CN106526918A - 一种显示基板及其测试方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种显示基板及其测试方法，该显示基板包括：测试引线，同时与第一栅极驱动电路和第二栅极驱动电路电连接；高垂直排列制程测试焊盘，设置在测试引线的至少一端；第一阵列测试焊盘，与第一栅极驱动电路电连接，且与测试引线相连接形成第一连接点；第二阵列测试焊盘，与第二栅极驱动电路电连接，且与测试引线相连接形成第二连接点；开关单元，形成在测试引线的第一连接点和第二连接点之间，用于控制测试引线导通或断开。实现了在高垂直排列固化制程时，显示基板的两个栅极驱动电路同时打开工作，在对栅极驱动电路进行阵列测试时，对两个栅极驱动电路分别进行测试。

Description

一种显示基板及其测试方法
技术领域
本发明实施例涉及显示技术，尤其涉及一种显示基板及其测试方法。
背景技术
主动式薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor-LCD,TFT-LCD)近年来得到了飞速的发展和广泛的应用。现有市场上的液晶显示装置大部分为背光型液晶显示装置，其包括液晶显示面板及背光模组(backlight module)。通常液晶显示面板由彩膜基板(CF,Color Filte)、薄膜晶体管基板(TFT,Thin Film Transistor)、夹于彩膜基板与薄膜晶体管基板之间的液晶(LC,Liquid Crystal)及密封框胶(Sealant)组成，其工作原理是通过在两片玻璃基板上施加驱动电压来控制液晶层的液晶分子的旋转，将背光模组的光线折射出来产生画面。
大尺寸的显示基板一般采用双驱架构，两侧的两个栅极驱动电路连接至同一条栅极线。当显示基板正常工作时，两个栅极驱动电路输出同样的信号。传统的栅极驱动架构中，两侧的栅极驱动电路都是连接至同一高垂直排列(HVA，High Vertical Alignment)走线。在栅极驱动制程阶段的测试制程中，两侧的栅极驱动电路同时打开工作，输出栅极脉冲信号将显示区内部的像素点亮。当一侧的栅极驱动电路不能正常工作时，另外一侧的栅极驱动电路仍然能够输出栅极脉冲信号。该栅极脉冲信号也可以使得显示区内部的像素正常工作。这样就会带来漏检的风险，对提升制程的良率是非常不利的。
为了解决漏检的问题，现有的做法是将显示区两侧的栅极驱动电路分离开来。在对栅极驱动电路进行阵列测试时对两侧的栅极驱动电路分别进行测试。在对栅极驱动电路进行阵列测试时分别对两个栅极驱动电路进行单边送信号。这种设计虽然可以避免对栅极驱动电路漏检的风险，但是在高垂直排列固化制程时，由于显示基板的显示区尺寸较大，单边的栅极驱动电路驱动显示区工作会因为RC负载较重而导致比较严重的信号衰减，从而会导致画面分屏或画面渐变等问题。
发明内容
本发明实施例提供一种显示基板及其测试方法，以实现在高垂直排列固化制程时，显示基板的两个栅极驱动电路同时打开工作，在对栅极驱动电路进行阵列测试时，对两个栅极驱动电路分别进行测试。
一方面，本发明实施例提供了一种显示基板，包括显示区和围绕所述显示区的非显示区，所述显示区包括多条沿第一方向延伸的扫描线，以及分别设置在所述多条扫描线两端的第一栅极驱动电路和第二栅极驱动电路，所述显示基板还包括：
测试引线，同时与所述第一栅极驱动电路和所述第二栅极驱动电路电连接；
高垂直排列制程测试焊盘，设置在所述测试引线的至少一端；
第一阵列测试焊盘，与所述第一栅极驱动电路电连接，且与所述测试引线相连接形成第一连接点；
第二阵列测试焊盘，与所述第二栅极驱动电路电连接，且与所述测试引线相连接形成第二连接点；
开关单元，形成在所述测试引线的所述第一连接点和所述第二连接点之间，用于控制所述测试引线导通或断开。
可选地，所述高垂直排列制程测试焊盘设置在所述测试引线的两端，且位于所述显示区沿所述第一方向两侧的非显示区内。
可选地，所述第一阵列测试焊盘和所述第二阵列测试焊盘位于所述显示区沿第二方向一侧的非显示区内。
可选地，所述开关单元为一薄膜晶体管，所述显示基板还包括开关控制线，所述开关控制线与所述薄膜晶体管的栅极电连接，所述薄膜晶体管的源极和漏极与所述测试引线电连接。
