CN111158177A - 检测结构、显示面板、检测装置及检测系统 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种检测结构、显示面板、检测装置及检测系统，涉及显示技术领域，该检测系统可以避免因测试引脚部间距过小引起的探针块发生干涉、导致无法实现点灯的问题。检测结构，位于显示面板的非显示区，所述检测结构包括：多个测试单元和多组第一连接线；每个测试单元包括：芯片绑定部、位于芯片绑定部两侧的测试引脚部、多组第二连接线；每个测试单元中，每组第二连接线的第一端连接测试引脚部、第二端连接芯片绑定部；任意相邻两个测试单元中，相邻两个测试引脚部分别连接一组第一连接线的第一端和第二端；检测结构在点灯测试中，至少有两个间隔设置的测试单元分别用于与检测装置电连接。本发明适用于显示面板和检测装置的制作。

Description

检测结构、显示面板、检测装置及检测系统

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种检测结构、显示面板、检测装置及检测系统。

背景技术

液晶显示面板在显示技术领域中具有举足轻重的作用。液晶显示面板一般包括对盒的彩膜基板和阵列基板、以及位于彩膜基板和阵列基板之间的液晶。为了保证产品质量，在液晶显示面板出厂前，会对切割完成的液晶盒进行点灯测试(Cell Test，CT)，以确认液晶盒是否存在缺陷。该测试过程是对液晶面板输入测试信号，使其像素呈现色彩，接着通过缺陷观察装置对点灯画面进行检测，确认各个像素是否良好。

为了降低成本，多采用2D点灯方案。现有的2D CT点灯设计中，在显示面板的非显示区，设置多个COF Bonding区，每个COF Bonding区的左右两侧各设置一组CT Pad。CT点灯时，PU(Probe Unit，探针装置)上的多个Block(探针块)的位置与多个COF Bonding区的位置一一对应，每个Block中靠近显示面板的一侧各有两组针(Blade)，且分别与对应的COFBonding区两侧的CT Pad接触；这样可以通过Block的Blade向CT Pad输入不同信号，从而实现CT点灯。

然而，这种CT点灯方式，对COF Bonding区的间距有一定的要求。对于小尺寸、高分辨率的液晶显示产品来说，COF Bonding区的数量多，但是面板尺寸小，这必然会导致COFBonding区的间距过小。而若相邻COF Bonding区之间的两组CT Pad距离过小，会导致PU上与之对应的相邻两个Block发生干涉，严重影响信号传输，从而导致无法实现点灯。

发明内容

本发明的实施例提供一种检测结构、显示面板、检测装置及检测系统，该检测系统可以避免因测试引脚部间距过小引起的探针块发生干涉、进而导致无法实现点灯的问题。

为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：

第一方面，提供了一种检测结构，位于显示面板的非显示区，所述检测结构包括：

多个测试单元和多组第一连接线；

每个所述测试单元包括：芯片绑定部、位于所述芯片绑定部两侧的测试引脚部、多组第二连接线；

每个测试单元中，每组所述第二连接线的第一端连接所述测试引脚部、第二端连接所述芯片绑定部；

任意相邻两个所述测试单元中，相邻两个所述测试引脚部分别连接一组所述第一连接线的第一端和第二端；

所述检测结构在点灯测试中，至少有两个间隔设置的所述测试单元分别用于与检测装置电连接。

可选的，每个所述测试引脚部至少包括奇数数据线引脚、偶数数据线引脚和公共信号线引脚；

每组所述第一连接线包括三条，且分别对应连接相邻的两个所述测试引脚部的所述奇数数据线引脚、所述偶数数据线引脚和所述公共信号线引脚。

可选的，每个所述测试引脚部至少包括红色子像素数据线引脚、绿色子像素数据线引脚、蓝色子像素数据线引脚和公共信号线引脚；

每组所述第一连接线包括四条，且分别对应连接相邻的两个所述测试引脚部的所述红色子像素数据线引脚、所述绿色子像素数据线引脚、所述蓝色子像素数据线引脚和所述公共信号线引脚。

