CN104166051B - 一种16通道模拟开关电路导通电阻的测试方法 - Google Patents
一种16通道模拟开关电路导通电阻的测试方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN104166051B CN104166051B CN201410394530.9A CN201410394530A CN104166051B CN 104166051 B CN104166051 B CN 104166051B CN 201410394530 A CN201410394530 A CN 201410394530A CN 104166051 B CN104166051 B CN 104166051B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- mux
- board
- tunnels analogy
- ovi
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
本发明公开了一种16通道模拟开关电路导通电阻的测试方法,模拟开关导通电阻是指测试模拟开关导通时,开关两端间的电阻,在测试时,使能端接高电平或者低电平,使开关导通。然后在开关输入端施加+10V或者‑10V的直流电平,另一端则串一个电阻R到地,通过测量开关输出端的电位,计算可得到模拟开关的导通电阻值RON,本发明能够同时测量16通道模拟开关电路导通电阻,集成搭建测试平台,结构简单,测试效率高,16通道模拟开关输入端VS1~VS16均加+10V和‑10V电压进行测试,共32种组合,整个测试过程仅需要2‑3秒钟,导通电阻值RON1~RON32一并测试出来。
Description
技术领域
本发明涉及模拟开关导通电阻测试领域,尤其涉及一种16通道模拟开关电路导通电阻的测试方法。
背景技术
模拟开关导通电阻是指测试模拟开关导通时,开关两端间的电阻。在测试时,使能端接高电平或者低电平,使开关导通。然后在开关输入端VS施加+10V或者-10V的直流电平,另一端则串一个电阻R到地,通过测量开关输出端的电位VD,计算可得到模拟开关的导通电阻值RON,传统模拟开关导通电阻测试设计共分为电源部分,控制部分,智能部分和采集部分等共四个部分,
电源部分:稳压电源±17V输入,输出用79XX,78XX和317三端可调稳压块来实现,其中,需要6种参考电压:+15V、+10V、+2.4V、+0.8V、-10V和-15V。
控制部分:被测电路的自动加电断电用一个继电器来实现切换;被测电路模拟开关控制端的控制可以用继电器来切换;测试过程中用到的取样电阻也是继电器来切换来构成的。
智能器件:采用单片机对数字器件的控制,数据的传输,中断及定时,接口。
采集部分:采集部分是用来对A/D转换和控制,并对应的数据移入相应的存储单元。
单步测试用万用表观察每一步的测试结果;自动测量则用A/D采集一端的电位,转换成数字量送入单片机进行判断。
传统模拟开关导通电阻测试由于采用分立器件搭建的测试系统使用器件多,使用过程中存在结构复杂、测试精度低、不够客观性、不够准确性等问题。
发明内容
本发明克服了现有技术的不足,提供一种16通道模拟开关电路导通电阻的测试方法,能够同时测量16通道模拟开关电路导通电阻,集成搭建测试平台,结构简单,测试效率高,16通道模拟开关一起测试32种组合仅需要2-3秒钟。
为解决上述技术问题,本发明采用的技术方案为:
一种16通道模拟开关电路导通电阻的测试方法,包括以下步骤,
S01,构建测试模块:构建DVI板卡、OVI板卡和MUX板卡,所述DVI板卡、OVI板卡用于提供测试类电源、地电平和高低电平;地电平是GND,就是通常的0V;其中DVI(DualVoltage/Current Source)为双电压电流源;OVI(Octal Voltage/Current Source)为八路电压电流源;MUX(Resource Multiplexer)为多路复用器源;
DVI板卡包括DVI第一通道和DVI第二通道,所述DVI第一通道和DVI第二通道输出两组DC程控电压电流源,提供电路需要的正负电源+15V和-15V;
OVI板卡输出8通道电压电流源和电压电流测量单元,提供电路需要的输入端电压和控制端电压;所述8通道电压电流源和电压电流测量单元分别为CH0、CH1、CH2、CH3、CH4、CH5、CH6、CH7;OVI板卡提供输入端电压、使能端电压和控制端电压,OVI板卡提供的输入端电压电压值包括+10V和-10V,使能端电压和控制端电压电压值包括+2.4V和+0.8V;其中CH0输出+0.8V,CH1输出+2.4V,CH2输出+10V,CH3为GND,CH4为用于测量输入端电压VS的接口、CH5用于测量输出端电压VD,CH6输出-10V电压;
MUX板卡为继电器控制板,包括第一MUX板卡和第二MUX板卡,第一MUX板卡和第二MUX板卡均包括32个外接继电器接口,所述第一MUX板卡和第二MUX板卡用于控制端、输入端和输出端之间切换;所述32个外接继电器接口分别为MUX_i_j,其中i=1,2,3,4,5,6,7,8,j=1,2,3,4;即MUX_1_1、MUX_1_2、MUX_1_3、MUX_1_4、MUX_2_1……MUX_8_4;
S02,连接各测试板卡和16通道模拟开关电路管脚:
DVI板卡的DVI第一通道(引脚J4B21和引脚J4B23)用于产生电路的负电源电压-15V与16通道模拟开关电路的VSS(引脚27)相连;
DVI板卡的DVI第二通道(引脚J4B25和引脚J4B27)用于产生电路的正电源电压+15V与16通道模拟开关电路的VDD(引脚1)相连;
OVI板卡的CH0通道(引脚J2B23和引脚J2B24)用于产生电路的输入低电平电压+0.8V与第一MUX板卡的MUX_2_2(引脚J4C27)相连;
