CN104991358B - 阵列基板及其制作方法、控制方法、显示装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种阵列基板及其制作方法、控制方法、显示装置，该阵列基板中，在数据信号输入端和数据线之间还设置有测试/显示转换开关阵列，并设置有测试信号输入端和转换控制输入端，该测试/显示转换开关阵列可以选择性的将数据线接入测试信号输入端或者数据信号输入端。这样在需要进行透过率曲线的测试时，仅需将数据线接入测试信号输入端即可，而无需将柔性电路板撕掉，避免了相应的资源浪费。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种阵列基板及其制作方法、控制方法、显示装置。
背景技术
随着显示器制造技术的发展，液晶显示器技术发展迅速，己经取代了传统的显像管显示器而成为未来平板显示器的主流。在液晶显示器技术领域中，薄膜晶体管液晶显示器TFT-LCD(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display)以其大尺寸、高度集成、功能强大、工艺灵活、低成本等优势而广泛应用于电视机、电脑等领域。
在液晶显示面板制作的过程中，需要对显示板面的透过率进行测试。现有技术中，一般是将用于连接数据驱动电路和阵列基板的柔性电路板撕掉，之后在暴露出的数据线接口处涂覆银胶，将各个数据线接口连接在一起，之后通过在数据线上施加相应的数据电压点亮各个像素，并使用色彩分析仪采集各个像素的发光信息，完成相应的测试。
上述的测试方法存在的问题在于，将柔性电路板撕掉会导致该阵列基板的报废，造成极大的浪费。
发明内容
本发明的一个目的在于克服上述问题。
第一方面，本发明提供了一种阵列基板，包括基底、形成在所述基底上的像素开关阵列和数据线图形，并具有多个数据信号输入端，还包括形成在所述基底上的测试/显示转换开关阵列、测试信号输入端和转换控制输入端，所述测试/显示转换开关阵列分别与所述转换控制输入端、所述测试信号输入端、多个数据信号输入端以及所述数据线图形中的多条数据线相连，适于响应于所述转换控制输入端接入的第一控制信号，将所述多条数据线一对一接入到多个数据信号输入端，响应于所述转换控制输入端接入的第二控制信号，将所述多条数据线接入到所述测试信号输入端。
进一步的，所述测试/显示转换开关阵列包括测试开关阵列和显示开关阵列，所述转换控制输入端包括测试控制端和显示控制端；其中，
所述显示开关阵列中的每一个显示开关与一条数据线以及一个数据信号输入端相对应，并连接在对应的数据线与对应的数据信号输入端之间，控制端连接所述显示控制端；
所述测试开关阵列的每一个测试开关的第一端一对一连接一条数据线，第二端连接到所述测试信号输入端，控制端连接所述测试控制端；
所述第一控制信号适于开启所述显示开关阵列中的各个显示开关，并关断所述测试开关阵列的各个开关；
所述第二控制信号适于开启所述测试开关阵列中的各个测试开关，并关断所述显示开关阵列的各个开关。
进一步的，所述显示开关阵列中的各个显示开关的开启电平以及所述第一控制信号均为第一电平，所述测试开关阵列中的各个测试开关的开启电平以及所述第二控制信号均为与第一电平相反的第二电平；
所述测试控制端和显示控制端为同一输入端。
进一步的，所述测试/显示转换开关阵列中的各个开关与所述像素开关阵列中的各个开关的开启电平均为第一电平，所述第一控制信号包括输入到显示控制端的第一电平信号和输入到测试控制端的第二电平信号；所述第二控制信号包括输入到显示控制端的第二电平信号和输入到测试控制端的第一电平信号；所述第二电平信号与所述第一电平信号相反。
进一步的，所述测试/显示转换开关阵列形成在扇出区域。
第二方面，本发明还提供了一种用于对上述任一项所述的阵列基板的控制方法，其特征在于，包括：
在显示阶段，在转换控制输入端输入第一控制信号将所述多条数据线一对一接入到多个数据信号输入端；
在测试阶段，在转换控制输入端输入第二控制信号将所述多条数据线接入到所述测试信号输入端。
进一步的，当所述测试/显示转换开关阵列包括测试开关阵列和显示开关阵列，所述转换控制输入端包括测试控制端和显示控制端时，所述在转换控制输入端输入第一控制信号将所述多条数据线一对一接入到多个数据信号输入端，包括：
在所述显示控制端上输入能够使各个显示开关开启的控制信号，并在所述测试开关输入端输入能够使各个测试开关关断的控制信号；
所述在转换控制输入端输入第二控制信号将所述多条数据线接入到所述测试信号输入端，包括：
在所述显示控制端上输入能够使各个显示开关关断的控制信号，并在所述测试开关输入端输入能够使各个测试开关开启的控制信号。
