CN111897154A - 透过率测试治具及测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种透过率测试治具及测试方法,属于显示技术领域,其可实现对液晶盒的透过率检测。本发明的一种透过率测试治具,包括:承载结构,具有承载面,承载结构用于通过承载面承载待检测液晶盒;盖板结构,与承载结构连接,用于在测试过程中与待检测液晶盒接触并给待检测液晶盒提供测试用电信号;背光源,位于承载结构中且位于承载面的下方,用于在测试过程中给待检测液晶盒提供光源;光检测结构,用于在测试过程中检测背光源的亮度以及检测待检测液晶盒的显示亮度,以供后续进行透过率计算。
Description
技术领域
本发明属于显示制备技术领域,具体涉及一种透过率测试治具及测试方法。
背景技术
液晶显示面板主要由液晶盒、偏光片、背光源等结构形成,其中背光源用于给液晶盒提供光源,以使液晶盒能够显示不同的画面。为了保证液晶显示面板的显示性能,需要控制液晶显示面板的透过率的波动范围(即控制同一母板形成的多个显示面板的透过率不能相差过大)。透过率是指液晶盒的亮度与背光亮度的比值。
现有技术的一种测试液晶显示面板的透过率的方法中,只有当液晶盒形成模组(该模组至少包含液晶盒、背光源、驱动结构)之后,才能对液晶盒的透过率进行测试,无法直接对单独的液晶盒测试其透过率。
然而,若形成模组的液晶盒的透过率不符合标准时,由于模组中的液晶盒不能使用,使得模组中的背光源、驱动结构等结构也不能使用而浪费。
发明内容
本发明至少部分解决现有的测试液晶显示面板的透过率的方法会导致大量的资源浪费的问题,提供一种可减少资源浪费的液晶盒的透过率的测试治具。
解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种透过率测试治具,包括:承载结构,具有承载面,所述承载结构用于通过所述承载面承载待检测液晶盒;盖板结构,与所述承载结构连接,用于在测试过程中与所述待检测液晶盒接触并给所述待检测液晶盒提供测试用电信号;背光源,位于所述承载就结构中且位于所述承载面的下方,用于在测试过程中给所述待检测液晶盒提供光源;光检测结构,用于在测试过程中检测所述背光源的亮度以及检测所述待检测液晶盒的显示亮度,以供后续进行透过率计算。
进一步优选的是,透过率测试治具还包括:计算模块,与所述光检测结构信号连接,用于根据所述背光源的亮度和所述待检测液晶盒的显示亮度计算出所述待检测液晶盒的透过率。
进一步优选的是,所述承载面上设置有出光区;所述背光源的出光面完全覆盖所述出光区,所述出光区的尺寸大于所述待检测液晶盒的尺寸。
进一步优选的是,所述盖板结构包括第一透光区域;在测试过程中,所述第一透光区域在所述承载面上的正投影位于所述出光区内,且所述第一透光区域与所述待检测液晶盒对应。
进一步优选的是,所述盖板结构还包括第二透光区域,在测试过程中,所述第二透光区域在所述承载面上的正投影位于所述出光区内,且所述第二透光区域与所述背光源对应、而不与所述待检测液晶盒对应。
进一步优选的是,所述光检测结构配置为通过检测所述第一透光区域的亮度以得到所述待检测液晶盒的显示亮度,以及通过检测所述第二透光区域的亮度以得到所述背光源的亮度。
进一步优选的是,透过率测试治具还包括:限位件,设置在所述承载结构上,用于限定所述待检测液晶盒在所述承载面上的位置。
进一步优选的是,所述盖板结构配置有导电引脚;所述透过率测试治具还包括:信号产生单元,与所述导电引脚电连接,用于产生并向所述导电引脚提供测试用电信号。
进一步优选的是,透过率测试治具还包括:驱动单元,与所述光检测结构连接,用于驱动所述光检测结构进行运动。
解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种液晶盒的透过率测试方法,基于上述的液晶盒的透过率的测试治具,所述测试方法包括:将待检测液晶盒放置在承载结构的承载面上;将盖板结构与所述待检测液晶盒电连接,以给所述待检测液晶盒提供电源;背光源给所述待检测液晶盒提供光源,以使所述待检测液晶盒显示;采用光检测结构分别检测所述背光源的亮度以及测试所述待检测液晶盒的显示亮度。
附图说明
