CN107038984A - 一种阵列基板检测线路以及检测方法和制作方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种阵列基板检测线路，包括：控制信号垫、输出信号垫、显示信号垫和开关电路。输出信号垫通过开关电路耦接栅极驱动电路的信号线。开关电路在进行栅极驱动电路检测时处于打开状态，在进行阵列电路检测时处于关断状态。通过上述方式，本发明能够在显示信号垫检测阵列电路时，使输出信号垫接收不到信号，栅极驱动电路负荷减轻，显示信号垫不受干扰，检测结果准确。本发明还公开了一种阵列基板检测方法和制作方法。

Description

一种阵列基板检测线路以及检测方法和制作方法

技术领域

本发明涉及阵列基板领域，特别是涉及一种阵列基板检测线路以及检测方法和制作方法。

背景技术

随着智能手机快速发展，液晶显示装置主要采用LTPS(Low Temperature Poly-silicon，低温多晶硅)技术，但在目前LTPS技术制程复杂，成本也相应较高，因此对阵列基板的检测结果的准确性就愈发重要。

现有技术中，测试GOA(Gate driver on Array，阵列基板栅极驱动)功能的方式为在控制信号垫中通电，用输出信号垫测试输出电信号。测试阵列电路功能时，依旧需要在控制信号垫中通电，通过GOA打开阵列电路区域，显示信号垫才能对阵列电路进行充电放电测试。

在显示信号垫对阵列电路进行测试时，由于控制信号垫中也在通电，所以输出信号垫也会持续收到栅极驱动电路的输出信号，给栅极驱动电路带来额外的负荷，干扰显示信号垫的测试，影响测试的准确性。

发明内容

本发明主要解决的技术问题是提供一种阵列基板检测线路，能够解决现有技术中输出信号垫干扰阵列电路测试的问题。

为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种阵列基板检测线路，包括：控制信号垫，耦接所述阵列基板的栅极驱动电路的控制线，用于给所述阵列基板的栅极驱动电路提供控制信号；输出信号垫，通过开关电路耦接所述栅极驱动电路的信号线；用于接收所述栅极驱动电路的输出信号；显示信号垫，耦接所述阵列基板的阵列电路的信号线，用于接收所述阵列电路的输出信号；其中所述开关电路在进行栅极驱动电路检测时处于打开状态在进行阵列电路检测时处于关断状态。

为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是：提供一种阵列基板检测方法，包括，向控制信号垫输入控制信号，并控制开关电路处于打开状态；读取输出信号垫的输出信号以进行栅极驱动电路检测；控制开关电路变为关闭状态；进行阵列电路检测。

为解决上述技术问题，本发明采用的又一个技术方案是一种阵列基板的制作方法，包括，准备一基板；在所述基板上形成栅极驱动电路、阵列电路、控制信号垫、输出信号垫、显示信号垫和开关电路，其中，所述控制信号垫耦接所述阵列基板的栅极驱动电路的控制线，所述输出信号垫通过所述开关电路耦接所述栅极驱动电路的信号线，所述显示信号垫耦接所述阵列基板的阵列电路的信号线；向控制信号垫输入控制信号，并控制开关电路处于打开状态；读取输出信号垫的输出信号以进行栅极驱动电路检测；控制开关电路变为关闭状态；进行阵列电路检测；检测完成后，将所述控制信号垫、所述输出信号垫、所述显示信号垫以及所述开关电路切割掉。

本发明的有益效果是：区别于现有技术的情况，本发明通过在栅极驱动电路的信号线与输出信号垫之间加入一个开关电路，在显示信号垫测试阵列电路时关断开关电路，使得显示信号垫测试阵列电路时输出信号垫接收不到信号，减轻栅极驱动电路的负荷，从而确保了显示信号垫测试结果的准确性。

附图说明

图1是本发明阵列基板检测线路的第一实施例的示意框图；

图2是本发明阵列基板检测方法的流程示意图；

图3是本发明阵列基板检测线路第二施例中开关电路的电路示意图；

图4是本发明阵列基板检测线路第三施例中开关电路的电路示意图；

图5是本发明阵列基板检测线路第四施例中开关电路的电路示意图；

图6是本发明阵列基板制作方法的流程示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，均属于本发明保护的范围。