OVI板卡的CH1通道(引脚J2B21和引脚J2B22)用于产生电路的输入高电平电压+2.4V与第一MUX板卡的MUX_1_2(引脚J4C31)相连;
OVI板卡的CH2通道(引脚J2B19和引脚J2B20)用于产生电路的输入电压+10V与第一MUX板卡的MUX_3_2(引脚J4C23)及第二MUX板卡的MUX_1_2(引脚J2C2)相连;
OVI板卡(OVI_1)的CH3通道(引脚J2B17和引脚J2B18)用于产生电路的地电平与16通道模拟开关电路的GND(引脚12)相连;
OVI板卡(OVI_1)的CH4通道(引脚J2B31和引脚J2B32)用于测量输入端电压VS与第二MUX板卡的MUX_1_4(引脚J2C4)相连;
OVI板卡(OVI_1)的CH5通道(引脚J2B29和引脚J2B30)用于测量输出端电压VD,与16通道模拟开关电路的输出端D(引脚28)和第一MUX板卡的MUX_6_1(引脚J4A28)相连;
OVI板卡的CH6通道(引脚J2B27和引脚J2B28)用于产生电路的输入电压-10V与第一MUX板卡的MUX_5_1(引脚J4A32)及第二MUX板卡的MUX_6_1(引脚J2A5)相连;
第一MUX板卡的MUX_1_1(引脚J4C32)与16通道模拟开关电路的使能端EN(引脚18)相连;
第一MUX板卡的MUX_2_1(引脚J4C28)与16通道模拟开关电路控制端A0(引脚17)相连;
第一MUX板卡的MUX_3_1(引脚J4C24)与16通道模拟开关电路控制端A1(引脚16)相连;
第一MUX板卡的MUX_4_1(引脚J4C20)与16通道模拟开关电路控制端A2(引脚15)相连;
第一MUX板卡的MUX_5_4(引脚J4A29)与16通道模拟开关电路控制端A3(引脚14)相连;
第二MUX板卡的MUX_1_1(引脚J2C1)与16通道模拟开关电路输入端S1(引脚19)相连;
第二MUX板卡的MUX_3_1(引脚J2C9)与16通道模拟开关电路输入端S2(引脚20)相连;
第二MUX板卡的MUX_3_2(引脚J2C10)与16通道模拟开关电路输入端S3(引脚21)相连;
第二MUX板卡的MUX_3_3(引脚J2C11)与16通道模拟开关电路输入端S4(引脚22)相连;
第二MUX板卡的MUX_3_4(引脚J2C12)与16通道模拟开关电路输入端S5(引脚23)相连;
第二MUX板卡的MUX_4_1(引脚J2C13)与16通道模拟开关电路输入端S6(引脚24)相连;
第二MUX板卡的MUX_4_2(引脚J2C14)与16通道模拟开关电路输入端S7(引脚25)相连;
第二MUX板卡的MUX_4_3(引脚J2C15)与16通道模拟开关电路输入端S8(引脚26)相连;
第二MUX板卡的MUX_4_4(引脚J2C16)与16通道模拟开关电路输入端S9(引脚11)相连;
第二MUX板卡的MUX_5_1(引脚J2A1)与16通道模拟开关电路输入端S10(引脚10)相连;
第二MUX板卡的MUX_5_2(引脚J2A2)与16通道模拟开关电路输入端S11(引脚9)相连;
第二MUX板卡的MUX_5_3(引脚J2A3)与16通道模拟开关电路输入端S12(引脚8)相连;
第二MUX板卡的MUX_5_4(引脚J2A4)与16通道模拟开关电路输入端S13(引脚7)相连;
第二MUX板卡的MUX_6_2(引脚J2A6)与16通道模拟开关电路输入端S14(引脚6)相连;
第二MUX板卡的MUX_6_3(引脚J2A7)与16通道模拟开关电路输入端S15(引脚5)相连;
第二MUX板卡的MUX_6_4(引脚J2A8)与16通道模拟开关电路输入端S16(引脚4)相连;
S03,建立测试项目:16通道模拟开关电路的输出端OUT串连一个电阻R到地,R=1KΩ;配置16通道模拟开关电路的使能端EN为高电平,使16通道模拟开关电路输入端S1~S16导通,同时依据16通道模拟开关电路的导通电阻真值表,控制端A3、A2、A1、A0配置高电平或者低电平;
S04,计算开关电路的导通电阻值:16通道模拟开关电路的输入端S1~S16均分别加+10V或-10V电压,测量OVI板卡的CH4通道的电压值VS和OVI板卡的CH5通道的电压值VD,依据步骤S03的16通道模拟开关电路的导通电阻真值表和公式(1),分别计算得到16通道模拟开关电路通道S1~S16的导通电阻值RON;
步骤S03所述16通道模拟开关电路的导通电阻真值表为:
步骤S03所述控制端A3、A2、A1、A0配置高电平为2.4V,低电平为+0.8V。
步骤S03所述配置的16通道模拟开关电路的使能端EN的高电平为+2.4V。
所述步骤S03配置16通道模拟开关电路的使能端EN为高电平具体包括以下步骤:通过由OVI板卡的OVI通道CH1内部的电源产生输入高电平电压+2.4V后,再由第一MUX板卡的继电器内部切换继电器接口MUX_1_1(EN)使能并与继电器接口MUX_1_2(+2.4V)相连,实现使能端EN接+2.4V。
所述步骤S03配置16通道模拟开关电路的控制端A3、A2、A1、A0配置高电平或者低电平的方法具体包括以下步骤:通过由第一MUX板卡内部继电器切换产生输入低电平电压或者高电平电压后,再由第一MUX板卡继电器内部切换继电器接口MUX_1_2(+2.4V)、MUX_2_1(A0)、MUX_2_2(+0.8V)、MUX_3_1(A1)、MUX_4_1(A2)和MUX_5_4(A3)相连。
步骤S03的16通道模拟开关电路的输入端S1~S16均分别加+10V或-10V电压方法具体包括以下步骤:
16通道模拟开关电路的输入端S1~S16接+10V:通过由OVI板卡的OVI通道CH2内部的电源产生输入高电平电压+10V,再由第二MUX板卡继电器内部切换继电器接口MUX_1_1(S1)、MUX_1_2(+10V)、MUX_3_1(S2)、MUX_3_2(S3)、MUX_3_3(S4)、MUX_3_4(S5)、MUX_4_1(S6)、MUX_4_2(S7)、MUX_4_3(S8)、MUX_4_4(S9)、MUX_5_1(S10)、MUX_5_2(S11)、MUX_5_3(S12)、MUX_5_4(S13)、MUX_6_2(S14)、MUX_6_3(S15)和MUX_6_4(S16)相连(以上继电器接口均为第二MUX板卡上的接口);
16通道模拟开关电路的输入端S1~S16接-10V:通过由OVI板卡的OVI通道CH6内部的电源产生输入低电平电压-10V,再由第二MUX板卡继电器内部切换继电器接口MUX_1_1(S1)、MUX_3_1(S2)、MUX_3_2(S3)、MUX_3_3(S4)、MUX_3_4(S5)、MUX_4_1(S6)、MUX_4_2(S7)、MUX_4_3(S8)、MUX_4_4(S9)、MUX_5_1(S10)、MUX_5_2(S11)、MUX_5_3(S12)、MUX_5_4(S13)、MUX_6_1(-10V)、MUX_6_2(S14)、MUX_6_3(S15)和MUX_6_4(S16)相连(以上继电器接口均为第二MUX板卡上的接口)。
与现有技术相比,本发明的有益效果有:
发明克服了现有技术的不足,提供一种16通道模拟开关电路导通电阻的测试方法,能够同时测量16通道模拟开关电路导通电阻,集成搭建测试平台,结构简单,测试效率高,16通道模拟开关输入端S1~S16均加+10V和-10V电压进行测试,共32种组合,整个测试过程仅需要2-3秒钟,导通电阻值RON1~RON32一并测试出来。
附图说明
图1为本发明板卡、16通道模拟开关电路管脚结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明作更进一步的说明。
如图1所示,一种16通道模拟开关电路导通电阻的测试方法,包括以下步骤,其中,16通道模拟开关电路的芯片为AD7506,
S01,构建测试模块:构建DVI板卡DVI_11、OVI板卡OVI_1和MUX板卡,所述DVI板卡、OVI板卡用于提供测试类电源、地电平和高低电平;
DVI板卡DVI_11包括DVI第一通道CH00和DVI第二通道CH01,所述DVI第一通道CH00和DVI第二通道CH01输出两组DC程控电压电流源,提供电路需要的正负电源+15V和-15V;
OVI板卡OVI_1输出8通道电压电流源和电压电流测量单元,提供电路需要的输入端电压和控制端电压;所述8通道电压电流源和电压电流测量单元分别为CH0、CH1、CH2、CH3、CH4、CH5、CH6、CH7;OVI板卡OVI_1提供输入端电压、使能端电压和控制端电压,所述OVI板卡OVI_1提供的输入端电压电压值包括+10V和-10V,使能端电压和控制端电压电压值包括+2.4V和+0.8V;
MUX板卡为继电器控制板,包括第一MUX板卡MUX_14和第二MUX板卡MUX_20,第一MUX板卡MUX_14和第二MUX板卡MUX_20均包括32个外接继电器接口,所述第一MUX板卡MUX_14和第二MUX板卡MUX_20用于控制端、输入端和输出端之间切换;所述32个外接继电器接口分别为MUX_i_j,其中i=1,2,3,4,5,6,7,8,j=1,2,3,4;
S02,连接各测试板卡和16通道模拟开关电路管脚:
DVI板卡DVI_11的DVI第一通道CH00(引脚J4B21和引脚J4B23)用于产生电路的负电源电压-15V与16通道模拟开关电路的VSS(引脚27)相连;
DVI板卡DVI_11的DVI第二通道CH01(引脚J4B25和引脚J4B27)用于产生电路的正电源电压+15V与16通道模拟开关电路的VDD(引脚1)相连;
OVI板卡OVI_1的CH0通道(引脚J2B23和引脚J2B24)用于产生电路的输入低电平电压+0.8V与第一MUX板卡MUX_14的MUX_2_2引脚J4C27相连;
OVI板卡OVI_1的CH1通道(引脚J2B21和引脚J2B22)用于产生电路的输入高电平电压+2.4V与第一MUX板卡MUX_14的MUX_1_2(引脚J4C31)相连;
OVI板卡OVI_1的CH2通道(引脚J2B19和引脚J2B20)用于产生电路的输入电压+10V与第一MUX板卡MUX_14的MUX_3_2(引脚J4C23)及第二MUX板卡MUX_20的MUX_1_2(引脚J2C2)相连;
OVI板卡(OVI_1)的CH3通道(引脚J2B17和引脚J2B18)用于产生电路的地电平与16通道模拟开关电路的GND(引脚12)相连;
OVI板卡(OVI_1)的CH4通道(引脚J2B31和引脚J2B32)用于测量输入端电压VS,与第二MUX板卡MUX_20的MUX_1_4(引脚J2C4)相连;
OVI板卡(OVI_1)的CH5通道(引脚J2B29和引脚J2B30)用于测量输出端电压VD与16通道模拟开关电路的输出端D(引脚28)和第一MUX板卡MUX_14的MUX_6_1(引脚J4A28)相连;
OVI板卡OVI_1的CH6通道(引脚J2B27和引脚J2B28)用于产生电路的输入电压-10V与第一MUX板卡MUX_14的MUX_5_1(引脚J4A32)及第二MUX板卡MUX_20的MUX_6_1(引脚J2A5)相连;
第一MUX板卡MUX_14的MUX_1_1(引脚J4C32)与16通道模拟开关电路的使能端EN(引脚18)相连;
第一MUX板卡MUX_14的MUX_2_1(引脚J4C28)与16通道模拟开关电路控制端A0(引脚17)相连;
第一MUX板卡MUX_14的MUX_3_1(引脚J4C24)与16通道模拟开关电路控制端A1(引脚16)相连;
第一MUX板卡MUX_14的MUX_4_1(引脚J4C20)与16通道模拟开关电路控制端A2(引脚15)相连;
第一MUX板卡MUX_14的MUX_5_4(引脚J4A29)与16通道模拟开关电路控制端A3(引脚14)相连;
