CN106098007A - 液晶面板及其控制方法液晶面板 - Google Patents

液晶面板及其控制方法液晶面板 Download PDF

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Abstract

本发明公布了一种液晶面板，所述液晶面板包括系统主板、使能驱动、测试信号板、开关保护单元及系统驱动电路，所述开关保护单元包括多个开关单元，各所述开关单元的控制端均连接至所述使能驱动，所述使能驱动发出使能信号同时控制各所述开关单元的通断状态，液晶面板测试模式下，开关保护单元连通，测试信号板发送测试信号测试单个像素电极；液晶面板正常显示模式下，开关保护单元断开，阻断了环境中产生的静电从测试信号板进入系统驱动电路的线路，防止了环境静电进入系统驱动电路影响液晶面板正常显示，并且当静电阻抗器损坏时，防止了系统主板与测试信号板短路。

Description

液晶面板及其控制方法液晶面板
技术领域
本发明涉及显示技术领域，尤其是涉及一种液晶面板及其控制方法。
背景技术
薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor-LCD，TFT-LCD)近年来得到了飞速的发展和广泛的应用，它被广泛用于便携式移动电子产品的显示设备，如手机，数码相机，掌上电脑，GPRS等移动产品。液晶显示器面板一般由彩膜基板和阵列基板对盒形成，两个基板之间的空间中封装有液晶层。阵列基板主要包括扫描线、资料线及像素电极，扫描线与资料线设置方向垂直，像素电极形成于扫描线与资料线交错而成的像素区内，扫描驱动线路受时钟信号和帧起始信号控制并导通薄膜晶体管，数据驱动电路受像素数据信号控制并对应的像素电极改变像素电极的灰阶电压从而控制液晶分子偏转。在阵列基板的制造过程中，需要通过检测程序来检测是否有缺陷存在，例如检测阵列基板上的电路是否有缺陷。
现有技术中，液晶测试信号板直接通过金属信号线连接到系统驱动电路，液晶面板在测试状态时，测试信号板发送测试信号控制系统驱动电路进行测试操作；液晶面板在正常显示状态时，测试信号板停止发送测试信号，系统驱动电路由相连的液晶显示器的系统主板控制。液晶面板正常显示状态时，环境中的静电会通过连接测试信号板与系统驱动电路的金属信号线进入系统驱动电路，影响液晶面板正常工作，并且在静电阻抗器被破坏而损坏时，测试信号板与系统主板短路，液晶面板无法正常工作。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种液晶面板及其控制方法，用以解决现有技术中液晶面板正常显示状态时环境中的静电通过连接测试信号板与系统驱动电路的金属信号线进入系统驱动电路，并且在静电阻抗器被破坏而损坏时，测试信号板与系统主板短路的问题。
为解决上述技术问题，一方面，本发明提供一种液晶面板，所述液晶面板包括系统主板、使能驱动、测试信号板、开关保护单元及系统驱动电路，所述开关保护单元包括多个开关单元，各所述开关单元的控制端均连接至所述使能驱动，所述使能驱动发出使能信号同时控制各所述开关单元的通断状态，所述开关单元的输入端连接所述测试信号板，所述开关单元的输出端连接所述系统驱动电路，所述开关保护单元处于连通状态时，所述测试信号板发送测试信号至所述系统驱动电路并控制所述液晶面板对应的液晶单元工作，所述系统主板连接所述系统驱动电路，所述开关保护单元处于断开状态时，所述系统主板发送控制信号至所述系统驱动电路并控制所述液晶面板对应的所述液晶单元工作。
