KR20090074388A - 표시패널의 검사 장치 및 그 방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 표시패널의 검사 장치 및 그 방법에 관한 것으로, 특히 본 발명은 표시패널에 레이저를 이용한 물리적인 랜드마크를 형성하지 않는 대신에 표시패널을 촬영한 영상상에 랜드마크를 형성시키기 때문에 랜드마크의 제작이 용이하고, 랜드마크의 제작 성공률이 높은 효과가 있다.
본 발명은 표시패널에 블록별로 블록단차패턴을 생성 후 상기 표시패널의 영상을 촬영하는 단계; 상기 촬영된 영상 상에 랜드 마크를 추가 후 상기 랜드마크만이 표시된 영상을 획득하는 단계; 상기 표시패널에 블록별로 단순반복패턴을 생성 후 상기 표시패널의 영상을 촬영하는 단계; 상기 촬영된 영상과 획득된 영상을 매칭한 매칭영상을 획득하는 단계; 상기 표시패널에 검사패턴을 생성 후 상기 표시패널에 대한 검사영상을 촬영하는 단계; 상기 검사영상에 불량픽셀이 있는지 판단하는 단계; 상기 불량픽셀이 있으면, 상기 검사영상과 매칭영상을 비교하여 상기 불량픽셀의 위치정보를 획득하는 단계;를 수행한다.

Description

표시패널의 검사 장치 및 그 방법{Apparatus for inspecting of display panel and method thereof}
본 발명은 표시패널의 검사 장치 및 그 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 표시패널의 제조공정 중 쇼팅 바 구조 상에서 용이하게 화질검사를 실행하는 표시패널의 검사 장치 및 그 방법에 관한 것이다.
최근 정보화사회로 시대가 급격하게 발전함에 따라 박형화, 경량화, 저 소비전력화 등의 우수한 특성을 가지는 평판표시장치(flat panel display)의 필요성이 대두되었으며, 이중 액정표시장치(Liquid Crystal Display:이하, LCD라 함)가 해상도, 컬러표시, 화질 등이 우수하여 노트북이나 데스크탑 모니터, 휴대용 단말기 등에 활발하게 적용되고 있다.
이러한 LCD 패널은 픽셀(pixel) 단위를 이루는 LCD 셀의 형성 공정을 동반하는 패널 상판 및 하판의 제조공정과, 액정 배향을 위한 배향막의 형성 및 러빙(Rubbing) 공정과, 상판 및 하판의 합착 공정과, 합착된 상판 및 하판 사이에 액정을 주입하고 봉지하는 공정 등의 여러 과정을 통해 만들어지며, 조립공정이 다양하여 어느 공정이든 이물, 얼룩, 깨짐 등의 불량이 발생할 수 있다.
이러한 LCD 불량을 검사하기 위해 LCD의 제조공정 중에는 광학장치를 이용하여 잔상(image sticking), 얼룩, 딤(dim)과 같은 문제에 대해 LCD 셀의 화질을 자동으로 검사하는 화질검사공정이 포함되는데, 화질검사공정에는 픽셀의 불량위치를 추출하여 위치정보(영상좌표)를 산출한다.
이와 같이 LCD 불량을 검사하기 위한 구성부는, LCD 셀과 취득된 CCD 영상간의 위치정보를 산출하는 과정을 수행하기 위한 장치는 LCD 셀의 검사를 위해 사용자가 디자인한 특정 패턴을 제공하기 위한 패턴 발생부, LCD 셀의 영상을 취득하기 위한 CCD 카메라, 취득된 영상을 처리하기 위한 영상수집부, 수집된 영상을 영상처리하기 위한 영상처리부, 영상처리된 LCD 셀의 불량을 검출하기 위한 불량검출부, 영상처리에 의해 블랙 매트릭스 위치정보(불량위치)를 추출하기 위한 위치추출부, 각 구성부의 동작을 제어하는 제어부, 수집된 영상 및 검출된 불량을 사용자에게 디스플레이해주는 표시부를 포함한다.
이러한 구성부를 포함한 LCD 불량을 검사방법은, 먼저 LCD 셀의 불량을 검사하기 위해서는 사용자가 임의로 레이저 등을 이용하여 물리적으로 랜드 마크를 생성한 기준 셀을 제작한다.
