CN102540508B - 液晶显示装置的线路检测结构及检测方法 - Google Patents

Abstract

一种液晶显示装置的线路检测结构及检测方法，其中线路检测结构包括：第一检测结构，包括第一短路棒、第一测试端子和第二短路棒、第二测试端子；第二检测结构，包括第一控制线、第一控制开关、第一控制端子、第二控制线、第二控制开关、第二控制端子、第三短路棒和第三测试端子。本发明通过增加第二检测结构，在判定存在扫描线线缺陷的基础上确定所述线缺陷的类型，以解决现有检测结构无法判定线缺陷类型而直接将产品报废导致成本上升的问题。本发明还提供一种液晶显示装置的扫描线线缺陷的修复结构及修复方法，可以方便修复扫描线连接线断路或过孔结构损坏引起的线缺陷。

Description

液晶显示装置的线路检测结构及检测方法

技术领域

本发明涉及液晶显示技术领域，特别是一种液晶显示装置及其测试方法。

背景技术

液晶显示装置(LCD)是目前广泛应用的一种平面显示器，具有外型轻薄、低功耗及无辐射的特点。随着液晶显示技术的进步，液晶显示装置的分辨率越来越高，液晶显示装置的周边线路区设置的线路也越来越多，使得窄边框高分辨率的液晶显示装置应运而生，常见的如申请号200910106718.8的专利所述。但目前对于窄边框高分辨率液晶显示装置的半成品或成品进行线路检测时，只能检测出扫描线连接线和数据线出现线缺陷，无法分析产生缺陷的具体原因。

参考图1，现有技术中常见的一种窄边框高分辨率液晶显示装置的线路检测结构。如图1所示，所述线路检测结构应用于液晶显示装置的阵列基板上，在所述阵列基板上至少包括：沿显示像素的行方向延伸的扫描线，图1中分别以K1、K2、K3作标示；沿显示像素的列方向延伸的扫描线连接线D1、D2、D3、D4、D5、D6，以及数据线E1、E2、E3、E4、E5、E6。

所述线路检测结构包括：短路棒，图1中分别以101、102、103、104作标示的短路棒；提供短路棒与数据线和扫描线连接线连接、扫描线连接线与扫描线连接的过孔，具体而言，扫描线连接线D1～D6分别通过过孔A1、A2、A3、A7、A8、A9与短路棒104连接；数据线E1、E4分别通过过孔A4、A10与短路棒101连接；数据线E2、E5分别通过过孔A5、A11与短路棒102连接；数据线E3、E6分别通过过孔A6、A12与短路棒103连接；扫描线K1、K2、K3分别通过过孔B1、B2、B3与扫描线连接线D1、D2、D3连接；测试端子1011、1021、1031、1041分别与短路棒101、102、103、104连接。

应用上述线路检测结构时，通过在测试端子1011、1021、1031、1041上施加特定电压信号，让液晶显示装置显示例如红色、绿色、蓝色、灰色或黑色等画面，以检测各扫描线连接线和数据线是否能正常工作。

利用上述现有线路检测结构检测液晶显示装置时，仅能检测是否存在数据线线缺陷及扫描线线缺陷，而对于扫描线线缺陷到底是由图1中所示的过孔A1、B1还是断点109引起的，不能做出判定，无法针对具体的缺陷原因进行处理，导致需要花费大量时间去解析产品，并将产品报废，造成了浪费。

发明内容

本发明提供一种液晶显示装置的线路检测结构及检测方法，目的是解决现有线路检测结构无法判定扫描线线缺陷的具体原因和位置，而花费大量时间解析产品及将存在扫描线线缺陷的产品直接报废导致成本上升的问题。

为解决上述问题，本发明采用如下技术方案：一种液晶显示装置的线路检测结构，所述液晶显示装置包括阵列基板，在所述阵列基板包括显示区域和外围区域，在所述显示区域上设有扫描线、数据线和扫描线连接线，所述外围区域设置有线路检测结构，所述线路检测结构包括：

