WO2016019605A1 - 液晶面板检测线路 - Google Patents

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WO2016019605A1
WO2016019605A1 PCT/CN2014/084873 CN2014084873W WO2016019605A1 WO 2016019605 A1 WO2016019605 A1 WO 2016019605A1 CN 2014084873 W CN2014084873 W CN 2014084873W WO 2016019605 A1 WO2016019605 A1 WO 2016019605A1
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吕启标
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深圳市华星光电技术有限公司
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    • G02F1/1362—Active matrix addressed cells
    • G02F1/136254—Checking; Testing

Definitions

  • the present invention relates to the field of display technologies, and in particular, to a liquid crystal panel detection circuit. Background technique
  • TFT-LCD Thin film transistor liquid crystal display device
  • LCD TV mobile phone
  • PDA personal digital assistant
  • digital camera computer screen or laptop screen, etc.
  • liquid crystal display devices which include a casing, a liquid crystal panel disposed in the casing, and a backlight module disposed in the casing.
  • a common liquid crystal panel is a color filter substrate (Color Filter, CF), a thin film transistor array substrate (Thin Film Transistor Array Substrate, TFT Array Substrate), and a liquid crystal layer (Liquid Crystal Layer) disposed between the two substrates,
  • the working principle is to control the rotation of the liquid crystal molecules of the liquid crystal layer by applying a driving voltage on the two glass substrates, and refract the light provided by the backlight module to generate an image.
  • the panel detection method used in the prior art is as shown in Figure 1.
  • a plurality of mutually perpendicular gate lines 100 and signal lines 200 are disposed in the panel display area, and each of the gate lines 100 is electrically connected to a gate bonding pad 300 located at a periphery of the liquid crystal panel display area.
  • Each of the signal lines 200 is electrically connected to a source bonding pad 400 located at a periphery of the display area of the liquid crystal panel, and the gate splicing portion 300 and the source splicing portion 400 respectively pass through the metal pins 310 thereof.
  • the metal pins 310 and 410 are cut by laser cutting, and the insulating layer (SiNx) covering the metal pins 310 and 410 is also simultaneously punched. Off, leaving a trench at the laser cutting line 700, the ends of the residual portions of the metal pins 310, 410 are exposed in the trenches, are susceptible to corrosion, and the corrosion extends to the gates.
  • the connection portion 300, the source connection portion 400, and the gate line 100 and the signal line 200 respectively connected to the two are interrupted, and the panel operation signal is interrupted, causing the panel to display an abnormality. Summary of the invention
  • the object of the present invention is to provide a liquid crystal panel detection circuit, which eliminates the need to laser-cut the metal pins of the gate splicing portion and the source splicing portion after the panel is detected, thereby preventing panel display due to corrosion of the metal pin end. Bad problems, while improving the panel quality, increase production efficiency and reduce production costs.
  • the present invention provides a liquid crystal panel detection circuit, including a plurality of gate splicing portions and source splicing portions disposed on a periphery of a display area of a liquid crystal panel, and a plurality of gate electrodes disposed on a periphery of a display area of the liquid crystal panel.
  • the line test short-circuit bar and the signal line test short-circuit bar, the gate-connecting portion is electrically connected to the gate line test short-circuit bar, and the source-connected portion is electrically connected to the signal line test short-circuit bar, at each gate ⁇ Connecting at least one first on the path connecting the gate line to the test shorting rod
  • a TFT switch at least one second TFT switch is disposed on a path of each source splicing portion connected to the signal line test shorting bar, the gate of the first TFT switch is connected to a first control signal line, and the second TFT switch is The gate is connected to a second control signal line; the switch signal is transmitted through the first and second control signal lines to respectively control the gate line test short-circuit bar and the gate line and the signal line test short-circuit bar Connected or interrupted with the signal line.
  • Each of the gate splicing portions is electrically connected to a gate line located in the display area of the liquid crystal panel, and each of the source splicing portions is electrically connected to a signal line located in the display area of the liquid crystal panel.
  • the gate line test shorting bar is connected to the gate line test signal, the signal line is tested by the shorting bar connecting signal line test signal; when the first and second control signal lines are transmitting the open signal, the first and second The TFT switches are both turned on, so that the gate line test short-circuit bar and the gate line and the signal line test short-circuit bar and the signal line are connected, and the gate line test signal and the signal line test signal respectively enter the a gate line and a signal line; when the first and second control signal lines transmit a shutdown signal, the first and second TFT switches are both turned off, so that the gate line tests between the shorting bar and the gate line And the signal line tests the interruption between the shorting bar and the signal line.
