CN103345080A

CN103345080A - 一种快速测试切换装置及相应的tft-lcd阵列基板

Info

Publication number: CN103345080A
Application number: CN2013102888111A
Authority: CN
Inventors: 吕启标
Original assignee: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd
Current assignee: TCL China Star Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority date: 2013-07-10
Filing date: 2013-07-10
Publication date: 2013-10-09
Anticipated expiration: 2033-07-10
Also published as: WO2015003405A1; CN103345080B

Abstract

本发明实施例公开了一种快速测试切换装置，设置于一TFT-LCD阵列基板上，用于切换对所述TFT-LCD阵列基板的显示区进行测试的信号，至少包括：第一切换TFT，其栅极连接一控制芯片及一测试块，用于接收来自所述测试块的切换控制信号或来自所述控制芯片的关闭控制信号，其源极连接一数据测试线或栅极测试线，其漏极连接所述显示区的对应的数据线或栅线。本发明实施例还公开了一种相应的TFT-LCD阵列基板。实施本发明，有利于液晶面板窄边化，且可以提高TFT-LCD阵列基板的良率。

Description

一种快速测试切换装置及相应的TFT-LCD阵列基板

技术领域

本发明涉及薄膜晶体场效应管液晶显示器（Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，TFT-LCD）技术，特别涉及一种快速测试切换装置及相应的TFT-LCD阵列基板。

背景技术

TFT-LCD面板在生产过程中需要对内部线路进行检测，及时发现问题并修复，该过程称为面板测试过程（cell test）。目前比较广泛应用的面板测试方式是，在栅级焊接区（Gate bonding pad）和源极焊接区（Source bonding pad）下方引入测试短棒（shorting bar）的设计，在面板测试结束后，将该测试短棒的走线采用激光切割（laser cut）的方式切断，但是这种测试电路由于设计了测试短棒，费用高且在面板上需要占用较大的空间，没办法实现面板的窄边框设计，例如在一种 46寸的TFT-LCD中，其中，测试短棒及激光切割所需的走线所占的空间为630μm。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于，提供一种快速测试切换装置及相应的TFT-LCD阵列基板，有利于液晶面板的窄边化，且能避免液晶面板在正常使用时出现的信号干扰。

为了解决上述技术问题，本发明的实施例的一方面提供了一种TFT-LCD阵列基板，包括显示区和位于显示区外围的外围区域，显示区内设置有连接其内部的各TFT单元的栅线和数据线，，外围区域内设置有：

多条数据测试线，分别用于向显示区中各数据线发送数据测试信号；

多条栅线测试线，分别用于向显示区中各栅线发送栅线测试信号；

公共电极线，用于向显示区中各TFT单元提供公共电极；

其中，在每一数据测试线及每一栅线测试线上均设置有快速测试切换装置，快速测试切换装置用于在外部的切换控制信号的控制下，控制数据测试线及栅线测试线与显示区的导通或切断。

其中，进一步包括：控制芯片，其与快速测试切换装置相连，用于向快速测试切换装置发送一关闭控制信号，以使快速测试切换装置处于关闭状态。

其中，控制芯片述所发送的关闭控制信号为一低电平信号或地。

其中，快速测试切换装置包括：

第一切换TFT，其栅极连接控制芯片及一测试块，用于接收来自测试块切的切换控制信号，或来自控制芯片的关闭控制信号，其源极连接一数据测试线或栅极测试线，其漏极连接显示区的对应的数据线或栅线。

其中，快速测试切换装置包括：

第一切换TFT，其栅极连接控制芯片及一测试块，用于接收来自测试块的切换控制信号，或来自控制芯片的关闭控制信号，其源极连接一数据测试线或栅极测试线；

第二切换TFT，其栅极连接第一切换TFT的栅极，其源极连接第一切换TFT的漏极，其漏极连接显示区的对应的数据线或栅线。

其中，快速测试切换装置包括：

第二切换TFT，其栅极连接第一切换TFT的栅极，其源极连接第一切换TFT的漏极，

第三切换TFT，其栅极连接第二切换TFT的栅极，其源极连接第一切换TFT的漏极，其漏极连接显示区的对应的数据线或栅线。

其中，当第一切换TFT接收到来自测试块的切换控制信号为第一电平信号时，则各切换TFT的栅极和漏极导通，向显示区发送数据测试信号或/及栅极测试信号；当第一切换TFT接收到来自测试块的切换控制信号为第二电平信号时，则各切换TFT的栅极和漏极截止，停止向显示区发送数据测试信号或/及栅极测试信号；当第一切换TFT接收到来自控制芯片的关闭控制信号，则各切换TFT的栅极和漏极截止。

