CN104777636A - 测试系统及测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种测试系统及测试方法，该测试系统用于显示面板的测试，所述显示面板具有设置于所述显示面板的非显示区的信号输入端子，与显示区的信号传输线直接连接，测试系统包括：信号生成单元，具有第一模式和第二模式，在第一模式下生成用于测试显示面板的面板级电压-透过率曲线的测试信号，在第二模式下生成用于测试显示面板的模组级电压-透过率曲线的测试信号；控制单元，用于根据当前的测试需求控制所述信号生成单元的工作模式；输出单元，用于将所述信号生成单元所生成的测试信号输出到所述信号输入端子，以驱动所述显示面板的至少一部分进行显示。本发明在同一阶段实现了VT曲线的面板级测试和模组级测试，提高了测试效率。

Description

测试系统及测试方法

技术领域

本发明涉及测试技术，特别是一种用于测试液晶显示装置的VT曲线的测试系统及测试方法。

背景技术

显示面板的电压-透过率曲线(V-T曲线)是指显示模组在无驱动电路阶段显示面板自身的电压-透过率曲线，它是产品开发阶段的重要数据支持。

对于传统的液晶显示面板而言，其电压-透过率曲线的测试是通过如下方式进行的：

首先，在栅线和数据线的输入端涂覆导电胶；

其次，由信号发生器在栅线和数据线的输入端引出导线，与导电胶相连；

再次，由信号发生器在栅线的输入端输入高压信号，使薄膜晶体管处于开启状态，而在数据线的输入端输入数据电压信号；

最后，由光学测试设备在数据电压信号变化的过程中测得相应的亮度，从而得到电压-透过率曲线。

其中透过率(T)＝显示模组的测量亮度显示模组的最大亮度。

在测试过程中，数据驱动测试信号由电压源提供，而栅线驱动测试信号由模组本身的PCB提供。通过电压源输出电压的改变来改变Data信号的电压，从而改变模组亮度。

在现有技术中，对显示面板的VT曲线测试存在两种测试：面板级测试和模组级测试。其中，面板级测试更多的关注液晶面板本身的性能，而模组级测试与液晶的实际工作状态更加接近，因此两种测试有各自的关注点和好处。

然而，现有技术中，模组级测试都是在封装好芯片之后进行，此时进行测试需要拆除数据驱动芯片和面板之间的连接，以向数据线加载数据驱动测试信号。而这很明显会对显示面板造成一定程度的破坏，而且测试过后的显示面板需要重新建立芯片和面板之间的电连接，增加工艺流程，浪费了时间。

发明内容

本发明实施例的目的在于提供一种测试系统及测试方法，提高测试效率，在同一阶段实现VT曲线的面板级测试和模组级测试。

为实现上述目的，本发明实施例提供了一种测试系统，用于显示面板的测试，所述显示面板具有设置于所述显示面板的非显示区的信号输入端子，与显示区的信号传输线直接连接，所述测试系统包括：

信号生成单元，具有第一模式和第二模式，在所述第一模式下生成用于测试显示面板的面板级电压-透过率曲线的测试信号，在所述第二模式下生成用于测试显示面板的模组级电压-透过率曲线的测试信号；

控制单元，用于根据当前的测试需求控制所述信号生成单元的工作模式；

输出单元，用于将所述信号生成单元所生成的测试信号输出到所述信号输入端子，以驱动所述显示面板的至少一部分进行显示。

上述的测试系统，其中，还包括：

采集单元，用于采集所述显示面板在所述输出单元输出的测试信号的驱动下进行显示时的发光亮度；

分析单元，用于确定所述测试信号中输出到数据线的数据测试信号的电压值，并依据所述电压值和亮度建立对应级别的电压-透过率曲线。

上述的测试系统，其中，所述信号生成单元包括：

栅极驱动信号生成单元，具有第一模式和第二模式，在所述第一模式下生成用于测试显示面板的面板级电压-透过率曲线的栅极驱动测试信号，在所述第二模式下生成用于测试显示面板的面板级电压-透过率曲线的栅极驱动测试信号；