  • the off signal is a gate low voltage or a direct ground of the first TFT switch or the second TFT switch.
  • a first TFT switch is disposed on a path connecting each gate splicing portion to the gate line test shorting bar, and a second TFT switch is disposed on a path connecting each source splicing portion to the signal line test shorting bar .
  • the source of the first TFT switch is connected to the gate line to test the shorting bar, the drain of which is connected to the corresponding gate line by the gate splicing portion; the source of the second TFT switch is connected to the signal line to test the shorting bar The drain is connected to the corresponding signal line by the source connection.
  • the TFT switch is provided with two second TFT switches on a path connecting each source splicing portion to the signal line test shorting bar.
  • the source of one first TFT switch is connected to the gate line test shorting bar, and the drain of the one first TFT switch is connected to the source of the other first TFT switch
  • the drain of the other first TFT switch is connected to the corresponding gate line by the gate junction; the source connection signal of one second TFT switch in the two second TFT switches on each path The line tests the shorting bar, and the drain of the one second TFT switch is connected to the source of the other second TFT switch, and the drain of the other second TFT switch is connected to the corresponding signal line by the source splicing portion.
  • At least one first TFT switch is disposed on a path of each gate splicing portion connected to a gate line test shorting bar, and each source is connected
  • At least one second TFT switch is disposed on the path connecting the signal line test short-circuit bar, and the first and second control signals are respectively transmitted and controlled to control whether the first and second TFT switches are turned on or off, thereby controlling
  • the gate line test between the shorting bar and the gate line and the signal line test the connection or middle section between the shorting bar and the signal line, so that the laser cutting of the gate splicing portion and the source splicing portion is no longer required after the panel inspection
  • the metal pin eliminates the problem of poor display of the panel due to corrosion of the end of the metal pin, improves the panel quality, and improves production efficiency and production cost.
  • FIG. 1 is a schematic structural view of a liquid crystal panel detecting circuit in the prior art
  • FIG. 2 is a schematic structural view of a first embodiment of a liquid crystal panel detecting circuit of the present invention
  • FIG. 3 is a schematic structural view of a second embodiment of a liquid crystal panel detecting circuit of the present invention. detailed description
  • the liquid crystal panel detection circuit includes a plurality of gate splicing portions 3 and a source disposed on a periphery of a display area of the liquid crystal panel
  • the pole connecting portion 4 the plurality of gate line test shorting bars 5 and the signal line test shorting bars 6 provided on the periphery of the display area of the liquid crystal panel, are connected to the gate line test shorting bars 5 at each of the gate connecting portions 3
  • a first control signal line 9 that is turned on or off by the switch 7 and a second control signal line 10 for controlling the second TFT switch 8 to be turned on or off.
  • Each of the gate splicing portions 3 is electrically connected to a gate line 1 located in the display area of the liquid crystal panel.
  • Each of the source splicing portions 4 is electrically connected to a signal line 2 located in the display area of the liquid crystal panel.
  • the gate line test shorting bar 5 connects the gate line test signal and transmits the gate line test signal; the signal line tests the shorting bar 6 signal line test signal, and transmits the signal line test signal.
  • the first control signal line 9 is connected to a switching signal for controlling the first TFT switch 7, and transmits the switching signal; the second control signal line 10 is connected to a switching signal for controlling the second TFT switch 8. And transmitting the switch signal.
  • a first TFT switch 7 is disposed on a path of each gate splicing portion 3 connected to the gate line test shorting bar 5, and the gate of the first TFT switch 7 is connected to the first a control signal line 9 having a source connected to the gate line to test the shorting bar 5, the drain of which is connected to the corresponding gate line 1 by the gate splicing portion 3; connected at each source splicing portion 4
  • a second TFT switch 8 is disposed on the path of the signal line test shorting bar 6, the gate of the second TFT switch 8 is connected to the second control signal line 10, and the source thereof is connected to the signal line test shorting bar 6, Its drain is connected to the corresponding signal line 2 by the source splicing portion 4. It can be understood that the source and the drain of the first TFT switch 7 can be reversed, and the source and the drain of the second TFT switch 8 can also be reversed.
  • the source and the drain of the first TFT switch 7 are turned on, and the second TFT is turned on.