第三方面，本发明还提供了一种制作上述任一项所述的方法，包括：
在基底上形成像素开关阵列、数据线图形、数据信号输入端；并在所述基底上形成测试/显示转换开关阵列、测试信号输入端和转换控制输入端；其中，所述测试/显示转换开关阵列分别与所述转换控制输入端、所述测试信号输入端、多个数据信号输入端以及所述数据线图形中的多条数据线相连，适于响应于所述转换控制输入端接入的第一控制信号，将所述多条数据线一对一接入到多个数据信号输入端，响应于所述转换控制输入端接入的第二控制信号，将所述多条数据线接入到所述测试信号输入端。
进一步的，当所述测试/显示转换开关阵列中的各个开关与所述像素开关阵列中的各个开关的开启电平均为第一电平时，在形成所述像素开关阵列的同一工艺中形成测试/显示转换开关阵列。
第四方面，本发明还提供了一种显示装置，其特征在于，包括上述任一项所述的阵列基板。
本发明提供的阵列基板中，在数据信号输入端和数据线之间还设置有测试/显示转换开关阵列，并设置有测试信号输入端和转换控制输入端，该测试/显示转换开关阵列可以选择性的将数据线接入测试信号输入端或者数据信号输入端。这样在需要进行透过率曲线的测试时，仅需将数据线接入测试信号输入端即可，而无需将柔性电路板撕掉，避免了相应的资源浪费。
附图说明
图1为本发明一实施例提供的一种阵列基板的结构示意图；
图2为本发明另一实施例提供的一种阵列基板的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他的实施例，都属于本发明保护的范围。
第一方面，本发明提供了一种阵列基板，该阵列基板包括：基底、形成在所述基底上的像素开关阵列和数据线图形，并具有多个数据信号输入端，还包括形成在所述基底上的测试/显示转换开关阵列、测试信号输入端和转换控制输入端，所述测试/显示转换开关阵列分别与所述转换控制输入端、所述测试信号输入端、多个数据信号输入端以及所述数据线图形中的多条数据线相连，适于响应于所述转换控制输入端接入的第一控制信号，将所述多条数据线一对一接入到多个数据信号输入端，响应于所述转换控制输入端接入的第二控制信号，将所述多条数据线接入到所述测试信号输入端。
第二方面，本发明提供了一种阵列基板的控制方法，该方法包括：
在显示阶段，在转换控制输入端输入第一控制信号将所述多条数据线一对一接入到多个数据信号输入端；
在测试阶段，在转换控制输入端输入第二控制信号将所述多条数据线接入到所述测试信号输入端。
本发明提供的阵列基板机及其驱动方法中，在数据信号输入端和数据线之间还设置有测试/显示转换开关阵列，并设置有测试信号输入端和转换控制输入端，该测试/显示转换开关阵列可以选择性的将数据线接入测试信号输入端或者数据信号输入端。这样在需要进行透过率曲线的测试时，仅需将数据线接入测试信号输入端即可，而无需将柔性电路板撕掉，避免了相应的资源浪费。
在具体实施时，上述的阵列基板的具体结构可以表现多种形式，具体的驱动方法也不尽相同。下面结合附图对其中一种阵列基板的结构及其驱动方法进行说明，参考图1，该阵列基板包括基底100(图中为示出)、以及形成在基底100上的数据线图形400(图中未示出标号)，在基底100上的显示区域形成有像素开关阵列(图中未示出)，在非显示区域的数据线扇出区域形成有测试开关阵列210和显示开关阵列220，并形成有测试信号输入端110、多个数据信号输出端120、测试控制端310和显示控制端320；其中，显示开关阵列220中的每一个显示开关221与一条数据线401以及一个数据信号输入端120相对应，并连接在相对应的数据线401与数据信号输入端120之间，各个显示开关221的控制端均连接显示控制端320；测试开关阵列210中的各个测试开关211也与一条数据线401相对应，每一个测试开关211的第一端连接相对应的数据线401，第二端连接测试信号输入端110，控制端连接测试控制端310。
参见图1，测试开关阵列210中的各个测试开关211和显示开关阵列220中的各个显示开关221可以为开启电平为高电平的开关，相应的像素开关阵列中的各个像素开关的开启电平也可以为高电平，这样做的好处是，可以在形成像素开关阵列的同一工艺中，形成测试开关阵列210和显示开关阵列220。从而降低制作的难度。
对图1中的阵列基板的控制过程可以包括：
在显示阶段，在显示控制端320施加高电平，使显示开关阵列220中的各个显示开关221导通，并在测试控制端310施加低电平，使测试开关阵列210中的各个测试开关211关断；此时，各个数据线401通过显示开关221连接到对应的数据信号输入端120，通过在数据信号输入端120施加相应的数据信号可实现正常的显示。