数据驱动信号生成单元，用于生成测试显示面板的面板级电压-透过率曲线的数据驱动测试信号；

所述控制单元用于根据当前的测试需求控制所述栅极驱动信号生成单元的工作模式。

上述的测试系统，其中，还包括：

承载平台，用于承载所述显示面板；

背光源，设置于所述承载平台上，用于向所述显示面板提供背光。

上述的测试系统，其中，所述信号输入端子包括栅极驱动信号输入端子和数据驱动信号输入端子，所述输出单元包括：

第一连接器，一端设置有用于接收所述栅极驱动信号生成单元输出的栅极驱动测试信号的输入接口，另一端设置用于向所述栅极驱动信号输入端子输出所述栅极驱动测试信号的探针；

第二连接器，一端设置有用于接收所述数据驱动信号生成单元输出的数据驱动测试信号的输入接口，另一端设置用于向所述数据驱动信号输入端子输出所述数据驱动测试信号的探针。

上述的测试系统，其中，还包括：

第一导轨，平行于栅极驱动信号输入端子的排列方向，所述第一连接器设置于所述导轨上，能够沿所述导轨运动；

第二导轨，平行于数据驱动信号输入端子的排列方向，所述第二连接器设置于所述导轨上，能够沿所述导轨运动。

上述的测试系统，其中，还包括：

第一位置调节装置，用于在栅极驱动信号输入端子的延伸方向上调节所述第一导轨的位置；

第二位置调节装置，用于在数据驱动信号输入端子的延伸方向上调节所述第一导轨的位置。

上述的测试系统，其中，还包括：

第三位置调节装置，用于在垂直于显示面板的显示面的方向上调节所述第一连接器的探针的位置；

第四位置调节装置，用于在垂直于显示面板的显示面的方向上调节所述第二连接器的探针的位置。

上述的测试系统，其中，所述数据驱动信号生成单元用于生成多个数据驱动测试信号，所述多个驱动测试信号分为第一序列和第二序列，其中第一序列和第二序列中的数据驱动测试信号均按照电压值从小到大的顺序排列，第一序列中数据驱动测试信号的最大电压值小于或等于公共电压值，第二序列中数据驱动测试信号的最小电压值大于或等于公共电压值，所述数据驱动信号生成单元轮流向输出单元输出第一序列和第二序列中的数据驱动测试信号，且所述数据驱动信号生成单元从第一序列中按照第一顺序输出第一序列中的数据驱动测试信号，从第二序列中按照与第一顺序相反的第二顺序输出第二序列中的数据驱动测试信号。

为实现上述目的，本发明实施例还提供了一种测试方法，用于显示面板的测试，所述显示面板具有设置于所述显示面板的非显示区的信号输入端子，与显示区的信号传输线直接连接，所述测试方法包括：

根据当前的测试需求控制信号生成单元处于第一模式或第二模式；

在所述第一模式下，由所述信号生成单元生成用于测试显示面板的面板级电压-透过率曲线的测试信号，在所述第二模式下，由所述信号生成单元生成用于测试显示面板的模组级电压-透过率曲线的测试信号；

将所述信号生成单元所生成的测试信号输出到所述信号输入端子，以驱动所述显示面板的至少一部分进行显示。

上述的测试方法，其中，还包括：

采集所述显示面板在所述输出单元输出的测试信号的驱动下进行显示时的发光亮度；

确定所述测试信号中输出到数据线的数据测试信号的电压值，并依据所述电压值和亮度建立对应级别的电压-透过率曲线。

上述的测试方法，其中，所述测试信号包括多个数据驱动测试信号，所述多个驱动测试信号分为第一序列和第二序列，其中第一序列和第二序列中的数据驱动测试信号均按照电压值从小到大的顺序排列，第一序列中数据驱动测试信号的最大电压值小于或等于公共电压值，第二序列中数据驱动测试信号的最小电压值大于或等于公共电压值，所述数据驱动信号生成单元轮流向输出单元输出第一序列和第二序列中的数据驱动测试信号，且所述数据驱动信号生成单元从第一序列中按照第一顺序输出第一序列中的数据驱动测试信号，从第二序列中按照与第一顺序相反的第二顺序输出第二序列中的数据驱动测试信号。

本发明实施例中，在面板还没有加载芯片之前，即可利用信号生成单元生成针对不同级别VT测试的测试信号，在同一个阶段即可得到不同级别的VT测试曲线，缩短测试流程的同时简化了测试流程，同时也省去了现有技术的重新建立芯片和面板之间的电连接的时间，避免了在搭载芯片之后进行模组级别VT曲线测试对显示模组带来的损坏。

同时本发明实施例只需一套设备实现不同级别的VT曲线测试，降低了VT曲线测试的测试成本。

附图说明

图1表示本发明实施例的测试系统的结构示意图；

图2表示本发明实施例的信号生成单元的结构示意图；

图3表示本发明实施例中基于信号输入端子定义X、Y、Z方向的示意图；

图4表示本发明实施例中测试过程中形成的电场的示意图；

图5表示本发明实施例的测试方法的流程示意图；

图6表示本发明实施例的测试系统的一种实现方式的结构示意图；

图7表示本发明实施例的点灯治具的结构示意图；

图8表示本发明实施例的一种连接器的结构示意图；

图9表示本发明实施例的另一种连接器的结构示意图；

图10表示本发明实施例的探针的结构示意图。

具体实施方式

本发明具体实施例的测试系统及测试方法中，通过采用具有不同工作模式的信号生成单元，该信号生成单元可以模拟芯片对信号的处理来生成测试信号，因此可以针对还没有搭载芯片的面板输出测试信号进行模组级别的测试，降低了模组级VT曲线测试的成本。

在对本发明实施例进行详细说明之前，先对本发明实施例涉及到的一些概念进行说明，以便于更好的理解本发明实施例。

在液晶显示面板的实际工作过程中，栅极驱动芯片输出的电压至少包括两种数值：打开电压和关闭电压。

对于面板级VT曲线测试而言，其更多的用于评价液晶本身的电压扭转特性是否符合要求，因此面板级VT曲线测试时输入到栅极的信号为直流电压信号，保持TFT的常导通状态即可。

然而，在显示面板内部，栅极金属和源极金属之间存在一定的重叠，二者之间会构成寄生电容Cgs。

而当栅极驱动芯片输出的电压在打开电压和关闭电压之间跳变时，这种电压的跳变会被寄生电容Cgs耦合到像素电极，造成像素电压跳变，而这种跳变的电压称之为Feedthrough电压。

而由于面板级VT曲线测试时输入到栅极的信号为保持TFT处于打开状态的直流电压信号，所以其无法反应Feedthrough电压，也就是说面板级VT曲线测试得到的VT曲线与面板实际工作时的真实VT曲线有一定的差异。

然而，伽马调节考虑的是面板实际工作的状态，因此为了更加准确的得到面板在实际工作状态下的曲线，模组级VT曲线测试时输入到栅极的信号为交流电压信号，其与液晶面板的实际工作状态更加匹配，得到的测试数据用于后续的伽马调节时会得到更加准确的结果。

本发明实施例的测试系统，用于显示面板的测试，所述显示面板具有设置于所述显示面板的非显示区的信号输入端子，与显示区的信号传输线直接连接，如图1所示，所述测试系统包括：

信号生成单元101，具有第一模式和第二模式，在所述第一模式下生成用于测试显示面板的面板级电压-透过率曲线的测试信号，在所述第二模式下生成用于测试显示面板的模组级电压-透过率曲线的测试信号；

控制单元102，用于根据当前的测试需求控制所述信号生成单元的工作模式；

输出单元103，用于将所述信号生成单元所生成的测试信号输出到所述信号输入端子，以驱动所述显示面板的至少一部分进行显示。

本发明实施例的测试系统采用具有不同工作模式的信号生成单元，该信号生成单元生成针对不同级别的测试信号，因此可以针对还没有搭载芯片的面板输出测试信号进行模组级VT曲线的测试。

对其优点详细解释如下。

缩短了并简化了测试流程

现有技术中，需要在不同的阶段来分别进行面板级测试和模组级测试，拉长了产品的测试流程。而本发明实施例中，在面板还没有加载芯片之前，即可利用信号生成单元生成针对不同级别VT测试的测试信号，在同一个阶段即可得到不同级别的VT测试曲线，缩短测试流程的同时简化了测试流程。

同时，现有技术中进行模组级VT曲线测试后还需要重新建立芯片和面板之间的电连接，浪费了时间。而本发明实施例在面板还没有加载芯片之前即可完成模组级别VT曲线测试，因此省去了现有技术的重新建立芯片和面板之间的电连接的时间。

减少了测试过程中对产品的破坏

显示面板的电压-透过率曲线(V-T曲线)是指显示模组在无驱动电路阶段显示面板自身的电压-透过率曲线。而现有技术中的模组级别的VT曲线测试是在搭载了芯片之后进行，因此需要剥离芯片与显示面板之间的电连接，以向数据线加载数据驱动测试信号。而这很明显会对显示面板造成一定程度的破坏。

而本发明实施例在面板还没有加载芯片之前即可完成模组级别VT曲线测试，因此避免了在搭载芯片之后进行模组级别VT曲线测试对显示模组带来的损坏。

测试成本的降低

液晶显示面板在不同的阶段处于不同的位置，因此现有技术中面板级VT曲线测试和模组级VT曲线测试需要在不同地点进行，需要准备多套测试设备。

而本发明具体实施例中，在面板还没有加载芯片之前即可通过信号生成单元生成不同的测试信号来完成面板级别VT曲线测试和模组级别VT曲线测试，因此只需一套设备实现不同级别的VT曲线测试，降低了VT曲线测试的测试成本。

当然，在用于VT曲线测试的测试系统中，还包括：

采集单元，用于采集所述显示面板在所述输出单元输出的测试信号的驱动下进行显示时的发光亮度；

分析单元，用于确定所述测试信号中输出到数据线的数据测试信号的电压值，并依据所述电压值和亮度建立对应级别的电压-透过率曲线。

显示面板的电压-透过率曲线(V-T曲线)是指显示模组在无驱动电路阶段显示面板自身的电压-透过率曲线，因此对于数据线而言，其在面板级测试和模组级测试中加载的数据的形式都是一致的，都是直流信号。而对于栅线而言，其在面板级测试和模组级测试中加载的数据的形式是不同的，在面板级测试中，其加载的是使得TFT长期处于打开状态的直流信号，而在模组级测试中，其加载的是使得TFT周期性处于打开状态的交流信号。

因此，在本发明具体实施例中，如图2所示，所述信号生成单元101包括：

栅极驱动信号生成单元1011，具有第一模式和第二模式，在所述第一模式下生成用于测试显示面板的面板级电压-透过率曲线的栅极驱动测试信号，在所述第二模式下生成用于测试显示面板的面板级电压-透过率曲线的栅极驱动测试信号；

数据驱动信号生成单元1012，用于生成测试显示面板的面板级电压-透过率曲线的数据驱动测试信号。

所述的控制单元102用于根据当前的测试需求控制所述栅极驱动信号生成单元1011的工作模式。

通过上述的栅极驱动信号生成单元1011的设置，使得可以通过栅极驱动信号生成单元1011输出用于测试显示面板的面板级电压-透过率曲线的直流栅极驱动测试信号或者输出用于测试显示面板的模组级电压-透过率曲线的交流栅极驱动测试信号，实现了一套设备实现面板级和模组级电压-透过率曲线的测试。

在本方面具体实施例中，由于是在面板还未加载芯片之前来完成VT曲线的测试，因此需要外部提供背光源，因此，所述的测试系统还包括：

承载平台，用于承载所述显示面板；

背光源，设置于所述承载平台上，用于向所述显示面板提供背光。

在电子器件的性能测试中，设备的信号输入端子与测试设备的电学连接经常通过探针实现。

在本发明的具体实施例中，输出单元需要将信号生成单元所生成的测试信号输出到显示面板的信号输入端子，以驱动显示面板进行显示。而对于显示面板而言，所述信号输入端子包括栅极驱动信号输入端子和数据驱动信号输入端子，此时所述输出单元包括：

第一连接器，一端设置有用于接收所述栅极驱动信号生成单元输出的栅极驱动测试信号的输入接口，另一端设置用于向所述栅极驱动信号输入端子输出所述栅极驱动测试信号的探针；

第二连接器，一端设置有用于接收所述数据驱动信号生成单元输出的数据驱动测试信号的输入接口，另一端设置用于向所述数据驱动信号输入端子输出所述数据驱动测试信号的探针。

应当理解的是，在本发明具体实施例中，上述的探针是或者是可更换的，以适用于各种尺寸的面板的测试。

当然，也可以准备多种尺寸的连接器，以适应各种尺寸的面板的测试。

而在追求微小型化的半导体以及光电行业中，由于器件引脚尺寸和间距都非常细小，因此很难一次准确地将探针与信号输入端子相互接触。

为此，本发明具体实施例中，设置一组各个方向可以改变探针位置的结构，以使得测试人员能够通过调节探针位置使探针能够很好地与信号输入端子接触，提高测试的准确度。

如图3所示，其中包括信号输入端子103，每一个信号输入端子具有一个延伸方向X，不同的信号输入端子的延伸方向X是平行的，同时所有信号输入端子作为一个整体来看，具有一个排列方向Y。同时还具有一个与XY平面垂直的方向Z。

