KR20070120320A - 액정표시장치 제조방법 및 이를 위한 대면적 기판 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 액정표시장치 제조방법 및 이를 위한 대면적 기판에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 액정패널 내에 게이트드라이버를 실장시킨 GIP 방식 액정표시장치의 제조방법 및 이를 위한 대면적 기판에 관한 것이다.
세부적으로 본 발명은 a) 셀 영역과 테스트 영역이 구분된 제 1 대면적 기판을 준비하는 단계와; b) 상기 셀 영역에 실장되는 게이트드라이버 및 어레이요소 그리고 상기 테스트영역에 실장되는 테스트소자를 형성하는 단계와; c) 상기 테스트소자를 검사하여 상기 게이트드라이버의 이상유무를 확인하는 단계를 포함하는 액정표시장치의 제조방법 및 이를 위한 액정표시장치용 대면적 기판을 제공한다.
이 같은 본 발명에 의하면 액정패널 내에 실장되는 게이트드라이버에 대한 중간검사를 용이하게 진행할 수 있고, 디캡 등의 추가공정과 더불어 검사 후 해당 기판의 폐기와 같은 인력 및 재료손실을 저감할 수 있는 효과가 있다.
Description
도 1은 일반적인 액정표시장치의 블록도.
도 2는 본 발명에 따른 GIP 방식 액정표시장치의 블록도.
도 3은 본 발명에 따른 GIP 방식 액정표시장치의 제조를 위한 제 1 대면적 기판에 대한 평면모식도.
도 4는 도 3의 A 부분에 대한 확대사진.
도 5는 본 발명에 따른 대면적 기판의 테스트소자에 대한 확대사진.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
112 : 게이트라인 114 : 데이터라인
124 : 게이트드라이버 130 : 제 1 대면적 기판
132 : 셀영역 142 : 테스트영역
본 발명은 액정표시장치(Liquid Crystal Display device : LCD) 제조방법 및 이를 위한 대면적 기판에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 액정패널(liquid crystal panel) 내에 게이트드라이버(gate driver)를 실장시킨 GIP(Gate In Panel) 방식의 액정표시장치 제조방법 및 이를 위한 대면적 기판에 관한 것이다.
동화상 표시에 유리하고 콘트라스트비(contrast ratio)가 큰 장점을 보여 TV, 모니터 등에 가장 많이 활용되는 액정표시장치(Liquid Crystal Display device : LCD)는 액정의 광학적이방성(optical anisotropy)과 분극성질(polarization)을 응용한 화상구현원리를 나타내는바, 나란한 두 기판(substrate) 사이로 액정층을 개재하여 대면 합착시킨 액정패널(liquid crystal panel)을 필수 구성요소로 하며, 액정패널 내의 전기장으로 액정분자의 배열방향을 제어해서 투과율 차이를 발생시킴과 동시에 액정패널 배면의 백라이트(back-light)로부터 출사된 빛에 상기 투과율 차이를 반영시켜 목적하는 화상을 디스플레이 한다.
최근에는 화상표현의 기본단위인 화소(pixel)를 행렬로 배열하고 박막트랜지스터(Thin Film Transistor : TFT)와 같은 스위칭 소자로 각각을 개별 제어하는 능동행렬방식(Active Matrix type)이 널리 이용되는데, 첨부된 도 1은 일반적인 액정표시장치에 대한 모식도로서, 액정패널(10) 및 이의 화상구현에 필요한 각종 신호를 공급하는 구동회로부(20)가 나타나 있다.
