CN108492758A - 一种测试控制电路及控制方法、显示基板、显示装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种测试控制电路及控制方法、显示基板、显示装置，涉及显示技术领域，以防止静电通过测试引线损坏显示面板内部的电子器件，从而保证显示装置显示正常。所述测试控制电路包括至少一个测试端子和至少一个测试引线，每个测试端子与对应的测试引线连接；每个测试引线上设有至少一个开关器件；测试引线处在检测状态，各个测试引线上的所有开关器件导通；测试引线处在非检测状态，各个测试引线上至少一个所述开关器件关断。所述显示基板包括上述技术方案所提的测试控制电路。本发明提供的测试控制电路及控制方法、显示基板、显示装置用于显示技术中。

Description

一种测试控制电路及控制方法、显示基板、显示装置

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种测试控制电路及方法、显示基板、显示装置。

背景技术

近年来，随着显示技术发展很快，显示面板的显示和制作水平有了很大的提升，其不仅具有良好的显示效果，而且还能够给用户提供比较好的使用体验。

而为了保证显示面板所显示的画面稳定性，一般在显示面板所包括的显示基板制作与测试端子连接的测试引线，以利用测试引线将测试端子所提供的测试信号传输至显示面板，用来检测显示面板的显示效果。但是，在显示面板制作过程中很容易产生静电，这些静电通过测试端子进入显示面板，导致显示面板内部电子器件损坏，使得显示面板出现显示异常等问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种测试控制电路及控制方法、显示基板、显示装置，以防止静电通过测试引线损坏显示面板内部的电子器件，从而保证显示装置显示正常。

为了实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种测试控制电路，包括至少一个测试端子和至少一个测试引线，至少一个测试端子与至少一个测试引线一一对应，每个所述测试端子与对应的测试引线连接；每个所述测试引线上设有至少一个开关器件；

所述测试引线处在检测状态，各个所述测试引线上的所有开关器件导通；所述测试引线处在非检测状态，各个所述测试引线上至少一个所述开关器件关断。

与现有技术相比，本发明提供的测试控制电路中，测试端子与对应测试引线连接，这使得测试端子通过测试引线间接与显示信号端子连接；而由于测试引线上设有至少一个开关器件，这使得测试引线处在非检测状态时，可控制测试引线上至少一个开关器件关断，这样在非检测状态，如果有外部静电通过测试端子进入测试引线，测试引线无法将外部静电传导至显示信号端子，这样就能够避免外部静电对显示面板内部电子器件的损坏，从而保证显示装置显示正常。

本发明还提供了一种测试控制方法，应用上述技术方案所述的测试控制电路，所述测试控制方法包括：

在信号测试前，控制至少一个测试引线上的至少一个开关器件关断，使得测试引线处在非检测状态；

在信号检测时，控制至少一个测试引线上所有的开关器件导通，使得至少一个测试引线处在检测状态；

利用至少一个测试端子向对应所述测试引线提供测试信号，至少一个测试引线将测试信号传输至显示面板，使得显示面板根据测试信号显示检测画面。

与现有技术相比，本发明提供的测试控制方法的有益效果与上述技术方案提供的测试控制电路的有益效果相同，在此不做赘述。

本发明还提供了一种显示基板，该显示基板包括上述技术方案提供的测试控制电路。

与现有技术相比，本发明提供的显示基板的有益效果与上述技术方案提供的测试控制电路的有益效果相同，在此不做赘述。

本发明还提供了一种显示装置，该显示装置包括上述技术方案所述的显示面板。

与现有技术相比，本发明提供的显示装置的有益效果与上述技术方案提供的测试控制电路的有益效果相同，在此不做赘述。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本发明的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1为本发明实施例提供的测试控制电路的结构示意图一；