可选地，显示基板还包括开关控制焊盘，所述开关控制线的端部与所述开关控制焊盘电连接。
可选地，所述开关控制焊盘与所述高垂直排列制程测试焊盘相邻设置。
另一方面，本发明实施例提供了一种显示基板的测试方法，
在高垂直排列固化制程时，控制所述开关单元导通，通过所述高垂直排列制程测试焊盘施加第一测试信号，所述第一测试信号驱动所述第一栅极驱动电路和所述第二栅极驱动电路同时工作；
在阵列测试时，控制所述开关单元关闭，分时通过所述第一阵列测试焊盘施加第二测试信号，以及通过所述第二阵列测试焊盘施加第三测试信号，所述第二测试信号驱动所述第一栅极驱动电路，以及所述第三测试信号驱动所述第二栅极驱动电路分时工作。
可选地，所述开关单元为一薄膜晶体管，在高垂直排列固化制程时，通过所述开关控制线向所述薄膜晶体管的栅极施加开启信号，以控制所述薄膜晶体管导通。
可选地，所述显示基板还包括开关控制焊盘，所述开关控制线的端部与所述开关控制焊盘电连接，在所述高垂直排列固化制程时，通过所述开关控制焊盘向所述开关控制线施加开启信号。
本发明提供了一种显示基板及其测试方法，该基板包括同时与第一栅极驱动电路和第二栅极驱动电路电连接的测试引线、高垂直排列制程测试焊盘、第一阵列测试焊盘、第二阵列测试焊盘以及开关单元，开关单元用于控制测试引线的导通或断开，在高垂直排列固化制程时，控制开关单元导通，第一栅极驱动电路和第二栅极驱动电路同时工作；在阵列测试时，控制开关单元关闭，第一栅极驱动电路和第二栅极驱动电路分时工作，实现了在高垂直排列固化制程时，显示基板的两个栅极驱动电路同时打开工作，在对栅极驱动电路进行阵列测试时，对两个栅极驱动电路分别进行测试。
附图说明
图1为本发明实施例中的一种显示基板的结构示意图；
图2为本发明实施例中的又一种显示基板的结构示意图；
图3为本发明实施例中的又一种显示基板的结构示意图；
图4为本发明实施例中的又一种显示基板的结构示意图；
图5为本发明实施例中的又一种显示基板的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。
图1为本发明实施例中的一种显示基板的结构示意图，参考图1，显示基板包括显示区100和非显示区，且由于非晶硅(a-Si)制作的薄膜晶体管(TFT)器件驱动能力较弱，因此大尺寸的显示基板一般采用双驱架构，即包括第一栅极驱动电路31和第二栅极驱动电路32。显示区100两侧的两个栅极驱动电路连接至同一条栅极线30。当显示基板中的显示区100正常工作时，两个栅极驱动电路输出同样的信号。传统的栅极驱动架构中，显示区两侧的栅极驱动电路都是连接至同一高垂直排列(HVA，High Vertical Alignment)走线10。在栅极驱动制程阶段的测试制程中，显示区两侧的栅极驱动电路同时打开工作，输出栅极脉冲信号将显示区内部的像素点亮。当显示区一侧的栅极驱动电路不能正常工作时，另外一侧的栅极驱动电路仍然能够输出栅极脉冲信号。该栅极脉冲信号也可以使得显示区内部的像素正常工作。这样就会带来漏检的风险，对提升制程的良率是非常不利的。
图2为本发明实施例中的又一种显示基板的结构示意图，参考图2，其中第二栅极驱动电路32连接至高垂直排列走线10，可以理解的是，也可以是第一栅极驱动电路31连接至高垂直排列走线10。在对栅极驱动电路进行阵列测试时分别对第一栅极驱动电路31和第二栅极驱动电路32进行单边送信号。这种设计虽然可以避免对栅极驱动电路漏检的风险，但是在高垂直排列固化制程时，由于显示基板的显示区尺寸较大，单边的栅极驱动电路驱动显示区工作会因为RC负载较重而导致比较严重的信号衰减，从而会导致画面分屏或画面渐变等问题。
为了解决上述问题，本发明实施例提供一种显示基板及其测试方法，以实现在高垂直排列固化制程时，显示基板的两个栅极驱动电路同时打开工作，在对栅极驱动电路进行阵列测试时，对两个栅极驱动电路分别进行测试。
图3为本发明实施例中的又一种显示基板的结构示意图，如图3所示，显示基板包括显示区100和围绕显示区100的非显示区，显示区100包括多条沿第一方向(图3中虚线方向)延伸的扫描线30，以及分别设置在多条扫描线30两端的第一栅极驱动电路31和第二栅极驱动电路32，本发明实施例提供的显示基板还包括测试引线10、高垂直排列制程测试焊盘11、第一阵列测试焊盘21、第二阵列测试焊盘22和开关单元40。