相应地，本发明实施例的另一方面，还一种快速测试切换装置，设置于一TFT-LCD阵列基板上，用于切换对TFT-LCD阵列基板的显示区进行测试的信号，至少包括：

第一切换TFT，其栅极连接一控制芯片及一测试块，用于接收来自测试块的切换控制信号，或来自控制芯片的关闭控制信号，其源极连接一数据测试线或栅极测试线，其漏极连接显示区的对应的数据线或栅线。

其中，进一步包括：

设置于第一切换TFT与显示区之间的第二切换TFT，其栅极连接第一切换TFT的栅极，其源极连接第一切换TFT的漏极，其漏极连接显示区的对应的数据线或栅线。

其中，进一步包括：

设置于第二切换TFT与显示区之间的第三切换TFT，其栅极连接第二切换TFT的栅极，其源极连接第二切换TFT的漏极，其漏极连接显示区的对应的数据线或栅线。

实施本发明实施例，具有如下有益效果：

根据本发明的实施例，在TFT-LCD阵列基板采用包含有切换TFT的快速测试切换装置，可以减少测试走线所占用的空间，有利有液晶面板的窄边化；

控制芯片可以向快速测试切换装置发送关闭控制信号，从而使包含有TFT-LCD阵列基板的液晶面板在正常使用过程中，使所有的快速测试切换装置处于常闭状态；

在快速测试切换装置中采用二个或以上的切换TFT，可以防止包含有TFT-LCD阵列基板的液晶面板在正常使用过程中，由于某个切换TFT失效而导致的显示区的数据线或栅线出现短路的情形，可以避免串扰情形的出现，从而可以提高TFT-LCD阵列基板的良率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1是根据本发明一种TFT-LCD阵列基板的一个实施例的结构示意图；

图2是根据本发明一种TFT-LCD阵列基板的另一个实施例的结构示意图；

图3是根据本发明一种快速测试切换装置的一个实施例的结构示意图；

图4是根据本发明一种快速测试切换装置的另一个实施例的结构示意图。

具体实施方式

下面参考附图对本发明的优选实施例进行描述。

如图1所示，是本发明一种TFT-LCD阵列基板的一个实施例的结构示意图；在本实施例中，该TFT-LCD阵列基板，包括显示区和位于所述显示区外围的外围区域，其中显示区内设置有连接其内部的各TFT单元的栅线和数据线，具体地，设置有多条相互垂直的数据线和栅线，每条数据线和栅线交叉处连接一个TFT单元，每个TFT单元包括有TFT、液晶电容和存储电容。每个TFT单元中的TFT的源极连接该数据线，其栅极连接该栅线，由于TFT-LCD阵列基板的显示区中的数据线、栅线以及TFT 单元的设置为常用设计，故在图1中未示出具体的细节；

其中，所述外围区域内设置有：

多条数据测试线，分别用于向显示区中各数据线发送数据测试信号，在图1中示出了6条数据测试线，具体地为图中的R ODD数据测试线、G EVEN数据测试线、B ODD数据测试线、R EVEN 数据测试线、G ODD数据测试线以及B EVEN数据测试线，分别对应于红绿蓝R/G/B信号端的测试；

多条栅线测试线，分别用于向显示区中各栅线发送栅线测试信号，在图1中示出了4条栅极测试线，具体地为图中的D-1栅线测试线、D-2栅线测试线、D-3栅线测试线以及D-4栅线测试线；

公共电极线，用于向显示区中各TFT单元提供公共电极，具体地为图中的A_Com公共电极线；

其中，在每一数据测试线及每一栅线测试线上均设置有快速测试切换装置，该快速测试切换装置用于在外部切换控制信号的控制下，控制数据测试线及栅线测试线与显示区的导通或切断。

具体地，从图中可以看出，在每条测试线的起端均设置有一个测试块（图中以小方块标示），其和测试线均为金属材质制成，在对TFT-LCD阵列基板进行测试时，通过扎针可以将外部的信号传送到该测试块上，即外部的测试信号以及切换控制信号均通针传输到测试块上，然后传送到测试线上。

具体地，在本实施例中，该快速测试切换装置包括：

第一切换TFT（图中用T1标示），其栅极连接一控制芯片及一测试块，用于接收来自所述测试块的切换控制信号或来自所述控制芯片的关闭控制信号，其源极连接一数据测试线或栅极测试线，其漏极连接所述显示区的对应的数据线或栅线。

具体地，当该第一切换TFT设置于数据测试线上时，其栅极与控制芯片（栅极IC）以及一测试块相连接，其源极连接在数据测试线上，其漏极连接在显示区的对应的数据线上，可以理解的是，在其他的实施例中，该第一切换TFT的源极与漏极可以对调；在进行测试时，该第一切换TFT从测试块处接收切换控制信号（D_Switch），用于使其漏极和漏极导通或关闭，以实现对显示区的测试；在测试完成后，在该面板正常显示的情况下，需要使该第一切换TFT处于常闭的状态，以免使连接在该数据测试线上的数据线，由于第一切换TFT的导通而通过数据测试线产生短路的情形，此时，该第一切换TFT需要接收来自控制芯片的关闭控制信号，控制该第一切换TFT处于常闭状态。

当该第一切换TFT设置于栅极测试线上时，其栅极与控制芯片（源极IC），以及一测试块相连接，其源极连接在栅极测试线上，其漏极连接在显示区的对应的栅线上，可以理解的是，在其他的实施例中，该第一切换TFT的源极与漏极可以对调；在进行测试时，该第一切换TFT从测试块处接收切换控制信号（G_Switch），用于使其漏极和漏极导通或关闭，以实现对显示区的测试；在测试完成后，在包含有该TFT-LCD阵列基板的面板正常使用的情况下，需要使该第一切换TFT处于常闭的状态，以免使显示区中连接在该栅极测试线上多条栅线，由于第一切换TFT的导通而通过栅极测试线产生短路的情形，此时，该第一切换TFT需要接收来自控制芯片的关闭控制信号，控制该第一切换TFT处于常闭状态。

其中，在对TFT-LCD阵列基板进行测试的阶段，当来自测试块的切换控制信号（D_Switch或G_Switch）为第一电平信号（如高电平）时，则第一切换TFT的栅极和漏极导通，从而向显示区发送数据测试信号或/及栅极测试信号；当来自测试块的切换控制信号为第二电平信号（如低电平）时，则第一切换TFT的栅极和漏极截止，停止向显示区发送数据测试信号或/及栅极测试信号；

在对TFT-LCD阵列基板测试完成后，处于正常使用的阶段，控制芯片向第一切换TFT发送关闭控制信号，使第一切换TFT的栅极和漏极截止，使其处于常闭状态，在实际实施例中，该关闭控制信号可以为低电平信号（或地）。

这样，通过在TFT-LCD阵列基板中采用快速测试切换装置的设计，可以充分利用显示区旁的空间，在具体实现时，其占用的空间很小，从而避免现有技术中专门设置测试短棒及激光切割走线所需的空间，并且还省去了激光切割的步骤。在本实施例中，只要通过测试块发送的控制切换信号电平的高低，以及向各测试线发送相应的测试信号，即可以实现对TFT-LCD阵列基板的快速测试，并在测试完毕后于关闭的状态。并在TFT-LCD阵列基板正常使用时，通过控制芯片向快速测试切换装置发送关闭控制信号，从而可以使快速测试切换装置处于常闭状态，使各测试线与显示区断开，从而防止显示区中的数据线或栅线之间出现短路的情形。

如图2所示，是本发明一种TFT-LCD阵列基板的另一个实施例的结构示意图；在本实施例中，其与图1中示出的实施例的区别在于，该TFT-LCD阵列基板中，每个快速测试切换装置采用两个切换TFT。具体地，该快速测试切换装置包括：

第一切换TFT（图中以T1标示），其栅极连接控制芯片及一测试块，用于接收来自测试块切的切换控制信号，或来自控制芯片的关闭控制信号，其源极连接一数据测试线或栅极测试线；

第二切换TFT（图中用T2标示），其栅极连接第一切换TFT的栅极，其源极连接第一切换TFT的漏极，其漏极连接所述显示区的对应的数据线或栅线。

具体地，当该快速测试切换装置设置于数据测试线上时，第一切换TFT的栅极连接控制芯片（栅极IC）及测试块，第一切换TFT可以从测试块接收切换控制信号（D_Switch），或从控制芯片接收关闭控制信号，其源极连接在数据测试线上；第二切换TFT的栅极连接第一切换TFT的栅极，其源极连接第一切换TFT的漏极，其漏极连接述显示区的对应的数据线，可以理解的是，在其他的实施例中，该第一切换TFT的源极与漏极可以对调；

当该快速测试切换装置设置于数据测试线上时，第一切换TFT的栅极连接控制芯片（源极IC）及测试块，第一切换TFT可以从测试块接收切换控制信号（G_Switch），或从控制芯片接收关闭控制信号，其源极连接在栅极测试线上；第二切换TFT的栅极连接第一切换TFT的栅极，其源极连接第一切换TFT的漏极，其漏极连接述显示区的对应的栅线上，可以理解的是，在其他的实施例中，该第一切换TFT和第二切换TFT的源极与漏极均可以对调；

其中，在对TFT-LCD阵列基板进行测试的阶段，当来自测试块的切换控制信号（D_Switch或G_Switch）为第一电平信号（如高电平）时，则第一切换TFT及第二切换TFT的栅极和漏极导通，从而向显示区发送数据测试信号或/及栅极测试信号；当来自测试块的切换控制信号为第二电平信号（如低电平）时，则第一切换TFT及第二切换TFT的栅极和漏极截止，停止向显示区发送数据测试信号或/及栅极测试信号；

在对TFT-LCD阵列基板测试完成后，处于正常使用的阶段，控制芯片向第一切换TFT及第二切换TFT发送关闭控制信号，使第一切换TFT及第二切换TFT的栅极和漏极截止，使其处于常闭状态，在实际实施例中，该关闭控制信号可以为低电平信号（或地）。

可以理解的是，在本发明的其他实施例中，该快速测试切换装置中可以采用二个以上的切换TFT，如三个切换TFT。

可以理解的是，在快速测试切换装置中采用一个切换TFT往往存在很大的漏电风险（例如该切换TFT失效了），则在快速测试结束后，在包含有该TFT-LCD阵列基板的面板正常使用的情况下，如果某个第一切换TFT失效（例如其一直处于导通状态），则会使与连接在同一测试线（栅极测试线/数据测试线）上的多个栅线或数据线会产生短路的情形，这样会使TFT-LCD阵列基板中出现信号相互干扰的状况。故在快速测试切换装置中采用两个或两个以上的切换TFT，可以防止相邻的信号线之间发生串扰情形的出现，因为在面板正常使用时，即使在快速测试切换装置中某个切换TFT发生漏电，则另外的切换TFT仍可以保证该快速测试切换装置处于闭合的状态，防止导致栅线或数据线出现短路的情形；且在一个快速测试切换装置中所有的切换TFT同时发生漏电的概率是非常小的，故这种结构可以大大降低漏电的风险，从而可以提高TFT-LCD阵列基板的良率。

相应地，本发明还提供了一种快速测试切换装置。在一个实施例中，该快速测试切换装置设置于一TFT-LCD阵列基板上，用于切换对所述TFT-LCD阵列基板的显示区进行测试的信号，其至少包括：

控制芯片，用于产生并发送切换控制信号；

第一切换TFT，其栅极连接一控制芯片及一测试块，用于接收来自测试块的切换控制信号，或来自控制芯片的关闭控制信号，其源极连接一数据测试线或栅极测试线，其漏极连接所述显示区的对应的数据线或栅线。

如图3所示，是本发明一种TFT-LCD阵列基板中的快速测试切换装置一个实施例的示意图；从中可以看出，在该实施例中，该快速测试切换装置包括：

第一切换TFT，其栅极连接一控制芯片及一测试块，用于接收来自所述测试块的切换控制信号或来自所述控制芯片的关闭控制信号，其源极连接一数据测试线或栅极测试线；

如图4所示，是本发明一种TFT-LCD阵列基板中的快速测试切换装置另一个实施例的示意图，从中可以看出，在该实施例中，该快速测试切换装置包括：

第二切换TFT，其栅极连接述第一切换TFT的栅极，其源极连接述第一切换TFT的漏极；

第三切换TFT，其栅极连接第二切换TFT的栅极，其源极连接第二切换TFT的漏极，其漏极连接显示区的对应的数据线或栅线；。

具体地，当所述第一切换TFT接收到来自测试块的切换控制信号为第一电平信号时，则各切换TFT的栅极和漏极导通，向所述显示区发送数据测试信号或/及栅极测试信号；当所述第一切换TFT接收到来自测试块的切换控制信号为第二电平信号时，则所述各切换TFT的栅极和漏极截止，停止向所述显示区发送数据测试信号或/及栅极测试信号；当所述第一切换TFT接收到来自所述控制芯片的关闭控制信号，则所述各切换TFT的栅极和漏极截止。

