CN110875001A - 测试电路、显示基板、显示面板及测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种测试电路、显示基板、显示面板及测试方法，涉及显示技术领域，该显示面板可以在无需去除芯片的情况下，完成VT曲线测试，极大降低了生产成本。一种测试电路包括：第一测试端、控制单元、第一开关、第二开关；第一开关连接芯片，用于控制芯片的显示信号；第一测试端连接第二开关，用于传输第一测试信号；第一开关和第二开关分别连接数据线；控制单元分别连接第一开关和第二开关，用于在测试阶段，关闭第一开关、打开第二开关，使得第一测试信号传输至数据线；还用于在显示阶段，打开第一开关、关闭第二开关，使得显示信号传输至数据线。本发明适用于测试电路的制作。

Description

测试电路、显示基板、显示面板及测试方法

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种测试电路、显示基板、显示面板及测试方法。

背景技术

液晶显示器的工作原理是利用液晶的光电特性，实现液晶显示面板透过率的变化，进而实现亮度的变化。信号电压与显示面板透过率之间的关系曲线，即电压-透过率曲线(VT曲线)是衡量液晶显示面板光学特性的重要评价指标。

目前，各种实现电压-透过率曲线测试的方案，均需要破坏液晶显示面板结构，这会造成液晶显示面板的浪费。采用COG(Chip On Glass，芯片绑定在玻璃上)方式封装IC(Integrated Circuit，集成电路)的液晶显示面板，测试VT曲线时，参考图1所示，需要将芯片100从基板101上去除。若该液晶显示面板需要修复，则必须采用Rework(再加工)工序对IC重新绑定。这无疑增加了一道新的生产工序，提高了生产成本。

发明内容

本发明的实施例提供一种测试电路、显示基板、显示面板及测试方法，该显示面板可以在无需去除芯片的情况下，完成VT曲线测试，相比现有技术，无需新增生产工序，从而极大降低了生产成本。

为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：

一方面，提供了一种测试电路，应用于显示基板，所述显示基板包括：芯片和数据线；所述测试电路包括：第一测试端、控制单元、第一开关、第二开关；

所述第一开关连接所述芯片，用于控制所述芯片的显示信号；

所述第一测试端连接所述第二开关，用于传输第一测试信号；

所述第一开关和所述第二开关分别连接所述数据线；

所述控制单元分别连接所述第一开关和所述第二开关，用于在测试阶段，关闭第一开关、打开第二开关，以使得所述第一测试信号传输至所述数据线；还用于在显示阶段，打开第一开关、关闭第二开关，以使得所述显示信号传输至所述数据线。

