KR20050015029A - 액정 표시 장치의 에이징 테스트 구동 회로 - Google Patents

액정 표시 장치의 에이징 테스트 구동 회로

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KR20050015029A
KR20050015029A KR1020030053487A KR20030053487A KR20050015029A KR 20050015029 A KR20050015029 A KR 20050015029A KR 1020030053487 A KR1020030053487 A KR 1020030053487A KR 20030053487 A KR20030053487 A KR 20030053487A KR 20050015029 A KR20050015029 A KR 20050015029A
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황수웅
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비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사
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Abstract

본 발명은 액정 표시 장치의 에이징 테스트 구동회로에 관한 것으로, 회로를 단순화하고 제품에 따른 구동 장치의 대응 기능을 컨트롤러(Controller)를 사용하여 자동화함으로서, 회로의 유지 보수가 용이하고, 매뉴얼(Manual) 설정 및 운용에 의한 제품 불량 발생을 최소화하며, 제작비용을 줄일 수 있는 효과가 있다.
이를 위한 본 발명의 액정 표시 장치의 에이징 테스트 구동회로는 외부의 컨트롤 피씨(PC)로부터 수신된 엘씨디(LCD) 품종정보를 저장하도록 제어하고, 에이징시에 상기 LCD 품종정보를 읽어들여 구동회로를 설정하고 LCD 모듈을 구동하도록 제어하는 마이크로 컨트롤러 유니트(MCU)부; 상기 MCU부로부터 수신된 상기 LCD 품종정보를 저장하고, 에이징시 상기 LCD 품종 정보를 상기 MCU부로 전송하여 구동회로를 설정하는 플래시 메모리; 상기 MCU부로부터 패턴 생성정보를 수신받아 LCD 구동 패턴을 발생하는 FPGA부; 상기 FPGA부에 의해 펌웨어(Firmware) 정보를 저장하며, 상기 FPGA부의 구동용 프로그램을 저장하는 피롬(PROM); TTL 신호용 LCD 모듈과 접속하는 제 1 컨넥터부; 저전압 차동 신호(LVDS)용 LCD 모듈과 접속하는 제 2 컨넥터부; 및 상기 FPGA부와 상기 제 1 및 제 2 컨넥터부 사이에 접속되며, LCD 모듈의 패턴 데이터 및 각종 제어신호를 전송하는 버퍼부를 포함하여 구성된다.

Description

액정 표시 장치의 에이징 테스트 구동 회로{CIRCUIT OF AGING TEST DRIVING FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE}
본 발명은 액정 표시 장치의 에이징 테스트(Aging Test) 구동회로에 관한 것으로, 특히 회로를 단순화하고 제품에 따른 구동 장치의 대응 기능을 컨트롤러(Controller)를 사용하여 자동화함으로서, 회로의 유지 보수가 용이하고, 매뉴얼(Manual) 설정 및 운용에 의한 제품 불량 발생을 최소화하며, 제작비용을 줄일 수 있는 액정 표시 장치의 에이징 테스트 구동회로에 관한 것이다.
일반적으로, 액정 표시 장치는 기술의 발달에 의해 고화질화가 실현되어, VGA, SVGA, XGA, SXGA의 순으로 액정 표시 장치의 화질이 날로 고화질화되어, 사용자의 요구 조건을 만족시키고 있다.
따라서, 상기와 같이 여러개의 레벨로 구분되어 있는 액정 표시 장치를 제작하기 위해서는 각 레벨에 맞게 설비된 제조장치의 제작 동작에 따른 많은 제조 공정이 이루어진다. 액정 표시 장치를 제조하기 이한 다양한 제조 공정 중에서, 액정 표시 장치 완제품 제작 후 LCD PANEL 및 LCD MODULE의 PCB 회로에 대한 초기 불량을 검출하고 시간의 경과에 따른 특성이나 신뢰성을 시험하기 위하여 공온에서 일정시간 LCD MODULE을 점등하는 에이징(Aging) 공정이 있다.