第二MUX板卡MUX_20的MUX_1_1(引脚J2C1)与16通道模拟开关电路输入端S1(引脚19)相连;
第二MUX板卡MUX_20的MUX_3_1(引脚J2C9)与16通道模拟开关电路输入端S2(引脚20)相连;
第二MUX板卡MUX_20的MUX_3_2(引脚J2C10)与16通道模拟开关电路输入端S3(引脚21)相连;
第二MUX板卡MUX_20的MUX_3_3(引脚J2C11)与16通道模拟开关电路输入端S4(引脚22)相连;
第二MUX板卡MUX_20的MUX_3_4(引脚J2C12)与16通道模拟开关电路输入端S5(引脚23)相连;
第二MUX板卡MUX_20的MUX_4_1(引脚J2C13)与16通道模拟开关电路输入端S6(引脚24)相连;
第二MUX板卡MUX_20的MUX_4_2(引脚J2C14)与16通道模拟开关电路输入端S7(引脚25)相连;
第二MUX板卡MUX_20的MUX_4_3(引脚J2C15)与16通道模拟开关电路输入端S8(引脚26)相连;
第二MUX板卡MUX_20的MUX_4_4(引脚J2C16)与16通道模拟开关电路输入端S9(引脚11)相连;
第二MUX板卡MUX_20的MUX_5_1(引脚J2A1)与16通道模拟开关电路输入端S10(引脚10)相连;
第二MUX板卡MUX_20的MUX_5_2(引脚J2A2)与16通道模拟开关电路输入端S11(引脚9)相连;
第二MUX板卡MUX_20的MUX_5_3(引脚J2A3)与16通道模拟开关电路输入端S12(引脚8)相连;
第二MUX板卡MUX_20的MUX_5_4(引脚J2A4)与16通道模拟开关电路输入端S13(引脚7)相连;
第二MUX板卡MUX_20的MUX_6_2(引脚J2A6)与16通道模拟开关电路输入端S14(引脚6)相连;
第二MUX板卡MUX_20的MUX_6_3(引脚J2A7)与16通道模拟开关电路输入端S15(引脚5)相连;
第二MUX板卡MUX_20的MUX_6_4(引脚J2A8)与16通道模拟开关电路输入端S16(引脚4)相连;
S03,建立测试项目:16通道模拟开关电路的输出端OUT串连一个电阻R到地,R=1KΩ;配置16通道模拟开关电路的使能端EN为高电平,使16通道模拟开关电路输入端S1~S16导通,同时依据16通道模拟开关电路的导通电阻真值表,控制端A3、A2、A1、A0配置高电平或者低电平;
S04,计算开关电路的导通电阻值:16通道模拟开关电路的输入端S1~S16均分别加+10V或-10V电压,测量OVI板卡OVI_1的CH4通道的电压值VS和OVI板卡OVI_1的CH5通道的电压值VD,依据步骤S03的16通道模拟开关电路的导通电阻真值表和公式(1),分别计算得到16通道模拟开关电路通道S1~S16的导通电阻值RON;
步骤S03所述16通道模拟开关电路的导通电阻真值表为表1:
表1 16通道模拟开关电路的导通电阻真值表
步骤S03,所述控制端A3、A2、A1、A0配置高电平为2.4V,低电平为+0.8V。
步骤S03配置的16通道模拟开关电路的使能端EN的高电平为+2.4V。
所述步骤S03配置16通道模拟开关电路的使能端EN为高电平具体包括以下步骤:通过由OVI板卡OVI_1的OVI通道CH1内部的电源产生输入高电平电压+2.4V后,再由第一MUX板卡(MUX_14)的继电器内部切换继电器接口MUX_1_1(EN)使能并与继电器接口MUX_1_2(+2.4V)相连,实现使能端EN接+2.4V。
步骤S03所述控制端A3、A2、A1、A0配置高电平或者低电平的方法具体包括以下步骤:通过由第一MUX板卡MUX_14内部继电器切换产生输入低电平电压或者高电平电压后,再由第一MUX板卡MUX_14继电器内部切换继电器接口MUX_1_2(+2.4V)、MUX_2_1(A0)、MUX_2_2(+0.8V)、MUX_3_1(A1)、MUX_4_1(A2)和MUX_5_4(A3)相连。
步骤S03的16通道模拟开关电路的输入端S1~S16均分别加+10V或-10V电压方法具体包括以下步骤:
16通道模拟开关电路的输入端S1~S16接+10V:通过由OVI板卡OVI_1的OVI通道CH2内部的电源产生输入高电平电压+10V,再由第二MUX板卡MUX_20继电器内部切换继电器接口MUX_1_1(S1)、MUX_1_2(+10V)、MUX_3_1(S2)、MUX_3_2(S3)、MUX_3_3(S4)、MUX_3_4(S5)、MUX_4_1(S6)、MUX_4_2(S7)、MUX_4_3(S8)、MUX_4_4(S9)、MUX_5_1(S10)、MUX_5_2(S11)、MUX_5_3(S12)、MUX_5_4(S13)、MUX_6_2(S14)、MUX_6_3(S15)和MUX_6_4(S16)相连;
16通道模拟开关电路的输入端S1~S16接-10V:通过由OVI板卡OVI_1的OVI通道CH2内部的电源产生输入高电平电压-10V,再由第二MUX板卡MUX_20继电器内部切换16通道模拟开关电路的输入端S1~S16接-10V:通过由OVI板卡的OVI通道CH6内部的电源产生输入低电平电压-10V,再由第二MUX板卡继电器内部切换继电器接口MUX_1_1(S1)、MUX_3_1(S2)、MUX_3_2(S3)、MUX_3_3(S4)、MUX_3_4(S5)、MUX_4_1(S6)、MUX_4_2(S7)、MUX_4_3(S8)、MUX_4_4(S9)、MUX_5_1(S10)、MUX_5_2(S11)、MUX_5_3(S12)、MUX_5_4(S13)、MUX_6_1(-10V)、MUX_6_2(S14)、MUX_6_3(S15)和MUX_6_4(S16)相连。
以测试16通道模拟开关电路通道S1的导通电阻为例,说明本发明具体测试方法:
按照步骤S01、S02配置板卡并连接管脚;
