CN206097859U - 一种显示面板和显示装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型实施例公开了一种显示面板和显示装置，该显示面板包括：多条数据线和多条扫描线，驱动芯片，第一控制点和至少三个测试点，多个显示测试开关，至少三个数据测试开关；在显示测试阶段，第一控制点控制多个显示测试开关导通，测试点将测试信号传输至各子像素以进行显示测试；在数据测试阶段，第一控制点控制多个显示测试开关断开，驱动芯片控制各子像素进行图像显示，驱动芯片通过其测试控制端控制数据测试开关导通以通过测试点测试数据线信号。本实用新型实施例中显示面板的三个测试点在数据测试阶段复用为数据测试，无需占用显示面板的边框区域，实现了显示面板小尺寸或窄边框，避免了盲测造成的显示面板损坏和材料浪费的问题。

Description

一种显示面板和显示装置

技术领域

本实用新型实施例涉及显示技术，尤其涉及一种显示面板和显示装置。

背景技术

众所周知，显示面板的好坏直接影响显示器画面的观看效果，同时显示面板的价格占据显示器成本的70％以上，因此显示面板是影响显示器质量和造价的主要因素，相应的在显示面板制造中通常会对显示面板进行多次测试以保证制造的显示面板的质量。

现有显示面板会进行显示测试和数据测试，以分析不良。如图1所示为现有技术提供的一种显示面板的示意图，该显示面板的边框区域设置有R、G、B、SW、S1和Sn等测试点，其中R、G、B和SW测试点为显示面板的像素显示测试用的测试点，S1和Sn测试点为显示面板的数据测试用的测试点。具体的，显示面板上的R子像素信号的薄膜晶体管10分别连接到一起并连接到对应的R测试点上，G子像素信号的薄膜晶体管10分别连接到一起并连接到对应的G测试点上，B子像素信号的薄膜晶体管10分别连接到一起并连接到对应的B测试点上。显示面板上的第一根数据线20和最后一根数据线20通过走线21拉到显示面板台阶上并在台阶上做成相应的测试点S1和Sn。

给显示面板加驱动芯片30之前会进行显示测试，即用探针给SW测试点施加高电平信号以使各薄膜晶体管10打开，分别给R、G和B测试点施加对应电平的信号，则显示面板进行显示并通过其显示可检测显示面板的不良，防止显示异常面板加驱动芯片造成材料浪费。若显示面板像素显示正常，给显示面板加驱动芯片30，驱动芯片30给SW测试点施加低电平信号以使各薄膜晶体管10关闭，此时显示面板可进行正常图像显示，并在图像显示过程中可进行数据测试，即通过台阶处的S1或Sn测试点来量测数据信号波形并分析。

然而，对于尺寸较小或边框较窄的产品，如智能手表、VR等，显示面板台阶上的空间不够，通常没办法做S1和Sn测试点，此时若需分析数据信号波形，通常会采用探针直接盲探数据线并进行量测的方式，极易造成面板损坏和材料浪费。

实用新型内容

本实用新型实施例提供一种显示面板和显示装置，以解决现有窄边框产品没有空间做数据测试点以及其数据测试方式易造成面板损坏的问题。

第一方面，本实用新型实施例提供了一种显示面板，该显示面板包括：

多条数据线和多条扫描线，所述多条数据线和所述多条扫描线交叉限定多个像素单元，所述像素单元至少包括红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素；

驱动芯片，用于通过多个数据信号端向所述多条数据线施加数据信号，以及用于通过测试控制端输出测试控制信号；

第一控制点和至少三个测试点，所述至少三个测试点至少包括与各所述红色子像素对应的第一测试点、与各所述绿色子像素对应的第二测试点、以及与各所述蓝色子像素对应的第三测试点；

与所述多个像素单元的各子像素一一对应设置的多个显示测试开关，所述显示测试开关的输出端与对应的所述子像素的数据线电连接、控制端与所述第一控制点电连接、以及输入端与对应的所述子像素所对应测试点电连接；