当探针的位置在X、Y、Z方向上可调时，则可以通过位置调整，将探针调整到恰好与对应的信号输入端子很好地接触的位置。

对于探针在上述Y方向上的位置调整，本发明实施例中，通过将连接器设置于平行于Y方向的导轨来实现，即本发明具体实施例中，该测试系统还包括：

第一导轨，平行于栅极驱动信号输入端子的排列方向(即Y方向)，所述第一连接器设置于所述导轨上，能够沿所述导轨运动；

第二导轨，平行于数据驱动信号输入端子的排列方向(即Y方向)，所述第二连接器设置于所述导轨上，能够沿所述导轨运动。

而对于探针在上述X方向上的位置调整，本发明实施例中，通过对导轨位置进行调整来实现。上述的测试系统还包括：

第一位置调节装置，用于在栅极驱动信号输入端子的延伸方向上调节所述第一导轨的位置；

第二位置调节装置，用于在数据驱动信号输入端子的延伸方向上调节所述第一导轨的位置。

而在Z方向上的调整可以通过如下的第三位置调节装置和第四位置调节装置来实现。

其中第三位置调节装置，用于在垂直于显示面板的显示面的方向上调节所述第一连接器的探针的位置；

第四位置调节装置，用于在垂直于显示面板的显示面的方向上调节所述第二连接器的探针的位置。

在本方面的具体实施例中，上述的第一位置调整装置和第二位置调整装置可以分别针对第一导轨和第二导轨设置的第三导轨和第四导轨，第三导轨的方向与第一导轨的方向垂直，第四导轨的方向与第二导轨的方向垂直。

当然，在本发明的具体实施例中，并不限定上述的位置调节装置的具体实现，只要能在某一方向上调整某一物体的装置都能用于本发明具体实施例。

至此，通过上述的装置即可实现XY方向对探针位置的调整。

目前，液晶显示面板是把液晶装在两个基板之间，其中上层基板称为彩膜基板，其内表面沉积有公共电极，而下层基板称为阵列基板，其内表面沉积有透明电极。通过向下层阵列基板的像素电极施加电压，使公共电极与像素电极之间产生电势差，并相应的产生与电压方向相同的电场，在电场的作用下，液晶分子将会重新排列。

为了解不同测试电压下的光线透过率，常常需要对电压与透过率之间的变化关系进行测试，以获得VT曲线。

在测试VT曲线的过程中，需要使用位于上下限电压之间一组电压来进行多次测试，得到不同电压对应的透过率。

而现有技术中，是按照一组电压从大到小的顺序依次测试，这种测试方法存在着由于内建电场而导致的测试精度不高的问题。

如图4所示，假定在两个基板之间形成如图所示的外部电场D时，两基板之间的内部电子会在电场的作用下聚集，当聚集到一定数量以后，两个基板之间会形成内电场E，这样电场E会影响电场D发生作用。

而当按照电压从大到小或者从小到大的顺序进行测试时，一段时间内的电场E总是相同，形成累积效应，进一步影响了测试的精度。

在本发明的具体实施例中，将数据驱动信号生成单元用于生成多个数据驱动测试信号，所述多个驱动测试信号分为第一序列和第二序列，其中第一序列和第二序列中的数据驱动测试信号均按照电压值从小到大的顺序排列，第一序列中数据驱动测试信号的最大电压值小于或等于公共电压值，第二序列中数据驱动测试信号的最小电压值大于或等于公共电压值，所述数据驱动信号生成单元轮流向输出单元输出第一序列和第二序列中的数据驱动测试信号，且所述数据驱动信号生成单元从第一序列中按照第一顺序输出第一序列中的数据驱动测试信号，从第二序列中按照与第一顺序相反的第二顺序输出第二序列中的数据驱动测试信号。

假定有1、2、3、4、…、N个从小到大排列的测试信号，则输出顺序可以为：

1、N、2、N-1、3、N-2、…、N/2、N/2+1；或

N/2、N/2+1、N/2-1、N/2+2、…、1、N。

上述的方式能够提高测试精度，解释如下。

之前提到，导致测试精度降低是由于内建电场E的存在，而且E与数据驱动测试信号所建立的电场D的方向是相反的。而本发明具体实施例中，相邻的测试信号生成的内建电场的方向是相反的，因此本次数据驱动测试信号所建立的内建电场能够抵消上一次数据驱动测试信号所建立的内建电场的至少一部分，减小了内建电场对测试结果的影响，提高了测试精度。

