述信号输出端,使得来自于所述至少一个探针的信号经由所述至少一个检测电极传送到所述信号输出端。
本发明至少一实施例还提供一种显示面板的检测方法,包括:
使用任一上述方法检测点灯模块;以及
使用所述点灯模块检测显示面板。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案,下面将对实施例的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅涉及本发明的一些实施例,而非对本发明的限制。
图1为一种点灯机检测显示面板的示意图;
图2a为本发明一实施例提供的一种点灯模块检测装置的立体示意图(臂部闭合);
图2b为本发明一实施例提供的一种点灯模块检测装置立体示意图的(臂部张开);
图3为本发明一实施例提供的一种点灯模块检测装置中电极结构和探针结构的示意图;
图4为本发明一实施例提供的一种点灯模块检测装置的分解示意图;
图5为本发明一实施例提供的一种点灯模块检测装置中容纳槽的位置示意图;
图6a为本发明一实施例提供的一种点灯模块检测装置的臂部使用状态示意图(臂部抬起);
图6b为本发明一实施例提供的一种点灯模块检测装置的臂部使用状态示意图(临界);
图6c为本发明一实施例提供的一种点灯模块检测装置的臂部使用状态示意图(臂部落下);
图7为本发明一实施例提供的一种点灯模块检测装置中检测器中的检测电极与转换电路和计算机的连接示意图;
图8为本发明一实施例提供的一种点灯模块检测装置的正视图;
图9为本发明一实施例提供的一种点灯模块检测装置的右视图;以及
图10为本发明一实施例提供的一种点灯模块检测装置的俯视图。
附图标记:
100-底座;110-支架单元;111-臂部;112-待检测点灯模块;1121-探针;1122-探针结构;113-固定支架;114-活动支架;115-第三推进机构;1151-Z轴旋杆;1152-齿轮;1153-齿条;1161-第三凸台;1162-第三凹槽;117-弹簧;1181-通孔,1182-连接孔;119-螺钉;1120-信号接口;120-检测台;121-检测台上部;122-检测台下部;1221-检测台下部的侧板;123-第一推进机构;1231-X轴旋杆;1232-螺纹孔;1233-螺纹;1241-第一凸台;1242-第一凹槽;125-第二推进机构;1251-Y轴旋杆;1252-齿轮;1253-齿条;1261-第二凸台;1262-第二凹槽;127-容纳槽;130-检测器;131-信号输出端;132-电极结构;1321-检测电极;13211-接头;140-计算机;150-转换电路。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施例的附图,对本发明实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然,所描述的实施例是本发明的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于所描述的本发明的实施例,本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
除非另外定义,本公开使用的技术术语或者科学术语应当为本发明所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性,而只是用来区分不同的组成部分。同样,“一个”、“一”或者“该”等类似词语也不表示数量限制,而是表示存在至少一个。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同,而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接,而是可以包括电性的连接,不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系,当被描述对象的绝对位置改变后,则该相对位置关系也可能相应地改变。
本发明至少一个实施例提供一种点灯模块检测装置,包括底座;设置在底座上的支架单元,该支架单元上设置有臂部,该臂部配置来固定待检测点灯模块;以及设置在底座上的检测台,检测台上设置检测器,该检测器具有信号输出端。
该点灯模块检测装置提供一种独立的点灯模块检测装置,可快速、准确地定位异常探针的位置,提高检测效率。另一方面,该点灯模块检测装置对比于使用产线设备进行检测,可提高设备嫁动率(生产效率)。可用于点灯模块的检测。