第一检测结构，用于检测所述阵列基板是否存在扫描线的线缺陷，包括第一短路棒、第一测试端子和第二短路棒、第二测试端子；所述第一短路棒与所述数据线通过过孔结构连接；所述第一测试端子与所述第一短路棒连接，提供测试信号至数据线；所述第二短路棒与所述扫描线连接线通过过孔结构连接；所述第二测试端子与所述第一短路棒连接，提供测试信号至扫描线连接线；

第二检测结构，用于确定所述扫描线的线缺陷的缺陷类型，包括第一控制线、第一控制开关、第一控制端子、第二控制线、第二控制开关、第二控制端子、第三短路棒和第三测试端子；所述第一控制线与所述第一控制开关和所述第一控制端子相连接，所述第一控制端子通过所述第一控制线提供控制信号至所述第一控制开关；所述第一控制开关与所述数据线和所述扫描线连接线相连接，控制所述数据线和所述扫描线连接线的通断；所述第二控制线与所述第二控制开关和所述第二控制端子相连接，所述第二控制端子通过所述第二控制线提供控制信号至所述第二控制开关；所述第二控制开关与所述扫描线连接线和所述第三短路棒连接，控制所述扫描线连接线和所述第三短路棒的通断；所述第三测试端子与所述第三短路棒连接，提供测试信号至所述扫描线连接线。

优选的，所述第一控制线和第二控制线分别设置于所述扫描线连接线两端。

优选的，所述第一控制开关和第二控制开关为薄膜晶体管。

优选的，所述第一控制线、第二控制线、第三短路棒与第一短路棒和第二短路棒位于同一金属层。

优选的，所述第一短路棒的数量为一个或多个。

优选的，所述过孔结构包括过孔和位于过孔内的导电介质。

优选的，所述导电介质包括铟锡金属氧化物或铟锌金属氧化物。

优选的，所述扫描线存在的线缺陷的类型包括过孔结构损坏导致的线缺陷和线路断路导致的线缺陷。

一种应用于上述线路检测结构的线路检测方法，所述线路检测方法包括：在第二检测结构的第一控制端子和第二控制端子上施加用于断开的控制信号，使得第二检测结构中与第一控制线相连的第一控制开关和与第二控制线相连的第二控制开关处于断开状态；在第一检测结构的第一测试端子上施加测试信号，用于判定与第一检测结构对应的扫描线是否存在线缺陷；在第二检测结构的第一控制端子和第二控制端子上施加用于导通的控制信号，使得第二检测结构中与第一控制线相连的第一控制开关和与第二控制线相连的第二控制开关处于导通状态；在第二检测结构的第二测试端子上施加测试信号，用于判定与第二检测结构对应的扫描线存在的线缺陷的类型。

优选的，所述用于断开的控制信号为低电压信号，所述用于导通的控制信号为高电压信号。

优选的，所述扫描线存在的线缺陷的类型包括过孔结构损坏导致的线缺陷和线路划伤导致的线缺陷。

优选的，还包括扫描线线缺陷的修复结构，包括：第一修复线，位于外围区域，并与显示区域的扫描线平行，所述第一修复线与扫描线位于同一金属层；第二修复线，位于外围区域，并与显示区域的数据线平行，所述第二修复线与数据线位于同一金属层。

优选的，所述第一修复线的材料与同一金属层的金属材料相同。

优选的，所述第二修复线的材料与同一金属层的金属材料相同。

优选的，所述第二修复线为2根，位于显示区域两侧的外围区域，并与第一修复线构成倒U型。

一种如上所述的修复结构的修复方法：将所述第一修复线与含有线缺陷的扫描线连接线电连接；将所述第二修复线与第一修复线和含有线缺陷的扫描线连接。

优选的，所述第一修复线与含有线缺陷的扫描线连接线、第二修复线与第一修复线、第二修复线与含有线缺陷的扫描线的连接方法采用激光焊接法。

与现有技术相比，本发明具有以下优点：

本发明的检测结构及检测方法能够判定引起扫描线线缺陷的具体原因，解决了现有线路检测结构不能判定引起扫描线线缺陷的原因而花费大量时间解析产品及将存在扫描线线缺陷的产品报废导致成本上升的问题。

