CN202736443U - 一种显示器、阵列基板及阵列基板的测试电路 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及显示器领域，特别涉及一种显示器、阵列基板及阵列基板的测试电路，用于解决现有的显示面板的边框尺寸较大且制作成本高的问题。本实用新型实施例测试电路布设于阵列基板的外侧，包括：至少一条用于提供测试信号的信号输入线路；至少一个开关单元，该开关单元的输入端与一条信号输入线路连接，该开关单元的输出端与栅线连接；其中，开关单元的开启电压不高于测试信号的电压。本实用新型实施例仅通过信号输入线路就能实现现有外围电路中的栅极信号输入线路和开关电路，节省了显示面板的布线空间，从而可以减小显示面板的边框尺寸，降低了制造成本。

Description

一种显示器、阵列基板及阵列基板的测试电路

技术领域

本实用新型涉及显示器领域，特别涉及一种显示器、阵列基板及阵列基板的测试电路。 

背景技术

液晶显示器（LCD，Liquid Crystal Display）具有体积小、重量轻、功耗低、辐射低及制造成本低等特点，已被广泛应用于各种电子设备中，如显示器、电视、手机、数码相机等数字电子设备。其中，TFT-LCD（Thin Film Transistor LiquidCrystal Display，薄膜晶体管液晶显示器）是一种主要的平板显示装置（FPD，Flat Panel Display）。 

现有的TFT-LCD周边电路一般包括ESD（Electro-Static discharge，静电释放）保护电路，测试电路（Test Circuit），以及围绕设置于像素显示区域周边的短路环（short ring）；其中，短路环是具有一定宽度的金属导线，用于释放多余电荷；ESD保护电路包括连接栅线（Gate line）与短路环的一组保护开关（如TFT）；测试电路是指为了驱动液晶面板而设计的辅助电路，如栅极信号输入线路、源极信号输入线路/switch开关电路等。 

以栅极为例，现有的TFT-LCD的阵列基板的外围电路1如图1所示，包括栅极信号输入线路10、短路环11、开关电路12以及ESD保护电路；为了驱动TFT-LCD阵列基板的栅极，在像素显示区域14周边设计有栅极信号输入线路10以及控制该栅极信号输入的开关电路12，若需要将栅极信号加载至栅线15以驱动液晶面板，则在开关电路12的输入pad（焊盘）上加载高电平信号，使开关电路12中的开关元件120（如TFT）导通，从而使加载在栅极信号输入pad的栅极信号通过开关元件120加载到像素显示区域14的栅线15上， 从而驱动液晶面板工作； 

ESD保护电路包括连接于栅线15与短路环11之间一组保护开关13（如TFT），在正常工作状态下，保护开关13处于截止状态，即栅线15与短路环11之间不导通；若有异常的高压信号冲击栅线15时，使保护开关13导通，从而使栅线15与短路环11之间导通，并将电荷分散到短路环11上，从而保护栅线15不会被击穿而损坏。 

由于现有的TFT-LCD的阵列基板的外围电路是按照各电路的不同功能采用分离设计进行制作的，每种功能的电路都分别占用一定的布线空间，从而使现有的TFT-LCD的显示面板（panel）的边框尺寸较大，从而增加了显示面板的制作成本。 