详细举例说明如下。

假定公共电极的电压为5.5V，而待测试的数据驱动测试信号的电压分别为信号1：0V、信号2：1V、信号3：2V、信号4：3V、信号5：4V、信号6：5V、信号7：6V、信号8：7V、信号9：8V、信号10：9V、信号11：10V以及信号12：11V。

按照本发明实施例的方法，上述的数据驱动测试信号分为如下两组：

第一组：信号1、2、3、4、5和6；

第二组：信号7、8、9、10、11和12。

在测试过程中，假定第一组中按照电压从小到大的顺序取出测试信号，则首先会取出电压为0V信号1，此时两个基板之间基于6.5V的电压差建立了从彩膜基板朝向阵列基板的电场A1，而此时对应形成从阵列基板朝向彩膜基板的内建电场A2。

进行第二次测试时，取出电压为11V信号12，此时两个基板之间基于6.5V的电压差建立了从阵列基板朝向彩膜基板的电场B1，而此时对应形成从彩膜基板朝向阵列基板的内建电场B2。

可以发现，电场B2和电场A2的方向是相反的，同时电场B2和A2是由于基本相同的电压差所建立，因此A2能够最大程度的抵消电场B2，减小内建电场对测试结果的影响，提高测试精度。

任意两次相邻的测试都是如此，在此不一一详细描述。

当第一组中按照电压从大到小的顺序取出测试信号时，结果同样如此。

本发明实施例还提供了一种测试方法，用于显示面板的测试，所述显示面板具有设置于所述显示面板的非显示区的信号输入端子，与显示区的信号传输线直接连接，如图5所示，所述测试方法包括：

步骤501，根据当前的测试需求控制信号生成单元处于第一模式或第二模式；

步骤502，在所述第一模式下，由所述信号生成单元生成用于测试显示面板的面板级电压-透过率曲线的测试信号，在所述第二模式下，由所述信号生成单元生成用于测试显示面板的模组级电压-透过率曲线的测试信号；

步骤503，将所述信号生成单元所生成的测试信号输出到所述信号输入端子，以驱动所述显示面板的至少一部分进行显示。

上述的测试方法还包括：

采集所述显示面板在所述输出单元输出的测试信号的驱动下进行显示时的发光亮度；

确定所述测试信号中输出到数据线的数据测试信号的电压值，并依据所述电压值和亮度建立对应级别的电压-透过率曲线。

上述的测试方法中，所述测试信号包括多个数据驱动测试信号，所述多个驱动测试信号分为第一序列和第二序列，其中第一序列和第二序列中的数据驱动测试信号均按照电压值从小到大的顺序排列，第一序列中数据驱动测试信号的最大电压值小于或等于公共电压值，第二序列中数据驱动测试信号的最小电压值大于或等于公共电压值，所述数据驱动信号生成单元轮流向输出单元输出第一序列和第二序列中的数据驱动测试信号，且所述数据驱动信号生成单元从第一序列中按照第一顺序输出第一序列中的数据驱动测试信号，从第二序列中按照与第一顺序相反的第二顺序输出第二序列中的数据驱动测试信号。

本发明实施例的测试系统的一种具体实现结构如图6所示，其工作过程如下所述。

首先将贴有偏光片的LCD面板固定在点灯治具上，并利用上述的导轨、位置调整模块等进行位置调整装置等控制探针与信号输入端子电接触；

其次，点亮背光源，为VT测试提供稳定的背光；

再次，确定是进行面板级测试还是模组级测试，确定之后由控制主机通过对信号发生器和数据选择器进行控制，使得信号发生器和数据选择器能够生成并输出对应模式下的测试信号(如面板级测试时输出的是直流信号，而模组级测试时输出的是交流信号)到带有探针的连接器，通过探针传输到LCD面板的栅极驱动信号输入端子，控制其中TFT的状态。

与此同时，控制主机控制可控电源，生成并输出方波信号到带有探针的连接器，通过探针传输到LCD面板的数据驱动信号输入端子，驱动LCD面板发光。

最后，在LCD面板发光时，利用摄像头对发光区域进行拍摄后，利用彩色分析仪对拍摄到的图像进行分析，确定测试区域的亮度，返回给控制主机，即可由控制主机得到当前电压与亮度的对应关系。