  • the source and the drain of the switch 8 are turned on, so that the gate line tests the short-circuit bar 5 and the gate line 1 and the signal line test short-circuit bar 6 and the signal line 2 communicate, the gate line test signal And the signal line test signal respectively enters the gate line 1 and the signal line 2 to detect an internal line of the liquid crystal panel; when the first and second control signal lines 9 and 10 transmit a turn-off signal, the a source of the TFT switch 7 is disconnected from the drain, and a source and a drain of the second TFT switch 8 are disconnected, so that the gate line tests between the shorting rod 5 and the gate line 1 and the signal The line test is interrupted between the shorting bar 6 and the signal line 2.
  • the shutdown signal transmitted by the second control signal line 9, 10 is a lower potential, and the lower potential may be the gate low voltage of the first TFT switch 7 or the second TFT switch 8. Or directly grounded.
  • the liquid crystal panel detecting circuit detects the line compared with the liquid crystal panel using the metal pin in the prior art, so that the metal of the laser splicing portion and the source splicing portion is no longer required after the panel is detected!
  • the foot prevents the display of the panel due to corrosion of the end of the metal pin, improves the panel product, improves the production efficiency, and reduces the production cost.
  • the first embodiment has been able to meet the needs of liquid crystal panel testing, but since the first TFT switch 7 is disposed on the path of each gate splicing portion 3 connected to the gate line test shorting bar 5 The number of the second TFT switches 8 disposed on the path of the source line connecting portion 4 connected to the signal line test shorting bar 6 is only one.
  • the single TFT switch has a risk of leakage failure and the liquid crystal panel is normally displayed, the working signals are mutually The risk of interference.
  • FIG. 3 is a schematic structural view of a second embodiment of a liquid crystal panel detection circuit according to the present invention.
  • the second embodiment optimizes the first embodiment, and each gate connection portion 3 is connected to a gate line to test a short circuit.
  • Two first TFT switches 7 are provided on the path of the rod 5, and two second TFT switches 8 are provided on the path of each source-connecting portion 4 connected to the signal line test shorting rod 6.
  • the gates of the two first TFT switches 7 on each path are connected to the first control signal line 9, and the source of a first TFT switch 7 is connected to the gate line test shorting bar 5, and the The drain of one first TFT switch 7 is connected to the source of the other first TFT switch 7, and the drain of the other first TFT switch 7 is connected to the corresponding gate line 1 by the gate junction 3;
  • the gates of the two second TFT switches 8 on each path are connected to the second control signal line 10, the source of a second TFT switch 8 is connected to the signal line to test the shorting bar 6, and the second TFT switch
  • the drain of 8 is connected to the source of the other second TFT switch 8, and the drain of the other second TFT switch 8 is connected to the corresponding signal line 2 by the source junction 4.
  • the test signal and the signal line test signal respectively enter the gate line 1 and the signal line 2 to detect an internal line of the liquid crystal panel; when the first and second control signal lines 9, 10 transmit a turn-off signal, two The source and the drain of the first TFT switch 7 are both disconnected, and the source and the drain of the two second TFT switches 8 are both disconnected, so that the gate line tests between the shorting bar 5 and the gate line 1 And the signal line tests the interruption between the shorting bar 6 and the signal line 2.
  • the second embodiment has a lower probability of leakage of two TFT switches at the same time, and even if one of the TFT switches leaks, the other TFT switch can be guaranteed to be broken.
  • the open state can greatly reduce the risk of leakage failure and the risk that the working signals interfere with each other when the liquid crystal panel is normally displayed.
  • the number of TFT switches can be set more, and the effect of preventing leakage failure is better, but at the same time, the more the TFT switch occupies more space, the need to combine the actual design needs of the liquid crystal panel.
  • a liquid crystal panel detecting circuit of the present invention is provided with at least one first TFT switch, at each source splicing portion, on a path of each gate splicing portion connected to the gate line test shorting bar.
  • At least one second TFT switch is disposed on the path connected to the signal line test short-circuit bar, and the first and second TFT switches are respectively controlled to be turned on or off by the first and second control signal line transmission switch signals, thereby controlling the gate
  • the connection between the short-circuit bar and the gate line and the signal line test the connection or the middle between the short-circuit bar and the signal line can eliminate the need for the laser to cut the metal of the gate splicing portion and the source splicing portion after the panel is detected.