进一步，所述开关单元为场效应管，各所述场效应管的栅极均连接至所述使能驱动，所述使能驱动发出使能信号同时控制各所述场效应管的栅极电压从而改变所述场效应管的漏极与源极之间的通断状态，所述场效应管的漏极连接所述测试信号板，所述场效应管的源极连接所述系统驱动电路。
进一步，所述场效应管为金属-氧化物-半导体场效应晶体管。
进一步，所述开关单元为传输门单元，所述传输门单元包括相互并联的N型沟道的场效应管与P型沟道的场效应管，所述使能驱动连接所述N型沟道的场效应管与所述P型沟道的场效应管的栅极，所述使能信号控制所述传输门单元的栅极电压从而改变所述传输门单元的通断状态。
进一步，所述测试信号板包括相互电连接的测试信号驱动和静电阻抗器，所述测试信号驱动发送测试信号至所述系统驱动电路并控制所述阵列基板的对应的液晶单元工作，所述静电阻抗器位于所述测试信号板与所述系统驱动电路之间并阻断所述测试信号板内部的静电进入所述系统驱动电路。
进一步，所述系统驱动电路包括扫描驱动电路与数据驱动电路，所述液晶单元包括薄膜晶体管与像素电极，所述扫描驱动电路连接所述薄膜晶体管的栅极并用于控制所述薄膜晶体管的开关态电压，所述数据驱动电路连接所述薄膜晶体管的漏极并用于控制连接于所述薄膜晶体管源极的像素电极的像素电压大小。
进一步，所述测试信号包括时钟信号、帧起始信号及像素数据信号，所述时钟信号和所述帧起始信号发送至所述扫描驱动电路并控制薄膜晶体管的开关态电压，所述像素数据信号发送至所述数据驱动电路并控制像素电极的像素电压。
另一方面，本发明还提供一种液晶面板的控制方法，包括，
提供液晶面板，所述液晶面板包括系统主板、使能驱动、测试信号板、开关保护单元及系统驱动电路，
测试模式时，所述使能驱动向所述开关保护单元发送使能信号控制所述开关保护单元处于连通状态，
所述测试信号板向所述系统驱动电路发送测试信号并控制所述液晶面板对应的液晶单元工作；
正常显示模式时，所述使能驱动向所述开关保护单元发送使能信号控制所述开关保护单元处于关闭状态，
所述系统主板向所述系统驱动电路发送控制信号并控制所述液晶面板对应的所述液晶单元工作。
进一步，所述“测试模式时，所述使能驱动向所述开关保护单元发送使能信号控制所述开关保护单元处于连通状态”包括，所述开关保护单元包括多个场效应管，所述使能信号控制所述场效应管的栅极电压大于阈值电压，所述场效应管的漏极与源极连通。
进一步，所述“测试模式时，所述使能驱动向所述开关保护单元发送使能信号控制所述开关保护单元处于连通状态”包括，所述开关保护单元包括多个传输门单元，所述使能信号控制所述传输门单元的栅极电压大于阈值电压，所述传输门单元处于连通状态。
本发明的有益效果如下：液晶面板测试模式下，开关保护单元连通，测试信号板发送测试信号测试单个像素电极，并且在测试信号板中使用静电阻抗器防止测试信号板中产生的静电进入系统驱动电路，避免静电对测试过程的影响；液晶面板正常显示模式下，开关保护单元断开，阻断了环境中产生的静电从测试信号板进入系统驱动电路的线路，防止了环境静电进入系统驱动电路影响液晶面板正常显示，并且当静电阻抗器损坏时，断开的开关保护单元防止了系统主板与测试信号板短路，保证液晶面板正常工作。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的明显变形方式。
图1为本发明实施例一提供的液晶面板的示意图。
图2为本发明实施例一提供的液晶面板的控制方法的流程图。
图3为本发明实施例二提供的液晶面板的示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
图1为本发明实施例一提供的液晶面板的示意图，如图所示，液晶面板包括测试信号板10、开关保护单元20、使能驱动30、系统主板40及系统驱动电路50，开关保护单元20包括多个开关单元，本实施例中开关单元为场效应管22，使能驱动30连接场效应管22的栅极，使能驱动30发出的使能信号控制场效应管22的栅极电压从而改变场效应管22的漏极与源极之间的通断状态：当使能信号为高电压信号并控制场效应管22的栅极电压高于场效应管22接通的阈值电压时，场效应管22的漏极与源极接通，允许信号从漏极向源极传递；当使能信号为低电压信号并控制场效应管22的栅极电压低于场效应管22接通的阈值电压时，场效应管22的漏极与源极断开，阻断信号从漏极向源极传递。场效应管22的阈值电压大小由场效应管22器件本身的材料、制造工艺等性质控制。一种实施方式中，场效应管为金属-氧化物-半导体场效应晶体管。场效应管22的漏极连接测试信号板10，场效应管22的源极连接系统驱动电路50，测试状态时，使能驱动30发送高电压信号使场效应管22的栅极电压高于场效应管22的阈值电压，场效应管22处于连通状态，测试信号板10与系统驱动电路50连通，测试信号板10发送测试信号控制系统驱动电路50。场效应管22控制测试信号板10与系统驱动电路50的连通与断开状态，测试模式时允许测试信号板10与系统驱动电路50连接，正常显示模式时使测试信号板10与系统驱动电路之间断开连接，避免测试信号板10对正常显示造成影响。
测试信号板10包括测试信号驱动12与静电阻抗器14，液晶面板包括系统驱动电路50、薄膜晶体管60及像素电极70。测试信号驱动12、静电阻抗器14、场效应管22、系统驱动电路50、薄膜晶体管60及像素电极70依次电连接组成单元检测线路，静电阻抗器14用于阻止测试信号板10内部产生的静电进入液晶面板而影响液晶面板的工作，场效应管22作为一个具有开关功能的器件控制测试信号板10与系统驱动电路50的连通状态。测试状态时，使能驱动30发送使能信号控制场效应管22处于连通状态，测试信号驱动12输出测试信号并依次经过静电阻抗器14、场效应管22后进入系统驱动电路50，系统驱动电路50按照测试信号要求控制薄膜晶体管60工作并通过薄膜晶体管60控制施加于像素电极70的像素电压大小。一种实施方式中，测试信号板10还设有电阻16，电阻16连接于静电阻抗器14的输入端与输出端，用于防止测试状态中测试信号板10由于器件损坏造成短路的情况发生。在液晶面板处于测试状态时，静电阻抗器14防止了测试信号板10中产生的静电进入系统驱动电路50，避免静电对测试过程的影响。
系统驱动电路50包括扫描驱动电路52与数据驱动电路54，扫描驱动电路52连接薄膜晶体管60的栅极，数据驱动电路54连接所述薄膜晶体管60的漏极，像素电极70连接薄膜晶体管60的源极。测试信号包括时钟信号、帧起始信号及像素数据信号，每一个测试信号被测试信号板10发出到被系统驱动电路50接收均通过一条单独的线路传输，并由经过一个单独的静电阻抗器14与一个单独的场效应管22，各单独的场效应管22的栅极均连接至同一个使能驱动30，故使能驱动30同时控制多个场效应管22的通断状态，系统输入信号较少，利于提高工作效率。测试信号板10发出时钟信号和帧起始信号发送至扫描驱动电路52并控制薄膜晶体管60的栅极电压，薄膜晶体管60的栅极电压大于阈值电压时薄膜晶体管60的漏极与源极接通，即数据驱动电路50与像素电极70接通。像素数据信号发送至数据驱动电路54并控制像素电极70的像素电压，像素电压的大小变化控制该像素单元的液晶分子的偏转角度，从而改变背光源在该像素单元的透过率。液晶面板在正常显示状态时，液晶显示器的系统主板40连接系统驱动电路50，扫描驱动电路52控制薄膜晶体管60的栅极电压，数据驱动电路54控制像素电极70的像素电压，像素电压的大小变化控制该像素单元的液晶分子的偏转角度，从而改变背光源在该像素单元的透过率。系统主板40与测试信号板10通过共用的信号线连接到系统驱动电路50，若静电阻抗器14受到破坏而损坏，断开的场效应管22切断了测试信号板10与液晶显示器的系统主板40的连接，避免系统主板40与测试信号板10发生短路而影响液晶面板正常显示。