이때 액정패널(10)은 액정층 및 이를 사이에 두고 나란히 합착된 제 1 및 제 2 기판으로 이루어지며, 어레이기판(array substrate)이라 불리는 제 1 기판 내면 에는 액정구동을 위한 어레이요소가 구비되는바, 복수의 게이트라인(12)과 데이터라인(14)이 교차 배열되어 매트릭스(matrix) 형태의 화소(P)를 정의하고, 이들의 교차점마다 박막트랜지스터(T)가 구비되어 각 화소(P)에 실장된 화소전극과 일대일 대응 연결된다. 또한 컬러필터기판(color-filter substrate)이라 불리는 제 2 기판 내면에는 컬러구현을 위한 컬러필터(color filter)를 비롯해서 액정층을 사이에 두고 화소전극과 대향되는 공통전극 등의 컬러필터요소가 구비되며, 그 결과 액정층을 비롯한 화소 및 공통전극은 액정캐패시터(Clc)를 이루게 된다.
다음으로 구동회로부(20)는 타이밍콘트롤러(timing controller : 22)와 게이트 및 데이터드라이버(gate & data driver : 24,26)를 포함하며, 그 외에도 인터페이스(interface), 기준전압생성부, 전원전압생성부 등이 갖추어진다.
이때 인터페이스는 퍼스널컴퓨터 등의 외부구동시스템과 타이밍콘트롤러(22)를 중계하고, 타이밍콘트롤러(22)는 인터페이스로부터 전달된 영상 및 제어신호를 이용해서 게이트드라이버(24)로 공급되는 프레임제어신호와 데이터드라이버(26)로 전달되는 영상데이터 및 화상제어신호를 각각 생성한다. 그리고 게이트드라이버(24)와 데이터드라이버(26)는 각각 게이트라인(12)과 데이터라인(14)이 연결될 수 있도록 TCP(Tape Carrier Package) 등을 매개로 액정패널(10)의 서로 인접한 두 가장자리에 부착되며, 이중 게이트드라이버(24)는 타이밍콘트롤러(22)의 프레임제어신호에 응답해서 매 프레임(frame) 별로 게이트라인(12)을 순차적으로 인에이블(enable) 시키기 위한 게이트신호를 생성함으로써 게이트라인(12)별 박막트랜지스터(T)의 온/오프(on/off)를 제어하고, 데이터드라이버(26)는 타이밍콘트롤러(22) 로부터 입력되는 영상데이터 및 화상제어신호에 응답해서 영상데이터에 대응되는 기준전압들을 선택한 후 데이터라인(14)으로 공급한다.
이에 따라 게이트드라이버(24)의 게이트신호에 의해 각 게이트라인(12) 별로 선택된 박막트랜지스터(T)가 온(on) 되면 데이터드라이버(26)의 데이터신호가 해당 박막트랜지스터(T)를 통해 화소(P)로 전달되고, 이에 따른 화소전극과 공통전극 사이의 전기장에 의해 액정이 구동된다. 이 과정 중에 기준전압생성부는 데이터드라이버(26)의 DAC(Digital To Analog Converter) 기준전압을 생성하고, 전원전압생성부는 구동회로부(20)의 각 요소들에 대한 동작전원과 액정패널(10)의 공통전극으로 전달되는 공통전압을 공급한다.
한편, 일반적인 액정표시장치용 박막트랜지스터(T)는 전도채널 역할을 담당하는 반도체층의 물질종류에 따라 비정질실리콘(amorphous silicon : a-Si)과 폴리실리콘(poly silicon : poly-Si)으로 구분될 수 있다. 그리고 이중 비정질실리콘을 사용한 경우에 게이트드라이버(24)와 데이터드라이버(26)는 도면에 나타난 것처럼 액정패널(10)과 별도로 제조되어 TAB(Tape Automated Bonding) 방식을 통해 게이트라인(12)과 데이터라인(14)에 각각 접속되는 것이 일반적이다.
하지만 최근 들어 비정질실리콘을 사용하면서도 게이트드라이버(24)의 일부 또는 전부를 액정패널(10) 내에 실장시키는 이른바 GIP(Gate In Panel) 방식 액정표시장치가 소개되었고, 이를 통해 비용 및 공정의 절감효과를 꾀하고 있다.