至少三个数据测试开关，所述数据测试开关的控制端均与所述驱动芯片的测试控制端电连接，第一个所述数据测试开关的输出端与一个所述红色子像素对应的数据线电连接、以及输入端与所述第一测试点电连接，第二个所述数据测试开关的输出端与一个所述绿色子像素对应的数据线电连接、以及输入端与所述第二测试点电连接，第三个所述数据测试开关的输出端与一个所述蓝色子像素对应的数据线电连接、以及输入端与所述第三测试点电连接；

在显示测试阶段，所述第一控制点控制所述多个显示测试开关导通，所述至少三个测试点将测试信号传输至所述各子像素以进行显示测试；在数据测试阶段，所述第一控制点控制所述多个显示测试开关断开，所述驱动芯片控制所述各子像素进行图像显示，以及所述驱动芯片通过所述测试控制端控制所述至少三个数据测试开关导通以通过所述至少三个测试点测试数据线信号。

第二方面，本实用新型实施例还提供了一种显示装置，该显示装置包括如上所述的显示面板。

本实用新型实施例提供的显示面板和显示装置，在一R子像素、一G子像素和一B子像素上各增加了一个数据测试开关，在数据测试阶段，第一控制点控制多个显示测试开关断开，驱动芯片控制各子像素进行图像显示，以及驱动芯片通过测试控制端控制各个数据测试开关导通，进而可通过第一测试点、第二测试点和第三测试点进行数据信号测试，从而获取数据线波形并分析。本实用新型实施例中，显示面板的三个用于显示测试的测试点在数据测试阶段复用进行数据测试，则无需占用显示面板的边框区域设置数据测试点，实现了显示面板的小尺寸或窄边框；与现有小尺寸或窄边框产品相比，该显示面板无需采用探针直接盲探数据线并进行量测，因此避免了盲测造成的显示面板损坏和材料浪费的问题。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图做一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为现有技术提供的一种显示面板的示意图；

图2是本实用新型一个实施例提供的显示面板的示意图；

图3是本实用新型另一个实施例提供的第一种显示面板的示意图；

图4是本实用新型另一个实施例提供的第二种显示面板的示意图；

图5是本实用新型又一个实施例提供的显示面板的示意图；

图6是本实用新型再一个实施例提供的显示面板的示意图；

图7是本实用新型还一个实施例提供的显示面板的示意图；

图8是本实用新型一个实施例提供的显示装置的示意图。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，以下将参照本实用新型实施例中的附图，通过实施方式清楚、完整地描述本实用新型的技术方案，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

如图2所示，为本实用新型一个实施例提供的显示面板的示意图。本实施例提供的显示面板包括：多条数据线110和多条扫描线(未示出)，多条数据线110和多条扫描线交叉限定多个像素单元120，像素单元120至少包括红色R子像素121、绿色G子像素122和蓝色B子像素123；驱动芯片130，用于通过多个数据信号端向多条数据线110施加数据信号，以及用于通过测试控制端SW2输出测试控制信号；第一控制点SW1和至少三个测试点，至少三个测试点至少包括与各红色子像素121对应的第一测试点TR、与各绿色子像素122对应的第二测试点TG、以及与各蓝色子像素123对应的第三测试点TB；与多个像素单元120的各子像素一一对应设置的多个显示测试开关140，显示测试开关140的输出端与对应的子像素的数据线110电连接、控制端与第一控制点SW1电连接、以及输入端与对应的子像素所对应测试点电连接；至少三个数据测试开关150，数据测试开关150的控制端均与驱动芯片130的测试控制端SW2电连接，第一个数据测试开关150a的输出端与一个红色子像素121对应的数据线110电连接、以及输入端与第一测试点TR电连接，第二个数据测试开关150b的输出端与一个绿色子像素122对应的数据线110电连接、以及输入端与第二测试点TG电连接，第三个数据测试开关150c的输出端与一个蓝色子像素123对应的数据线110电连接、以及输入端与第三测试点TB电连接。本实施例仅图示出显示面板的部分区域，本领域技术人员可以理解显示面板还包括其他区域，在此不再赘述和图示。