综上所述，现有的TFT-LCD的阵列基板的外围电路采用分离设计，使得显示面板的边框尺寸较大，从而增加了显示面板的制作成本。 

实用新型内容

本实用新型实施例提供了一种显示器及其阵列基板的测试电路，用于解决现有技术中存在的显示面板的边框尺寸较大，制作成本高的问题。 

本实用新型实施例提供了一种阵列基板的测试电路，该测试电路布设于所述阵列基板的外侧，包括： 

至少一条用于提供测试信号的信号输入线路； 

至少一个开关单元，所述开关单元的输入端与一条所述信号输入线路连接，所述开关单元的输出端与栅线连接； 

其中，所述开关单元的开启电压不高于所述测试信号的电压。 

优选的，所述测试电路还包括： 

至少一个保护开关单元，所述保护开关单元的输入端与所述栅线连接，所述保护开关单元输出端与一条所述信号输入线路连接； 

其中，所述保护开关单元的开启电压高于所述开关单元的开启电压。 

优选的，所述开关单元的输出端的数量至少为一个，且所述开关单元的每个输出端与一条不同的栅线连接。 

优选的，所述保护开关单元的输入端的数量至少为一个，且所述保护开关单元的每个输入端与一条不同的栅线连接。 

优选的，所述开关单元包括至少一个开关元件，其中，每个开关元件的输入端与同一条信号输入线路连接，且每个开关元件的输出端与一条不同的栅线连接。 

优选的，所述开关元件的数量与所述栅线的数量相等。 

优选的，所述保护开关单元包括至少一个保护开关，其中，每个保护开关的输入端与一条不同的栅线连接，且每个保护开关的输出端与同一条信号输入线路连接。 

优选的，所述保护开关的数量与所述栅线的数量相等。 

优选的，所有所述信号输入线路通过同一个输入焊盘接收所述测试信号。 

优选的，所述测试电路还包括： 

至少一条与所述信号输入线路连接且位于所述阵列基板外侧的电荷分散线路。 

优选的，所述开关元件由一个薄膜晶体管构成，其中，所述薄膜晶体管的源极和漏极均与同一条信号输入线路连接，所述开关元件的漏极与一条栅线连接。 

优选的，所述保护开关由两个薄膜晶体管串联构成，其中，每个薄膜晶体管的源极均与自身的栅极连接，一个薄膜晶体管的源极与另一个薄膜晶体管的漏极连接，所述保护开关的源极与所述栅线连接，所述保护开关的漏极与所述信号输入线路连接。 

本实用新型实施例提供了一种阵列基板，包括上述任一测试电路。 

本实用新型实施例提供了一种显示器，包括上述的阵列基板。 

本实用新型实施例测试电路包括信号输入线路及至少一个开关单元，该开 关单元的输入端与信号输入线路连接，输出端与栅线连接，在信号输入线路提供的测试信号的电压大于开关单元的开启电压时，将测试信号加载至与开关单元连接的栅线上，从而实现了现有的测试电路中的栅极信号输入线路和开关电路的功能；由于本实用新型仅通过信号输入线路就能实现现有外围电路中的栅极信号输入线路和开关电路，节省了显示面板的布线空间，从而可以减小显示面板的边框尺寸，降低了制造成本。 

附图说明

图1为现有的阵列基板的外围电路示意图； 

图2为本实用新型实施例第一种阵列基板的测试电路示意图； 

图3为本实用新型实施例第二种信号输入线路的结构示意图； 

图4为本实用新型实施例第三种信号输入线路的结构示意图； 

图5为本实用新型实施例第四种信号输入线路的结构示意图； 

图6为本实用新型实施例第五种信号输入线路的结构示意图； 

图7为本实用新型实施例开关元件与保护开关的等效电路示意图。 

具体实施方式

本实用新型通过信号输入线路、开关单元及其连接，实现了现有的外围电路中的栅极信号输入线路及开关电路的功能，节省了布线空间，从而可以减小显示面板的边框尺寸，降低了制造成本。 

在TFT-LCD的显示面板制造过程中，需要对显示面板的像素区域进行测试，因此，在阵列基板的外围设置测试电路，用于为栅线提供测试信号，以实现对像素区域的测试。 

本实用新型实施例阵列基板的测试电路，布设于阵列基板的外侧，包括： 

至少一条用于提供测试信号的信号输入线路； 

开关单元，该开关单元的输入端与一条信号输入线路连接，该开关单元的 输出端与栅线连接，用于在开启时将信号输入电路的测试信号输入到栅线； 

其中，该开关单元的开启电压不高于测试信号的电压。 

具体的，在没有测试信号输入时（或输入的信号电压小于开关单元的开启电压时），该开关单元处于截止状态，即信号输入线路与栅线之间处于断路状态；在信号输入线路输入测试信号时，由于该测试信号的电压不低于该开关单元的开启电压，此时该开关单元导通，即信号输入线路与栅线之间处于连通状态，从而将测试信号加载到对应的栅线上。 

