CN105679215A - 显示屏及其裂纹检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种显示屏及其裂纹检测方法，在GIP信号线与基板的边缘之间设置检测信号线，检测信号线的一端与所述GIP信号线相连接，另一端与所述端子部相连接，通过端子部分别向所述GIP信号线与所述检测信号线提供信号，由此判断是否有裂纹破坏检测信号线，并且只需在cell？test治具上增加与所述检测信号线相连的探针以及信号线即可进行检测，将裂纹检测与cell？test工序同时进行，节省了检测的时间和成本。

Description

显示屏及其裂纹检测方法

技术领域

本发明涉及平板显示领域，具体涉及一种显示屏及其裂纹检测方法。

背景技术

随着消费品屏幕的薄化趋势要求，OLED(有机发光显示器)或者LCD(液晶显示器)的基板玻璃也趋于薄化，而薄化后的玻璃强度会随之减弱，切割后玻璃边缘更加容易出现裂纹。虽然现在有磨边工艺可以在一定程度上去除边缘的小裂纹，但是对于较深的裂纹依然无法去除。磨边之后的工艺流程也会增大没有去除的裂纹，同时因为玻璃厚度的减薄，磨边之后的工艺流程也容易增加新的裂纹。

这些裂纹如果已经破坏了显示屏(panel)周边的信号线，panel将显示不良。作为工作人员无法迅速判断是否是因裂纹导致的不良，因而增加了不良解析的难度。如果裂纹还没有破坏信号线，在组成模组之前的工艺甚至到客户端使用过程中，裂纹都有可能进一步增大，从而造成显示不良；同时目前消费品屏幕的边框要求越来越窄，窄边框需要磨边工艺的磨入深度越来越少，这样就无法及时除去裂纹。因此亟需一种测量裂纹的方法，一方面可以检测和分析不良或者防止“潜在”不良品流向客户，另一方面可以确定最佳的研磨深度，在保证良率的同时达到最窄的边框。

为了检测裂纹，目前已有的做法是在panel周边某位置设置金属走线1，并在panel某一边设置两个衬垫2与3，金属走线1的两端分别连接至衬垫2与衬垫3，如图1所示，测量衬垫2与衬垫3之间的电阻。若有裂纹经过金属走线1导致金属走线1断裂，测试衬垫2与衬垫3之间的电阻是无穷大，如此能够检测出裂纹。但是该方法需要单独进行裂纹检测，无法和成盒检查(celltest)工序同时进行，或者需要对celltest治具做较大的改动，从而增加了模组的制造时间和成本。

发明内容

本发明的目的在于提供一种显示屏及其裂纹检测方法，只需对celltest治具做微小调整，就可以与celltest工序同时进行检测，节省了裂纹检测的时间与成本。

为实现上述目的，本发明提供一种显示屏，包括基板及设置在所述基板上的GIP信号线和端子部，还包括用于检测所述显示屏裂纹的检测信号线，所述检测信号线设置在所述基板上，位于所述GIP信号线与所述基板的边缘之间，所述检测信号线的一端与所述GIP信号线相连接，另一端与所述端子部相连接。

可选的，所述GIP信号线连接设置在所述基板上的GIP单元与所述端子部，所述GIP单元设置在与所述端子部相邻的所述基板的两个侧边上。

可选的，在所述两个侧边上各设置有一根GIP信号线与一根检测信号线，所述GIP信号线与所述检测信号线分别在所述两个侧边远离所述端子部的地方相连接。

可选的，在所述两个侧边上各设置有一根GIP信号线与一根检测信号线，且所述GIP信号线与所述检测信号线延伸至与所述端子部相对的一边，在与所述端子部相对的一边相连接。

可选的，在所述两个侧边上各设置有两根GIP信号线与两根检测信号线，所述GIP信号线与所述检测信号线分别在所述两个侧边远离所述端子部的地方相连接。

可选的，在所述两个侧边上各设置有两根GIP信号线与两根检测信号线，所述GIP信号线与所述检测信号线延伸至与所述端子部相对的一边，在与所述端子部相对的一边相连接。

相应的，本发明还提供一种显示屏的裂纹检测方法，采用上述的显示屏，所述方法包括以下步骤：

S1、通过端子部向所述GIP信号线提供信号，同时向显示屏其余部分正常提供信号，但不向所述检测信号线提供信号，判断显示屏是否正常显示；

S2、若显示正常则判断显示屏为良品，然后通过端子部向所述检测信号线提供信号，同时向显示屏其余部分正常提供信号，但不向所述GIP信号线提供信号，判断显示屏是否正常显示；