  • the pin eliminates the problem of poor display of the panel due to corrosion of the end of the metal pin, improves the panel quality, and improves production efficiency and production cost.

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Abstract

一种液晶面板测试线路，包括多个栅极焊接部（3）与源极焊接部（4）、多条栅极线测试短路杆（5）与信号线测试短路杆（6），在每一栅极焊接部（3）连接到栅极线测试短路杆（5）的路径上设置的至少一个第一TFT开关（7）、在每一源极焊接部（4）连接到信号线测试短路杆（6）的路径上设置的至少一个第二TFT开关（8）、用于控制第一TFT开关（7）导通或关闭的第一控制信号线（9）、用于控制第二TFT开关（8）导通或关闭的第二控制信号线（10）；通过所述第一、第二控制信号线（9、10）传送开关信号来分别控制所述栅极线测试短路杆（5）与栅极线（1）之间及所述信号线测试短路杆（6）与信号线（2）之间的连通或中断。

Description

液晶面板检测线路 技术领域
本发明涉及显示技术领域， 尤其涉及一种液晶面板检测线路。 背景技术
薄膜晶体管液晶显示装置 （TFT-LCD) 是目前的主流显示装置， 其具 有机身薄、 省电、 无辐射等众多优点， 得到了广泛的应用， 如： 液晶电视、 移动电话、 个人数字助理 （PDA)、 数字相机、 计算机屏幕或笔记本电脑屏 幕等。
现有市场上的液晶显示装置大部分为背光型液晶显示装置， 其包括壳 体、设于壳体内的液晶面板及设于壳体内的背光模组（Backlight Module) o 常见的液晶面板的结构是由一彩色滤光片基板 （Color Filter, CF)、 一 薄膜晶体管阵列基板 （Thin Film Transistor Array Substrate , TFT Array Substrate) , 以及一配置于两基板间的液晶层（Liquid Crystal Layer)所构成， 其工作原理是通过在两片玻璃基板上施加驱动电压来控制液晶层的液晶分 子的旋转， 将背光模组提供的光线折射出来产生图像。
在液晶面板生产过程的末端， 需要对面板内部线路进行检测， 及时发 现问题并进行修复， 该过程称为面板测试 （Cell Test) o 现有技术中使用较 为广泛的面板检测方式如图 1 所示， 面板显示区内设置有多条相互垂直的 栅极线 100与信号线 200，每一栅极线 100电性连接位于液晶面板显示区外 围的一栅极烊接部 （Gate Bonding Pad) 300， 每一信号线 200电性连接位于 液晶面板显示区外围的一源极烊接部 （Source Bonding Pad) 400， 所述栅极 烊接部 300、 源极烊接部 400分别通过其金属引脚 310、 410与栅极线测试 短路杆（ Shorting Bar) 500、信号线测试短路杆 600连接。进行面板测试时， 分别向栅极线测试短路杆 500、 信号线测试短路杆 600传送测试信号， 以测 试面板内部线路。 面板测试结束后， 需将所述金属引脚 310、 410采用激光 切割 （Laser Cut) 的方式切断， 这时覆盖在所述金属引脚 310、 410上面的 绝缘层 （SiNx) 也会被同时打掉， 在激光切割线 700 处留下一道沟槽， 所 述金属引脚 310、 410的残留部分的末端就会暴露在沟槽中， 很容易受到腐 蚀， 而且腐蚀会一指延伸至栅极烊接部 300、 源极烊接部 400及分别与二者 连接的栅极线 100、 信号线 200， 造成面板工作信号的传输中断， 导致面板 显示异常。 发明内容
本发明的目的在于提供一种液晶面板检测线路， 使得面板检测后不再 需要激光切割栅极烊接部与源极烊接部的金属引脚， 杜绝由于金属引脚末 端腐蚀而造成的面板显示不良问题， 提升面板品^的同时， 提高生产效率， 降低生产成本。