其中，测试引线10同时与第一栅极驱动电路31和第二栅极驱动电路32电连接。高垂直排列制程测试焊盘11设置在测试引线10的至少一端，图3中示例性地在测试引线的一端设置了高垂直排列制程测试焊盘。第一阵列测试焊盘21与第一栅极驱动电路31电连接，且与测试引线10相连接形成第一连接点210；第二阵列测试焊盘22与第二栅极驱动电路32电连接，且与测试引线10相连接形成第二连接点220。开关单元40形成在测试引线10的第一连接点210和第二连接点220之间，用于控制测试引线10导通或断开。
可选地，测试引线为高垂直排列走线。参考图3，第一阵列测试焊盘21和第二阵列测试焊盘22位于显示区100沿第二方向(垂直于图3中虚线方向)一侧的非显示区内。
另外，本实施例中的高垂直排列制程测试焊盘也可以设置在测试引线的两端，且位于显示区沿第一方向两侧的非显示区内。图4为本发明实施例中的又一种显示基板的结构示意图，如图4所示，高垂直排列制程测试焊盘11设置在测试引线的两端，且位于显示区沿第一方向两侧的非显示区内。在工业生产过程中，往往在上下两个玻璃基板之间有不止一个显示基板，例如在上下两个玻璃基板之间存在4个上述的显示基板，则在测试引线的两端设置高垂直排列制程测试焊盘保证了在对多个显示基板进行切割操作之前，可以同时对多个显示基板进行高垂直排列制程测试。
本发明实施例提供的显示基板包括同时与第一栅极驱动电路和第二栅极驱动电路电连接的测试引线、高垂直排列制程测试焊盘、第一阵列测试焊盘、第二阵列测试焊盘以及开关单元，开关单元用于控制测试引线的导通或断开，在高垂直排列固化制程时，控制开关单元导通，第一栅极驱动电路和第二栅极驱动电路同时工作；在阵列测试时，控制开关单元关闭，第一栅极驱动电路和第二栅极驱动电路分时工作，实现了在高垂直排列固化制程时，显示基板的两个栅极驱动电路同时打开工作，在对栅极驱动电路进行阵列测试时，对两个栅极驱动电路分别进行测试。
图5为本发明实施例中的又一种显示基板的结构示意图，如图5所示，显示基板包括显示区100和围绕显示区100的非显示区，显示区100包括多条沿第一方向(图5中虚线方向)延伸的扫描线30，分别设置在多条扫描线30两端的第一栅极驱动电路31和第二栅极驱动电路32，以及测试引线10、高垂直排列制程测试焊盘11、第一阵列测试焊盘21、第二阵列测试焊盘22和开关单元40。其中，开关单元40可以为一薄膜晶体管，显示基板还包括开关控制线50和开关控制焊盘51。开关控制线50与薄膜晶体管的栅极电连接，薄膜晶体管的源极和漏极与测试引线10电连接。开关控制线50的端部与开关控制焊盘51电连接。
在高垂直排列固化制程时，控制薄膜晶体管导通，例如可以是在开关控制线上施加一高电平信号使得薄膜晶体管导通，从而使测试引线导通，第一栅极驱动电路和第二栅极驱动电路同时工作；在对栅极驱动电路进行阵列测试时，控制薄膜晶体管关闭，例如可以是不在开关控制线上施加电压信号使得薄膜晶体管关闭，从而使测试引线断开，第一栅极驱动电路和第二栅极驱动电路分时工作，实现了在高垂直排列固化制程时，显示基板的两个栅极驱动电路同时打开工作，在对栅极驱动电路进行阵列测试时，对两个栅极驱动电路分别进行测试。需要说明的是，高垂直排列固化制程和阵列测试是两个相互独立的过程。
若将高垂直排列制程测试焊盘所在面板称为测试面板，则当测试面板上具有多个测试焊盘时，可以对显示基板进行多种测试，例如测试面板包括R测试焊盘、G测试焊盘、B测试焊盘、A-COM测试焊盘、CF-COM测试焊盘、开关测试焊盘以及高垂直排列制程测试焊盘，可选地，开关控制焊盘与高垂直排列制程测试焊盘相邻设置，这样设置的好处是，与开关控制焊盘电连接的开关控制线和与高垂直排列制程测试焊盘电连接的测试引线之间的距离最小，节约了设计空间。
基于同样的技术构思，本发明实施例还提供了一种针对上述实施例所示的显示基板的测试方法，该方法包括：在高垂直排列固化制程时，控制开关单元导通，通过高垂直排列制程测试焊盘施加第一测试信号，第一测试信号驱动第一栅极驱动电路和第二栅极驱动电路同时工作；阵列测试时，开关单元关闭，分时通过第一阵列测试焊盘施加第二测试信号，以及通过第二阵列测试焊盘施加第三测试信号，第二测试信号驱动第一栅极驱动电路，以及第三测试信号驱动第二栅极驱动电路分时工作。
