CN101359671A - 主动阵列基板、液晶显示面板及制造液晶显示面板的方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种主动阵列基板、液晶显示面板及制造液晶显示面板的方法。主动阵列基板包括衬底、像素阵列、内测试电路以及外测试分支线。像素阵列设置于该衬底上，该像素阵列包括多个导线。内测试电路与该多个导线中的一部分导线电连接。外测试分支线与该多个导线中的该部分导线直接连接。采用本发明提供的主动阵列基板、液晶显示面板及制造液晶显示面板的方法，可提高测试能力，减少测试时的误判几率。

Description

主动阵列基板、液晶显示面板及制造液晶显示面板的方法

技术领域

本发明关于一种主动阵列基板、液晶显示面板及制造液晶显示面板的方法。特别关于一种应用于主动阵列基板的测试电路，可以提高测试能力以及减少测试时误判的几率。

背景技术

近年来平面显示器因具有轻薄短小的优点，而被广为使用。一般而言，平面显示器具有主动阵列基板，主动阵列基板包括多个主动元件呈现阵列排列，主动元件是与对应的数据线、扫描线及像素电极电连接。

欲显示影像时，将数据信号通过数据线传送至每一主动元件，然后通过扫描线传送使能信号给主动元件，从而开启主动元件将一列数据信号传送至一列像素电极，接下来关闭该列主动元件，之后开启主动元件下一列主动元件，重复此过程至所有列均被设定为止。

然而，若有某些或某一列主动元件因线路瑕疵或元件不稳定的问题而未使能，便会导致信号传送有问题，导致无法正常显像，所以，通过在平面显示器制造过程中测试或修理瑕疵线路或元件便可获得产量的增加以及缩短整体工艺时间。

发明内容

鉴于前述，本发明的目的是提供一种主动阵列基板，可提高测试能力，减少测试时的误判几率。

本发明所提供的主动阵列基板可以测试主动阵列基板显示区内线路的短路与断路。

本发明所提供的液晶显示面板具有上述主动阵列基板，可以测试主动阵列基板显示区内线路的短路与断路。

本发明所提供的制造液晶显示面板的方法，包括提供一阵列母板，该母板具有彼此独立的内测试电路以及外测试电路，可以在形成液晶层的步骤之前以及之后分别通过第一以及第二测试程序，达到独立且完整的测试目的，以确认液晶显示面板是否有显示区内线路短路与断路的问题。