为实现上述目的， 本发明提供一种液晶面板检测线路， 包括设于液晶 面板显示区外围的多个栅极烊接部与源极烊接部、 设于液晶面板显示区域 外围的多条栅极线测试短路杆与信号线测试短路杆， 栅极烊接部对应电性 连接到栅极线测试短路杆， 源极烊接部对应电性连接到信号线测试短路杆， 在每一栅极烊接部连接到栅极线测试短路杆的路径上设置至少一个第一
TFT 开关、 在每一源极烊接部连接到信号线测试短路杆的路径上设置至少 一个第二 TFT开关， 第一 TFT开关的栅极连接于一第一控制信号线， 第二 TFT 开关的栅极连接于一第二控制信号线； 通过所述第一、 第二控制信号 线传送开关信号来分别控制所述栅极线测试短路杆与栅极线之间及所述信 号线测试短路杆与信号线之间的连通或中断。
每一栅极烊接部电性连接位于液晶面板显示区内的一栅极线， 每一源 极烊接部电性连接位于液晶面板显示区内的一信号线。
所述栅极线测试短路杆连接栅极线测试信号， 所述信号线测试短路杆 连接信号线测试信号； 所述第一、 第二控制信号线传送打开信号时， 所述 第一、 第二 TFT开关均导通， 从而所述栅极线测试短路杆与栅极线之间及 所述信号线测试短路杆与信号线之间连通， 栅极线测试信号与信号线测试 信号分别进入所述栅极线与信号线； 所述第一、 第二控制信号线传送关闭 信号时， 所述第一、 第二 TFT开关均断开， 从而所述栅极线测试短路杆与 栅极线之间及所述信号线测试短路杆与信号线之间中断。
所述关闭信号为第一 TFT开关或第二 TFT开关的栅极低电压或直接接 地。
在每一栅极烊接部连接到栅极线测试短路杆的路径上设置一个第一 TFT 开关、 在每一源极烊接部连接到信号线测试短路杆的路径上设置一个 第二 TFT开关。
所述第一 TFT开关的源极连接栅极线测试短路杆， 其漏极借由栅极烊 接部与相应的栅极线连接； 所述第二 TFT开关的源极连接信号线测试短路 杆， 其漏极借由源极烊接部与相应的信号线连接。
在每一栅极烊接部连接到栅极线测试短路杆的路径上设置两个第一 TFT 开关、 在每一源极烊接部连接到信号线测试短路杆的路径上设置两个 第二 TFT开关。
在每一路径上的两个第一 TFT开关中， 一个第一 TFT开关的源极连接 栅极线测试短路杆， 且该一个第一 TFT开关的漏极连接另一第一 TFT开关 的源极，该另一第一 TFT开关的漏极借由栅极烊接部与相应的栅极线连接； 在每一路径上的两个第二 TFT开关中， 一个第二 TFT开关的源极连接信号 线测试短路杆， 且该一个第二 TFT开关的漏极连接另一第二 TFT开关的源 极， 该另一第二 TFT开关的漏极借由源极烊接部与相应的信号线连接。
本发明的有益效果： 本发明的一种液晶面板检测线路， 在每一栅极烊 接部连接到栅极线测试短路杆的路径上设置至少一个第一 TFT开关、 在每 一源极烊接部连接到信号线测试短路杆的路径上设置至少一个第二 TFT开 关， 通过第一、 第二控制信号线传送开关信号来分别控制第一、 第二 TFT 开关的导通或断开， 从而控制栅极线测试短路杆与栅极线之间及信号线测 试短路杆与信号线之间的连通或中段， 能够使得面板检测后不再需要激光 切割栅极烊接部与源极烊接部的金属引脚， 杜绝由于金属引脚末端腐蚀而 造成的面板显示不良问题， 提升面板品^的同时， 提高生产效率， 降低生 产成本。
为了能更进一步了解本发明的特征以及技术内容， 请参阅以下有关本 发明的详细说明与附图， 然而附图仅提供参考与说明用， 并非用来对本发 明加以限制。 附图说明
下面结合附图， 通过对本发明的具体实施方式详细描述， 将使本发明 的技术方案及其它有益效果显而易见。
附图中，
图 1为现有技术中液晶面板检测线路的结构示意图；
图 2为本发明液晶面板检测线路第一实施例的结构示意图；
图 3为本发明液晶面板检测线路第二实施例的结构示意图。 具体实施方式
为更进一步阐述本发明所采取的技术手段及其效果， 以下结合本发明 的优选实施例及其附图进行详细描述。