여기서 기준 셀을 제작하는 이유는, LCD 제조공정 중 쇼팅 바가 존재하는 화질검사공정에서는 게이트(Gate), 데이터(Data) 라인이 쇼팅 바(Shorting Bar;SB)에 묶여 있기 때문에 패턴 발생부에서 생성할 수 있는 패턴에 제약이 있다.
따라서 제작된 기준 셀을 검사장비에 투입하여 기준 셀의 CCD 영상을 CCD 카메라에서 취득하고, 검사하기 위한 LCD 셀을 투입한다.
다음, 불량 검사를 위한 패턴(불량 검사를 위한 기본적인 검사 패턴으로 일반적인 기술임)을 패턴 발생부를 통하여 LCD 셀에 인가하고, 해당 패턴의 영상을 CCD 카메라를 통해 촬상한 후 영상처리를 통하여 불량정보를 추출한다.
이때 추출된 불량정보의 특정값을 이용하여 LCD 셀의 불량을 판정하고 판정된 불량을 표시부를 통해 사용자에게 디스플레이해 준다.
그런데, 이러한 종래 LCD 셀의 불량 감지 방법은 사용자가 임의로 휘점 패턴 등을 생성할 수 없는 제약이 있기 때문에 랜드마크가 생성된 기준 셀을 별도로 제작해야 하는 번거로움이 있다.
종래에는, 레이저를 이용해서 복수개의 랜드마크를 제작하는 것은 양품 셀에 많은 불량 포인트가 생성되기 때문에 이 과정에서 위치 오차, 조작 실수로 인해 기준 셀 제작 성공률이 매우 저조하고, 뿐만 아니라 제작된 기준 셀은 작은 충격에도 변질될 수 있기 때문에 보관에 많은 주위가 필요하며 파손에 대비해 여분의 기준 셀을 제작해야 하기 때문에 비용이 낭비되는 문제점이 있다.
또한, 장비 수정이나 셀 모델 변경 등 공정상의 이유로 기준 셀을 재수행해야 할 경우에는 반드시 생산공정을 중단하고 제작된 셀을 다시 장비에 투입해야하는 과정을 거쳐야 하므로 공정상의 번거로움이 크다는 문제점이 있다.
또한, 검사 진행 중 카메라나 LCD등의 디스플레이 셀이 이동됐을 경우 좌표오차가 발생되어 검사 성능이 저하되는 문제점이 있다.
따라서, 본 발명의 목적은 기존의 기준 셀(Reference Cell)이 필요없어 기준 셀의 제작 및 관리 비용 절감이 가능하고, 카메라를 통해 촬영된 표시패널의 영상을 통해 랜드 마크를 획득함으로써 랜드마크의 제작이 용이한 표시패널의 검사 장치 및 그 방법을 제공하는 것이다.
또한 본 발명의 다른 목적은, 카메라 및 표시 패널 이동 시 랜드마크의 위치 오차가 발생되지 않아 불량 검사의 성능 향상이 가능한 표시패널의 검사 장치 및 그 방법을 제공하는 것이다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 기술적인 수단은 표시패널에 생성된 블록 단차 패턴 영상, 단순 반복 패턴 영상 및 검사 패턴 영상 중 어느 하나를 촬영하는 촬상부; 상기 블록 단차 패턴의 영상에 기초하여 랜드 마크의 위치가 표시된 영상을 획득하는 랜드 마크 획득부; 상기 단순 반복 패턴 영상에 상기 랜드마크의 위치 영상을 매칭시켜 위치 정보를 검출하는 캘리브레이션부; 상기 검사 패턴 영상을 영상처리한 후 불량 정보를 검출하는 불량검출부; 상기 위치정보 및 불량정보를 전송받아 불량 위치정보를 검출하는 제어부;를 포함한다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 기술적인 방법은 표시패널에 블록별로 블록단차패턴을 생성 후 상기 표시패널의 영상을 촬영하는 단계; 상기 촬영된 영상 상에 랜드 마크를 추가 후 상기 랜드마크만이 표시된 영상을 획득하는 단계; 상기 표시패널에 블록별로 단순반복패턴을 생성 후 상기 표시패널의 영상을 촬영하는 단계; 상기 촬영된 영상과 획득된 영상을 매칭한 매칭영상을 획득하는 단계; 상기 표시패널에 검사패턴을 생성 후 상기 표시패널에 대한 검사영상을 촬영하는 단계; 상기 검사영상에 불량픽셀이 있는지 판단하는 단계; 상기 불량픽셀이 있으면, 상기 검사영상과 매칭영상을 비교하여 상기 불량픽셀의 위치정보를 획득하는 단계;를 수행한다.