图2为本发明实施例一提供的液晶面板的控制方法的流程图，如图所示，结合图1，液晶面板的控制方法步骤如下：
步骤1、使能驱动30向开关保护单元20发送使能信号控制开关保护单元20处于连通状态，液晶面板处于测试模式。
开关保护单元20为场效应管22，使能驱动30连接场效应管22的栅极，使能驱动30发出的使能信号控制场效应管22的栅极电压从而改变场效应管22的漏极与源极之间的通断状态：使能驱动控制使能信号为高电压信号，高电压信号控制场效应管22的栅极电压高于场效应管22接通的阈值电压，场效应管22的漏极与源极接通，允许信号从漏极向源极传递。场效应管22的阈值电压大小由场效应管22器件本身的材料、制造工艺等性质控制。一种实施方式中，场效应管为金属-氧化物-半导体场效应晶体管。
步骤2、测试信号板10按照测试要求发出测试信号并控制液晶面板的系统驱动电路50，系统驱动电路50通过薄膜晶体管60控制像素电极70的像素电压。
测试信号板10包括测试信号驱动12与静电阻抗器14，液晶面板包括系统驱动电路50、薄膜晶体管60及像素电极70。测试信号驱动12、静电阻抗器14、场效应管22、系统驱动电路50、薄膜晶体管60及像素电极70依次电连接组成单元检测线路，静电阻抗器14用于阻止测试信号板10内部产生的静电进入液晶面板而影响液晶面板的工作，场效应管22作为一个具有开关功能的器件控制测试信号板10与系统驱动电路50的连通状态。测试信号驱动12输出测试信号并依次经过静电阻抗器14、场效应管22后进入系统驱动电路50，系统驱动电路50按照测试信号要求控制薄膜晶体管60工作并通过薄膜晶体管60控制施加于像素电极70的像素电压大小。静电阻抗器14防止了测试信号板10中产生的静电进入系统驱动电路50，避免静电对测试过程的影响。
系统驱动电路50包括扫描驱动电路52与数据驱动电路54，扫描驱动电路52连接薄膜晶体管60的栅极，数据驱动电路54连接所述薄膜晶体管60的漏极，像素电极70连接薄膜晶体管60的源极。测试信号板10发出时钟信号和帧起始信号发送至扫描驱动电路52并控制薄膜晶体管60的栅极电压，薄膜晶体管60的栅极电压大于阈值电压时薄膜晶体管60的漏极与源极接通，即数据驱动电路50与像素电极70接通。像素数据信号发送至数据驱动电路54并控制像素电极70的像素电压，像素电压的大小变化控制该像素单元的液晶分子的偏转角度，从而改变背光源在该像素单元的透过率。
步骤3、使能驱动30向开关保护单元20发送使能信号控制开关保护单元20处于断开状态，液晶面板处于正常显示模式。
使能驱动控制使能信号为低电压信号，低电压信号控制场效应管22的栅极电压低于场效应管22接通的阈值电压，场效应管22的漏极与源极断开，阻断漏极与源极之间的信号传递。
步骤4、系统主板40按照显示要求发出控制信号并控制液晶面板的系统驱动电路50，系统驱动电路50通过薄膜晶体管60控制像素电极70的像素电压。