下面通过以下几个实施例进行说明。
实施例一
本实施例提供一种点灯模块检测装置。如图2a和图2b所示,该点灯模块检测装置包括底座100、设置在底座100上的支架单元110以及设置在底座100上的检测台120。支架单元110上设置有臂部111,其配置来固定待检测点灯模块112。检测台120上设置有检测器130,检测器130具有信号输出端131。
例如,如图3所示,检测器130包括至少一个检测电极1321(电极结构132包括至少一个检测电极1321),待检测点灯模块112包括至少一个探针1121(探针结构1122包括至少一个探针1121),该至少一个检测电极1321和该至少一个探针1121相对应,并且该至少一个检测电极1321连接至信号输出端131。例如,所有检测电极均需连接至信号输出端,有多少个检测电极,就有多少个检测电极连接至信号输出端。例如,该至少一个检测电极1321和该至少一个探针1121可一一对应。需要说明的是,至少一个包括一个和多个。多个例如是指大于一个。图3中以检测电极1321为多个,探针1121为多个为例进行说明。该检测器130的电极结构亦可为一个检测电极1321,该待检测点灯模块112的探针结构1122亦可为一个探针1121。图3中的信号输出端131亦可置于其他位置。例如,置于检测电极1321的右侧或下侧位置处。但不限于此。检测电极的形状亦不限于图中描述的线形。例如,从检测电极到信号输出端可为收窄的结构,亦可为展开的结构。亦可直线相连,不收窄也不展开。对此不作限定。
例如,在本实施例提供的点灯模块检测装置中,检测器130具有与待检测点灯模块112对应的显示面板的接线区相同的电极结构。待检测点灯模块112与显示面板对应是指在点灯测试时,该待检测点灯模块适用于测试该显示面板。由于检测器的电极结构与显示面板的接线区的电极结构61(请参见图1)相同,因此,点灯模块的探针结构与检测器的电极结构之间也是匹配的。例如显示面板的接线区的电极结构61包括至少一个电极6。由此,本实施例提供的点灯模块检测装置中的检测器130可根据不同的待检测点灯模块112设计成具有不同的电极结构132以与待检测点灯模块112相匹配,从而实现对不同的待检测点灯模块112的快速检测。
例如,检测器的检测电极的材料可采用导电材料。例如,可采用金属。例如,可采用与阵列基板的薄膜晶体管中的栅线、数据线、栅极或源漏极相同的材料形成。例如,检测器的检测电极的材料可为铝、铝合金、铜、铜合金、钼等中的任一的单层或其中几种的叠层。但不限于此。例如,形成检测电极的方法可参照形成栅线、数据线、栅极或源漏极的方法。但不限于此。
由于检测器的检测电极精度较高,例如,可采用构图工艺形成。但不限于此。
应该理解,在本发明的实施例中,构图工艺可只包括光刻工艺,或包括光刻工艺以及刻蚀步骤,或者可以包括打印、喷墨等其他用于形成预定图形的工艺。光刻工艺是指包括成膜、曝光、显影等工艺过程,利用光刻胶、掩模板、曝光机等形成图形。可根据本发明的实施例中所形成的结构选择相应的构图工艺。
例如,在本实施例提供的点灯模块检测装置中,如图2a和图2b所示,检测台120包括检测台上部121和检测台下部122。该检测台下部122设置在底座100上。该检测台上部121可拆卸地设置在该检测台下部122上。检测器130设置在检测台上部121上。显然,检测器130也是可拆卸、可更换的。该检测器130可针对不同型号的待检测点灯模块112更换为相应的检测器130。
例如,在本实施例提供的点灯模块检测装置中,检测台120设置有第一推进机构123,该第一推进机构123被配置为使检测台上部121沿着第一方向相对于检测台下部122运动。
例如,如图4所示,检测台120设置有第一推进机构123。该第一推进机构123包括设置在检测台下部122的X轴旋杆1231、设置在该X轴旋杆1231上的螺纹1233以及设置在检测台上部121对应X轴旋杆1231的位置的螺纹孔1232。该X轴旋杆1231安装在检测台下部122的侧板1221上。X轴旋杆1231上设置的螺纹1233与检测台上部121设置的螺纹孔1232相啮合。通过旋转该X轴旋杆1231可使检测台上部121沿X轴方向移动,该X轴方向为第一方向。
需要说明的是,该第一推进机构123亦可采用其他结构,并不限于本实施例提供的螺纹推进结构。
例如,本实施例可通过设置该X轴旋杆1231外部的旋钮部分和旋杆部分相关参数,使该检测台上部121可实现细微的运动,从而更好地调节设置在检测台上部121上的检测器130的位置以与待检测点灯模块112相配合。例如相关参数包括旋钮部分和旋杆部分的半径比例,螺纹以及螺纹孔的大径、小径以及螺距等。
