CN104835435B - 一种液晶模块的测试方法及测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明的实施例提供一种液晶模块的测试方法及测试装置，涉及显示技术领域，能够提高对液晶模块测试的准确性。具体方案为：加载待测的液晶模块，所述液晶模块包括测试电路单元，所述测试电路单元的驱动信号端与所述液晶模块内的驱动信号线连接；驱动所述液晶模块工作，在工作时间达到预设时长后，切断所述测试电路单元的驱动信号端与所述液晶模块内的驱动信号线之间的连接；向所述液晶模块输入激励信号，所述激励信号用于测试所述测试电路单元的特性参数；从所述液晶模块接收反馈信号，所述反馈信号为所述测试电路单元对所述激励信号的响应信号。本发明应用于显示器的制造。

Description

一种液晶模块的测试方法及测试装置

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种液晶模块的测试方法及测试装置。

背景技术

在液晶显示屏生产中，通常需要对液晶模块进行各种测试，例如最为常见的老化测试(英文：Stress Test)等。在测试中通过测试信号模拟液晶模块在正常显示时的各种工作状态，并进一步得到液晶模块内部结构单元的各种特性参数，从而对液晶模块的可靠性、有效工作寿命等进行评估。

为了进行测试，液晶模块上通常设有测试电路单元。现有技术中通常采用信号发生器提供测试信号，以完成测试。

当被测液晶模块未与外部的信号发生器连接时，测试电路单元的驱动信号端悬空。在通过信号发生器加载测试信号时，测试结果往往因为实际加载的测试信号不同而不同。为得到可靠的测试结果，需要测试信号尽可能地模拟液晶模块在实际工作状态下各种结构单元所接收到的信号。然而，信号发生器可能并不能很好地模拟实际工作状态下的各种信号，尤其对于高频信号，信号发生器可能并不能够输出满足测试要求的信号，再者，信号发生器输出的测试信号容易受实际测试环境中各种干扰的影响，使得测试结果缺乏准确性，进而影响对产品可靠性的评估。

发明内容

本发明的实施例提供一种液晶模块的测试方法及测试装置，能够提高对液晶模块测试的准确性。

为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：

一方面，一种液晶模块的测试方法，包括：

加载待测的液晶模块，所述液晶模块包括测试电路单元，所述测试电路单元的驱动信号端与所述液晶模块内的驱动信号线连接；

驱动所述液晶模块工作，在工作时间达到预设时长后，切断所述测试电路单元的驱动信号端与所述液晶模块内的驱动信号线之间的连接；

向所述液晶模块输入激励信号，所述激励信号用于测试所述测试电路单元的特性参数；

从所述液晶模块接收反馈信号，所述反馈信号为所述测试电路单元对所述激励信号的响应信号。

可选的，所述切断所述测试电路单元的驱动信号端与所述液晶模块内的驱动信号线之间的连接，包括：

通过激光刻蚀切断所述测试电路单元的驱动信号端与所述液晶模块内的驱动信号线之间的连接。

可选的，所述测试电路单元包括GOA基本单元、多路复用MUX单元、像素单元或者静电释放ESD单元中的至少一种。

可选的，所述驱动信号线包括时钟CLK信号线、高电平VGH信号线、低电平VGL信号线、多路复用MUX信号线、栅极Gate信号线或者源极Source信号线中的至少一种。

可选的，所述方法还包括：

根据所述激励信号和反馈信号输出所述测试电路单元的特性参数曲线。

一方面，一种液晶模块的测试装置，包括：

加载模块，用于加载待测的液晶模块，所述液晶模块包括测试电路单元，所述测试电路单元的驱动信号端与所述液晶模块内的驱动信号线连接；

所述加载模块，还用于驱动所述液晶模块工作；

分割模块，用于在所述液晶模块的工作时间达到预设时长后，切断所述测试电路单元的驱动信号端与所述液晶模块内的驱动信号线之间的连接；

特性参数测试模块，用于向所述液晶模块输入激励信号，并从所述液晶模块接收反馈信号；所述激励信号用于测试所述测试电路单元的特性参数，所述反馈信号为所述测试电路单元对所述激励信号的响应信号。