为让本发明的上述和其他目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图，作详细说明如下。

附图说明

图1为本发明的阵列母板；

图2A-2D为本发明制造液晶显示面板的方法；

图3A为本发明第一测试模组的第一实施例；

图3B以及图3C分别为本发明第一测试模组沿剖面线A-A’所绘制的第一例以及第二例剖面图；

图4为本发明第一测试模组的第二实施例；以及

图5为本发明第二测试模组的另一例。

附图标号：

1                   液晶显示面板

10                  阵列母板

10’                主动阵列基板

100                 衬底

101                 像素阵列

11                  像素单元

110                 内测试电路

1102R               内测试红色信号垫

1102G               内测试绿色信号垫

1102B               内测试蓝色信号垫

111                 测试开关

111a                栅极

111b                源极

111c                漏极

112                 内测试栅极线

114                 内测试红色信号线

116                 内测试绿色信号线

118                 内测试蓝色信号线

12、12a、12b        扫描线

120                 外测试电路

1201R               外测试红色信号垫

1201G               外测试绿色信号垫

1201B               外测试蓝色信号垫

121                 外测试分支线

122R                外测试红色分支线

122G                外测试绿色分支线

122B                外测试蓝色分支线

124                 外测试红色信号线

126                 外测试绿色信号线

128                 外测试蓝色信号线

13、13R、13G、13B   数据线

130                 内测试电路

1301                内测试栅极信号模组

1301a               栅极信号垫

1301b               关闭信号垫

1302                内测试信号模组

131                 内测试栅极线

132                 内测试信号线

133                 内测试分支线

133a                内测试奇分支线

133b                内测试偶分支线

134                 内测试奇信号线

135                 测试开关

135a                栅极

135b                源极

135c                漏极

136                 内测试偶信号线

14                  像素电极

140                 外测试电路

1401                外测试信号模组

1402                外测试奇信号垫

1403                外测试偶信号垫

141                 外测试分支线

141a                外测试奇分支线

141b                外测试偶分支线

142                 外测试信号线

143                 外测试奇信号线

144                 外测试偶信号线

15                  主动元件

150                 导电层

151                 绝缘层

152                 保护层

20                  对向基板

30                  液晶层

具体实施方式

图1为本发明的阵列母板。图2A-2D为本发明制造液晶显示面板的方法。

如图1所示，阵列母板10包括衬底100、像素阵列101、第一测试模组T1以及第二测试模组T2。像素阵列101设置于该衬底100上，像素阵列101包括多个导线以及多个像素单元11。所述这些导线包括多个扫描线12以及多个数据线13，像素单元11包括主动元件15以及像素电极14，每一主动元件15与对应的扫描线12、数据线13以及像素电极14电连接。

第一测试模组T1与所述这些扫描线12电连接，第一测试模组T1包括内测试电路130以及外测试电路140，需特别注意的是，外测试电路140跟内测试电路130独立设置而通过外测试分支线141与扫描线12直接连接。衬底100在位于内测试电路130以及外测试电路140之间的位置具有切割线L，用于后续形成主动阵列基板的切割。

第二测试模组T2与所述这些数据线13电连接，第二测试模组T2包括内测试电路110以及外测试电路120，需特别注意的是，外测试电路120跟内测试电路110独立设置而通过外测试分支线121与数据线13直接连接。衬底100在位于内测试电路110以及外测试电路120之间的位置具有切割线L，用于后续形成主动阵列基板的切割。

请参照图2A至图2D，用于说明本发明制造液晶显示面板的方法。

如图2A所示，提供一阵列母板10，阵列母板10的构造如上述说明。通过外测试电路120和/或外测试电路140传送至少一外测试信号给该像素阵列101以执行一第一测试程序，第一测试程序的处理原理将在之后详细说明。

接下来，如图2B所示，切割该阵列母板10以将该外测试电路120、140的至少一部分脱离该像素阵列101以形成主动阵列基板10’。其中该阵列母板10具有一切割线L位于该内测试电路110(130)以及该外测试电路120(140)之间，其中切割该阵列母板10以将该外测试电路120(140)的至少一部分脱离该像素阵列101的步骤包括沿该切割线L切割该阵列母板10。主动阵列基板10’包括衬底100、像素阵列101、内测试电路130、110以及外测试分支线141、121。像素阵列101设置于该衬底100上，像素阵列包括多个导线以及多个像素单元11。所述这些导线包括多个扫描线12以及多个数据线13，像素单元11包括主动元件15以及像素电极14，每一主动元件15与对应的扫描线12、数据线13以及像素电极14电连接。内测试电路110、130分别与多个数据线13以及多个扫描线12电连接。外测试分支线141、121分别与多个扫描线12以及多个数据线13直接连接。需特别注意的是，外测试分支线141、121是与内测试电路110、130独立设置而分别与对应的导线连接，所以在执行第一测试程序或是之后的第二测试程序时，内测试电路110、130与外测试电路120、140并不会互相影响而独立运作，从而降低了测试时误判的几率。

然后，如图2C所示，形成液晶层30于该主动阵列基板10’以及一对向基板20之间，其中，会有至少一部分的内测试电路130被暴露出来。

最后，通过该内测试电路130传送至少一内测试信号给该像素阵列101以执行一第二测试程序，第二测试程序的处理原理将于之后详细说明。如此一来，如图2D所示，便完成液晶显示面板1。

图3A为本发明第一测试模组的第一实施例。图3B以及图3C分别为本发明第一测试模组沿剖面线A-A’所绘制的第一例以及第二例剖面图。

第一测试模组T1包括内测试电路130以及外测试电路140。

外测试电路140包括至少一外测试信号线142以及外测试信号模组1401。外测试信号线142通过外测试分支线141与多个扫描线12中的该部分直接连接，外测试信号模组1401与该至少一外测试信号线142电连接。在经过切割该阵列母板10的步骤后，外测试分支线141会保留于主动阵列基板10’内。