图2为本发明实施例提供的测试控制电路的结构示意图二；

图3为本发明实施例中防静电电路的结构示意图；

图4为本发明实施例提供的测试控制方法的流程图；

附图标记：

1-测试引线， 10-耦合段；

11-第一开关器件， 12-第二开关器件；

2-防静电单元， 3-信号走线；

E1-第一使能开关电路， E2-第二使能开关电路；

K-信号控制端子， TP-测试端子；

TP1-第一测试端子， TP2-第二测试端子；

TP3-第三测试端子， TP4-第四测试端子；

TP5-第五测试端子， T1-第一NMOS管；

T2-第二NMOS管， T3-第三NMOS管；

T4-第四NMOS管， VGL-第一参考信号端子；

VGH-第二参考信号端子。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

如图1和图2所示，本发明实施例提供的测试控制电路可测试阵列基板、彩膜基板、OLED显示基板、触控基板等显示基板的显示信号，该测试控制电路包括至少一个测试端子TP和至少一个测试引线1，至少一个测试端子TP与至少一个测试引线1一一对应，每个测试端子TP与对应的测试引线1连接；每个测试引线1与一种显示信号端子连接；每个测试引线1上设有至少一个开关器件；当测试引线1处在检测状态，各个测试引线1上所有开关器件导通，保证至少一个测试端子TP所提供的测试信号可以通过对应的测试引线1传输至显示信号端子，以使得显示面板根据测试信号显示测试画面；测试引线1处在非检测状态，各测试引线1上至少一个开关器件关断，保证非检测状态下，外界静电不会对显示面板造成损害。

以显示面板为液晶显示面板为例：本发明实施例中外部静电可以是成盒工艺、模组化工艺以及信赖性过程所处环境、设备甚至制作人员所释放出的静电。例如：在显示面板点灯测试过程中，因环境、设备、人员等因素产生静电。

基于本发明实施例提供的测试控制电路的结构可知：测试端子TP与对应测试引线1连接，这使得测试端子TP通过测试引线1间接与显示信号端子连接；而由于测试引线1上设有至少一个开关器件，这使得测试引线1处在非检测状态时，可控制测试引线1上至少一个开关器件关断，这样在非检测状态，如果有外部静电通过测试端子TP进入测试引线1，测试引线1无法将外部静电传导至显示信号端子，这样就能够避免外部静电对显示面板内部电子器件的损坏，从而提高产品良率，保证显示面板显示正常。

而考虑到本发明实施例提供的测试控制电路中，如图1所示，如果至少一个测试引线1具有至少一个与信号走线3产生耦合电容的耦合段10，那么在每个耦合段10的两端各设置一个开关器件，以在非检测状态，通过控制耦合段10两端的开关器件关断，以切断耦合段10与其他电路之间的连接，从而避免耦合段10与信号走线3之间发生耦合互容，这样就能够减少测试引线1与信号走线3交叠所导致的显示不良(如画面颜色异常等)问题。

示例性的，图1示出的测试引线1具有一个耦合段10，该耦合段10的一端设有第一开关器件11，该耦合段10的另一端设有第二开关器件12。当检测状态，第一开关器件11和第二开关器件12处在导通状态，以使得测试端子TP所提供的测试通过测试引线1传送至显示面板。当非检测状态，第一开关器件11和第二开关器件12处在关断状态，以避免外部静电进入到耦合段10与信号走线3耦合互容。同时，如果显示面板内部的电子元件释放静电，也能够避免这些静电通过测试引线1到达耦合段10与信号走线3耦合互容。

需要说明的是，本发明实施例中开关器件可以为普通的机械开关，也可以为可控开关，如常见的MOS管、可控硅等。至于开关器件的数量，则可以根据实际情况设定。

其中，如图1和图2所示，若本发明实施例中开关器件为可控开关时，本发明实施例中测试控制电路还包括信号控制端子K，该信号控制端子K与至少一个测试引线1上的至少一个开关器件的控制端连接。

例如：当所有开关器件为NMOS管或NPN晶体管，如果要使得测试引线1处在检测状态，则通过信号控制端子K向所有NMOS管的栅极或NPN晶体管的栅极提供高电平，以控制NMOS管的栅极或NPN晶体管导通；如果要使得测试引线1处在非检测状态，则通过控制信号端子向其中一个NMOS管的栅极或NPN晶体管的栅极提供低电平或不提供信号，以控制NMOS管或NPN晶体管关断，从而防止外界静电进入显示面板，避免对显示面板造成不可修复性损伤。

而考虑到外部静电可以通过信号控制端子K传输至开关器件的控制端，使得开关器件在外部静电的作用下导通，导致外部静电可以通过测试端子TP以及与测试端子TP连接的测试走线进入到显示面板，使得显示面板的内部电子器件受到外部静电的干扰和破坏；基于此，如图1和图2所示，本发明实施例提供的测试控制电路还包括防静电单元2，测试端子TP通过防静电单元2与测试引线1连接；在这种情况下，可以通过防静电单元2泄放静电，以进一步保证显示面板免受外部静电的干扰。同时，也能够避免在不需要显示画面时，如果开关器件在外部静电的作用下导通，那么防静电单元2也能够通过泄放静电，这样就能够边外部静电进入到测试引线1，以杜绝测试引线1所具有的耦合段10与信号走线3产生耦合电容。

至于上述防静电单元2的结构，则是多种多样，具体的，如图3所示，本发明实施例中防静电单元2包括第一使能开关电路E1和第二使能开关电路E2，至少一个测试端子TP分别与第一使能开关电路E1的输入端和第二使能开关电路E2的输入端连接，第一使能开关电路E1的输出端与第一参考电压端子连接，第二使能开关电路E2的输出端与第二参考电压端子连接；第一参考电压端子所提供的第一参考电压U_VGL小于第二参考电压端子所提供的第二参考电压U_VGH，第一参考电压端子和第二参考电压端子可以根据实际测试静电电压提供相应大小的电压，但无论如何应当保证当静电电压小于0，U_s-U_VGL＞0，第一使能开关电路E1泄放静电；当静电电压大于0，U_s-U_VGH＞0，第二使能开关电路E2泄放静电，在这种情况下，第一参考电压端子所提供的第一参考电压小于第二参考电压端子所提供的第二参考电压。

由此可见，本发明实施例中通过限定防静电单元2包括第一使能开关电路E1和第二使能开关电路E2，并使得第一使能开关电路E1的输出端与第一参考电压端子连接，第二使能开关电路E2的输出端与第二参考电压端子连接，而实现静电泄放则是利用第一参考电压端子所接入的第一参考电压和第二参考电压端子所接入的第二参考电压与所引入的外部静电的电压大小差异，以通过第一使能开关电路E1或第二使能开关电路E2泄放外部静电，从而拉低测试引线1中外部静电的电压，实现对显示面板的保护。

进一步，如图3所示，本发明实施例中第一使能开关电路E1包括依次串联的多个第一晶体管，任意相邻两个第一晶体管中，其中一个第一晶体管的输出端与相邻的第一晶体管的输入端连接；第二使能开关电路E2包括依次串联的多个第二晶体管，任意相邻两个第二晶体管中，其中一个第二晶体管的输出端与相邻的第二晶体管的输入端连接。

依次串联的多个第一晶体管中，位于第一位的第一晶体管定义为首端第一晶体管，位于最后一位的第一晶体管定义为末端第一晶体管；同理，依次串联的多个第二晶体管中，位于第一位的第一晶体管定义为首端第二晶体管，位于最后一位的第二晶体管定义为末端第二晶体管。

其中，至少一个测试端子TP分别与首端第一晶体管的输入端和首端第二晶体管的输出端连接，第一参考信号端子VGL与末端第一晶体管的输出端连接，每个第一晶体管的控制端与输处端连接，每个第二晶体管的控制端和输出端连接，至于其工作原理，则为现有技术在此不做赘述。其中，第一晶体管和第二晶体管的种类可以根据实际情况决定，

示例性的，如图3所示，本发明实施例中测试端子TP的数量为一个，第一使能开关电路E1包括第一NMOS管T1和第二NMOS管T2，第二使能开关电路E2包括第三NMOS管T3和第四NMOS管T4，测试端子TP分别与第二NMOS管T2的源极连接和第三NMOS管T3的漏极连接。

第二NMOS管T2的栅极与第二NMOS的漏极连接，第二NMOS管T2的漏极与第一NMOS管T1的源极连接，第一NMOS管T1的栅极与第一NMOS管T1的漏极连接，第一NMOS管T1的漏极与第一参考信号端子VGL连接。

第三NMOS管T3的栅极与第三NMOS管T3的漏极连接，第三NMOS管T3的源极与第四NMOS管T4的漏极连接，第四NMOS管T4的栅极与第四NMOS管T4的漏极连接，第四NMOS管T4的源极与第二参考信号端子VGH连接。

第一参考信号端子VGL提供的第一参考电压一般为-7.5～-10V，第二参考信号端子VGH提供的第二参考电压为5V～20V。

测试端子TP所引入的静电电压U_S大于0时，U_s-U_VGH＞0，因此，静电可通过第三NMOS管T3和第四NMOS管T4反向泄放。

测试端子TP所引入的静电电压U_S小于0时，U_s-U_VGL＞0，且U_s-U_VGH＜0，因此，静电通过第二NMOS管T2和第一NMOS管T1正向泄放。

最后需要强调的是，本发明实施例中不管是测试端子TP，还是信号控制端子K，均是以接线焊盘的形式设在显示基板的边框区域，且测试端子TP的数量根据所测试信号的数量设定。

图2示出了5个测试端子TP，分别为第一测试端子TP1、第二测试端子TP2、第三测试端子TP3、第四测试端子TP4和第五测试端子TP5，第一测试端子TP1、第二测试端子TP2、第三测试端子TP3、第四测试端子TP4和第五测试端子TP5均与防静电单元2连接，然后与对应测试引线1连接，且每个测试引线1上所设置的开关器件受到信号控制端子K所提供的控制信号控制。

如图4所示，本发明实施例还提供了一种测试控制方法，应用上述实施例提供的测试控制电路，该测试控制方法包括：

步骤S100：在信号测试前，控制至少一个测试引线1上的至少一个开关器件关断，使得至少一个测试引线1处在非检测状态；

步骤S200：在信号检测时，控制至少一个测试引线1上所有的开关器件导通，使得至少一个测试引线1处在检测状态；

步骤S300：利用至少一个测试端子TP向对应测试引线1提供测试信号，至少一个测试引线1将测试信号传输至显示面板，使得显示面板根据测试信号显示检测画面。

与现有技术相比，本发明实施例提供的测试控制方法的有益效果与上述实施例提供的测试控制电路的有益效果相同，在此不做赘述。

如图1～图3所示，当本发明实施例提供到的测试控制电路还包括防静电单元2，所述防静电单元2包括第一使能开关电路E1和第二使能开关电路E2；在信号测试前，信号控制端子K引入静电，该测试控制方法还包括：

当静电电压U_s小于0，U_s-U_VGL＞0，第一使能开关电路E1泄放静电；

当静电电压U_s大于0，U_s-U_VGH＞0，第二使能开关电路E2泄放静电。

本发明实施例还提供了一种显示基板，该显示基板包括上述实施例提供的测试控制电路。

与现有技术相比，本发明提供的显示基板的有益效果与上述实施例提供的测试控制电路的有益效果相同，在此不做赘述。

其中，测试控制电路一般设在显示基板的边框区域，测试控制电路所包括的至少一条测试引线1与对应所需要测试的信号的显示信号端子连接。显示基板可以为阵列基板、彩膜基板、OLED显示基板、触控基板等显示基板。

本发明实施例还提供了一种显示装置，该显示装置包括上述实施例提供的显示基板。

与现有技术相比，本发明实施例提供的显示装置的有益效果与上述技术方案提供的测试控制电路的有益效果相同，在此不做赘述。

其中，上述实施例提供的显示装置可以为手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框或导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。

在上述实施方式的描述中，具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种测试控制电路，包括至少一个测试端子和至少一个测试引线，至少一个测试端子与至少一个测试引线一一对应，每个所述测试端子与对应的测试引线连接；其特征在于，每个所述测试引线上设有至少一个开关器件；

所述测试引线处在检测状态，各个所述测试引线上的所有开关器件导通；所述测试引线处在非检测状态，各个所述测试引线上至少一个所述开关器件关断。

2.根据权利要求1所述的测试控制电路，其特征在于，至少一个所述测试引线包括至少一个与信号走线产生耦合电容的耦合段，每个所述耦合段的两端各连接一个所述开关器件。

3.根据权利要求1所述的测试控制电路，其特征在于，所述测试控制电路还包括信号控制端子，所述信号控制端子与至少一个所述测试引线上的至少一个所述开关器件的控制端连接。

4.根据权利要求1～3任一项所述的测试控制电路，其特征在于，所述测试控制电路还包括防静电单元，至少一个所述测试端子分别通过所述防静电单元与所述测试引线连接。

5.根据权利要求4所述的测试控制电路，其特征在于，所述防静电单元包括第一使能开关电路和第二使能开关电路；至少一个所述测试端子分别与所述第一使能开关电路的输入端和所述第二使能开关电路的输入端连接，所述第一使能开关电路的输出端与第一参考电压端子连接，所述第二使能开关电路的输出端与第二参考电压端子连接；所述第一参考电压端子所提供的第一参考电压U_VGL小于所述第二参考电压端子所提供的第二参考电压U_VGH；

当静电电压U_S小于0，U_s-U_VGL＞0，所述第一使能开关电路泄放静电；

当静电电压U_S大于0，U_s-U_VGH＞0，所述第二使能开关电路泄放静电。

6.根据权利要求5所述的测试控制电路，其特征在于，所述第一使能开关电路包括依次串联的多个第一晶体管，所述第二使能开关电路包括依次串联的多个第二晶体管；

至少一个所述测试端子分别与首端第一晶体管的输入端和首端第二晶体管的输出端连接，所述第一参考信号端子与末端第一晶体管的输出端连接，所述第二参考信号端子与末端第二晶体管的输入端连接；每个所述第一晶体管的控制端与输处端连接，每个所述第二晶体管的控制端和输出端连接。

7.一种测试控制方法，其特征在于，应用权利要求1～6任一项所述的测试控制电路，所述测试控制方法包括：

在信号测试前，控制至少一个测试引线上的至少一个开关器件关断，使得测试引线处在非检测状态；

在信号检测时，控制至少一个测试引线上所有的开关器件导通，使得至少一个测试引线处在检测状态；

利用至少一个测试端子向对应所述测试引线提供测试信号，至少一个测试引线将测试信号传输至显示面板，使得显示面板根据测试信号显示检测画面。

8.根据权利要求7所述的测试控制方法，其特征在于，当所述测试控制电路还包括防静电单元，所述防静电单元包括第一使能开关电路和第二使能开关电路；在信号测试前，所述信号控制端子引入静电，所述测试控制方法还包括：

当静电电压U_s小于0，U_s-U_VGL＞0，所述第一使能开关电路泄放静电；

当静电电压U_s大于0，U_s-U_VGH＞0，所述第二使能开关电路泄放静电。

9.一种显示基板，其特征在于，包括至少一个权利要求1～6任一项所述测试控制电路。

10.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求9所述的显示面板。