CN202677789U - 一种显示装置、显示面板及其驱动电流的检测电路 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及显示装置领域，特别涉及一种显示装置、显示面板及其驱动电流的检测电路，用于解决现有技术中存在的无法获取单条栅线或数据线上电流的相关参数的问题。本实用新型实施例检测电路包括第一导线、第二导线及控制开关；其中第一导线的一端与显示面板的驱动芯片的信号输出端连接，第二导线的一端与一条栅线或一条数据线连接；控制开关的两端分别与第一导线和第二导线连接；控制开关导通时，第一导线的另一端与第二导线的另一端之间为断路；控制开关断开时，第一导线的另一端与第二导线的另一端串接电流测量装置。本实用新型检测电路能够实现对单条栅线或数据线上电流参数的测试。
Description
技术领域
本实用新型涉及显示装置领域，特别涉及一种显示装置、显示面板及其驱动电流的检测电路。
背景技术
液晶显示器（Liquid Crystal Display，LCD）具有体积小、重量轻、功耗低、辐射低及制造成本低等特点，已被广泛应用于各种电子设备中，如电视、手机、数码相机等数字电子设备的显示器。
液晶显示器中的显示面板包括阵列基板及驱动芯片，其中，阵列基板包括多条栅线（Gate line）、多条数据线（Data line）及由栅线和数据线围设而成的像素单元，每个像素单元通过其像素开关TFT（Thin Film Transistor，薄膜晶体管）分别与栅线及数据线连接，其中，TFT的栅电极连接栅线，像素开关的源电极连接数据线。显示面板在正常工作状态下，以驱动栅线为例，驱动芯片为每条栅线提供驱动信号，通过栅线将该驱动信号加载至与该栅线连接的像素单元，并作为该像素单元中的TFT的栅电极控制电压，以控制与该TFT连接的像素点的开启，从而点亮显示面板的像素单元中的像素点。
在液晶显示器领域中，为了减小显示面板的尺寸，一般采用高集成度的驱动芯片为所有栅线及数据线提供驱动信号，只需要用一个驱动芯片即可控制所有栅线和数据线的驱动和数据信号。驱动信号从芯片输出后直接加载至阵列基板上相应的栅线和数据线，因此，无法获取单条栅线或单条数据线的电流情况。然而，在液晶显示器的实际分析和研究工作中，通常需要对液晶显示器的某一条栅线或某一条数据线的电流进行测量，以获取该栅线或数据线上电流的相关参数。
综上所述，现有的显示面板的所有栅线和数据线均由一个驱动芯片驱动，无法获取单条栅线或单条数据线上电流的相关参数。
实用新型内容
本实用新型实施例提供了一种显示装置、显示面板及其驱动电流的检测电路，用于解决现有技术中存在的无法获取单条栅线或单条数据线上电流的相关参数的问题。
本实用新型实施例提供了一种显示面板的驱动电流的检测电路，包括：第一导线、第二导线及控制开关；
其中，所述第一导线的一端与驱动芯片的信号输出端连接，所述第二导线的一端与所述显示面板的一条栅线或一条数据线连接；
所述控制开关的两端分别与所述第一导线和所述第二导线连接；所述第一导线的另一端与所述第二导线的另一端分别设置有电流测量装置接入端。
优选的，所述控制开关为晶体管。
优选的，所述控制开关为薄膜晶体管TFT，所述薄膜晶体管包括栅电极、有源层、源电极和漏电极；
所述控制开关的源电极和漏电极分别与所述第一导线和所述第二导线连接，所述控制开关的栅电极与所述驱动芯片的驱动高电压VH端连接，且所述驱动高压VH端通过开关元件与所述栅线或所述数据线对应的像素单元的公共电极线连接。
优选的，所述控制开关的栅电极与所述显示面板的像素单元中的TFT的栅电极位于同一层且采用相同材料；
所述控制开关的有源层与所述显示面板的像素单元中的TFT的有源层位于同一层且采用相同材料；
所述控制开关的源电极与所述显示面板的像素单元中的TFT的源电极位于同一层且采用相同材料；
所述控制开关的漏电极与所述显示面板的像素单元中的TFT的漏电极位于同一层且采用相同材料。
优选的，所述公共电极线与所述驱动高电压VH端之间连接保护电阻。