附图说明

图1为现有液晶显示装置的线路检测结构示意图；

图2为本发明液晶显示装置的线路检测结构的具体实施例示意图；

图3为应用于图2的线路检测结构的线路检测方法的具体实施例流程图；

图4为应用于图2的线路检测结构的线路检测方法的一个检测实例；

图5为本发明修复结构的一具体实施例示意图；

图6为本发明修复结构的另一具体实施例示意图。

具体实施方式

发明人发现现有窄边框高分辨率液晶显示装置的线路测试结构，只能检测出扫描线连接线线缺陷，而无法判定该缺陷是由过孔结构引起的还是由扫描连接线断路引起的。因而，后续需要花大量时间解析该缺陷原因而产品也只能进行报废处理，浪费材料，造成生产成本上升。

发明人经过研究分析，在现有的线路测试结构上，增加第二检测结构，用于确定所述扫描线连接线的线缺陷的缺陷类型，包括第一控制线、第一控制开关、第一控制端子、第二控制线、第二控制开关、第二控制端子、第三短路棒和第三测试端子；所述第一控制线与所述第一控制开关和所述第一控制端子相连接，所述第一控制端子通过所述第一控制线提供控制信号至所述第一控制开关；所述第一控制开关与所述数据线和所述扫描线连接线相连接，控制所述数据线和所述扫描线连接线的通断；所述第二控制线与所述第二控制开关和所述第二控制端子相连接，所述第二控制端子通过所述第二控制线提供控制信号至所述第二控制开关；所述第二控制开关与所述扫描线连接线和所述第三短路棒连接，控制所述扫描线连接线和所述第三短路棒的通断；所述第三测试端子与所述第三短路棒连接，提供测试信号至所述扫描线连接线。

下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。

图2为本发明液晶显示装置的线路检测结构的具体实施例示意图。如图2所示，所述线路检测结构设置于液晶显示装置的阵列基板上，在所述阵列基板上包括显示区域和外围区域，在所述显示区域包含有：多条数据线E1、E2、E3、......、E3n-2、E3n-1、E3n(n为自然数)，多条扫描线K1、K2、K3、......、K3n-2、K3n-1、K3n，与数据线E1、E2、E3、......、E3n-2、E3n-1、E3n平行排列、且与扫描线K1、K2、K3、......、K3n-2、K3n-1、K3n对应连接的多条扫描连接线D1、D2、D3、......、D3n-2、D3n-1、D3n。

第一检测结构，包括：与数据线E1、E2、E3、......、E3n-2、E3n-1、E3n相对应的第一短路棒101、102、103；分别与第一短路棒101、102、103连接的第一测试端子1011、1021、1031；与第一短路棒平行的第二短路棒104；与第二短路棒104相连接的第二测试端子1041；

第二检测结构，包括：第一控制线110，分别与数据线E1、E2、E3、......、E3n-2、E3n-1、E3n和扫描线连接线D1、D2、D3、......、D3n-2、D3n-1、D3n相连的第一控制开关M1、M2、M3、......、M3n-2、M3n-1、M3n(n为自然数)；第二控制线111，分别与扫描线连接线D1、D2、D3、......、D3n-2、D3n-1、D3n相连的第二控制开关N1、N2、N3、......、N3n-2、N3n-1、N3n；与第二控制开关N1、N2、N3、......、N3n-2、N3n-1、N3n相连的第三短路棒112；与第一控制线110相连的第一控制端子1101；与第二控制线111相连的第二控制端子1111；与第三短路棒112相连的第三测试端子1121。