S03,16通道模拟开关电路的使能端EN接+2.4V:通过由OVI板卡OVI_1的通道CH1内部的电源产生输入高电平电压+2.4V后,再由第一MUX板卡MUX_14的继电器内部切换继电器接口MUX_1_1(EN)使能并与继电器接口MUX_1_2(+2.4V)相连,使得16通道模拟开关电路的使能端EN接+2.4V;
16通道模拟开关电路的控制端A3、A2、A1、A0接口均接+0.8V:通过由第一MUX板卡MUX_14内部继电器切换产生输入低电平电压+0.8V后,再由第一MUX板卡MUX_14继电器内部切换继电器接口MUX_2_1(A0)、MUX_2_2(+0.8V)、MUX_3_1(A1)、MUX_4_1(A2)和MUX_5_4(A3)相连,使控制端A3、A2、A1、A0均接+0.8V;
16通道模拟开关电路的输入端S1接+10V:通过由OVI板卡(OVI_1)的通道CH2内部的电源产生输入高电平电压+10V,再由第二MUX板卡MUX_20继电器内部切换MUX_1_1(S1)和MUX_1_2(+10V)相连;测量OVI板卡OVI_1的CH4通道的电压值VS;
S04,测试数据计算:OVI板卡OVI_1的CH5通道的电压值VD;
在测试时,16通道模拟开关电路的使能端EN输入高电平电压+2.4V,使开关通道S1导通;控制端A3、A2、A1、A0均接输入低电平电压+0.8V然后在开关输入端S1施加+10V的直流电平,16通道模拟开关电路的输出端OUT串连一个电阻R到地,R=1KΩ,通过测量开关输出端OUT的电位VD;根据公式(1),计算可得到模拟开关通道S1的导通电阻值RON;
R=1KΩ,
即RON=(VS-VD)*1000/VD计算可得到模拟开关通道S1的导通电阻值RON。一般,测试开关电路的导通电阻时,需要同时测试高电平和低电平的导通电阻,即需要测试开关输入端S1施加+10V和-10V的直流电平时,模拟开关通道S1的相应的导通电阻值RON。
同理,依据16通道模拟开关电路的导通电阻真值表配置控制端A3、A2、A1、A0为高电平或者低电平,分别测试16通道模拟开关电路的通道S2~S16的导通电阻值。
16通道模拟开关电路的S1~S16的导通电阻的测试配置具体如下(RON1~RON32表示16通道模拟开关电路的S1~S16的导通电阻值RON,其中每个通道有两个导通电阻值RON,即高电平导通电阻值和低电平导通电阻值,VS1~VS16表示16通道模拟开关电路的S1~S16的测量OVI板卡OVI_1的CH4通道的电压值VS):
当使能端EN=1时,开关导通;当使能端EN=0时,开关断开。
当控制端A3A2A1A0=0000时,通道S1导通,输入端VS1=+10V,此时测得的导通电阻定义为RON1,输入端VS1=-10V,此时测得的导通电阻定义为RON2;
当控制端A3A2A1A0=0001时,通道S2导通,输入端VS2=+10V,此时测得的导通电阻定义为RON3,输入端VS2=-10V,此时测得的导通电阻定义为RON4;
当控制端A3A2A1A0=0010时,通道S3导通,输入端VS3=+10V,此时测得的导通电阻定义为RON5,输入端VS3=-10V,此时测得的导通电阻定义为RON6;
当控制端A3A2A1A0=0011时,通道S4导通,输入端VS4=+10V,此时测得的导通电阻定义为RON7,输入端VS4=-10V,此时测得的导通电阻定义为RON8;
当控制端A3A2A1A0=0100时,通道S5导通,输入端VS5=+10V,此时测得的导通电阻定义为RON9,输入端VS5=-10V,此时测得的导通电阻定义为RON10;
当控制端A3A2A1A0=0101时,通道S6导通,输入端VS6=+10V,此时测得的导通电阻定义为RON11,输入端VS6=-10V,此时测得的导通电阻定义为RON12;
当控制端A3A2A1A0=0110时,通道S7导通,输入端VS7=+10V,此时测得的导通电阻定义为RON13,输入端VS7=-10V,此时测得的导通电阻定义为RON14;
当控制端A3A2A1A0=0111时,通道S8导通,输入端VS8=+10V,此时测得的导通电阻定义为RON15,输入端VS8=-10V,此时测得的导通电阻定义为RON16;
当控制端A3A2A1A0=1000时,通道S9导通,输入端VS9=+10V,此时测得的导通电阻定义为RON17,输入端VS9=-10V,此时测得的导通电阻定义为RON18;
当控制端A3A2A1A0=1001时,通道S10导通,输入端VS10=+10V,此时测得的导通电阻定义为RON19,输入端VS10=-10V,此时测得的导通电阻定义为RON20;
当控制端A3A2A1A0=1010时,通道S11导通,输入端VS11=+10V,此时测得的导通电阻定义为RON21,输入端VS11=-10V,此时测得的导通电阻定义为RON22;
当控制端A3A2A1A0=1011时,通道S12导通,输入端VS12=+10V,此时测得的导通电阻定义为RON23,输入端VS12=-10V,此时测得的导通电阻定义为RON24;
当控制端A3A2A1A0=1100时,通道S13导通,输入端VS13=+10V,此时测得的导通电阻定义为RON25,输入端VS13=-10V,此时测得的导通电阻定义为RON26;
当控制端A3A2A1A0=1101时,通道S14导通,输入端VS14=+10V,此时测得的导通电阻定义为RON27,输入端VS14=-10V,此时测得的导通电阻定义为RON28;
当控制端A3A2A1A0=1110时,通道S15导通,输入端VS15=+10V,此时测得的导通电阻定义为RON29,输入端VS15=-10V,此时测得的导通电阻定义为RON30;
当控制端A3A2A1A0=1111时,通道S16导通,输入端VS16=+10V,此时测得的导通电阻定义为RON31,输入端VS16=-10V,此时测得的导通电阻定义为RON32。
控制端和使能端按照真值表进行选择,使得对应的输出端通道S1~S16导通,共要32个测试值(RON1~RON32)。