优选的，所述保护电阻为折线形结构，且所述保护电阻与所述显示面板的像素单元的像素电极位于同一层且采用相同材料。
优选的，所述开关元件为两个相互绝缘的金属焊盘。
本实用新型实施例提供了一种显示面板，所述显示面板的一个像素单元中包括至少一个上述检测电路。
优选的，所述显示面板中每条所述栅线与所述驱动芯片之间连接一个所述检测电路；
所述显示面板中的每条所述数据线与所述驱动芯片之间连接一个所述检测电路。
本实用新型实施例提供了一种显示装置，包括上述显示面板。
本实用新型实施例显示面板的驱动电流的检测电路包括第一导线、第二导线及控制开关，其中，第一导线的一端与驱动芯片的信号输出端连接，第二导线的一端与一条栅线或一条数据线连接；该检测电路在用于测试某条栅线或数据线上的电流参数时，只需使控制开关断开，且在第一导线与第二导线之间串接电流测量装置，使驱动芯片的驱动信号经由第一导线、电流测量装置及第二导线加载至对应的栅线或数据线，从而实现对该栅线或数据线上电流参数的测试，进而为后续的各项分析工作提供了帮助。
附图说明
图1为本实用新型实施例的检测电路的连接示意图；
图2为本实用新型实施例的检测电路的结构示意图。
具体实施方式
本实用新型实施例检测电路通过控制开关控制驱动信号的输入路径，将电流测量装置串接在第一导线与第二导线之间，用以测试与第二导线连接的栅线或数据线上的电流参数，从而实现对单条栅线或单条数据线上电流参数的测试。
下面结合说明书附图对本实用新型实施例作进一步详细描述。
如图1所示，本实用新型实施例显示面板的驱动电流的检测电路10连接于该显示面板的像素显示区域中的一条栅线20（或数据线30）与该显示面板1的驱动芯片40之间，用于测试该栅线20或数据线30上的电流参数。
本实用新型实施例检测电路包括：第一导线、第二导线及控制开关；
其中，第一导线的一端与驱动芯片的信号输出端连接，第二导线的一端与一条栅线或一条数据线连接；
控制开关的两端分别与第一导线和第二导线连接；控制开关导通时，第一导线的另一端与第二导线的另一端之间为断路，此时，驱动芯片输出的驱动信号经由第一导线、控制开关及第二导线加载至对应的栅线或数据线；控制开关断开时，第一导线的另一端与第二导线的另一端串接电流测量装置，此时，驱动芯片输出的驱动信号经由第一导线、电流测量装置及第二导线加载至对应的栅线或数据线，以实现对该条栅线或数据线上的电流参数的测试。
实施中，第一导线与第二导线相向的两端可设计成两个相互绝缘的金属焊盘（pad）或两个相互绝缘的导电通孔；
具体的，在显示面板正常工作状态下，两个金属焊盘或两个导电通孔之间为断路状态；在需要测试栅线或数据线上的电流参数时，两个焊盘或两个导电通孔分别连接电流测量装置的两个测量端，以实现电流测量装置的串接。
优选的，本实用新型实施例控制开关为晶体管。
具体的，控制开关可以为场效应管或薄膜晶体管TFT。
具体的，场效应管可以是结型场效应管、MOS（Metal Oxide Semiconductor，金属氧化物半导体）、CMO S（Complementary Metal Oxide Semiconductor，互补金属氧化物半导体）等。
当然，本实用新型实施例控制开关还可以是本领域技术人员所熟知的其他能够作为开关的元器件，此处不再一一列举。
下面以本实用新型实施例控制开关为TFT为例进行说明，其他形式的控制开关的连接方式与此类似，此处不再一一举例说明。
如图2所示，本实用新型实施例提供的检测电路10包括：第一导线110、第二导线120及控制开关130；
其中，第一导线110的一端与驱动芯片40的信号输出端连接，第二导线120的一端与一条栅线连接，第一导线110的另一端与第二导线120的另一端分别设置有电流测量装置接入端；
优选的，该电流测量装置接入端可以为金属焊盘，且分别设置于第一导线110的另一端与第二导线120的另一端的电流测量装置接入端相互绝缘；
控制开关130的源电极S和漏电极D分别与第一导线110和第二导线120连接；该控制开关130的栅电极G与驱动芯片40中的驱动高压VH端连接，且驱动高压VH通过开关元件140与栅线或数据线对应的像素单元的公共电极线连接。