S3、若显示不正常则判断显示屏有裂纹破坏所述检测信号线。

可选的，向所述显示屏两个侧边的检测信号线提供不同的信号。

与现有技术相比，本发明提供的显示屏及其裂纹检测方法的有益效果是：

1、本发明所提供的显示屏在GIP信号线与基板的边缘之间设置检测信号线，检测信号线的一端与所述GIP信号线相连接，另一端与所述端子部相连接，通过端子部分别向所述GIP信号线与所述检测信号线提供信号，由此判断是否有裂纹破坏检测信号线，并且只需在celltest治具上增加与所述检测信号线相连的探针以及信号线即可进行检测，将裂纹检测与celltest工序同时进行，节省了检测的时间和成本；

2、本发明在向检测信号线提供信号的同时，向显示屏其余部分正常提供信号，使得检测裂纹有无与显示屏的显示画面联系在一起，检测过程更加直观；并且向不同侧边的检测信号线提供不同的信号，使得不同侧边出现裂纹时显示画面会不同，从而可以同时对不同侧边进行裂纹的检测。

附图说明

图1为常规的用于检测裂纹的显示屏的结构示意图。

图2为本发明实施例一所提供的显示屏的结构示意图。

图3为本发明实施例二所提供的显示屏的结构示意图。

图4为本发明实施例三所提供的显示屏的结构示意图。

图5为本发明裂纹检测方法框图。

具体实施方式

为使本发明的内容更加清楚易懂，以下结合说明书附图，对本发明的内容做进一步说明。当然本发明并不局限于该具体实施例，本领域的技术人员所熟知的一般替换也涵盖在本发明的保护范围内。

其次，本发明利用示意图进行了详细的表述，在详述本发明实例时，为了便于说明，示意图不依照一般比例局部放大，不应对此作为本发明的限定。

本发明的核心思想是：在GIP信号线与基板的边缘之间设置检测信号线，检测信号线的一端与所述GIP信号线相连接，另一端与所述端子部相连接，通过端子部分别向所述GIP信号线与所述检测信号线提供信号，由此判断是否有裂纹破坏检测信号线，并且只需在celltest治具上增加与所述检测信号线相连的探针即可进行检测，将裂纹检测与celltest工序同时进行，节省了检测的时间和成本。

【实施例一】

请参考图2，其为本发明实施例一所提供的显示屏的结构示意图。如图2所示，所述显示屏包括基板及设置在基板上的GIP信号线11和端子部12，以及用于检测所述显示屏裂纹的检测信号线13，所述检测信号线13设置在所述基板上，位于所述GIP信号线11与所述基板边缘之间，所述检测信号线13的一端与所述GIP信号线11相连接，另一端与所述端子部12相连接；同时，所述GIP信号线13连接设置在所述显示屏上的GIP单元10与所述端子部12。

本实施例中，所述GIP单元10设置在与所述端子部12相邻的所述显示屏的两个侧边上，并且在所述两个侧边上各设置有一根GIP信号线11与一根检测信号线13，所述GIP信号线11与所述检测信号线13分别在所述两个侧边远离所述端子部12的地方相连接。

所述检测信号线13可以与显示屏中的TFT基板上的任意金属线一起制作，不会增加TFT的制作步骤，并且其材质可以与任意金属层相同。

如图2所示，所述GIP信号线11与所述检测信号线13在所述两个侧边的顶部相连接，所述检测信号线13更靠近panel的边缘，调整检测信号线13与panel边缘之间的距离可以判断两个侧边不同深度的裂纹。

【实施例二】

请参考图3，其为本发明实施例二所提供的显示屏的结构示意图。如图3所示，所述显示屏包括基板及设置在基板上的GIP信号线21和端子部22，以及用于检测所述显示屏裂纹的检测信号线23，所述检测信号线23设置在所述基板上，位于所述GIP信号线21与所述基板的边缘之间，所述检测信号线23的一端与所述GIP信号线21相连接，另一端与所述端子部22相连接；同时，所述GIP信号线23连接设置在所述显示屏上的GIP单元20与所述端子部22。