可选地，开关单元为一薄膜晶体管，在高垂直排列固化制程时，通过开关控制线向薄膜晶体管的栅极施加开启信号，以控制薄膜晶体管导通。
可选地，显示基板还包括开关控制焊盘，开关控制线的端部与开关控制焊盘电连接，在高垂直排列固化制程时，通过开关控制焊盘向开关控制线施加开启信号，控制薄膜晶体管导通，例如可以是在开关控制线上施加一高电平信号使得薄膜晶体管导通，从而使测试引线导通，第一栅极驱动电路和第二栅极驱动电路同时工作。
本发明实施例提供的显示基板的测试方法，在高垂直排列固化制程时，控制开关单元导通，通过高垂直排列制程测试焊盘施加测试信号驱动第一栅极驱动电路和第二栅极驱动电路同时工作；在阵列测试时，控制开关单元关闭，分时通过第一阵列测试焊盘和第二阵列测试焊盘分别驱动第一栅极驱动电路和第二栅极驱动电路工作，实现了在高垂直排列固化制程时，显示基板的两个栅极驱动电路同时打开工作，在对栅极驱动电路进行阵列测试时，对两个栅极驱动电路分别进行测试。
注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (9)

1.一种显示基板，其特征在于，包括显示区和围绕所述显示区的非显示区，所述显示区包括多条沿第一方向延伸的扫描线，以及分别设置在所述多条扫描线两端的第一栅极驱动电路和第二栅极驱动电路，所述显示基板还包括：
测试引线，同时与所述第一栅极驱动电路和所述第二栅极驱动电路电连接；
高垂直排列制程测试焊盘，设置在所述测试引线的至少一端；
第一阵列测试焊盘，与所述第一栅极驱动电路电连接，且与所述测试引线相连接形成第一连接点；
第二阵列测试焊盘，与所述第二栅极驱动电路电连接，且与所述测试引线相连接形成第二连接点；
开关单元，形成在所述测试引线的所述第一连接点和所述第二连接点之间，用于控制所述测试引线导通或断开。
2.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于，所述高垂直排列制程测试焊盘设置在所述测试引线的两端，且位于所述显示区沿所述第一方向两侧的非显示区内。
3.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于，所述第一阵列测试焊盘和所述第二阵列测试焊盘位于所述显示区沿第二方向一侧的非显示区内。
4.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于，所述开关单元为一薄膜晶体管，所述显示基板还包括开关控制线，所述开关控制线与所述薄膜晶体管的栅极电连接，所述薄膜晶体管的源极和漏极与所述测试引线电连接。
5.根据权利要求4所述的显示基板，其特征在于，还包括开关控制焊盘，所述开关控制线的端部与所述开关控制焊盘电连接。
6.根据权利要求5所述的显示基板，其特征在于，所述开关控制焊盘与所述高垂直排列制程测试焊盘相邻设置。
7.一种显示基板的测试方法，其特征在于，
在高垂直排列固化制程时，控制所述开关单元导通，通过所述高垂直排列制程测试焊盘施加第一测试信号，所述第一测试信号驱动所述第一栅极驱动电路和所述第二栅极驱动电路同时工作；
在阵列测试时，控制所述开关单元关闭，分时通过所述第一阵列测试焊盘施加第二测试信号，以及通过所述第二阵列测试焊盘施加第三测试信号，所述第二测试信号驱动所述第一栅极驱动电路，以及所述第三测试信号驱动所述第二栅极驱动电路分时工作。
8.根据权利要求7所述的测试方法，其特征在于，所述开关单元为一薄膜晶体管，在高垂直排列固化制程时，通过所述开关控制线向所述薄膜晶体管的栅极施加开启信号，以控制所述薄膜晶体管导通。
9.根据权利要求8所述的测试方法，其特征在于，所述显示基板还包括开关控制焊盘，所述开关控制线的端部与所述开关控制焊盘电连接，在所述高垂直排列固化制程时，通过所述开关控制焊盘向所述开关控制线施加开启信号。
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