请参阅图 2， 为本发明液晶面板检测线路第一实施例的结构示意图。该 液晶面板检测线路包括设于液晶面板显示区外围的多个栅极烊接部 3 与源 极烊接部 4、设于液晶面板显示区域外围的多条栅极线测试短路杆 5与信号 线测试短路杆 6，在每一栅极烊接部 3连接到栅极线测试短路杆 5的路径上 设置的至少一个第一 TFT开关 7、 在每一源极烊接部 4连接到信号线测试 短路杆 6的路径上设置的至少一个第二 TFT开关 8、用于控制所述第一 TFT 开关 7导通或关闭的第一控制信号线 9、 及用于控制所述第二 TFT开关 8 导通或关闭的第二控制信号线 10。
每一栅极烊接部 3电性连接位于液晶面板显示区内的一栅极线 1，每一 源极烊接部 4电性连接位于液晶面板显示区内的一信号线 2。
所述栅极线测试短路杆 5 连接栅极线测试信号， 并对栅极线测试信号 进行传送； 所述信号线测试短路杆 6 信号线测试信号， 并对信号线测试信 号进行传送。 所述第一控制信号线 9连接用于控制第一 TFT开关 7的开关 信号， 并对该开关信号进行传送； 所述第二控制信号线 10连接用于控制第 二 TFT开关 8的开关信号， 并对该开关信号进行传送。
在该第一实施例中， 在每一栅极烊接部 3 连接到栅极线测试短路杆 5 的路径上设置一个第一 TFT开关 7， 该第一 TFT开关 7的栅极连接所述第 一控制信号线 9， 其源极连接所述栅极线测试短路杆 5， 其漏极借由栅极烊 接部 3与相应的栅极线 1连接； 在每一源极烊接部 4连接到信号线测试短 路杆 6的路径上设置一个第二 TFT开关 8， 该第二 TFT开关 8的栅极连接 所述第二控制信号线 10， 其源极连接所述信号线测试短路杆 6， 其漏极借 由源极烊接部 4与相应的信号线 2连接。 可以理解的是， 所述第一 TFT开 关 7的源极、 漏极可对调， 所述第二 TFT开关 8的源极、 漏极也可以对调。
在对液晶面板进行测试的过程中， 当所述第一、 第二控制信号线 9、 10 传送打开信号时， 所述第一 TFT开关 7的源极与漏极导通、 所述第二 TFT 开关 8的源极与漏极导通， 从而所述栅极线测试短路杆 5与栅极线 1之间 及所述信号线测试短路杆 6 与信号线 2之间连通， 栅极线测试信号与信号 线测试信号分别进入所述栅极线 1与信号线 2， 以对液晶面板的内部线路进 行检测； 当所述第一、 第二控制信号线 9、 10 传送关闭信号时， 所述第一 TFT开关 7的源极与漏极断开、 所述第二 TFT开关 8的源极与漏极断开， 从而所述栅极线测试短路杆 5 与栅极线 1 之间及所述信号线测试短路杆 6 与信号线 2之间中断。
值得一提的是， 当对液晶面板的测试过程结束后， 为保证所述第一 TFT 开关 7与第二 TFT开关 8处于完全断开状态， 避免液晶面板的正常工作信 号相互干扰， 所述第一、 第二控制信号线 9、 10 传送的关闭信号为一较低 电位， 该较低电位可以是第一 TFT开关 7或第二 TFT开关 8的栅极低电压 或直接接地。
该液晶面板检测线路相比现有技术中使用金属引脚的液晶面板检测线 路， 使得面板检测后不再需要激光切割栅极烊接部与源极烊接部的金属 ！ 脚， 杜绝由于金属引脚末端腐蚀而造成的面板显示不良问题， 提升面板品 ^的同时， 提高生产效率， 降低生产成本。
原理上， 该第一实施例已经能够满足液晶面板测试的需要， 但是由于 在每一栅极烊接部 3连接到栅极线测试短路杆 5的路径上设置的第一 TFT 开关 7与在每一源极烊接部 4连接到信号线测试短路杆 6的路径上设置的 第二 TFT开关 8的数量均只有一个， 单个 TFT开关存在漏电失效的风险及 液晶面板正常显示时， 其工作信号相互干扰的风险。
请参阅图 3， 为本发明液晶面板检测线路第二实施例的结构示意图， 该 第二实施例对第一实施例进行了优化， 在每一栅极烊接部 3 连接到栅极线 测试短路杆 5的路径上设置两个第一 TFT开关 7、 在每一源极烊接部 4连 接到信号线测试短路杆 6的路径上设置的两个第二 TFT开关 8。