在显示面板正常工作时，令开关元件140处于断开状态，此时，驱动芯片通过其VH端输出的直流电压（一般在15V以上）使A点保持高电位，即使控制开关130的栅电极处于高电位，从而使控制开关130导通，因此，驱动芯片40输出的驱动信号经由第一导线110、控制开关130及第二导线120（即L2线路）加载至对应的栅线或数据线，完成驱动过程；可见，本实用新型实施例检测电路不会对显示面板的正常驱动造成任何影响；
在需要对与该检测电路10连接的栅线或数据线上的电流参数进行测试时，令开关元件140导通，同时将电流测量装置2串接于第一导线110与第二导线120之间的电流测试装置接入端，以形成通路；此时，由于A点与公共电极线连接在一起，相当于接地，即A点电位为0V左右，从而使控制开关130截止，因此，驱动芯片40输出的驱动信号经由第一导线110、电流测量装置2及第二导线120（即L1线路）加载至对应的栅线或数据线，从电流测量装置2中可以读取该栅线或数据线上电流的相应参数数据，以完成对该栅线或数据线上的电流参数的测试。
优选的，在控制开关130的栅电极与驱动芯片40的VH端之间连接保护电阻R，以起到过压保护作用；
其中，保护电阻R的阻值为经验值，可以根据需要设定。
优选的，本实用新型实施例开关元件140可以为两个相互绝缘的金属焊盘（pad）；
在具体制作过程中，与控制开关的栅电极连接的金属焊盘和与该栅电极所在的金属层之间采用层间过孔的方式连接，与像素单元中的公共电极线连接的金属焊盘和与该公共电极线所在的金属层之间也采用层间过孔的方式连接；
在使用过程中，若需要开关元件140导通，则可以使用导电银胶或导线将两个金属焊盘连接在一起，以实现开关元件140的导通。
为了简化制造工艺，优选的，本实用新型实施例控制开关可与像素单元中的TFT同时制作；
具体的，控制开关的栅电极与显示面板的像素单元中的TFT的栅电极位于同一层且采用相同材料；其中，控制开关的栅电极的尺寸没有特殊要求，可以使用和像素单元中的TFT的栅电极相同的尺寸；
控制开关的栅电极可以采用Al（铝）或Mo（钼）等金属材料制备，其厚度可以为3000埃米~5000埃米。
控制开关的有源层与显示面板的像素单元中的TFT的有源层位于同一层且采用相同材料；
控制开关的有源层可以采用非晶硅、多晶硅等材料制备，其厚度可以为2000埃米~4000埃米。
控制开关的源电极与像素单元中的TFT的源电极位于同一层且采用相同材料，控制开关的漏电极与像素单元中的TFT的漏电极位于同一层且采用相同材料；其中，控制开关的源电极、漏电极的宽度与数据线的宽度相同，控制开关的源电极、漏电极的两端采用层间过孔的方式分别连接到第一导线及第二导线上；
控制开关的源电极、漏电极可以采用Al或Mo等金属材料制备，其厚度可以为2000埃米~4000埃米。
为了简化制造工艺，优选的，本实用新型实施例设置于驱动芯片的VH端与控制开关的栅电极之间的保护电阻为折线形结构，且该保护电阻与像素单元中的像素电极位于同一层且采用相同材料；
其中，该保护电阻的材料可以是ITO（Indium-Tin-Oxide，氧化铟锡）或IZO（Indium Zinc Oxide，铟锌氧化物）等氧化物。
具体的，保护电阻可以采用像素单元的ITO层的金属进行折线式设计来实现，按照经验，保护电阻的阻值可以达到几十千欧，从而可以承受来自驱动芯片的VH端输出的15Ｖ左右的电压；保护电阻的两端与驱动芯片的VH端及控制开关的栅电极之间同样采用层间过孔的方式连接。
本实用新型实施例提供的显示面板的一个像素单元中包括至少一个上述检测电路；
其中，检测电路连接于一条栅线与显示面板的驱动芯片之间，或连接于一条数据线与显示面板的驱动芯片之间。
为了能对每条栅线上的电流参数进行检测，优选的，该显示面板中每条栅线与驱动芯片之间均连接一个检测电路。
为了能对每条数据线上的电流参数进行检测，优选的，该显示面板中的每条数据线与驱动芯片之间均连接一个检测电路。