系统主板40发出时钟信号和帧起始信号发送至扫描驱动电路52并控制薄膜晶体管60的栅极电压，薄膜晶体管60的栅极电压大于阈值电压时薄膜晶体管60的漏极与源极接通，即数据驱动电路50与像素电极70接通。像素数据信号发送至数据驱动电路54并控制像素电极70的像素电压，像素电压的大小变化控制该像素单元的液晶分子的偏转角度，从而改变背光源在该像素单元的透过率。液晶面板在正常显示状态时，使能驱动30控制场效应管处于断开状态，测试信号板10与正常显示模式的液晶面板无电连接，液晶显示器的系统主板40连接系统驱动电路50，扫描驱动电路52控制薄膜晶体管60的栅极电压，数据驱动电路54控制像素电极70的像素电压，像素电压的大小变化控制该像素单元的液晶分子的偏转角度，从而改变背光源在该像素单元的透过率。系统主板40与测试信号板10通过共用的信号线连接到系统驱动电路50，若静电阻抗器14受到破坏而损坏，断开的场效应管22切断了测试信号板10与液晶显示器的系统主板40的连接，避免系统主板40与测试信号板10发生短路而影响液晶面板正常显示。
液晶面板测试模式下，场效应管22连通，在测试信号板10中使用静电阻抗器14防止测试信号板中产生的静电进入系统驱动电路50，避免静电对测试过程的影响；液晶面板正常显示模式下，场效应管22断开，阻断了环境中产生的静电从测试信号板10进入系统驱动电路50的线路，防止了环境静电进入系统驱动电路50影响液晶面板正常显示，并且当静电阻抗器14损坏时，断开的场效应管22防止了系统主板40与测试信号板10短路，保证液晶面板正常工作。
图3为本发明实施例二提供的液晶面板的示意图，如图所示，开关保护单元20包括多个开关单元，本实施例中开关单元为传输门单元，传输门单元包括相互并联的N型沟道的场效应管242与P型沟道的场效应管244，使能驱动30连接N型沟道的场效应管242与P型沟道的场效应管244的栅极。一种实施方式中，传输门单元还包括反向器246，反向器246与P型沟道的场效应管244串联，P型沟道的场效应管244与N型沟道的场效应管242通断条件相反，即使能信号为高电压信号时，N型沟道的场效应管242连通，P型沟道的场效应管则244断开；使能信号为低电压信号时，N型沟道的场效应管242断开，P型沟道的场效应管244连通。反向器246用于将高电压信号转换为低电压信号，或将低电压信号转换为高电压信号，则一个使能信号可控制相互并联的N型沟道的场效应管242与P型沟道的场效应管244同时连通或同时断开，使能驱动30发出高电压信号时，N型沟道的场效应管242的栅极电压满足连通要求而接通，P型沟道的场效应管244收到经反向器246转化后的低电压信号后连通，传输门单元接通，测试信号板10可向系统驱动电路50发送测试信号。本发明实施例二提供的液晶单元检测方法与实施例一的区别在于开关保护单元20为传输门单元，使能驱动30通过控制传输门单元的连通与断开状态决定测试信号是否可以从测试信号板10传递到系统驱动电路50。
液晶面板测试模式下，传输门单元连通，在测试信号板10中使用静电阻抗器14防止测试信号板10中产生的静电进入系统驱动电路50，避免静电对测试过程的影响；液晶面板正常显示模式下，传输门单元断开，阻断了环境中产生的静电从测试信号板10进入系统驱动电路50的线路，防止了环境静电进入系统驱动电路50影响液晶面板正常显示，并且当静电阻抗器14损坏时，断开的传输门单元防止了系统主板40与测试信号板10短路，保证液晶面板正常工作。
以上所揭露的仅为本发明几种较佳实施例而已，当然不能以此来限定本发明之权利范围，本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分流程，并依本发明权利要求所作的等同变化，仍属于发明所涵盖的范围。

Claims (10)