以上仅是本发明的优选实施方式,应当指出:对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。
Claims (8)
1.一种16通道模拟开关电路导通电阻的测试方法,其特征在于,包括以下步骤,
S01,构建测试模块:构建DVI板卡(DVI_11)、OVI板卡(OVI_1)和MUX板卡,所述DVI板卡、OVI板卡用于提供测试类电源、地电平和高低电平;
DVI板卡(DVI_11)包括DVI第一通道(CH00)和DVI第二通道(CH01),所述DVI第一通道(CH00)和DVI第二通道(CH01)输出两组DC程控电压电流源,提供电路需要的正负电源;
OVI板卡(OVI_1)输出8通道电压电流源和电压电流测量单元,提供16通道模拟开关电路需要的输入端电压、使能端电压和控制端电压;所述8通道电压电流源和电压电流测量单元分别为CH0、CH1、CH2、CH3、CH4、CH5、CH6、CH7;
MUX板卡为继电器控制板,包括第一MUX板卡(MUX_14)和第二MUX板卡(MUX_20),第一MUX板卡(MUX_14)和第二MUX板卡(MUX_20)均包括32个外接继电器接口,所述第一MUX板卡(MUX_14)和第二MUX板卡(MUX_20)用于控制端、输入端和输出端之间切换;所述32个外接继电器接口分别为MUX_i_j,其中i=1,2,3,4,5,6,7,8,j=1,2,3,4;
S02,连接各测试板卡和16通道模拟开关电路管脚:
DVI板卡(DVI_11)的DVI第一通道(CH00)用于产生电路的负电源电压-15V与16通道模拟开关电路的VSS相连;
DVI板卡(DVI_11)的DVI第二通道(CH01)用于产生电路的正电源电压+15V与16通道模拟开关电路的VDD相连;
OVI板卡(OVI_1)的CH0通道用于产生电路的输入低电平电压+0.8V与第一MUX板卡(MUX_14)的MUX_2_2相连;
OVI板卡(OVI_1)的CH1通道用于产生电路的输入高电平电压+2.4V与第一MUX板卡(MUX_14)的MUX_1_2相连;
OVI板卡(OVI_1)的CH2通道用于产生电路的输入电压+10V与第一MUX板卡(MUX_14)的MUX_3_2及第二MUX板卡(MUX_20)的MUX_1_2相连;
OVI板卡(OVI_1)的CH3通道用于产生电路的地电平与16通道模拟开关电路的GND相连;
OVI板卡(OVI_1)的CH4通道用于测量输入端电压VS,与第二MUX板卡(MUX_20)的MUX_1_4相连;
OVI板卡(OVI_1)的CH5通道用于测量输出端电压VD与16通道模拟开关电路的输出端D和第一MUX板卡(MUX_14)的MUX_6_1相连;
OVI板卡(OVI_1)的CH6通道用于产生电路的输入电压-10V与第一MUX板卡(MUX_14)的MUX_5_1及第二MUX板卡(MUX_20)的MUX_6_1相连;
第一MUX板卡(MUX_14)的MUX_1_1与16通道模拟开关电路的使能端EN相连;
第一MUX板卡(MUX_14)的MUX_2_1与16通道模拟开关电路控制端A0相连;
第一MUX板卡(MUX_14)的MUX_3_1与16通道模拟开关电路控制端A1相连;
第一MUX板卡(MUX_14)的MUX_4_1与16通道模拟开关电路控制端A2相连;
第一MUX板卡(MUX_14)的MUX_5_4与16通道模拟开关电路控制端A3相连;
第二MUX板卡(MUX_20)的MUX_1_1与16通道模拟开关电路输入端S1相连;
第二MUX板卡(MUX_20)的MUX_3_1与16通道模拟开关电路输入端S2相连;
第二MUX板卡(MUX_20)的MUX_3_2与16通道模拟开关电路输入端S3相连;
第二MUX板卡(MUX_20)的MUX_3_3与16通道模拟开关电路输入端S4相连;
第二MUX板卡(MUX_20)的MUX_3_4与16通道模拟开关电路输入端S5相连;
第二MUX板卡(MUX_20)的MUX_4_1与16通道模拟开关电路输入端S6相连;
第二MUX板卡(MUX_20)的MUX_4_2与16通道模拟开关电路输入端S7相连;
第二MUX板卡(MUX_20)的MUX_4_3与16通道模拟开关电路输入端S8相连;
第二MUX板卡(MUX_20)的MUX_4_4与16通道模拟开关电路输入端S9相连;
第二MUX板卡(MUX_20)的MUX_5_1与16通道模拟开关电路输入端S10相连;
第二MUX板卡(MUX_20)的MUX_5_2与16通道模拟开关电路输入端S11相连;
第二MUX板卡(MUX_20)的MUX_5_3与16通道模拟开关电路输入端S12相连;
第二MUX板卡(MUX_20)的MUX_5_4与16通道模拟开关电路输入端S13相连;
第二MUX板卡(MUX_20)的MUX_6_2与16通道模拟开关电路输入端S14相连;
第二MUX板卡(MUX_20)的MUX_6_3与16通道模拟开关电路输入端S15相连;
第二MUX板卡(MUX_20)的MUX_6_4与16通道模拟开关电路输入端S16相连;
S03,建立测试项目:16通道模拟开关电路的输出端OUT串连一个电阻R到地,R=1KΩ;配置16通道模拟开关电路的使能端EN为高电平,使16通道模拟开关电路输入端S1~S16导通,同时依据16通道模拟开关电路的导通电阻真值表,控制端A3、A2、A1、A0配置高电平或者低电平;
S04,计算开关电路的导通电阻值:16通道模拟开关电路的输入端S1~S16均分别加+10V或-10V电压,测量OVI板卡(OVI_1)的CH4通道的电压值VS和OVI板卡(OVI_1)的CH5通道的电压值VD,根据公式(1),分别计算得到16通道模拟开关电路通道S1~S16的导通电阻值RON;
16通道模拟开关电路的芯片为AD7506。