本实施例中，所述GIP单元20设置在与所述端子部22相邻的所述显示屏的两个侧边上，并且在所述两个侧边上各设置有两根GIP信号线211、212与两根检测信号线231、232，所述GIP信号线211与所述检测信号线231，以及所述GIP信号线212与所述检测信号线232均在所述两个侧边远离所述端子部22的地方相连接。

所述检测信号线23可以与显示屏中的TFT基板上的任意金属线一起制作，不会增加TFT的制作步骤，并且其材质可以与任意金属层相同。

如图3所示，所述GIP信号线21与所述检测信号线23在所述两个侧边的顶部相连接，所述检测信号线23更靠近panel的边缘，调整检测信号线231、232与panel边缘之间的距离可以判断两个侧边不同深度的裂纹。

在上述两个实施例中，所述GIP信号线与所述检测信号线分别为一条与两条，需要说明的是，所述检测信号线的数量与所述GIP信号线的数量一致，每一根检测信号线分别与一根GIP信号线相连接，由于GIP信号线是正常设计时控制GIP单元的信号线，其数量与TFT显示区域的设计有关，因此检测信号线决定于所述GIP信号线的数量，但是所述检测信号线的数量越多，对裂纹深度的判断更加精确。

【实施例三】

在实施例一的基础上，所述GIP信号线与所述检测信号线延伸至与所述端子部相对的一边，在与所述端子部相对的一边相连接。

请参考图4，其为本发明实施例三所提供的显示屏的结构示意图。如图4所示，所述显示屏包括基板及设置在基板上的GIP信号线31和端子部32，以及用于检测所述显示屏裂纹的检测信号线33，所述检测信号线33设置在所述基板上，位于所述GIP信号线31与所述基板的边缘之间，所述检测信号线33的一端与所述GIP信号线31相连接，另一端与所述端子部32相连接；同时，所述GIP信号线33连接设置在所述显示屏上的GIP单元30与所述端子部32。

本实施例中，所述GIP单元30设置在与所述端子部32相邻的所述显示屏的两个侧边上，并且在所述两个侧边上各设置有一根GIP信号线31与一根检测信号线33，所述GIP信号线31与所述检测信号线33延伸至与所述端子部32相对的一边，如图4中显示屏的顶部，在与所述端子部相对的一边相连接。在图4中，显示屏左侧边的GIP信号线与所述检测信号线延伸至显示屏的上侧，此种方式可以测量显示屏上侧的裂纹；在其他实施例中，右侧边的GIP信号线与所述检测信号线也可以延伸至所述显示屏的上侧。

当然，在实施例二的基础上，所述GIP信号线与所述检测信号线可以延伸至与所述端子部相对的一边，在与所述端子部相对的一边相连接。从而检测与所述端子部相对的一边的裂纹。需要说明的是，在所有的实施例中，所述GIP信号线与所述检测信号线也可以围绕端子部所在的一边，从而检测端子部所在的一边的裂纹。

需要说明的是，本发明所述的显示屏包括但不限于OLED显示屏与LCD显示屏。

相应的，本发明还提供一种显示屏的裂纹检测方法，如图5所示，包括以下步骤：

S1、通过端子部向所述GIP信号线提供信号，同时向显示屏其余部分正常提供信号，但不向所述检测信号线提供信号，判断显示屏是否正常显示；

S2、若显示正常则判断显示屏为良品，然后通过端子部向所述检测信号线提供信号，同时向显示屏其余部分正常提供信号，但不向所述GIP信号线提供信号，判断显示屏是否正常显示；

S3、若显示不正常则判断显示屏有裂纹破坏所述检测信号线。

以下结合实施例一所述的显示屏，详细说明显示屏的裂纹检测方法。

如图2所示，通过端子部12向所述GIP信号线11提供信号，同时向显示屏其余部分正常提供信号，此时所述检测信号线13上并未加信号，显示正常则判断为良品，显示不正常则判断为不良品；通过端子部12向所述检测信号线13提供信号，同时向显示屏其余部分正常提供信号，此时所述GIP信号线11上并未加信号，显示正常则判断为良品，显示不正常则判断为有裂纹破坏所述检测信号线；有无裂纹通过显示画面显示出来，检测过程更加直观。