例如,在本实施例提供的点灯模块检测装置中,如图4所示,检测台上部121和检测台下部122可分别设置有相互配合的第一凹槽1242和第一凸台1241。该第一凹槽1242和该第一凸台1241沿第一方向设置。例如,可第一凹槽1242设置在检测台上部121,第一凸台1241检测台下部122,亦可第一凹槽1242设置在检测台下部122,第一凸台1241检测台上部121。对此不作限定。需要说明的是,通过设置第一凹槽1242和第一凸台1241可使检测台上部121相对于检测台下部122的运动更平稳,并且保证沿着第一方向运动精确度。
例如,在本实施例提供的点灯模块检测装置中,检测台120设置有第二推进机构125。该第二推进机构125被配置为使检测台120沿着第二方向相对于底座100运动,该第二方向垂直于第一方向。
例如,如图4所示,第二推进机构125包括安装在检测台120下部的Y轴旋转杆1251,设置在Y轴旋转杆1251上的齿轮1252以及设置在底座100上的齿条1253。Y轴旋杆1251上的齿轮1252与底座100上的齿条1253相啮合。通过旋转Y轴旋杆1251,Y轴旋杆1251上的齿轮1252在设置在底座100上的齿条1253上滚动,从而使检测台120沿Y轴方向移动。该Y轴方向为第二方向。
需要说明的是,该第二推进机构125亦可采用其他结构,并不限于本实施例提供的齿轮推进结构。
例如,本实施例可通过设置该Y轴旋杆1251的旋钮部分和旋杆部分、齿轮1252以及齿条1253的相关参数,使该检测台120可实现细微的运动,从而更好地调节设置在检测台120上的检测器130的位置以与待检测点灯模块112相配合。例如相关参数包括旋钮部分和旋杆部分的半径比例,齿轮的以及齿条的齿数、模数等。
例如,在本实施例提供的点灯模块检测装置中,如图4所示,底座与检测台的下部可分别设置有相互配合的第二凹槽和第二凸台。例如,可底座100上设置有第二凸台1261,检测台120的下部设置有第二凹槽1262,亦可底座100上设置有第二凹槽1262,检测台120的下部设置有第二凸台1261。对此不作限定。该第二凸台1261和第二凹槽1262相互配合,并且沿第二方向设置。需要说明的是,通过设置第二凸台1261和第二凹槽1262可使检测台120相对于底座100的运动更平稳,并且保证沿着第二方向运动精确度。
例如,在本实施例提供的点灯模块检测装置中,如图5所示,检测台120的下部设置有容纳槽127。上述的Y轴旋杆设1251可设置在该容纳槽127内。从而,通过旋转Y轴旋杆带动检测台沿Y轴方向运动。
例如,在本实施例提供的点灯模块检测装置中,如图4所示,支架单元110包括固定在底座100上的固定支架113、活动支架114以及第三推进机构115。臂部111设置在活动支架114上。该第三推进机构115被配置为使活动支架114沿着第三方向相对于固定支架113运动;该第三方向垂直于第一方向和第二方向。
例如,如图4所示,第三推进机构115包括设置在固定支架113上的Z轴旋杆1151、设置在Z轴旋杆1151上的齿轮1152以及设置在活动支架114上的齿条1153。Z轴旋杆1151上设置的齿轮1152与活动支架114上设置的齿条1153相啮合,通过旋转Z轴旋杆1151,使设置在Z轴旋杆1151上的齿轮1152转动,通过与设置在活动支架114上的齿条1153相啮合使活动支架114沿Z轴方向移动,进而带动臂部111沿Z轴方向移动以使待检测点灯模块112沿Z轴方向移动,Z轴方向为第三方向。
需要说明的是,该第三推进机构115亦可采用其他结构,并不限于本实施例提供的齿轮推进结构。
例如,本实施例可通过设置该Z轴旋杆1151的旋钮部分和旋杆部分、以及齿轮1152的相关参数,使该臂部111可实现细微的运动,从而更好地调节固定在臂部111上的位置以与检测器130配合。例如相关参数包括Z轴旋杆1151的旋钮部分和旋杆部分的半径比例,齿轮1152的以及齿条1153的齿数、模数等。本实施例提供的点灯模块检测装置通过上述的第一推进机构123、第二推进机构125以及第三推进结构115可实现检测器130相对于待检测点灯模块112在三维空间运动(沿着第一方向、第二方向以及第三方向运动),从而可精准地调节检测器130相对于待检测点灯模块112的位置,进而精准地检测待检测点灯模块112的异常探针1121的位置。需要注意的是,本实施例提供的点灯模块检测装置也可通过其他机构来实现检测器130相对于待检测点灯模块112在空间中的移动。
例如,在本实施例提供的点灯模块检测装置中,固定支架113和活动支架114上可分别设置有相互配合的第三凹槽1162和第三凸台1161,第三凹槽1162和第三凸台1161沿第三方向设置。该第三凸台1161和第三凹槽1162相互配合,并且沿第二方向设置。需要说明的是,通过设置第三凸台1161和第三凹槽1162可使使活动支架114相对于固定支架113的运动更平稳,并且保证沿着第三方向运动精确度。
例如,在本实施例提供的点灯模块检测装置中,臂部111与支架单元110枢转连接。例如,如图4所示,臂部111与活动支架114枢转连接(枢接)。例如,可通过轴孔配合连接。可分别在臂部111与活动支架114上设置轴和孔。需要说明的是,轴和孔是设置在臂部111上还是设置在活动支架114上不作限定。
例如,在本实施例提供的点灯模块检测装置中,臂部111与支架单元之间设置有弹簧117。例如,如图4所示,臂部111与活动支架114之间设置有弹簧117。
如图6a所示,当臂部111处于抬起状态时,通过设置在臂部111和活动支架114之间的弹簧117使得改变臂部111的状态需要额外克服弹簧117的弹力,使得臂部111能保持稳定的抬起状态,以便于实施更换待检测点灯模块112等操作。如图6b所示,当臂部111处于临界位置时,弹簧117弹性形变达到最大,并且其弹力方向与臂部111长度方向重合,此时改变臂部111的状态不需要克服弹簧117的弹力。如图6c所示,当臂部111处于落下状态时,通过设置在臂部111和活动支架114之间的弹簧117使得改变臂部111的状态需要额外克服弹簧117的弹力,使得臂部111能保持稳定的落下状态,以便于稳定地进行位置调整和点灯模块检测。
例如,在本实施例提供的点灯模块检测装置中,如图4所示,臂部111上靠近待检测点灯模块112的一侧设置有通孔1181,该待检测点灯模块112上设置有连接孔1182,臂部111上通孔1181内设置螺钉119以固定该待检测点灯模块112。为了更好的固定待检测点灯模块,通孔1181内可设置螺纹。通孔1181内设置的螺纹可与螺钉119的螺纹相配合。
例如,在本实施例提供的点灯模块检测装置中,如图4所示,臂部111上设置有贯穿臂部111的信号接口1120,信号接口1120的一端连接与待检测点灯模块112相连的柔性电路板2(柔性电路板可参见图1),所述信号接口1120的另一端为信号输入端用以输入信号。例如,信号接口的一端位于臂部内侧,信号接口的另一端位于臂部外侧。例如,位于臂部外侧的一端为信号输入端。需要说明的是,也是可以不设置信号接口1120的。在与待检测点灯模块112相连的柔性电路板较短的情况下,可设置信号接口1120。
例如,在本实施例提供的点灯模块检测装置还可包括与信号输出端131相连的转换电路150以及与转换电路150相连的计算机140。例如,检测信号通过转换电路150转换为二进制信号并输出至计算机进行显示分析。例如,转换电路可采用TTL电路(Transistor-Transistor-Logic,晶体管-晶体管逻辑电路),但不限于此。如图7所示,检测器130上电极结构132中各个检测电极1321经信号输出端将检测信号输入转换电路150,经过转换电路150编码转换,检测信号输入计算机140。通过计算机140分析这些信号可实现对输出信号的量化分析,准确地找到异常探针的位置。若是待检测的点灯模块112正常,还可通过本实施例提供点灯模块检测装置评估前端输入电路的性能。例如,可如图7所示,一个检测电极在不同位置处可具有不同的宽度。例如,可在检测电极与探针接触的位置处的宽度(面积)比其他位置处大。例如,在检测电极与探针接触的位置处具有接头13211,接头13211处的宽度(面积)比检测电极其他位置处的宽度(面积)大,从而检测电极与探针接触的位置处的面积大些,以便于与探针接触。宽度例如是指垂直于检测电极延伸方向上的长度。例如指检测电极的粗细。例如,检测电极的结构可类似于显示面板的pad区的结构。
需要说明的是,本发明各实施例中涉及到的电极结构例如包括电极的数量,电极间距等。本发明各实施例中涉及到的探针结构例如包括探针的数量,探针间距等。
本发明实施例提供的点灯模块检测装置具有如下至少一个有益效果:
(1)通过设置底座100、支架单元110、臂部111、检测台120以及检测器130等组件提供了独立的点灯模块检测装置,无需占用产线设备,提高了检测效率和产线设备稼动率。
(2)通过第一推进机构123、第二推进机构125以及第三推进机构115实现待检测点灯模块112与检测器130的对准,并且通过在检测器130中设置与待检测点灯模块的探针结构相对应的检测电极(例如,检测器具有与待检测点灯模块112对应的显示面板的接线区相同的电极结构61),可以实现探针与检测电极的一一对应。
(3)通过设置转换电路150以及计算机140,可实现对点灯输出的量化分析,由此,可快速、准确地定位异常探针的位置。
实施例二
本实施例提供一种使用点灯模块检测装置检测点灯模块的方法,该点灯模块检测装置包括:底座100,设置在底座100上的支架单元110,其上设置有臂部111,该臂部111配置来固定待检测点灯模块112,以及设置在底座100上的检测台120,其上设置有检测器130,该检测器130具有信号输出端131;该方法包括以下步骤:
将待检测点灯模块112与检测器130接触;
向待检测点灯模块112输入电信号,由检测器130的信号输出端131输出信号;以及
对输出信号进行分析。
例如,在本实施例提供的使用点灯模块检测装置检测点灯模块的方法中,检测器包括至少一个检测电极,待检测点灯模块112包括至少一个探针1121,检测器130的至少一个检测电极1321与待检测点灯模块112的至少一个探针1121相对应,所述的相对应例如包括数量相同,探针间距与检测电极间距的相同等。将待检测点灯模块112与检测器130接触的步骤包括:对应地将待检测点灯模块112的至少一个探针1121与检测器130的至少一个检测电极1321接触。例如,探针1121与检测电极1321一一对应。
例如,检测器130具有与待检测点灯模块112对应的显示面板的接线区相同的电极结构。显示面板的接线区的电极结构61包括至少一个电极6(请参见图1)。例如,电极6与探针1121一一对应。
例如,在本实施例提供的使用点灯模块检测装置检测点灯模块的方法中,至少一个检测电极1321连接至信号输出端131(例如,所有检测电极均需连接至信号输出端,有多少个检测电极,就有多少个检测电极连接至信号输出端),使得来自于至少一个探针1121的信号经由至少一个检测电极1321传送所述信号输出端1311。
本实施例提供的使用点灯模块检测装置检测点灯模块的方法可独立地检测待检测点灯模块112中的异常探针的位置,相对于使用产线设置进行检测,不用占用产线设置,从而提高了检测效率和产线设备稼动率。另一方面,本实施例提供的使用点灯模块检测装置检测点灯模块的方法可快速、准确地定位异常探针的位置,并且可对输出信号进行量化分析,进一步增加检测效率和精准度。
实施例三
本实施例提供一种显示面板的检测方法,包括:使用上述实施例二中的任一方法检测点灯模块;以及使用检测过的点灯模块检测显示面板的步骤。
本实施例提供的显示面板的检测方法,首先对点灯模块进行了检测,保证了点灯模块的可靠性,从而保证了使用点灯模块对显示面板的检测过程中不会产生因点灯模块的异常导致的对显示面板缺陷的误判,从而提高了效率。
有以下几点需要说明:
(1)本发明实施例附图只涉及到与本发明实施例涉及到的结构,其他结构可参考通常设计。
(2)为了清晰起见,在用于描述本发明的实施例的附图中,各部件或区域被放大或缩小,即这些附图并非按照实际的比例绘制。只是示意性的描述。
(3)在不冲突的情况下,本发明的实施例及实施例中的特征可以相互组合以得到新的实施例。
以上所述,仅为本发明的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
Claims (21)
1.一种点灯模块检测装置,包括:
底座;
支架单元,设置在所述底座上,其上设置臂部,所述臂部配置来固定待检测点灯模块;以及
检测台,设置在所述底座上,其上设置检测器,所述检测器具有信号输出端,所述检测器包括至少一个检测电极,所述至少一个检测电极连接至所述信号输出端;
其中,所述检测台包括检测台上部和检测台下部,所述检测台下部设置在所述底座上,所述检测台上部位于所述检测台下部之上,所述检测器设置在所述检测台上部上,所述检测台上部可拆卸以便于更换所述检测器;
所述检测台设置有第一推进机构,所述第一推进机构被配置为使所述检测台上部沿着第一方向相对于所述检测台下部运动;
所述第一推进机构包括X轴旋杆、设置在所述X轴旋杆上的螺纹、以及设置在所述检测台上部的螺纹孔,所述X轴旋杆安装在所述检测台下部的侧板上,所述X轴旋杆上设置的螺纹与所述检测台上部设置的螺纹孔相啮合,通过旋转所述X轴旋杆使所述检测台上部沿X轴方向移动并实现所述检测台上部与所述检测台下部可拆卸的连接,所述X轴方向为所述第一方向。
2.根据权利要求1所述的点灯模块检测装置,其中,所述待检测点灯模块包括至少一个探针,所述检测器的至少一个检测电极与所述待检测点灯模块的至少一个探针相对应。
3.根据权利要求1或2所述的点灯模块检测装置,其中,所述检测器具有与所述待检测点灯模块对应的显示面板的接线区相同的电极结构。
4.根据权利要求1或2所述的点灯模块检测装置,其中,所述检测台上部和所述检测台下部分别设置有相互配合的第一凹槽和第一凸台,所述第一凹槽和所述第一凸台沿所述第一方向设置。
5.根据权利要求1或2所述的点灯模块检测装置,其中,所述检测台设置有第二推进机构,所述第二推进机构被配置为使所述检测台沿着第二方向相对于所述底座运动,所述第二方向垂直于所述第一方向。
6.根据权利要求5所述的点灯模块检测装置,其中,所述第二推进机构包括Y轴旋转杆、设置在所述Y轴旋转杆上的齿轮、以及设置在所述底座上的齿条,所述Y轴旋转杆安装在所述检测台的下部,所述Y轴旋杆上设置的齿轮与所述底座上设置的齿条相啮合,通过旋转所述Y轴旋杆使所述检测台沿Y轴方向移动,所述Y轴方向为所述第二方向。
7.根据权利要求5所述的点灯模块检测装置,其中,所述底座与所述检测台的下部分别设置有相互配合的第二凹槽和第二凸台,所述第二凹槽和所述第二凸台沿所述第二方向设置。
8.根据权利要求6所述的点灯模块检测装置,其中,所述检测台的下部设置有容纳槽,所述Y轴旋杆置于所述容纳槽内。
9.根据权利要求5所述的点灯模块检测装置,其中,所述支架单元包括固定支架、活动支架和第三推进机构,所述臂部设置在所述活动支架上,所述第三推进机构被配置为使所述活动支架沿着第三方向相对于所述固定支架运动,所述第三方向垂直于所述第一方向和所述第二方向。
10.根据权利要求9所述的点灯模块检测装置,其中,所述第三推进机构包括Z轴旋杆、设置在所述Z轴旋杆上的齿轮、以及设置在所述活动支架上的齿条,所述Z轴旋杆设置在所述固定支架上,所述Z轴旋杆上设置的齿轮与所述活动支架上设置的齿条相啮合,通过旋转所述Z轴旋杆,使所述活动支架沿Z轴方向移动,进而带动所述待检测点灯模块沿Z轴方向移动,所述Z轴方向为所述第三方向。
11.根据权利要求9或10所述的点灯模块检测装置,其中,所述固定支架和所述活动支架上分别设置有相互配合的第三凹槽和第三凸台,所述第三凹槽和所述第三凸台沿所述第三方向设置。
12.根据权利要求9或10所述的点灯模块检测装置,其中,所述臂部与所述活动支架枢转连接。
13.根据权利要求9或10所述的点灯模块检测装置,其中,所述臂部与所述活动支架之间设置有弹簧。
14.根据权利要求1-2、6-10中任一项所述的点灯模块检测装置,其中,所述臂部上设置通孔,所述待检测点灯模块上设置有连接孔,在所述臂部上的通孔内设置螺钉以固定所述待检测点灯模块。
15.根据权利要求1-2、6-10中任一项所述的点灯模块检测装置,其中,在所述臂部上设置贯穿所述臂部的信号接口,所述信号接口的一端连接与所述待检测点灯模块相连的柔性电路板,所述信号接口的另一端为用于输入信号的信号输入端。
16.根据权利要求1-2、6-10中任一项所述的点灯模块检测装置,还包括与所述信号输出端相连的转换电路以及与所述转换电路相连的计算机。
17.一种使用点灯模块检测装置检测点灯模块的方法,所述点灯模块检测装置包括:底座;支架单元,设置在所述底座上,其上设置臂部,所述臂部配置来固定待检测点灯模块;以及检测台,设置在所述底座上,其上设置检测器,所述检测器具有信号输出端,
其中,所述检测台包括检测台上部和检测台下部,所述检测台下部设置在所述底座上,所述检测台上部位于所述检测台下部之上,所述检测器设置在所述检测台上部上,所述检测台上部可拆卸以便于更换所述检测器;
所述检测台设置有第一推进机构,所述第一推进机构被配置为使所述检测台上部沿着第一方向相对于所述检测台下部运动;
所述第一推进机构包括X轴旋杆、设置在所述X轴旋杆上的螺纹、以及设置在所述检测台上部的螺纹孔,所述X轴旋杆安装在所述检测台下部的侧板上,所述X轴旋杆上设置的螺纹与所述检测台上部设置的螺纹孔相啮合,通过旋转所述X轴旋杆使所述检测台上部沿X轴方向移动并实现所述检测台上部与所述检测台下部可拆卸的连接,所述X轴方向为所述第一方向;
所述方法包括以下步骤:
将所述待检测点灯模块与所述检测器接触;
向所述待检测点灯模块输入电信号,由所述检测器的信号输出端输出信号;以及
对所述输出信号进行分析。
