CN202057742U - 平面显示器检测系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种平面显示器检测系统，用以对一平面显示器进行缺陷检测，包括一控制装置及一检测设备，控制装置控制检测设备对平面显示器进行检测，其中，检测设备包括：一电源供应器，以对平面显示器供电进行操作；一红外线温度感测装置，以在平面显示器通电后，量测平面显示器的表面温度，并输出一表面温度影像，通过观察表面温度影像是否有温度异常的亮点或亮线，以判别是否有缺陷存在；一光学检测装置，在确定缺陷所在的区域后，直接进行扫描，并输出一光学影像，以进一步得知缺陷类型及位置。

Description

平面显示器检测系统

技术领域

本实用新型涉及一种检测系统，特别是针对平面显示器缺陷检测的系统。 

背景技术

近年来，平面显示器已经广泛地被用来取代阴极管(CRT)，由于其应用与消费者的日常生活息息相关，因此，液晶显示器及电浆显示器等平面显示器的需求日益增加。厂商亦投入大笔的经费以对平面显示器的技术进行研发，尤其是朝大尺寸平面显示器技术的发展。 

平面显示器相关产业包括液晶显示器、电子纸、有机发光半导体显示器(OLED display)等。其相关的应用已经具有薄型化、省电、省能源、轻量化、画质提升、视觉效果更佳以及更符合新时代生活需求的人机沟通媒介等优点。 

然而，在将背光模块、驱动电路等元件整合至显示器面板以构成平面显示器之前，显示器面板需要先经过一道检测程序，检测面板是否有异物或锈蚀残留在面板上、焊线是否有瑕疵、面板上的基板间隙是否一致、是否有裂痕等等缺陷，以便将良品与不良品区隔开来。 

对平面显示器进行检测的现有方式包括以自动光学检测系统扫描检测，作业人员操作显微镜检测或是对显示器通电进行检测。 

然而，随着显示器的荧幕尺寸增加，利用自动光学检测装置，以线扫描(line scan)配合影像撷取，来检测存在于显示器中的一两个缺陷，相当费时，往往耗费一天的时间，只能完成一至两个工件的检测。而若是由作业人员操作显微镜对平面显示器进行检测，不仅不易查找出问题，也需要耗费人力成本。 

另外，直接检测显示器的电性来判断是否存在缺陷，虽然省时，但却无法得知问题所在，也没办法进行修复，只要检测结果不符合标准，这个显示 器只能作废。但是对于制作单价高的平面显示器来说，相当不符合经济效益。 

因此，有必要提供一种检测平面显示器的方法及装置，除了解决现有的检测技术中，花费太多检测时间及人力成本的问题之外，同时又能够迅速且精确的找出问题所在，增加进一步修复的可能，减少废品产生机会。 

实用新型内容

有鉴于上述课题，本实用新型提供一种平面显示器检测系统，可节省检测所费时间。平面显示器检测系统包括一控制装置及一检测设备，控制装置控制检测设备对平面显示器进行检测。其中，检测设备包括：一电源供应器，以对平面显示器供电进行操作；一红外线温度感测装置，以量测平面显示器的表面温度，并输出一表面温度影像，通过观察表面温度影像是否有温度异常的亮点或亮线，以判别是否有缺陷存在，其中，亮点或亮线所在之处，即为缺陷存在之处；及一光学检测装置，在观察到表面温度影像有亮点或亮线时，对该亮点或亮线所在区域进行扫描，并输出一光学影像，以进一步得知缺陷类型及位置。 

本实用新型实施例的平面显示器检测装置可以在短时间内确定是否有缺陷存在。本实用新型以红外线温度感测装置配合光学检测装置来检测，只需要花费数十秒钟时间，就能完成一个平面显示器检测，相较于现有技术而言，大幅节省了检测时间。除此之外，本实用新型的检测方法相较于现有技术中采用通电检测的方法而言，不仅检测迅速，同时可以进一步找出问题所在，以判断是否进行修复。对于高单价的产品而言，本实用新型的检测方式可以降低废品产生的机会。 