具体的， 在每一路径上的两个第一 TFT开关 7的栅极均连接所述第一 控制信号线 9， 一个第一 TFT开关 7的源极连接栅极线测试短路杆 5， 且该 一个第一 TFT开关 7的漏极连接另一第一 TFT开关 7的源极， 该另一第一 TFT开关 7的漏极借由栅极烊接部 3与相应的栅极线 1连接； 在每一路径 上的两个第二 TFT开关 8的栅极均连接所述第二控制信号线 10， 一个第二 TFT开关 8的源极连接信号线测试短路杆 6， 且该一个第二 TFT开关 8的 漏极连接另一第二 TFT开关 8的源极， 该另一第二 TFT开关 8的漏极借由 源极烊接部 4与相应的信号线 2连接。
在对液晶面板进行测试的过程中， 当所述第一、 第二控制信号线 9、 10 传送打开信号时，两个第一 TFT开关 7的源极与漏极均导通、两个第二 TFT 开关 8的源极与漏极均导通， 从而所述栅极线测试短路杆 5与栅极线 1之 间及所述信号线测试短路杆 6 与信号线 2之间连通， 栅极线测试信号与信 号线测试信号分别进入所述栅极线 1与信号线 2， 以对液晶面板的内部线路 进行检测； 当所述第一、 第二控制信号线 9、 10 传送关闭信号时， 两个第 一 TFT开关 7的源极与漏极均断开、 两个第二 TFT开关 8的源极与漏极均 断开， 从而所述栅极线测试短路杆 5 与栅极线 1 之间及所述信号线测试短 路杆 6与信号线 2之间中断。
其它与第一实施例相同， 此处不再赘述。
该第二实施例相比第一实施例， 由于两个 TFT开关同时漏电的概率较 低， 即使其中一个 TFT开关发生漏电， 另一个 TFT开关还可以保证处于断 开状态， 可以大大降低漏电失效的风险及液晶面板正常显示时， 其工作信 号相互干扰的风险。
当然， TFT 开关的数量还可以设置的更多， 防止其漏电失效的效果会 更好， 但同时 TFT开关越多占用的走线空间越大， 需结合液晶面板的实际 设计需要进行选择。
综上所述， 本发明的一种液晶面板检测线路， 在每一栅极烊接部连接 到栅极线测试短路杆的路径上设置至少一个第一 TFT开关、 在每一源极烊 接部连接到信号线测试短路杆的路径上设置至少一个第二 TFT开关， 通过 第一、 第二控制信号线传送开关信号来分别控制第一、 第二 TFT开关的导 通或断开， 从而控制栅极线测试短路杆与栅极线之间及信号线测试短路杆 与信号线之间的连通或中段， 能够使得面板检测后不再需要激光切割栅极 烊接部与源极烊接部的金属引脚， 杜绝由于金属引脚末端腐蚀而造成的面 板显示不良问题， 提升面板品^的同时， 提高生产效率， 降低生产成本。
以上所述， 对于本领域的普通技术人员来说， 可以根据本发明的技术 方案和技术构思作出其他各种相应的改变和变形， 而所有这些改变和变形 都应属于本发明权利要求的保护范围。

Claims

权 利 要 求
1、 一种液晶面板测试线路， 包括设于液晶面板显示区外围的多个栅极 烊接部与源极烊接部、 设于液晶面板显示区域外围的多条栅极线测试短路 杆与信号线测试短路杆， 栅极烊接部对应电性连接到栅极线测试短路杆， 源极烊接部对应电性连接到信号线测试短路杆， 在每一栅极烊接部连接到 栅极线测试短路杆的路径上设置至少一个第一 TFT开关， 在每一源极烊接 部连接到信号线测试短路杆的路径上设置至少一个第二 TFT 开关， 第一 TFT开关的栅极连接于一第一控制信号线， 第二 TFT开关的栅极连接于一 第二控制信号线； 通过所述第一、 第二控制信号线传送开关信号来分别控 制所述栅极线测试短路杆与栅极线之间及所述信号线测试短路杆与信号线 之间的连通或中断。
2、 如权利要求 1所述的液晶面板测试线路， 其中， 每一栅极烊接部电 性连接位于液晶面板显示区内的一栅极线， 每一源极烊接部电性连接位于 液晶面板显示区内的一信号线。