其中，数据线E1、E2、E3、......、E3n-2、E3n-1、E3n与所述第一检测结构中的第一短路棒101、102、103位于不同布线层，两者通过过孔结构A4、A5、A6、......、A6n-2、A6n-1、A6n(n为自然数)实现电性连接，具体为，数据线E1、......、E3n-2通过过孔结构A4、......、A6n-2与第一短路棒101连接，数据线E2、......、E3n-1通过过孔结构A5、......、A6n-1与第一短路棒102连接，数据线E3、......、E3n通过过孔结构A6、......、A6n与第一短路棒103连接；扫描线连接线D1、D2、D3、......、D3n-2、D3n-1、D3n与第一检测结构中的第二短路棒104位于不同布线层，两者通过过孔结构A1、A2、A3、......、A6n-5、A6n-4、A6n-3对应连接；扫描线连接线D1、D2、D3、......、D3n-2、D3n-1、D3n与扫描线K1、K2、K3、......、K3n-2、K3n-1、K3n位于不同布线层，两者通过过孔结构B1、B2、B3、......、B3n-2、B3n-1、B3n对应相连；数据线E1、E2、E3、......、E3n-2、E3n-1、E3n、扫描线连接线D1、D2、D3、......、D3n-2、D3n-1、D3n和第一短路棒101、102、103、第二短路棒104采用的材料可以为铜、铝或钼中的一种或其合金。过孔结构A1、A2、A3、A4、A5、A6、......、A6n-5、A6n-4、A6n-3、A6n-2、A6n-1、A6n；B1、B2、B3、......、B3n-2、B3n-1、B3n包括过孔和过孔内的导电介质，所述导电介质可以铟锡金属氧化物或铟锌金属氧化物，所述过孔结构用于不同导电线路的电性连接。第二检测结构中的第一控制线110、第二控制线111和第三短路棒112位于同一布线层，它们的材料可以为铜、铝或钼中的一种或其合金。第一控制开关M1、M2、M3、......、M3n-2、M3n-1、M3n为薄膜晶体管，在导通的状态下，使得扫描线连接D1、D2、D3、......、D3n-2、D3n-1、D3n分别与数据线E1、E2、E3、......、E3n-2、E3n-1、E3n电性连接；第二控制开关N1、N2、N3、......、N3n-2、N3n-1、N3n为薄膜晶体管，在导通状态下，使得第三短路棒112与扫描线连接线D1、D2、D3、......、D3n-2、D3n-1、D3n电性连接。

在图2中，通过包括第一短路棒101、102、103和第二短路棒104，以及第一测试端子1011、1021、1031和第二测试端子1041所构成的第一检测结构，能够检测出所述液晶显示装置中各数据线和各扫描线连接线是否存在线缺陷。通过由第一控制线110、与第一控制线110相连的第一控制开关M1、M2、M3、......、M3n-2、M3n-1、M3n、第一控制端子1101和第二控制线111、与第二控制线111相连的第二控制开关N1、N2、N3、......、N3n-2、N3n-1、N3n、第二控制端子1111，以及与第二控制开关N1、N2、N3、......、N3n-2、N3n-1、N3n相连的第三短路棒112、与第三短路棒112相连的第三控制端子1121所构成的第二检测结构，能够进一步判定扫描线连接线的线缺陷的缺陷类型，并判定出具体的缺陷位置，以供后续针对相关缺陷采取进一步的处理措施。

图3为应用于图2的线路检测结构的线路检测方法的具体实施例流程图。如图3所示，所述线路测试方法包括：

步骤S100，在第二检测结构中的第一控制端子1101和第二控制端子1111施加用于断开的控制信号，使得与第一控制线110相连的第一控制开关M1、M2、M3、......、M3n-2、M3n-1、M3n、与第二控制线111相连的第二控制开关N1、N2、N3、......、N3n-2、N3n-1、N3n处于断开状态；

步骤S101，在第一检测结构中的第一测试端子1011、1021、1031和第二测试端子1041上施加测试信号，观察所述各线路的显示效果；

步骤S102，根据显示效果，判定与第一检测结构对应的数据线和扫描线是否存在线缺陷；

若没有线缺陷，则结束所述线路检测，将产品进入下一工艺；

若判定存在线缺陷，则执行步骤S103，根据显示效果，判定是否存在扫描线线缺陷；一般扫描线所在行呈现出显示异常，则可判定对应的扫描线出现线缺。

如果不存在扫描线线缺陷，则结束所述线路检测，将产品进入数据线线缺陷检测及处理工艺；

如果存在扫描线线缺陷，则执行步骤S104，具体的：

步骤S104，在第二检测结构中第一控制端子1101和第二控制端子1111上施加用于导通的控制信号，使得第二检测结构中分别与第一控制端子1101和第二控制端子1111相连的第一控制开关M1、M2、M3、......、M3n-2、M3n-1、M3n、第二控制开关处于导通状态N1、N2、N3、......、N3n-2、N3n-1、N3n，第三短路棒112与扫描线连接线电性连接，数据线与对应的扫描线连接线电性连接；