附图说明

关于本实用新型的优点与精神，可通过以下的实用新型说明及所附图式得到进一步的了解，然而所附图式仅供参考与说明，非以对本实用新型加以 限制。 

图1为本实用新型实施例的平面显示器检测系统。 

附图标号： 

1：平面显示器检测系统10：检测设备 

11：控制装置110：处理分析模块 

100：电源供应器1100：数据库 

1010：红外线电荷耦合二极管101：红外线温度感测装置 

1020：可见光电荷耦合二极管102：光学检测装置 

104：控制轨103：滑动轨 

105：X轴驱动元件106：第一Y轴驱动元件 

2：平面显示器107：第二Y轴驱动元件 

具体实施方式

为使本实用新型的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文依本实用新型所提供的平面显示器检测系统及方法，特举较佳实施例，并配合所附相关图式，作详细说明如下。 

请参照图1，为本实用新型所提供的平面显示器检测系统1其中一实施例，用以对一平面显示器2进行缺陷检测。平面显示器检测系统至少包括一检测设备10及一控制装置11。 

检测设备10包括一电源供应器100、一红外线温度感测装置101、一光学检测装置102。电源供应器100对待测的平面显示器2提供一工作电压及电流，以进行检测。 

红外线温度感测装置101，配备有一红外线电荷耦合二极管1010(CCD)，用来量测平面显示器2通电后的表面温度，并将平面显示器2表面温度的分布结果输出，可选择以一灰阶或彩色的表面温度影像显示。在本实施例中， 使用中远红外线温度感测器，所使用的红外线波长范围大约为800至1060nm。 

当平面显示器中存在断路、短路或电阻过高等缺陷时，缺陷点的温度会高于其他区域，所以，会在表面温度影像上显示亮点；另外，和缺陷点同一排或一列的像素点，由于共用同一个电极，其温度也同样会受到缺陷点影响，而在表面温度影像显示亮线。也就是说，亮点或亮线所在之处，即为缺陷存在之处。 

虽然可以立即确定缺陷存在区域，但还需要利用一光学检测装置102，才能进一步确定缺陷类型及位置时。要注意的是，此时光学检测装置102只要针对缺陷存在的区域进行扫描即可，不需要再像现有技术一般，耗费很长时间，扫描整个平面显示器2。 

光学检测装置102包括一可见光电荷耦合二极管1020，以输出缺陷存在区域的光学影像。所述的光学检测装置102最佳为一自动光学检测装置。 

控制装置11可以是一电脑或一处理器，用以控制红外线温度感测装置101及光学检测装置102，对平面显示器2量测表面温度及拍摄影像。 

在一较佳实施例中，为了自动化检测流程，进一步节省检测时间及人力成本，本实用新型的控制装置11更包括一处理分析模块110，分别与红外线温度感测装置101及光学感测装置102电性连接。当红外线温度感测装置101输出待测平面显示器2的表面温度影像后，将数据传送至处理分析模块110进行分析。 

处理分析模块110会计算表面温度影像每一像素点的表面温度与一参考值之间的温度差值，以得知亮点或亮线所在的位置的坐标数据。只要温度差值大于一预设值，处理分析模块110标示这些像素点，使光学检测装置102能扫描该些像素点，以进一步确认缺陷所在位置。 

所述的参考值是指一标准平面显示器的表面平均温度。所以，在本实用新型实施例中，处理分析模块110更包括一数据库1100，以储存不同尺寸及种类平面显示器的表面平均温度，作为参考值。 

请再参照图1，本实用新型实施例的检测设备10更包括二滑动轨103、一控制轨104、一X轴驱动元件105、第一Y轴驱动元件106及一第二Y轴驱动元件107。 

控制轨104两端垂直架设于相互平行的二滑动轨103之间，红外线温度感测装置101及光学检测装置102则分别设置于控制轨104前后两侧。 

X轴驱动元件105驱动控制轨104在水平方向移动，藉此调整红外线温度感测装置101及光学检测装置102的X轴坐标。 

第一及第二Y轴驱动元件106、107则分别驱动红外线温度感测装置101，及光学检测装置102沿控制轨104轴向移动。 

当电源供应器101对待测平面显示器2供电后，控制装置11调整红外线温度感测装置101的X轴及Y轴坐标，使红外线温度感测装置101能够量测平面显示器2的表面温度。 

经由分析表面温度影像，得到缺陷存在区域的坐标数据后，控制装置11再控制光学检测装置102的X轴及Y轴坐标，使之进行细部扫瞄。 

综上所述，本实用新型的平面显示器检测系统可以在短时间内确定是否有缺陷存在。过去仅以光学检测装置对一个显示器面板，特别是对于大尺寸的面板查找缺陷或进行检测时，可能甚至要耗费一天的时间。本实用新型以红外线温度感测装置配合光学检测装置来检测，只需要花费数十秒钟时间，就能完成一个平面显示器检测，相较于现有技术而言，大幅节省了检测时间。 

除此之外，本实用新型的检测方法相较于现有技术中采用通电检测的方法，不仅检测迅速，同时可以进一步找出问题所在，以判断是否进行修复。对于高单价的产品而言，本实用新型的检测方式可以降低废品产生的机会。 

本实用新型虽以较佳实例阐明如上，然其并非用以限定本实用新型精神与实用新型实体仅止于上述实施例。凡本领域技术人员，当可轻易了解并利用其它元件或方式来产生相同的功效。是以，在不脱离本实用新型的精神与范畴内所作的修改，均应包含在权利要求范围内。 

Claims (7)

1.一种平面显示器检测系统，其特征在于，用以对一平面显示器进行缺陷检测，包括一控制装置及一检测设备，所述控制装置控制所述检测设备，对所述平面显示器进行检测，其中，所述检测设备包括：

一电源供应器，以对所述平面显示器供电进行操作；

一红外线温度感测装置，以量测所述平面显示器的表面温度，并输出一表面温度影像，以通过观察所述表面温度影像是否有温度异常的亮点或亮线来判定是否有缺陷存在，其中，所述亮点或亮线所在之处，即为缺陷存在之处；及

一光学检测装置，当所述表面温度影像有亮点或亮线存在时，所述光学检测装置直接对所述亮点或亮线存在之处进行扫描，并输出一光学影像，以进一步得知缺陷类型及位置。

2.如权利要求1所述的平面显示器检测系统，其特征在于，所述控制装置包括一处理分析模块，计算表面温度影像每一像素点的表面温度与一参考值的温度差值，以得知所述亮点或亮线所在的位置的坐标数据。

3.如权利要求2所述的平面显示器检测系统，其特征在于，所述处理分析模块更包括一数据库，用以储存不同尺寸及种类平面显示器的表面平均温度，做为所述参考值。

4.如权利要求1所述的平面显示器检测系统，其特征在于，所述红外线温度感测装置包括一红外线电荷耦合二极管，以输出所述表面温度影像。

5.如权利要求1所述的平面显示器检测系统，其特征在于，所述光学检测装置包括一可见光电荷耦合二极管，以输出所述光学影像。

6.如权利要求1所述的平面显示器检测系统，其特征在于，所述检测设备更包括：

二滑动轨，所述二滑动轨相互平行；及

一控制轨，所述控制轨垂直架设于所述二滑动轨之间，并可沿着所述二 滑动轨移动，所述红外线温度感测装置及所述光学检测装置架设于所述控制轨前后两侧，并可沿所述控制轨轴向移动。

7.如权利要求6所述的平面显示器检测系统，其特征在于，所述检测设备更包括：

一X轴驱动元件，设置于所述控制轨，用以调整所述红外线温度感测装置或所述光学检测装置的X坐标；

一第一Y轴驱动元件，设置于所述控制轨与所述红外线温度感测装置之间，以调整所述红外线温度感测装置的Y坐标；及

一第二Y轴驱动元件，设置于所述控制轨与所述光学检测装置之间，以调整所述光学检测装置的Y坐标。 

Images