이때 일반적인 게이트드라이버(24)는 세트(set)와 리세트(reset)의 선택적 입력상황에 따라 일정신호를 출력하는 복수개의 플립플롭(Flip-Flop : 쌍안정성회 로)으로 이루어진 시프트레지스터(shift resister)부 그리고 이의 출력신호 레벨을 증폭시키는 레벨시프터(level shifter)부로 구분될 수 있는바, 통상의 GIP 방식에서는 적어도 시프트레지스터부를 제 1 기판에 실장시키며, 이 경우 시프트레지스터부는 게이트라인(12)과 일대일 대응 연결된 복수개의 시프트레지스트 단위소자가 열을 지어 배치된 시프트레지스트 소자군(群)의 형태를 나타낸다.
그리고 이와 같이 액정패널(10) 내에 실장되는 게이트드라이버(24)의 일부 또는 전부는 제 1 기판의 어레이요소에 대한 제조공정 중에 완성될 수 있어 별도 회로구현에 소요되는 추가비용 및 공정감소의 효과를 누릴수 있다.
하지만, 일반적인 GIP 방식 액정표시장치는 한 가지 치명적인 단점을 보이는데, 제 1 기판 내에 실장되어 이의 제조공정 중에 완성되는 게이트드라이버(24)에 대한 중간검사, 다시 말해 액정패널(10)의 완성전 단계에서의 검사가 불가능하고, 때문에 시프트레지스트 소자군의 정상구동 여부와 장기구동 신뢰성 내지는 소자의 열화정도를 검사하기 어려운 문제점을 나타낸다.
이에 따라 현재로서는 어레이요소 및 게이트드라이버(24)가 실장된 제 1 기판 그리고 컬러필터요소가 구비된 제 2 기판을 각각 별도 준비한 후, 이들 사이로 액정층을 개재하여 대면 합착시키는 등의 액정패널(10) 전(全) 제조공정이 완료되고 나서야 비로소 제 1 기판 내의 시프트레지스트 소자군에 대한 검사가 가능한 실정이며, 이 과정 중에 기판 일부를 벗겨내어 시프트레지스트 소자군을 노출시키기 위한 디캡(decap) 공정이 불가피하고, 따라서 해당 액정패널(10)은 사용이 불가능하므로 폐기로 이어지는 등 비용 및 인력 낭비를 초래하는 단점을 보인다.
이에 본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로, 액정패널 내로 실장되는 게이트드라이버의 일부 또는 전부에 대한 중간검사를 용이하게 진행할 수 있고, 이에 따른 디캡 등의 추가공정과 더불어 검사 후 폐기 등의 인력 및 재료손실을 저감할 수 있는 구체적인 방도를 제기하는데 그 목적이 있다.
본 발명은 상기와 같은 목적을 달성하기 위하여, a) 셀 영역과 테스트 영역이 구분된 제 1 대면적 기판을 준비하는 단계와; b) 상기 셀 영역에 실장되는 게이트드라이버 및 어레이요소 그리고 상기 테스트영역에 실장되는 테스트소자를 형성하는 단계와; c) 상기 테스트소자를 검사하여 상기 게이트드라이버의 이상유무를 확인하는 단계를 포함하는 액정표시장치의 제조방법을 제공한다.