可选的，所述测试电路还包括：第二测试端；

所述控制单元包括：第一薄膜晶体管、第二薄膜晶体管、第一信号端和第二信号端，所述第一开关为第三薄膜晶体管，所述第二开关为第四薄膜晶体管；

所述第一薄膜晶体管的栅极连接源极、源极连接所述第一信号端、漏极连接第一节点；

所述第二薄膜晶体管的栅极连接第三节点、源极连接所述第一节点、漏极连接所述第二信号端；

所述第三薄膜晶体管的栅极连接所述第一节点、源极连接所述芯片、漏极连接第二节点；

所述第四薄膜晶体管的栅极连接所述第三节点、源极连接所述第一测试端、漏极连接所述第二节点；

所述第二测试端连接所述第三节点；

所述第二节点连接所述数据线。

可选的，所述测试电路还包括：信号发生器，分别连接所述第一测试端、所述第二测试端、所述第一信号端和所述第二信号端；

所述信号发生器用于向所述第一测试端提供所述第一测试信号、向所述第二测试端提供第二测试信号、向所述第一信号端提供第一信号、向所述第二信号端提供第二信号。

可选的，所述第一薄膜晶体管、所述第二薄膜晶体管、所述第三薄膜晶体管、所述第四薄膜晶体管均为N型薄膜晶体管或者P型薄膜晶体管。

可选的，所述显示基板还包括：数据线引线，所述第一开关和所述第二开关通过所述数据线引线分别连接所述数据线。

本发明的实施例提供了一种测试电路，应用于显示基板，所述显示基板包括：芯片和数据线；所述测试电路包括：第一测试端、控制单元、第一开关、第二开关；所述第一开关连接所述芯片，用于控制所述芯片的显示信号；所述第一测试端连接所述第二开关，用于传输第一测试信号；所述第一开关和所述第二开关分别连接所述数据线；所述控制单元分别连接所述第一开关和所述第二开关，用于在测试阶段，关闭第一开关、打开第二开关，以使得所述第一测试信号传输至所述数据线；还用于在显示阶段，打开第一开关、关闭第二开关，以使得所述显示信号传输至所述数据线。

那么，包括上述测试电路的显示面板需要测试电压-透过率特性时，可以直接在第一测试端施加第一测试信号，控制单元关闭第一开关、打开第二开关。这样，第一测试信号可以传输至数据线，而数据线与显示面板的子像素相连，此时，子像素可以实现显示。测试显示面板的亮度或者透过率，从而可以得到电压-透过率曲线。包括上述测试电路的显示面板需要正常显示时，芯片输出显示信号，控制单元打开第一开关、关闭第二开关。这样，显示信号可以传输至数据线，而数据线与显示面板的子像素相连，子像素可以显示不同的亮度，即显示面板可以正常显示。通过设置上述测试电路，显示面板可以在无需去除芯片的情况下，完成VT曲线测试，相比现有技术，无需新增生产工序，从而极大降低了生产成本。

另一方面，提供了一种显示基板，包括上述所述的测试电路。

本发明的实施例提供了一种显示基板，包括该显示基板的显示面板可以在无需去除芯片的情况下，完成VT曲线测试，相比现有技术，无需新增生产工序，从而极大降低了生产成本。

又一方面，提供了一种显示面板，包括上述所述的显示基板。

本发明的实施例提供了一种显示面板，该显示面板可以在无需去除芯片的情况下，完成VT曲线测试，相比现有技术，无需新增生产工序，从而极大降低了生产成本。

再一方面，提供了一种测试方法，应用于显示面板，所述显示面板包括上述测试电路和多个阵列排布的子像素，所述方法包括：

在测试阶段，分别向测试电路的第一测试端输入第一测试信号、第二测试端输入高电平信号、第一信号端输入高电平信号、第二信号端输入低电平信号，以使得所述第一测试信号传输至数据线、与所述数据线相连的所述子像素显示不同的亮度；

检测所述显示面板的亮度或者透过率，得到电压透过率曲线。

可选的，所述第一测试信号的电压值从0增大至M，M为第一电压阈值。

可选的，所述方法还包括：

在显示阶段，分别向所述测试电路的所述第二测试端输入低电平信号、所述第一信号端输入高电平信号、所述第二信号端输入低电平信号、第三薄膜晶体管的源极输入显示信号，以使得所述显示信号传输至所述数据线、与所述数据线相连的所述子像素显示不同的亮度。

本发明的实施例提供了一种测试方法，该测试方法在无需去除芯片的情况下，即可完成VT曲线测试，简单易实现，且不破坏显示面板，极大降低了生产成本。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图；

图2为本发明实施例提供的一种测试电路的结构示意图；

图3为本发明实施例提供的另一种测试电路的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

为了便于清楚描述本发明实施例的技术方案，在本发明的实施例中，采用了“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等字样对功能和作用基本相同的相同项或相似项进行区分，本领域技术人员可以理解“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等字样并不对数量和执行次序进行限定。

实施例一

本发明实施例提供了一种测试电路，应用于显示基板，显示基板包括：芯片和数据线；参考图2所示，该测试电路包括：第一测试端5、控制单元4、第一开关1、第二开关2。

第一开关1连接芯片3，用于控制芯片3的显示信号。

第一测试端5连接第二开关2，用于传输第一测试信号。

第一开关1和第二开关2分别连接数据线6。

控制单元4分别连接第一开关1和第二开关2，用于在测试阶段，关闭第一开关、打开第二开关，以使得第一测试信号传输至数据线；还用于在显示阶段，打开第一开关、关闭第二开关，以使得显示信号传输至数据线。

