CN103871341A - 一种测试电路及显示面板 - Google Patents

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Abstract

本发明实施例公开了一种测试电路及显示面板，该电路包括测试线路第一端子、测试线路第二端子、测试信号线、电压信号线、开关晶体管以及第一静电放电保护电路；第一、第二端子分别输出测试信号和电压信号；测试信号线传输测试信号，一端与第一端子相连，另一端分别与开关晶体管和公共电极相连；电压信号线传输电压信号，两端分别与第二端子和开关晶体管相连；开关晶体管与信号线相连，根据接收的电压信号打开或关闭以使测试信号与信号线导通或断开；第一静电放电保护电路分别与测试信号线和信号线相连。本发明实施例，提供一种占用空间小的测试电路及显示面板，有利于窄边框显示面板的设计。

Description

一种测试电路及显示面板
技术领域
本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种测试电路及显示面板。
背景技术
TFT-LCD（Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display，薄膜场效应晶体管液晶显示器）面板传统的测试线路是和显示面板里面的信号线（如扫描线 /数据线）直接连接，完成测试后需要进行激光切割制程，切断它们的连接，显示面板才能正常点亮，传统的测试方法使得厂家生产成本较高。
为了降低生产成本，现有技术中通常使用TFT开关晶体管作为开关，连接测试线路和显示面板内部的信号线，测试时在TFT开关晶体管的栅极（Gate）端加高电压，开关晶体管TFT导通测试信号和显示面板内部的信号线，待测试完毕后，在开关晶体管TFT的Gate端加低电压，关闭测试信号，断开测试线路与显示面板内部的信号线之间的连接，显示面板可以正常的驱动工作。
通过TFT开关晶体管控制测试信号的导通和关闭，虽然可以省去激光切割的制程，达到节省成本的目的，并且测试线路远离切割线和磨边区，能够提高制程的良率，但是测试线路往往位于显示面板的外围区域，待测试完成之后，留在显示面板外围区域的测试线路会占用一部分空间。因此对窄边框的显示面板采用上述设计是非常不利的。
发明内容
本发明实施例所要解决的技术问题在于提供一种占用空间小的测试电路及显示面板，有利于窄边框显示面板的设计。
为了解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种测试电路，用于显示面板中，所述电路包括测试线路第一端子、测试线路第二端子、测试信号线、电压信号线、开关晶体管以及第一静电放电保护电路；其中，
所述测试线路第一端子，用于输出显示面板测试信号，所述测试线路第二端子用于输出用于打开或关闭所述开关晶体管的电压信号；
所述测试信号线，用于传输所述显示面板测试信号，一端与所述测试线路第一端子相连，另一端分别与所述开关晶体管和公共电极相连；
所述电压信号线，用于传输所述电压信号，一端与所述测试线路第二端子相连，另一端与所述开关晶体管相连；
所述开关晶体管，与所述显示面板的信号线相连，用于通过所述电压信号线接收所述测试线路第二端子输出的电压信号，并根据所述接收到的电压信号打开以使通过所述测试信号线接收的测试信号与所述显示面板的信号线导通，或者关闭以使所述测试信号与所述显示面板的信号线断开；
所述第一静电放电保护电路，分别连接在所述测试信号线和所述显示面板的信号线上。
其中，所述测试线路第二端子输出的电压信号包括高电压信号和低电压信号。
其中，当所述开关晶体管接收到的电压信号为高电压信号时，所述开关晶体管获得大于第一预设值的电压而打开，使从所述测试信号线传输来的测试信号与所述显示面板的信号线导通；当所述开关晶体管接收到的电压信号为低电压信号时，所述开关晶体管获得小于第二预设值的电压并关闭，使所述测试信号与所述显示面板的信号线断开。
其中，所述显示面板的信号线为数据线或扫描线。
其中，所述第一静电放电保护电路包括第一晶体管和第二晶体管；其中，所述第一晶体管的栅极和漏极均连接所述测试信号线，源极连接所述显示面板的信号线；所述第二晶体管栅极和漏极均连接所述显示面板的信号线，源极连接所述测试信号线；所述第一晶体管和所述第二晶体管形成一个连通的回路。
其中，所述第一静电放电保护电路还包括第一二极管和第二二极管；其中，所述第一二极管的正极与所述测试信号线相连，负极与所述显示面板的信号线相连；所述第二二极管的正极与所述显示面板的信号线相连，所述第二二极管的负极与所述测试信号线相连；所述第一二极管和所述第二二极管形成一个连通的回路。
其中，所述测试电路还包括第二静电放电保护电路，所述第二静电放电保护电路设置在所述测试信号线上，其一端与公共电极相连，另一端与所述开关晶体管以及所述测试线路第一端子相连。
其中，所述第二静电放电保护电路包括第三晶体管和第四晶体管；其中，所述第三晶体管的栅极和漏极均连接所述测试信号线，所述第三晶体管的源极连接所述第四晶体管栅极和漏极，第四晶体管的源极还连接所述公共电极；所述第三晶体管和所述第四晶体管形成一个连通的回路。
本发明实施例还提供了一种测试电路，用于显示面板中，所述电路包括测试线路第一端子、测试线路第二端子、测试信号线、电压信号线、开关晶体管以及驱动芯片处理单元；其中，
所述测试线路第一端子，用于输出显示面板测试信号，所述测试线路第二端子用于输出用于打开或关闭所述开关晶体管的电压信号；
所述测试信号线，用于传输所述显示面板测试信号，一端与所述测试线路第一端子相连，另一端分别与所述开关晶体管和所述驱动芯片处理单元相连；
所述电压信号线，用于传输所述电压信号，一端与所述测试线路第二端子相连，另一端与所述开关晶体管相连；
所述开关晶体管，与所述显示面板的信号线相连，用于通过所述电压信号线接收所述测试线路第二端子输出的电压信号，并根据所述接收到的电压信号打开以使通过所述测试信号线接收的测试信号与所述显示面板的信号线导通，或者关闭以使所述测试信号与所述显示面板的信号线断开；
所述驱动芯片处理单元，包括至少一个驱动芯片，用于输出所述显示面板所需的相关信号。
其中，当所述驱动芯片处理单元包括多个驱动芯片，且每一驱动芯片之间通过阵列走线相连时，所述测试信号线还与所述每一驱动芯片之间的阵列走线相连。
其中，所述测试线路第二端子输出的电压信号包括高电压信号和低电压信号。
其中，当所述开关晶体管接收到的电压信号为高电压信号时，所述开关晶体管获得大于第一预设值的电压而打开，使从所述测试信号线传输来的测试信号与所述显示面板的信号线导通；当所述开关晶体管接收到的电压信号为低电压信号时，所述开关晶体管获得小于第二预设值的电压并关闭，使所述测试信号与所述显示面板的信号线断开。
其中，所述显示面板的信号线为数据线或扫描线。
本发明实施例还提供了一种显示面板，包括前述描述的测试电路。
实施本发明实施例，具有如下有益效果：
1、由于测试信号线与静电放电保护电路的放电走线复用，在测试时可以传输测试信号，测试完毕后又将显示面板中的信号线（数据线/扫描线）产生的静电及时释放，不必单独设计ESD防护线路，有效的缩小了显示面板的外围走线的尺寸，有利于窄边框显示面板的设计；
2、由于测试信号线与驱动芯片处理单元的外围走线复用，可以有效的缩小了显示面板的外围走线的尺寸，同时也可与驱动芯片处理单元中多个驱动芯片之间的阵列走线相连，导通这些驱动芯片输出的信号（特别是一些重要信号，如高电压信号、低电压信号、输出控制信号等），从而增加了各驱动芯片之间阵列走线的宽度，降低了这些信号走线的阻抗，避免由于阻抗较大带来显示面板的显示品质下降以及出现各种色差问题。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，根据这些附图获得其他的附图仍属于本发明的范畴。
图1为现有技术中显示面板外围区域设计的结构示意图；
图2为本发明提供的显示面板外围区域设计的结构示意图；
图3为本发明第一实施例提供的测试电路的连接示意图；
图4为本发明第一实施例提供的测试电路中由两个开关晶体管构成静电放电保护电路的物理连接示意图；
图5为本发明第一实施例提供的测试电路中由两个二极管构成静电放电保护电路的物理连接示意图；
图6本发明第二实施例提供的测试电路的连接示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
请参照图1所示，如前所述，发明人发现在现有技术中显示面板外围区域的设计里，显示面板从内到外往往采用依次是假像素（Dummy pixel）、公共电极（Array COM）、静电放电保护线路（ESD circuit）和测试线路（Test circuit），这种走线方式占有一定的空间，特别不利于窄边框显示面板的设计。
因此，发明人提出了一种新的显示面板外围区域的设计，将测试线路和静电放电保护电路线路合并，使得占用的空间更少，对窄边框设显示面板的设计非常有利，请参见图2，减少了图1中△h占用的宽度。
为了实现前述新的显示面板外围区域的设计，将测试线路和静电放电保护电路线路合并，使得占用的空间更少，发明人提出了一种测试电路及显示面板。如图3所示，在本发明第一实施例中的测试电路，该电路用于显示面板中，包括测试线路第一端子11、测试线路第二端子12、测试信号线13、电压信号线14、开关晶体管15以及第一静电放电保护电路16；其中，
测试线路第一端子11用于输出显示面板测试信号，测试线路第二端子12用于输出用于打开或关闭开关晶体管15的电压信号；
测试信号线13用于传输显示面板测试信号，一端与测试线路第一端子11相连，另一端分别与开关晶体管15和公共电极19相连；
电压信号线14用于传输电压信号，一端与测试线路第二端子12相连，另一端与开关晶体管15相连；
开关晶体管15，与显示面板的信号线18相连，用于通过电压信号线14接收测试线路第二端子12输出的电压信号，并根据接收到的电压信号打开以使通过测试信号线13接收的测试信号与显示面板的信号线18导通，或者关闭以使测试信号与显示面板的信号线18断开；
第一静电放电保护电路16分别连接在测试信号线13和显示面板的信号线18上。
测试线路第二端子12输出的电压信号包括高电压信号和低电压信号，显示面板的信号线18为数据线（Data Line）或扫描线（Gate Line）。
具体的，开关晶体管15的栅极与电压信号线14相连，当开关晶体管15接收到的电压信号为高电压信号时，开关晶体管15获得大于第一预设值的电压而打开，使从测试信号线13传输来的测试信号与显示面板的信号线18导通（如图3中箭头所示）；当开关晶体管15接收到的电压信号为低电压信号时，开关晶体管15获得小于第二预设值的电压并关闭，使测试信号与显示面板的信号线18断开。其中，第一预设值为正电压值，第二预设值为负电压值。
更进一步的，测试电路还包括第二静电放电保护电路17，第二静电放电保护电路17设置在测试信号线13上，其一端与公共电极19相连，另一端与开关晶体管15以及测试线路第一端子11相连，该第二静电放电保护电路17除了用于在测试完毕后，显示面板的信号线18上的静电放电防护，还用于电压信号线14上的静电放电防护。
第一静电放电保护电路16以及第二静电放电保护电路17均为由两个晶体管或两个二极管形成连通的环形回路。请结合图4，以第一静电放电保护电路16为例，其包括第一晶体管161和第二晶体管162，其中，上方的第一晶体管161的栅极、漏极均连接测试信号线13，源极连接信号线18，下方的第二晶体管162栅极和漏极连接信号线18，源极连接测试信号线13。在这种连接方式下，第一静电放电保护电路16中的第一、第二晶体管只要漏极电压高于源极电压，因为栅极和漏极相连，栅极电压也高于源极电压，就能够导通，反之则会关闭，这种特性就和二极管相同，所以可采用二极管来代替。请结合图5，以第一静电放电保护电路16为例，包括第一二极管163和第二二极管164；其中，第一二极管163的正极与测试信号线13相连，负极与显示面板的信号线18相连；第二二极管164的正极与显示面板的信号线18相连，第二二极管164的负极与测试信号线13相连，该第一静电放电保护电路16中的第一二极管163和第二二极管164的电阻足够大，不会对面板的测试和正常工作产生任何影响。