상기의 설명에서와 같이, 본 발명에 따르면 표시패널에 레이저를 이용한 물리적인 랜드마크를 형성하지 않는 대신에 표시패널을 촬영한 영상상에 랜드마크를 형성시키기 때문에 랜드마크의 제작이 용이하고, 랜드마크의 제작 성공률이 높은 효과가 있다.
또한 화질검사공정의 쇼팅 바 구조 상에서 블록 단차 패턴이 생성된 표시 패널을 이용하여 랜드 마크를 획득하므로 표시패널에 인위적으로 랜드 마크를 만들 필요가 없고 따로 기준 셀을 보관할 필요도 없어 제작, 관리 비용을 절감할 수 있다.
또한, 영상상의 랜드 마크를 이용하여 위치 정보를 얻기 때문에, 검사과정 초기에 기존의 레이저를 이용해서 인위적으로 랜드 마크를 생성한 기준 셀을 만들고 불량 검출 시마다 이를 장비에 투입해야 하는 복잡한 과정을 단순화시킬 수 있다는 효과가 있다.
또한, 카메라 및 표시패널 이동 시 영상상의 랜드 마크가 변화되지 않아 오차가 발생되지 않기 때문에 불량 검사 성능을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.
이하에서는 첨부도면을 참조하여 본 발명에 대해 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 표시패널의 불량을 검사하는 검사 장치의 구성도로, 액정표시패널(1), 촬상부(10), 영상수집부(20), 랜드마크획득부(30), 캘리브레이션부(40), 영상처리부(50), 불량검출부(60), 위치정렬부(70), 제어부(80), 패턴발생부(90) 및 표시부(100)로 구성된다.
본 발명의 '표시패널'은, 불량 검사의 대상이 되는 표시패널로 액정표시장치의 액정표시패널(LCD), 플라즈마 디스플레이 패널(PD) 또는 유기전기발광장치(organic light emitting diode) 등과 같이 게이트 라인과 데이터 라인으 매트릭 스 방식으로 구동되는 모든 평판표시장치(FPD)를 포함한다.
본 실시예에서는 '표시패널'로 액정표시패널을 예로 들어 실시예를 설명한다.
액정표시패널(1)은 서로 직교하여 화소를 정의하는 게이트선 및 데이터선, 게이트선과 데이터선의 교차영역에 위치하는 스위칭 소자인 박막트랜지스터를 포함한다. 게이트선과 데이터선은 게이트 구동부와 데이터 구동부에 연결되어 있으며, 게이트 구동부와 데이터 구동부를 구동시켜 화면을 형성하게 된다. 패턴발생부(90)는 게이트 구동부와 데이터 구동부에 연결되거나, 게이트 구동부와 데이터 구동부의 역할까지 수행하며 액정표시패널(1)에 검사를 위한 복수 패턴을 인가한다.
촬상부(10)는 액정 표시패널(1)에 생성된 블록 단차 패턴, 단순 반복 패턴 및 검사패턴의 화상을 촬영한 후 영상수집부(20)로 전송한다.
여기서 촬상부(10)는 CCD(chargecoupled device) 카메라를 포함하는데 액정표시패널(100)의 크기가 커지면 하나의 CCD 카메라로 전체 화상을 촬영하기 어려워 CCD 카메라가 복수개로 마련되고, 또한 CCD 카메라는 미소한 화소가 복수개 마련되어 있어 화소별로 측정대상의 밝기를 측정할 수도 있다.
또한 CCD 카메라는 액정표시패널(100)의 화소별 색상을 구분할 수 있는 컬러 CCD 카메라인 것이 바람직하며, 블랙 CCD 카메라의 경우 적색, 녹색, 청색 컬러 필러를 갖추는 것이 바람직하다. 촬상부(10)는 고정되어 있을 수 있으나 액정표시패널(100)과 상대적으로 이동하는 것이 바람직하다. 이를 위해 액정표시패널(100)이 X-Y구동하는 스테이지(도시하지 않음)에 안착되어 있거나, 촬상부(20)가 X-Y구동시 키는 구동부(도시하지 않음)에 연결되어 있을 수 있다.