这里对于第一开关、第二开关和控制单元的具体结构不做限定，只要能够满足相应要求即可。

上述显示基板包括显示区(Active Area，AA区)和包围显示区的非显示区。非显示区包括引线区(Fanout区)和端子区(Pad区)。其中，显示区用于实现显示，引线区用于归集显示区的金属线，端子区用于实现引线区和驱动芯片等电路结构的电连接。上述测试电路可以位于端子区，并设置在芯片和数据线之间。

上述显示基板还可以包括多个阵列排布的子像素，参考图2所示，数据线6与子像素7相连，当数据线向子像素传输信号后，子像素可以显示不同的亮度。这里对于上述芯片的封装形式不做限定，其可以采用COG方式，还可以采用COF(Chip On Film，覆晶薄膜)等方式。

本发明的实施例提供了一种测试电路，包括上述测试电路的显示面板需要测试电压-透过率特性时，可以直接在第一测试端施加第一测试信号，控制单元关闭第一开关、打开第二开关。这样，第一测试信号可以传输至数据线，而数据线与显示面板的子像素相连，此时，子像素可以实现显示。测试显示面板的亮度或者透过率，从而可以得到电压-透过率曲线。包括上述测试电路的显示面板需要正常显示时，芯片输出显示信号，控制单元打开第一开关、关闭第二开关。这样，显示信号可以传输至数据线，而数据线与显示面板的子像素相连，子像素可以显示不同的亮度，即显示面板可以正常显示。通过设置上述测试电路，显示面板可以在无需去除芯片的情况下，完成VT曲线测试，相比现有技术，无需新增生产工序，从而极大降低了生产成本。

下面提供一种具体的测试电路，该测试电路结构简单、成本低。参考图3所示，该测试电路还包括：第二测试端8。

控制单元4包括：第一薄膜晶体管11、第二薄膜晶体管12、第一信号端15和第二信号端16，第一开关为第三薄膜晶体管13，第二开关为第四薄膜晶体管14。

第一薄膜晶体管11的栅极G连接源极S、源极S连接第一信号端15、漏极D连接第一节点N1。

第二薄膜晶体管12的栅极G连接第三节点N3、源极S连接第一节点N1、漏极D连接第二信号端16。

第三薄膜晶体管13的栅极G连接第一节点N1、源极S连接芯片3、漏极D连接第二节点N2。

第四薄膜晶体管14的栅极G连接第三节点N3、源极S连接第一测试端5、漏极D连接第二节点N2。

第二测试端8连接第三节点N3。

第二节点N2连接数据线6。

这里需要说明的是，薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)是一种场效应管，包括栅极G、源极S和漏极D，可作为一种控制开关使用。这里对于薄膜晶体管的类型不做限定，其可以是N型薄膜晶体管，也可以是P型薄膜晶体管。另外，上述第一节点N1、第二节点N2、第三节点N3只是为了便于描述电路结构而定义的，第一节点N1、第二节点N2、第三节点N3不是一个实际的电路单元。

为了便于描述，将第一薄膜晶体管、第二薄膜晶体管、第三薄膜晶体管、第四薄膜晶体管分别简称为M1、M2、M3、M4。下面以M1、M2、M3、M4均为N型薄膜晶体管为例，说明图3所示的测试电路的工作原理。