在测试阶段，在显示控制端320施加低电平，使显示开关阵列220中的各个显示开关221关断，并在测试控制端310施加高电平，使测试开关阵列210中的各个测试开关211导通；此时，各个数据线401通过测试开关211连接到测试信号输入端110，在测试信号输入端110上施加测试信号可以实现相应的测试。
这样在进行测试时，直接在测试信号输入端110施加相应的测试电压并在测试控制端310施加控制信号使测试开关导通即可，而无需使数据信号输入端120暴露，也就无需将连接数据信号输入端120与数据驱动电路的柔性电路板撕掉，避免由此造成的阵列基板的报废。
图1中所示的阵列基板是包含一个测试信号输入端110的情况，此时可以在不报废阵列基板的情况下实现液晶透过率测试，或者其他对各列像素同时进行的测试。不难理解的是，在实际应用中，也可以设置多个测试信号输入端110，并使各个测试开关211一对一连接各个测试信号输入端110，这样可以单独完成对其中的一列像素的测试。
不难理解的是，在图1中，测试开关阵列210和显示开关阵列220共同构成了测试/显示转换开关阵列，而测试控制端和显示控制端共同构成了转换控制输入端，施加在测试开关阵列210中的各个测试开关211的低电平和施加在显示开关阵列220中的各个测试开关221的高电平构成了第一控制信号，施加在测试开关阵列210中的各个测试开关211的高电平和施加在显示开关阵列220中的各个测试开关221的低电平构成了第二控制信号。
在图1中将测试/显示转换开关阵列设置在数据线扇出区域的好处是，能够使得测试/显示转换开关阵列距离数据信号输入端更近，同时避免影响发光显示，当然在实际应用中，将测试/显示转换开关阵列设置在其他区域也能够解决本发明所要解决的基本问题，相应的也应落入本发明的保护范围。
参见图2，为另一种可能的阵列基板的结构示意图，与图1中的阵列基板不同的是，不存在单独的测试控制端310和显示控制端320，而仅存在一个共同的控制端330，测试开关阵列210中的各个测试开关211的开启电平为高电平，显示开关阵列220中的各个显示开关221的开启电平为低电平，而测试开关阵列210中的各个测试开关211和显示开关阵列220中的各个显示开关221的控制端均连接到一个共同控制端330。
在对该阵列基板的控制方法可以包括：
在显示阶段，在共同控制端330上施加低电平，使显示开关阵列220中的各个显示开关221导通，使测试开关阵列210中的各个测试开关211关断；此时，各个数据线401通过显示开关221连接到对应的数据信号输入端120，通过在数据信号输入端120施加相应的数据信号可实现正常的显示。
在测试阶段，在共同控制端330上施加高电平，使显示开关阵列220中的各个显示开关221关断，并使测试开关阵列210中的各个测试开关211导通。
图2中，低电平构成第一控制信号，高电平构成第二控制信号，共同控制端330构成转换控制输入端。
图2所示的阵列基板中减少了控制端的数量和控制信号的数量，能够降低相应的控制难度。
不难理解的是，在实际应用中，在图1和图2中的各个开关的开启电平也可以替换为相反的电平，此时各个控制信号中涉及到的控制电平也应替换为相反的电平。相应的技术方案也能够解决本发明所要解决的技术问题，应落入本发明的保护范围。
第三方面，本发明还提供了一种阵列基板的制作方法，可用于制作上述任一项所述的阵列基板，该方法包括：
在基底上形成像素开关阵列、数据线图形、数据信号输入端；并在基底上的形成测试/显示转换开关阵列、测试信号输入端和转换控制输入端；其中，所述测试/显示转换开关阵列分别与所述转换控制输入端、所述测试信号输入端、多个数据信号输入端以及所述数据线图形中的多条数据线相连，适于响应于所述转换控制输入端接入的第一控制信号，将所述多条数据线一对一接入到多个数据信号输入端，响应于所述转换控制输入端接入的第二控制信号，将所述多条数据线接入到所述测试信号输入端。
具体的，当上述的阵列基板为图1中所述的阵列基板时，该阵列基板的制作方法中，可以在形成所述像素开关阵列的同一工艺中形成测试/显示转换开关阵列。这样能够降低制作工艺的复杂程度。
第四方面，本发明还提供了一种显示装置，该显示装置包括上述任一项所述的阵列基板。具体的，该显示装置可以为手机、电脑、电视机、平板电脑等任何具有显示功能的装置。
以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但是，本发明的保护范围不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替代，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