本实施例中可选显示面板为有机发光显示面板或液晶显示面板。本实施例中显示面板包括多个像素单元120，像素单元120至少包括R子像素121、G子像素122和B子像素123，在本实用新型其他实施例中还可选像素单元中包括四个子像素，如RGBW或RGBY或RGBB等，在本实用新型中不限制像素单元中的子像素数量。显示面板的数据线110向对应子像素传输数据信号以驱动子像素进行显示。

本实施例中驱动芯片130包括多个数据信号端，在此可选驱动芯片130的多个数据信号端与多条数据线110一一对应设置并电连接，数据信号端用于向对应的数据线110输出数据信号。在本实用新型其他实施例中还可选驱动芯片的一个数据信号端对应连接至少两条数据线，即一个数据信号端通过多路选择电路与多条数据线电连接，在此不再赘述。驱动芯片130还包括测试控制端SW2，分别与各个数据测试开关150的控制端电连接，则驱动芯片130通过测试控制端SW2输出测试控制信号以同时控制各个数据测试开关150打开或关闭。

本实施例中显示面板的非显示区域(即边框区域)还包括第一控制点SW1、第一测试点TR、第二测试TG点和第三测试点TB。其中，在第一控制点SW1上施加相应的电平信号以用于同时控制各显示测试开关140打开或关闭，在第一测试点TR、第二测试TG点和第三测试点TB上分别施加相应的显示测试信号以用于对显示面板进行显示测试。

本实施例中各子像素一一对应设置有显示测试开关140，以及还增加设置了三个数据测试开关150，其中三个数据测试开关150分别对应一R子像素121、G子像素122和B子像素123。本领域技术人员可以理解，三个数据测试开关对应的一R子像素、一G子像素和一B子像素，可以是位于同一像素单元中的RGB子像素，也可以是位于不同像素单元的RGB子像素，在本实用新型中不进行具体限制。

在本实施例中可选所述多个显示测试开关140为NMOS薄膜晶体管，所述至少三个数据测试开关150为NMOS薄膜晶体管。相应的在第一控制点SW1上施加高电平信号可同时控制各个显示测试开关140打开，在第一控制点SW1上施加低电平信号可同时控制各个显示测试开关140关闭；以及驱动芯片130通过测试控制端SW2输出高电平的测试控制信号可同时控制所述三个数据测试开关150打开，驱动芯片130通过测试控制端SW2输出低电平的测试控制信号可同时控制所述三个数据测试开关150关闭。在本实施例中控制各个测试开关导通的高电平信号大于各个测试开关的导通电压，以及控制各个测试开关断开的低电平信号小于各个测试开关的截止电压。

以下将对本实施例提供的显示面板的显示测试和数据测试进行具体描述。

在显示测试阶段，第一控制点SW1控制多个显示测试开关140导通，至少三个测试点将测试信号传输至各子像素以进行显示测试。具体的，在本实施例中可选用探针给第一控制点SW1上施加高电平信号以控制各个显示测试开关140同时导通，以及驱动芯片130通过测试控制端SW2输出低电平测试控制信号以控制各个数据测试开关150断开。然后，用三个探针同时或分别给第一测试点TR、第二测试点TG和第三测试点TB相应的显示测试信号，则显示测试信号通过数据线110传输至对应的子像素，由此显示面板进行显示，在此可根据显示面板的显示情况判断显示面板是否出现显示不良等问题。当分别给第一测试点TR、第二测试点TG和第三测试点TB相应的显示测试信号，则可以进行单色显示检测。在本实施例中三个探针给第一测试点TR、第二测试点TG和第三测试点TB的三种显示测试信号可能相同也可能不同，相关从业人员可根据显示测试所需自行设置测试信号的幅值。