在测试阶段，第一测试端5施加第一测试信号，第二测试端8施加高电平信号，第一信号端15施加高电平信号VGH，第二信号端16施加低电平信号VGL。此时，M2的栅极G与第二测试端8相连，为高电平，M2打开。而M2的漏极D连接第二信号端，为低电平；这样，M3的栅极G电压被拉至低电平，M3关闭，则芯片3输出的显示信号无法通过M3进入数据线6。M4的栅极G与第二测试端8相连，为高电平，M4打开。那么，来自第一测试端5的第一测试信号可以通过M4进入数据线(Data线)6。而数据线与显示面板的子像素相连，此时，子像素可以实现显示。在此情况下，调整第一测试端5的信号电压值，从0V逐渐增大到一定电压值，保持第二测试端8为高电平，同时测量显示面板的亮度或者透过率，便可以得到电压-透过率测试曲线。

在显示阶段，第一测试端5未施加信号，第二测试端8施加低电平信号，第一信号端15施加高电平信号VGH，第二信号端16施加低电平信号VGL。此时，M1的栅极G与源极S均为高电平，M1打开(即M1处于开态)；M2的栅极G与第二测试端8相连，为低电平，M2关闭。M1打开、M2关闭，则M1的漏极D输出高电平，M3的栅极G为高电平，M3打开。M4的栅极G与第二测试端8相连，为低电平，M4关闭。那么，芯片3(例如：Source IC)输出的显示信号通过M3进入数据线6，而数据线与显示面板的子像素相连，子像素显示不同的亮度，即显示面板可以正常显示。

可选的，为了向各端子提供信号，上述测试电路还包括：信号发生器，分别连接第一测试端、第二测试端、第一信号端和第二信号端。

信号发生器用于向第一测试端提供第一测试信号、向第二测试端提供第二测试信号、向第一信号端提供第一信号、向第二信号端提供第二信号。

这里对于信号发生器的型号不做限定，具体根据实际情况而定。

可选的，上述第一薄膜晶体管、第二薄膜晶体管、第三薄膜晶体管、第四薄膜晶体管均为N型薄膜晶体管或者P型薄膜晶体管。在实际应用中，N型薄膜晶体管输入高电平导通，P型薄膜晶体管输入低电平导通。

可选的，上述显示基板还包括：数据线引线，第一开关和第二开关通过数据线引线分别连接数据线。数据线引线一般设置在Fanout区。

实施例二

本发明实施例提供了一种显示基板，包括实施例一的测试电路。

上述测试电路可以与显示基板的其它膜层一同制作，不会额外增加生产工序，成本低。包括该显示基板的显示面板可以在无需去除芯片的情况下，完成VT曲线测试，相比现有技术，无需新增生产工序，从而极大降低了生产成本。

实施例三

本发明实施例提供了一种显示面板，包括实施例二的显示基板。

该显示面板还可以包括第一基板，第一基板和显示基板之间设置液晶，对盒后可以形成液晶显示面板。此时，第一基板可以是彩膜基板，显示基板可以是阵列基板。当然，上述显示面板还可以是其它类型的显示面板。只要是需要测试VT特性的显示面板，都在本发明的保护范围内。

本发明的实施例提供了一种显示面板，该显示面板可以在无需去除芯片的情况下，完成VT曲线测试，相比现有技术，无需新增生产工序，从而极大降低了生产成本。

实施例四

本发明实施例提供了一种测试方法，应用于显示面板，显示面板包括图3所述的测试电路和多个阵列排布的子像素，该方法包括：

S01、在测试阶段，分别向测试电路的第一测试端输入第一测试信号、第二测试端输入高电平信号、第一信号端输入高电平信号、第二信号端输入低电平信号，以使得第一测试信号传输至数据线、与数据线相连的子像素显示不同的亮度。

S02、检测显示面板的亮度或者透过率，得到电压透过率曲线。

需要说明的是，透过率的变化会直接影响亮度的变化，而亮度容易测量，因此可通过测量电压亮度曲线，进而得到电压透过率曲线。

本发明的实施例提供了一种测试方法，该测试方法在无需去除芯片的情况下，即可完成VT曲线测试，简单易实现，且不破坏显示面板，极大降低了生产成本。

可选的，第一测试信号的电压值从0增大至M，M为第一电压阈值。这里M的具体值需要根据实际的显示面板确定，这里不做具体限定。

可选的，该方法还包括：

S03、在显示阶段，分别向测试电路的第二测试端输入低电平信号、第一信号端输入高电平信号、第二信号端输入低电平信号、第三薄膜晶体管的源极输入显示信号，以使得显示信号传输至数据线、与数据线相连的子像素显示不同的亮度。这样，在不需要进行测试的时候，显示面板可以正常显示。