在进行第一测试程序时，外测试信号依次经由外测试信号模组1401、外测试信号线142以及外测试分支线141传送至扫描线12，以测试像素阵列101中的各元件是否正常运作。因为外测试电路140与内测试电路130独立设置，故在执行第一测试程序时，并不会受到内测试电路130的影响，也就是说，若内测试电路130内有瑕疵或是元件故障时，也不会影响到第一测试程序的运作。

内测试电路130包括内测试栅极线131、内测试栅极信号模组1301、多个测试开关135、多个内测试信号线132以及内测试信号模组1302。内测试栅极信号模组1301与该内测试栅极线131连接。测试开关135举例而言为N型薄膜晶体管或是P型薄膜晶体管。测试开关135具有栅极135a、源极135b以及漏极135c，测试开关135的栅极135a与该内测试栅极线131电连接，所述这些测试开关135的漏极135c分别与该扫描线12对应连接，内测试信号线132通过内测试分支线133分别与所述这些测试开关135的源极135b对应连接。内测试栅极信号模组1301包括栅极信号垫1301a以及关闭信号垫1301b。内测试信号线132与内测试信号模组1302连接。然而，也可依设计者需求，将内测试信号模组1302以及外测试信号模组1401整合为单一信号源，也就是说，内测试信号线132以及外测试信号线142连接至相同的信号源，换句话说，内测试电路130与外测试分支线141并联。

在进行第二测试程序时，通过该栅极信号垫1301a传送一开启信号给所述这些测试开关135，该开启信号的电压约为20伏至30伏，然后同时通过该内测试信号模组1302、内测试信号线132、内测试分支线133以及测试开关135将内测试信号传送至扫描线12，以测试像素阵列101中各元件是否正常运作。然后，通过该关闭信号垫1301b传送一关闭信号给所述这些测试开关135，该关闭信号的电压约为-5伏至-10伏。

经由形成液晶层的步骤前后分别藉由第一以及第二测试程序，可更加确保像素阵列101中各元件以及线路运作正常。

请参考图3B，图3B为本发明第一测试模组T1沿图3A的剖面线A-A’所绘制的第一例。外测试信号线142以及内测试栅极线131可同时以相同导电材料形成在衬底100上，绝缘层151形成于外测试信号线142、内测试栅极线131以及衬底100上，之后，可同时以相同导电材料将内测试信号线132以及外测试分支线141形成于绝缘层151上，然后，全面形成保护层152，接下来，去除部分保护层152以及部分绝缘层151以形成接触洞h1、h2分别暴露出外测试信号线142以及外测试分支线141，最后，形成导电层150于保护层152上以及接触洞h1、h2内用于电连接外测试信号线142以及外测试分支线141。导电层150的材料举例为氧化铟或氧化锌等透明导电材料，但并不局限。

请参考图3C，图3C为本发明第一测试模组T1沿图3A的剖面线A-A’所绘制的第二例。外测试信号线142以及内测试栅极线131可同时以相同导电材料形成在衬底100上，绝缘层151形成于外测试信号线142、内测试栅极线131以及衬底100上，之后，去除部分绝缘层151以形成接触洞h3暴露出部分外测试信号线142，然后，可同时形成内测试信号线132以及外测试分支线141于绝缘层151上，其中外测试分支线141通过接触洞h3与外测试信号线142电连接，而内测试信号线132不与外测试分支线141和外测试信号线142连接，最后，全面形成保护层152。

图4为本发明第一测试模组的第二实施例。与第一测试模组的第一实施例不同的是，内测试信号线以及外测试信号线均被分成奇偶两组。

外测试电路140包括外测试奇信号线143、外测试偶信号线144、以及外测试奇信号垫1402以及外测试偶信号垫1403。

在进行第一测试程序时，外测试信号包括外测试奇信号以及外测试偶信号。外测试奇信号依次经由外测试奇信号垫1402、外测试奇信号线143以及外测试奇分支线141a传送至扫描线12a，以测试像素阵列101中的各元件是否正常运作。外测试偶信号依次经由外测试偶信号垫1403、外测试偶信号线144以及外测试偶分支线141b传送至扫描线12b，以测试像素阵列101中的各元件是否正常运作。