可选的，所述分割模块，具体用于在所述液晶模块的工作时间达到预设时长后，通过激光刻蚀切断所述测试电路单元的驱动信号端与所述液晶模块内的驱动信号线之间的连接。

可选的，所述特性参数测试模块，具体用于向GOA基本单元、多路复用MUX单元、像素单元或者静电释放ESD单元中的任一种测试电路单元，输入所述激励信号，并接收所述反馈信号。

可选的，所述测试装置还包括输出模块，用于根据所述激励信号和反馈信号输出所述测试电路单元的特性参数曲线。

本发明的实施例提供的液晶模块的测试方法，将液晶模块内部的驱动信号作为测试信号，输入测试电路单元的驱动信号端，驱动测试电路单元，因此无需外接信号发生器向测试电路单元输入测试信号。由于测试信号完全是液晶模块内部的真实信号，相比通过由信号发生器输入模拟信号进行测试的方式，无需考虑模拟信号是否接近真实信号，也避免了测试环境对模拟信号所造成的各种干扰，因此提高了对液晶模块测试的准确性。进一步地，根据测试结果对液晶模块可靠性、有效工作寿命等的评估，也更接近真实情况。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明的实施例一所提供的液晶模块的测试方法流程示意图；

图2为本发明的实施例二所提供的液晶模块的测试方法流程示意图；

图3为本发明的实施例二中测试电路单元为GOA电路中MOS晶体管的说明示意图；

图4为本发明的实施例二中测试电路单元为MUX单元的说明示意图；

图5为本发明的实施例二中测试电路单元为像素单元的说明示意图；

图6为本发明的实施例二中测试电路单元为ESD单元的说明示意图；

图7为本发明的实施例二中测试电路单元为GOA电路中反相器单元的说明示意图；

图8为本发明的实施例三所提供的一种液晶模块的测试装置的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明的实施例提供一种液晶模块的测试方法及测试装置，用于对液晶模块进行测试。在液晶显示器的制造中，通常需要对液晶模块进行各种测试。以最为常见的老化测试(英文：Stress Test)为例，在老化测试中，液晶模块在测试信号下工作一段时间后，再对液晶模块内部结构单元的各种特性参数进行测试，通过比较老化测试前后各种特性参数的变化，对液晶模块的可靠性、有效工作寿命等进行评估。

本发明的实施例以老化测试的应用场景为例进行说明，当然，本发明的实施例所提供的对液晶模块的测试方法，可以用于对液晶模块进行多种具体的测试，本发明对于具体的测试场景不做限定。

实施例一

本发明的实施例一提供一种液晶模块的测试方法，参照图1所示，具体包括以下步骤：

101、测试装置加载待测的液晶模块，液晶模块包括测试电路单元，测试电路单元的驱动信号端与液晶模块内的驱动信号线连接。

在液晶显示器制造中，在经过切割(英文:Cutting)工艺后形成一个个独立的液晶盒(英文：Cell)，液晶盒在经过与驱动集成电路(英文全称：integrated circuit，英文简称：IC)邦定(英文:Bonding)，印制电路板(英文全称：Printed Circuit Board，英文简称：PCB)连接等处理后，形成液晶模块(英文：Module)。测试装置加载待测的液晶模块，指通过待测的液晶模块的接口与待测模块连接，并驱动液晶模块正常显示。

液晶模块包括测试电路单元，在进行老化测试的过程中，老化测试信号通过测试电路单元的驱动信号端输入测试电路单元。在老化测试结束后，通过测量测试电路单元各种特性参数的变化，对液晶模块整体的可靠性、有效工作寿命等进行评估。

液晶模块内的驱动信号线，是指在液晶模块正常显示时，向液晶模块内部结构单元输入驱动信号的信号线。例如，液晶模块内部的结构单元可以是像素单元，也可以是像素单元内的薄膜晶体管(英文全称：Thin Film Transistor，英文简称：TFT)，在液晶模块正常显示时，向像素单元内的薄膜晶体管输入驱动信号的信号线包括栅极(英文:Gate)信号线和源极(英文:Source)信号线。

测试电路单元的驱动信号端与液晶模块内的驱动信号线连接，这样，液晶模块正常显示时，液晶模块内部的驱动信号在驱动液晶模块内部各种结构单元的同时，通过测试电路单元的驱动信号端与液晶模块内的驱动信号线之间的连接，作为测试信号输入测试电路单元的驱动信号端。