请参阅图1，图1是本发明阵列基板检测线路的实施例的示意框图，阵列基板检测线路10包括开关电路11、输出信号垫12、控制信号垫13、显示信号垫14，阵列基板20包括栅极驱动电路21、阵列电路22。控制信号垫13耦接阵列基板20的栅极驱动电路21的控制线211，输出信号垫12通过开关电路11耦接栅极驱动电路21的信号线212，显示信号垫14耦接阵列基板20的阵列电路22的信号线221。

控制信号垫13用于给阵列基板20的栅极驱动电路21提供控制信号；输出信号垫12用于接收栅极驱动电路21的输出信号；显示信号垫14用于接收阵列电路22的输出信号。

其中，控制信号垫13的个数一般至少为三个，显示信号垫14的个数由阵列电路22中数据线的数量和多路分配器的级数确定。多路分配器在阵列电路中，用于提取输入信号的部件或组件作为单独的信号输出。

开关电路11在进行栅极驱动电路21检测时处于打开状态，以使得输出信号垫12与栅极驱动电路21之间导通，在进行阵列电路22检测时处于关断状态，以使得输出信号垫12与栅极驱动电路21之间断开。

请结合图1、图2一起参考，图2是阵列基板检测方法的流程示意图。

S201：向控制信号垫输入控制信号，并控制开关电路处于打开状态。

具体地说，向控制信号垫13输入控制信号，使得栅极驱动电路工作，同时控制开关电路11处于打开状态，栅极驱动电路21的输出信号通过信号线212传输到开关电路11。

S202：读取输出信号垫的输出信号以进行栅极驱动电路检测。

具体地说，栅极驱动电路21在接收到控制信号垫13输入控制信号后开始工作，产生输出信号，并将输出信号通过信号线212传输，此时的开关电路11是打开的状态，所以输出信号可以通过开关电路11传输到输出信号垫12。输出信号垫12将接收到的输出信号传输到外接的判断装置判断栅极驱动电路的功能是否正常，如果功能正常则进行下一步检测，如果功能异常，则传输警报通知，暂停检测。

S203：控制开关电路变为关闭状态。

具体的说，开关信号垫11处于关断状态，使得输出信号垫12与栅极驱动电路21信号线212之间的连接断开，栅极驱动电路21的输出信号无法传输到输出信号垫12。

S204：进行阵列电路检测。

具体的说，测试阵列基板20的阵列电路22的功能时，因为阵列电路22的工作需要栅极驱动电路21发送的驱动信号，所以继续向控制信号垫13输入控制信号，使得栅极驱动电路21工作。栅极驱动电路21向阵列电路20输送驱动信号，使得阵列电路20开始工作。此时显示信号垫14向阵列电路20中的每一个像素221输送显示信号，随后控制信号垫13和显示信号14垫暂停工作一段时间，约几毫秒。控制信号垫13再次向栅极驱动电路21输送控制信号，控使得栅极驱动电路开始工作，于是阵列电路20再次开始工作。显示信号垫14此时检测阵列电路中每一个像素存储的显示信号，判断阵列电路的功能是否正常。虽然此时栅极驱动电路21处于工作状态，但此时的开关电路11处于关断状态，栅极驱动电路21产生的输出信号无法传输到输出信号垫，栅极驱动电路21的负荷减轻，显示信号垫14就不会因为输出信号垫的干扰而影响检测结果。如果判断出阵列电路功能正常，继续下一步制程，如果判断出阵列电路功能不正常，则传输警报信息，暂停检测制程。

通过上述的描述可知，本发明实施例通过在输出信号垫与栅极驱动电路的信号线之间加入一个开关电路，开关电路在进行栅极驱动电路检测时处于打开状态，以使得输出信号垫与栅极驱动电路之间导通，在进行阵列电路检测时处于关断状态，以使得输出信号垫与栅极驱动电路之间断开，减轻栅极驱动电路的负荷。这样在进行阵列电路检测时，显示信号垫就不会受到输出信号垫的干扰，检测结果准确。

请参考图3，图3是本发明阵列基板检测线路第二施例中开关电路的电路示意图，如图3所示，开关电路11包括开关信号器113、开关信号垫111和第一开关管112。开关信号器113连接开关信号垫111，第一开关管112的控制端耦接开关信号垫111，第一端耦接栅极驱动电路21的信号线212，第二端耦接输出信号垫12。