在数据测试阶段，第一控制点SW1控制多个显示测试开关140断开，驱动芯片130控制各子像素进行图像显示，以及驱动芯片130通过测试控制端SW2控制至少三个数据测试开关150导通以通过至少三个测试点测试数据线信号。具体的，在本实施例中可选用探针给第一控制点SW1上施加低电平信号以控制各个显示测试开关140同时断开，驱动芯片130控制各子像素进行图像显示，以及驱动芯片130通过测试控制端SW2输出高电平测试控制信号以输出控制各个数据测试开关150导通。在显示面板正常显示时，用三个探针通过第一测试点TR、第二测试点TG和第三测试点TB来量测数据线110的信号波形，根据获取的数据信号波形，可用于检测数据信号和显示面板扫描线的扫描信号的搭配关系，从而便于调节显示面板时序。

本领域技术人员可以理解，显示测试阶段可在加驱动芯片之前完成，加驱动芯片之后执行数据测试阶段，由此可防止给显示不良的显示面板加驱动芯片造成材料浪费。本领域技术人员也可以理解，在此仅示出了显示面板的部分结构，显示面板的其他结构与现有技术类似并不再图示和赘述，如显示面板还包括扫描线和彩膜基板等结构，不同产品的显示面板可能有结构差别，在此不再详述。

本实施例提供的显示面板，在一R子像素、一G子像素和一B子像素上各增加了一个数据测试开关，在数据测试阶段，第一控制点控制多个显示测试开关断开，驱动芯片控制各子像素进行图像显示，以及驱动芯片通过测试控制端控制各个数据测试开关导通，进而可通过第一测试点、第二测试点和第三测试点进行数据信号测试，从而获取数据线波形并分析。本实施例提供的显示面板中，三个用于显示测试的测试点在数据测试阶段复用进行数据测试，则无需占用显示面板的边框区域设置数据测试点，实现了显示面板的小尺寸或窄边框；与现有小尺寸或窄边框产品相比，该显示面板无需采用探针直接盲探数据线并进行量测，因此避免了盲测造成的显示面板损坏和材料浪费的问题。

本实用新型另一个实施例还提供一种显示面板，该显示面板与上述实施例的区别在于，驱动芯片的一个数据信号端对应至少两条数据线；相应的，显示面板还包括：多路选择电路，多路选择电路的输入端与多个数据信号端一一对应设置并电连接、输出端与多条数据线一一对应设置并电连接、以及控制端与驱动芯片电连接，用于在驱动芯片的控制下，将从驱动芯片接收的数据信号传输至对应的数据线。

本领域技术人员可以理解，显示面板的驱动方式包括多种翻转模式，如点翻转、列翻转、行翻转和帧翻转等，不同翻转模式的显示面板的驱动芯片的驱动方式不同。在本实施例中以显示面板为列翻转模式为例进行描述。

在上述实施例的基础上，本实施例提供了第一种显示面板，如图3所示该显示面板中，可选驱动芯片130的一个数据信号端对应三条数据线110，则相应的多路选择电路160为2:6多路选择电路。在本实施例中可选数据信号端S1和数据信号端S2共同驱动六列子像素。本实施例附图标记沿用上述附图标记。本实施例仅图示出显示面板的部分区域，本领域技术人员可以理解显示面板还包括其他区域，在此不再赘述和图示。

如图3所示，多路选择电路160包括多个切换单元161，以及还包括多条时序控制线CKHR1、CKHG1、CKHB1、XCKHR1、XCKHG1和XCKHB1，在此驱动芯片130上具有与六条时序控制线一一对应设置并电连接的六个时序控制端(未示出)，驱动芯片130向各条时序控制线对应施加相应的时序控制信号。

具体的，在第m帧图像中，数据信号端S1输出的数据信号为正向数据状态，数据信号端S2输出的数据信号为负向数据状态。第n行像素开关被打开，驱动芯片130向CKHR1和XCKHR1分别施加相应时序控制信号以使对应的各个切换单元161同时打开，并将正向数据信号传输给第n行的第一个R子像素121以及将负向数据信号传输给第n行的第二个R子像素121，显然第n行任意相邻两个R子像素121获取的数据信号的数据状态不同。驱动芯片130再向CKHG1和XCKHG1分别施加相应时序控制信号以使对应的各个切换单元161同时打开，并将负向数据信号传输给第n行的第一个G子像素122以及将正向数据信号传输给第n行的第二个G子像素122，显然第n行任意相邻两个G子像素122获取的数据信号的数据状态不同。驱动芯片130再向CKHB1和XCKHB1分别施加相应时序控制信号以使对应的各个切换单元161同时打开，并将正向数据信号传输给第n行的第一个B子像素123以及将负向数据信号传输给第n行的第二个B子像素123，显然第n行任意相邻两个B子像素123获取的数据信号的数据状态不同。