102、驱动液晶模块工作，在工作时间达到预设时长后，切断测试电路单元的驱动信号端与液晶模块内的驱动信号线之间的连接。

由于测试电路单元的驱动信号端与液晶模块内的驱动信号线连接，当驱动液晶模块工作时，液晶模块内部的驱动信号就可以作为测试信号驱动测试电路单元，因此无需外接信号发生器向测试电路单元输入测试信号。在工作时间达到预设时长后，切断驱动信号端与驱动信号线之间的连接，测试电路单元的驱动信号端悬空。

由于测试信号完全是液晶模块内部的真实信号，相比通过由信号发生器输入模拟信号进行测试的方式，无需考虑模拟信号是否接近真实信号，也避免了测试环境对模拟信号所造成的各种干扰，因此提高了对液晶模块测试的准确性。

103、向液晶模块输入激励信号，激励信号用于测试测试电路单元的特性参数。

测试电路单元的驱动信号端与液晶模块内的驱动信号线之间的连接被切断，测试电路单元的驱动信号端悬空。

测试电路单元包括激励信号输入端，用于输入激励信号。在驱动信号端与驱动信号线之间的连接被切断之后，就可以通过激励信号输入端向测试电路单元输入激励信号，对测试电路单元的特性参数进行测试。

104、从液晶模块接收反馈信号，反馈信号为测试电路单元对激励信号的响应信号。

激励信号为向测试电路单元输入的信号，反馈信号为测试电路单元输出的信号，反馈信号和激励信号之间的变化关系，反映了测试电路单元的特性参数。通过对反馈信号和激励信号进行分析，即可确定测试电路单元的特性参数。例如，测试电路单元具体为TFT，结合步骤103，TFT特性参数具体可以是栅极电压Vg一定时，不同源级电压Vs值所对应的漏极电流Id值。在具体测试过程中，激励信号为Vg和Vs，反馈信号为Id，进一步地，在不同Vg下分别对Vs对应的Id进行测试，并对测试所得的数据进行分析，可以确定TFT的导通状态、截止状态下所对应的Vg、Vs以及Id的变化关系和取值范围。

本发明的实施例提供的液晶模块的测试方法，将液晶模块内部的驱动信号作为测试信号，输入测试电路单元的驱动信号端，驱动测试电路单元，因此无需外接信号发生器向测试电路单元输入测试信号。由于测试信号完全是液晶模块内部的真实信号，相比通过由信号发生器输入模拟信号进行测试的方式，无需考虑模拟信号是否接近真实信号，也避免了测试环境对模拟信号所造成的各种干扰，因此提高了对液晶模块测试的准确性。进一步地，根据测试结果对液晶模块可靠性、有效工作寿命等的评估，也更接近真实情况。

实施例二

基于图1对应的实施例，本发明的实施例二提供一种液晶模块的测试方法，参照图2所示，具体包括以下步骤：

201、测试装置加载待测的液晶模块，液晶模块包括测试电路单元，测试电路单元的驱动信号端与液晶模块内的驱动信号线连接。

在液晶显示器制造中，在经过切割工艺后形成一个个独立的液晶盒，液晶盒在经过与驱动集成电路邦定，印制电路板连接等处理后，形成液晶模块。测试装置加载待测的液晶模块，指通过待测的液晶模块的接口与待测模块连接，并驱动液晶模块正常显示。

液晶模块包括测试电路单元，可选的，在一种具体的应用场景中，液晶模块的显示面板为栅极驱动集成于阵列基板上(英文全称：Gate driver On Array，英文缩写：GOA)的面板，测试电路单元可以是GOA基本单元、多路复用(英文全称：Multiplexer，英文缩写：MUX)单元、像素单元或者静电释放(英文全称：Electro-Static Discharge，英文缩写：ESD)单元中的至少一种。其中，GOA基本单元可以是GOA电路中的反相器单元，或者进一步地可以是反相器单元中的N型金属-氧化物-半导体(英文全称：N-Mental-Oxide-Semiconductor，英文缩写：NMOS)晶体管或者P型金属-氧化物-半导体(英文全称：P-Mental-Oxide-Semiconductor，英文缩写：PMOS)晶体管。液晶模块包括所包括的测试电路单元，具体的种类，以及每种测试电路单元的数量，可以根据实际的测试需要来确定。通常，测试电路单元分布在面板边缘的空隙区域。

