CN108010475B - 一种显示面板 - Google Patents
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Abstract
本发明提出了一种显示面板，所述显示面板包括显示区域和非显示区域；其中，在所述非显示区域中设置了第一开关单元、第二开关单元以及至少两个输入端，通过所述输入端对所述第一开关单元和所述第二开关单元的进行控制，以使所述显示面板能同时满足阵列制程测试区域的单驱检测以及配向信号输入端时信号的双侧输入。有益效果：有效保证了所述显示面板在生产过程中对问题面板检测的准确性，提高了所述显示面板的良品率，降低了生产成本。
Description
技术领域
本发明涉及显示领域，特别涉及一种显示面板。
背景技术
液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)是目前市场上应用最为广泛的显示产品，其生产工艺技术十分成熟，产品良率高，生产成本相对较低，市场接受度高。而TFT-LCD(Thin FilmTransistor-Liquid Crystal Display，薄膜晶体管液晶显示器)面板制造行业已经发展多年，对于产品的生产流程已经十分精炼与成熟。
在一块显示面板的生产过程中，为了保证利润最大化，在前期的阵列工艺与中期的成盒工艺都会设置检测措施，以筛选出问题产品，及时修补或是废弃，防止后段制程出现不必要的产能浪费；而对于采用PSVA(polymer stabilized vertical alignment，聚合物稳定垂直配向)模式的TFT-LCD，在中期的成盒工艺完成后，会进行HVA(High VerticalAlignment，高垂直排列)光配向制程使液晶分子发生偏转，光配向的过程可以总结为：面板成盒后，通过预留的配向信号输入端子对面板显示单元施加电压信号，再通过紫外光照射，让液晶分子保持一定的转向。
图1所示为现有技术中一种显示面板的外围走线示意图A，阵列制程测试端子102(103)，配向信号输入端子104(105)等等以及相应走线如图1中所示，对于前段阵列工艺制程的检测方法是在预留的阵列制程测试端子102(103)上施加检测信号，并在阵列基板上方放置液晶盒，模拟正常显示时液晶面板的状态，若发现液晶盒显示异常便可推测出阵列基板出现问题。
下面以55寸大型的液晶显示器为例，其他尺寸产品在空间允许时几乎都采用与之相似的设计。配向信号输入端子104(105)位于面板短边侧，每侧各有一组，相同信号间通过配向信号输入端走线连接；阵列制程测试端子102(103)位于面板长边侧的单侧，左右各有一组，分别与配向信号输入端走线上的相同信号线连接，并连接至阵列制程测试端子106(107)上，经过阵列制程测试端子106(107)连入面内；
在这种设计中，左右两侧的阵列制程测试端子102(103)都与配向信号输入端走线相连接，在配向制程时，配向信号输入端子104(105)上的信号可以传输至左右两侧的阵列制程测试端子106(107)，并同时传导至面内，信号较均匀，配向效果较好。但这种信号由于阵列制程测试端子102(103)无法独立施加信号，左右两侧的阵列制程测试端子102(103)都与配向信号输入端走线连接，对左面施加信号右边也会有，反之亦然)，因此无法进行阵列制程测试端单驱检测，对于面内的走线漏检的发生率较高，造成产品良率较低。
图2所示为现有技术中一种显示面板的外围走线示意图B，这种走线设计可以实现阵列制程测试端子202(203)单驱检测。如图2所示，只有单侧的阵列制程测试端子202(203)与配向信号输入端走线相连，另一侧的阵列制程测试端子202(203)跳过配向信号输入端走线，直接与阵列制程测试端子206(207)相连；
这种设计左右两侧的阵列制程测试端子202(203)互不连通，可实现阵列制程测试端子的单驱检测。但这种设计由于右侧的阵列制程测试端子206(207)并未与配向信号输入端走线相连，所以在光配向时，在配向信号输入端上施加的电压信号只通过左侧的阵列制程测试端子206(207)传输至面内，面内信号不均极容易出现配向不良的现象，造成产品批次性的显示问题。
发明内容
本发明提供了一种显示面板，可以同时满足阵列制程测试端子的单驱检测以及配向信号输入端时信号的双侧输入。
为实现上述方案，本发明提供的技术方案如下：
本发明提供了一种显示面板，其中，所述显示面板包括：
显示区域；
非显示区域，所述非显示区域围绕所述显示区域，包括：
第一成盒制程测试端子，所述第一成盒制程测试端子与所述显示区域相连接；
第二成盒制程测试端子，所述第二成盒制程测试端子与所述第一成盒制程测试端子在第一方向上并列设置，所述第二成盒制程测试端子与所述显示区域相连接；
第一开关单元，所述第一开关单元的一端与所述第一成盒制程测试端子连接；
第二开关单元，所述第二开关单元与所述第一开关单元在所述第一方向上并列设置，所述第二开关单元的一端与所述第二成盒制程测试端子连接。
根据本发明一优选实施例，所述非显示区域还包括：
第一阵列制程测试端子，所述第一阵列制程测试端子与所述第一开关单元的另一端连接；
第二阵列制程测试端子，所述第二阵列制程测试端子与所述第二开关单元的另一端连接；
其中，所述第一阵列制程测试端子与所述第二阵列制程测试端子在所述第一方向上并列设置。
根据本发明一优选实施例，所述非显示区域还包括：第一配向信号输入端子和第二配向信号输入端子；
其中，第一配向信号输入端子与所述第一阵列制程测试端子连接，第二配向信号输入端子与所述第二阵列制程测试端子连接。
根据本发明一优选实施例，所述非显示区域还包括：
至少两个输入端，所述第一开关单元与所述第二开关单元由不同的所述输入端所控制，
其中，所述第一阵列制程测试端子通过所述第一开关单元与所述第一成盒制程测试端子断开或连通，所述第二阵列制程测试端子通过所述第二开关单元与所述第二成盒制程测试端子断开或连通。
根据本发明一优选实施例，所述非显示区域包括第一输入端、第二输入端、第三输入端以及第四输入端，其中，所述第一输入端和第三输入端与所述第一开关单元相连接，所述第二输入端和所述第四输入端与所述第二开关单元相连接。
根据本发明一优选实施例，在第一方向上，所述第一输入端和所述第二输入端与所述第一配向信号输入端子和所述第二配向信号输入端子并列设置，在第二方向上，所述第三输入端和所述第四输入端与所述第一阵列制程测试端子和所述第二阵列制程测试端子并列设置。
根据本发明一优选实施例，所述非显示区域包括第三输入端和第四输入端，其中，第三输入端与所述第一开关单元相连接，所述第四输入端与所述第二开关单元相连接。
根据本发明一优选实施例，所述第一开关单元和所述第二开关单元为P型金属氧化物半导体类型的薄膜晶体管或N型金属氧化物半导体类型的薄膜晶体管。
根据本发明一优选实施例，所述第一阵列制程测试端子通过所述第一开关单元以及所述第一成盒制程测试端子与所述显示面板的所述显示区域连接；
所述第二阵列制程测试端子通过所述第二开关单元以及所述第二成盒制程测试端子与所述显示面板的所述显示区域连接。
本发明还提供了一种显示面板，其中，所述显示面板包括：
显示区域；
非显示区域，所述非显示区域围绕所述显示区域，包括：
第一成盒制程测试端子，所述第一成盒制程测试端子与所述显示区域相连接；
第二成盒制程测试端子，与所述第一成盒制程测试端子并列设置，所述第二成盒制程测试端子与所述显示区域相连接；
第一开关单元，所述第一开关单元的一端与所述第一成盒制程测试端子连接；
第二开关单元，所述第二开关单元与所述第一开关单元在所述第一方向上并列设置，所述第二开关单元的一端与所述第二成盒制程测试端子连接；
第一阵列制程测试端子，所述第一阵列制程测试端子与所述第一开关单元的另一端连接；
第二阵列制程测试端子，所述第二阵列制程测试端子与所述第二开关单元的另一端连接，
其中，所述第一阵列制程测试端子与所述第二阵列制程测试端子在所述第一方向上并列设置；
至少两个输入端，所述第一开关单元与所述第二开关单元由不同的所述输入端所控制，
其中，所述第一阵列制程测试端子通过所述第一开关单元与所述第一成盒制程测试端子断开或连通，所述第二阵列制程测试端子通过所述第二开关单元与所述第二成盒制程测试端子断开或连通。
本发明的有益效果：相比于现有技术，本发明在显示面板中的非显示区域中设置第一开关单元、第二开关单元以及至少两个输入端，通过所述输入端对所述第一开关单元和所述第二开关单元的进行控制，以使所述显示面板能同时满足阵列制程测试端的单驱检测以及配向信号输入端时信号的双侧输入，有效保证了所述显示面板在生产过程中对问题面板检测的准确性，提高了所述显示面板的良品率，降低了生产成本。
附图说明
为了更清楚地说明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1所示为现有技术中一种显示面板的外围走线示意图A；
图2所示为现有技术中一种显示面板的外围走线示意图B；
图3所示为本发明优选实施例一一种显示面板的外围走线示意图；
图4所示为本发明优选实施例二一种显示面板的外围走线示意图。
具体实施方式
以下各实施例的说明是参考附加的图示，用以例示本发明可用以实施的特定实施例。本发明所提到的方向用语，例如[上]、[下]、[前]、[后]、[左]、[右]、[内]、[外]、[侧面]等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本发明，而非用以限制本发明。在图中，结构相似的单元是用以相同标号表示。
本发明提供了一种显示面板，以一种液晶透镜或者液晶透镜矩阵结构替代传统的无偏光片结构，降低了所述液晶显示面板的启动电压，提高了所述显示显示面板的对比度，本实施例能够实施该技术问题。
图3所示为本发明优选实施例一种显示面板的外围走线示意图，如图所示，所述显示面板包括：显示区域301和围绕所述显示区域301的非显示区域。
所述显示区域301为规则形状，例如正方形、长方形、菱形等；优选的，在本实施例中，所述显示区域301为长方形；
所述非显示区域301包括：阵列制程测试端子、配向信号输入端子、成盒制程测试端子、开关单元等等以及相应的走线；
阵列制程测试端子包括第一阵列制程测试端子302和第二阵列制程测试端子303，在第一方向上，所述第一阵列制程测试端子302和所述第二阵列制程测试端子303并列设置；优选的，在本实施例中，所述第一方向为水平方向，即所述第一阵列制程测试端子302和所述第二阵列制程测试端子303水平设置；
配向信号输入端子包括第一配向信号输入端子304和第二配向信号输入端子305，在第二方向上，所述第一配向信号输入端子304和所述第二配向信号输入端子305分别设置在所述显示区域301的两侧；优选的，在本实施例中，所述第二方向为竖直方向；
成盒制程测试端子包括第一成盒制程测试端子306和第二成盒制程测试端子307，在第一方向上，所述第一成盒制程测试端子306和所述第二成盒制程测试端子307并列设置，位于所述阵列制程测试端子和所述显示区域301之间；优选的，在本实施例中，所述第一方向为水平方向，即所述第一成盒制程测试端子306和所述第二成盒制程测试端子307水平设置。
所述显示面板中的开关单元包括第一开关单元308和第二开关单元309，所述第一开关单元308和所述第二开关单元位于所述阵列制程测试端子和所述成盒制程测试端子之间，
其中，所述第一开关单元308的一端与第一成盒制程测试端子306连接，所述第一成盒制程测试端子306与所述显示面板的所述显示区域301直接连接，所述第一开关单元308的另一端与第一阵列制程测试端子302连接；另外，所述第一配向信号输入端子304与所述第一阵列制程测试端子302连接；
所述第二开关单元309的一端与第二成盒制程测试端子307连接，所述第一成盒制程测试端子306与所述显示面板的所述显示区域301直接连接，所述第二开关单元309的另一端与第二阵列制程测试端子303连接；另外，第二配向信号输入端子305与所述第二阵列制程测试端子303连接；
除此之外，所述显示面板还包括至少两个输入端，所述第一开关单元308与所述第二开关单元309分别由不同的所述输入端所控制；其中，所述第一阵列制程测试端子302通过所述第一开关单元308与所述第一成盒制程测试端子306断开或连通，所述第二阵列制程测试端子303通过所述第二开关单元309与所述第二成盒制程测试端子307断开或连通；
所述第一开关单元308和所述第二开关单元309为使用P型金属氧化物半导体类型的薄膜晶体管或N型金属氧化物半导体类型的薄膜晶体管，根据输入端的高电压或者低电压打开或断开所述开关单元；在具体实施例中，所述输入端的数量由信号灯的数量所决定，一个输入端代表一个信号灯；
在本实施例中，如图3所述，所述显示基板的所述非显示区域包括：两个第一输入端310，两个第二输入端311，一个第三输入端312，一个第四输入端313；
其中，所述第一输入端310和所述第三输入端312与所述第一开关单元308的栅极电性连接，所述第一开关单元308由所述第一输入端310或所述第三输入端312所控制；例如，当所述第一开关单元308为N型金属氧化物半导体类型的薄膜晶体管时，所述第一开关单元308的源漏极的一端与所述第一阵列制程测试端子302或第一配向信号输入端子304电性连接，所述第一开关单元308的源漏极的另一端与所述第一成盒制程测试端子306电性连接；因此，所述第一阵列制程测试端子302通过所述第一开关单元308以及所述第一成盒制程测试端子306与所述显示面板的所述显示区域301直接连接；
所述第二输入端311和所述第四输入端313与所述第二开关单元309的栅极电性连接，所述第二开关单元309由所述第二输入端311和所述第四输入端313所控制；例如，当所述第二开关单元309为N型金属氧化物半导体类型的薄膜晶体管时，所述第二开关单元309的源漏极的一端与所述第二阵列制程测试端子303或第二配向信号输入端子305电性连接，所述第二开关单元309的源漏极的另一端与所述第二成盒制程测试端子307电性连接；因此，所述第二阵列制程测试端子303通过所述第二开关单元309以及所述第二成盒制程测试端子307与所述显示面板的所述显示区域301直接连接；
另外，所述第一输入端310和所述第三输入端312与所述第二输入端311和所述第四输入端313不相连；
在第一方向上，所述第一输入端310和所述第二输入端311与所述第一配向信号输入端子304和所述第二配向信号输入端子305并列设置，在第二方向上，所述第三输入端312和所述第四输入端313与所述第一阵列制程测试端子302和所述第二阵列制程测试端子303并列设置。
实施例一
如图3所示，在大型的液晶显示器中，配向信号输入端子位于所述显示面板中显示区域301的短边侧，每侧各有一组，相同信号间通过配向信号输入端走线连接；而阵列制程测试端子位于所述显示面板中显示区域301的长边侧的单侧，左右各有一组，分别与配向信号输入端走线上的相同信号线连接，并通过开关单元连接至成盒制程测试端子上，经过成盒制程测试端子与所述显示区域301电性连接；
所述第一开关单元308由所述第一输入端310或所述第三输入端312所控制，所述第二开关单元309由所述第二输入端311和所述第四输入端313所控制；所述第一开关单元308和所述第二开关单元309为使用P型金属氧化物半导体类型的薄膜晶体管或N型金属氧化物半导体类型的薄膜晶体管；在本实施例中，以所述开关单元均选择N型金属氧化物半导体类型的薄膜晶体管；
(1)HVA制程中，信号双侧输入检测
在第一输入端310和第二输入端311输入高电压，第三输入端312和第四输入端313没有输入电压；
此种情况下，所述第一开关单元308和所述第二开关单元309均处于打开状态，与图1所示的显示面板外围走线示意图类似，左右两侧的阵列制程测试端子都与配向信号输入端走线相连接，在HVA制程时，配向信号输入端上的信号可以通过所述第一开关单元308和所述第二开关单元309的源漏极直接传输至左右两侧的成盒制程测试端子，并同时传导至面内，信号较均匀，配向效果较好。
(2)阵列测试端单驱检测
当第一阵列制程测试端进行检测时，第三输入端312输入高电压，第四输入端313输入低电压，第一输入端310和第二输入端311没有输入电压，此种情况下，所述第一开关单元308处于打开状态，第二开关单元309处于闭合状态；当第二阵列制程测试端进行检测时，第四输入端313输入高电压，第三输入端312输入低电压，第一输入端310和第二输入端311没有输入电压，此种情况下，所述第二开关单元309处于打开状态，第一开关单元308处于闭合状态；
本方案可以实现阵列制程测试端子单驱检测，只有单侧的阵列制程测试端子与配向信号输入端走线相连，其中一个阵列制程测试端子通过与之对应开关单元的源漏极与成盒制程工艺测试端直接电性连接；另一侧的阵列制程测试端子因开关单元的闭合而呈短路状态，不进行工作；
因此，当第三输入端312和第四输入端313输入不同电压时，使得左右两侧的阵列制程测试端子互不连通，可实现阵列制程测试区域的单驱检测。
实施例二
如图4所示为本发明优选实施例二一种显示面板的外围走线示意图，与实施例一类似，但将输入端减少至两个，只有一个第三输入端412和一个第四输入端413，使得所述显示面板的布线更加简洁；
根据厂家自己的需要，也可以仅仅保留图3中的第一输入端310和第二输入端311；同理，具体数量根据实际需要去选择。
本发明在显示面板中的非显示区域中设置第一开关单元308、第二开关单元以及至少两个输入端，通过所述输入端对所述第一开关单元和所述第二开关单元的进行控制，以使所述显示面板能同时满足阵列制程测试区域的单驱检测以及配向信号输入端时信号的双侧输入，保证在显示面板生产过程中检测的准确性，实现利润的最大化。
本发明提出了一种显示面板，所述显示面板包括显示区域和非显示区域；其中，在所述非显示区域中设置了第一开关单元、第二开关单元以及至少两个输入端，通过所述输入端对所述第一开关单元和所述第二开关单元的进行控制，以使所述显示面板能同时满足阵列制程测试区域的单驱检测以及配向信号输入端时信号的双侧输入有效保证了所述显示面板在生产过程中对问题面板检测的准确性，提高了所述显示面板的良品率，降低了生产成本，实现了利润的最大化。
综上所述，虽然本发明已以优选实施例揭露如上，但上述优选实施例并非用以限制本发明，本领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与润饰，因此本发明的保护范围以权利要求界定的范围为准。
Claims (4)
1.一种显示面板，其特征在于，包括显示区域和围绕所述显示区域的非显示区域，所述非显示区域包括：
与所述显示区域相连接的第一成盒制程测试端子；
与所述第一成盒制程测试端子在第一方向上并列设置的第二成盒制程测试端子，所述第二成盒制程测试端子与所述显示区域相连接；
与所述第一成盒制程测试端子连接的第一开关单元；
与所述第一开关单元在所述第一方向上并列设置的第二开关单元，所述第二开关单元的一端与所述第二成盒制程测试端子连接；
与所述第一开关单元的另一端连接的第一阵列制程测试端子，与所述第二开关单元的另一端连接的第二阵列制程测试端子，所述第一阵列制程测试端子与所述第二阵列制程测试端子在所述第一方向上并列设置；
第一配向信号输入端子和第二配向信号输入端子，第一配向信号输入端子与所述第一阵列制程测试端子连接，第二配向信号输入端子与所述第二阵列制程测试端子连接；
两个第一输入端、两个第二输入端、一个第三输入端以及一个第四输入端，两个所述第一输入端和一个第三输入端与所述第一开关单元相连接，所述第一开关单元由所述第一输入端和所述第三输入端控制，所述第二开关单元由所述第二输入端和所述第四输入端所控制；
所述第一阵列制程测试端子通过所述第一开关单元与所述第一成盒制程测试端子断开或连通，所述第二阵列制程测试端子通过所述第二开关单元与所述第二成盒制程测试端子断开或连通；
其中，当所述第一输入端和所述第二输入端输入高电压，所述第三输入端和所述第四输入端没有输入电压时，所述第一开关单元和所述第二开关单元处于工作状态，所述显示面板进行配向制程检测；
当所述第一输入端和所述第二输入端没有输入电压，所述第三输入端输入高电压，所述第四输入端输入低电压时，所述第一开关单元处于工作状态，所述第二开关单元处于非工作状态，所述显示面板进行阵列制程检测。
2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，在第一方向上，所述第一输入端和所述第二输入端与所述第一配向信号输入端子和所述第二配向信号输入端子并列设置，在第二方向上，所述第三输入端和所述第四输入端与所述第一阵列制程测试端子和所述第二阵列制程测试端子并列设置。
3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一开关单元和所述第二开关单元为N型金属氧化物半导体类型的薄膜晶体管。
4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一阵列制程测试端子通过所述第一开关单元以及所述第一成盒制程测试端子与所述显示面板的所述显示区域连接；
所述第二阵列制程测试端子通过所述第二开关单元以及所述第二成盒制程测试端子与所述显示面板的所述显示区域连接。
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