可以首先对显示屏左侧进行检测，然后在对显示屏的右侧进行检测；同时也可以向所述显示屏两个侧边的检测信号线提供不同的信号，使得显示屏左侧或者右侧出现裂纹，显示的画面会不同，从而可以左右两侧同时进行裂纹检测。

本发明所述的检测显示屏周边裂纹的方法，只需对celltest治具做微小调整，在celltest治具上增加与所述检测信号线相连的探针以及信号线即可进行检测，无需多增加一到检测裂纹的工序，节省了检测的时间和成本。

上述的裂纹检测与celltest工序同时进行，同样的，所述的裂纹检测也可以在后续的检查工艺进行，在所述端子部压接FPC之后，在后续的显示检查工艺中，按照上述的方法提供信号也可以对裂纹进行检测。

综上所述，本发明所提供的显示屏在GIP信号线与基板的边缘之间设置检测信号线，检测信号线的一端与所述GIP信号线相连接，另一端与所述端子部相连接，通过端子部分别向所述GIP信号线与所述检测信号线提供信号，由此判断是否有裂纹破坏检测信号线，并且只需在celltest治具上增加与所述检测信号线相连的探针以及信号线即可进行检测，将裂纹检测与celltest工序同时进行，节省了检测的时间和成本；本发明在向检测信号线提供信号的同时，向显示屏其余部分正常提供信号，使得检测裂纹有无与显示屏的显示画面联系在一起，检测过程更加直观；并且向不同侧边的检测信号线提供不同的信号，使得不同侧边出现裂纹时显示画面会不同，从而可以同时对不同侧边进行裂纹的检测。

上述描述仅是对本发明较佳实施例的描述，并非对本发明范围的任何限定，本发明领域的普通技术人员根据上述揭示内容做的任何变更、修饰，均属于权利要求书的保护范围。

Claims (8)

1.一种显示屏，包括基板及设置在所述基板上的GIP信号线和端子部，其特征在于，还包括用于检测所述显示屏裂纹的检测信号线，所述检测信号线设置在所述基板上，位于所述GIP信号线与所述基板的边缘之间，所述检测信号线的一端与所述GIP信号线相连接，另一端与所述端子部相连接。

2.如权利要求1所述的显示屏，其特征在于，所述GIP信号线连接设置在所述基板上的GIP单元与所述端子部，所述GIP单元设置在与所述端子部相邻的所述基板的两个侧边上。

3.如权利要求2所述的显示屏，其特征在于，在所述两个侧边上各设置有一根GIP信号线与一根检测信号线，所述GIP信号线与所述检测信号线分别在所述两个侧边远离所述端子部的地方相连接。

4.如权利要求2所述的显示屏，其特征在于，在所述两个侧边上各设置有一根GIP信号线与一根检测信号线，且所述GIP信号线与所述检测信号线延伸至与所述端子部相对的一边，在与所述端子部相对的一边相连接。

5.如权利要求2所述的显示屏，其特征在于，在所述两个侧边上各设置有两根GIP信号线与两根检测信号线，所述GIP信号线与所述检测信号线分别在所述两个侧边远离所述端子部的地方相连接。

6.如权利要求2所述的显示屏，其特征在于，在所述两个侧边上各设置有两根GIP信号线与两根检测信号线，所述GIP信号线与所述检测信号线延伸至与所述端子部相对的一边，在与所述端子部相对的一边相连接。

7.一种如权利要求1-6任一项所述的显示屏的裂纹检测方法：其特征在于，包括以下步骤：

S1、通过端子部向所述GIP信号线提供信号，同时向显示屏其余部分正常提供信号，但不向所述检测信号线提供信号，判断显示屏是否正常显示；

S2、若显示正常则判断显示屏为良品，然后通过端子部向所述检测信号线提供信号，同时向显示屏其余部分正常提供信号，但不向所述GIP信号线提供信号，判断显示屏是否正常显示。

S3、若显示不正常则判断显示屏有裂纹破坏所述检测信号线。

8.如权利要求7所述的显示屏的裂纹检测方法，其特征在于，向所述显示屏两个侧边的检测信号线提供不同的信号。