에이징 공정시 사용되는 에이징 장치(Aging Equipment)는 다수의 액정 모듈(Module)을 내부에 수납하고 내부의 온도나 습도를 변화시켜, 액정 표시 장치 모듈의 특성 및 신뢰성을 평가하도록 한다.
상기 에이징 공정은 제조가 완료된 즉, 완제품의 액정 표시 장치 모듈 제품을 열 순환식 오븐기에 넣어 초기 불량을 검출하여 액정 표시 장치의 품질을 확보한다.
상기 에이징 공정시 사용되는 장치 가운데 에이징 테스트 구동회로가 있다.
종래의 에이징 테스트 구동회로는 에이징에서 자체 구동하는 간이 패턴 발생기(Pattern Generator) 기능과, 점등 검사에서 외부 검사기와 인터페이스(Interface)하여 외부 패턴 신호와 전원을 피 테스트 제품(액정 표시 장치 패널)으로 전송하는 버퍼(Buffer) 기능을 한다.
상기 간이 패턴 발생기 기능에서의 자체 구동은 최초 제품 투입시 컨트롤 PC로부터 해당 제품에 대응되는 에이징시 구동 정보와 회로 자체 불량 검사 및 판정을 위한 설정값에 대한 정보{예를 들면, 디스플레이 타이밍 파라메터(Display Timing Parameter), 제품 구동 전압, 인버터 구동 전압, 관전류 조정 전압, 에이징 시간, 에이징 패턴, 패턴 전환 시간, 제품 구동 전압과 소비 전류 상한값 및 하한값 등}를 전송받아 해당 값들에 맞게 구동회로를 자체 설정하고, 투입존에서 자체 불량검사를 실시하여 결과를 컨트롤 PC로 피드백(Feed-Back)하므로서 제품 투입 작업자가 회로불량을 쉽게 검출하고, 작업 오류를 최소화 한다. 또한, 에이징 랙크(Aging Rack)에 적재되었을 때는 랙크(Rack)로부터 회로 구동용 주(Main) 전원을 인가받아 제품 투입영역에서 설정된 값에 따라 자체 구동한다.
그리고, 상기 버퍼 기능에서 외부 검사기 인터페이스는 해당 구동 회로가 점등 검사 공정에서 자체 구동을 하지 않고, 외부 검사 시스템과 연결되어 외부의 구동 신호를 버퍼하여 제품으로 전송하는 단순 인터페이스 기능을 한다.
그러나, 이와 같은 종래의 액정 표시 장치의 에이징 테스트 구동회로는 다양한 기능을 구현하고, 회로를 간단히 하기 위하여 복잡한 공정(Process)와 대용량의 FPGA(Flexible Programmable Gate Array) 칩(Chip)을 채용하고 있으며, 회로 구성이 복잡하여 유지 보수가 어려운 문제점이 있었다.
따라서, 본 발명은 상기 문제점을 해결하기 위해 이루어진 것으로, 본 발명의 목적은 에이징 테스트 구동회로 내의 FPGA 칩에 제품 구동을 위한 최소 정보를 데이터 베이스화하여 저장하고, 컨트롤 PC에서 해당 제품에 대한 데이터 베이스 선택 정보만을 전송받아 설정하므로서, 기종 설정 기능을 최대한 단순화시킨 액정 표시 장치의 에이징 테스트 구동 회로를 제공하는데 있다.
또한, 본 발명의 다른 목적은 기존의 에이징 테스트 구동회로가 가지고 있는 복잡한 인터페이스 부분을 삭제하고, 또한 전압 및 전류값 측정, 상한값 및 하한값 제어 기능을 삭제하여 회로를 단순화시킴으로써, 회로의 불량 발생 주기(MTBF)를 향상시키고, 부품수 감소로 구동 회로의 제작 비용을 줄일 수 있는 액정 표시 장치의 에이징 테스트 구동 회로를 제공하는데 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 의한 액정 표시 장치의 에이징 테스트 구동 회로는,
외부의 컨트롤 피씨(PC)로부터 수신된 엘씨디(LCD) 품종정보를 저장하도록 제어하고, 에이징시에 상기 LCD 품종정보를 읽어들여 구동회로를 설정하고 LCD 모듈을 구동하도록 제어하는 마이크로 컨트롤러 유니트(MCU)부;
상기 MCU부로부터 수신된 상기 LCD 품종정보를 저장하고, 에이징시 상기 LCD 품종 정보를 상기 MCU부로 전송하여 구동회로를 설정하는 플래시 메모리;
상기 MCU부로부터 패턴 생성정보를 수신받아 LCD 구동 패턴을 발생하는 FPGA(Flexible Programmable Gate Array)부;
상기 FPGA부에 의해 펌웨어(Firmware) 정보를 저장하며, 상기 FPGA부의 구동용 프로그램을 저장하는 피롬(PROM);
TTL 신호용 LCD 모듈과 접속하는 제 1 컨넥터부;
저전압 차동 신호(LVDS)용 LCD 모듈과 접속하는 제 2 컨넥터부; 및
상기 FPGA부와 상기 제 1 및 제 2 컨넥터부 사이에 접속되며, LCD 모듈의 패턴 데이터 및 각종 제어신호를 전송하는 버퍼부를 포함하여 구성된 것을 특징으로 한다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 대해 상세히 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명에 의한 액정 표시 장치의 에이징 테스트 구동 회로(100)의 구성도이다.
상기 액정 표시 장치의 에이징 테스트 구동 회로(100)는 상기 도 1에 도시된 바와 같이, 마이크로 컨트롤러 유니트(Micro Controller Unit: MCU)부(102), 플래시 메모리(104), FPGA(Flexible Programmable Gate Array)부(106), 피롬(PROM)(108), 버퍼부(110), 제 1 컨넥터부(112), 제 2 컨텍터부(114), 전원 레큐레이터(Power Regurator)부(120), 전원 컨트롤부(122) 및 인버터부(124)를 포함하여 구성된다.
또한, 상기 에이징 테스트 구동 회로(100)는 상기 FPGA부(200)의 제어에 의해 상기 에이징 테스트 구동회로의 설정 상태를 문자로 표시하는 모니터(200)와, 상기 에이징 테스트 구동회로의 동작을 제어하기 위해 상기 MCU부(102)로 LCD 품종정보를 전송하는 컨트롤 PC(300)와, 상기 전원 레큐레이터부(120)로 필요한 전원을 공급하는 전원 공급부(400)를 더 구비하고 있다.
여기서, 상기 LCD 품종정보는 LCD 모듈 구동 전원, LCD 디스플레이에 관한 타이밍 값, 에이징 테스트 패턴, 패턴 디스플레이 타임을 포함한다.
상기 MCU부(102)는 상기 컨트롤 PC(300)로부터 수신된 엘씨디(LCD) 품종정보를 저장하도록 제어하고, 에이징시에 상기 LCD 품종정보를 읽어들여 구동회로를 설정하고 LCD 모듈을 구동하도록 제어한다. 이 때, 상기 MCU부(102)는 상기 컨트롤 PC(300)로부터 수신된 LCD 품종정보를 토대로 상기 플래시 메모리(104)에 저장된 데이터를 불러들여 이 데이터에 맞게 FPGA 칩(Chip) 설정, 전원 선택, 에이징 시간 설정 및 패턴(Pattern) 설정 등의 프로세스를 실행한다.
상기 플래시 메모리(104)는 상기 MCU부(102)로부터 수신된 상기 LCD 품종정보를 저장하고, 에이징시 상기 LCD 품종 정보를 상기 MCU부로 전송하여 구동회로를 설정한다. 이 때, 상기 플래시 메모리(104)는 해상도(Resolution), 디스플레이 관련 타이밍 파라메터, 구동전원, 패턴, 패턴 전환 시간, 에이징 시간 등의 LCD 구동을 위한 설정값들을 저장하며, 상기 MCU부(102)와 인터페이스 한다.