이때 상기 b) 단계는, 상기 어레이요소로서, 상기 게이트드라이버에 연결되는 게이트라인, 상기 게이트라인과 교차되어 화소를 정의하는 데이터라인, 상기 화소에 실장되는 액정캐패시터, 상기 게이트라인을 매개로 상기 데이터라인과 상기 액정캐패시터를 접속시키며 비정질실리콘 반도체층을 구비한 박막트랜지스터를 형성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하고, 상기 b) 단계는, 상기 게이트드라이버로서 상기 게이트라인에 일대일 대응 연결되는 시프트레지스트 소자군(群)과, 상기 테스트소자로서 상기 시프트레지스트 단위소자를 형성하는 단계를 더 포함하며, 상기 b) 단계는, 상기 테스트소자로서, 상기 시프트레지스트 단위소자에 접속 된 복수개의 입력패드와, 상기 시프트레지스트 단위소자에 접속된 적어도 하나의 출력패드를 형성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
그리고 이 경우 상기 c) 단계는, 상기 테스트소자를 검사로서, 상기 입력패드에 검사신호을 인가하고 상기 출력패드로부터 인출되는 출력신호를 분석하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 한다. 더불어 d) 상기 셀 영역에 각각 대응된 컬러필터요소가 마련된 제 2 대면적 기판을 구비하는 단계와; e) 액정층을 사이에 두고 상기 제 1 및 제 2 대면적기판을 합착시키는 단계와; f) 상기 셀 영역 별로 절단하는 단계를 더욱 포함하는 액정표시장치의 제조방법을 제공한다.
아울러 본 발명은 게이트드라이버 및 어레이요소가 구비된 셀 영역과; 테스트소자가 구비된 테스트 영역을 포함하는 액정표시장치용 대면적 기판을 제공하며, 이때 상기 어레이요소는, 상기 게이트드라이버에 연결된 게이트라인과; 상기 게이트라인과 교차되어 화소를 정의하는 데이터라인과; 상기 화소에 실장된 액정캐패시터와; 상기 게이트라인을 매개로 상기 데이터라인과 액정캐패시터를 접속시키며, 비정질실리콘 반도체층을 구비한 박막트랜지스터를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한 상기 게이트드라이버는 상기 게이트라인이 일대일 대응 접속되는 시프트레지스트 소자군(群)을 포함하고, 상기 테스트소자는 상기 시프트레지스트 단위소자를 포함하며, 상기 테스트소자는, 상기 시프트레지스트 단위소자에 연결된 입력패드와; 상기 시프트레지스트 단위소자에 연결된 출력패드를 더 포함하는 것을 특징으로 한다. 이 경우 특히 상기 셀 영역은 n (n＞0) 개이고, 상기 테스트 영역은 m (m≤n) 개이며, 상기 테스트 영역은 상기 셀 영역 중 적어도 하나씩에 근접 배치된 것을 특징으로 한다.
이하, 도면을 참조하여 본 발명을 보다 상세하게 설명한다.
첨부된 도 2은 본 발명에 따른 액정표시장치를 나타낸 블록도로서, 액정패널(110)과 구동회로부(120)의 일부가 나타나 있다.
이때 액정패널(110)은 액정층 및 이를 사이에 두고 나란히 합착된 제 1 및 제 2 기판으로 이루어지며, 각각의 기판 내면에는 어레이요소와 컬러필터요소가 갖추어지는데, 하부기판 또는 어레이기판이라 불리는 제 1 기판 내면에는 어레이요소로서 수평방향의 게이트라인(112)과 수직방향의 데이터라인(114)이 종횡으로 교차해서 매트릭스 형태의 화소(P)를 정의하고, 게이트 및 데이터라인(112,114)의 교차점에는 박막트랜지스터(T)가 구비되어 각 화소(P)에 실장된 화소전극과 일대일 대응 연결된다. 그리고 상부기판 또는 컬러필터기판이라 불리는 제 2 기판 내면에는 컬러필터요소로서 특정 파장대의 빛 만을 선택적으로 투과하는 일례로 R,G,B (Red, Green, Blue) 컬러필터와 액정층을 사이에 두고 화소전극과 대향하는 공통전극이 마련되는바, 화소 및 공통전극과 액정층은 액정캐패시터(Clc)를 이룬다.
다음으로 구동회로부(120)는 타이밍콘트롤러(122)와 게이트 및 데이터드라버(124,126)를 포함하며, 그 외에도 외부구동시스템과 타이밍콘트롤러(122)를 중계하는 인터페이스, 데이터드라이버(126)에서 사용되는 기준전압을 생성하는 기준전압생성부, 구동회로부(120)의 각 구성요소들에 대한 동작전원과 액정패널(110)의 공통전극으로 전달되는 공통전압을 공급하는 전원전압생성부가 구비된다.