附图是用来提供对本发明的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与下面的具体实施方式一起用于解释本发明,但并不构成对本发明的限制。在附图中:
图1为本发明的实施例的一种液晶盒的透过率的测试治具的结构示意图;
图2为本发明的实施例的一种液晶盒的透过率的测试治具的结构示意图;
图3为本发明的实施例的一种液晶盒的透过率的测试方法的流程示意图;
图4为本发明的实施例的一种液晶盒的透过率的测试方法与现有技术的测试方法测得透过率值的表格图;
图5为本发明的实施例的一种液晶盒的透过率的测试方法与现有技术的测试方法测得透过率波动趋势的对比曲线图;
图6为本发明的实施例的一种液晶盒的透过率的测试方法在不同点亮时间测得透过率的表格图;
其中,附图标记为:1、承载结构;11、承载面;112、出光区;2、盖板结构;21、第一透光区域;22、第二透光区域;3、光检测结构;4、计算模块;5、待检测液晶盒。
具体实施方式
为使本领域技术人员更好地理解本发明的技术方案,下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细描述。
以下将参照附图更详细地描述本发明。在各个附图中,相同的元件采用类似的附图标记来表示。为了清楚起见,附图中的各个部分没有按比例绘制。此外,在图中可能未示出某些公知的部分。
在下文中描述了本发明的许多特定的细节,例如部件的结构、材料、尺寸、处理工艺和技术,以便更清楚地理解本发明。但正如本领域的技术人员能够理解的那样,可以不按照这些特定的细节来实现本发明。
实施例1:
如图1至图6所示,本实施例提供一种透过率测试治具,包括:承载结构1、盖板结构2、背光源(图中未示处)、光检测结构3;其中,承载结构1,具有承载面11,承载结构1用于通过承载面11承载待检测液晶盒5;盖板结构2,与承载结构1连接,用于在检测过程中与待检测液晶盒5接触并给待检测液晶盒5提供测试用电信号;背光源,位于承载就结构中且位于承载面11的下方,用于在检测过程中给待检测液晶盒5提供光源;光检测结构3,用于在测试过程中检测背光源的亮度以及检测待检测液晶盒5的显示亮度,以供后续进行透过率计算。
其中,承载结构1用于放置待检测液晶盒5。当将待检测液晶盒5放置在承载结构1的承载面11上后,盖板结构2可以通过其上的引脚与待检测液晶盒5上的端口连接,以使盖板结构2给待检测液晶盒5提供测试用电信号;需要说明的是,用于提供测试用电信号的电路结构可以是设置在盖板中,也可以设置在承载结构1中,该电路结构的输出端与盖板结构2的引脚电连接。
需要说明的是,本实施例的液晶盒的透过率的测试治具所检测的液晶盒包括液晶结构、彩膜层等,而不包括偏光片、背光源、线路板等结构。
本实施例的透过率测试治具能够检测单独的液晶盒的透过率,即不需要将显示面板上制备背光源、线路板等结构形成显示面板或模组等结构,从而当液晶盒检测不合格时,可以减少背光源、线路板等结构的浪费,不仅保证制备形成的显示面板的性能,还能减少显示面板的制备损耗。
优选的,本实施例的透过率测试治具还包括:计算模块4,与光检测结构3信号连接,用于根据背光源的亮度和待检测液晶盒5的显示亮度计算出待检测液晶盒5的透过率。
其中,光检测结构3会将其检测结构传输至计算模块4中,以使计算模块4计算出待检测液晶盒5的透过率。需要说明的是,待检测液晶盒5的透过率值为待检测液晶盒5的显示亮度与背光源的亮度的比值。
优选的,盖板结构2的一侧边缘与承载结构1以平行承载面11的线为轴转动连接。
其中,盖板结构2与承载结构1以平行承载面11的线为轴转动连接,当承载面11承载有待检测液晶盒5时,将盖板结构2转动至与承载结构1叠置,以使待检测液晶盒5位于承载结构1和盖板结构2之间。即盖板结构2相对与承载结构1至少具有翻开和闭合两种状态,当盖板结构2翻开时,盖板结构2和承载结构1不叠置,此时可以将待检测液晶盒5放置在承载面11上,如图1所示;而当盖板结构2闭合时,盖板结构2和承载结构1为相互叠置的状态,待检测液晶盒5位于承载结构1和盖板结构2之间,以使待检测液晶盒5相对于承载结构1的位置固定,此外,盖板结构2上的引脚与待检测液晶盒5上的电结构连接,以使盖板结构2给待检测液晶盒5提供测试用电信号,如图2所示。
上述这种结构比较简单,不仅能够方便的将待检测液晶盒5安装在承载结构1上,而且能够保证待检测液晶盒5与承载结构1之间的稳定性。