步骤S105，在第二测试结构中的第三测试端子1121上施加测试信号，观察所述各线路的显示效果；

步骤S106，根据显示效果，判定是否存在扫描线线缺陷；

步骤S107，若显示画面中仍然有扫描线线缺陷，则可以判定所述扫描线线缺陷的类型为连接扫描线和扫描线连接线的过孔结构导致的线缺陷；

步骤S108，若显示画面中没有扫描线线缺陷，则判定是否存在对应的数据线线缺陷；

步骤S109，若显示画面中存在对应的数据线线缺陷，则判定所述扫描线线缺陷的类型为连接第二短路棒104与扫描线连接线的过孔结构导致的线缺陷；

步骤S110，若显示画面中没有对应的数据线线缺陷，则判定所述扫描线线缺陷的类型为扫描线连接线断路导致的线缺陷。

以下针对扫描线产生的线缺陷的各种类型进行详细描述。

在实际应用中，位于液晶显示装置外围区域的导电线路容易被划伤，形成断路，在本实施例中，现以常白模式的液晶显示装置的扫描线连接线D1产生断路缺陷(如图4所示，扫描线连接线D1产生的断路缺陷的断线位置113)为例进行说明。具体而言，线路检测方法包括：第一步，在第一控制端子1101和第二控制端子1111上施加低电压，使得分别与第一控制线110和第二控制线111连接的第一控制开关M1、M2、M3、......、M3n-2、M3n-1、M3n和第二控制开关N1、N2、N3、......、N3n-2、N3n-1、N3n处于断开状态；并且，在第一测试端子1011、1021、1031上施加特定电压，在第二测试端子1041上施加高电压，使得与第一短路棒101、102、103连接的数据线E1、E2、E3、......、E3n-2、E3n-1、E3n和与第二短路棒104连接的扫描线连接线D1、D2、D3、......、D3n-2、D3n-1、D3n根据所述特定电压显示黑色画面。然后，根据所述液晶显示装置显示的画面效果，可以判定出扫描线连接线D1存在线缺陷。第二步，在第一控制端子1101和第二控制端子1111上施加高电压，使得分别与第一控制线110和第二控制线111连接的第一控制开关M1、M2、M3、......、M3n-2、M3n-1、M3n和第二控制开关N1、N2、N3、......、N3n-2、N3n-1、N3n处于导通状态，第三短路棒112与扫描线连接线D1、D2、D3、......、D3n-2、D3n-1、D3n电性连接；并且，在第二测试端子1041和第三测试端子1121上施加高电压，在第一测试端子1011、1021、1031上施加特定电压，使得与第一短路棒101、102、103连接的数据线E1、E2、E3、......、E3n-2、E3n-1、E3n和与第二短路棒104连接的扫描线连接线D1、D2、D3、......、D3n-2、D3n-1、D3n根据所述特定电压显示灰色画面。最后，观察所述液晶显示装置显示的画面效果，对应的扫描线连接线D1的线缺陷消失，且通过第一控制开关M1与扫描线连接线D1连接的数据线E1对应的像素没有出现黑色数据线线缺陷，则可以判定扫描线连接线D1存在的线缺陷类型为扫描线连接线D1断路导致的线缺陷。