이에 따라 외부 구동시스템으로부터 전달되는 영상 및 제어신호는 인터페이스에 의해 타이밍콘트롤러(122)로 중계되는데, 이때 영상신호에는 액정패널(110)의 화소(P)를 통해 표시될 화상에 대한 휘도정보가 담겨있고, 제어신호에는 프레임 화면에 대한 시작 또는 끝을 표시하는 수직동기신호(Vertical Synchronous Signal : Vsync), 수평화소열에 대한 시작 또는 끝을 표시하는 수평동기신호(Horizontal Synchronous Signal : Hsync), 수평화소열 내의 유효 데이터 구간을 표시하는 DE(Data Enable), 유효 데이터의 주기를 표시하는 데이터클럭(Data Clock : DCLK) 등이 담겨있다.
그리고 이들 영상 및 제어신호는 타이밍콘트롤러(122)에 의해 적절한 형태로 변형되어 게이트 및 데이터드라이버(124,126)에 공급되며, 이로써 게이트드라이버(124)는 매 프레임 별로 수평화소열을 순차적으로 인에이블 시키는 게이트신호를 생성하여 게이트라인(112)에 스캔 전달하고, 데이터드라이버(126)는 게이트신호에 의해 오픈된 화소를 차징시키는 데이터신호를 생성해서 각 데이터라인(114)으로 전달한다.
따라서 본 발명에 따른 액정표시장치는 게이트라인(112)의 게이트신호에 의해 각 게이트라인(112) 별로 선택된 화소(P)가 오픈되면 데이터라인(114)의 데이터신호가 해당 화소(P)에 전달되고, 이로 인한 화소 및 공통전극 사이의 전기장으로 액정이 구동되어 투과율 차이를 구현한다.
이를 위해 타이밍콘트롤러(122)는 박막트랜지스터(T)가 온 되는 시간을 지정하는 GSC(Gate Shift Clock), 게이트드라이버(124)의 출력을 제어하는 GOE(Gate Output Enable), 일 수직신호 중 화면의 시작 라인을 알려주는 GSP(Gate Start Pulse) 등이 내포된 프레임제어신호를 생성해서 게이트드라이버(124)에 전달하고, 데이터를 정렬함과 동시에 각 수평화소열의 데이터를 래치하는 SSC(Source Sampling Clock), SSC에 의해 래치된 데이터의 전달시점을 지시하는 데이터래치신호인 SOE, 일 수평신호 중 데이터의 시작점을 지시하는 SSP(Source start Pulse), SOE에 의해 동기되는 극성반전신호로서 데이터신호의 극성을 결정하는 정(+)극성과 부(-)극성 피크를 교대로 나타내는 POL 등이 내포된 화상제어신호를 데이터드라이버(126)로 전달한다.
한편, 본 발명에 따른 액정표시장치는 박막트랜지스터(T)의 전도채널인 반도체층으로 비정질실리콘을 사용함과 동시에, 도면에 나타난 것과 같이, 게이트드라이버(124)의 일부 또는 전부가 액정패널(110) 내에 실장된 GIP 방식인 것을 특징으로 하며, 이에 따라 적어도 게이트드라이버(124)의 시프트레지스트부는 제 1 기판 내에 실장되어 어레이요소 제조공정 중에 함께 완성될 수 있다.
이때 본 발명에 따른 액정표시장치용 제 1 및 제 2 기판은 각각 마더 글라스(mother galss)라 불리는 제 1 및 제 2 대면적 기판을 대상으로 얻어질 수 있는바, 임의의 제 1 대면적 기판에는 복수의 셀 영역이 포지션 별로 구분 정의되어 각각의 셀 영역 별로 어레이요소 및 게이트드라이버(124)가 구비되고, 제 2 대면적 기판 역시 복수의 셀 영역이 포지션별로 구분 정의되어 각각의 셀 영역별로 컬러필터 요소가 구비된다. 그리고 이러한 제 1 및 제 2 대면적 기판 사이로 액정층을 개재해서 합착하며, 후속해서 각 셀 영역 별로 절단함으로써 복수의 액정패널(110)을 동시에 얻게 된다.