液晶模块内的驱动信号线，是指在液晶模块正常显示时，向液晶模块内部结构单元输入驱动信号的信号线。可选的，驱动信号线可以是时钟(CLK)信号线、高电平(VGH)信号线、低电平(VGL)信号线、多路复用(MUX)信号线、栅极(Gate)信号线或者源极(Source)信号线中的至少一种。

测试电路单元的驱动信号端与液晶模块内的驱动信号线连接。可选的，在形成液晶模块的薄膜晶体管阵列(英文全称：Thin Film Transistor Array，英文简称：TFTArray)的图形工艺处理过程中，通过在驱动信号端与驱动信号线之间沉积金属线，将驱动信号端与驱动信号线连接。优选的，驱动信号端可以和液晶模块的扇出区域内的驱动信号线连接，或者和用于进行液晶单元电气测试(英文全称：Unit Cell Electrical Test)的测试信号线连接。

针对不同的测试电路单元，可以连接不同的驱动信号线。

以下结合图3至图7对测试电路单元的驱动信号端与液晶模块内的驱动信号线之间的连接进行具体说明。图3至图7中所示的测试单元，均包括驱动信号端和激励信号端。其中，激励信号端悬空，用于在对测试电路单元的特性参数进行测试时输入激励信号，激励信号端以“测试点”字样进行标识。驱动信号端与驱动信号线连接，驱动信号端以所连接的驱动信号的名称进行标识。激励信号端和驱动信号端均可以包括至少一个引脚。

对于同一种测试电路单元的多个测试电路单元，采用“第一”、“第二”等字样进行区分。当然，本领域技术人员可以理解“第一”、“第二”等字样并不是在对数量进行限定。

结合图3所示，测试电路单元为GOA电路中的MOS晶体管，具体可以是NMOS晶体管或者PMOS晶体管。

图3中包括了4个MOS晶体管，每个MOS晶体管的驱动信号端包括1个节点，该节点一端与MOS晶体管的栅极连接，另一端与液晶模块内的驱动信号线连接。

其中，第一MOS晶体管的栅极与CLK信号线连接。

第二MOS晶体管的栅极与VGH信号线连接。

第三MOS晶体管的栅极与VGL信号线连接。

第四MOS晶体管的栅极与Gate信号线连接。

同时，4个MOS晶体管的激励信号端均包括3个节点，分别为源极测试点、栅极测试点和漏极测试点。以第一MOS晶体管为例，源极测试点与源极连接，栅极测试点与栅极连接，漏极测试点与漏极连接。

结合图4所示，测试电路单元具体为MUX单元。

其中，第一MUX单元的驱动信号端包括2个节点，第1个节点的一端与第一MUX单元的源极连接，另一端与Source信号线连接。第2个节点的一端与第一MUX单元的栅极连接，另一端与MUX信号线连接。

第二MUX单元的驱动信号端包括1个节点，该节点的一端与第二MUX单元的栅极连接，另一端与VGH信号线连接。

第三MUX单元的驱动信号端包括1个节点，该节点的一端与第三MUX单元的栅极连接，另一端与VGL信号线连接。

同时，3个MUX单元的激励信号端均包括3个节点，分别为源极测试点、栅极测试点和漏极测试点，此处对测试点连接位置不再赘述。

结合图5所示，测试电路单元具体为像素单元，像素单元可以包括TFT和像素电容，也可以只包括TFT。

其中，第一像素单元包括TFT和像素电容，像素电容一端接Vcom。第一像素单元的驱动信号端包括2个节点，第1个节点的一端与第一像素单元的源极连接，另一端与Source信号线连接。第2个节点的一端与第一像素单元的栅极连接，另一端与Gate信号线连接。

第二像素单元不包括像素电容，第二像素单元的驱动信号端包括2个节点，第1个节点的一端与第二像素单元的源极连接，另一端与Source信号线连接。第2个节点的一端与第二像素单元的栅极连接，另一端与Gate信号线连接。