在第m+1帧图像中，数据信号端S1输出的数据信号为负向数据状态，数据信号端S2输出的数据信号为正向数据状态。第n行像素开关被打开，驱动芯片130向CKHR1和XCKHR1分别施加相应时序控制信号以使对应的各个切换单元161同时打开，并将负向数据信号传输给第n行的第一个R子像素121以及将正向数据信号传输给第n行的第二个R子像素121。驱动芯片130再向CKHG1和XCKHG1分别施加相应时序控制信号以使对应的各个切换单元161同时打开，并将正向数据信号传输给第n行的第一个G子像素122以及将负向数据信号传输给第n行的第二个G子像素122。驱动芯片130再向CKHB1和XCKHB1分别施加相应时序控制信号以使对应的各个切换单元161同时打开，并将负向数据信号传输给第n行的第一个B子像素123以及将正向数据信号传输给第n行的第二个B子像素123，显然第n行任意相邻两个B子像素123获取的数据信号的数据状态不同。

如上所述，该显示面板中驱动芯片130的每个数据信号端对应驱动三条数据线110，驱动芯片130的数据信号端的端口数量显著减少，从而降低了驱动芯片130的成本。本领域技术人员可以理解，多路选择电路包括但不限于2:6模式多路选择电路，在其他实施例中还可选多路选择电路为1:n模式多路选择电路，即一个数据信号端对应n条数据线，在此不再赘述。

在上述实施例的基础上，本实施例提供了第二种显示面板，如图4所示该显示面板中，可选驱动芯片130的一个数据信号端对应两条数据线110，则相应的多路选择电路160为2:4多路选择电路。在本实施例中可选数据信号端S1和数据信号端S2共同驱动四列子像素。

如图4所示，多路选择电路160包括多个切换单元161，以及还包括多条时序控制线CKH1、CKH2、XCKH1和XCKH2，在此驱动芯片130上具有与四条时序控制线一一对应设置并电连接的四个时序控制端(未示出)，驱动芯片130向各条时序控制线对应施加相应的时序控制信号。本实施例附图标记沿用上述附图标记。

具体的，在第m帧图像中，数据信号端S1输出的数据信号为正向数据状态，数据信号端S2输出的数据信号为负向数据状态。第n行像素开关被打开，驱动芯片130向CKH1和XCKH1分别施加相应时序控制信号以使对应的各个切换单元161同时打开，并将正向数据信号传输给第n行的奇数列子像素。驱动芯片130再向CKH2和XCKH2分别施加相应时序控制信号以使对应的各个切换单元161同时打开，并将负向数据信号传输给第n行的偶数列子像素。显然第n行任意相邻两个子像素获取的数据信号的数据状态不同。

在第m+1帧图像中，数据信号端S1输出的数据信号为负向数据状态，数据信号端S2输出的数据信号为正向数据状态。第n行像素开关被打开，驱动芯片130向CKH1和XCKH1分别施加相应时序控制信号以使对应的各个切换单元161同时打开，并将负向数据信号传输给第n行的奇数列子像素。驱动芯片130再向CKH2和XCKH2分别施加相应时序控制信号以使对应的各个切换单元161同时打开，并将正向数据信号传输给第n行的偶数列子像素。显然第n行任意相邻两个子像素获取的数据信号的数据状态不同。

如上所述，该显示面板中驱动芯片130的每个数据信号端对应驱动两条数据线110，驱动芯片130的数据信号端的端口数量显著减少，从而降低了驱动芯片130的成本。本领域技术人员可以理解，多路选择电路包括但不限于2:4模式多路选择电路，在其他实施例中还可选多路选择电路为1:n模式多路选择电路，即一个数据信号端对应n条数据线，在此不再赘述。