优选的，该开关单元的数量与信号输入线路的数量相等。 

优选的，该开关单元的输出端的数量至少为一个，且每个输出端与一条不同的栅线连接。 

为了信号输入线路能够驱动所有的栅线，该开关单元的输出端的数量与栅线的数量相同，以保证每个输出端能够与一条不同的栅线连接，从而该信号输入线路能够驱动每条栅线。 

需要说明的是，该开关单元的输入端的数量至少为一个，且该开关单元的输入端的数量可以与输出端的数量相同，也可以不同；如开关单元有一个输入端和多个输出端。 

优选的，开关单元包括至少一个开关元件，其中，每个开关元件的输入端与同一条信号输入线路连接，且每个开关元件的输出端与一条不同的栅线连接。 

为了信号输入线路能够驱动所有的栅线，开关单元的开关元件的数量与栅线的数量相等，其中，每个开关元件的输入端与同一条信号输入线路连接，且每个开关元件的输出端与一条不同的栅线连接。 

为了防止栅线上的电压过大而造成栅线的损坏，本实用新型实施例测试电路还包括： 

保护开关单元，该保护开关单元的输入端与栅线连接，输出端与一条信号输入线路连接； 

其中，保护开关单元的开启电压高于开关单元的开启电压。 

具体的，正常测试或工作状态下，由于栅线上的电压低于保护开关单元的开启电压，因此，保护开关单元处于截止状态；当栅线上的电压突然变大，以致高于保护开关单元的开启电压时，该保护开关单元导通，将栅线上过量的电荷分散到信号输入线路上，从而起到保护与其连接的栅线不被击穿而造成损坏的作用。 

优选的，保护开关单元的数量与信号输入线路的数量相等。 

优选的，保护开关单元的输入端的数量至少为一个，且每个输入端与一条不同的栅线连接。 

为了防止每个栅线由于电压过大而受损，该保护开关单元的输入端的数量与栅线的数量相同，以保证每个输入端能够与一条不同的栅线连接，从而起到过压保护作用。 

需要说明的是，该保护开关单元的输出端的数量至少为一个，且该保护开关单元的输出端的数量可以与输入端的数量相同，也可以不同；如保护开关单元有多个输入端和一个输出端。 

优选的，保护开关单元包括至少一个保护开关，其中，每个保护开关的输入端与一条不同的栅线连接，且每个保护开关的输出端与同一条信号输入线路连接。 

为了防止每个栅线由于电压过大而受损，保护开关单元的保护开关的数量与栅线的数量相等；其中，每个保护开关的输入端与一条不同的栅线连接，且输出端与同一条信号输入线路连接。 

为了便于与像素显示区域中的所有栅线连接，优选的，本实用新型实施例所有的信号输入线路均垂直于像素显示区域的栅线设置。 

当然，本实用新型实施例信号输入线路也可以采用其他方式设置，如倾斜设置等，只要保证该信号输入线路能够与开关单元的输入端和/或保护开关单元的输出端连接即可。 

本实用新型实施例测试电路在需要向栅线提供测试信号时，测试信号通过信号输入线路的输入焊盘（pad）输入至信号输入线路，在测试信号的电压高于与信号输入线路及栅线连接的开关单元的开启电压时，该开关单元导通，从而将测试信号加载至像素显示区域对应的栅线上，并作为该像素显示区域中对应的TFT的栅极控制电压，以控制与该TFT连接的像素点的开启，从而点亮显示面板的像素显示区域中的像素点。 

显示面板在测试或使用过程中，若栅线上的电压过大会将该栅线击穿而使栅线损伤，所以，信号输入线路与每条栅线之间连接保护开关单元，在栅线上的电压大于与其连接的保护开关单元的开启电压时，该保护开关单元导通，同时将栅线上的电荷分散到信号输入线路，从而对栅线起到过压保护的作用。 

本实用新型实施例信号输入线路为金属导线。 

本实用新型实施例测试电路还包括： 

至少一条与信号输入线路连接且位于阵列基板外侧的电荷分散线路； 

优选的，本实用新型实施例电荷分散线路垂直于信号输入线路设置，从而在栅线上的电压高于保护开关单元的开启电压时，能够将栅线上的电荷同时分散到信号输入线路和电荷分散线路，对栅线起到过压保护的作用。 