可选的，所述检测结构在点灯测试中，有两个间隔设置的所述测试单元分别与检测装置电连接，且两个间隔设置的所述测试单元分别位于所述检测结构的两端。

本发明的实施例提供了一种检测结构，位于显示面板的非显示区，所述检测结构包括：多个测试单元和多组第一连接线；每个所述测试单元包括：芯片绑定部、位于所述芯片绑定部两侧的测试引脚部、多组第二连接线；每个测试单元中，每组所述第二连接线的第一端连接所述测试引脚部、第二端连接所述芯片绑定部；任意相邻两个所述测试单元中，相邻两个所述测试引脚部分别连接一组所述第一连接线的第一端和第二端；所述检测结构在点灯测试中，至少有两个间隔设置的所述测试单元分别用于与检测装置电连接。

这样，在点灯测试中，至少有两个间隔设置的测试单元分别与检测装置电连接即可，从而避免所有的测试单元与检测装置电连接，进而可以增大与检测装置电连接的测试单元之间的间距，同时还能增大与检测装置电连接的相邻测试单元的测试引脚部的间距。这样，对具有上述检测结构的显示面板进行点灯测试时，可以避免因测试引脚部间距过小引起的探针块发生干涉、进而导致无法实现点灯的问题。

第二方面，提供了一种显示面板，包括上述所述的检测结构、以及位于显示区的多个阵列排布的子像素；其中，所述检测结构中多组第二连接线断开。该显示面板具有良率高、产品质量好的特点。

第三方面，提供了一种检测装置，用于检测上述所述的显示面板，所述显示面板包括上述所述的检测结构，所述检测结构中多组第二连接线和多组第一连接线均未断开；所述检测装置至少包括两个间隔设置的探针块；所述探针块在点灯测试中，与所述显示面板的检测结构中的测试单元相接触；其中，所述探针块与所述测试单元一一对应。

可选的，所述检测装置包括两个间隔设置的所述探针块，且两个间隔设置的所述探针块分别位于所述检测装置的两端。

可选的，所述检测装置还包括多个间隔设置的探针块卡槽。

本发明的实施例提供了一种检测装置，用于检测显示面板，所述显示面板包括上述所述的检测结构，所述检测结构中多组第二连接线和多组第一连接线均未断开；所述检测装置至少包括两个间隔设置的探针块；所述探针块在点灯测试中，与所述显示面板的检测结构中的测试单元相接触；其中，所述探针块与所述测试单元一一对应。由于探针块间隔设置，相邻探针块之间的间距变大，从而避免发生干涉。这样，采用该检测装置对上述显示面板进行测试时，可以避免因测试引脚部间距过小引起的探针块发生干涉、进而导致无法实现点灯的问题。

第四方面，提供了一种检测系统，包括：控制器、显示面板和上述的检测装置；

所述显示面板包括上述所述的检测结构，所述检测结构中多组第二连接线和多组第一连接线均未断开；

所述检测装置被配置为：检测所述显示面板；

所述控制器被配置为：向所述检测装置的探针块输入数据信号；检测所述显示面板的显示画面是否良好；若是，则判定所述显示面板正常；若否，则判定所述显示面板异常。

该检测系统可以避免因测试引脚部间距过小引起的探针块发生干涉、进而导致无法实现点灯的问题。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为现有技术提供的一种显示面板和检测装置的结构示意图；

图2为本发明实施例提供的一种显示面板和检测装置的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

在本发明的实施例中，采用“第一”、“第二”等字样对功能和作用基本相同的相同项或相似项进行区分，仅为了清楚描述本发明实施例的技术方案，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。