上述任意实施例示出的显示面板中，像素单元包括三个子像素，相应的显示面板包括三个RGB测试点。本实用新型又一个实施例还提供一种显示面板，该显示面板与上述任意实施例的区别在于，像素单元还包括第四子像素，相应的，显示面板还包括：与各第四子像素对应的第四测试点；第四个数据测试开关，第四个数据测试开关的输出端与一个第四子像素对应的数据线电连接、以及输入端与第四测试点电连接。可选第四子像素为白色子像素或黄色子像素，在本实施例中可选第四子像素为白色W子像素。

在此以图2所示显示面板为基础示例本实施例提供的显示面板，如图5所示本实施例提供的显示面板中像素单元120还包括第四子像素124，相应的，显示面板还包括：与各第四子像素124对应的一第四测试点TW；以及第四个数据测试开关150d，第四个数据测试开关150d的控制端与驱动芯片130的测试控制端SW2电连接、输出端与一个第四子像素124对应的数据线110电连接、以及输入端与第四测试点TW电连接，在此第四子像素124为白色子像素。本实施例附图标记沿用上述附图标记。本领域技术人员可以理解，四个数据测试开关对应的一R子像素、一G子像素、一B子像素和一W子像素，可以是位于同一像素单元中的RGBW子像素，也可以是位于不同像素单元的RGBW子像素，在本实用新型中不进行具体限制。本实施例仅图示出显示面板的部分区域，本领域技术人员可以理解显示面板还包括其他区域，在此不再赘述和图示。

在本实施例中可选所述多个显示测试开关140为NMOS薄膜晶体管，所述至少三个数据测试开关150为NMOS薄膜晶体管。相应的在第一控制点SW1上施加高电平信号或低电平信号可控制各个显示测试开关140同时打开或同时关闭，以及驱动芯片130通过测试控制端SW2输出高电平测试控制信号或低电平测试控制信号可控制四个数据测试开关150同时打开或同时关闭。

以下将对本实施例提供的显示面板的显示测试和数据测试进行具体描述。

在显示测试阶段，可选用探针给第一控制点SW1上施加高电平信号以控制各个显示测试开关140同时导通，以及驱动芯片130通过测试控制端SW2输出低电平测试控制信号以控制各个数据测试开关150断开。然后，用四个探针同时或分别给第一测试点TR、第二测试点TG、第三测试点TB和第四测试点TW相应的显示测试信号，则显示面板进行显示并根据显示面板的显示情况可判断显示面板是否出现显示不良等问题。当分别给第一测试点TR、第二测试点TG、第三测试点TB和第四测试点TW相应的显示测试信号，则可以进行单色显示检测。

在数据测试阶段，可选用探针给第一控制点SW1上施加低电平信号以控制各个显示测试开关140同时断开，驱动芯片130控制各子像素进行图像显示，以及驱动芯片130通过测试控制端SW2输出高电平测试控制信号以输出控制各个数据测试开关150导通。在显示面板正常显示时，用四个探针通过第一测试点TR、第二测试点TG、第三测试点TB和第四测试点TW来量测数据线110的信号波形。

本领域技术人员可以理解，显示测试阶段可在加驱动芯片之前完成，加驱动芯片之后执行数据测试阶段，由此可防止给显示不良的显示面板加驱动芯片造成材料浪费。

本实施例提供的显示面板，四个用于显示测试的测试点在数据测试阶段复用进行数据测试，则无需占用显示面板的边框区域设置数据测试点，实现了显示面板的小尺寸或窄边框；与现有小尺寸或窄边框产品相比，该显示面板无需采用探针直接盲探数据线并进行量测，因此避免了盲测造成的显示面板损坏和材料浪费的问题。

在上述任意实施例的基础上，本实用新型再一个实施例还提供一种显示面板，该显示面板与上述任意实施例的区别在于，第一控制点集成在驱动芯片中，在显示测试阶段，驱动芯片通过第一控制点输出控制导通多个显示测试开关的电压信号，以及在数据测试阶段，驱动芯片通过第一控制点输出控制断开多个显示测试开关的电压信号。

在此以图2所示显示面板为基础示例本实施例提供的显示面板，如图6所示本实施例提供的显示面板中，第一控制点SW1集成在驱动芯片130中，在显示测试阶段，驱动芯片130通过第一控制点SW1输出控制导通多个显示测试开关140的电压信号，以及在数据测试阶段，驱动芯片130通过第一控制点SW1输出控制断开多个显示测试开关140的电压信号。本实施例附图标记沿用上述附图标记。本实施例仅图示出显示面板的部分区域，本领域技术人员可以理解显示面板还包括其他区域，在此不再赘述和图示。

具体的，显示测试开关140可选为NMOS薄膜晶体管，则在显示测试阶段，驱动芯片130通过第一控制点SW1输出控制导通多个显示测试开关140的电压信号，该电压信号大于NMOS薄膜晶体管的导通电压。在数据测试阶段，驱动芯片130通过第一控制点SW1输出控制断开多个显示测试开关140的电压信号，该电压信号小于NMOS薄膜晶体管的截止电压。本实施例提供的显示面板无需采用探针给第一控制点SW1施加电压信号以控制多个显示测试开关140同时打开或同时关闭，而是第一控制点SW1作为驱动芯片130的一个控制端口，驱动芯片130直接通过第一控制点SW1输出控制多个显示测试开关140同时打开或同时关闭的电压信号，由此可避免探针对显示面板的损伤。本实施例中显示面板的显示测试阶段的显示测试过程和数据测试阶段的数据测试过程与上述任意实施例所述类似，在此不再赘述。

上述任意实施例提供的显示面板，每个显示测试开关均为NMOS薄膜晶体管，每个数据测试开关均为NMOS薄膜晶体管。在本实用新型中，基于各个显示测试开关的控制端与第一控制点电连接，第一控制点上的电平信号控制各个显示测试开关同时导通或同时断开，可选各个显示测试开关的型号相同，即各个显示测试开关均为NMOS薄膜晶体管或者均为PMOS薄膜晶体管。在本实用新型中，基于各个数据测试开关的控制端与驱动芯片的测试控制端电连接，驱动芯片控制各个数据测试开关同时导通或同时断开，可选各个数据测试开关的型号相同，即各个数据测试开关均为NMOS薄膜晶体管或者均为PMOS薄膜晶体管。

在此以图2所示显示面板为基础示例本实施例提供的显示面板，如图7所示本实施例提供的显示面板中，多个显示测试开关140为NMOS薄膜晶体管，至少三个数据测试开关150为PMOS薄膜晶体管。在本实施例中显示测试阶段，可选用探针给第一控制点SW1上施加高电平信号以控制各个显示测试开关140同时导通，以及驱动芯片130通过测试控制端SW2输出高电平测试控制信号以控制各个数据测试开关150同时断开，并进行显示测试。在本实施例中数据测试阶段，可选用探针给第一控制点SW1上施加低电平信号以控制各个显示测试开关140同时断开，以及驱动芯片130通过测试控制端SW2输出低电平测试控制信号以控制各个数据测试开关150同时导通，并进行数据测试。具体测试过程与上述任意实施例相同，在此不再赘述。本实施例仅图示出显示面板的部分区域，本领域技术人员可以理解显示面板还包括其他区域，在此不再赘述和图示。

本领域技术人员可以理解，在其他实施例中可选多个显示测试开关为PMOS薄膜晶体管，至少三个数据测试开关为PMOS薄膜晶体管，在此不再赘述。

本实用新型实施例还提供一种显示装置，该显示装置包括如上任意实施例所述的显示面板，如图8所示，该显示装置包括边框区域100和显示区域200，边框区域100至少设置有如上任意实施例所述的驱动芯片和测试点等结构，显示区域200至少设置有如上任意实施例所述的像素单元。本实施例仅图示出显示装置的部分区域，本领域技术人员可以理解显示装置还包括其他区域，在此不再赘述和图示。