在不影响显示面板的驱动芯片的功能的情况下，在驱动芯片与栅线（或数据线）之间连接了用于检测该栅线（或该数据线）的检测电路，该检测电路包括第一导线、第二导线及控制开关，在需要测试某条栅线或某条数据线上的电流参数时，将电流测量装置串接至第一导线与第二导线之间，并使控制开关断开，从而实现了对该栅线或数据线上电流参数的测试，进而为后续的各项分析工作提供了帮助。
本实用新型实施例的显示装置包括上述显示面板。
尽管已描述了本实用新型的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本实用新型范围的所有变更和修改。
本实用新型实施例显示面板的驱动电流的检测电路包括第一导线、第二导线及控制开关，其中，第一导线的一端与驱动芯片的信号输出端连接，第二导线的一端与一条栅线或一条数据线连接；该检测电路在用于测试某条栅线或数据线上的电流参数时，只需使控制开关断开，且在第一导线与第二导线之间串接电流测量装置，使驱动芯片的驱动信号经由第一导线、电流测量装置及第二导线加载至对应的栅线或数据线，从而实现对该条栅线或数据线上电流参数的测试，进而为后续的各项分析工作提供了帮助。
显然，本领域的技术人员可以对本实用新型进行各种改动和变型而不脱离本实用新型的精神和范围。这样，倘若本实用新型的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内，则本实用新型也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (10)
1.一种显示面板的驱动电流的检测电路，所述显示面板包括驱动芯片，其特征在于，所述检测电路包括：第一导线、第二导线及控制开关；
其中，所述第一导线的一端与驱动芯片的信号输出端连接，所述第二导线的一端与所述显示面板的一条栅线或一条数据线连接；
所述控制开关的两端分别与所述第一导线和所述第二导线连接；所述第一导线的另一端与所述第二导线的另一端分别设置有电流测量装置接入端。
2.如权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述控制开关为晶体管。
3.如权利要求2所述的检测电路，其特征在于，所述控制开关为薄膜晶体管TFT，所述薄膜晶体管包括栅电极、有源层、源电极和漏电极；
所述控制开关的源电极和漏电极分别与所述第一导线和所述第二导线连接，所述控制开关的栅电极与所述驱动芯片的驱动高电压VH端连接，且所述驱动高压VH端通过开关元件与所述栅线或所述数据线对应的像素单元的公共电极线连接。
4.如权利要求3所述的检测电路，其特征在于，所述控制开关的栅电极与所述显示面板的像素单元中的TFT的栅电极位于同一层且采用相同材料；
所述控制开关的有源层与所述显示面板的像素单元中的TFT的有源层位于同一层且采用相同材料；
所述控制开关的源电极与所述显示面板的像素单元中的TFT的源电极位于同一层且采用相同材料；
所述控制开关的漏电极与所述显示面板的像素单元中的TFT的漏电极位于同一层且采用相同材料。
5.如权利要求3所述的检测电路，其特征在于，所述公共电极线与所述驱动高电压VH端之间连接保护电阻。
6.如权利要求5所述的检测电路，其特征在于，所述保护电阻为折线形结构，且所述保护电阻与所述显示面板的像素单元的像素电极位于同一层且采用相同材料。
7.如权利要求3所述的检测电路，其特征在于，所述开关元件为两个相互绝缘的金属焊盘。
8.一种显示面板，其特征在于，所述显示面板的一个像素单元中包括至少一个如权利要求1~7任一所述的检测电路。
9.如权利要求8所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板中每条所述栅线与所述驱动芯片之间连接一个所述检测电路；
所述显示面板中的每条所述数据线与所述驱动芯片之间连接一个所述检测电路。
10.一种显示装置，其特征在于，所述显示装置包括如权利要求8或9所述的显示面板。
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