在对栅极驱动电路21进行检测时，开关信号器113传输打开的开关信号给开关信号垫111，开关信号垫111控制第一开关管112处于打开状态。栅极驱动电路21的信号可以通过第一开关管112传输到输出信号垫12。

在对阵列电路22进行检测时，开关信号器113传输关断的开关信号给开关信号垫111，开关信号垫111控制第一开关管112处于关断状态。栅极驱动电路21的信号就不能通过第一开关管112传输到输出信号垫12。

通过上述描述可知，本发明实施例通过使用开关信号垫控制第一开关管的打开和关断，达到控制开关电路的打开和关断状态的目的，方法简单易行，成本低廉，容易实现。

请参考图4，图4是本发明开关电路的第二实施例的电路示意图。如图4所示，开关电路11包括开关信号器113、开关信号垫111、第一开关管112、第一反向器116、P型的第二开关管114、N型的第三开关管115。

第一反向器116的输入端耦接控制信号垫13的高电平输出端(VGH)131，在其他实施例中第一反向器116的输入端还可以耦接一个稳定的高电平输出端，例如高电压的稳压电源。开关信号器113连接开关信号垫111，第一开关管112第一端耦接栅极驱动电路21的信号线212，第二端耦接输出信号垫12。P型的第二开关管114的第一端耦接开关信号垫111，第二端耦接第一开关管112的控制端，控制端耦接第一反向器116的输出端。N型的第三开关管115的第一端耦接开关信号垫111，第二端耦接第一开关管112的控制端，控制端耦接控制信号垫13的高电平输出端131。在其他实施例中，N型的第三开关管115的控制端还可以耦接一个稳定的高电平输出端，例如高电压的稳压电源。

在对栅极驱动电路21进行检测时，控制信号垫13开始工作，控制信号垫13的高电平输出端131开始稳定输出高电平。高电平输出端131输出的稳定高电平经过第一反向器116反向，变成稳定低电平，传输到由低电平触发导通的P型的第二开关管114的控制端，P型的第二开关管114导通。高电平输出端131输出的稳定高电平同时传输给由高电平触发导通的N型的第三开关管115的控制端，N型的第三开关管115导通。

开关信号器113传输打开的开关信号给开关信号垫111，开关信号垫111通过已经导通的P型的第二开关管114和N型的第三开关管115控制第一开关管112打开，栅极驱动电路21的信号可以通过第一开关管112传输到输出信号垫12。

在对阵列电路22进行检测时，同样需要控制信号垫13开始工作，P型的第二开关管114和N型的第三开关管115导通的原理与在对栅极驱动电路21进行检测时一样，此处不再赘述。开关信号器113传输关断的开关信号给开关信号垫111，开关信号垫111通过已经导通的P型的第二开关管114和N型的第三开关管115传输到第一开关管112，控制第一开关管112关断，栅极驱动电路21的信号不能通过第一开关管112传输到输出信号垫12。

通过上述描述可知，本发明实施例通过加入P型的第二开关管和N型的第三开关管使得开关电路的负担由三个开关管共同承担，电路使用寿命增长，且P型的第二开关管和N型的第三开关管的导通通过控制信号垫的高电平输出端实现，简单方便。开关信号垫向第一开关管发送开关信号，通过已经导通的P型的第二开关管和N型的第三开关管，控制开关电路的打开和关断，可靠性更高。

请参考图4，图4是本发明开关电路的第二实施例的电路示意图。如图4所示，开关电路11包括开关信号垫111、第一开关管112、第二反向器119、N型的第四开关管118、P型的第五开关管117。

第二反向器119输入端耦接控制信号垫13的稳定低电平输出端132。在其他实施例中第二反向器119的输入端还可以耦接一个稳定的低电平输出端，例如低电压的稳压电源。第一开关管112第一端耦接栅极驱动电路21的信号线212，第二端耦接输出信号垫12。N型的第四开关管118第一端耦接开关信号垫111，第二端耦接第一开关管112的控制端，控制端耦接第二反向器119的输出端。P型的第五开关管117的第一端耦接开关信号垫111，第二端耦接第一开关管112的控制端，控制端耦接控制信号垫13的稳定低电平输出端132。在其他实施例中，P型的第五开关管117的控制端还可以耦接一个稳定的低电平输出端，例如低电压的稳压电源。