注意，上述仅为本实用新型的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本实用新型不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本实用新型的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本实用新型进行了较为详细的说明，但是本实用新型不仅仅限于以上实施例，在不脱离本实用新型构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本实用新型的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (13)

1.一种显示面板，其特征在于，包括：

多条数据线和多条扫描线，所述多条数据线和所述多条扫描线交叉限定多个像素单元，所述像素单元至少包括红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素；

驱动芯片，用于通过多个数据信号端向所述多条数据线施加数据信号，以及用于通过测试控制端输出测试控制信号；

第一控制点和至少三个测试点，所述至少三个测试点至少包括与各所述红色子像素对应的第一测试点、与各所述绿色子像素对应的第二测试点、以及与各所述蓝色子像素对应的第三测试点；

与所述多个像素单元的各子像素一一对应设置的多个显示测试开关，所述显示测试开关的输出端与对应的所述子像素的数据线电连接、控制端与所述第一控制点电连接、以及输入端与对应的所述子像素所对应测试点电连接；

至少三个数据测试开关，所述数据测试开关的控制端均与所述驱动芯片的测试控制端电连接，第一个所述数据测试开关的输出端与一个所述红色子像素对应的数据线电连接、以及输入端与所述第一测试点电连接，第二个所述数据测试开关的输出端与一个所述绿色子像素对应的数据线电连接、以及输入端与所述第二测试点电连接，第三个所述数据测试开关的输出端与一个所述蓝色子像素对应的数据线电连接、以及输入端与所述第三测试点电连接；

在显示测试阶段，所述第一控制点控制所述多个显示测试开关导通，所述至少三个测试点将测试信号传输至所述各子像素以进行显示测试；在数据测试阶段，所述第一控制点控制所述多个显示测试开关断开，所述驱动芯片控制所述各子像素进行图像显示，以及所述驱动芯片通过所述测试控制端控制所述至少三个数据测试开关导通以通过所述至少三个测试点测试数据线信号。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述驱动芯片的多个数据信号端与所述多条数据线一一对应设置并电连接，所述数据信号端用于向对应的所述数据线输出数据信号。

3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，一个所述数据信号端对应至少两条所述数据线；相应的，所述显示面板还包括：

多路选择电路，所述多路选择电路的输入端与所述多个数据信号端一一对应设置并电连接、输出端与所述多条数据线一一对应设置并电连接、以及控制端与所述驱动芯片电连接，用于在所述驱动芯片的控制下，将从所述驱动芯片接收的数据信号传输至对应的所述数据线。

4.根据权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述多路选择电路为2:6多路选择电路。

5.根据权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述多路选择电路为2:4多路选择电路。

6.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述像素单元还包括第四子像素，相应的，还包括：

与各所述第四子像素对应的第四测试点；

第四个数据测试开关，第四个所述数据测试开关的输出端与一个所述第四子像素对应的数据线电连接、以及输入端与所述第四测试点电连接。

7.根据权利要求6所述的显示面板，其特征在于，所述第四子像素为白色子像素或黄色子像素。

8.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，第一控制点集成在所述驱动芯片中，在显示测试阶段，所述驱动芯片通过所述第一控制点输出控制导通所述多个显示测试开关的电压信号，以及在数据测试阶段，所述驱动芯片通过所述第一控制点输出控制断开所述多个显示测试开关的电压信号。

9.根据权利要求1-8任一项所述的显示面板，其特征在于，所述多个显示测试开关为NMOS薄膜晶体管，所述至少三个数据测试开关为NMOS薄膜晶体管。

10.根据权利要求1-8任一项所述的显示面板，其特征在于，所述多个显示测试开关为NMOS薄膜晶体管，所述至少三个数据测试开关为PMOS薄膜晶体管。

11.根据权利要求1-8任一项所述的显示面板，其特征在于，所述多个显示测试开关为PMOS薄膜晶体管，所述至少三个数据测试开关为PMOS薄膜晶体管。

12.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板为有机发光显示面板或液晶显示面板。

13.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求1-12任一项所述的显示面板。