为了便于与像素显示区域中的所有栅线连接，优选的，本实用新型实施例所有的电荷分散线路平行于栅线设置。 

当然，本实用新型实施例电荷分散线路也可以采用其他方式设置，如倾斜设置等，只要保证该电荷分散线路能够与信号输入线路即可。 

若信号输入线路为两条，则两条信号输入线路之间通过电荷分散线路连接，使两条信号输入线路通过同一个焊盘接收测试信号，进一步减小显示面板的边框尺寸。 

优选的，本实用新型实施例包括两条信号输入线路和连接于该两条信号输入线路之间的两条电荷分散线路，其中，两条信号输入线路分别位于阵列基板的垂直于栅线的两侧，两个电荷分散线路分别位于阵列基板的平行于栅线的两 侧。 

本实用新型实施例阵列基板的外围电路还包括： 

在显示面板工作状态下，用于提供输入信号的驱动电路； 

其中，驱动电路可以是GOA（Gate Driver on Array，阵列基板行驱动技术）电路，或IC（integrated circuit，集成电路）芯片； 

若驱动电路为IC芯片，则阵列基板的外围电路还包括： 

驱动IC绑定区域，用于放置驱动栅线的IC芯片； 

需要说明的是，在显示面板的制造过程中，该驱动电路不工作，由信号输入线路为栅线提供测试信号；在显示面板制造完成后的使用过程中，由该驱动电路为栅线提供输入信号，以点亮显示面板中栅线对应的各像素点。 

在显示面板的使用过程中，为了保证开关单元一直处于关闭状态，阵列基板的外围电路还包括： 

挠性印刷电路板FPC（Flexible Printed Circuit board）连接区域，该FPC连接区域用于连接驱动显示面板所需的FPC，其通过导线将FPC与信号输入线路连接； 

在显示面板的使用过程中，FPC通过该导线向信号输入线路加载一个低电压信号（如小于5V的电压信号），使开关单元一直处于关闭状态，此时，像素显示区域中的TFT的栅极控制信号由驱动电路提供。 

下面结合说明书附图对本实用新型实施例作进一步详细描述。其中，各附图均以开关单元包括与栅线数量相等的开关元件，保护开关单元包括与栅线数量相等的保护开关为例进行说明的，其他形式的开关单元及保护开关单元与此类似，不再一一列举。 

如图2所示，本实用新型实施例第一种测试电路包括： 

一条设置于阵列基板外侧（即像素单元的外侧）的信号输入线路210、一个开关单元及一个保护开关单元； 

其中，信号输入线路210垂直于所有栅线30设置并位于该阵列基板的一 侧； 

开关单元包括与栅线数量相等的开关元件，且每个开关元件50的输入端与信号输入线路210连接，输出端与一条不同的栅线30连接；在输入的测试信号大于开关元件50的开启电压时，该开关元件50导通，并将测试信号加载到与该开关元件50连接的栅线30上，并作为像素显示区域60中对应的TFT（图中未示）的栅极控制电压，以控制与该TFT连接的像素点的开启，从而点亮显示面板的像素显示区域60中的像素点。 

保护开关单元包括与栅线数量相等的保护开关，且每个保护开关40的输入端与一条不同的栅线30连接，输出端与信号输入线路210连接；在某条栅线30上的电压大于与其连接的保护开关40的开启电压时，该保护开关40导通，并将电荷分散到信号输入线路210上，从而起到保护栅线30不被击穿而损坏的作用。 

本实用新型实施例阵列基板的外围电路还包括： 

驱动IC绑定区域70，用于放置驱动栅线的IC（integrated circuit，集成电路）芯片；其中，在显示面板制造过程中，该驱动IC绑定区域中不放置IC芯片，由信号输入线路210为栅线30提供测试信号；在显示面板制造完成后的使用过程中，在驱动IC绑定区域70中放置IC芯片，并由该IC芯片为栅线30提供输入信号，以点亮显示面板中栅线30对应的各像素点。 

在显示面板的使用过程中，为了保证开关元件50一直处于关闭状态，如图2所示，本实用新型实施例阵列基板的外围电路还包括：挠性印刷电路板FPC（Flexible Printed Circuit board）连接区域80，该FPC连接区域80用于连接驱动显示面板所需的FPC，其通过导线810将FPC与信号输入线路210连接； 