第三像素单元不包括像素电容，第三像素单元的驱动信号端包括1个节点，该节点的一端与第三像素单元的栅极连接，另一端与Gate信号线连接。

像素单元的激励信号端位置不再赘述。

结合图6所示，测试电路单元具体为ESD单元，ESD单元具体可以是N型ESD单元或者P型ESD单元。驱动信号线可以是VGH信号线、VGL信号线、CLK信号线、MUX信号线或Source信号线中的任一种，图6中仅以驱动信号线为Source信号线为例进行说明。

第一ESD单元为N型ESD单元，N型ESD单元中的NMOS晶体管的栅极与源极连接。第一ESD单元的驱动信号端包括2个节点，第1个节点的一端与第一ESD单元的源极连接，另一端与Source信号线连接。第2个节点的一端与第一ESD单元的漏极连接，另一端与VGH信号线连接。

第二ESD单元为P型ESD单元，P型ESD单元中的PMOS晶体管的栅极与源极连接。第二ESD单元的驱动信号端包括2个节点，第1个节点的一端与第二ESD单元的源极连接，另一端与Source信号线连接。第2个节点的一端与第二ESD单元的漏极连接，另一端与VGL信号线连接。

ESD单元的激励信号端位置不再赘述。

结合图7所示，测试电路单元具体为GOA电路中的反相器单元，反相器单元包括一个NMOS晶体管和一个PMOS晶体管。

反相器单元的激励信号端包括4个节点，分别为正电压测试点、负电压测试点、输入测试点和输出测试点。其中正电压测试点与正电压输入端(VDD)连接，负电压测试点与负电压输入端(VSS)连接，输入测试点和反相器单元输入端(IN)连接，输出测试点和反相器单元输出端(OUT)连接。

反相器单元的驱动信号端包括3个节点。第一个节点的一端与反相器单元的VDD连接，另一端与VGH信号线连接。第2个节点的一端与反相器单元的VSS连接，另一端与VGL信号线连接。反相器单元的两个晶体管的栅极连接，并与第3个节点的一端连接，第3个节点的另一端可以连接不同的驱动信号线，如图3所示：

第一反相器单元的第3个节点的另一端，与VGH信号线连接。

第二反相器单元的第3个节点的另一端，与VGL信号线连接。

第三反相器单元的第3个节点的另一端，与CLK信号线连接。

202、驱动液晶模块工作，在工作时间达到预设时长后，通过激光刻蚀切断测试电路单元的驱动信号端与液晶模块内的驱动信号线之间的连接。

由于测试电路单元的驱动信号端与液晶模块内的驱动信号线连接，当驱动液晶模块工作时，液晶模块内部的驱动信号就可以作为测试信号驱动测试电路单元，因此无需外接信号发生器向测试电路单元输入测试信号。在工作时间达到预设时长后，通过激光刻蚀的方式切断驱动信号端与驱动信号线之间沉积的金属线连接，测试电路单元的驱动信号端悬空。

由于测试信号完全是液晶模块内部的真实信号，相比通过由信号发生器输入模拟信号进行测试的方式，无需考虑模拟信号是否接近真实信号，也避免了测试环境对模拟信号所造成的各种干扰，因此提高了对液晶模块测试的准确性。

203、向液晶模块输入激励信号，激励信号用于测试测试电路单元的特性参数。

在驱动信号端与驱动信号线之间的连接被切断之后，就可以通过激励信号输入端向测试电路单元输入激励信号，对测试电路单元的特性参数进行测试。

204、从液晶模块接收反馈信号，反馈信号为测试电路单元对激励信号的响应信号。

205、根据激励信号和反馈信号输出测试电路单元的特性参数曲线。

结合步骤203-步骤205，对测试电路单元的特性参数进行测试的具体过程进行示例性说明。

可选的，针对图3至图5所示的测试电路单元，激励信号为栅极电压Vg和源极电压Vs，反馈信号为漏极电流Id。测试方法具体包括，在源极测试点加载电压Vs，通常为10V，在栅极测试点加载电压Vg，Vg从-15V步进直到15V，Vg每变化一次在漏极测试点测量一次漏极电流Id。测量结束后输出Id-Vg曲线。

可选的，针对图6所示的ESD单元，激励信号为漏极电压Vd和栅极源极电压Vgs，反馈信号为漏极电流Id。测试方法具体包括，在漏极测试点加载电压Vd，通常N型ESD单元的Vd为8V，P型ESD单元的Vd为-8V。ESD单元的源极测试点和栅极测试点上加载电压Vgs，Vgs从-15V步进直到15V，Vgs每变化一次在漏极测试点测量一次漏极电流Id。测量结束后输出Id-Vg曲线。