在本发明的实施例中，“多组”的含义是两组或两组以上，除非另有明确具体的限定。

实施例一

现有技术中，参考图1所示，CT点灯时，PU Base1上的多个Block3的位置与多个COFBonding区5的位置一一对应，每个Block3中靠近显示面板的一侧各有两组针4，且分别与对应的COF Bonding区5两侧的CT Pad6接触。当然，PU1还设置有PCB(Printed CircuitBoard，印制电路板)2。对于小尺寸、高分辨率的液晶显示产品来说，COF Bonding区的数量多，但是面板尺寸小，这必然会导致COF Bonding区的间距过小。而若相邻COF Bonding区之间的两组CT Pad距离过小，会导致PU上与之对应的相邻两个Block发生干涉，严重影响信号传输，从而导致无法实现点灯。

本发明实施例提供了一种检测结构，位于显示面板的非显示区，参考图2所示，该检测结构包括：多个测试单元20和多组第一连接线23。

每个测试单元20包括：芯片绑定部21、位于芯片绑定部21两侧的测试引脚部22、多组第二连接线24。

每个测试单元中，每组第二连接线24的第一端(图2未标记)连接测试引脚部22、第二端(图2未标记)连接芯片绑定部21。

任意相邻两个测试单元中，相邻的两个测试引脚部22分别连接一组第一连接线23的第一端(图2未标记)和第二端(图2未标记)。

该检测结构在点灯测试中，至少有两个间隔设置的测试单元分别用于与检测装置电连接。

根据现有技术可知，上述显示面板包括显示区(Active Area，AA)和非显示区，其中，显示区是指用于实现显示的区域，非显示区一般用于设置驱动电路等。

上述芯片绑定部用于后续绑定芯片，这里对于后续绑定芯片的方式不做限定，示例的，其可以是COF(Chip On Film，覆晶薄膜)，也可以是COG(Chip On Glass，芯片绑定在玻璃上)等封装形式。为了满足窄边框需求，可选用COF封装形式。

需要说明的是，显示面板在显示区包括阵列排布的多个子像素。在点灯测试中，上述芯片绑定部还电连接多个子像素，可以根据测试引脚部输入的信号向子像素输入信号，从而实现显示，进而可以根据显示画面的情况实现检测。

上述测试引脚部包括的引脚数量、以及每个引脚传输的信号类型不做限定，具体需要根据测试要求而定。测试引脚部在点灯测试中，可以接收检测装置输出的信号并将该信号传输至芯片绑定部。

上述检测结构在点灯测试中，多组第二连接线的第一端和第二端之间未断开，从而将每个测试单元中的芯片绑定部和测试引脚部相连；多组第一连接线的第一端和第二端之间未断开，从而将多个测试单元串联在一起。而在点灯测试后，多组第二连接线的第一端和第二端之间断开，以使得多个测试单元中的芯片绑定部保持独立；此时，多组第一连接线的第一端和第二端之间可以断开，也可以保持原状态，为了减少制作工艺，一般选择后者。

这里每组第一连接线和每组第二连接线的数量，具体需要根据传输的信号数量确定。这里对于第一连接线和第二连接线的材料也不做限定，示例的，可以是金属，例如：铜、银等。这里对于第一连接线和第二连接线的设置位置不做限定，考虑到不增加空间以及不影响后续工艺，第一连接线可以设置在相邻两个测试引脚部靠近显示区的一侧(即图2所示的测试引脚部的下侧)，第二连接线可以设置在相邻两个测试引脚部远离显示区的一侧(即图2所示的测试引脚部的上侧)。

上述在点灯测试中，至少有两个间隔设置的测试单元分别用于与检测装置电连接是指：在点灯测试中，仅有两个间隔设置的测试单元分别用于与检测装置电连接；或者，有三个及以上间隔设置的测试单元分别用于与检测装置电连接。这里对于间隔的测试单元的数量不做要求，其可以是间隔一个测试单元，也可以是间隔两个及以上的测试单元。间隔的测试单元数量越多，则与检测装置电连接的测试单元之间的间距越大，与检测装置电连接的相邻测试单元的测试引脚部的间距也就越大，这样更有利于避免因测试引脚部间距过小引起的探针块发生干涉、进而导致无法实现点灯的问题。

