CN114758600B - 一种液晶显示模块测试系统、装置及方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种液晶显示模块测试系统、装置及方法，所述系统包括PC机、测试装置和液晶显示模块，所述测试装置包括MCU、程序控制、电压供应、电平支持等模块及一组或多组显示模块接口；所述程序控制模块包括通信源选择、电压选择、系列选择、尺寸选择、循环控制、启停控制等控制功能。所述测试方法根据不同接口接入待测模块，选择供电电压，通电可自动获取待测模块型号信息并显示在待测模块屏幕上，操作人员对应选择通信源、电平、系列、尺寸，设置是否循环并自动调用对应测试程序进行测试。本发明在一套测试系统及装置中集成各种液晶显示模块的测试功能，适用范围广，提高了测试效率，能够提升被测产品的可靠度与寿命周期。

Description

一种液晶显示模块测试系统、装置及方法

技术领域

本发明涉及液晶显示技术领域，具体涉及一种液晶显示模块测试系统、装置及方法。

背景技术

液晶显示模块，是将液晶显示器件、控制驱动电路、背光源、结构件装配在一起，能够根据用户需求设计的显示组件，广泛应用于仪器仪表、医疗器械、纺织机械、税控、工控、通讯终端等场景。液晶显示模块包括单色液晶显示模块、TFT彩色液晶显示模块、OLED液晶显示模块等等，其中单色液晶又分单色图形点阵液晶屏、单色字符点阵液晶屏、单色定制笔段液晶屏等，型号、显示尺寸、接口方式种类繁多。

为保证产品质量，液晶显示模块出厂前需经过测试。由于不同液晶显示模块需要匹配不同的电压、通讯电平，适应功能设计还需要使用不同的测试程序， 往往一种液晶显示模块就对应一个测试装置，不同产品的测试需要进行切换，操作复杂，效率很低。现有技术中有的能够通过将上位机连接多个液晶测试控制装置，一个液晶测试控制装置连接多个液晶显示模块，同时测试多个产品，但由于涉及多个装置的连接，没有从根本上解决操作复杂和效率低下的问题。

如何将多种液晶显示模块的测试功能集成在一个测试系统和装置内，目前尚无有效的解决方案。

发明内容

本发明提出一种液晶显示模块测试系统、装置及方法，以克服现有技术所存在的上述问题。

本发明的技术方案是这样实现的：

一种液晶显示模块测试系统，包括PC机、液晶显示模块测试装置、液晶显示模块，所述的PC机与液晶显示模块测试装置有信号连接，所述的液晶显示模块与所述液晶显示模块测试装置有信号连接和供电连接，且所述的液晶显示模块为一组或多组，每组的液晶显示模块型号相同，为一个或多个。本系统能够将各种液晶显示模块的测试功能集成到一个测试装置中，并且能够提供PC机作为信号源，以及测试装置本身作为信号源两种测试方式。

进一步地，所述的液晶显示模块测试装置，包括MCU模块、程序控制模块、电压供应模块、电平支持模块，以及显示模块接口，所述的显示模块接口为一组或多组。所述的电压供应模块与电平支持模块和程序控制模块连接，所述的电平支持模块还与MCU模块和程序控制模块连接，所述的程序控制模块还与MCU模块及各组显示模块接口连接。所述的液晶显示模块测试装置设有电压输入端口，与电压供应模块连接；设有PC通信接口，与MCU模块连接；还设有接地端口。

进一步地，所述的程序控制模块包括通信源选择、电压选择、系列选择、尺寸选择、循环控制、启停控制等控制功能。通信源选择功能可以选择液晶显示模块测试程序使用PC机的程序，或是使用测试装置MCU的程序；电压选择功能可以切换测试装置供应给待测试液晶显示模块的电压；系列选择功能可以切换待测试液晶显示模块对应的型号系列；尺寸选择功能可以切换待测试液晶显示模块对应的尺寸；循环控制功能可以切换是否循环测试；启停控制功能可以控制测试程序开始或停止。