作为第二实例，现以连接扫描线连接线D1与第二短路棒104的过孔结构A1损坏为例进行说明。参考图4，具体而言，线路检测方法包括：首先，在第一控制端子1101和第二控制端子1111上施加低电压，使得分别与第一控制线110和第二控制线111连接的第一控制开关M1、M2、M3、......、M3n-2、M3n-1、M3n和第二控制开关N1、N2、N3、......、N3n-2、N3n-1、N3n处于断开状态；并且，在第一测试端子1011、1021、1031上施加特定电压，在第二测试端子1041上施加高电压，使得与第一短路棒101、102、103连接的数据线E1、E2、E3、......、E3n-2、E3n-1、E3n和与第二短路棒104连接的扫描线连接线D1、D2、D3、......、D3n-2、D3n-1、D3n根据所述特定电压显示黑色画面。然后，根据所述液晶显示装置显示的画面效果，可以判定出扫描线连接线D1存在线缺陷。第二步，在第一控制端子1101和第二控制端子1111上施加高电压，使得分别与第一控制线110和第二控制线111连接的第一控制开关M1、M2、M3、......、M3n-2、M3n-1、M3n和第二控制开关N1、N2、N3、......、N3n-2、N3n-1、N3n处于导通状态，第三短路棒112与扫描线连接线D1、D2、D3、......、D3n-2、D3n-1、D3n电性连接；并且，在第二测试端子1041和第三测试端子1121上施加高电压，在第一测试端子1011、1021、1031上施加特定电压，使得与第一短路棒101、102、103连接的数据线E1、E2、E3、......、E3n-2、E3n-1、E3n和与第二短路棒104连接的扫描线连接线D1、D2、D3、......、D3n-2、D3n-1、D3n根据所述特定电压显示灰色画面。最后，观察所述液晶显示装置的显示效果，对应的扫描线连接线D1的线缺陷消失，且通过第一控制开关M1与扫描线连接线D1连接的数据线E1对应的像素出现黑色数据线线缺陷，则可以判定扫描线连接线D1存在的线缺陷类型为连接扫描线连接线D1和第二短路棒104的过孔结构A1导致的线缺陷。

作为第三实例，现以连接扫描线连接线D1和扫描线K1的过孔结构B1损坏为例进行说明。仍参考图4，具体而言，线路检测方法包括：首先，在第一控制端子1101和第二控制端子1111上施加低电压，使得分别与第一控制线110和第二控制线111连接的第一控制开关M1、M2、M3、......、M3n-2、M3n-1、M3n和第二控制开关N1、N2、N3、......、N3n-2、N3n-1、N3n处于断开状态；并且，在第一测试端子1011、1021、1031上施加特定电压，在第二测试端子1041上施加高电压，使得与第一短路棒101、102、103连接的数据线E1、E2、E3、......、E3n-2、E3n-1、E3n和与第二短路棒104连接的扫描线连接线D1、D2、D3、......、D3n-2、D3n-1、D3n根据所述特定电压显示黑色画面。然后，根据所述液晶显示装置显示的画面效果，可以判定出扫描线连接线D1存在线缺陷。第二步，在第一控制端子1101和第二控制端子1111上施加高电压，使得分别与第一控制线110和第二控制线111连接的第一控制开关M1、M2、M3、......、M3n-2、M3n-1、M3n和第二控制开关N1、N2、N3、......、N3n-2、N3n-1、N3n处于导通状态，第三短路棒112与扫描线连接线D1、D2、D3、......、D3n-2、D3n-1、D3n电性连接；并且，在第二测试端子1041和第三测试端子1121上施加高电压，在第一测试端子1011、1021、1031上施加特定电压，使得与第一短路棒101、102、103连接的数据线E1、E2、E3、......、E3n-2、E3n-1、E3n和与第二短路棒104连接的扫描线连接线D1、D2、D3、......、D3n-2、D3n-1、D3n根据所述特定电压显示灰色画面。最后，观察所述液晶显示装置的显示效果，对应的扫描线连接线D1的线缺陷仍然存在，则可以判定扫描线连接线D1存在的线缺陷类型为连接扫描线连接线D1和扫描线的过孔结构B1导致的线缺陷。

利用本发明的液晶显示装置的线路检测结构，根据所述检测方法，可以判定扫描线的线缺陷类型，省却大量的缺陷解析时间，并可以根据具体的线缺陷类型对产品进行下一步处理，最大限度避免产品的报废，降低生产成本。

针对本发明的检测方法判定的扫描线线缺陷类型，现提供一种液晶显示装置的扫描线线缺陷的修复结构，具体包括：显示区域、外围区域，所述显示区域包含有扫描线、数据线和扫描线连接线，还包括：第一修复线，位于外围区域，并与显示区域的扫描线平行；所述第一修复线与扫描线位于同一金属层，并与含有线缺陷的扫描线连接线连接；第二修复线，位于外围区域，并与显示区域的数据线平行；所述第二修复线与数据线位于同一金属层，并与第一修复线和含有线缺陷的扫描线连接。