需要说明的是，因测试引脚部间距过小引起的探针块发生干涉，进而导致无法实现点灯的问题，在小尺寸、高分辨率的显示面板中，表现的尤为突出。因此，上述检测结构多应用于小尺寸、高分辨率的显示面板。但是，本发明实施例并不限于此，大尺寸、高分辨率的显示面板同样可以包括上述检测结构。

本发明的实施例提供了一种检测结构，位于显示面板的非显示区，检测结构包括：多个测试单元和多组第一连接线；每个测试单元包括：芯片绑定部、位于芯片绑定部两侧的测试引脚部、多组第二连接线；每个测试单元中，每组第二连接线的第一端连接测试引脚部、第二端连接芯片绑定部；任意相邻两个测试单元中，相邻两个测试引脚部分别连接一组第一连接线的第一端和第二端；检测结构在点灯测试中，至少有两个间隔设置的测试单元分别用于与检测装置电连接。

这样，在点灯测试中，至少有两个间隔设置的测试单元分别与检测装置电连接即可，从而避免所有的测试单元与检测装置电连接，进而可以增大与检测装置电连接的测试单元之间的间距，同时还能增大与检测装置电连接的相邻测试单元的测试引脚部的间距。这样，对具有上述检测结构的显示面板进行点灯测试时，可以避免因测试引脚部间距过小引起的探针块发生干涉、进而导致无法实现点灯的问题。

下面分别说明在2D CT测试和3D CT测试中，测试引脚部的信号传输情况。

第一种、由于显示面板中数据信号线端子很多，在产品量产中为了节约成本，目前主要采用2D点灯方案。在2D CT测试中，将奇数和偶数条Data信号端子分别利用短路线连接在一起，因此，仅需对两条Data线输入信号，即可完成所有信号线的加电测试。

此时，可选的，参考图2中对圆圈部分的放大图，每个测试引脚部至少包括奇数数据线引脚(DO引脚)、偶数数据线引脚(DE引脚)和公共信号线引脚(Vcom引脚)。图2中，为了清楚说明测试引脚部的结构，对圆圈划定的两个测试引脚部进行放大绘示，并将放大后的图设置在检测结构的下方。

每组第一连接线包括三条，且分别对应连接相邻的两个测试引脚部的奇数数据线引脚、偶数数据线引脚和公共信号线引脚。

上述奇数数据线引脚、偶数数据线引脚和公共信号线引脚分别用于传输奇数数据线(Data Odd，DO)信号、偶数数据线(Data Even，DE)信号和公共信号线(Vcom)信号。若将该检测结构应用于液晶显示面板，则该公共信号线信号为驱动公共电极的信号。若将该检测结构应用于其它类型的显示面板，则该公共信号线信号可以相应调整为类似的驱动信号。

通过对奇数数据线引脚、偶数数据线引脚和公共信号线引脚施加不同的信号，可以实现奇数列的子像素显示同一灰阶，偶数列的子像素显示同一灰阶，从而完成2D点灯测试。

当然，上述测试引脚部还可以包括其它引脚，用于传输其它信号，这里仅介绍与发明点相关的内容，此处不再赘述。

第二种、为了提高测试的精度，还可以采用3D点灯方案。该方案中，将同一颜色的子像素的数据信号端子连接在一起。一般，显示面板包括：红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素。因此，需对三条Data线输入信号，才可完成所有信号线的加电测试。

此时，可选的，每个测试引脚部至少包括红色子像素数据线引脚、绿色子像素数据线引脚、蓝色子像素数据线引脚和公共信号线引脚。

每组第一连接线包括四条，且分别对应连接相邻的两个测试引脚部的红色子像素数据线引脚、绿色子像素数据线引脚、蓝色子像素数据线引脚和公共信号线引脚。

上述红色子像素数据线引脚、绿色子像素数据线引脚、蓝色子像素数据线引脚和公共信号线引脚分别用于传输红色子像素数据线信号、绿色子像素数据线信号、蓝色子像素数据线信号和公共信号线信号。若将该检测结构应用于液晶显示面板，则该公共信号线信号为驱动公共电极的信号。若将该检测结构应用于其它类型的显示面板，则该公共信号线信号可以相应调整为类似的驱动信号。

通过对红色子像素数据线引脚、绿色子像素数据线引脚、蓝色子像素数据线引脚和公共信号线引脚施加不同的信号，可以实现所有红色子像素显示同一灰阶，所有绿色子像素显示同一灰阶，所有蓝色子像素显示同一灰阶，从而完成3D点灯测试。

当然，上述测试引脚部还可以包括其它引脚，用于传输其它信号，这里仅介绍与发明点相关的内容，此处不再赘述。

可选的，检测结构在点灯测试中，有两个间隔设置的测试单元分别与检测装置电连接，且两个间隔设置的测试单元分别位于检测结构的两端(即图2中检测结构的最左端和最右端)。

为了描述方便，将图2中位于最左端的测试单元简称为测试单元L,位于最右端的测试单元简称为测试单元R。

若采用2D点灯方案，测试单元L和测试单元R分别与检测装置电连接，测试单元L和测试单元R两侧的测试引脚部至少可以分别获取奇数数据线(Data Odd，DO)信号、偶数数据线(Data Even，DE)信号和公共信号线(Vcom)信号。

若上述检测结构应用于GOA(Gate Driver on Array，阵列基板行驱动)显示面板中，则上述测试单元L的左侧的测试引脚部和测试单元R的右侧的测试引脚部还可以包括栅极信号引脚部，用于获取GOA控制信号，该GOA控制信号可以控制GOA电路输出Gate信号(栅极信号)。

该检测结构在点灯测试中，仅采用两个测试单元分别与检测装置电连接，从而最大程度地减少了检测装置中的探针块数量；同时，与检测装置电连接的两个测试单元分别位于检测结构的两端，最大程度增加了该两个测试单元之间的间距，可以完全避免因测试引脚部间距过小引起的探针块发生干涉、进而导致无法实现点灯的问题。

实施例二

本发明实施例提供了一种显示面板，包括实施例一所述的检测结构、以及位于显示区的多个阵列排布的子像素；其中，检测结构中多组第二连接线断开。此时，多组第一连接线可以断开，也可以保持原状态，为了减少制作工艺，一般选择后者。

该显示面板可以是TN(Twisted Nematic，扭曲向列)型、VA(Vertical Alignment，垂直取向)型、IPS(In-Plane Switching，平面转换)型或ADS(Advanced Super DimensionSwitch，高级超维场转换)型等液晶显示面板，还可以是OLED(Organic Light-EmittingDiode，有机发光二极管)显示面板以及包括这些显示面板的电视、数码相机、手机、平板电脑等任何具有显示功能的产品或者部件。该显示面板具有良率高、产品质量好的特点。

需要说明的是，上述显示面板可以通过以下方法制作：

S01、对显示面板进行检测，该显示面板包括实施例一所述的检测结构，该检测结构中多组第二连接线和多组第一连接线均未断开。

S02、在检测正常后，将多组第二连接线切断，得到本发明实施例所述的显示面板。

这里对于具体的切断方式不做限定。参考图2中的放大图所示，每个测试单元左侧的测试引脚部上侧设置标记A，右侧的测试引脚部上侧设置标记B，可采用激光在标记A和标记B处切割。切割的宽度大于或者等于一组第二连接线的宽度。

实施例三

本发明实施例提供了一种检测装置，用于检测显示面板，显示面板包括实施例一所述的检测结构，该检测结构中多组第二连接线和多组第一连接线均未断开。

检测装置至少包括两个间隔设置的探针块；探针块在点灯测试中，与显示面板的检测结构中的测试单元相接触；其中，探针块与测试单元一一对应。

上述检测装置采用探针块输出信号，因此又称为PU(Probe Unit，探针装置)。参考图2所示，除了探针块33，该检测装置还包括衬底(Base)31、电路板32等。探针块33靠近显示面板的一侧各有两组探针(Blade)34。探针块与测试单元一一对应，则探针块上的两组探针分别与测试单元两侧的测试引脚部一一对应。

上述检测装置至少包括两个间隔设置的探针块是指：该检测装置仅包括两个间隔设置的探针块；或者，该检测装置包括三个及以上间隔设置的探针块。这里对于间隔的探针块的数量不做要求，其可以是间隔一个探针块，也可以是间隔两个及以上的探针块。间隔的探针块数量越多，则相邻探针块的间距也就越大，这样更有利于避免相邻探针块发生干涉、进而导致无法实现点灯的问题。上述探针块设置的数量以及间隔距离，均与显示面板的检测结构中，用于与检测装置电连接的测试单元的设置相同。

本发明的实施例提供了一种检测装置，用于检测显示面板，该显示面板包括实施例一所述的检测结构，该检测结构中多组第二连接线和多组第一连接线均未断开；检测装置至少包括两个间隔设置的探针块；探针块在点灯测试中，与显示面板的检测结构中的测试单元相接触；其中，探针块与测试单元一一对应。由于探针块间隔设置，相邻探针块之间的间距变大，从而避免发生干涉。这样，采用该检测装置对上述显示面板进行测试时，可以避免因测试引脚部间距过小引起的探针块发生干涉、进而导致无法实现点灯的问题。同时，还能避免探针块与设备部件(例如：电路板)的干涉问题。

另外，相比现有技术，在点灯测试中，由于与检测装置电连接的测试单元大大减少，因此，检测装置中的探针块数量也大大减少。一方面降低了生产测试成本；另一方面，极大降低了探针块与测试引脚部错位(Block Miss)的风险、以及探针块的探针划伤Panel ID(显示面板信息号)的风险。

可选的，参考图2所示，检测装置30包括两个间隔设置的探针块33，且两个间隔设置的探针块33分别位于检测装置30的两端。

为了描述方便，将图2中位于最左端的探针块简称为探针块L,位于最右端的探针块简称为探针块R。

在点灯测试中，探针块L的两组探针分别与实施例一中测试单元L两侧的测试引脚部相接，探针块R的两组探针分别与实施例一中测试单元R两侧的测试引脚部相接，从而实现信号的传输。若采用2D点灯方案，则探针块L向测试单元L的测试引脚部、探针块R向测试单元R的测试引脚部分别输入奇数数据线(Data Odd，DO)信号、偶数数据线(Data Even，DE)信号和公共信号线(Vcom)信号。

若上述检测装置用于检测GOA显示面板，则在2D点灯方案中，探针块L还向测试单元L左侧的测试引脚部、探针块R还向测试单元R右侧的测试引脚部分别输入GOA控制信号。

该检测装置大大减少了探针块的数量，进一步降低了成本；同时，最大程度增加了两个探针块的间距，可以完全避免因测试引脚部间距过小引起的探针块发生干涉、进而导致无法实现点灯的问题。

可选的，该检测装置还包括多个间隔设置的探针块卡槽。该探针块卡槽可用于固定探针块。一方面，可以适应不同设置的显示面板，从而扩大该检测装置的适用范围；另一方面，若出现Data信号驱动不足的问题，可视情况增加探针块，以增强Data信号驱动能力。

实施例四

本发明实施例提供了一种检测系统，包括：控制器、显示面板和实施例三所述的检测装置。

该显示面板包括实施例一所述的检测结构，该检测结构中多组第二连接线和多组第一连接线均未断开。

检测装置被配置为：检测上述显示面板。

控制器被配置为：向检测装置的探针块输入数据信号；检测显示面板的显示画面是否良好；若是，则判定显示面板正常；若否，则判定显示面板异常。

上述控制器可以集成在检测装置上，也可以单独设置，这里不做限定。

该检测系统可以避免因测试引脚部间距过小引起的探针块发生干涉、进而导致无法实现点灯的问题。同时，还能避免探针块与设备部件(例如：电路板)的干涉问题。另外，相比现有技术，在点灯测试中，由于与检测装置电连接的测试单元大大减少，因此，检测装置中的探针块数量也大大减少。一方面降低了生产测试成本；另一方面，极大降低了探针块与测试引脚部错位的风险、以及探针块的探针划伤Panel ID的风险。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (9)

1.一种检测结构，位于显示面板的非显示区，其特征在于，所述检测结构包括：多个测试单元和多组第一连接线；

每个所述测试单元包括：芯片绑定部、位于所述芯片绑定部两侧的测试引脚部、多组第二连接线；

每个测试单元中，每组所述第二连接线的第一端连接所述测试引脚部、第二端连接所述芯片绑定部；

任意相邻两个所述测试单元中，相邻两个所述测试引脚部分别连接一组所述第一连接线的第一端和第二端；

所述检测结构在点灯测试中，至少有两个间隔设置的所述测试单元分别用于与检测装置电连接。

2.根据权利要求1所述的检测结构，其特征在于，

每个所述测试引脚部至少包括奇数数据线引脚、偶数数据线引脚和公共信号线引脚；

每组所述第一连接线包括三条，且分别对应连接相邻的两个所述测试引脚部的所述奇数数据线引脚、所述偶数数据线引脚和所述公共信号线引脚。

3.根据权利要求1所述的检测结构，其特征在于，

每个所述测试引脚部至少包括红色子像素数据线引脚、绿色子像素数据线引脚、蓝色子像素数据线引脚和公共信号线引脚；

每组所述第一连接线包括四条，且分别对应连接相邻的两个所述测试引脚部的所述红色子像素数据线引脚、所述绿色子像素数据线引脚、所述蓝色子像素数据线引脚和所述公共信号线引脚。

4.根据权利要求1-3任一项所述的检测结构，其特征在于，所述检测结构在点灯测试中，有两个间隔设置的所述测试单元分别与检测装置电连接，且两个间隔设置的所述测试单元分别位于所述检测结构的两端。

5.一种显示面板，其特征在于，包括权利要求1-4任一项所述的检测结构、以及位于显示区的多个阵列排布的子像素；其中，所述检测结构中多组第二连接线断开。

6.一种检测装置，其特征在于，用于检测显示面板，所述显示面板包括权利要求1-4任一项所述的检测结构，所述检测结构中多组第二连接线和多组第一连接线均未断开；

所述检测装置至少包括两个间隔设置的探针块；所述探针块在点灯测试中，与所述显示面板的检测结构中的测试单元相接触；其中，所述探针块与所述测试单元一一对应。

7.根据权利要求6所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置包括两个间隔设置的所述探针块，且两个间隔设置的所述探针块分别位于所述检测装置的两端。

8.根据权利要求7所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括多个间隔设置的探针块卡槽。

9.一种检测系统，其特征在于，包括：控制器、显示面板和权利要求6-8任一项所述的检测装置；

所述显示面板包括权利要求1-4任一项所述的检测结构，所述检测结构中多组第二连接线和多组第一连接线均未断开；

所述检测装置被配置为：检测所述显示面板；

所述控制器被配置为：向所述检测装置的探针块输入数据信号；检测所述显示面板的显示画面是否良好；若是，则判定所述显示面板正常；若否，则判定所述显示面板异常。

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