因为外测试电路140与内测试电路130独立设置，故在执行第一测试程序时，并不会受到内测试电路130的影响，也就是说，若内测试电路130内有瑕疵或是元件故障，也不会影响到第一测试程序的运作。

内测试电路130包括内测试栅极线131、内测试栅极信号模组1301、多个测试开关135、多个内测试信号线以及内测试信号模组。内测试栅极信号模组1301与该内测试栅极线131连接，测试开关135具有栅极135a、源极135b以及漏极135c，测试开关135的栅极135a与该内测试栅极线131电连接，所述这些测试开关135的漏极135c分别与该扫描线12a、12b对应连接。内测试信号线包括内测试奇信号线134以及内测试偶信号线136，分别通过内测试奇分支线133a、内测试偶分支线133b与所述这些测试开关135的源极135b对应连接。内测试栅极信号模组1301包括栅极信号垫1301a以及关闭信号垫1301b。内测试信号线132与内测试信号模组连接。内测试信号模组包括内测试奇信号垫1303以及内测试偶信号垫1304。内测试奇信号垫1303与该内测试奇信号线134连接，内测试偶信号垫1304与该内测试偶信号线136连接，其中该内测试奇分支线133a以及内测试偶分支线133b为交错排列。

在进行第二测试程序时，通过该栅极信号垫1301a传送一开启信号给所述这些测试开关135，该开启信号的电压约为20伏至30伏，然后同时通过该内测试奇信号垫1303、内测试奇信号线134、内测试奇分支线133a以及测试开关135将内测试奇信号传送至扫描线12a，以测试像素阵列101中对应各奇数列的各元件是否正常运作。然后，通过该关闭信号垫1301b传送一关闭信号给所述这些测试开关135，该关闭信号的电压约为-5伏至-10伏。接下来，通过该栅极信号垫1301a传送一开启信号给所述这些测试开关135，该开启信号的电压约为20伏至30伏，然后同时通过该内测试偶信号垫1304、内测试偶信号线136、内测试偶分支线133b以及测试开关135将内测试偶信号传送至扫描线12b，以测试像素阵列101中对应各偶数列的各元件是否正常运作。然后，通过该关闭信号垫1301b传送一关闭信号给所述这些测试开关135，该关闭信号的电压约为-5伏至-10伏。

经由形成液晶层的步骤前后分别通过第一以及第二测试程序，可更加确保像素阵列101中的各元件以及线路运作正常。

本发明第二测试模组的构造可仿照本发明第一测试模组的第一实施例，其不同处仅第二测试模组连接至数据线13，其余运作原理及测试方式与本发明第一测试模组的第一实施例相似，在此不赘述。

图5为本发明第二测试模组的另一例。如图5所示第二测试模组T2包括内测试电路110以及外测试电路120。

外测试电路120包括外测试红色信号线124、外测试绿色信号线126、外测试蓝色信号线128、外测试信号模组、外测试红色分支线122R、外测试绿色分支线122G以及外测试蓝色分支线122B。外测试信号模组包括外测试红色信号垫1201R、外测试绿色信号垫1201G以及外测试蓝色信号垫1201B，外测试红色信号垫1201R与该外测试红色信号线124连接，外测试绿色信号垫1201G与该外测试绿色信号线126连接，外测试蓝色信号垫1201B与该外测试蓝色信号线128连接，其中分别与该外测试红色信号线124、该外测试绿色信号线126以及与该外测试蓝色信号线128连接的所述这些数据线13R、13G、13B为依次排列。

在进行另一第一测试程序时，外测试信号包括外测试红色信号、外测试绿色信号以及外测试蓝色信号。外测试红色信号依次经由外测试红色信号垫1201R、外测试红色信号线124以及外测试红色分支线122R传送至数据线13R，以测试像素阵列101中对应红色行的各元件是否正常运作。外测试绿色信号依次经由外测试绿色信号垫1201G、外测试绿色信号线126以及外测试绿色分支线122G传送至数据线13G，以测试像素阵列101中对应绿色行的各元件是否正常运作。外测试蓝色信号依次经由外测试蓝色信号垫1201B、外测试蓝色信号线128以及外测试蓝色分支线122B传送至数据线13B，以测试像素阵列101中对应绿色行的各元件是否正常运作。