更多的细节，可参见前述对图1和图2的描述。

实施本发明实施例，具有如下有益效果：

以上所揭露的仅为本发明较佳实施例而已，当然不能以此来限定本发明之权利范围，因此等同变化，仍属本发明所涵盖的范围。

Claims

1.一种TFT-LCD阵列基板，包括显示区和位于所述显示区外围的外围区域，所述显示区内设置有连接其内部的各TFT单元的栅线和数据线，其特征在于，所述外围区域内设置有：

公共电极线，用于向显示区中各TFT单元提供公共电极；

其中，在每一数据测试线及每一栅线测试线上均设置有快速测试切换装置，所述快速测试切换装置用于在外部的切换控制信号的控制下，控制所述数据测试线及栅线测试线与所述显示区的导通或切断。

2.如权利要求1所述的TFT-LCD阵列基板，其特征在于，进一步包括：

控制芯片，其与所述快速测试切换装置相连，用于向所述快速测试切换装置发送一关闭控制信号，以使所述快速测试切换装置处于关闭状态。

3.如权利要求2所述的TFT-LCD阵列基板，其特征在于，所述控制芯片述所发送的关闭控制信号为一低电平信号或地。

4.如权利要求2所述的TFT-LCD阵列基板，其特征在于，所述快速测试切换装置包括：

第一切换TFT，其栅极连接所述控制芯片及一测试块，用于接收来自所述测试块切的切换控制信号或来自所述控制芯片的关闭控制信号，其源极连接一数据测试线或栅极测试线，其漏极连接所述显示区的对应的数据线或栅线。

5.如权利要求2所述的TFT-LCD阵列基板，其特征在于，所述快速测试切换装置包括：

第一切换TFT，其栅极连接所述控制芯片及一测试块，用于接收来自所述测试块的切换控制信号或来自所述控制芯片的关闭控制信号，其源极连接一数据测试线或栅极测试线；

第二切换TFT，其栅极连接所述第一切换TFT的栅极，其源极连接所述第一切换TFT的漏极，其漏极连接所述显示区的对应的数据线或栅线。

6.如权利要求2所述的TFT-LCD阵列基板，其特征在于，所述快速测试切换装置包括：

第二切换TFT，其栅极连接所述第一切换TFT的栅极，其源极连接所述第一切换TFT的漏极，

第三切换TFT，其栅极连接所述第二切换TFT的栅极，其源极连接所述第一切换TFT的漏极，其漏极连接所述显示区的对应的数据线或栅线。

7.如权利要求4至6任一项所述的TFT-LCD阵列基板，其特征在于，当所述第一切换TFT接收到来自测试块的切换控制信号为第一电平信号时，则各切换TFT的栅极和漏极导通，向所述显示区发送数据测试信号或/及栅极测试信号；当所述第一切换TFT接收到来自测试块的切换控制信号为第二电平信号时，则所述各切换TFT的栅极和漏极截止，停止向所述显示区发送数据测试信号或/及栅极测试信号；当所述第一切换TFT接收到来自所述控制芯片的关闭控制信号，则所述各切换TFT的栅极和漏极截止。

8.一种快速测试切换装置，设置于一TFT-LCD阵列基板上，用于切换对所述TFT-LCD阵列基板的显示区进行测试的信号，其特征在于，至少包括：

第一切换TFT，其栅极连接一控制芯片及一测试块，用于接收来自所述测试块的切换控制信号或来自所述控制芯片的关闭控制信号，其源极连接一数据测试线或栅极测试线，其漏极连接所述显示区的对应的数据线或栅线。

9.如权利要求8所述的快速测试切换装置，其特征在于，进一步包括：

设置于所述第一切换TFT与所述显示区之间的第二切换TFT，其栅极连接所述第一切换TFT的栅极，其源极连接所述第一切换TFT的漏极，其漏极连接所述显示区的对应的数据线或栅线。

10.如权利要求9所述的快速测试切换装置，其特征在于进一步包括：

设置于所述第二切换TFT与所述显示区之间的第三切换TFT，其栅极连接所述第二切换TFT的栅极，其源极连接所述第二切换TFT的漏极，其漏极连接所述显示区的对应的数据线或栅线。

11.如权利要求8至10任一项所述的快速测试切换装置，其特征在于，当所述第一切换TFT接收到来自测试块的切换控制信号为第一电平信号时，则各切换TFT的栅极和漏极导通，向所述显示区发送数据测试信号或/及栅极测试信号；当所述第一切换TFT接收到来自测试块的切换控制信号为第二电平信号时，则所述各切换TFT的栅极和漏极截止，停止向所述显示区发送数据测试信号或/及栅极测试信号；当所述第一切换TFT接收到来自所述控制芯片的关闭控制信号，则所述各切换TFT的栅极和漏极截止。