同样的，在第二静电放电保护电路17中也采用两个晶体管，请结合图4，以图4中左侧第二静电放电保护电路17上的两个晶体管为例，包括第三晶体管171和第四晶体管172；其中，第三晶体管171的栅极和漏极均连接测试信号线13，第三晶体管171的源极连接第四晶体管172栅极和漏极，第四晶体管172的源极还连接公共电极19。同样的，在第二静电放电保护电路17中的两个晶体管也可以用二极管来代替（如图5所示），与第一静电放电保护电路16中两个二极管替代两个晶体管的原理相同，在此不再一一赘述。
结合图4和图5，对本发明第一实施例的测试电路的工作原理进行说明：
当电压信号S2为30v的高电压信号时，开关晶体管15的Gate端获得30v的电压而打开，控制测试信号S1导通到显示面板的信号线18上（如图4中实心箭头所示），以进行通常的测试。
在测试完毕后，从测试线路第二端子12输出-6v的低电压信号，开关晶体管15的Gate端获得-6v的电压而关闭，控制测试信号S1关闭。此时，第一静电放电保护电路16将接收到从信号线18上释放的静电，当该静电为正电荷时，由于第二晶体管162的栅极和漏极均连接在信号线18上，源极连接在测试信号线13上，因此正电荷的静电将使第二晶体管162导通，而第一晶体管161则处于截止状态，静电经由第二晶体管162释放到测试信号线13上（如图4中箭头1所示，1代表正电荷）；当该静电为负电荷时，由于第一晶体管161的栅极和漏极均连接在测试信号线13上，源极连接在信号线18上，因此负电荷的静电将使第一晶体管161导通，而第二晶体管162则处于截止状态，静电经由第一晶体管161释放到测试信号线13上（如图4中箭头0所示，0代表负电荷）。由此也可看出，测试信号线13在本实施例中被复用为静电放电保护电路的放电线路，既起到传输测试信号的作用，也起到静电放电防护的作用。静电继续经由第二静电放电保护电路17到达公共电极19，同理，第二静电放电保护电路17上的两个晶体管实现与第一静电放电保护电路16中两个晶体管161、162相同的功能。
同样的，当用二极管代替开关晶体管时，由于电路中的二极管的电阻足够大，不会对面板的测试和正常工作产生任何影响，所以可以起到相同的静电放电防护作用，其中，图5中的0和1与图4中的0和1所对应表述的意思相同。
相应于本发明第一实施例中的测试电路，还提出了一种显示面板，包括本发明第一实施例中的测试电路，该测试电路与本发明第一实施例中的测试电路的结构和连接关系相同，在此不再一一赘述。
通过上述实施例的说明可知，由于测试信号线与静电放电保护电路的放电走线复用，在测试时可以传输测试信号，测试完毕后又将显示面板中的信号线（数据线/扫描线）产生的静电及时释放，不必单独设计ESD防护线路，有效的缩小了显示面板的外围走线的尺寸，有利于窄边框显示面板的设计。
发明人还发现在现有技术中另一种显示面板设计里，显示面板Source侧（源极侧）和Source对侧（即gate侧，栅极侧）的公共电极走线和测试线路平行，这种走线方式也占有一定的空间，不利于窄边框显示面板的设计。
因此，发明人又提出了一种新的走线方式，将测试线路和公共电极走线合并在一起，使得占用的空间更少，对窄边框设显示面板的计非常有利。相应于新的走线方式，提出了一种测试电路及显示面板。如图6所示，在本发明第二实施例中的测试电路，该电路用于显示面板中，包括测试线路第一端子11、测试线路第二端子12、测试信号线13、电压信号线14、开关晶体管15以及驱动芯片处理单元20；其中，
测试线路第一端子11用于输出显示面板测试信号，测试线路第二端子12用于输出用于打开或关闭开关晶体管15的电压信号；
测试信号线13用于传输显示面板测试信号，一端与测试线路第一端子11相连，另一端分别与开关晶体管15和驱动芯片处理单元20相连；
电压信号线14用于传输电压信号，一端与测试线路第二端子12相连，另一端与开关晶体管15相连；
开关晶体管15，与显示面板的信号线18相连，用于通过电压信号线14接收测试线路第二端子12输出的电压信号，并根据接收到的电压信号打开，以使通过测试信号线13接收的测试信号与显示面板的信号线18导通，或者关闭，以使测试信号与显示面板的信号线18断开；
驱动芯片处理单元20，包括至少一个驱动芯片，用于输出显示面板所需的相关信号，该信号包括驱动芯片提供的高电压信号、低电压信号、输出控制信号等。
当驱动芯片处理单元20包括多个驱动芯片，且每一驱动芯片之间通过阵列走线（WOA，Wire on Array）线路21相连时，测试信号线13还与每一驱动芯片之间的阵列走线21相连，可以导通这些驱动芯片输出的信号，从而增加了各驱动芯片之间阵列走线21的宽度，降低了这些信号走线的阻抗，避免由于阻抗较大带来显示面板的显示品质下降以及出现各种色差问题。
测试线路第二端子12输出的电压信号包括高电压信号和低电压信号，显示面板的信号线18为数据线（Data Line）或扫描线（Gate Line）。
具体的，开关晶体管15的栅极与电压信号线14相连，当开关晶体管15接收到的电压信号为高电压信号时，开关晶体管15获得大于第一预设值的电压而打开，使从测试信号线13传输来的测试信号与显示面板的信号线18导通；当开关晶体管15接收到的电压信号为低电压信号时，开关晶体管15获得小于第二预设值的电压并关闭，使测试信号与显示面板的信号线18断开。其中，第一预设值为正电压值，第二预设值为负电压值。
本发明第二实施例中的测试电路的工作原理为：在测试时，因为此时显示面板还没有进行接合垫（Bonding），所以不会有电压驱动在驱动芯片处理单元20中的驱动芯片，开关晶体管15打开，控制测试信号和显示面板的信号线18导通（如图6中箭头a所示），点亮该显示面板并检测；待测试完毕后，显示面板进行接合垫（Bonding）制程，此时，开关晶体管15关闭，控制测试信号和显示面板的信号线18关闭。测试信号线13作为驱动芯片处理单元20外的公共电极走线，使得驱动芯片处理单元20中驱动芯片能为显示面板提供相关信号（如图6中箭头b所示），当在驱动芯片处理单元20中有多个驱动芯片相连时，测试信号线13不仅作为驱动芯片处理单元20外的公共电极走线，还可复用为各驱动芯片之间的阵列走线21（如图6中箭头c所示），增加各驱动芯片之间的走线宽度。
相应于本发明第二实施例中的测试电路，也提出了一种显示面板，包括本发明第二实施例中的测试电路，该测试电路与本发明第二实施例中的测试电路的结构和连接关系相同，在此不再一一赘述。
通过上述实施例的说明可知，由于测试线与驱动芯片处理单元的外围走线复用，可以有效的缩小了显示面板的外围走线的尺寸，同时也可与驱动芯片处理单元中多个驱动芯片之间的阵列走线相连，导通这些驱动芯片输出的信号（特别是一些重要信号，如高电压信号、低电压信号、输出控制信号等），从而增加了各驱动芯片之间阵列走线的宽度，降低了这些信号走线的阻抗，避免由于阻抗较大带来显示面板的显示品质下降以及出现各种色差问题。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中，所述的存储介质，如ROM/RAM、磁盘、光盘等。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (14)

1.一种测试电路，用于显示面板中，其特征在于，所述电路包括测试线路第一端子、测试线路第二端子、测试信号线、电压信号线、开关晶体管以及第一静电放电保护电路；其中，
所述测试线路第一端子，用于输出显示面板测试信号，所述测试线路第二端子用于输出用于打开或关闭所述开关晶体管的电压信号；
所述测试信号线，用于传输所述显示面板测试信号，一端与所述测试线路第一端子相连，另一端与所述开关晶体管和公共电极相连；
所述电压信号线，用于传输所述电压信号，一端与所述测试线路第二端子相连，另一端与所述开关晶体管相连；
所述开关晶体管，与所述显示面板的信号线相连，用于通过所述电压信号线接收所述测试线路第二端子输出的电压信号，并根据所述接收到的电压信号打开以使通过所述测试信号线接收的测试信号与所述显示面板的信号线导通，或者关闭以使所述测试信号与所述显示面板的信号线断开；
所述第一静电放电保护电路，分别连接在所述测试信号线和所述显示面板的信号线上。
2.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述测试线路第二端子输出的电压信号包括高电压信号和低电压信号。