3、 如权利要求 2所述的液晶面板测试线路， 其中， 所述栅极线测试短 路杆连接栅极线测试信号， 所述信号线测试短路杆连接信号线测试信号； 所述第一、 第二控制信号线传送打开信号时， 所述第一、 第二 TFT开关均 导通， 从而所述栅极线测试短路杆与栅极线之间及所述信号线测试短路杆 与信号线之间连通， 栅极线测试信号与信号线测试信号分别进入所述栅极 线与信号线； 所述第一、 第二控制信号线传送关闭信号时， 所述第一、 第 二 TFT开关均断开， 从而所述栅极线测试短路杆与栅极线之间及所述信号 线测试短路杆与信号线之间中断。
4、 如权利要求 3所述的液晶面板测试线路， 其中， 所述关闭信号为第 一 TFT开关或第二 TFT开关的栅极低电压或直接接地。
5、 如权利要求 2所述的液晶面板测试线路， 其中， 在每一栅极烊接部 连接到栅极线测试短路杆的路径上设置一个第一 TFT开关； 在每一源极烊 接部连接到信号线测试短路杆的路径上设置一个第二 TFT开关。
6、 如权利要求 5所述的液晶面板测试线路， 其中， 所述第一 TFT开关 的源极连接栅极线测试短路杆， 其漏极借由栅极烊接部与相应的栅极线连 接； 所述第二 TFT开关的源极连接信号线测试短路杆， 其漏极借由源极烊 接部与相应的信号线连接。
7、 如权利要求 2所述的液晶面板测试线路， 其中， 在每一栅极烊接部 连接到栅极线测试短路杆的路径上设置两个第一 TFT开关； 在每一源极烊 接部连接到信号线测试短路杆的路径上设置两个第二 TFT开关。
8、 如权利要求 7所述的液晶面板测试线路， 其中， 在每一路径上的两 个第一 TFT开关中， 一个第一 TFT开关的源极连接栅极线测试短路杆， 且 该一个第一 TFT 开关的漏极连接另一第一 TFT 开关的源极， 该另一第一 TFT 开关的漏极借由栅极烊接部与相应的栅极线连接； 在每一路径上的两 个第二 TFT开关中， 一个第二 TFT开关的源极连接信号线测试短路杆， 且 该一个第二 TFT 开关的漏极连接另一第二 TFT 开关的源极， 该另一第二 TFT开关的漏极借由源极烊接部与相应的信号线连接。
9、 一种液晶面板测试线路， 包括设于液晶面板显示区外围的多个栅极 烊接部与源极烊接部、 设于液晶面板显示区域外围的多条栅极线测试短路 杆与信号线测试短路杆， 栅极烊接部对应电性连接到栅极线测试短路杆， 源极烊接部对应电性连接到信号线测试短路杆， 在每一栅极烊接部连接到 栅极线测试短路杆的路径上设置至少一个第一 TFT开关， 在每一源极烊接 部连接到信号线测试短路杆的路径上设置至少一个第二 TFT 开关， 第一 TFT开关的栅极连接于一第一控制信号线， 第二 TFT开关的栅极连接于一 第二控制信号线； 通过所述第一、 第二控制信号线传送开关信号来分别控 制所述栅极线测试短路杆与栅极线之间及所述信号线测试短路杆与信号线 之间的连通或中断；
其中， 每一栅极烊接部电性连接位于液晶面板显示区内的一栅极线， 每一源极烊接部电性连接位于液晶面板显示区内的一信号线；
其中， 所述栅极线测试短路杆连接栅极线测试信号， 所述信号线测试 短路杆连接信号线测试信号； 所述第一、 第二控制信号线传送打开信号时， 所述第一、 第二 TFT开关均导通， 从而所述栅极线测试短路杆与栅极线之 间及所述信号线测试短路杆与信号线之间连通， 栅极线测试信号与信号线 测试信号分别进入所述栅极线与信号线； 所述第一、 第二控制信号线传送 关闭信号时， 所述第一、 第二 TFT开关均断开， 从而所述栅极线测试短路 杆与栅极线之间及所述信号线测试短路杆与信号线之间中断；
其中， 所述关闭信号为第一 TFT开关或第二 TFT开关的栅极低电压或 直接接地；
其中， 在每一栅极烊接部连接到栅极线测试短路杆的路径上设置一个 第一 TFT开关； 在每一源极烊接部连接到信号线测试短路杆的路径上设置 一个第二 TFT开关；
其中， 所述第一 TFT开关的源极连接栅极线测试短路杆， 其漏极借由 栅极烊接部与相应的栅极线连接； 所述第二 TFT开关的源极连接信号线测 试短路杆， 其漏极借由源极烊接部与相应的信号线连接。
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