可选的，针对图7所示的反相器单元，测试方法具体包括，在正电压测试点加载电压VDD，通常为8V，在负电压测试点加载电压VSS，通常为-8V，在输入测试点加载电压Vin，Vin从-15V步进直到15V，Vin每变化一次在输出测试点测量一次输出电压Vout，和输出电流Iout。测量结束后输出Vout-Vin曲线，以及Iout-Vin曲线。

将测量所得的特性参数曲线与参考特性曲线相比较，确定在经过老化测试后，测试电路单元特性参数的变化，从而进一步对液晶模块可靠性、有效工作寿命等的进行评估。

可选的，参考特性曲线可以是参考测试电路单元的特性参数曲线。具体的，待测的液晶模块还包括参考测试电路单元，参考测试电路单元的内部结构与测试电路单元的内部结构相同，参考测试电路单元的驱动信号端悬空，在老化测试中没有驱动信号输入参考测试电路单元。因此可以用参考测试电路单元的特性参数曲线，代表老化测试前测试电路单元的特性参数曲线。

本发明的实施例提供的液晶模块的测试方法，将液晶模块内部的驱动信号作为测试信号，输入测试电路单元的驱动信号端，驱动测试电路单元，因此无需外接信号发生器向测试电路单元输入测试信号。由于测试信号完全是液晶模块内部的真实信号，相比通过由信号发生器输入模拟信号进行测试的方式，无需考虑模拟信号是否接近真实信号，也避免了测试环境对模拟信号所造成的各种干扰，因此提高了对液晶模块测试的准确性。进一步地，根据测试结果对液晶模块可靠性、有效工作寿命等的评估，也更接近真实情况。

实施例三

基于上述图1即图2所对应的实施例，本发明的实施例三提供一种液晶模块的测试装置，用于执行上述实施例所提供的液晶模块的测试方法。参照图8所示，液晶模块的测试装置80包括：

加载模块801，用于加载待测的液晶模块，液晶模块包括测试电路单元，测试电路单元的驱动信号端与液晶模块内的驱动信号线连接。

加载模块801，还用于驱动液晶模块工作。

分割模块802，用于在液晶模块的工作时间达到预设时长后，切断测试电路单元的驱动信号端与液晶模块内的驱动信号线之间的连接。

特性参数测试模块803，用于向液晶模块输入激励信号，并从液晶模块接收反馈信号。激励信号用于测试测试电路单元的特性参数，反馈信号为测试电路单元对激励信号的响应信号。

可选的，分割模块802，具体用于在液晶模块的工作时间达到预设时长后，通过激光刻蚀切断测试电路单元的驱动信号端与液晶模块内的驱动信号线之间的连接。

可选的，特性参数测试模块803，具体用于向GOA基本单元、多路复用MUX单元、像素单元或者静电释放ESD单元中的任一种测试电路单元，输入激励信号，并接收反馈信号。

可选的，测试装置还包括输出模块804，用于根据激励信号和反馈信号输出测试电路单元的特性参数曲线。

本发明的实施例提供的液晶模块的测试装置，将液晶模块内部的驱动信号作为测试信号，输入测试电路单元的驱动信号端，驱动测试电路单元，因此无需外接信号发生器向测试电路单元输入测试信号。由于测试信号完全是液晶模块内部的真实信号，相比通过由信号发生器输入模拟信号进行测试的方式，无需考虑模拟信号是否接近真实信号，也避免了测试环境对模拟信号所造成的各种干扰，因此提高了对液晶模块测试的准确性。进一步地，根据测试结果对液晶模块可靠性、有效工作寿命等的评估，也更接近真实情况。