在显示面板的使用过程中，FPC通过该导线810向信号输入线路210加载一个低电压信号（如小于5V的电压信号），使开关元件50一直处于关闭状态，此时，像素显示区域60中的TFT的栅极控制信号由驱动IC绑定区域70的IC芯片提供。 

如图3所示，本实用新型实施例第二种测试电路包括： 

一条设置于阵列基板外侧的信号输入线路210、一条设置于阵列基板外侧且与信号输入线路210垂直连接的电荷分散线路220、一个开关单元及一个保护开关单元； 

其中，本实施例中信号输入线路210垂直于栅线30设置，并位于该阵列基板的垂直于栅线的一侧；电荷分散线路220平行于栅线30设置，并位于该阵列基板平行于栅线的一侧； 

开关单元包括与栅线数量相等的开关元件，且每个开关元件50的输入端与信号输入线路210连接，输出端与一条不同的栅线30连接；保护开关单元包括与栅线数量相等的保护开关，且每个保护开关40的输入端与一条不同的栅线30连接，输出端与信号输入线路210连接； 

在栅线30上的电压大于与其连接的保护开关40的开启电压时，该保护开关40导通，并将电荷分散到信号输入线路210和电荷分散线路220上。 

需要说明的是，本实用新型实施例FPC还可以通过导线810将FPC与电荷分散线路220连接，并在显示面板的使用过程中，通过该导线810向电荷分散线路220加载一个低电压信号（如小于5V的电压信号），使开关元件50一直处于关闭状态。 

本实施例相比于图2所示的实施例，增加了平行于栅线方向且位于阵列基板一侧的电荷分散线路220，在有异常电压（如静电等高于与栅线连接的保护开关的开启电压的电压）冲击栅线时，电荷的分散面积增大，从而更好地保护显示区域60的栅线及其TFT。 

如图4所示，本实用新型实施例第三种测试电路包括： 

一条设置于阵列基板外侧的信号输入线路210、两条设置于阵列基板外侧且与信号输入线路210垂直连接的电荷分散线路220A和220B、一个开关单元及一个保护开关单元； 

其中，信号输入线路210位于阵列基板的与栅线垂直方向的一侧，两条电 荷分散线路220A和220B分别位于阵列基板的平行于栅线方向的两侧； 

开关单元包括与栅线数量相等的开关元件，且每个开关元件50的输入端与信号输入线路210连接，输出端与一条不同的栅线30连接；保护开关单元包括与栅线数量相等的保护开关，且每个保护开关40的输入端与一条不同的栅线30连接，输出端与信号输入线路210连接； 

在栅线30上的电压大于与其连接的保护开关40的开启电压时，该保护开关40导通，并将电荷分散到信号输入线路210和电荷分散线路220A和220B上。 

本实施例相比于图3所示的实施例，增加了平行于栅线方向且位于阵列基板另一侧的电荷分散线路220B，在有异常电压（静电等高于与栅线连接的保护开关的开启电压的电压）冲击栅线时，电荷的分散面积进一步增大，从而更好地保护显示区域60的栅线及其TFT。 

如图5所示，本实用新型实施例第四种测试电路包括： 

两条设置于阵列基板外侧的信号输入线路210A和210B、一条设置于阵列基板外侧且与信号输入线路210A垂直连接的电荷分散线路220、两个开关单元及一个保护开关单元； 

其中，两条信号输入线路210A和210B分别位于该阵列基板的垂直于栅线方向的两侧，且两条信号输入线路210A和210B之间通过电荷分散线路220连接；该电荷分散线路220位于该阵列基板的平行于栅线方向的一侧；两条信号输入线路210A和210B通过同一个焊盘接收测试信号。 

每个开关单元都包括与栅线数量相等的开关元件，其中一个开关单元中的每个开关元件50A的输入端与信号输入线路210A连接，输出端与一条不同的栅线30连接；另一个开关单元中的每个开关元件50B的输入端与信号输入线路210B连接，输出端与一条不同的栅线30连接；在输入的测试信号大于开关元件50A（和/或50B）的开启电压时，该开关元件50A（和/或50B）导通，并将测试信号加载到对应的栅线30上，并作为像素显示区域60中对应的TFT （图中未示）的栅极控制电压，以控制与该TFT连接的像素点的开启，从而点亮显示面板的像素显示区域60中的像素点。 