이에 첨부된 도 3은 본 발명에 따른 액정표시장치의 제조를 위한 제 1 대면적 기판(130)에 대한 평면도로서, 포지션 별로 구분된 복수의 셀 영역(132)을 확인할 수 있고, 각각의 셀 영역(132) 내에는 게이트라인(112)과 데이터라인(114) 및 이들의 교차에 의한 화소(P)가 정의되어 있다. 그리고 비록 도면에 명확하게 나타나지 않았지만 게이트라인(112)과 데이터라인(114)의 교차점에는 박막트랜지스터가 구비되어 각 화소(P)에 실장된 화소전극과 일대일 대응 연결되어 있다.
더불어 각각의 셀 영역(132) 별 적어도 일 가장자리를 따라서는 게이트드라이버(124)가 실장되어 게이트라인(112)이 연결되는바, 이 같이 제 1 대면적 기판(130)의 각 셀 영역(132)에 마련된 게이트드라이버(124)에는 게이트라인(112)과 일대일 대응 연결된 시프트레지스트 단위소자의 집합체로 이루어진 시프트레지스트 소자군이 포함된다.
이때 특히 본 발명에 따른 액정표시장치용 제 1 대면적 기판(130) 내에는 복수의 셀 영역(132)과 함께 하나 이상의 테스트영역(142)이 정의되고, 여기에는 테스트소자가 실장되는바, 상기 테스트소자에는 게이트드라이버(124)의 시프트레지스트 소자군을 이루는 하나의 시프트레지스트 단위소자가 포함되며, 이들 게이트드라이버(124)의 시프트레지스트 소자군과 테스트영역(142)의 시프트레지스트 단위소자는 각각 어레이요소와 동일공정을 통해 완성된다.
좀더 구체적으로, 첨부된 도 4는 본 발명에 따른 제 1 대면적 기판(130)의 일부로서 도 3의 A 부분에 대한 확대도이고, 도 5는 임의의 일 테스트 영역(142)에 대한 확대도로서, 앞서의 도 3을 함께 참조한다.
먼저 도 4를 통해 게이트드라이버(124)의 일부로서 게이트라인(112)이 일대일 대응 연결되는 시프트레지스트 단위소자의 집합체로 이루어진 시프트레지스트 소자군(125)을 확인할 수 있고, 도 4를 통해 테스트소자(144)로서 하나의 시프트레지스트 단위소자(145)를 확인할 수 있다. 그리고 이중 테스트영역(142)에는 특히 시프트레지스트 단위소자(145)에 접속된 복수의 입력 및 출력패드(146,148)가 구비되는바, 입력패드(146)를 비롯한 시프트레지스 단위소자(145)와 출력패드(148)로 이루어진 테스트소자(144)는 셀 영역(132) 내의 어레이요소 내지 게이트드라이버(132)와 전기적으로 분리된 형태를 나타내지만, 이들은 어레이요소 및 게이트드라이버(124)의 시프트레지스트 소자군(125)과 동일공정을 통해 완성된다.
이때 상술한 테스트소자(144)는 게이트드라이버(124)의 시프트레지트 소자군(125)에 대한 검사에 동원되는 것으로, 입력패드(146)로 테스트를 위한 각종 검사신호를 인가한 후 출력패드(148)를 통해 인출되는 출력신호를 분석해서 시프트레지스트 단위소자(145)에 대한 검사를 진행할 수 있고, 그 결과를 토대로 동일공정을 통해 완성된 게이트드라이버(124), 정확하게는 시프트레지스트 소자군(125)에 대한 이상유무를 확인할 수 있다. 즉, 본 발명에 따른 액정표시장치용 제 1 대면적 기판(130)의 가장 큰 특징은 셀 영역(132) 내에 실장된 게이트드라이버(124)의 시프트레지스트 소자군(125)에 대한 중간검사를 위하여 이들과 동일공정으로 완성 되는 테스트소자(145)를 별도 마련하는 것에 있고, 상기 테스트소자(145)에 대한 검사결과를 토대로 게이트드라이버(124)에 대한 이상유무를 확인하게 된다.