2.根据权利要求1所述的一种16通道模拟开关电路导通电阻的测试方法,其特征在于,步骤S03所述16通道模拟开关电路的导通电阻真值表为:
3.根据权利要求1所述的一种16通道模拟开关电路导通电阻的测试方法,其特征在于,所述DVI板卡(DVI_11)提供的电路正负电源电压值包括+15V和-15V,OVI板卡(OVI_1)提供输入端电压、使能端电压和控制端电压,所述OVI板卡(OVI_1)提供的输入端电压电压值包括+10V和-10V,使能端电压和控制端电压电压值包括+2.4V和+0.8V。
4.根据权利要求1所述的一种16通道模拟开关电路导通电阻的测试方法,其特征在于,所述步骤S03配置的16通道模拟开关电路的控制端A3、A2、A1、A0配置高电平为2.4V,低电平为+0.8V。
5.根据权利要求1所述的一种16通道模拟开关电路导通电阻的测试方法,其特征在于,所述步骤S03配置的16通道模拟开关电路的使能端EN的高电平为+2.4V。
6.根据权利要求1所述的一种16通道模拟开关电路导通电阻的测试方法,其特征在于,所述步骤S03配置16通道模拟开关电路的使能端EN为高电平具体包括以下步骤:通过由OVI板卡(OVI_1)的OVI通道CH1内部的电源产生输入高电平电压+2.4V后,再由第一MUX板卡(MUX_14)的继电器内部切换继电器接口MUX_1_1使能并与继电器接口MUX_1_2相连,实现使能端EN接+2.4V。
7.根据权利要求1所述的一种16通道模拟开关电路导通电阻的测试方法,其特征在于,所述步骤S03配置16通道模拟开关电路的控制端A3、A2、A1、A0配置高电平或者低电平的方法具体包括以下步骤:通过由第一MUX板卡(MUX_14)内部继电器切换产生输入低电平电压或者高电平电压后,再由第一MUX板卡(MUX_14)继电器内部切换继电器接口MUX_1_2、MUX_2_1、MUX_2_2、MUX_3_1、MUX_4_1和MUX_5_4相连。
8.根据权利要求1所述的一种16通道模拟开关电路导通电阻的测试方法,其特征在于,步骤S04的16通道模拟开关电路的输入端S1~S16均分别加+10V或-10V电压方法具体包括以下步骤:
16通道模拟开关电路的输入端S1~S16接+10V:通过由OVI板卡(OVI_1)的通道CH2内部的电源产生输入高电平电压+10V,再由第二MUX板卡(MUX_20)继电器内部切换继电器接口MUX_1_1、MUX_1_2、MUX_3_1、MUX_3_2、MUX_3_3、MUX_3_4、MUX_4_1、MUX_4_2、MUX_4_3、MUX_4_4、MUX_5_1、MUX_5_2、MUX_5_3、MUX_5_4、MUX_6_2、MUX_6_3和MUX_6_4相连;
16通道模拟开关电路的输入端S1~S16接-10V:通过由OVI板卡(OVI_1)的通道CH6内部的电源产生输入低电平电压-10V,再由第二MUX板卡(MUX_20)继电器内部切换继电器接口MUX_1_1、MUX_3_1、MUX_3_2、MUX_3_3、MUX_3_4、MUX_4_1、MUX_4_2、MUX_4_3、MUX_4_4、MUX_5_1、MUX_5_2、MUX_5_3、MUX_5_4、MUX_6_1、MUX_6_2、MUX_6_3和MUX_6_4相连。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201410394530.9A CN104166051B (zh) | 2014-08-12 | 2014-08-12 | 一种16通道模拟开关电路导通电阻的测试方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201410394530.9A CN104166051B (zh) | 2014-08-12 | 2014-08-12 | 一种16通道模拟开关电路导通电阻的测试方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN104166051A CN104166051A (zh) | 2014-11-26 |
CN104166051B true CN104166051B (zh) | 2016-11-09 |
Family
ID=51909955
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201410394530.9A Active CN104166051B (zh) | 2014-08-12 | 2014-08-12 | 一种16通道模拟开关电路导通电阻的测试方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN104166051B (zh) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108398601B (zh) * | 2018-05-07 | 2024-04-16 | 上海海鹰机械厂 | 驾驶杆手柄综合测试仪 |
CN110108942A (zh) * | 2019-01-17 | 2019-08-09 | 天津大学 | 一种自动测量甲烷传感器阻值系统 |
CN111983427B (zh) * | 2020-08-11 | 2023-10-20 | 中国兵器工业集团第二一四研究所苏州研发中心 | 一种16通道模拟开关电路测试系统及测试方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101587148A (zh) * | 2008-05-20 | 2009-11-25 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 一种减小mos器件导通电阻测试值的方法 |