因为外测试电路120与内测试电路110独立设置，故在执行此另一第一测试程序时，并不会受到内测试电路110的影响，也就是说，若内测试电路110内有瑕疵或是元件故障时，也不会影响到此另一第一测试程序的运作。

内测试电路110包括内测试栅极线112、内测试栅极信号模组1101、多个测试开关111、多个内测试信号线以及内测试信号模组。内测试栅极信号模组1101与该内测试栅极线112连接，测试开关111具有栅极111a、源极111b以及漏极111c，测试开关111的栅极111a与该内测试栅极线112电连接，所述这些测试开关111的漏极111c分别与该数据线13R、13G以及13B对应连接。内测试信号线包括内测试红色信号线114、内测试绿色信号线116以及内测试蓝色信号线118，分别通过内测试红色分支线133R、内测试绿色分支线133G以及内测试蓝色分支线133B与所述这些测试开关111的源极111b对应连接。内测试栅极信号模组1101的构造以及运作原理与第一测试模组T1的内测试栅极信号模组1301类似，在此不赘述。内测试信号模组包括内测试红色信号垫1102R、内测试绿色信号垫1102G以及内测试蓝色信号垫1102B。内测试红色信号垫1102R与该内测试红色信号线114连接，内测试绿色信号垫1102G与该内测试绿色信号线116连接，内测试蓝色信号垫1102B与该内测试蓝色信号线118连接，其中该内测试红色分支线133R、内测试绿色分支线133G以及内测试蓝色分支线133B为依次交错排列。

在执行另一第二测试程序时，通过该内测试栅极信号模组1101传送一开启信号给所述这些测试开关111，该开启信号的电压约为20伏至30伏，然后同时通过该内测试红色信号垫1102R、内测试红色信号线114、内测试红色分支线133R以及测试开关111将内测试红色信号传送至数据线13R，以测试像素阵列101中对应各红色行的各元件是否正常运作。然后，通过该内测试栅极信号模组1101传送一关闭信号给所述这些测试开关111，该关闭信号的电压约为-5伏至-10伏。接下来，通过该内测试栅极信号模组1101传送一开启信号给所述这些测试开关111，该开启信号的电压约为20伏至30伏，然后同时通过该内测试绿色信号垫1102G、内测试绿色信号线116、内测试绿色分支线133G以及测试开关111将内测试绿色信号传送至数据线13G，以测试像素阵列101中对应各绿色行的各元件是否正常运作。然后，通过该内测试栅极信号模组1101传送一关闭信号给所述这些测试开关111，该关闭信号的电压约为-5伏至-10伏。然后，同样地，通过该内测试栅极信号模组1101传送一开启信号给所述这些测试开关111，该开启信号的电压约为20伏至30伏，然后同时通过该内测试蓝色信号垫1102B、内测试蓝色信号线118、内测试蓝色分支线133B以及测试开关111将内测试蓝色信号传送至数据线13B，以测试像素阵列101中对应各蓝色行的各元件是否正常运作。然后，通过该内测试栅极信号模组1101传送一关闭信号给所述这些测试开关111，该关闭信号的电压约为-5伏至-10伏。

经由形成液晶层的步骤前后分别通过此另一第一以及第二测试程序，可更加确保像素阵列101中对应红色行、绿色行以及蓝色行的各元件以及线路的运作是否正常。

上述开关元件举例为薄膜晶体管，各导线的材质举例为金属导电材料，对向基板举例为彩色滤光片基板，这些熟悉该领域相关技术人员能轻易了解。

因为本发明的内外测试电路为单独设置，故可提高测试能力，减少测试时误判的几率且可以测试显示区内的短路或断路，且部分测试走线拉至切割线L之外，完成测试程序之后，外测试电路及其部分走线会切除。

虽然本发明已以实施例揭露如上，然其并非用于限定本发明，任何本领域中具有通常知识者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许更动与润饰，因此本发明的保护范围当视权利要求范围所界定者为准。

Claims (16)