需要说明的是，本实施例中有关测试电路的相关内容可以参考实施例一，这里不再赘述。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种测试电路，应用于显示基板，所述显示基板包括：芯片和数据线；其特征在于，所述测试电路包括：第一测试端、控制单元、第一开关、第二开关；

所述第一开关连接所述芯片，用于控制所述芯片的显示信号；

所述第一测试端连接所述第二开关，用于传输第一测试信号；

所述第一开关和所述第二开关分别连接所述数据线；

所述控制单元分别连接所述第一开关和所述第二开关，用于在测试阶段，关闭第一开关、打开第二开关，以使得所述第一测试信号传输至所述数据线；还用于在显示阶段，打开第一开关、关闭第二开关，以使得所述显示信号传输至所述数据线。

2.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，

所述测试电路还包括：第二测试端；

所述控制单元包括：第一薄膜晶体管、第二薄膜晶体管、第一信号端和第二信号端，所述第一开关为第三薄膜晶体管，所述第二开关为第四薄膜晶体管；

所述第一薄膜晶体管的栅极连接源极、源极连接所述第一信号端、漏极连接第一节点；

所述第二薄膜晶体管的栅极连接第三节点、源极连接所述第一节点、漏极连接所述第二信号端；

所述第三薄膜晶体管的栅极连接所述第一节点、源极连接所述芯片、漏极连接第二节点；

所述第四薄膜晶体管的栅极连接所述第三节点、源极连接所述第一测试端、漏极连接所述第二节点；

所述第二测试端连接所述第三节点；

所述第二节点连接所述数据线。

3.根据权利要求2所述的测试电路，其特征在于，所述测试电路还包括：信号发生器，分别连接所述第一测试端、所述第二测试端、所述第一信号端和所述第二信号端；

所述信号发生器用于向所述第一测试端提供所述第一测试信号、向所述第二测试端提供第二测试信号、向所述第一信号端提供第一信号、向所述第二信号端提供第二信号。

4.根据权利要求2所述的测试电路，其特征在于，所述第一薄膜晶体管、所述第二薄膜晶体管、所述第三薄膜晶体管、所述第四薄膜晶体管均为N型薄膜晶体管或者P型薄膜晶体管。

5.根据权利要求1-4任一项所述的测试电路，其特征在于，所述显示基板还包括：数据线引线，所述第一开关和所述第二开关通过所述数据线引线分别连接所述数据线。

6.一种显示基板，其特征在于，包括：权利要求1-5任一项所述的测试电路。

7.一种显示面板，其特征在于，包括：权利要求6所述的显示基板。

8.一种测试方法，应用于显示面板，所述显示面板包括权利要求2所述的测试电路和多个阵列排布的子像素，其特征在于，所述方法包括：

在测试阶段，分别向测试电路的第一测试端输入第一测试信号、第二测试端输入高电平信号、第一信号端输入高电平信号、第二信号端输入低电平信号，以使得所述第一测试信号传输至数据线、与所述数据线相连的所述子像素显示不同的亮度；

检测所述显示面板的亮度或者透过率，得到电压透过率曲线。

9.根据权利要求8所述的测试方法，其特征在于，所述第一测试信号的电压值从0增大至M，M为第一电压阈值。

10.根据权利要求8所述的测试方法，其特征在于，所述方法还包括：

在显示阶段，分别向所述测试电路的所述第二测试端输入低电平信号、所述第一信号端输入高电平信号、所述第二信号端输入低电平信号、第三薄膜晶体管的源极输入显示信号，以使得所述显示信号传输至所述数据线、与所述数据线相连的所述子像素显示不同的亮度。

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