영상수집부(20)는 액정표시패널(1)에 검사패턴이 인가된 경우의 화상을 촬상부(10)로부터 습득하여 불량검출부(60)로 전송하고, 액정표시패널(1)에 단순반복패턴이 인가된 경우의 화상을 촬상부(10)로부터 습득하여 캘리브레이션부(40) 및 위치정렬부(70)로 전송하며, 액정표시패널(1)에 블록단차패턴이 인가된 경우의 화상을 촬상부(10)로부터 습득하여 랜드마크획득부(20)로 전송한다.
랜드마크획득부(20)는 촬상부(10)로부터 전송된 블록 단차 패턴을 이용하여 복수개의 랜드마크를 획득한다.
즉, 도 2 및 도 3에 도시된 바와 같이, 블록 단차 패턴은 홀수번째 블록의 게이트선에는 게이트 온 전압을, 짝수번째 블록의 게이트선에는 게이트 오프 전압을 인가하여 홀수번째 블록 게이트선에 연결된 픽셀들이 모두 온(ON)되도록 하고, 짝수번째 블록 게이트선에 연결된 픽셀들은 모두 오프(OFF)되도록, 게이트 라인의 Even(E-Gate Line)/Odd(E-Gate Line) 블록에 대해서는 순차적으로 전압을 인가함으로서 줄무늬와 같은 패턴을 형성한다.
그 후 데이터 라인의 R(R-Data Line), G(G-Data Line), B(B-Data Line) 방향으로 계속 신호를 인가하되 데이터 라인의 데이터 블록이 구분되도록 밝기 차를 발생시켜 각 블록들이 단차가 생성되도록 한다. 이렇게 형성된 블록 단차 패턴을 액정표시패널(1)에 인가한다.
따라서, 도 4에 도시된 바와 같이, 액정표시패널(1)에서 획득된 블록단차패턴의 영상을 이용하여 게이트 라인의 온(ON)된 블록과 오프(OFF)된 블록의 경계영 역 및 데이터 라인의 단차에 따른 블록의 경계영역이 이루는 지점에 랜드마크를 형성시킨 후 캘리브레이션부(40)로 전송한다.
캘리브레이션부(40)는 영상수집부(20)로부터 전송된 영상과 액정표시패널(1) 간의 위치정보를 산출하기 위해 캘리브레이션을 수행하는 것으로, 즉 영상수집부(20)로부터 전송된 블록 단차 패턴의 랜드마크 영상과 단순 반복 패턴 영상을 매칭시켜 캘리브레이션한 후 제어부(80)로 전송하고, 검사패턴의 영상이 전송되면 캘리브레이션한 후 불량검출부(40)로 전송한다.
여기서 단순 반복 패턴 영상은 도 5에 도시된 바와 같이, 쇼팅 바(Shorting Bat)로 묶여 있는 게이트 라인의 Even(E-Gate Line)/Odd(E-Gate Line)에 대해서 전압을 (0V, +Vdd) 또는 (+Vdd, 0V) 등으로 인가하고 데이터 라인의 R(R-Data Line), G(G-Data Line), B(B-Data Line) 방향으로 1픽셀에 대해서 신호를 인가함으로서 격자무늬와 같은 단순한 반복 패턴을 형성하며, 이렇게 형성된 단순한 반복 패턴을 캘리브레이션 패턴으로 하여 액정표시패널(1)에 인가하여 획득된 영상이다.
영상처리부(50)는 영상수집부(20)로부터 전송된 각 영상과 캘리브레이션부(40)에서 캘리브레이션된 영상을 영상처리한 후 제어부(80), 불량검출부(60) 및 위치정렬부(70)로 전송한다.
불량검출부(60)는 영상수집부(20)로부터 전송된 검사 패턴 영상을 기초로 액정표시패널(1)의 불량여부를 결정하고 불량 부분을 검출한 후 제어부(80)로 전송한다.
예를 들어, 검사패턴으로써 화면전체에 블랙신호를 인가한 경우에 블랙신호 가 아닌 밝게 나타나는 픽셀이 존재하는지 대비비(contrast)비교하여 불량여부를 판단하고, 불량이라고 판단된 경우 불량에 대한정보를 검출한다.
여기서 불량정보란 불량이 발생되었는지 여부, 불량부분, 불량의 종류, 불량의 정도, 화면상의 불량이 발생된 위치 등을 포함한다.
위치정렬부(70)는 영상처리부(60)에 의한 영상처리를 통하여 전송된 단순반복패턴 영상을 통하여 불량이 검출된 액정표시패널(1)의 불량위치를 추출한다.