1.一种主动阵列基板，其特征在于，该主动阵列基板包括：

一衬底；

一像素阵列，设置于所述衬底上，所述像素阵列包括多个导线；

一内测试电路，与所述多个导线中的一部分导线电连接；以及

一外测试分支线，与所述多个导线中的所述部分导线直接连接。

2.如权利要求1所述的主动阵列基板，其特征在于，所述内测试电路与所述外测试分支线并联。

3.如权利要求1所述的主动阵列基板，其特征在于，所述内测试电路包括：

一内测试栅极线；

一内测试栅极信号模组，与所述内测试栅极线连接；

多个测试开关，与所述内测试栅极线电连接，所述这些测试开关分别与所述多个导线中的一部分对应连接；

至少一内测试信号线，与所述这些测试开关连接；以及

一内测试信号模组，与所述内测试信号线电连接。

4.如权利要求3所述的主动阵列基板，其特征在于，所述这些导线包括多个扫描线以及多个数据线，所述内测试电路与所述这些扫描线电连接，其中所述内测试信号线包括一内测试奇信号线以及一内测试偶信号线，所述内测试信号模组包括：

一内测试奇信号垫，与所述内测试奇信号线连接；以及

一内测试偶信号垫，与所述内测试偶信号线连接。

5.如权利要求3所述的主动阵列基板，其特征在于，所述这些导线包括多个扫描线以及多个数据线，所述内测试电路与所述这些数据线电连接，其中所述这些内测试信号线包括一内测试红色信号线、一内测试绿色信号线以及一内测试蓝色信号线，所述内测试信号模组包括：

一内测试红色信号垫，与所述内测试红色信号线连接；

一内测试绿色信号垫，与所述内测试绿色信号线连接；以及

一内测试蓝色信号垫，与所述内测试蓝色信号线连接，其中分别与所述内测试红色信号线、所述内测试绿色信号线以及与所述内测试蓝色信号线连接的所述这些测试开关系为依次排列。

6.如权利要求1所述的主动阵列基板，其特征在于，该主动阵列基板还包括：

一另一内测试电路，设置于所述衬底上，与所述多个导线中的另一部分导线电连接；以及

一另一外测试分支线，与所述多个导线中的所述另一部分导线直接连接。

7.一种液晶显示面板，其特征在于，该液晶显示面板包括：

一主动阵列基板，包括：

一衬底；

一像素阵列，设置于所述衬底上，所述像素阵列包括多个导线；

一内测试电路，与所述多个导线中的一部分导线电连接；以及

一外测试分支线，与所述多个导线中的所述部分导线直接连接；

一对向基板；以及

一液晶层，设置于所述主动阵列基板以及所述对向基板之间。

8.一种制造液晶显示面板的方法，其特征在于，该方法包括：

提供一阵列母板，所述阵列母板包括：

一衬底；

一像素阵列，设置于所述衬底上，所述像素阵列包括多个导线；以及

一第一测试模组，设置于所述衬底上，与所述像素阵列电连接，所述第一测试模组包括：

一内测试电路，与所述多个导线中的一部分电连接；以及

一外测试电路，与所述多个导线中的所述部分直接连接；

通过所述外测试电路传送至少一外测试信号给所述像素阵列以执行一第一测试程序；

切割所述阵列母板以将所述外测试电路的至少一部分脱离所述像素阵列以形成一主动阵列基板；

形成一液晶层于所述主动阵列基板以及一对向基板之间；以及

通过所述内测试电路传送至少一内测试信号给所述像素阵列以执行一第二测试程序。

9.如权利要求8所述的方法，其特征在于，所述阵列母板具有一切割线位于所述内测试电路以及所述外测试电路之间，其中所述切割所述阵列母板以将所述外测试电路的至少一部分脱离所述像素阵列的步骤包括沿所述切割线切割所述阵列母板。

10.如权利要求8所述的方法，其特征在于，所述内测试电路包括：

一内测试栅极线；

一内测试栅极信号模组，与所述内测试栅极线连接；

多个测试开关，与所述内测试栅极线电连接，所述这些测试开关分别与所述多个导线中的一部分对应连接；

多个内测试信号线，分别与所述这些测试开关对应连接；以及

一内测试信号模组，与所述这些内测试信号线电连接；

所述方法还包括通过所述内测试栅极信号模组传送至少一关闭信号给所述这些测试开关。

11.如权利要求10所述的方法，其特征在于，所述内测试栅极信号模组包括一栅极信号垫以及一关闭信号垫，所述至少一关闭信号通过所述关闭信号垫传送给所述这些测试开关，所述关闭信号的电压为-5伏至-10伏。

