CN108364598A - 显示基板及其短路检测方法、显示装置 - Google Patents

Abstract

本公开提供了一种显示基板及其短路检测方法、显示装置，属于显示领域。所述显示基板包括：位于显示区内的若干个触控电极；若干条触控信号线，每条触控信号线将一个触控电极连接至周边电路区；位于周边电路区内的电压接收端；位于周边电路区内的多个开关电路，多个开关电路均与电压接收端相连，每个开关电路各自连接一个开关控制信号；其中，若干个触控电极被划分至多个测试组中，每个触控电极属于多个测试组中的一个，每个开关电路通过触控信号线连接一个测试组中的所有触控电极，开关电路被配置为在所连接的开关控制信号的控制下将所连接的所有触控电极电连接至电压接收端。本公开可以在电学测试中实现电路结构中是否存在短路的检测。

Description

显示基板及其短路检测方法、显示装置

技术领域

本公开涉及显示领域，特别涉及一种显示基板及其短路检测方法、显示装置。

背景技术

显示产品的电学测试中，可以利用基板上制作的短路条(shorting bar)向所有电极图形统一施加驱动信号，从而能通过直接观察来检测显示产品是否存在缺陷。例如，在某个电极图形因连接引线断开而接收不到驱动信号时，对应位置处的显示区域就不能正常显示，基于此可以实现电路结构中是否存在断路的检测。然而，传统的测试方式对于电路结构中是否存在短路的检测存在不足。例如，在某个电极图形与同类电极图形之间发生短路时，两个电极图形上仍为经由短路条统一施加的驱动信号，相比于未发生短路时几乎没有任何变化，因此无法在电学测试中检测出来，容易使存在缺陷的产品被当作合格品而继续加工，造成经济上的损失和生产资源的浪费。

发明内容

本公开提供一种显示基板及其短路检测方法、显示装置，能够在电学测试中实现电路结构中是否存在短路的检测。

第一方面，本公开提供了一种显示基板，所述显示基板包括显示区和周边电路区，所述显示基板还包括：

位于所述显示区内的若干个触控电极；

若干条触控信号线，每条所述触控信号线将一个所述触控电极连接至所述周边电路区；

位于所述周边电路区内的电压接收端；

位于所述周边电路区内的多个开关电路，所述多个开关电路均与所述电压接收端相连，每个所述开关电路各自连接一个开关控制信号；

其中，所述若干个触控电极被划分至多个测试组中，每个所述触控电极属于所述多个测试组中的一个，

每个所述开关电路通过所述触控信号线连接一个所述测试组中的所有触控电极，所述开关电路被配置为在所连接的开关控制信号的控制下将所连接的所有触控电极电连接至所述电压接收端。