상기 FPGA부(106)는 상기 MCU부(102)로부터 패턴 생성정보를 수신받아 LCD 구동 패턴을 발생한다.
상기 피롬(PROM)(108)은 상기 FPGA부(106)에 의해 펌웨어(Firmware) 정보를 저장하며, 상기 FPGA부(106)의 구동용 프로그램을 저장한다. 그리고, 상기 피롬(PROM)(108)은 전원 인가와 동시에 FPGA를 간이 패턴 발생기 기능으로 구현될 수 있도록 설정한다.
상기 제 1 컨넥터부(112)는 TTL 신호용 LCD 모듈과 접속하며, 상기 제 2 컨넥터부(114)는 저전압 차동 신호(LVDS)용 LCD 모듈과 접속한다.
상기 버퍼부(110)는 상기 FPGA부(106)와 상기 제 1 및 제 2 컨넥터부(112)(114) 사이에 접속되며, LCD 모듈의 패턴 데이터 및 각종 제어신호를 전송한다. 그리고, 상기 버퍼부(110)는 도면에는 도시되지 않았지만, 패턴 발생기의 TTL 신호를 LCD 모듈로 전달하기 위한 TTL 신호 버퍼부와, 상기 패턴 발생기의 TTL 신호를 저전압 차동 신호(LVDS)로 변환하여 LCD 모듈로 전달하기 위한 저전압 차동 신호 버퍼부를 포함하여 구성하고 있다.
또한, 상기 전원 레큐레이터부(120)는 외부로부터 전원을 수신하여 상기 에이징 테스트 구동회로의 내부 디바이스용 전원 및 전원을 제어하기 위한 입력 전원을 생성한다.
그리고, 상기 전원 컨트롤부(122)는 상기 전원 레큐레이터부(120)로부터 전원을 수신하여 LCD 구동전원 및 백 라이트 구동전원을 생성한다.
따라서, 본 발명에 의한 액정 표시 장치의 에이징 테스트 구동 회로(100)는 상기 구성에 의해, 에이징 테스트 구동회로 내의 FPGA 칩에 제품 구동을 위한 최소 정보를 데이터 베이스화하여 저장하고, 컨트롤 PC에서 해당 제품에 대한 데이터 베이스 선택 정보만을 전송받아 설정하므로서, 기종 설정 기능을 최대한 단순화하였다.
또한, 기존의 에이징 테스트 구동회로가 가지고 있는 복잡한 인터페이스 부분을 삭제하고, 또한 전압 및 전류값 측정, 상한값 및 하한값 제어 기능을 삭제하여 회로를 단순화시켜 회로의 불량 발생 주기(MTBF)를 향상시켰고, 부품수 감소로 구동 회로의 제작 비용을 줄였다.
이상의 본 발명은 상기에 기술된 실시예들에 의해 한정되지 않고, 당업자들에 의해 다양한 변형 및 변경을 가져올 수 있으며, 이는 첨부된 특허청구범위에서 정의되는 본 발명의 취지와 범위에 포함되는 것으로 보아야 할 것이다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 의한 액정 표시 장치의 에이징 테스트 구동 회로에 의하면, 기존의 에이징 테스트 구동회로가 가지고 있는 복잡한 인터페이스 부분을 삭제하고, 에이징 테스트 구동회로 내의 FPGA 칩에 제품 구동을 위한 최소 정보를 데이터 베이스화하여 저장하고, 또한 전압 및 전류값 측정, 상한값 및 하한값 제어 기능을 삭제하여 회로를 단순화시킴으로써, 기존의 에이징 테스트 구동회로에 비교하여 부품수를 3/2 수준으로 줄일 수 있다. 따라서, 회로의 불량 발생 주기(MTBF)를 향상시키며, 부품수 감소로 구동 회로의 제작 단가를 줄일 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명에 의한 액정 표시 장치의 에이징 테스트 구동 회로의 구성도
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
100 : 에이징 테스트 구동 회로 102 : MCU
104 : 플래시 메모리 106 : FPGA
108 : 피롬(PROM) 110 : 버퍼부
112 : 제 1 컨넥터부 114 : 제 2 컨넥터부
120 : 전원 레큐레이터부 122 : 전원 컨트롤부
124 : 인버터부 200 : 모니터
300 : 컨트롤 PC 400 : 전원공급부

Claims (7)

  1. 액정 표시 장치의 에이징 테스트 구동 회로에 있어서,
    외부의 컨트롤 피씨(PC)로부터 수신된 엘씨디(LCD) 품종정보를 저장하도록 제어하고, 에이징시에 상기 LCD 품종정보를 읽어들여 구동회로를 설정하고 LCD 모듈을 구동하도록 제어하는 마이크로 컨트롤러 유니트(MCU)부;
    상기 MCU부로부터 수신된 상기 LCD 품종정보를 저장하고, 에이징시 상기 LCD 품종 정보를 상기 MCU부로 전송하여 구동회로를 설정하는 플래시 메모리;
    상기 MCU부로부터 패턴 생성정보를 수신받아 LCD 구동 패턴을 발생하는 FPGA(Flexible Programmable Gate Array)부;
    상기 FPGA부에 의해 펌웨어(Firmware) 정보를 저장하며, 상기 FPGA부의 구동용 프로그램을 저장하는 피롬(PROM);
    TTL 신호용 LCD 모듈과 접속하는 제 1 컨넥터부;
    저전압 차동 신호(LVDS)용 LCD 모듈과 접속하는 제 2 컨넥터부; 및
    상기 FPGA부와 상기 제 1 및 제 2 컨넥터부 사이에 접속되며, LCD 모듈의 패턴 데이터 및 각종 제어신호를 전송하는 버퍼부를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치의 에이징 테스트 구동회로.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 에이징 테스트 구동 회로는,
    외부로부터 전원을 수신하여 상기 에이징 테스트 구동회로의 내부 디바이스용 전원 및 전원을 제어하기 위한 입력 전원을 생성하는 전원 레큐레이터부; 및
    상기 전원 레큐레이터부로부터 전원을 수신하여 LCD 구동전원 및 백 라이트 구동전원을 생성하는 전원 컨트롤부를 더 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치의 에이징 테스트 구동회로.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 FPGA부의 제어에 의해 상기 에이징 테스트 구동회로의 설정 상태를 문자로 표시하는 모니터를 더 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치의 에이징 테스트 구동회로.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 MCU부는 상기 플래시 메모리로부터 수신된 상기 LCD 품종정보에 의해 FPGA 칩 설정, 전원 선택, 에이징 시간 설정, 패턴(Pattern) 설정을 포함한 프로세스를 실행하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치의 에이징 테스트 구동회로.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 LCD 품종정보는 LCD 모듈 구동 전원, LCD 디스플레이에 관한 타이밍 값, 에이징 테스트 패턴, 패턴 디스플레이 타임을 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치의 에이징 테스트 구동회로.
  6. 제 1 항에 있어서, 상기 버퍼부는,
    패턴 발생기의 TTL 신호를 LCD 모듈로 전달하기 위한 TTL 신호 버퍼부;
    상기 패턴 발생기의 TTL 신호를 저전압 차동 신호(LVDS)로 변환하여 LCD 모듈로 전달하기 위한 저전압 차동 신호 버퍼부를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치의 에이징 테스트 구동회로.
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 플래시 메모리는 해상도(Resolution), 디스플레이 관련 타이밍 파라메터, 구동전원, 패턴, 패턴 전환 시간, 에이징 시간을 포함한 LCD 구동을 위한 설정값들을 저장하고 있는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치의 에이징 테스트 구동회로.
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