12.如权利要求10所述的方法，其特征在于，所述内测试栅极信号模组包括一栅极信号垫，所述方法还包括通过所述栅极信号垫传送一开启信号给所述这些测试开关，所述开启信号的电压为20伏至30伏。

13.如权利要求10所述的方法，其特征在于，所述这些导线包括多个扫描线以及多个数据线，所述内测试电路与所述这些扫描线电连接，所述这些内测试信号线包括一内测试奇信号线以及一内测试偶信号线，所述内测试信号模组包括：

一内测试奇信号垫，与所述内测试奇信号线连接；以及

一偶测试奇信号垫，与所述内测试偶信号线连接；

其中所述至少一内测试信号包括至少一内测试奇信号以及至少一内测试偶信号，所述至少一内测试奇信号通过所述内测试奇信号线传送至所述像素阵列，所述至少一内测试偶信号通过所述内测试偶信号线传送至所述像素阵列。

14.如权利要求10所述的方法，其特征在于，所述这些导线包括多个扫描线以及多个数据线，所述内测试电路与所述这些数据线电连接，其中所述这些内测试信号线包括一内测试红色信号线、一内测试绿色信号线以及一内测试蓝色信号线，所述内测试信号模组包括：

一内测试红色信号垫，与所述内测试红色信号线连接；

一内测试绿色信号垫，与所述内测试绿色信号线连接；以及

一内测试蓝色信号垫，与所述内测试蓝色信号线连接；

其中所述至少一内测试信号包括至少一内测试红色信号、至少一内测试绿色信号以及至少一内测试蓝色信号，所述至少一内测试红色信号通过所述内测试红色信号线传送至所述像素阵列，所述至少一内测试绿色信号通过所述内测试绿色信号线传送至所述像素阵列，所述至少一内测试蓝色信号通过所述内测试蓝色信号线传送至所述像素阵列。

15.如权利要求8所述的方法，其特征在于，所述外测试电路包括：

至少一外测试信号线，与所述多个导线中的所述部分直接连接；以及

一外测试信号模组，与所述至少一外测试信号线电连接；

其中所述这些导线包括多个扫描线以及多个数据线，所述外测试电路与所述这些扫描线电连接，所述至少一外测试信号线包括一外测试奇信号线以及一外测试偶信号线，所述外测试信号模组包括：

一外测试奇信号垫，与所述外测试奇信号线连接；以及

一外测试偶信号垫，与所述外测试偶信号线连接，

其中所述至少一外测试信号包括至少一外测试奇信号以及至少一外测试偶信号，所述至少一外测试奇信号通过所述外测试奇信号线传送至所述像素阵列，所述至少一外测试偶信号通过所述外测试偶信号线传送至所述像素阵列。

16.如权利要求8所述的方法，其中所述外测试电路包括：

至少一外测试信号线，与所述这些测试开关连接；以及

一外测试信号模组，与所述至少一外测试信号线电连接；

其中所述这些导线包括多个扫描线以及多个数据线，所述外测试电路与所述这些数据线电连接，其中所述这些外测试信号线包括一外测试红色信号线、一外测试绿色信号线以及一外测试蓝色信号线，所述外测试信号模组包括：

一外测试红色信号垫，与所述外测试红色信号线连接；

一外测试绿色信号垫，与所述外测试绿色信号线连接；以及

一外测试蓝色信号垫，与所述外测试蓝色信号线连接；

其中所述至少一外测试信号包括至少一外测试红色信号、至少一外测试绿色信号以及至少一外测试蓝色信号，所述至少一外测试红色信号通过所述外测试红色信号线传送至所述像素阵列，所述至少一外测试绿色信号通过所述外测试绿色信号线传送至所述像素阵列，所述至少一外测试蓝色信号通过所述外测试蓝色信号线传送至所述像素阵列。

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