改变可控电源输出的方波信号的电压值，重复上述流程，即可得到多组VT对应关系数据组，而依据该数据组在同一坐标系中即可绘制出被测试的液晶显示面板的VT曲线。

在本发明的具体实施例中，一种输出单元(也可称之为点灯治具)的结构如图7所示，包括：

用于向待测试显示面板栅极驱动信号输入端子输出所述栅极驱动测试信号(根据不同的测试模式为直流信号或者交流信号)的Gate向探针，设置于第一连接器702上；和

用于向数据驱动信号输入端子输出数据驱动测试信号(方波信号)的Data向探针，设置于第二连接器703上。

待探针与LCD面板上的各信号输入端子连接后，利用固定机构701进行固定，使得探针维持与信号输入端子的充分接触，避免测试过程中探针与信号输入端子的接触不良而导致的测量误差，保证测试数据的准确性。

同时，该点灯治具还包括一个承载平台705，对贴有POL的待测试显示面板进行夹持固定，同时可以利用其中设置的微调装置来调整待测试显示面板的位置。

在点灯治具上设置有背光源704，其位于承载平台705的承载面的下方，为测试提供稳定照明输出。

为了实现探针在各个方向上的位置调整，本发明具体实施例中，点灯治具上针对第一连接器702和第二连接器703分别设置有支撑板706，其上设置有导轨，使得第一连接器702和第二连接器703能够沿着导轨移动到合适的位置，进而使得Gate向探针和Data向探针改变位置。

同时该支撑板706可以朝向测试区进行运动，以带动第一连接器702和第二连接器703，进而改变其中的Gate向探针和Data向探针的位置。

通过导轨和支撑板706的配合可以调整Gate向探针/Data向探针的位置，将Gate向探针/Data向探针与LCD面板上信号输入端子在X方向和Y方向准确对应。

而Z方向上的探针位置调整则通过连接器上的结构来实现，说明如下。

根据尺寸大小的不同，显示面板存在不同的设计。为了满足各尺寸类型的显示面板的VT曲线测试的要求，可以对Gate/Data输入探头进行不同结构设计。

如图8所示，为本发明实施例提供的一种针对大尺寸面板的带有探针的连接器的结构，其中该连接器上设置有前端压头801，前端压头801分布有多根第一探针802，第一探针802的分布与对应的信号输入端子相对应。

在测试时，第一探针与信号输入端子相接触，将信号输入到显示面板中。

而为了调整第一探针802在Z方向的位置，上述的连接器上设置有调整前端压头801的上下位置的第一调整结构803，以便第一探针与信号输入端子充分接触。

而针对小尺寸的显示面板，带有探针的连接器的结构如图9所示。其中，第二探针901的尺寸和个数与对应的信号输入端子相对应，同样可通过第二调整结构902调整第二探针902的上下位置，以便与信号输入端子充分接触。

其中上述的探针的结构的一种方式如图10所示。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非对其进行限制，尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换，而这些修改或者等同替换亦不能使修改后的技术方案脱离本发明技术方案的精神和范围。

Claims (12)

1.一种测试系统，用于显示面板的测试，所述显示面板具有设置于所述显示面板的非显示区的信号输入端子，与显示区的信号传输线直接连接，其特征在于，所述测试系统包括：

信号生成单元，具有第一模式和第二模式，在所述第一模式下生成用于测试显示面板的面板级电压-透过率曲线的测试信号，在所述第二模式下生成用于测试显示面板的模组级电压-透过率曲线的测试信号；

控制单元，用于根据当前的测试需求控制所述信号生成单元的工作模式；

输出单元，用于将所述信号生成单元所生成的测试信号输出到所述信号输入端子，以驱动所述显示面板的至少一部分进行显示。

2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，还包括：

采集单元，用于采集所述显示面板在所述输出单元输出的测试信号的驱动下进行显示时的发光亮度；

分析单元，用于确定所述测试信号中输出到数据线的数据测试信号的电压值，并依据所述电压值和亮度建立对应级别的电压-透过率曲线。

3.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述测试信号包括栅极驱动测试信号和数据驱动测试信号，所述信号生成单元包括：

栅极驱动信号生成单元，具有第一模式和第二模式，在所述第一模式下生成用于测试显示面板的面板级电压-透过率曲线的栅极驱动测试信号，在所述第二模式下生成用于测试显示面板的面板级电压-透过率曲线的栅极驱动测试信号；