제어부(70)는 각 구성부의 동작을 제어한다. 영상처리부(30)의 정보를 기초로 불량이 발생한 정확한 위치를 계산한다.
즉, 제어부(80)는 불량검출부(60)로부터 전송된 불량정보와 캘리브레이션부(40)로부터 전송된 위치정보를 비교하여 불량의 위치정보를 계산한다.
즉, 검출된 불량검출결과와 위치 정보를 이용하여 불량을 최종 분류한다. 최종 분류된 불량정보의 결과값은 표시부(100)를 통해 사용자에게 디스플레이되도록 표시부를 제어한다.
패턴발생부(90)는 제어부(80)의 지시에 따라 랜드 마크를 획득하기 위한 블록 단차 패턴, 블랙매트릭스의 위치정보를 추출하기 위한 단순 반복 패턴 및 불량을 검사하기 위한 패턴(즉, 검사패턴)을 액정표시패널(1)로 인가한다.
표시부(100)는 제어부(80)의 제어신호에 따라 취득된 영상 및 불량검출결과를 사용자에게 디스플레이해준다.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 표시패널의 검사 방법의 동작 순서도로서, 표시패널의 검사 방법의 순서는 다음과 같다.
액정표시패널(1)의 제조공정 중 게이트(Gate), 데이터(Data) 라인이 쇼팅 바(Shorting Bar)에 묶여 있는 쇼팅 바 구조 상에서, 불량 검사의 대상이 되는 액정표시패널(1)을 장비에 장착(211)한다.
다음 블록별로 시각적인 단차 패턴을 패턴 발생부(90)에서 액정표시패널(1)에 인가(212)하면 액정표시패널에서 블록단차패턴을 생성(212)한다.
이때 블록 단차 패턴 도 2 및 도 3에 도시된 바와 같이, 게이트 라인의 Even(E-Gate Line)/Odd(E-Gate Line) 블록에 대해서는 순차적으로 전압을 인가함으로서 줄무늬와 같은 패턴을 형성한 후, 데이터 라인의 R(R-Data Line), G(G-Data Line), B(B-Data Line) 방향으로 계속 신호를 인가하되 데이터 라인의 데이터 블록이 구분되도록 밝기 차를 발생시켜 각 블록들이 단차가 생성되도록 한 것이다.
다음, 액정표시패널(1)의 블록 단차 패턴 영상을 촬영 및 수집(213)하고, 블록단차패턴의 영상을 이용하여 게이트 라인의 온(ON)된 블록과 오프(OFF)된 블록의 경계영역 및 데이터 라인의 단차에 따른 블록의 경계영역이 이루는 지점에서 복수개의 랜드마크를 추가한 영상을 획득(214)하고, 랜드마크만 표시된 영상(즉, 제1영상)을 획득(215)한다.
또는 게이트 라인의 Even(E-Gate Line)/Odd(E-Gate Line) 블록에 대해서는 순차적으로 전압을 인가함으로서 줄무늬와 같은 패턴을 형성한 후, 데이터 라인의 R(R-Data Line), G(G-Data Line), B(B-Data Line) 중 어느 하나의 데이터 라인을 오프시킴으로써 데이터 라인의 블록이 구분되도록 한 후 블록이 구분되는 경계영역에 복수개의 랜드마크를 획득하는 것도 가능하다.
이때, 획득된 블록단차패턴을 이용한 랜드마크만 표시된 영상은 도 4에 도시된 바와 같고, 이 랜드마크 위치 영상은 캘리브레이션부(40)로 전송한다.
다음, 패턴발생부(90)를 통해 블록별 단순반복패턴을 액정표시패널(1)로 인가하면 액정표시패널을 통해 단순반복패턴을 생성(216)한다.
여기서 단순반복패턴은 도 5에 도시된 바와 같이, 쇼팅 바(Shorting Bat)로 묶여 있는 게이트 라인의 Even(E-Gate Line)/Odd(E-Gate Line)에 대해서 전압을 (0V, +Vdd) 또는 (+Vdd, 0V) 등으로 인가하고 데이터 라인의 R(R-Data Line), G(G-Data Line), B(B-Data Line) 방향으로 1픽셀에 대해서 신호를 인가함으로서 격자무늬와 같이 단순하게 형성된 반복 패턴이다.