优选的,承载面11上设置有出光区112;背光源的出光面完全覆盖出光区112,出光区112的尺寸大于待检测液晶盒5的尺寸。
其中,当待检测液晶盒5设置于承载结构1和盖板结构2之间时,背光源通过承载面11将背光源发出光的光照射至位于承载面11的待检测液晶盒5上。背光源可以是面光源,承载结构1可以盒状的,背光源设置在盒状的承载结构1中。承载结构1的承载面11相当于盒体的一个表面,承载面11可以是由透明材料形成的,背光源的发光面与承载结构1的承载面11对应,这样背光源发出的光可以透过承载面11照射到位于承载面11上的待检测液晶盒5上,从而给待检测液晶盒5提供光源。
优选的,盖板结构2包括第一透光区域21;在测试过程中,第一透光区21域在承载面11上的正投影位于出光区112内,且第一透光区域21与待检测液晶盒5对应。
其中,当待检测液晶盒5设置于承载结构1和盖板结构2之间,第一透光区域21与待检测液晶盒5至少部分对应,以使待检测液晶盒5发出的光能够从第一透光区域21射出。即除去第一透光区域21,盖板结构2其余的部分是不透明的,而第一透光区域21与待检测液晶盒5对应,这样可以使得待检测液晶盒5发出的光正好透过第一透光区域21射出。
进一步的,盖板结构2还包括第二透光区域22,在测试过程中,第二透光区域22在承载面11上的正投影位于出光区112内,且第二透光区域22与背光源对应、而不与待检测液晶盒5对应。
其中,背光源的尺寸大于待检测液晶盒5的尺寸,当待检测液晶盒5设置于承载结构1和盖板结构2之间时,至少部分背光源发光的能够不经过待检测液晶盒5而直接射向第二透光区域22。也就是说盖板结构2和背光源的尺寸均大于待检测液晶盒5的尺寸。当待检测液晶盒5设置于承载结构1和盖板结构2之间时,第二透光区域22与超出待检测液晶盒5的部分背光源对应,这样可以使得至少部分背光源发出的光正好透过第二透光区域22射出。
优选的,光检测结构3配置为通过检测第一透光区域21的亮度以得到待检测液晶盒5的显示亮度,以及通过检测第二透光区域22的亮度以得到背光源的亮度。
其中,当待检测液晶盒5发出的光能够从第一透光区域21射出,光检测结构3通过检测第一透光区域21的亮度,以得到待检测液晶盒5的显示亮度;当至少部分背光源发光的不经过待检测液晶盒5而从第二透光区域22射出,光检测结构3通过检测第二透光区域22的亮度,以得到背光源的亮度。光检测结构3可包括与承载结构1连接的测试探头,该测试探头也可以是单独的。当光检测结构3与承载结构1连接时,光检测结构3还包括用于移动测试探头的转轴结构,转轴结构可以通过齿轮与测试探头连接。当旋转转轴结构时,可移动测试探头的位置至第一透光区域21,以使测试探头检测待检测液晶盒5的显示亮度;当旋转转轴结构时,也可移动测试探头的位置至第二透光区域22,以使测试探头检测背光源的亮度。
需要说明的是,背光源由于使用环境和使用时间可能导致其亮度会有变化,因此,在测试每一个待检测液晶盒5均需要重新对背光源的亮度进行检测。
本实施例的透过率测试治具,设置有与待检测液晶盒5对应的第一透光区域21和与背光源对应的第二透光区域22,这样光检测结构3只需对第一透光区域21和第二透光区域22的亮度进行检测即可得到待检测液晶盒5的显示亮度和背光源的亮度,从而使得测试的操作过程更加简单。
优选的,本实施的透过率测试治具还包括限位件(图中未示处),设置在承载结构1上,用于限定待检测液晶盒5在承载面11上的位置。
其中,为了进一步限定待检测液晶盒5相对于承载结构1的位置,在承载结构1上设置为限位件。该限位件可以是与待检测液晶盒5形状匹配的浅槽,也可以是设置在承载面11边缘与待检测液晶盒5形状对应的多个凸起,或者是其他可实现的结构,此处不做具体限定。
优选的,盖板结构2配置有导电引脚;透过率测试治具还包括:信号产生单元,与导电引脚电连接,用于产生并向导电引脚提供测试用电信号。
其中,也就是说当待检测液晶盒5安装在测试治具时,信号产生单元能够向待检测液晶盒5提供时序信号,以使待检测液晶盒5能够白显示。
需要说明的是,在承载结构1的外表面可以设置一个调节画面的按钮,通过操作该按钮控制时序控制单元,以使得待检测液晶盒5的显示的显示画面发生变化。
此外,透过率测试治具还包括:驱动单元(图中未示处),与光检测结构连接,用于驱动光检测结构进行运动。
具体的,该待检测液晶盒5可为液晶显示面板的液晶盒。该液晶显示面板可为电子纸、手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。
实施例2:
如图1至图6所示,本实施例提供一种液晶盒的透过率测试方法,基于实施例1的液晶盒的透过率的测试治具,该测试方法包括:
S11、将待检测液晶盒5放置在承载结构1的承载面11上。
具体的,当盖板结构2翻开时,盖板结构2和承载结构1不叠置,将待检测液晶盒5放置在承载结构1的承载面11上。
S12、将盖板结构2与待检测液晶盒5电连接,以给待检测液晶盒5提供测试用电信号。
具体的,将盖板结构2转动至与承载结构1叠置,以使待检测液晶盒5位于承载结构1和盖板结构2之间。盖板结构2上的引脚与待检测液晶盒5上的电结构连接,以使盖板结构2给待检测液晶盒5提供测试用电信号。
S13、背光源给待检测液晶盒5提供光源,以使待检测液晶盒5显示。
具体的,承载面11可以是透明材料形成的,背光源的发光面与承载结构1的承载面11对应,这样背光源发出的光可以透过承载面11照射到位于承载面11上的待检测液晶盒5上,从而给待检测液晶盒5提供光源。
S14、采用光检测结构3分别检测背光源的亮度以及检测待检测液晶盒5的显示亮度。
具体的,光检测结构3可包括与承载结构1连接的测试探头,该测试探头也可以是单独的。当光检测结构3与承载结构1连接时,光检测结构3还包括用于移动测试探头的转轴结构,转轴结构可以通过齿轮与测试探头连接。当旋转转轴结构时,可移动测试探头的位置至第一透光区域21,以使测试探头检测待检测液晶盒5的显示亮度;当旋转转轴结构时,也可移动测试探头的位置至第二透光区域22,以使测试探头检测背光源的亮度。
S15、计算模块4根据背光源的亮度和待检测液晶盒5的显示亮度得出待检测液晶盒5的透过率。
具体的,在承载结构1的外表面可以设置一个调节按钮,通过操作该按钮控制时序控制单元,以使调节待检测液晶盒5的显示。
此外,为了验证本实施例的液晶盒的透过率测试方法测得的透过率的准确性。进行了如下试验。
需要说明的是,在液晶盒的制备过程中,一个母板同时形成多个液晶盒,当这个母板不同位置的透过率的波动较大,则该母板的形成的液晶盒均不符合要求。
针对同一母板,随机选取由该母板形成14个液晶盒,首先采用本实施例的测试方法测出选出的14个液晶盒的透过率;再将该14个液晶盒制备成模组(将每个液晶盒上设置背光结构、线路板等),采用现有的常规技术的测试这14个液晶盒的透过率;最后对比两种方法测得的数据,如图4和图5所示。可以看出两种方法测出的透过率的波动趋势一致,因此采用本实施例液晶盒的透过率测试方法筛选合格的液晶盒的可靠性高。
进一步的,针对相同的液晶盒,通过测试电亮不同时长得到的透过率,来验证本实施的液晶盒的透过率测试方法的稳定性,检测结构如图6所示,可以看出,点亮不同时长,测得的同一液晶盒的透过率几乎相同,因此得到本实施的液晶盒的透过率测试方法的稳定性好。
本实施例的液晶盒的透过率的测试方法能够测试单独的液晶盒的透过率,即不需要将显示面板上制备背光源、线路板等结构形成显示面板或模组等结构,从而当液晶盒测试不合格时,可以减少背光源、线路板等结构的浪费,不仅保证制备形成的显示面板的性能,还能减少显示面板的制备损耗。此外,本实施例的液晶盒的透过率的测试方法不仅测得透过率的准确性高,而且其测试稳定性也很好。
应当说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
依照本发明的实施例如上文所述,这些实施例并没有详尽叙述所有的细节,也不限制该发明仅为所述的具体实施例。显然,根据以上描述,可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例,是为了更好地解释本发明的原理和实际应用,从而使所属技术领域技术人员能很好地利用本发明以及在本发明基础上的修改使用。本发明仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。
Claims (11)
1.一种透过率测试治具,其特征在于,包括:
承载结构,具有承载面,所述承载结构用于通过所述承载面承载待检测液晶盒;
盖板结构,与所述承载结构连接,用于在测试过程中与所述待检测液晶盒接触并给所述待检测液晶盒提供测试用电信号;
背光源,位于所述承载就结构中且位于所述承载面的下方,用于在测试过程中给所述待检测液晶盒提供光源;
光检测结构,用于在测试过程中检测所述背光源的亮度以及检测所述待检测液晶盒的显示亮度,以供后续进行透过率计算。
2.根据权利要求1所述的透过率测试治具,其特征在于,还包括:
计算模块,与所述光检测结构信号连接,用于根据所述背光源的亮度和所述待检测液晶盒的显示亮度计算出所述待检测液晶盒的透过率。
3.根据权利要求1所述的透过率测试治具,其特征在于,所述盖板结构的一侧边缘与所述承载结构以平行所述承载面的线为轴转动连接。
4.根据权利要求1所述的透过率测试治具,其特征在于,所述承载面上设置有出光区;
所述背光源的出光面完全覆盖所述出光区,所述出光区的尺寸大于所述待检测液晶盒的尺寸。
5.根据权利要求4所述的透过率测试治具,其特征在于,所述盖板结构包括第一透光区域;在测试过程中,所述第一透光区域在所述承载面上的正投影位于所述出光区内,且所述第一透光区域与所述待检测液晶盒对应。
6.根据权利要求5所述的透过率测试治具,其特征在于,所述盖板结构还包括第二透光区域,在测试过程中,所述第二透光区域在所述承载面上的正投影位于所述出光区内,且所述第二透光区域与所述背光源对应、而不与所述待检测液晶盒对应。
7.根据权利要求6所述的透过率测试治具,其特征在于,所述光检测结构配置为通过检测所述第一透光区域的亮度以得到所述待检测液晶盒的显示亮度,以及通过检测所述第二透光区域的亮度以得到所述背光源的亮度。
8.根据权利要求1所述的透过率测试治具,其特征在于,还包括:限位件,设置在所述承载结构上,用于限定所述待检测液晶盒在所述承载面上的位置。
9.根据权利要求1所述的透过率测试治具,其特征在于,所述盖板结构配置有导电引脚;
所述透过率测试治具还包括:信号产生单元,与所述导电引脚电连接,用于产生并向所述导电引脚提供测试用电信号。
10.根据权利要求1-9中任一所述的透过率测试治具,其特征在于,还包括:驱动单元,与所述光检测结构连接,用于驱动所述光检测结构进行运动。
11.一种透过率测试方法,其特征在于,基于权利要求1至权利要求10中任意一项所述的液晶盒的透过率的测试治具,所述测试方法包括:
将待检测液晶盒放置在承载结构的承载面上;
将盖板结构与所述待检测液晶盒电连接,以给所述待检测液晶盒提供测试用电信号;
背光源给所述待检测液晶盒提供光源,以使所述待检测液晶盒显示;
采用光检测结构分别检测所述背光源的亮度以及检测所述待检测液晶盒的显示亮度。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202010848779.8A CN111897154B (zh) | 2020-08-21 | 2020-08-21 | 透过率测试治具及测试方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202010848779.8A CN111897154B (zh) | 2020-08-21 | 2020-08-21 | 透过率测试治具及测试方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN111897154A true CN111897154A (zh) | 2020-11-06 |
CN111897154B CN111897154B (zh) | 2023-08-18 |
Family
ID=73229804
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202010848779.8A Active CN111897154B (zh) | 2020-08-21 | 2020-08-21 | 透过率测试治具及测试方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN111897154B (zh) |
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