为了进一步说明本发明的线缺陷修复结构，现以扫描线连接线D1的断路位置113(见图4)引起的线缺陷为例，具体阐述本发明的修复结构。

图5为本发明的修复结构具体实施例示意图。如图5所示，在靠近第一控制线110一侧的外围区域设置与所述扫描线连接线D1交叠的第一修复线Y1，交叠点为201；所述第一修复线Y1与所述扫描线K1位于同一金属层；所述第一修复线Y1与修复线T1相互交叠，交叠点为202；在靠近扫描线连接线D1一侧的外围区域设置与扫描线K1交叠的第二修复线T1，交叠点为203；所述第二修复线T1与扫描线连接线D1位于同一金属层，所述第二修复线T1的材料可以与扫描线连接线D1的材料相同；将所述交叠点201、202、203用激光焊接方式连通，使得第一修复线Y1分别通过交叠点201、202与扫描线连接线D1和第二修复线T1电性连接，第二修复线T1通过交叠点203与扫描线K1电性连接。由图5中箭头方向可知，修复后，电流方向在遇到扫描线连接线D1的断线位置113时，可以通过交叠点201、202、203的连接沿第一修复线Y1、第二修复线T1与扫描线K1导通。

作为另一实例，第二修复线T1可以设置在扫描线连接线D1的另一侧外围区域。

更进一步而言，第一修复线与第二修复线可以设置构成U型结构，如图6所示，第二修复线T1、X1和第一修复线Y1通过交叠点301、302构成U型结构，利用该U型结构可以选择在第二修复线T1一侧修复扫描线连接线D1、D2、D3、......、D3n-2、D3n-1、D3n中的任一处断路缺陷，也可以选择在第二修复线X1一侧进行短路缺陷修复；同时，U型结构可以同时修复扫描线连接线D1、D2、D3、......、D3n-2、D3n-1、D3n中的任意两处的断路缺陷。

需要说明的是，如果扫描线连接线D1、D2、D3、......、D3n-2、D3n-1、D3n中有多处出现断路缺陷，则只需增加相应修复线即可。例如，扫描线连接线D1、D2、D3、......、D3n-2、D3n-1、D3n同时在D1和D3n-2上出现断路缺陷，则修复线增加为T1、T3n-2，并将Y1与T1、T3n-2电性连接，将T1、T3n-2分别与扫描线连接线D1、D3n-2对应的扫描线K1、K3n-2电性连接，则扫描线连接线D1与D3n-2的断路缺陷被修复。

利用上述修复结构可以很方便修复液晶显示装置的扫描线线缺陷，修复方法为：将第一修复线与含有线缺陷的扫描线连接线电连接；将第二修复线与第一修复线和含有线缺陷的扫描线连接；所述连接方法采用激光焊接即可。

上述修复结构及修复方法仅以修复扫描线连接线的断路缺陷为例进行说明，但该结构同样适用于连接扫描线连接线与对应扫描线的过孔结构损坏导致的线缺陷进行修复。当然，对于连接扫描线连接线与对应扫描线的过孔结构损坏导致的线缺陷可以直接从过孔结构背面进行激光焊接修复。

虽然本发明已以较佳实施例披露如上，但本发明并非限定于此。任何本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动和修改，因此本发明的保护范围应当以权力要求所限定的范围为准。

Claims (17)

1.一种液晶显示装置的线路检测结构，所述液晶显示装置包括阵列基板，所述阵列基板包括显示区域和外围区域，在所述显示区域上设有扫描线、数据线和扫描线连接线，所述外围区域设置有线路检测结构，所述线路检测结构包括：

第一检测结构，用于检测所述阵列基板是否存在扫描线的线缺陷，包括第一短路棒、第一测试端子和第二短路棒、第二测试端子；所述第一短路棒与所述数据线通过过孔结构连接；所述第一测试端子与所述第一短路棒连接，提供测试信号至数据线；所述第二短路棒与所述扫描线连接线通过过孔结构连接；所述第二测试端子与所述第一短路棒连接，提供测试信号至扫描线连接线；