通过以上的实施方式的描述，所属领域的技术人员可以清楚地了解到本发明可以用硬件实现，或固件实现，或它们的组合方式来实现。当使用软件实现时，可以将上述功能存储在计算机可读介质中或作为计算机可读介质上的一个或多个指令或代码进行传输。计算机可读介质包括计算机存储介质和通信介质，其中通信介质包括便于从一个地方向另一个地方传送计算机程序的任何介质。存储介质可以是计算机能够存取的任何可用介质。以此为例但不限于：计算机可读介质可以包括随机存储器(英文全称：Random AccessMemory，英文简称：RAM)、只读存储器(英文全称：Read Only Memory，英文简称：ROM)、电可擦可编程只读存储器(英文全称：Electrically Erasable Programmable Read OnlyMemory，英文简称：EEPROM)、只读光盘(英文全称：Compact Disc Read Only Memory，英文简称：CD-ROM)或其他光盘存储、磁盘存储介质或者其他磁存储设备、或者能够用于携带或存储具有指令或数据结构形式的期望的程序代码并能够由计算机存取的任何其他介质。此外。任何连接可以适当的成为计算机可读介质。例如，如果软件是使用同轴电缆、光纤光缆、双绞线、数字用户专线(英文全称：Digital Subscriber Line，英文简称：DSL)或者诸如红外线、无线电和微波之类的无线技术从网站、服务器或者其他远程源传输的，那么同轴电缆、光纤光缆、双绞线、DSL或者诸如红外线、无线和微波之类的无线技术包括在所属介质的定影中。如本发明所使用的，盘和碟包括压缩光碟(英文全称：Compact Disc，英文简称：CD)、激光碟、光碟、数字通用光碟(英文全称：Digital Versatile Disc，英文简称：DVD)、软盘和蓝光光碟，其中盘通常磁性的复制数据，而碟则用激光来光学的复制数据。上面的组合也应当包括在计算机可读介质的保护范围之内。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。

Claims (7)

1.一种液晶模块的测试方法，其特征在于，包括：

加载待测的液晶模块，包括通过待测的液晶模块的接口与待测模块连接，并驱动所述液晶模块正常显示；所述液晶模块包括测试电路单元，所述测试电路单元的驱动信号端与所述液晶模块内的驱动信号线连接；

驱动所述液晶模块工作，在工作时间达到预设时长后，切断所述测试电路单元的驱动信号端与所述液晶模块内的驱动信号线之间的连接；

向所述液晶模块输入激励信号，所述激励信号用于测试所述测试电路单元的特性参数；

从所述液晶模块接收反馈信号，所述反馈信号为所述测试电路单元对所述激励信号的响应信号；

所述方法还包括：根据所述激励信号和反馈信号输出所述测试电路单元的特性参数曲线。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述切断所述测试电路单元的驱动信号端与所述液晶模块内的驱动信号线之间的连接，包括：

通过激光刻蚀切断所述测试电路单元的驱动信号端与所述液晶模块内的驱动信号线之间的连接。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述测试电路单元包括GOA基本单元、多路复用MUX单元、像素单元或者静电释放ESD单元中的至少一种。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述驱动信号线包括时钟CLK信号线、高电平VGH信号线、低电平VGL信号线、多路复用MUX信号线、栅极Gate信号线或者源极Source信号线中的至少一种。

5.一种液晶模块的测试装置，其特征在于，包括：

加载模块，用于加载待测的液晶模块，包括通过待测的液晶模块的接口与待测模块连接，并驱动所述液晶模块正常显示；所述液晶模块包括测试电路单元，所述测试电路单元的驱动信号端与所述液晶模块内的驱动信号线连接；

所述加载模块，还用于驱动所述液晶模块工作；

分割模块，用于在所述液晶模块的工作时间达到预设时长后，切断所述测试电路单元的驱动信号端与所述液晶模块内的驱动信号线之间的连接；

特性参数测试模块，用于向所述液晶模块输入激励信号，并从所述液晶模块接收反馈信号；所述激励信号用于测试所述测试电路单元的特性参数，所述反馈信号为所述测试电路单元对所述激励信号的响应信号；

所述测试装置还包括输出模块，用于根据所述激励信号和反馈信号输出所述测试电路单元的特性参数曲线。

6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，

所述分割模块，具体用于在所述液晶模块的工作时间达到预设时长后，通过激光刻蚀切断所述测试电路单元的驱动信号端与所述液晶模块内的驱动信号线之间的连接。

7.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，

所述特性参数测试模块，具体用于向GOA基本单元、多路复用MUX单元、像素单元或者静电释放ESD单元中的任一种测试电路单元，输入所述激励信号，并接收所述反馈信号。