在对栅极驱动电路21进行检测时，控制信号垫13开始工作，控制信号垫13的低电平输出端(VGL)132开始稳定输出低电平。低电平输出端132输出的稳定低电平经过第二反向器119反向，变成稳定高电平，传输到由高电平触发导通的N型的第四开关管118的控制端，N型的第四开关管118导通。低电平输出端132输出的稳定低电平同时传输给由低电平触发导通的P型的第五开关管117的控制端，P型的第五开关管117导通。

开关信号器113传输打开的开关信号给开关信号垫111，开关信号垫111通过已经导通的N型的第四开关管118和P型的第五开关管117控制第一开关管112打开，栅极驱动电路21的信号可以通过第一开关管112传输到输出信号垫12。

在对阵列电路22进行检测时，同样需要控制信号垫13开始工作，N型的第四开关管118和P型的第五开关管117导通的原理与在对栅极驱动电路21进行检测时一样，此处不再赘述。

开关信号器113传输关断的开关信号给开关信号垫111，开关信号垫111通过已经导通的N型的第四开关管118和P型的第五开关管117控制第一开关管112关断，栅极驱动电路21的信号不能通过第一开关管112传输到输出信号垫12。

通过上述描述可知，本发明实施例通过加入N型的第四开关管和P型的第五开关管使得开关电路的负担由三个开关管共同承担，使得电路的使用寿命增长，且N型的第四开关管和P型的第五开关管的导通通过控制信号垫的低电平输出端实现，简单方便。开关信号垫向第一开关管发送开关信号，通过已经导通的N型的第四开关管和P型的第五开关管，控制开关电路的打开和关断，可靠性更高。

请参考图6，图6是本发明阵列基板制作方法的流程示意图。本发明阵列基板制作方法主要包括以下步骤：

S601：准备一基板。

具体地说，准备的基板为TFT玻璃基板。

S602：在基板上形成栅极驱动电路、阵列电路、控制信号垫、输出信号垫、显示信号垫和开关电路。

具体地说，在基板上形成栅极驱动电路、阵列电路均为现有技术，此处不再赘述。控制信号垫耦接阵列基板的栅极驱动电路的控制线，输出信号垫通过开关电路耦接栅极驱动电路的信号线，显示信号垫耦接阵列基的阵列电路的信号线。开关电路包括开关信号垫和开关管，开关管的控制端耦接开关信号垫，第一端耦接栅极驱动电路的信号线，第二端耦接输出信号垫。需要注意的是，为了方便后续的制程，控制信号垫、输出信号垫、显示信号垫和开关电路都设置在距离栅极驱动电路和阵列电路较远的位置。

S603：向控制信号垫输入控制信号，并控制开关电路处于打开状态。

S604：读取输出信号垫的输出信号以进行栅极驱动电路检测。

S605：控制开关电路变为关闭状态。

S606：进行阵列电路检测。

S603～S606与S201～S204基本一致，此处不再赘述。

S607：检测完成后，将控制信号垫、输出信号垫、显示信号垫以及开关电路切割掉。

具体地说，控制信号垫、输出信号垫、显示信号垫以及开关电路在S602步骤中都设置在远离阵列基板的栅极驱动电路和阵列电路的地方，在检测完成后，只要将装有控制信号垫、输出信号垫、显示信号垫以及开关电路的区域切割掉，就可以保留功能正常的阵列基板，进行以后的制程。

通过上述描述可知，本发明实施例在制程中加入了开关电路并未明显提升制程的复杂程度，在显示信号垫对阵列电路进行检测时，开关电路处于关断的状态，输出信号垫无法接受栅极驱动电路的信号，减轻栅极驱动电路的负荷，就不会对显示信号垫接收显示信号造成影响，确保显示信号垫检测结果的准确性。

区别于现有技术，在测试阵列电路时，输出信号垫会持续的发送信号给外接判断装置，增大了栅极驱动电路的负荷，影响显示信号垫测试结果的准确性，本发明通过在输出型号垫和栅极驱动电路的信号线之间加入一个开关电路，开关电路在进行栅极驱动电路检测时处于打开状态，以使得输出信号垫与栅极驱动电路之间导通，在进行阵列电路检测时处于关断状态，以使得输出信号垫与栅极驱动电路之间断开，减轻栅极驱动电路的负荷。这样在测试阵列电路时，显示信号垫接收到的信号就不会受到输出信号垫的信号干扰，测试结果准确。