그리고 이 경우 테스트소자(145)의 입력패드(146)로 인가되는 검사신호는 일반적인 액정패널의 화상구현 동작 시, 게이트드라이버(124)로 전달되는 입력신호와 동일할 수 있고, 이를 위해 입력패드(146)는 일례로 9개 정도 갖추어질 수 있다.
한편, 본 발명에 따른 액정표시장치용 제 1 대면적 기판(130)은, 제조공정 특성에 의해, 셀 영역(132) 별 내지는 게이트드라이버(124) 별 위치에 따른 균일도에서 차이를 보일 수 있고, 이로 인해 동일한 제 1 대면적 기판(130)을 대상으로 동일한 공정을 통해 완성된 게이트드라이버(124) 사이에서도 특성 차이를 나타낼 수 있다.
때문에, 제 1 대면적 기판(130) 상의 서로 다른 위치에 마련된 복수의 게이트드라이버(124) 각각에 대한 검사신뢰성을 향상시키기 위해서 테스트영역(142) 또한 복수로 마련되어 각각 적어도 하나의 셀 영역(132)에 근접 배치되는 것이 바람직한바, 도 3과 같이 일례로 제 1 대면적 기판(130) 상에 4×4 행렬을 이루도록 16개의 셀 영역(132)이 정의된 경우, 테스트 영역(142)은 행 방향으로 인접한 한 쌍의 셀 영역(132) 사이의 상하에 각각 배치되는 2×5의 행렬을 이룰 수 있고, 그 외에 셀 영역(132)과 동수(同數)를 이루며 일대일 근접 배치되는 형태 또한 가능한다.
이때 특히 상술한 테스트영역(142)의 면적은 시프트레지스트 단위소자(145) 를 비롯한 입력 및 출력패드(146,148) 등의 테스트소자(144)가 실장될 수 있을 정도이면 충분하며, 특히 각각의 테스트소자(145)는 게이트드라이버(124)의 중간검사에만 사용될 뿐, 셀 영역(132)의 어레이요소 및 게이트드라이버(124)와 전기적으로 분리되어 화상구현과는 전혀 무관한바, 제 1 대면적 기판(130)과 제 2 대면적 기판의 합착 후 절단 및 폐기되는 부분에 위치할수 있음은 자명한 사실이다.
이상에서 살펴본 것과 같이 본 발명에 따른 액정표시장치 제조방법 및 이를 위한 대면적 기판을 사용할 경우에 액정패널 내로 실장되는 게이트드라이버에 대한 중간검사를 용이하게 진행할 수 있고, 디캡 등의 추가공정과 더불어 검사 후 해당 기판의 폐기와 같은 인력 및 재료손실을 저감할 수 있는 효과가 있다.
아울러 본 발명에 따른 테스트영역 및 테스트소자는 제 1 및 제 2 대면적 기판의 합착후 절단되는 부분에 위치시킬 수 있어 별도의 공간확보를 위한 노력이 불필요하고, 특히 테스트소자는 제 1 대면적기판의 어레이요소 및 게이트드라이버의 시프트레지스트 소자군과 동일한 공정에서 구현될 수 있는바, 간단하면서도 신뢰성 있는 검사가 가능한 잇점이 있다.