第二检测结构，用于确定所述扫描线的线缺陷的缺陷类型，包括第一控制线、第一控制开关、第一控制端子、第二控制线、第二控制开关、第二控制端子、第三短路棒和第三测试端子；所述第一控制线与所述第一控制开关和所述第一控制端子相连接，所述第一控制端子通过所述第一控制线提供控制信号至所述第一控制开关；所述第一控制开关与所述数据线和所述扫描线连接线相连接，控制所述数据线和所述扫描线连接线的通断；所述第二控制线与所述第二控制开关和所述第二控制端子相连接，所述第二控制端子通过所述第二控制线提供控制信号至所述第二控制开关；所述第二控制开关与所述扫描线连接线和所述第三短路棒连接，控制所述扫描线连接线和所述第三短路棒的通断；所述第三测试端子与所述第三短路棒连接，提供测试信号至所述扫描线连接线。

2.根据权利要求1所述的线路检测结构，其特征在于，所述第一控制线和第二控制线分别设置于所述扫描线连接线两端。

3.根据权利要求1所述的线路检测结构，其特征在于，所述第一控制开关和第二控制开关为薄膜晶体管。

4.根据权利要求1所述的线路检测结构，其特征在于，所述第一控制线、第二控制线、第三短路棒与第一短路棒和第二短路棒位于同一金属层。

5.根据权利要求1所述的线路检测结构，其特征在于，所述第一短路棒的数量为一个或多个。

6.根据权利要求1所述的线路检测结构，其特征在于，所述过孔结构包括过孔和位于过孔内的导电介质。

7.根据权利要求6所述的线路检测结构，其特征在于，所述导电介质包括铟锡金属氧化物或铟锌金属氧化物。

8.根据权利要求1所述的线路检测结构，其特征在于，所述扫描线存在的线缺陷的类型包括过孔结构损坏导致的线缺陷和线路断路导致的线缺陷。

9.一种应用于权利要求1至8中任一项线路检测结构的线路检测方法，其特征在于，所述线路检测方法包括：

在第二检测结构的第一控制端子和第二控制端子上施加用于断开的控制信号，使得第二检测结构中与第一控制线相连的第一控制开关和与第二控制线相连的第二控制开关处于断开状态；

在第一检测结构的第一测试端子和第二测试端子上施加测试信号，用于判定与第一检测结构对应的扫描线是否存在线缺陷；

在第二检测结构的第一控制端子和第二控制端子上施加用于导通的控制信号，使得第二检测结构中与第一控制线相连的第一控制开关和与第二控制线相连的第二控制开关处于导通状态；

在第二检测结构的第三测试端子上施加测试信号，用于判定与第二检测结构对应的扫描线存在的线缺陷的类型。

10.根据权利要求9所述的线路检测方法，其特征在于，所述用于断开的控制信号为低电压信号，所述用于导通的控制信号为高电压信号。

11.根据权利要求9所述的线路检测方法，其特征在于，所述扫描线存在的线缺陷的类型包括过孔结构损坏导致的线缺陷和线路划伤导致的线缺陷。

12.根据权利要求1所述的线路检测结构，其特征在于，还包括扫描线线缺陷的修复结构，包括：第一修复线，位于外围区域，并与显示区域的扫描线平行，所述第一修复线与扫描线位于同一金属层；第二修复线，位于外围区域，并与显示区域的数据线平行，所述第二修复线与数据线位于同一金属层。

13.根据权利要求12所述的修复结构，其特征在于，所述第一修复线的材料与同一金属层的金属材料相同。

14.根据权利要求12所述的修复结构，其特征在于，所述第二修复线的材料与同一金属层的金属材料相同。

15.根据权利要求12所述的修复结构，其特征在于，所述第二修复线为2根，位于显示区域两侧的外围区域，并与第一修复线构成倒U型。

16.根据权利要求12所述的修复结构的修复方法：

将所述第一修复线与含有线缺陷的扫描线连接线电连接；

将所述第二修复线与第一修复线和含有线缺陷的扫描线连接。

17.根据权利要求16所述的修复结构的修复方法，其特征在于：所述第一修复线与含有线缺陷的扫描线连接线、第二修复线与第一修复线、第二修复线与含有线缺陷的扫描线的连接方法采用激光焊接法。