CN102981056A (zh) * | 2012-12-25 | 2013-03-20 | 北京航天测控技术有限公司 | 带自检定的导通电阻自动测试系统、装置及方法 |
CN203117380U (zh) * | 2013-03-01 | 2013-08-07 | 深圳雷杜生命科学股份有限公司 | 医疗设备pcba的测试装置 |
KR101297657B1 (ko) * | 2013-05-02 | 2013-08-21 | (주) 에이블리 | 반도체 테스트 스위치 회로 |
CN103487658A (zh) * | 2012-06-11 | 2014-01-01 | 华润矽威科技(上海)有限公司 | 高端电压自举n型开关导通电阻的检测电路 |
-
2014
- 2014-08-12 CN CN201410394530.9A patent/CN104166051B/zh active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101587148A (zh) * | 2008-05-20 | 2009-11-25 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 一种减小mos器件导通电阻测试值的方法 |
CN103487658A (zh) * | 2012-06-11 | 2014-01-01 | 华润矽威科技(上海)有限公司 | 高端电压自举n型开关导通电阻的检测电路 |
CN102981056A (zh) * | 2012-12-25 | 2013-03-20 | 北京航天测控技术有限公司 | 带自检定的导通电阻自动测试系统、装置及方法 |
CN203117380U (zh) * | 2013-03-01 | 2013-08-07 | 深圳雷杜生命科学股份有限公司 | 医疗设备pcba的测试装置 |
KR101297657B1 (ko) * | 2013-05-02 | 2013-08-21 | (주) 에이블리 | 반도체 테스트 스위치 회로 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN104166051A (zh) | 2014-11-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN101435838B (zh) | 电容容量测量装置 | |
CN204832351U (zh) | 一种微小电阻和绝缘电阻的一体化测试仪 | |
CN104166051B (zh) | 一种16通道模拟开关电路导通电阻的测试方法 | |
CN102890243B (zh) | 一种电池电量测量电路、测量装置及电池电量计 | |
CN102226831B (zh) | 芯片测试方法及锂电池保护芯片的测试电路 | |
CN207502674U (zh) | 一种新集成电路测试仪测试扩展通道系统 | |
CN102114307B (zh) | 一种除颤电极识别方法及除颤系统 | |
CN205679732U (zh) | 一种大电流冲击试验装置 | |
CN103838939B (zh) | 一种垂直型场效应晶体管直流特性和电容特性仿真方法 | |
CN205049678U (zh) | 摄像头模组开短路测试装置 | |
CN202600011U (zh) | 自动电阻测试仪 | |
CN106291306A (zh) | 薄膜晶体管的特性检测装置和显示设备 | |
CN104237642B (zh) | 一种霍尔电阻率自动测试方法 | |
CN204945288U (zh) | 一种电容测试装置 | |
CN104835435B (zh) | 一种液晶模块的测试方法及测试装置 | |
CN208969954U (zh) | 二极管伏安特性测定演示装置 | |
CN106932731A (zh) | 一种串联蓄电池组中各蓄电池内阻的检测方法 | |
CN106772102B (zh) | 电池组充放电性能测试设备 | |
CN109752638A (zh) | 一种连续测量igbt芯片输出曲线的装置及方法 | |
CN206178018U (zh) | 一种能自动检测自身电路电流的可穿戴设备 | |
CN108333433A (zh) | 结电容参数测试电路及其测试方法 | |
CN109935181A (zh) | 一种驱动电路、检测连接部件阻抗的方法及显示器 | |
CN209417611U (zh) | 一种共用mos管稳压稳流双极型电路 | |
CN107741545A (zh) | 一种微小卫星便携24 路oc 指令隔离检测器 | |
CN104515894B (zh) | 可充电电池电压的测试方法及装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
TR01 | Transfer of patent right |
Effective date of registration: 20180813 Address after: 233030 2016 Tang He road, Bengbu, Anhui Patentee after: Huadong Photoelectric Integrated Device Research Institute Address before: 215163 No. 89 Longshan Road, hi tech Zone, Suzhou, Jiangsu Patentee before: China North Industries Group Corporation No.214 Research Institute Suzhou R&D Center |
|
TR01 | Transfer of patent right |