保护开关单元包括与栅线数量相等的保护开关，且每个保护开关40的输入端与一条不同的栅线30连接，输出端与信号输入线路210A连接； 

需要说明的是，该保护开关单元的位置还可以设置于在信号输入线路210B与栅线30之间，即每个保护开关40的输入端与一条不同的栅线30连接，输出端与信号输入线路21B连接；还可以在信号输入线路210A与栅线30之间，及信号输入线路210B与栅线30之间各设置一个保护开关单元，以在测试和使用过程中起到更好的保护作用。 

本实施例相比于图3所示的实施例，增加了垂直于栅线方向且位于阵列基板另一侧的信号输入线路210B及与其连接的开关单元，对于同一条栅线来说，由信号输入线路210A和210B同时对其提供测试信号，使栅线驱动能力进一步增强。另外，当有一侧信号输入线路210A（或210B）和/或与其连接的开关单元发生故障时（如断路等情况），另一侧信号输入线路及与其连接开关单元还可以向栅线提供测试信号，从而保证了栅线的正常测试过程。 

如图6所示，本实用新型实施例第五种测试电路包括： 

两条设置于阵列基板外侧的信号输入线路210A和210B、两条设置于阵列基板外侧且与信号输入线路210A和210B垂直连接的电荷分散线路220A和220B、设置于信号输入线路210A与栅线之间的一个开关单元、设置于信号输入线路210B与栅线之间的一个开关单元及设置于信号输入线路210A（和/或信号输入线路210B）与栅线之间的保护开关单元； 

其中，两条信号输入线路210A和210B分别位于该阵列基板的垂直于栅线方向的两侧，两条电荷分散线路220A和220B分别位于该阵列基板平行于栅线方向的一侧；信号输入线路210A和210B及电荷分散线路220A和220B形成封闭的四边形结构，信号输入线路210A与信号输入线路210B通过同一输入焊盘接收测试信号。 

本实施例包括两条信号输入线路210A和210B和两条电荷分散线路220A和220B，既保证了充分的异常电荷释放路径，又提供了双向的测试信号输入，进一步增强了测试电路的可靠性。 

优选的，本实用新型实施例保护开关和开关元件为薄膜晶体管（TFT）。 

其中，开关元件的TFT的沟道宽长比根据测试信号的电压确定，以保证该开关元件的开启电压不高于测试信号的电压；例如，若测试信号的电压为20V，则可将开关元件的开启电压设置为10V（即在开关元件两端加载的电压大于10V时，该开关元件的TFT沟道导通），则其TFT沟道宽长比可设置为400μm/6μm；在该开关元件的TFT沟道导通后，可将测试信号加载到像素显示区域的栅线上，作为像素显示区域中的TFT的栅极控制电压，以控制与该TFT连接的像素的开启。 

保护开关的TFT沟道的宽长比根据预设的电压阈值确定，该电压阈值可以为栅线的击穿电压中的最小值，也可以是比栅线的击穿电压略小的值；若设定的电压阈值为50V，则可将保护开关的TFT沟道的宽长比设置为小于4μm/13μm，从而保证该开关元件在低于50V状态下处于关闭状态，而不会影响开关元件的正常工作；在高于50V状态下处于导通状态，从而将栅线上的电荷分散至信号输入线路上，以起到过压保护的作用。 

优选的，本实用新型实施例开关元件由一个TFT构成，如图7所示，开关元件由T1构成，其中，T1的源极和栅极均与信号源1（即信号输入线路）连接，T1的漏极与一条栅线连接； 

优选的，本实用新型实施例保护开关由两个TFT串联构成，如图7所示，保护开关由薄膜晶体管T2和T3串联构成，其中，T2的漏极与信号源1（即信号输入线路）连接，T2的栅极和源极均与T3的漏极连接，T3的源极和栅极均与一条栅线连接； 