Claims (10)
1.一种阵列基板，包括基底、形成在所述基底上的像素开关阵列和数据线图形，并具有多个数据信号输入端，其特征在于，还包括形成在所述基底上的测试/显示转换开关阵列、测试信号输入端和转换控制输入端，所述测试/显示转换开关阵列分别与所述转换控制输入端、所述测试信号输入端、多个数据信号输入端以及所述数据线图形中的多条数据线相连，适于响应于所述转换控制输入端接入的第一控制信号，将所述多条数据线一对一接入到多个数据信号输入端，响应于所述转换控制输入端接入的第二控制信号，将所述多条数据线接入到所述测试信号输入端。
2.如权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述测试/显示转换开关阵列包括测试开关阵列和显示开关阵列，所述转换控制输入端包括测试控制端和显示控制端；其中，
所述显示开关阵列中的每一个显示开关与一条数据线以及一个数据信号输入端相对应，并连接在对应的数据线与对应的数据信号输入端之间，控制端连接所述显示控制端；
所述测试开关阵列的每一个测试开关的第一端一对一连接一条数据线，第二端连接到所述测试信号输入端，控制端连接所述测试控制端；
所述第一控制信号适于开启所述显示开关阵列中的各个显示开关，并关断所述测试开关阵列的各个开关；
所述第二控制信号适于开启所述测试开关阵列中的各个测试开关，并关断所述显示开关阵列的各个开关。
3.如权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，所述显示开关阵列中的各个显示开关的开启电平以及所述第一控制信号均为第一电平，所述测试开关阵列中的各个测试开关的开启电平以及所述第二控制信号均为与第一电平相反的第二电平；
所述测试控制端和显示控制端为同一输入端。
4.如权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，所述测试/显示转换开关阵列中的各个开关与所述像素开关阵列中的各个开关的开启电平均为第一电平，所述第一控制信号包括输入到显示控制端的第一电平信号和输入到测试控制端的第二电平信号；所述第二控制信号包括输入到显示控制端的第二电平信号和输入到测试控制端的第一电平信号；所述第二电平信号与所述第一电平信号相反。
5.如权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述测试/显示转换开关阵列形成在扇出区域。
6.一种对如权利要求1-5任一项所述的阵列基板的控制方法，其特征在于，包括：
在显示阶段，在转换控制输入端输入第一控制信号将所述多条数据线一对一接入到多个数据信号输入端；
在测试阶段，在转换控制输入端输入第二控制信号将所述多条数据线接入到所述测试信号输入端。
7.如权利要求6所述的对阵列基板的控制方法，其特征在于，所述阵列基板为如权利要求2所述的阵列基板，所述在转换控制输入端输入第一控制信号将所述多条数据线一对一接入到多个数据信号输入端，包括：
在所述显示控制端上输入能够使各个显示开关开启的控制信号，并在所述测试开关输入端输入能够使各个测试开关关断的控制信号；
所述在转换控制输入端输入第二控制信号将所述多条数据线接入到所述测试信号输入端，包括：
在所述显示控制端上输入能够使各个显示开关关断的控制信号，并在所述测试开关输入端输入能够使各个测试开关开启的控制信号。
8.一种制作如权利要求1-5任一项所述阵列基板的方法，其特征在于，包括：
在基底上形成像素开关阵列、数据线图形、数据信号输入端；并在所述基底上形成测试/显示转换开关阵列、测试信号输入端和转换控制输入端；其中，所述测试/显示转换开关阵列分别与所述转换控制输入端、所述测试信号输入端、多个数据信号输入端以及所述数据线图形中的多条数据线相连，适于响应于所述转换控制输入端接入的第一控制信号，将所述多条数据线一对一接入到多个数据信号输入端，响应于所述转换控制输入端接入的第二控制信号，将所述多条数据线接入到所述测试信号输入端。
9.如权利要求8所述制作阵列基板的方法，其特征在于，所述阵列基板为如权利要求4所述的阵列基板，在形成所述像素开关阵列的同一工艺中形成测试/显示转换开关阵列。
10.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求1-5任一项所述的阵列基板。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |