CN103426369A - 显示屏 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种显示屏，包括显示面板和驱动线路板，显示面板的阵列基板上设置有至少一个虚拟像素单元和至少一个真实像素单元，虚拟像素单元与真实像素单元连接，虚拟像素单元设置有第一测试线，用于测试虚拟像素单元中薄膜晶体管的特性，驱动线路板设置有测试点，虚拟像素单元通过第一测试线与驱动线路板上的测试点连接。本发明提供的显示屏通过在显示面板的阵列基板上设置与真实像素单元连接的虚拟像素单元，并在虚拟像素单元上设置第一测试线，还在驱动线路板设置有测试点，与虚拟像素单元连接，利用第一测试线对虚拟像素单元的薄膜晶体管特性进行测试，等效得到薄膜晶体管的特性，实现在不拆解显示屏的情况下测试薄膜晶体管的特性。

Description

显示屏

技术领域

本发明涉及显示技术及制造领域，特别涉及一种显示屏。

背景技术

近年来，随着科技的发展，显示器的制造技术和工艺都在不断完善，其中使用较为普遍的TFT-LCD（Thin Film Transistor-Liquid CrystalDisplay，薄膜晶体管-液晶显示器）以其图像显示品质好、能耗低、环保等优势占据着显示器领域的重要位置，以及随着技术发展而出现的AMOLED（Active Matrix Organic Light Emitting Diode，有源矩阵有机发光二极体面板）也在显示器技术中被广泛使用。但是无论是TFT-LCD还是AMOLED，其中的TFT（Thin Film Transistor，薄膜晶体管）在长时间的使用后都会出现特性退化的现象，主要表现为阈值电压漂移、开态电流减小、漏电流变大等。目前已知温度、湿度、光照均会对TFT特性产生不利影响，导致TFT特性退化。

以AMOLED显示器采用低温多晶硅TFT为例，由于薄膜晶体管的阈值电压变大，使得薄膜晶体管漏极输出的充电电流减小，现有的低温多晶硅（Low Temperature Poly-silicon，LTPS）显示器件在工艺制程中晶体管的阈值电压Vth均匀性较差，而且在使用过程中还会发生阈值电压漂移的问题，当向驱动晶体管DTFT输入相同数据电压Vdata时，由于驱动晶体管DTFT的阈值电压不同而产生不同的驱动电流，进一步导致AMOLED亮度的均匀性较差，直接影响显示器的显示效果。

以TFT-LCD为例，由于TFT的退化导致开态电流变小，在一定的充电时间内，充电不满足要求则会出现屏幕颜色不真实，发暗或者闪烁的情况，影响了显示的效果。

因此需要对显示器的TFT特性进行测试，特别是TFT信赖性测试。目前对TFT特性的测试方法是经过信赖性测试一定时间后，对已经制作完好的显示器进行破坏性拆解，需要拆解显示器的背光源、分离彩膜、洗去液晶，之后再对拆解出的阵列基板进行TFT特性的测试。

但是利用上述TFT特性测试方法需要将显示器进行拆解，TFT特性测试完成后，用于本次TFT特性测试的显示器也将完全报废，不能再继续进行信赖性测试及其他光学测试，浪费成本。

发明内容

（一）要解决的技术问题

本发明要解决的技术问题是：如何实现在不拆解显示屏的情况下测试薄膜晶体管的特性。

（二）技术方案

为解决上述技术问题，本发明提供了一种显示屏，所述显示屏包括显示面板和驱动线路板，所述显示面板的阵列基板上设置有至少一个虚拟像素单元和至少一个真实像素单元，所述虚拟像素单元与所述真实像素单元连接，所述虚拟像素单元设置有第一测试线，用于测试所述虚拟像素单元中薄膜晶体管的特性；

在所述显示面板的上方还设置有驱动线路板，所述驱动线路板设置有测试点，所述虚拟像素单元通过所述第一测试线与所述驱动线路板上的测试点连接。

优选的，所述第一测试线包括栅极测试线、源极测试线和漏极测试线，所述测试点包括栅极测试点、源极测试点和漏极测试点。

优选的，所述虚拟像素单元包括栅极线，所述栅极线上形成有栅绝缘层，所述栅绝缘层上形成有有源层，所述有源层上形成有源极和漏极，所述栅极测试线与所述栅极线连接，所述源极测试线与所述源极连接，所述漏极测试线和像素电极与所述漏极连接，所述栅极线连接所述阵列基板上同行的虚拟像素单元和真实像素单元；

所述虚拟像素单元的栅极线、栅绝缘层、有源层、源极、漏极和像素电极分别与所述真实像素单元的栅极线、栅绝缘层、有源层、源极、漏极和像素电极在同一层上以相同的宽度形成；

所述虚拟像素单元的源极测试线与所述真实像素单元的数据线在同一层上以相同的宽度形成。

优选的，所述虚拟像素单元的栅极线与所述真实像素单元的栅极线连接。

优选的，所述虚拟像素单元还设置有数据线，所述数据线连接同列的虚拟像素单元和真实像素单元。

优选的，所述虚拟像素中栅极测试线和栅极线通过所述栅绝缘层上的过孔由透明电极材料连接。

优选的，所述虚拟像素单元设置在阵列基板上对应所述显示面板显示区域以外的区域，所述真实像素单元设置在阵列基板上对应所述显示面板显示区域的边缘。

优选的，所述显示屏还设置有柔性连接线路板，所述测试线穿过柔性连接线路板连接所述驱动线路板上的测试点。

优选的，所述驱动线路板上还设置有第二测试线和所述真实像素单元的驱动线。

优选的，在所述显示面板和所述驱动线路板之间还设置有柔性连接线路板，所述驱动线路板上的第二测试线中栅极测试线、源极测试线和漏极测试线通过所述柔性连接线路板与所述显示面板中的虚拟像素单元中第一测试线的栅极测试线、源极测试线和漏极测试线一一连接。

（三）有益效果

本发明实施例的显示屏，通过在显示面板的阵列基板上设置与真实像素单元连接的虚拟像素单元，并在虚拟像素单元上设置第一测试线，还在显示面板上方的驱动线路板上设置有测试点，与虚拟像素单元连接，利用第一测试线对虚拟像素单元的薄膜晶体管特性进行测试，等效得到阵列基板中像素单元的薄膜晶体管特性，从而实现在不拆解显示屏的情况下测试薄膜晶体管特性，节省人工及成本。

附图说明

图1是现有技术中显示屏的部分结构示意图；

图2是本发明实施例提供的显示屏的部分结构示意图；

图3是本发明实施例虚拟像素单元的结构示意图；

图4是本发明实施例虚拟像素单元的电路设计图；

图5是本发明实施例驱动线路板示意图；

图6是本发明实施例柔性连接线路板示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。

现有技术中显示屏的部分结构示意图如图1所示，包括显示面板01、柔性连接线路板02和驱动线路板03。

本发明实施例的一种显示屏，其中本实施例中的显示屏为阵列基板和彩膜基板经过对盒、注入液晶之后得到显示面板，再与驱动线路板、背光源和胶框等进行组装得到，图2中是本实施例中的显示屏部分结构的示意图，包括显示面板1，柔性连接线路板2和驱动线路板3，而对于背光源以及胶框等结构未在图2中示出。

该显示屏包括显示面板1和驱动线路板3，显示面板1的阵列基板上设置有至少一个虚拟像素单元和至少一个真实像素单元，虚拟像素单元与真实像素单元连接，虚拟像素单元设置有第一测试线，用于测试虚拟像素单元中薄膜晶体管的特性。在显示面板的上方还设置有驱动线路板，驱动线路板设置有测试点，虚拟像素单元通过第一测试线与驱动线路板上的测试点连接。

通过上述显示屏通过设置虚拟像素单元，将虚拟像素单元的薄膜晶体管上的源极、漏极和栅极连接到驱动线路板上，实现在不拆解显示屏的情况下，通过测试驱动线路板上的测试点就能实现对薄膜晶体管特性的测试。

显示面板中包括阵列基板和彩膜基板，在阵列基板设置有至少一个虚拟像素单元和至少一个真实像素单元，虚拟像素单元的结构与真实像素单元的结构相同，并且是在工艺制作流程下共同制作形成，虚拟像素单元与真实像素单元连接。虚拟像素单元设置有第一测试线，用于测试虚拟像素单元中薄膜晶体管的特性。在显示面板的上方还设置有驱动线路板，驱动线路板设置有测试点，虚拟像素单元通过第一测试线与驱动线路板上的测试点连接，根据虚拟像素单元中的薄膜晶体管特性测试的类别连接虚拟像素单元中的第一测试线对应的测试线进行连接。

其中，阵列基板上设置虚拟像素单元的数量可以为一个，也可以为多个，但是每一个虚拟像素单元均与一个真实像素单元对应连接。优选的，虚拟像素单元设置在阵列基板上对应显示面板显示区域以外的区域，而真实像素单元设置在阵列基板上对应所述显示面板显示区域的边缘。通过将虚拟像素单元设置在阵列基板上对应显示面板显示区域以外并与阵列基板上对应显示面板显示区域边缘的像素单元连接，只需在制作过程中利用现有工艺将虚拟像素单元与真实像素单元一起制作而成，并进行虚拟像素单元测试线的设置即可。

本实施例中，在虚拟像素单元上设置第一测试线，利用第一测试线连接驱动线路板上的测试点，通过控制驱动线路板测试测试线所连接的虚拟像素单元的薄膜晶体管特性。由于虚拟像素单元与阵列基板的像素单元连接且结构相同，因此测试得到的虚拟像素单元的薄膜晶体管特性可以等效为阵列基板的真实像素单元的薄膜晶体管特性。

具体的，本实施例中的第一测试线包括栅极测试线、源极测试线和漏极测试线，测试点包括栅极测试点、源极测试点和漏极测试点。虚拟像素单元的结构与真实像素单元的组成结构类似，不同之处在于虚拟像素单元中还设置有三条测试线，包括源极测试线、栅极测试线和漏极测试线，示意图如图3所示，图中左侧为真实像素单元，右侧为虚拟像素单元。虚拟像素单元设置在阵列基板对应显示面板上显示区域以外的区域，真实像素单元设置在阵列基板上对应显示面板显示区域的边缘。

虚拟像素单元包括栅极线101，栅极线101上形成有栅绝缘层（图3中未示出），栅绝缘层上形成有有源层102，有源层上形成有源极103和漏极104，栅极测试线105与栅极线101连接，源极测试线106与源极103连接，漏极测试线107和像素电极108与漏极104连接，栅极线101连接阵列基板上同行的虚拟像素单元和真实像素单元。虚拟像素单元的栅极线101、栅绝缘层、有源层102、源极103、漏极104和像素电极108分别与真实像素单元的栅极线、栅绝缘层、有源层、源极、漏极和像素电极在同一层上以相同的宽度形成，虚拟像素单元的源极测试线106与真实像素单元的数据线在同一层上以相同的宽度形成。

虚拟像素单元的栅极线101与真实像素单元的栅极线链接，栅极测试线105和栅极线101通过栅绝缘层过孔109由透明电极材料110连接。虚拟像素单元的结构并不以此为限定，只要虚拟像素单元的结构与真实像素单元能够实现各个电极相对应即可。上述真实像素单元与虚拟像素单元的电路设计如图4所示。

优选地，本实施例中的虚拟像素单元还设置有数据线，数据线连接同列的虚拟像素单元和真实像素单元。虚拟像素单元的栅极线与真实像素单元的栅极线连接，虚拟像素中栅极测试线和栅极线通过栅绝缘层上的过孔由透明电极材料110连接。

本实施中的驱动线路板3的示意图如图5所示，在驱动线路板3上还设置有第二测试线31和真实像素单元的驱动线32，测试线连接栅极测试线、源极测试线、漏极测试线三根测试线。

在显示面板和驱动线路板之间还设置有柔性连接线路板2，示意图如图6所示，包括三根测试线21、真实像素的数据线22和该柔性连接线路板的驱动芯片23，驱动线路板2上的第二测试线中栅极测试线、源极测试线和漏极测试线通过柔性连接线路板与显示面板中的虚拟像素单元中第一测试线的栅极测试线、源极测试线和漏极测试线一一连接。

当测试时，测试设备分别与驱动线路板2上的栅极测试点、源极测试点、漏极测试点相连，控制输入不同的栅极线电压，测试源极与漏极之间的电流信号，从而得到虚拟像素单元的薄膜晶体管特性，即显示屏上真实像素单元的薄膜晶体管特性。

本实施例中，利用虚拟像素单元的栅极测试线、源极测试线和漏极测试线分别对应连接虚拟像素单元的栅极线、源极、漏极和驱动线路板3的栅极测试点、源极测试点、漏极测试点，通过驱动线路板3向虚拟像素单元的栅极线、源极和漏极发送测试信号，测试虚拟像素单元的薄膜晶体管特性。由于阵列基板通过多次光刻制作过程在玻璃基板上制作，因此正常情况下显示面板上的真实像素单元是均匀的，可以通过测得的虚拟像素单元的薄膜晶体管特性等价得到真实像素单元的薄膜晶体管特性，从而实现了在不拆解显示屏的情况下测试薄膜晶体管的特性。

以上实施方式仅用于说明本发明，而并非对本发明的限制，有关技术领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围的情况下，还可以做出各种变化和变型，因此所有等同的技术方案也属于本发明的范畴，本发明的专利保护范围应由权利要求限定。

Claims (9)

1.一种显示屏，其特征在于，所述显示屏包括显示面板和驱动线路板，所述显示面板的阵列基板上设置有至少一个虚拟像素单元和至少一个真实像素单元，所述虚拟像素单元与所述真实像素单元连接，所述虚拟像素单元设置有第一测试线，用于测试所述虚拟像素单元中薄膜晶体管的特性；

在所述显示面板的上方还设置有驱动线路板，所述驱动线路板设置有测试点，所述虚拟像素单元通过所述第一测试线与所述驱动线路板上的测试点连接。

2.如权利要求1所述的显示屏，其特征在于，所述第一测试线包括栅极测试线、源极测试线和漏极测试线，所述测试点包括栅极测试点、源极测试点和漏极测试点。

3.如权利要求2所述的显示屏，其特征在于，所述虚拟像素单元包括栅极线，所述栅极线上形成有栅绝缘层，所述栅绝缘层上形成有有源层，所述有源层上形成有源极和漏极，所述栅极测试线与所述栅极线连接，所述源极测试线与所述源极连接，所述漏极测试线和像素电极与所述漏极连接，所述栅极线连接所述阵列基板上同行的虚拟像素单元和真实像素单元；

所述虚拟像素单元的栅极线、栅绝缘层、有源层、源极、漏极和像素电极分别与所述真实像素单元的栅极线、栅绝缘层、有源层、源极、漏极和像素电极在同一层上以相同的宽度形成；

所述虚拟像素单元的源极测试线与所述真实像素单元的数据线在同一层上以相同的宽度形成。

4.如权利要求3所述的显示屏，其特征在于，所述虚拟像素单元还设置有数据线，所述数据线连接同列的虚拟像素单元和真实像素单元。

5.如权利要求3所述的显示屏，其特征在于，所述虚拟像素单元的栅极线与所述真实像素单元的栅极线连接。

6.如权利要求3所述的显示屏，其特征在于，所述虚拟像素中栅极测试线和栅极线通过所述栅绝缘层上的过孔由透明电极材料连接。

7.如权利要求1所述的显示屏，其特征在于，所述虚拟像素单元设置在阵列基板对应所述显示面板上显示区域以外的区域，所述真实像素单元设置在阵列基板上对应所述显示面板显示区域的边缘。

8.如权利要求1所述的显示屏，其特征在于，所述驱动线路板上还设置有第二测试线和所述真实像素单元的驱动线。

9.如权利要求8所述的显示屏，其特征在于，在所述显示面板和所述驱动线路板之间还设置有柔性连接线路板，所述驱动线路板上的第二测试线中栅极测试线、源极测试线和漏极测试线通过所述柔性连接线路板与所述显示面板中的虚拟像素单元中第一测试线的栅极测试线、源极测试线和漏极测试线一一连接。

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