3.如权利要求2所述的测试电路，其特征在于，当所述开关晶体管接收到的电压信号为高电压信号时，所述开关晶体管获得大于第一预设值的电压而打开，使从所述测试信号线传输来的测试信号与所述显示面板的信号线导通；当所述开关晶体管接收到的电压信号为低电压信号时，所述开关晶体管获得小于第二预设值的电压并关闭，使所述测试信号与所述显示面板的信号线断开。
4.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述显示面板的信号线为数据线或扫描线。
5.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述第一静电放电保护电路包括第一晶体管和第二晶体管；其中，所述第一晶体管的栅极和漏极均连接所述测试信号线，源极连接所述显示面板的信号线；所述第二晶体管栅极和漏极均连接所述显示面板的信号线，源极连接所述测试信号线；所述第一晶体管和所述第二晶体管形成一个连通的回路。
6.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述第一静电放电保护电路还包括第一二极管和第二二极管；其中，所述第一二极管的正极与所述测试信号线相连，负极与所述显示面板的信号线相连；所述第二二极管的正极与所述显示面板的信号线相连，所述第二二极管的负极与所述测试信号线相连；所述第一二极管和所述第二二极管形成一个连通的回路。
7.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述测试电路还包括第二静电放电保护电路，所述第二静电放电保护电路设置在所述测试信号线上，其一端与公共电极相连，另一端与所述开关晶体管以及所述测试线路第一端子相连。
8.如权利要求7所述的测试电路，其特征在于，所述第二静电放电保护电路包括第三晶体管和第四晶体管；其中，所述第三晶体管的栅极和漏极均连接所述测试信号线，所述第三晶体管的源极连接所述第四晶体管栅极和漏极，第四晶体管的源极还连接所述公共电极；所述第三晶体管和所述第四晶体管形成一个连通的回路。
9.一种测试电路，用于显示面板中，其特征在于，所述电路包括测试线路第一端子、测试线路第二端子、测试信号线、电压信号线、开关晶体管以及驱动芯片处理单元；其中，
所述测试线路第一端子，用于输出显示面板测试信号，所述测试线路第二端子用于输出用于打开或关闭所述开关晶体管的电压信号；
所述测试信号线，用于传输所述显示面板测试信号，一端与所述测试线路第一端子相连，另一端分别与所述开关晶体管和所述驱动芯片处理单元相连；
所述电压信号线，用于传输所述电压信号，一端与所述测试线路第二端子相连，另一端与所述开关晶体管相连；
所述开关晶体管，与所述显示面板的信号线相连，用于通过所述电压信号线接收所述测试线路第二端子输出的电压信号，并根据所述接收到的电压信号打开以使通过所述测试信号线接收的测试信号与所述显示面板的信号线导通，或者关闭以使所述测试信号与所述显示面板的信号线断开；
所述驱动芯片处理单元，包括至少一个驱动芯片，用于输出所述显示面板所需的相关信号。
10.如权利要求9所述的测试电路，其特征在于，当所述驱动芯片处理单元包括多个驱动芯片，且每一驱动芯片之间通过阵列走线相连时，所述测试信号线还与所述每一驱动芯片之间的阵列走线相连。
11.如权利要求9所述的测试电路，其特征在于，所述测试线路第二端子输出的电压信号包括高电压信号和低电压信号。
12.如权利要求11所述的测试电路，其特征在于，当所述开关晶体管接收到的电压信号为高电压信号时，所述开关晶体管获得大于第一预设值的电压而打开，使从所述测试信号线传输来的测试信号与所述显示面板的信号线导通；当所述开关晶体管接收到的电压信号为低电压信号时，所述开关晶体管获得小于第二预设值的电压并关闭，使所述测试信号与所述显示面板的信号线断开。
13.如权利要求9所述的测试电路，其特征在于，所述显示面板的信号线为数据线或扫描线。
14.一种显示面板，其特征在于，包括如权利要求1至13任一项中所述的电路。
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