1.一种液晶面板，其特征在于，所述液晶面板包括系统主板、使能驱动、测试信号板、开关保护单元及系统驱动电路，所述开关保护单元包括多个开关单元，各所述开关单元的控制端均连接至所述使能驱动，所述使能驱动发出使能信号同时控制各所述开关单元的通断状态，所述开关单元的输入端连接所述测试信号板，所述开关单元的输出端连接所述系统驱动电路，所述开关保护单元处于连通状态时，所述测试信号板发送测试信号至所述系统驱动电路并控制所述液晶面板对应的液晶单元工作，所述系统主板连接所述系统驱动电路，所述开关保护单元处于断开状态时，所述系统主板发送控制信号至所述系统驱动电路并控制所述液晶面板对应的所述液晶单元工作。
2.根据权利要求1所述的液晶面板，其特征在于，所述开关单元为场效应管，各所述场效应管的栅极均连接至所述使能驱动，所述使能驱动发出使能信号同时控制各所述场效应管的栅极电压从而改变所述场效应管的漏极与源极之间的通断状态，所述场效应管的漏极连接所述测试信号板，所述场效应管的源极连接所述系统驱动电路。
3.根据权利要求2所述的液晶面板，其特征在于，所述场效应管为金属-氧化物-半导体场效应晶体管。
4.根据权利要求1所述的液晶面板，其特征在于，所述开关单元为传输门单元，所述传输门单元包括相互并联的N型沟道的场效应管与P型沟道的场效应管，所述使能驱动连接所述N型沟道的场效应管与所述P型沟道的场效应管的栅极，所述使能信号控制所述传输门单元的栅极电压从而改变所述传输门单元的通断状态。
5.根据权利要求1所述的液晶面板，其特征在于，所述测试信号板包括相互电连接的测试信号驱动和静电阻抗器，所述测试信号驱动发送测试信号至所述系统驱动电路并控制所述阵列基板的对应的液晶单元工作，所述静电阻抗器位于所述测试信号板与所述系统驱动电路之间并阻断所述测试信号板内部的静电进入所述系统驱动电路。
6.根据权利要求1所述的液晶面板，其特征在于，所述系统驱动电路包括扫描驱动电路与数据驱动电路，所述液晶单元包括薄膜晶体管与像素电极，所述扫描驱动电路连接所述薄膜晶体管的栅极并用于控制所述薄膜晶体管的开关态电压，所述数据驱动电路连接所述薄膜晶体管的漏极并用于控制连接于所述薄膜晶体管源极的像素电极的像素电压大小。
7.根据权利要求6所述的液晶面板，其特征在于，所述测试信号包括时钟信号、帧起始信号及像素数据信号，所述时钟信号和所述帧起始信号发送至所述扫描驱动电路并控制薄膜晶体管的开关态电压，所述像素数据信号发送至所述数据驱动电路并控制像素电极的像素电压。
8.一种液晶面板的控制方法，其特征在于，包括，
提供一种液晶面板，所述液晶面板包括系统主板、使能驱动、测试信号板、开关保护单元及系统驱动电路，
测试模式时，所述使能驱动向所述开关保护单元发送使能信号控制所述开关保护单元处于连通状态，
所述测试信号板向所述系统驱动电路发送测试信号并控制所述液晶面板对应的液晶单元工作；
正常显示模式时，所述使能驱动向所述开关保护单元发送使能信号控制所述开关保护单元处于关闭状态，
所述系统主板向所述系统驱动电路发送控制信号并控制所述液晶面板对应的所述液晶单元工作。
9.根据权利要求8所述的液晶面板的控制方法，其特征在于，所述“测试模式时，所述使能驱动向所述开关保护单元发送使能信号控制所述开关保护单元处于连通状态”包括，所述开关保护单元包括多个场效应管，所述使能信号控制所述场效应管的栅极电压大于阈值电压，所述场效应管的漏极与源极连通。
10.根据权利要求8所述的液晶面板的控制方法，其特征在于，所述“测试模式时，所述使能驱动向所述开关保护单元发送使能信号控制所述开关保护单元处于连通状态”包括，所述开关保护单元包括多个传输门单元，所述使能信号控制所述传输门单元的栅极电压大于阈值电压，所述传输门单元处于连通状态。
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