以上所述仅为本发明的实施方式，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种阵列基板检测线路，其特征在于，包括：

控制信号垫，耦接所述阵列基板的栅极驱动电路的控制线，用于给所述阵列基板的栅极驱动电路提供控制信号；

输出信号垫，通过开关电路耦接所述栅极驱动电路的信号线，用于接收所述栅极驱动电路的输出信号；

显示信号垫，耦接所述阵列基板的阵列电路的信号线，用于接收所述阵列电路的输出信号；

其中所述开关电路在进行栅极驱动电路检测时处于打开状态，在进行阵列电路检测时处于关断状态。

2.根据权利要求1所述的阵列基板检测线路，其特征在于，所述开关电路包括第一开关管和开关信号垫，所述开关信号垫用于接收开关信号，所述第一开关管的控制端耦接所述开关信号垫，第一端耦接所述栅极驱动电路的信号线，第二端耦接所述输出信号垫；在进行栅极驱动电路检测时所述第一开关管在所述开关信号的作用下处于打开状态，在进行阵列电路检测时所述第一开关管在所述开关信号的作用下处于关断状态。

3.根据权利要求2所述的阵列基板检测线路，其特征在于，所述开关电路进一步包括，

第一反向器，所述第一反向器的输入端耦接稳定高电平输出端

P型的第二开关管，所述第二开关管的第一端耦接所述开关信号垫，所述第二开关管的第二端耦接所述第一开关管的控制端，所述第二开关管的控制端耦接所述第一反向器的输出端；

N型的第三开关管，所述第三开关管的第一端耦接所述开关信号垫，所述第三开关管的第二端耦接所述第一开关管的控制端；所述第三开关管的控制端耦接所述稳定高电平输出端。

4.根据权利要求3所述的阵列基板检测线路，其特征在于，所述稳定高电平输出端包括所述控制信号垫中的高电平输出端。

5.根据权利要求2所述的阵列基板检测线路，其特征在于，所述开关电路进一步包括，

第二反向器，所述第二反向器的输入端耦接稳定低电平输出端；

N型的第四开关管，所述第四开关管的第一端耦接所述开关信号垫，所述第四开关管的第二端耦接所述第一开关管的控制端，所述第四开关管的控制端耦接所述第二反向器的输出端；

P型的第五开关管，所述第五开关管的第一端耦接所述第一开关管的控制端，所述第五开关管的第二端耦接所述软件控制器，所述第五开关管的控制端耦接稳定低电平输出端。

6.根据权利要求5所述的阵列基板检测线路，其特征在于，所述稳定低电平输出端包括所述控制信号垫中的低电平输出端。

7.根据权利要求1所述的阵列基板检测线路，其特征在于，所述显示信号垫的个数由所述阵列电路中数据线的数量和多路分配器的级数确定；所述控制信号垫的个数为至少三个。

8.一种阵列基板检测方法，其特征在于，包括：

向控制信号垫输入控制信号，并控制开关电路处于打开状态；

读取输出信号垫的输出信号以进行栅极驱动电路检测；

控制开关电路变为关闭状态；

进行阵列电路检测。

9.根据权利要求8所述的检测方法，其特征在于，进行阵列电路检测的步骤包括,

继续向控制信号垫输入控制信号，使得所述栅极驱动电路控制所述阵列电路工作，从显示信号垫读取所述阵列电路的输出信号以进行阵列电路检测。

10.一种阵列基板的制作方法，其特征在于，包括，

准备一基板；

在所述基板上形成栅极驱动电路、阵列电路、控制信号垫、输出信号垫、显示信号垫和开关电路，其中，所述控制信号垫耦接所述阵列基板的栅极驱动电路的控制线，所述输出信号垫通过所述开关电路耦接所述栅极驱动电路的信号线，所述显示信号垫耦接所述阵列基板的阵列电路的信号线；

向控制信号垫输入控制信号，并控制开关电路处于打开状态；

读取输出信号垫的输出信号以进行栅极驱动电路检测；

控制开关电路变为关闭状态；

进行阵列电路检测；

检测完成后，将所述控制信号垫、所述输出信号垫、所述显示信号垫以及所述开关电路切割掉。