Claims (12)
- a) 셀 영역과 테스트 영역이 구분된 제 1 대면적 기판을 준비하는 단계와;b) 상기 셀 영역에 실장되는 게이트드라이버 및 어레이요소 그리고 상기 테스트영역에 실장되는 테스트소자를 형성하는 단계와;c) 상기 테스트소자를 검사하여 상기 게이트드라이버의 이상유무를 확인하는 단계를 포함하는 액정표시장치의 제조방법.
- 제 1항에 있어서,상기 b) 단계는,상기 어레이요소로서, 상기 게이트드라이버에 연결되는 게이트라인, 상기 게이트라인과 교차되어 화소를 정의하는 데이터라인, 상기 화소에 실장되는 액정캐패시터, 상기 게이트라인을 매개로 상기 데이터라인과 상기 액정캐패시터를 접속시키며 비정질실리콘 반도체층을 구비한 박막트랜지스터를 형성하는 단계를 더 포함하는 액정표시장치의 제조방법.
- 제 2항에 있어서,상기 b) 단계는,상기 게이트드라이버로서 상기 게이트라인에 일대일 대응 연결되는 시프트레지스트 소자군(群)과, 상기 테스트소자로서 상기 시프트레지스트 단위소자를 형성하는 단계를 더 포함하는 액정표시장치의 제조방법.
- 제 3항에 있어서,상기 b) 단계는,상기 테스트소자로서, 상기 시프트레지스트 단위소자에 접속된 복수개의 입력패드와, 상기 시프트레지스트 단위소자에 접속된 적어도 하나의 출력패드를 형성하는 단계를 더 포함하는 액정표시장치의 제조방법.
- 제 4항에 있어서,상기 c) 단계는,상기 테스트소자를 검사로서, 상기 입력패드에 검사신호을 인가하고 상기 출력패드로부터 인출되는 출력신호를 분석하는 단계를 더 포함하는 액정표시장치의 제조방법.
- 제 1항에 있어서,상기 셀 영역은 n (n＞0) 개이고, 상기 테스트 영역은 m (m≤n) 개이며, 상기 테스트 영역은 상기 셀 영역 중 적어도 하나씩에 근접 배치된 액정표시장치의 제조방법.
- 제 1항에 있어서,d) 상기 셀 영역에 각각 대응된 컬러필터요소가 마련된 제 2 대면적 기판을 구비하는 단계와;e) 액정층을 사이에 두고 상기 제 1 및 제 2 대면적기판을 합착시키는 단계와;f) 상기 셀 영역 별로 절단하는 단계를 더욱 포함하는 액정표시장치의 제조방법.
- 게이트드라이버 및 어레이요소가 구비된 셀 영역과;테스트소자가 구비된 테스트 영역을 포함하는 액정표시장치용 대면적 기판.
- 제 8항에 있어서,상기 어레이요소는,상기 게이트드라이버에 연결된 게이트라인과;상기 게이트라인과 교차되어 화소를 정의하는 데이터라인과;상기 화소에 실장된 액정캐패시터와;상기 게이트라인을 매개로 상기 데이터라인과 액정캐패시터를 접속시키며, 비정질실리콘 반도체층을 구비한 박막트랜지스터를 포함하는 액정표시장치용 대면적 기판.
- 제 9항에 있어서,상기 게이트드라이버는 상기 게이트라인이 일대일 대응 접속되는 시프트레지스트 소자군(群)을 포함하고,상기 테스트소자는 상기 시프트레지스트 단위소자를 포함하는 액정표시장치용 대면적 기판.
- 제 10항에 있어서,상기 테스트소자는,상기 시프트레지스트 단위소자에 연결된 입력패드와;상기 시프트레지스트 단위소자에 연결된 출력패드를 더 포함하는 액정표시장치용 대면적 기판.
- 제 10항에 있어서,상기 셀 영역은 n (n＞0) 개이고, 상기 테스트 영역은 m (m≤n) 개이며, 상기 테스트 영역은 상기 셀 영역 중 적어도 하나씩에 근접 배치된 액정표시장치용 대면적 기판.
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