数据驱动信号生成单元，用于生成测试显示面板的面板级电压-透过率曲线的数据驱动测试信号；

所述控制单元用于根据当前的测试需求控制所述栅极驱动信号生成单元的工作模式。

4.根据权利要求3所述的测试系统，其特征在于，还包括：

承载平台，用于承载所述显示面板；

背光源，设置于所述承载平台上，用于向所述显示面板提供背光。

5.根据权利要求3所述的测试系统，其特征在于，所述信号输入端子包括栅极驱动信号输入端子和数据驱动信号输入端子，所述输出单元包括：

第一连接器，一端设置有用于接收所述栅极驱动信号生成单元输出的栅极驱动测试信号的输入接口，另一端设置用于向所述栅极驱动信号输入端子输出所述栅极驱动测试信号的探针；

第二连接器，一端设置有用于接收所述数据驱动信号生成单元输出的数据驱动测试信号的输入接口，另一端设置用于向所述数据驱动信号输入端子输出所述数据驱动测试信号的探针。

6.根据权利要求5所述的测试系统，其特征在于，还包括：

第一导轨，平行于栅极驱动信号输入端子的排列方向，所述第一连接器设置于所述第一导轨上，能够沿所述第一导轨运动；

第二导轨，平行于数据驱动信号输入端子的排列方向，所述第二连接器设置于所述第二导轨上，能够沿所述第二导轨运动。

7.根据权利要求6所述的测试系统，其特征在于，还包括：

第一位置调节装置，用于在栅极驱动信号输入端子的延伸方向上调节所述第一导轨的位置；

第二位置调节装置，用于在数据驱动信号输入端子的延伸方向上调节所述第一导轨的位置。

8.根据权利要求5所述的测试系统，其特征在于，还包括：

第三位置调节装置，用于在垂直于显示面板的显示面的方向上调节所述第一连接器的探针的位置；

第四位置调节装置，用于在垂直于显示面板的显示面的方向上调节所述第二连接器的探针的位置。

9.根据权利要求3所述的测试系统，其特征在于，所述数据驱动信号生成单元用于生成多个数据驱动测试信号，所述多个数据驱动测试信号分为第一序列和第二序列，第一序列和第二序列中的数据驱动测试信号均按照电压值从小到大的顺序排列，第一序列中数据驱动测试信号的最大电压值小于或等于公共电压值，第二序列中数据驱动测试信号的最小电压值大于或等于公共电压值，所述数据驱动信号生成单元轮流向输出单元输出第一序列和第二序列中的数据驱动测试信号，且所述数据驱动信号生成单元从第一序列中按照第一顺序输出第一序列中的数据驱动测试信号，从第二序列中按照与第一顺序相反的第二顺序输出第二序列中的数据驱动测试信号。

10.一种测试方法，用于显示面板的测试，所述显示面板具有设置于所述显示面板的非显示区的信号输入端子，与显示区的信号传输线直接连接，其特征在于，所述测试方法包括：

根据当前的测试需求控制信号生成单元处于第一模式或第二模式；

在所述第一模式下，由所述信号生成单元生成用于测试显示面板的面板级电压-透过率曲线的测试信号，在所述第二模式下，由所述信号生成单元生成用于测试显示面板的模组级电压-透过率曲线的测试信号；

将所述信号生成单元所生成的测试信号输出到所述信号输入端子，以驱动所述显示面板的至少一部分进行显示。

11.根据权利要求10所述的测试方法，其特征在于，还包括：

采集所述显示面板在所述输出单元输出的测试信号的驱动下进行显示时的发光亮度；

确定所述测试信号中输出到数据线的数据测试信号的电压值，并依据所述电压值和亮度建立对应级别的电压-透过率曲线。

12.根据权利要求10所述的测试方法，其特征在于，所述测试信号包括多个数据驱动测试信号，所述多个数据驱动测试信号分为第一序列和第二序列，第一序列和第二序列中的数据驱动测试信号均按照电压值从小到大的顺序排列，第一序列中数据驱动测试信号的最大电压值小于或等于公共电压值，第二序列中数据驱动测试信号的最小电压值大于或等于公共电压值，所述数据驱动信号生成单元轮流向输出单元输出第一序列和第二序列中的数据驱动测试信号，且所述数据驱动信号生成单元从第一序列中按照第一顺序输出第一序列中的数据驱动测试信号，从第二序列中按照与第一顺序相反的第二顺序输出第二序列中的数据驱动测试信号。