优选地，所述的MCU模块使用STM32F103VCT6处理器芯片或GD32F103处理器芯片；也可使用其他芯片代替，例如STM32或HK32系列芯片。

优选地，所述的电压供应模块能够提供12V、5V、3.3V三种电压，设置有供电开关。

优选地，所述的电平支持模块支持多种类的电平通讯协议，包括支持RS232、TTL、RS485、并口8080和6800等通讯电平。

优选地，所述液晶显示模块测试装置支持包括ACD、1B、2B、3B、5B等系列，提供系列选择功能进行选择。

优选地，所述液晶显示模块测试装置支持包括3.5、4.3、5.6、7、8、10.4寸等规格，提供尺寸选择功能进行选择。

优选地，所述显示模块接口包括多种类的接口引脚，包括支持并口16位、并口8位、UART串口和SPI串口的液晶显示模块。

一种液晶显示模块测试方法，应用了前文所述的液晶显示模块测试系统及装置，包括如下步骤：

S1，根据不同接口接入待测模块，即根据待测试液晶显示模块的接口引脚，选择液晶显示模块测试装置上的对应显示模块接口接入；

S2，拔动开关选择供电电压，即拨动液晶显示模块测试装置上程序控制模块的电压选择开关，选择待测试液晶显示模块所需的电压；

S3，通电获取待测模块型号信息，当按下供电开关，待测试液晶显示模块通电，通过广播发送握手指令,液晶显示模块测试装置的MCU模块收到指令，通过在预存的型号信息库中查到比对，自动判断待测试液晶显示模块的型号，并发送型号信息，显示在待测试液晶显示模块屏幕上，使测试操作人员能够立即获得当前接入液晶显示模块的型号信息；

S4，拨动按钮选择通信源，若选择PC作为通信源，则执行由PC测试的步骤S5，若选择单片机作为测试源，则执行由单片机测试的步骤S6；

所述的S5步骤包括：

S51，拔动开关选择电平，即拨动液晶显示模块测试装置上程序控制模块的电平选择开关，选择待测试液晶显示模块所需的通讯电平；

S52，按PC程序测试。

所述的S6步骤包括：

S61，拔动开关选择电平，即拨动液晶显示模块测试装置上程序控制模块的电平选择开关，选择待测试液晶显示模块所需的通讯电平；

S62，拔动旋钮选择系列，即拨动液晶显示模块测试装置上程序控制模块的系列选择旋钮，选择待测试液晶显示模块对应的型号系列；

S63，拔动旋钮选择尺寸，即拨动液晶显示模块测试装置上程序控制模块的尺寸选择旋钮，选择待测试液晶显示模块对应的尺寸规格；

S64，设置是否循环测试；

S65，调用对应测试程序并执行测试，即液晶显示模块测试装置上MCU模块从预存的测试程序代码中调取与当前测试液晶显示模块对应的测试程序，并执行；如果S64步骤设置循环测试为否，则只执行测试一次；如果设置循环测试为是，则测试程序循环反复执行，直至操作人员再次按动启停按钮。

本发明的有益效果为：

1、本发明提供的液晶显示模块测试系统及装置，适应各种液晶显示模块的系列、种类和型号，能够提供各种电压供应、电平支持，匹配各种管脚接口、尺寸规格，通过MCU模块预存的各种测试程序，以及程序控制模块的对应控制，在一个装置中集成各种液晶显示模块的测试功能，适用范围极广。由于无需针对每种不同液晶显示模块来调换测试工具，能够大幅提升测试工作效率。

2、本发明提供的液晶显示模块系统、装置和方法，通过与当前接入显示模块连接并获取当前接入模块的信息，与MCU本地信息进行逐一比对判断接入模块的型号信息，直接将判断结果显示在当前接入模块上，确定相符的测试程序并运行；同时使得接入模块时无需通过人工进行判断，操作人员能够方便直接地看到测试结果，从而做出下一步的操作，提升判断的精准度，防止因人工失误而出错，从而提升测试效率。

3、本发明提供的液晶显示模块系统、装置，将多种电压供应、多种通讯电平切换、众多接口管脚，统一到一套系统和装置中，具有较高的复杂性。但本发明通过具体电路的设计，实现了上述复杂情况下的技术方案，能够匹配各种显示模块，切换不同程序进行测试，能够实现多屏通讯测试，并且多屏通讯时能够排除干扰。

4、由于市场对产品品质要求日益严苛，对液晶显示模块的制造者而言，产品的寿命周期一直是从业者所关注的重点，产品出厂前充分的测试是提升产品可靠度的途径之一。而本发明提供的测试系统、装置和方法，能够更高效地进行各种液晶显示模块的测试，确保产品的可靠度与寿命周期。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明液晶显示模块测试系统的结构示意图；

图2是本发明液晶显示模块测试装置的结构示意图；

图3是本发明实施例中MCU模块的主控芯片电路原理图；

图4是本发明实施例中MCU模块的外围电路原理图；

图5是本发明实施例中程序控制模块的电路原理图；

图6是本发明实施例中电压供应模块的电路原理图；

图7是本发明实施例中电平支持模块的电路原理图之一；

图8是本发明实施例中电平支持模块的电路原理图之二；

图9是本发明实施例中各种显示模块接口的电路原理图；

图10是本发明液晶显示模块测试方法的流程示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

如图1所示，本发明提供一种液晶显示模块测试系统，包括PC机、液晶显示模块测试装置、液晶显示模块，所述的PC机与液晶显示模块测试装置有信号连接，所述的液晶显示模块与所述液晶显示模块测试装置有信号连接和供电连接，且所述的液晶显示模块为一组或多组，每组的液晶显示模块型号相同，为一个或多个。

如图2所示，本发明提供一种液晶显示模块测试装置，包括MCU模块、程序控制模块、电压供应模块、电平支持模块，以及显示模块接口，所述的显示模块接口为一组或多组。所述的电压供应模块与电平支持模块和程序控制模块连接，所述的电平支持模块还与MCU模块和程序控制模块连接，所述的程序控制模块还与MCU模块及各组显示模块接口连接。所述的液晶显示模块测试装置设有电压输入端口，与电压供应模块连接；设有PC通信接口，与MCU模块连接；还设有接地端口。

进一步地，所述的程序控制模块包括通信源选择、电压选择、系列选择、尺寸选择、循环控制、启停控制等控制功能。通信源选择功能可以选择液晶显示模块测试程序使用PC机的程序，或是使用测试装置MCU的程序；电压选择功能可以切换测试装置供应给待测试液晶显示模块的电压；系列选择功能可以切换待测试液晶显示模块对应的型号系列；尺寸选择功能可以切换待测试液晶显示模块对应的尺寸；循环控制功能可以切换是否循环测试；启停控制功能可以控制测试程序开始或停止。

图3-9提供本发明的一个实施例，公开了各个模块的电路原理图。

图3为本实施例中MCU模块的主控芯片电路原理图，采用STM32F103VCT6处理器芯片，各引脚接线如图所示。

图4为本实施例中MCU模块的外围电路原理图，各元件布置和接线如图所示。

图5是本发明实施例中程序控制模块的电路原理图，其中，图5（a）为程序启停和循环控制电路，图5（b）为通信源选择电路，图5（c）为电平选择电路，图5（d）为系列选择和尺寸选择电路，图5（e）为运行状态指示灯电路，各元件布置和接线如图所示。

图6是本发明实施例中电压供应模块的电路原理图，其中，图6（a）为12V/5V/3.3V供电电路之一，图6（b）为12V/5V/3.3V供电电路之二，图6（c）为供电控制开关电路，图6（d）为12V转5V供电电路，各元件布置和接线如图所示；本实施例电压供应模块能够提供12V、5V、3.3V三种电压，设置有供电开关。

图7-8是本发明实施例中电平支持模块的电路原理图, 分别为支持RS232/TTL/RS485电平的电路，以及RS232/TTL电平转换电路，各元件布置和接线如图所示；本实施例电平支持模块支持多种类的电平通讯协议，包括支持RS232、TTL、RS485、并口8080和6800等通讯电平。

图9是本发明实施例中各种显示模块接口的电路原理图，如图所示，包括ACD、1B、2B、3B、5B等系列，支持并口16位、并口8位、UART串口和SPI串口的液晶显示模块。

如图10所示，本发明提供一种液晶显示模块测试方法，应用了所述的液晶显示模块测试系统及装置，包括如下步骤：

S1，根据不同接口接入待测模块，即根据待测试液晶显示模块的接口引脚，选择液晶显示模块测试装置上的对应显示模块接口接入；

S2，拔动开关选择供电电压，即拨动液晶显示模块测试装置上程序控制模块的电压选择开关，选择待测试液晶显示模块所需的电压；

S3，通电获取待测模块型号信息，当按下供电开关，待测试液晶显示模块通电，通过广播发送握手指令,液晶显示模块测试装置的MCU模块收到指令，通过在预存的型号信息库中查到比对，自动判断待测试液晶显示模块的型号，并发送型号信息，显示在待测试液晶显示模块屏幕上，使测试操作人员能够立即获得当前接入液晶显示模块的型号信息；

S4，拨动按钮选择通信源，若选择PC作为通信源，则执行由PC测试的步骤S5，若选择单片机作为测试源，则执行由单片机测试的步骤S6；

所述的S5步骤包括：

S51，拔动开关选择电平，即拨动液晶显示模块测试装置上程序控制模块的电平选择开关，选择待测试液晶显示模块所需的通讯电平；

S52，按PC程序测试。

所述的S6步骤包括：

S61，拔动开关选择电平，即拨动液晶显示模块测试装置上程序控制模块的电平选择开关，选择待测试液晶显示模块所需的通讯电平；

S62，拔动旋钮选择系列，即拨动液晶显示模块测试装置上程序控制模块的系列选择旋钮，选择待测试液晶显示模块对应的型号系列；

S63，拔动旋钮选择尺寸，即拨动液晶显示模块测试装置上程序控制模块的尺寸选择旋钮，选择待测试液晶显示模块对应的尺寸规格；

S64，设置是否循环测试；

S65，调用对应测试程序并执行测试，即液晶显示模块测试装置上MCU模块从预存的测试程序代码中调取与当前测试液晶显示模块对应的测试程序，并执行；如果S64步骤设置循环测试为否，则只执行测试一次；如果设置循环测试为是，则测试程序循环反复执行，直至操作人员再次按动启停按钮。

应用本实施例进行液晶显示模块的测试，测试装置能够自动判断型号，并将型号信息显示在被测试模块上。除了显示型号，测试期间还可以根据测试程序的设置，显示不同的图片、图形或文字显示，如果显示模块是带触摸功能的，还能通过触摸点击，来输入信息和切换不同场景，执行更多测试。在本发明提供的测试系统中，液晶显示模块既作为被测试产品，也作为信息显示终端，成为本发明测试系统的一个组成部分。

本发明还提供一种实施例，当接入的液晶显示模块是相同型号、相同参数时，可以同时在测试装置对应的接口接入，同时测试多个液晶显示模块。

本发明实施例在一套测试系统及装置中集成各种液晶显示模块的测试功能，适用范围广，提高了测试效率，能够提升被测产品的可靠度与寿命周期。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种液晶显示模块测试系统，包括PC机、液晶显示模块测试装置、液晶显示模块，所述的PC机与液晶显示模块测试装置有信号连接，所述的液晶显示模块与所述液晶显示模块测试装置有信号连接和供电连接，且所述的液晶显示模块为一组或多组，每组的液晶显示模块型号相同，为一个或多个；

所述的液晶显示模块测试装置，包括MCU模块、程序控制模块、电压供应模块、电平支持模块，以及显示模块接口，所述的显示模块接口为一组或多组；所述的电压供应模块与电平支持模块和程序控制模块连接，所述的电平支持模块还与MCU模块和程序控制模块连接，所述的程序控制模块还与MCU模块及各组显示模块接口连接；

所述的程序控制模块包括通信源选择、电压选择、系列选择、尺寸选择、循环控制、启停控制的控制功能：通信源选择功能为液晶显示模块测试程序使用PC机的程序，或是使用测试装置MCU的程序；电压选择功能为切换测试装置供应给待测试液晶显示模块的电压；系列选择功能为切换待测试液晶显示模块对应的型号系列；尺寸选择功能为切换待测试液晶显示模块对应的尺寸；循环控制功能为切换是否循环测试；启停控制功能为控制测试程序开始或停止；

所述的液晶显示模块测试装置设有电压输入端口，与电压供应模块连接；设有PC通信接口，与MCU模块连接；还设有接地端口；

应用所述液晶显示模块测试系统的液晶显示模块测试方法，包括如下步骤：

S1，根据不同接口接入模组，即根据待测试液晶显示模块的接口引脚，选择液晶显示模块测试装置上的对应显示模块接口接入；

S2，拨动开关选择供电电压，即拨动液晶显示模块测试装置上程序控制模块的电压选择开关，选择待测试液晶显示模块所需的电压；

S3，通电获取模组型号信息，当按下供电开关，待测试液晶显示模块通电，通过广播发送握手指令,液晶显示模块测试装置的MCU模块收到指令，通过在预存的型号信息库中查到比对，自动判断待测试液晶显示模块的型号，并发送型号信息，显示在待测试液晶显示模块屏幕上，使测试操作人员能够立即获得当前接入液晶显示模块的型号信息；

S4，拨动按钮选择通信源，若选择PC作为通信源，则执行由PC测试的步骤S5，若选择单片机作为测试源，则执行由单片机测试的步骤S6；

所述的步骤 S5包括：

S51，拨动开关选择电平，即拨动液晶显示模块测试装置上程序控制模块的电平选择开关，选择待测试液晶显示模块所需的通讯电平；

S52，按PC程序测试；

所述的步骤S6包括：

S61，拨动开关选择电平，即拨动液晶显示模块测试装置上程序控制模块的电平选择开关，选择待测试液晶显示模块所需的通讯电平；

S62，拨动旋钮选择系列，即拨动液晶显示模块测试装置上程序控制模块的系列选择旋钮，选择待测试液晶显示模块对应的型号系列；

S63，拨动旋钮选择尺寸，即拨动液晶显示模块测试装置上程序控制模块的尺寸选择旋钮，选择待测试液晶显示模块对应的尺寸规格；

S64，设置是否循环测试；

S65，调用对应测试程序并执行测试，即液晶显示模块测试装置上MCU模块从预存的测试程序代码中调取与当前测试液晶显示模块对应的测试程序，并执行；如果S64步骤设置循环测试为否，则只执行测试一次；如果设置循环测试为是，则测试程序循环反复执行，直至操作人员再次按动启停按钮。

2.根据权利要求1所述的液晶显示模块测试系统，其特征在于：所述的MCU模块使用STM32F103VCT6处理器芯片、GD32F103处理器芯片中的任意一种。

3.根据权利要求1所述的液晶显示模块测试系统，其特征在于：所述的电压供应模块提供12V、5V、3.3V三种电压。

4.根据权利要求1所述的液晶显示模块测试系统，其特征在于：所述的电平支持模块支持RS232、TTL、RS485、并口8080和并口6800通讯电平。

5.根据权利要求1所述的液晶显示模块测试系统，其特征在于：所述液晶显示模块测试装置支持ACD、1B、2B、3B和5B系列。

6.根据权利要求1所述的液晶显示模块测试系统，其特征在于：所述液晶显示模块测试装置支持包括3.5、4.3、5.6、7、8和10.4寸规格。

7.根据权利要求1所述的液晶显示模块测试系统，其特征在于：所述显示模块接口包括多种类的接口引脚，包括支持并口16位、并口8位、UART串口和SPI串口的液晶显示模块。

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