在一种可能的实现方式中，所述若干个触控电极被划分至两个测试组中，任意两个相邻的触控电极分别属于所述两个测试组中的一个。

在一种可能的实现方式中，所述触控信号线的数量与所述触控电极的数量相同，每条所述触控信号线的第一端各自连接所述若干个触控电极中的一个。

在一种可能的实现方式中，所述周边电路区包括扇出区域，所述若干条触控信号线穿过所述扇出区域与所述多个开关电路相连。

在一种可能的实现方式中，所述电压接收端包括多个子接收端，

每个所述子接收端各自连接一个开关电路，以向所连接的开关电路提供所接收到的电压和所述开关控制信号。

在一种可能的实现方式中，所述开关电路包括至少一个晶体管，每个所述晶体管的第一极各自连接所对应的测试组中的一个触控电极，

每个所述晶体管的栅极和第二极均与所对应的子接收端相连，

所述晶体管的第一极和第二极分别是所述晶体管的源极和漏极中的一个。

在一种可能的实现方式中，所述开关电路包括至少一个晶体管，每个所述晶体管的第一极各自连接所对应的测试组中的一个触控电极，

每个所述晶体管的栅极连接所对应的开关控制信号，每个所述晶体管的第二极均连接所述电压接收端，

所述晶体管的第一极和第二极分别是所述晶体管的源极和漏极中的一个。

在一种可能的实现方式中，所述显示基板包括位于所述周边电路区内的两个电压接收端，

所述两个电压接收端分别位于所述多个开关电路的彼此相对的两侧，以分别向每个所述开关电路提供相同的电信号。

在一种可能的实现方式中，所述周边电路区包括芯片区域，所述多个开关电路均位于所述芯片区域靠近所述显示区的一侧。

第二方面，本公开还提供了一种显示装置，所述显示装置包括上述任意一种的显示基板。

第三方面，本公开还提供了一种显示基板的短路检测方法，所述显示基板为上述任意一种的显示基板，该方法包括：

在通过所述开关控制信号将第一测试组电连接至所述电压接收端，以利用所述电压接收端上施加的测试信号对所述第一测试组进行测试时，根据所述第二测试组的测试结果确定所述第一测试组与所述第二测试组之间的短路状况，所述第一测试组和所述第二测试组分别是所述多个测试组中的一个。

由上述技术方案可知，本公开基于多个开关电路和多个测试组之间的连接关系，可以对于每个测试组进行单独的电路测试，从而测试组之间发生的短路将能够被反映在测试结果上，基于此可以在电学测试中实现电路结构中是否存在短路的检测，有助于短路缺陷的及时检出，提升生产效率。

附图说明

为了更清楚地说明本公开实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，这些附图的合理变型也都涵盖在本公开的保护范围中。

图1是本公开一个实施例提供的显示基板的结构示意图；

图2是本公开一个实施例提供的显示基板的电路结构示意图；

图3是本公开又一实施例提供的显示基板的电路结构示意图；

图4是本公开一个对比示例提供的显示基板的电路结构示意图；

图5是本公开又一实施例提供的显示基板的电路结构示意图；

图6是本公开又一实施例提供的显示基板的结构示意图；

图7是本公开一个实施例提供的显示装置的结构示意图。

具体实施方式

为使本公开的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本公开实施方式作进一步地详细描述。显然，所描述的实施例是本公开的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本公开的实施例，本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本公开保护的范围。除非另外定义，本公开使用的技术术语或者科学术语应当为本公开所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“包括”或者类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。单独出现的“连接”或者“连接”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，且该连接可以是直接的或间接的。

图1是本公开一个实施例提供的显示基板的结构示意图。需要说明的是，本文中所述的显示基板可以例如是阵列基板、彩膜基板、有机发光二极管显示面板或者触控面板，并可以不仅限于此。参见图1，该显示基板包括显示区A1和周边电路区A2，该显示基板还包括位于显示区A1内的若干个触控电极11。示例性地，图1中的周边电路区A2环绕在显示区A1四周，并且若干个触控电极11在显示区A1内排成多行多列。应理解的是，在可能的范围内，周边电路区A2可以位于显示区A1的一侧，还可以位于显示区A1相对的两侧；在可能的范围内，若干个触控电极11可以按照任意一种平面内的单元排布方式进行排列，例如排列成倾斜网格、三角网格、菱形网格等等。周边电路区A2中，所述显示基板还包括电压接收端13。示例性地，所述若干个触控电极11在显示基板内还被用作公共电极，而该电压接收端13用于将来自显示基板外部的公共电压(VCOM)传输给显示区A1内的触控电极11。为了图示清晰，图1中未示出用于将若干个触控电极11从显示区A1连接至周边电路区A2的若干条触控信号线12；为叙述方便，与同一个触控电极11相连并延伸至周边电路区A2的所有导体结构的集合被视作一条触控信号线12，因而显示基板中每条触控信号线12将一个触控电极11连接至周边电路区A2；在每个触控电极11均有一条相对应的触控信号线12与之相连的情况下，触控电极11的数量与触控信号线12的数量一致。

在一个相关技术中的电学测试示例中，每条触控信号线12均与电压接收端13相连，且电压接收端13位于切割区内，即电压接收端13会在测试完成后被切除显示基板。在测试过程中，向显示区A1的所有子像素的像素电极施加满灰阶的数据电压，并通过电压接收端13向所有触控电极11施加公共电压，以使显示区A1呈现白色的单色画面。当任一条触控信号线12存在断路不良时，其所连接的触控电极11所在的显示区域将无法正常显示白色的单色画面，如此可以通过观察每个触控电极11所在显示区域所显示的画面来进行触控信号线12的断路检测。然而，上述测试并不能检测发生在不同触控电极11之间的短路，因为无论这种短路是否发生，每个触控电极11上都为公共电压，使得测试结果中无法体现出来这一问题。