이외에도 단순반복패턴은 여러 가지 패턴의 조합을 사용하는 것도 가능하다.
이렇게 형성된 단순 반복 패턴이 액정표시패널(1)을 통해 디스플레이되면 복수의 촬상부(10)를 통해 단순 반복 패턴 영상을 촬영(217: 즉, 제2영상) 및 수집하고, 수집된 단순 반복 패턴 영상(즉, 제2영상)을 위치정렬부(70) 및 캘리브레이션부(40)로 전송한다.
이때 캘리브레이션부(40)로 전송된 단순반복패턴은 캘리브레이션 패턴으로 변환되어 입력되고 단순반복패턴 영상(제2영상)에 랜드 마크 위치 영상(즉, 제1영상)을 매칭시켜 매칭영상을 획득(218)한 후 캘리브레이션을 수행한다. 이때 켈리브레이션부(40)는 촬상부(10)를 통해 취득된 영상과 액정표시패널(1)간의 위치정보인 켈리브레이션 정보를 산출한다.
다음, 패턴발생부(90)를 통해 검사패턴을 액정표시패널(1)에 인가하면, 액정 표시패널을 통해 검사 패턴을 생성(219)한다.
다음, 검사패턴에 의해 형성된 액정표시패널(1)의 영상을 촬영(220: 즉, 검사영상)하면 영상수집부를 통해 검사영상을 수집한다.
위의 각 영상 촬영은 CCD 카메라를 포함하는 촬상부(10)가 수행하며, 복수의 CCD 카메라를 이용하여 영상을 촬영하는 것도 가능하다.
이후 검사 영상의 캘리브레이션을 수행 후 영상처리를 통하여 불량 픽셀 존재여부를 판단(221)한다.
여기서 불량정보란 불량이 발생되었는지 여부, 불량부분, 불량의 종류, 불량의 정도, 화면상의 불량이 발생된 위치 등을 포함한다.
불량이 발생한 부분은 인가된 신호대로 화상이 표현되지 않으므로 불량부분을 판독할 수 있다.
불량 부분의 판단은 주위와의 대비비, 계조 등의 특성이 일정 수준 이상인지 여부로 결정할 수 있다.
이때 불량픽셀이 존재하지 않으면 감지 동작을 종료하고, 불량픽셀이 존재하면 매칭영상의 위치정보, 즉 산출된 캘리브레이션 정보와 검사영상의 불량정보를 비교하여 불량 픽셀의 위치를 판단(222)한다.
다음, 표시부(100)를 통해 최종 불량정보를 사용자에게 디스플레이(223)하여 불량 검출된 액정표시패널(1)을 처리할 수 있도록 한다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 표시패널의 검사장치의 구성도이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 블록단차패턴의 예시도이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 블록단차패턴의 상세 예시도이다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 블록단차패턴을 이용한 랜드 마크의 위치 예시도이다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 단순반복패턴의 예시도이다.
도 6은 본 발명의 실시예에 표시패널의 검사 방법의 순서도이다.
*도면의 주요부분에 대한 부호 설명*
1: 표시패널 10: 촬상부
20: 영상수집부 30: 랜드마크획득부
40: 캘리브레이션부 50: 영상처리부
60: 불량검출부 70: 위치정렬부
80: 제어부 90: 패턴발생부
100: 표시부

Claims (9)

  1. 표시패널에 블록별로 블록단차패턴을 생성 후 상기 표시패널의 영상을 촬영하는 단계;
    상기 촬영된 영상 상에 랜드 마크를 추가 후 상기 랜드마크만이 표시된 영상을 획득하는 단계;
    상기 표시패널에 블록별로 단순반복패턴을 생성 후 상기 표시패널의 영상을 촬영하는 단계;
    상기 촬영된 영상과 획득된 영상을 매칭한 매칭영상을 획득하는 단계;
    상기 표시패널에 검사패턴을 생성 후 상기 표시패널에 대한 검사영상을 촬영하는 단계;
    상기 검사영상에 불량픽셀이 있는지 판단하는 단계;
    상기 불량픽셀이 있으면, 상기 검사영상과 매칭영상을 비교하여 상기 불량픽셀의 위치정보를 획득하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시패널의 검사 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 위치정보를 획득하는 단계는, 상기 매칭 영상을 캘리브레이션 하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시패널의 검사 방법.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 단순반복패턴을 상기 표시패널에 생성하는 단계는, 쇼팅 바(Shorting Bat)로 묶여 있는 게이트 및 데이터 라인에 필요한 신호만 인가한 격자무늬의 반복 패턴이 인가되는 것을 특징으로 하는 표시패널의 검사 방법.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 블록 단차 패턴을 상기 표시패널에 생성하는 단계는, 게이트 라인의 짝수 및 홀수 블록에 대해서 순차적으로 전압을 인가하여 줄무늬와 같은 패턴을 형성한 후, 데이터 라인의 R, G, B 방향으로 계속 신호를 인가하되, 데이터 라인의 데이터 블록에 밝기 차를 발생시켜 각 블록들 사이에 단차가 생성되도록 하는 표시패널의 검사 방법.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 불량위치정보를 추출하는 단계는, 사용자가 시각적으로 식별 가능하도록 표시부에 표시하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시패널의 검사 방법.
  6. 표시패널에 생성된 블록 단차 패턴 영상, 단순 반복 패턴 영상 및 검사 패턴 영상 중 어느 하나를 촬영하는 촬상부;
    상기 블록 단차 패턴의 영상에 기초하여 랜드 마크의 위치가 표시된 영상을 획득하는 랜드 마크 획득부;
    상기 단순 반복 패턴 영상에 상기 랜드마크의 위치 영상을 매칭시켜 위치 정보를 검출하는 캘리브레이션부;
    상기 검사 패턴 영상을 영상처리한 후 불량 정보를 검출하는 불량검출부;
    상기 위치정보 및 불량정보를 전송받아 불량 위치정보를 검출하는 제어부;를 포함하는 표시패널의 검사 장치.
  7. 제 6항에 있어서,
    상기 불량 위치 정보를 표시하는 표시부를 더 포함하는 표시패널의 검사 장치.
  8. 제 6항에 있어서,
    상기 블록 단차 패턴, 반복 패턴 및 검사 패턴 영상 중 적어도 하나를 표시패널에 인가하는 패턴발생부;
    상기 표시 패널의 촬영 영상을 저장하고, 영상처리하는 영상처리부;를 더 포함하는 표시패널의 검사 장치.
  9. 제 6항에 있어서,
    상기 블록 단차 패턴은, 쇼팅바 구조 상에서 게이트 블록은 순차적으로 온오프시키고, 데이터 블록은 각 블록의 밝기를 조절하여 시각적으로 단차를 형성시킨 것을 특징으로 하는 표시패널의 검사 장치.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20140071016A (ko) * 2012-12-03 2014-06-11 엘지디스플레이 주식회사 패널 검사 방법
CN108460346A (zh) * 2018-02-09 2018-08-28 厦门美图移动科技有限公司 指纹识别方法及装置
CN112215816A (zh) * 2020-10-13 2021-01-12 四川极速智能科技有限公司 一种生产线中显示器故障的实时检测方法、存储介质和装置
CN114035356A (zh) * 2021-11-22 2022-02-11 乐金显示光电科技(中国)有限公司 一种显示面板修复方法及装置、显示面板

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3343444B2 (ja) * 1994-07-14 2002-11-11 株式会社アドバンテスト Lcdパネル画質検査装置及びlcd画像プリサンプリング方法
JPH11201867A (ja) * 1998-01-12 1999-07-30 Advantest Corp アドレス・キャリブレーション方法
KR100643248B1 (ko) * 2005-08-24 2006-11-10 삼성전자주식회사 표시패널의 검사방법과 표시패널의 검사장치
KR100848153B1 (ko) * 2006-04-14 2008-07-23 삼성전자주식회사 디스플레이 기기의 켈리브레이션 장치 및 그 방법

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20140071016A (ko) * 2012-12-03 2014-06-11 엘지디스플레이 주식회사 패널 검사 방법
CN108460346A (zh) * 2018-02-09 2018-08-28 厦门美图移动科技有限公司 指纹识别方法及装置
CN112215816A (zh) * 2020-10-13 2021-01-12 四川极速智能科技有限公司 一种生产线中显示器故障的实时检测方法、存储介质和装置
CN112215816B (zh) * 2020-10-13 2024-01-30 四川极速智能科技有限公司 一种生产线中显示器故障的实时检测方法、存储介质和装置
CN114035356A (zh) * 2021-11-22 2022-02-11 乐金显示光电科技(中国)有限公司 一种显示面板修复方法及装置、显示面板

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