显示面板制造完成后，在使用过程中，T1处于关闭状态，栅线由信号源2（即驱动电路）驱动，例如，信号源2可以是IC芯片提供的输入信号，或GOA 电路提供的输入信号。 

需要说明的是，本实用新型实施例开关元件与保护开关不限于是TFT，还可以是半导体三极管、MOS（Metal Oxiode Semiconductor）管、CMOS（Complementary Metal Oxide Semiconductor，互补金属氧化物半导体）管等本领域技术人员所熟知的常用于作为开关的元器件。 

本实用新型实施例阵列基板，包括上述任一测试电路。 

本实用新型实施例显示器，包括上述阵列基板。 

尽管已描述了本实用新型的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本实用新型范围的所有变更和修改。 

本实用新型实施例测试电路包括信号输入线路及至少一个开关单元，该开关单元的输入端与信号输入线路连接，输出端与栅线连接，在信号输入线路提供的测试信号的电压大于开关单元的开启电压时，将测试信号加载至与开关单元连接的栅线上，从而实现了现有的测试电路中的栅极信号输入线路和开关电路的功能；由于本实用新型仅通过信号输入线路就能实现现有测试电路中的栅极信号输入线路和开关电路，节省了显示面板的布线空间，从而可以减小显示面板的边框尺寸，降低了制造成本。 

显然，本领域的技术人员可以对本实用新型进行各种改动和变型而不脱离本实用新型的精神和范围。这样，倘若本实用新型的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内，则本实用新型也意图包含这些改动和变型在内。 

Claims (14)

1.一种阵列基板的测试电路，其特征在于，该测试电路布设于所述阵列基板的外侧，包括： 

至少一条用于提供测试信号的信号输入线路； 

至少一个开关单元，所述开关单元的输入端与一条所述信号输入线路连接，所述开关单元的输出端与栅线连接； 

其中，所述开关单元的开启电压不高于所述测试信号的电压。 

2.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述测试电路还包括： 

至少一个保护开关单元，所述保护开关单元的输入端与所述栅线连接，所述保护开关单元输出端与一条所述信号输入线路连接； 

其中，所述保护开关单元的开启电压高于所述开关单元的开启电压。 

3.如权利要求1或2所述的测试电路，其特征在于，所述开关单元的输出端的数量至少为一个，且所述开关单元的每个输出端与一条不同的所述栅线连接。 

4.如权利要求2所述的测试电路，其特征在于，所述保护开关单元的输入端的数量至少为一个，且所述保护开关单元的每个输入端与一条不同的栅线连接。 

5.如权利要求3所述的测试电路，其特征在于，所述开关单元包括至少一个开关元件，其中，每个开关元件的输入端与同一条信号输入线路连接，且每个开关元件的输出端与一条不同的栅线连接。 

6.如权利要求5所述的测试电路，其特征在于，所述开关元件的数量与所述栅线的数量相等。 

7.如权利要求4所述的测试电路，其特征在于，所述保护开关单元包括至少一个保护开关，其中，每个保护开关的输入端与一条不同的栅线连接，且每个保护开关的输出端与同一条信号输入线路连接。 

8.如权利要求7所述的测试电路，其特征在于，所述保护开关的数量与 所述栅线的数量相等。 

9.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所有所述信号输入线路通过同一个输入焊盘接收所述测试信号。 

10.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述测试电路还包括： 

至少一条与所述信号输入线路连接且位于所述阵列基板外侧的电荷分散线路。 

11.如权利要求5所述的测试电路，其特征在于，所述开关元件由一个薄膜晶体管构成，其中，所述薄膜晶体管的源极和漏极均与同一条信号输入线路连接，所述开关元件的漏极与一条栅线连接。 

12.如权利要求7所述的测试电路，其特征在于，所述保护开关由两个薄膜晶体管串联构成，其中，每个薄膜晶体管的源极均与自身的栅极连接，两个薄膜晶体管中的一个薄膜晶体管的源极与另一个薄膜晶体管的漏极连接，所述保护开关的源极与所述栅线连接，所述保护开关的漏极与所述信号输入线路连接。 

13.一种阵列基板，其特征在于，包括如权利要求1~12任一所述的测试电路。 

14.一种显示器，其特征在于，包括如权利要求13所述的阵列基板。 

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