图2是本公开一个实施例提供的显示基板的电路结构示意图。参见图2，本公开实施例中显示基板还包括位于周边电路区A2内的多个开关电路14，所述多个开关电路14均与电压接收端13相连，每个开关电路14各自连接一个开关控制信号(图2中以三个开关电路14分别连接开关信号S1/S2/S3作为示例)。此外，所述若干个触控电极11被划分至多个测试组中，每个触控电极11属于所述多个测试组中的一个；每个开关电路14通过触控信号线12连接一个测试组中的所有触控电极11，所述开关电路14被配置为在所连接的开关控制信号的控制下将所连接的所有触控电极11电连接至电压接收端13。

以图2为例，三行四列的触控电极11被划分至三个测试组中，从上至下的第一行触控电极11(以下称为第一测试组)通过触控信号线12与连接开关信号S1的开关电路14相连，第二行触控电极11(以下称为第二测试组)通过触控信号线12与连接开关信号S2的开关电路14相连，第三行触控电极11(以下称为第三测试组)通过触控信号线12与连接开关信号S3的开关电路14相连。如此，可以通过开关控制信号S1/S2/S3单独控制各个测试组与电压接收端13之间的电连接，比如可以将开关控制信号S1和S2置为有效电平、将开关控制信号S3置为无效电平，以使第一和第二测试组的触控电极11电连接至电压接收端13，而使第三测试组的触控电极11不与电压接收端13电连接。

在一个电学测试示例中，电学测试在多个测试组之间逐个进行，比如先通过开关控制信号S1使电压接收端13向第一行触控电极11提供公共电压，同时向显示区A1的所有子像素的像素电极施加满灰阶的数据电压，以使第一行触控电极11所对应的显示区域呈现白色的单色画面，然后在保持数据电压不变的情况下通过开关控制信号S2使电压接收端13转而向第二行触控电极11提供公共电压，以使第二行触控电极11所对应的显示区域呈现白色的单色画面，依次类推。如此，如果第一行触控电极11与第二行触控电极11之间存在短路，那么在第一测试组进行测试时第二行中短路的触控电极11所对应的显示区域会呈现白色的单色画面，在观察到这一现象时即可认定该显示区域所对应的触控电极11与第一行触控电极11之间存在短路。从而，任意两个测试组之间存在的短路均能够通过测试检出，即在电学测试中实现了触控电极间是否存在短路的检测。

应当理解的是，上述触控电极11被用作公共电极、通过在施加满灰阶数据电压和公共电压时观察显示画面来进行测试的方式仅仅是一种电学测试方式的示例，根据触控电极11功能的不同，电学测试方式还可以例如是在施加稳定电压时检测触控电极的电磁屏蔽效果，或是在施加模拟触控信号时检测触控电极的对置电极上接收到的信号等等，并可以不仅限于此。

可以看出，本公开实施例基于多个开关电路和多个测试组之间的连接关系，可以对于每个测试组进行单独的电路测试，从而测试组之间发生的短路将能够被反映在测试结果上，基于此可以在电学测试中实现电路结构中是否存在短路的检测，有助于短路缺陷的及时检出，提升生产效率。

在一个示例中，显示基板的短路检测方法包括：

在通过所述开关控制信号将第一测试组电连接至所述电压接收端，以利用所述电压接收端上施加的测试信号对所述第一测试组进行测试时，根据所述第二测试组的测试结果确定所述第一测试组与所述第二测试组之间的短路状况，所述第一测试组和所述第二测试组分别是所述多个测试组中的一个。

可以理解的是，上述电学测试示例中已经包含了上述短路检测方法的一种示例，在该示例中，电压接收端上施加的测试信号为恒定的公共电压，所进行的测试为目标测试组所对应的显示区域的点灯测试，所得到的测试结果包括该显示区域内的显示状况，任一测试组在没有进行测试时所对应的显示区域内出现点亮区域则说明该测试组与目标测试组之间发生了短路，由此可以对每个测试组依次进行检测以确定任两个测试组之间的短路状况。依照上述说明，可以类比得到其他电学测试方式下的具体示例，在此不再赘述。

应理解的是，本公开中所涉及的任意一种显示基板均可以利用如上所述的短路检测方法来进行测试组之间是否发生短路的检测，即可以在电学测试中实现是否存在短路的检测，有助于短路缺陷的及时检出，提升生产效率。

需要说明的是，本公开中的电压接收端指的是电学测试过程中向触控电极提供测试信号的导体结构，从显示面板外部向电压接收端施加测试信号的方式可以包括而不仅限于探针与垫片导电连接、插头与插座导电连接，以及导电夹与垫片导电连接。还需要说明的是，本公开中开关控制信号可以是在显示基板外部生成并通过显示基板上的导体结构传输到开关电路处的，也可以是通过显示基板上的机械开关的通断生成并传输到开关电路处的，还可以是显示基板上的控制器通过外部通信而生成并传输到开关电路处的，并可以不限于此。

图3是本公开又一实施例提供的显示基板的电路结构示意图。参见图3，本公开实施例中，所述若干个触控电极11被划分至两个测试组中，而且任意两个相邻的触控电极11分别属于所述两个测试组中的一个。为了表示清楚，图3中以阴影标识出来了其中一个测试组的所有触控电极11。比照图2和图3可以看出，本实施例中的测试组划分方式不同于图2所示的按行划分，而是以一种类似于黑白棋盘的划分方式作为示例说明上述任意两个相邻的触控电极11分别属于所述两个测试组中的一个的实现方式。如此，当任意一个触控电极11与其相邻的触控电极11之间发生短路时，测试结果中都可以反映出这一问题(比如在上述电学测试方式的示例中的现象为出现以该触控电极11为中心的一个十字)。而且，本实施例可以仅使用两个开关控制信号和两个开关电路，即所需要的电路结构更简单。可以看出，本公开实施例可以仅使用两个开关控制信号和两个开关电路实现任意两个相邻触控电极11之间的短路状况的检测，更简单而全面地实现触控电极之间的短路检测，更有助于生产效率的提升。

图4是本公开一个对比示例提供的显示基板的电路结构示意图。参见图4，该对比示例中，若干条触控信号线12均为两端均位于显示区A1之外的导体线，并且若干条触控信号线12均在切割线Cut的外侧短接于电压接收端13。如此，该对比示例中所示出的结构可以按照上文中相关技术中的电学测试示例所述的那样进行断路检测，但是存在着可能出现漏检的情况。例如，如果断路发生在图4中以“×”标记的位置处，左上角的触控电极11仍可以绕过发生断路的路径而从上方电连接到电压接收端13处。从而，从测试结果中将无法检测出这一断路情形，但是在切割线Cut外侧的结构均从显示基板上切除出去之后，该处断路可能会影响左上角的触控电极11与显示区A1之外的电路结构之间的连接，即出现了未在测试中检出的断路不良。

通过比照本公开的实施例和上述对比示例可以看出，由于本公开的实施例中触控信号线的数量与触控电极的数量相同(一一对应)，并且每条触控信号线12的第一端(图2和图3中均为上端)都各自连接所述若干个触控电极11中的一个，如此测试过程中将不会同时出现两条触控电极11与电压接收端13之间的导电路径，因而不会出现上述漏检的情况。

图5是本公开又一实施例提供的显示基板的电路结构示意图。比照图2和图5可知，本公开实施例给出了一种开关电路的示例性实现方式。参见图5，本公开实施例中的开关电路14包括至少一个晶体管(图5中以4个为例，晶体管的数量主要取决于测试组中触控电极11的数量)，每个晶体管的栅极连接所对应的开关控制信号S1/S2/S3，每个晶体管的第一极各自连接所对应的测试组中的一个触控电极11，每个晶体管的第二极均连接电压接收端13。其中，晶体管的第一极和第二极分别是晶体管的源极和漏极中的一个。需要说明的是，根据晶体管具体类型的不同，可以设置其源极和漏极分别所具有的连接关系，以与流过晶体管的电流的方向相匹配；在晶体管具有源极与漏极对称的结构时，源极和漏极可以视为不作特别区分的两个电极。

在一个示例中，开关控制信号S1为有效电平时栅极与其连接的晶体管均处于开启状态，从而第一行触控电极11均电连接至电压接收端13；此时开关控制信号S2和S3为无效电平，因而图5中其余的晶体管均处于关闭状态，第二行与第三行的触控电极11均不与电压接收端13电连接。为了避免使用时开关电路14中的晶体管意外开启而产生噪声信号，可以全部采用在栅极为悬空时能保持关闭状态的P型晶体管，此时开关控制信号的有效电平为低电平(无效电平为高电平，具体范围可以视需求而定)。

图6是本公开又一实施例提供的显示基板的结构示意图。可以看出，本公开实施例给出了又一种开关电路的示例性实现方式。参见图6，本公开实施例中，电压接收端13包括多个子接收端(图6中以三个子接收端131/132/133为例)，每个子接收端各自连接一个开关电路14，以向所连接的开关电路14提供所接收到的电压和开关控制信号。其中，开关电路14包括至少一个晶体管(图5中以4个为例，晶体管的数量主要取决于测试组中触控电极11的数量)，每个晶体管的第一极各自连接所对应的测试组中的一个触控电极11，每个晶体管的栅极和第二极均与所对应的子接收端相连。应理解的是，本示例中的晶体管需要采用栅极上施加测试信号时处于开启状态的晶体管，例如对于测试信号为公共电压的情形晶体管需采用栅极上为公共电压时处于开启状态的P型晶体管。可以看出，本示例中每个开关电路14所连接的开关控制信号均由电压接收端来提供，如此相比而言可以省去一个需要从外部提供给显示基板的电信号，同时还省去了显示基板上相应的用于传输该电信号的导体结构。还应理解的是，上述开关电路14的实现方式仅是一种示例，参照上述结构还可以采用其他方式实现上述开关电路的功能，而并不需要仅限于以上示例。

可以看出，图6中还示出了显示基板的周边电路区内的一些其他方面的设计。参见图6，本示例中显示基板包括位于周边电路区内的两个电压接收端13，两个电压接收端13分别位于多个开关电路14的彼此相对的两侧(图6中为左右两侧)，以分别向每个开关电路14提供相同的电信号。应理解的是，图6中的右半部分省略了与三个子接收端131/132/133相对设置的另一组的三个子接收端，在进行测试时每个开关电路14左右两侧的子接收端分别连接相同的测试信号，如此可以使连接到开关电路处的测试信号更加稳定。当然，上述相对两侧的两个电压接收端的设计并不仅限于图6中所示的开关电路的结构，例如图2、图3和图5中也同样可以应用该设计。

参见图6，本示例中周边电路区内还包括芯片区域15(可以是显示基板上用于安装芯片的区域，也可以是位于显示基板边缘处的电路板上用于安装芯片的区域)，多个开关电路14均位于芯片区域15靠近显示区A1的一侧。以此为例，本示例给出了一种在测试之后不需要去除的测试电路结构，即测试时芯片区域15内可以没有安装芯片，测试结束后可以进行包括安装芯片的过程以完成产品的制作而不需要去除包括电压接收端13和开关电路14的电路结构，在后续使用维修过程中还可以继续利用这部分电路结构进行测试。

此外，参见图6，本示例中的周边电路区包括扇出区域Fout，若干条触控信号线12经过扇出区域Fout与多个开关电路14相连。如此，如果扇出区域Fout内的触控信号线12发生断路，将能够在测试中检测出来，相比于无法对扇出区的断路进行检出的电学测试方式而言，本示例所能够检测的范围更全面，更有利于产品生产效率的提升。

作为一种材料选择方式的示例，上述触控信号线12和电压接收端13所使用的导体材料可以例如是包括铁、铜、铝、钼、镍、钛、银、锌、锡、铅、铬、锰中至少一个元素的金属材料，并可以依照应用需求设置组分。上述触控电极11可以采用包括铟锡氧化物ITO、石墨烯、金属网格、导电聚合物、纳米导电材料中至少一个的透明导电材料形成，还可以例如采用银薄膜一类的半透明的导电材料形成。上述晶体管的有源区内使用的半导体材料可以包括非晶硅、多晶硅、单晶硅、金属氧化物半导体等等，并可以依照所要实现的薄膜晶体管的特性对至少部分区域进行掺杂。上述各结构均可以在既有膜层中通过图案设计来一并制作，比如所述若干条触控信号线可以在源漏导电层的构图工艺中与晶体管的源电极和漏电极一同形成，并可以不仅限于此。

基于同样的公开构思，本公开实施例提供一种显示装置，该显示装置包括上述任意一种的显示基板。本公开实施例中的显示装置可以为：显示面板、手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。作为一种示例，图7是本公开一个实施例提供的显示装置的结构示意图。所述显示装置包括上述任意一种显示基板，该显示基板的显示区内包括行列设置的子像素区域Px。基于多个开关电路和多个测试组之间的连接关系，本实施例可以对于每个测试组进行单独的电路测试，从而测试组之间发生的短路将能够被反映在测试结果上，基于此可以在电学测试中实现电路结构中是否存在短路的检测，有助于短路缺陷的及时检出，提升生产效率。

需要说明的是，清晰起见，本公开的附图中仅示出了用于说明技术方案的结构；在实际产品中，还可以在可能的范围内在本公开附图的基础上进行添加、删除或变形，而不影响技术方案的实现。以上所述仅为本公开的实施例，并不用以限制本公开，凡在本公开的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本公开的保护范围之内。

Claims (11)

1.一种显示基板，其特征在于，所述显示基板包括显示区和周边电路区，所述显示基板还包括：

位于所述显示区内的若干个触控电极；

若干条触控信号线，每条所述触控信号线将一个所述触控电极连接至所述周边电路区；

位于所述周边电路区内的电压接收端；

位于所述周边电路区内的多个开关电路，所述多个开关电路均与所述电压接收端相连，每个所述开关电路各自连接一个开关控制信号；

其中，所述若干个触控电极被划分至多个测试组中，每个所述触控电极属于所述多个测试组中的一个，

每个所述开关电路通过所述触控信号线连接一个所述测试组中的所有触控电极，所述开关电路被配置为在所连接的开关控制信号的控制下将所连接的所有触控电极电连接至所述电压接收端。

2.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于，所述若干个触控电极被划分至两个测试组中，任意两个相邻的触控电极分别属于所述两个测试组中的一个。

3.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于，所述触控信号线的数量与所述触控电极的数量相同，每条所述触控信号线的第一端各自连接所述若干个触控电极中的一个。

4.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于，所述周边电路区包括扇出区域，所述若干条触控信号线穿过所述扇出区域与所述多个开关电路相连。

5.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于，所述电压接收端包括多个子接收端，

每个所述子接收端各自连接一个开关电路，以向所连接的开关电路提供所接收到的电压和所述开关控制信号。

6.根据权利要求5所述的显示基板，其特征在于，所述开关电路包括至少一个晶体管，每个所述晶体管的第一极各自连接所对应的测试组中的一个触控电极，

每个所述晶体管的栅极和第二极均与所对应的子接收端相连，

所述晶体管的第一极和第二极分别是所述晶体管的源极和漏极中的一个。

7.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于，所述开关电路包括至少一个晶体管，每个所述晶体管的第一极各自连接所对应的测试组中的一个触控电极，

每个所述晶体管的栅极连接所对应的开关控制信号，每个所述晶体管的第二极均连接所述电压接收端，

所述晶体管的第一极和第二极分别是所述晶体管的源极和漏极中的一个。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的显示基板，其特征在于，所述显示基板包括位于所述周边电路区内的两个电压接收端，

所述两个电压接收端分别位于所述多个开关电路的彼此相对的两侧，以分别向每个所述开关电路提供相同的电信号。

9.根据权利要求1至7中任一项所述的显示基板，其特征在于，所述周边电路区包括芯片区域，所述多个开关电路均位于所述芯片区域靠近所述显示区的一侧。

10.一种显示装置，其特征在于，所述显示装置包括如权利要求1至9中任一项所述的显示基板。

11.一种如权利要求1至9中任一项所述的显示基板的短路检测方法，其特征在于，包括：

在通过所述开关控制信号将第一测试组电连接至所述电压接收端，以利用所述电压接收端上施加的测试信号对所述第一测试组进行测试时，根据所述第二测试组的测试结果确定所述第一测试组与所述第二测试组之间的短路状况，所述第一测试组和所述第二测试组分别是所述多个测试组中的一个。