18.根据权利要求17所述的方法,其中,所述检测器包括至少一个检测电极,所述待检测点灯模块的包括至少一个探针,所述检测器的至少一个检测电极与所述待检测点灯模块的至少一个探针相对应,其中将所述待检测点灯模块与所述检测器接触包括:对应地将所述待检测点灯模块的至少一个探针与所述检测器的至少一个检测电极接触。
19.根据权利要求17或18所述的方法,其中,所述检测器具有与所述待检测点灯模块对应的显示面板的接线区相同的电极结构,所述显示面板的接线区包括至少一个电极。
20.根据权利要求18所述的方法,其中,所述至少一个检测电极连接至所述信号输出端,使得来自于所述至少一个探针的信号经由所述至少一个检测电极传送到所述信号输出端。
21.一种显示面板的检测方法,包括:
使用权利要求17-20任一项所述的方法检测点灯模块;以及
使用所述点灯模块检测显示面板。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201510580536.XA CN105158609B (zh) | 2015-09-11 | 2015-09-11 | 点灯模块检测装置、检测点灯模块及显示面板的方法 |
US15/136,085 US10255833B2 (en) | 2015-09-11 | 2016-04-22 | Light-on module testing device, method for testing light-on module and method for testing display panel |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201510580536.XA CN105158609B (zh) | 2015-09-11 | 2015-09-11 | 点灯模块检测装置、检测点灯模块及显示面板的方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN105158609A CN105158609A (zh) | 2015-12-16 |
CN105158609B true CN105158609B (zh) | 2018-12-28 |
Family
ID=54799529
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201510580536.XA Expired - Fee Related CN105158609B (zh) | 2015-09-11 | 2015-09-11 | 点灯模块检测装置、检测点灯模块及显示面板的方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10255833B2 (zh) |
CN (1) | CN105158609B (zh) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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CN107481653B (zh) * | 2017-08-23 | 2021-01-22 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种测试设备及测试方法 |
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-
2015
- 2015-09-11 CN CN201510580536.XA patent/CN105158609B/zh not_active Expired - Fee Related
-
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- 2016-04-22 US US15/136,085 patent/US10255833B2/en active Active
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Publication number | Publication date |
---|---|
US10255833B2 (en) | 2019-04-09 |
CN105158609A (zh) | 2015-12-16 |
US20170074940A1 (en) | 2017-03-16 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20181228 |